应用可靠性2_元器件选用

2.1 元器件质量等级
认证名称 认证依据
国产军用元器件的质量认证
认证单位
认证通过标志
七专审查
七专协议
电子五所
列入七专目录
质量认证
国军标
中国军用电子元器 件质量认证委员会
列入合格产品目录 （QPL）或合格生产 厂目录（QML） 列入行业合格产品目 录
质量认定
行业军标或 法规性文件
行业制订的认证单 位
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A1Q AIL A A1W
A2
B1 B B2 C
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按QZJ840616混合集成电路 符合GB8976和GB11498质量评定水平 “七专”技术条件组织生产的 为K级产品 产品 按“七九O五”七专质量控制技 符合GB8976和GB11498质量评定水平 术协议组织生产的产品；符 为L级产品 合SJ820的产品 符合GB8976和GB11498质量评定水平 为M 级产品 Copyright Copyright by by Yiqi Yiqi Zhuang Zhuang 2010 2010 V5.0 V5.0
元器件标准举例
等效采用的美军标编号 MIL-STD-750H MIL-STD-202F MIL-STD-883D N/A
N/A
MIL-STD-1344A N/A N/A MIL-STD-1580A
元器件使用者充分了解上述元器件试验方法的标准，有助于深入地掌握元器件承 受各种应力的能力，并为正确制订二次筛选或失效分析的规则提供了参考依据 Copyright Copyright by by Yiqi Yiqi Zhuang Zhuang 2010 2010 V5.0 V5.0
相应的元件总 规范
失效率等级：L（亚五级）、M（五级）、P （六级）、R（七级）、S（八级）
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2.1 元器件质量等级
元器件类别 依据标准
美军标产品规范质量分级
质量分级（从低到高） 质 量 保 证 等 级 ： JAN （ 普 军 级 ） 、 JANTX （特军级）、JANTXV（超特军级）、JANS （宇航级） 质量保证等级：883级//及B级、S级
3
2.1 元器件质量等级
失效率等级代号 失效率等级名称 亚五级 五级 六级 七级 八级 九级 十级 GB/T 1772 Y W L Q B J S
电子元器件失效率等级
最大失效率 （1/h） 3×10-5 10-5 10-6 10-7 10-8 10-9 10-10
GJB 2649 L M P R S -
B1 B B2
2.1 元器件质量等级 GJB299C质量分级:晶体管及二极管
质量等级 A1 A2 A A3 A4 质量要求说明 符合GJB33A列入质量认证合格产品 目录的JCT级产品 符合GJB33A列入质量认证合格产品 目录的JT级产品 质量要求补充说明 -
符合GJB33A列入质量认证合格产品 按QZJ840611A“七专”技术条 目录的JP级产品 件组织生产的产品 符合GB4589.1且经中国电子器件质 量认证委员会认证合格的Ⅱ类产品; 符合GB4589.1Ⅲ类的产品 按QZJ840611“七专”技术条件 组织生产的产品
用失效率来表征可靠性的不足之处：一是贵重、高单价器件难以获得失效率数 据，二是失效率不能反映抗恶劣环境等其它可靠性特性 Copyright Copyright by by Yiqi Yiqi Zhuang Zhuang 2010 2010 V5.0 V5.0
2.1 元器件质量等级
质量与质量等级
质量：元器件在设计、制造、筛选过程中形成的品质特
半导体分立器件
MIL-S-19500
微电路 混合集成电路 半导体集成电路 有可靠性指标的 元件
MIL-M-38510
MIL-PRF-38534 质量保证等级：D级、E级、G级、H级、K级 MIL-I-38535 相应的元件总 规范 质量保证等级：M级、Q级、V级 失效率等级：L（亚五级）、M（五级）、P （六级）、R（七级）、S（八级）
B
B1 B2 C
符合GB4589.1Ⅱ类产品;按军用标准 按“七九O五”七专质量控制技 筛选要求等进行筛选的B2质量等级 术协议组织生产的产品 产品 符合GB4589.1I类产品 低档产品
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征，可通过质量认证试验确定
质量等级：元器件品质的量化状态或水平 质量系数：表征元器件质量等级的定量参数指标 质量保证等级：元器件总规范规定的质量等级，用于表
征元器件的固有可靠性，亦简称质量等级
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2.1 元器件质量等级
国军标/国标编号 GJB 33A-1997 GJB 597A-1996 GJB 2438A-2002 GJB 63B-2001 GJB 65B-1999 GB/T 4589.1-2006 GB/T 8976-1996 国军标/国标名称 半导体分立器件总规范 半导体集成电路总规范 混合集成电路通用规范 有可靠性指标的固体电解质钽电容器 总规范 有可靠性指标的电磁继电器总规范 半导体器件 分立器件和集成电路总规 范 膜集成电路和混合膜集成电路总规范
元器件规范举例
等效采用的美军标编号 MIL-S-19500H MIL-M-38510G MIL-H-38534C MIL-C-39003 MIL-R-39016 N/A N/A
元器件的产品规范是元器件生产线认证和元器件鉴定的依据之一，也是使用方 选择、采购元器件的主要依据 Copyright Copyright by by Yiqi Yiqi Zhuang Zhuang 2010 2010 V5.0 V5.0
符合SJ614的产品
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2.1 元器件质量等级
质量等级
GJB299C质量分级:电阻器
质量要求补充说明 按QZJ840629、QZJ840630“七专” 技术条件组织生产的产品 按“七九O五”七专质量控制技术 协议组织生产的产品 符合SJ75、SJ904、SJ1329、 SJ2308的产品
质量要求说明 符合GJB244列入质量认证合格产品目录的Q 级产品 符合GJB244列入质量认证合格产品目录的L 级产品 符合GJB244、GJB601、GJB920列入质量认 证合格产品目录的产品 符合GB/T5729、GB7153、GB6663、 GB/T10193、GB/T13189、GB/T15654且经中 国电子元器件质量认证委员会认证合格的产 品 有附加质量要求的B2质量等级的产品 符合GB/T5729、GB6663、GB7153、 GB10193、GB/T13189、GB/T15654、 SJ1156、SJ1553、SJ1557、SJ1559、 SJ2028、SJ2307、SJ2309、SJ2742的产品 低档产品
B
B1 B2
6
2.1 元器件质量等级
质量等级 A1 A2 A A3 A4 质量要求说明
GJB299C质量分级:混合IC
质量要求补充说明 -
符合GJB2438列入鉴定合格制造厂一 览表的K级产品 符合GJB2438列入鉴定合格制造厂一 览表的H级产品 符合GJB2438列入鉴定合格制造厂一 览表的H1级产品
4
2.1 元器件质量等级
元器件总规范体系－质量保证等级

