元器件可靠性培训
电子元器件的可靠性设计与故障分析
电子元器件的可靠性设计与故障分析电子元器件在现代科技中扮演着至关重要的角色。
然而，由于其特殊的工作环境和复杂的电路设计，电子元器件的可靠性问题一直是制造商和设计者们面临的挑战。
本文将探讨电子元器件可靠性设计的重要性以及故障分析的方法，以便提高产品的质量和性能。
一、电子元器件可靠性设计的重要性电子元器件可靠性设计是保证电子产品正常运行的关键。
当产品的电子元器件失效时，不仅会导致生产停滞和经济损失，更重要的是会对用户的个人安全和财产安全造成威胁。
因此，通过进行可靠性设计，可以将故障率降至最低，确保产品的性能和可靠性。
1.1 材料选择与工艺控制在电子元器件的可靠性设计中，合适的材料选择和工艺控制非常重要。
首先，选择具有高稳定性和低故障率的材料能够减少电子元器件的失效风险。
同时，通过控制工艺参数，如温度、湿度和气压等，可以提高电子元器件的耐久性和稳定性。
1.2 电路设计与布局电子元器件的电路设计和布局直接影响其可靠性。
在电路设计中，合理选择电阻、电容、电感等元器件的数值和型号，能够增强电路的稳定性和抗干扰能力。
此外，合理布局电子元器件，降低电路的电感和电容耦合，有助于减少失效率。
1.3 散热设计与保护措施电子元器件的工作过程中会产生热量，散热设计和保护措施对于提高可靠性至关重要。
合理设计散热装置，保持元器件的温度在安全范围内，可以减少因热失控引起的故障。
此外，通过使用过流保护器、过压保护器等保护装置，可以避免电子元器件被损坏或过载。
二、故障分析的方法当电子元器件发生故障时，对其进行准确的故障分析是修复和改进产品的关键步骤。
下面介绍几种常见的故障分析方法。
2.1 失效模式与效应分析（FMEA）失效模式与效应分析是一种系统地分析电子元器件故障的方法。
通过识别潜在的失效模式和分析其可能的影响，可以有针对性地采取措施来防止故障的发生或减小其影响。
2.2 元器件失效分析元器件失效分析是通过对元器件的物理性能、电性能和结构特征等进行测试和分析，来确定其失效原因。
元器件知识培训课件
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❖ 我公司常用电感 ❖ L1001 200匝 1.788mH±0.1mH ❖ L1002 135匝 833.6uH±20uH ❖ L1003 23匝 28uH±2uH ❖ L1004 25匝 30uH±2uH ❖ L1005 14匝 8.5uH±2uH ❖ L0201 160匝 1.82mH±0.04mH ❖ UF10.5 >=10mH
0.50±0.10 0.80±0.15 1.25±0.15 1.60±0.15 2.50±0.20 3.20±0.20 2.50±0.20 3.20±0.20
0.30±0.10 0.40±0.10 0.50±0.10 0.55±0.10 0.55±0.10 0.55±0.10 0.55±0.10 0.55±0.10
0402 0603 0805 1206 1210 1812 2010 2512
1005 1608 2012 3216 3225 4832 5025 6432
1.00±0.10 1.60±0.15 2.00±0.20 3.20±0.20 3.20±0.20 4.50±0.20 5.00±0.20 6.40±0.20
线（例如漆包线、纱包线等）绕制而成的电 磁感应元件，也是电子电路中常用的元器件 之一。
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❖ 当闭合回路中的电流发生变化时，由这个电流产生 并穿过回路本身的磁通也发生变化，回路中将产生 感应电动势，这种现象称为“自感”；
❖ 如果两个线圈互相靠近，当其中一个线圈中电流所 产生的磁通有一部分与另-个线圈的磁通相环链，那 么，这个线圈中的电流发生变化时，会在另一个线 圈中产生感应电动势，这种现象称为"互感"。
电子元器件可靠性
2024年2月1日星期四
选用元器件要考虑的要素
1. 电特性：元器件除了满足装备功能要求之外，要能经受最大施加的电应力 2. 工作温度范围：器件的额定工作温度范围应等于或宽于所要经受的工作温度范围 3. 工艺质量与可制造性：元器件工艺成熟且稳定可控，成品率应高于规定值，封
装应能与设备组装工艺条件相容 4. 稳定性：在温度、湿度、频率、老化等变化的情况下，参数变化在允许的范围内 5. 寿命：工作寿命或贮存寿命应不短于使用它们的设备的预计寿命 6. 环境适应性：应能良好地工作于各种使用环境，特别是如潮热、盐雾、沙尘、
基本结构：固体二氧化锰作为电介质，烧结的钽块作为阳极 优点（与铝电解电容器相比）
温度范围宽：可达-55℃～125℃ 漏电流小：<0.01CV[uA]，可与品质最好的铝电解电容相比 损耗因数低：0.04~0.1，约比铝电解电容好两倍 温度系数低：电容值在工作温度范围内的变化±3～ ± 15％ 有可能反极性使用：在某些工作电压范围内 体积小：可以做成片状电容 寿命长：常常作为军事用途
酸雨、霉菌、辐射、高海拔等特殊环境 7. 失效模式：对元器件的典型失效模式和失效机理应有充分了解 8. 可维修性：应考虑安装、拆卸、更换是否方便以及所需要的工具和熟练等级 9. 可用性：供货商多于1个，供货周期满足设备制造计划进度，能保证元器件失
效时的及时更换要求等 10. 成本：在能同时满足所要求的性能、寿命和环境制约条件下，考虑采用性价比
3 固有噪声 碳膜电阻内部结构不连续性大，是固有噪声最大的电阻 线绕电阻内部为体金属，不连续性很小，是固有噪声最小的电阻 金属膜电阻的固有噪声介于碳膜电阻和线绕电阻之间 固有噪声大的电阻不宜用于微弱信号放大、高增益精密等电路中
元器件可靠性基础知识大全总结
元器件可靠性基础知识大全总结元器件是整机的基础，它在制造过程中可能会由于本身固有的缺陷或制造工艺的控制不当，在使用中形成与时间或应力有关的失效。
为了保证整批元器件的可靠性，满足整机要求，必须把使用条件下可能出现初期失效的元器件剔除。
元器件的失效率随时间变化的过程可以用类似"浴盆曲线"的失效率曲线来描述，早期失效率随时间的增加而迅速下降，使用寿