质量等级体系
国军标总规范规定的器件的质量保证等级和有可靠性指标元件的失效率 等级

不同元器件，等级分法及符号不同 用于元器件生产控制、选择和采购，与失效率不一定有一一对应的关系
元器件可靠性预计体系－质量等级

GJB299C-2006（MIL-HDBK-217F）《电子设备可靠性预计手册》和 GJB/Z 108A 《电子设备非工作状态可靠性预计手册》规定的质量等 级，用质量系数πQ表征，反映了同类元器件不同质量等级的相对质量 差异
元器件可靠性应用 与电路可靠性设计
第2章 电子元器件的选用
主讲：庄奕琪
本章概要
2.1 元器件质量等级 2.2 元器件选择通则 2.3 常用元器件的选用 2.4 特殊环境下的元器 件选用 2.5 降额选用
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质量分级（从低到高）
半导体分立器件
GJB33A-1997
质量保证等级： JP （普军级）、 JT （特军 级）、JCT（超特军级）、JY（宇航级）
半导体集成电路 混合集成电路
GJB597A-1996
质量保证等级：B1级、B级、S级
GJB2438A-2002 质量保证等级：H1级、H级、K级
有可靠性指标的 元件
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2.1 元器件质量等级
质量等 级 A1 A2 A A3 A4 质量要求说明
GJB299C质量分级:单片IC
质量要求补充说明 按QZJ840614～840615“七专”技 术条件组织生产的I、IA产品； 符合SJ331R I、IA类产品 按“七九O五”七专质量控制技协 议组织生产的产品；符合SJ331 的Ⅱ类产品 符合SJ331的Ⅲ类产品
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符合GJB597A列入质量认证合格产品 目录的S级产品 符合GJB597A列入质量认证合格产品 目录的B级产品 符合GJB597A列入质量认证合格产品 目录的B1级产品 符合GB4589.1的Ⅲ 类产品;或经中国 电子元器件质量认证合格的Ⅱ类产品 按GJB597A的筛选要求进行筛选的B2 质量等级产品;符合GB4589.1的Ⅱ类 产品 符合GB4589.1的I类产品
1
2.1 元器件质量等级

国产元器件质量相关标准
按级别分

国家标准GB、国家军用标准GJB 行业标准、行业军用标准 企业标准、企业军用标准 七专技术条件 QZT （专批、专技、专人、专机、专料、专检、专卡， QZJ8406）

按类型分

规范：元器件的总规范和详细规范，统称产品规范 标准：试验和测量标准、质量保证大纲和生产线认证标准、元器件材料 和零件标准、型号命名标准、文字和图形符号标准等 指导性技术文件：指导正确选择和使用元器件的指南、用于电子设备可 靠性预计的手册、元器件系列型谱等
2
2.1 元器件质量等级
国军标/国标编号 GJB 128A-1997 GJB 360A-1996 GJB 548B-2005 GB-T 1772-1979 GJB 2649-1996 GJB 1217-1991 GJB 3157-1998 GJB 3233-1998 GJB 4027A-2006 国军标/国标名称 半导体分立器件试验方法 电子及电气元件试验方法 微电子器件试验方法和程序 电子元器件失效率试验方法 军用电子元件失效率抽样方案和程序 电连接器试验方法 半导体分立器件失效分析方法和程序 半导体集成电路失效分析程序和方法 军用电子元器件破坏性物理分析方法

分为A级、B级、C级（可细分为A1、B2之类的子级） 用于电子设备可靠性预计，与失效率有一一对应的关系
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2.1 元器件质量等级
元器件类别 依据标准
国军标产品规范质量分级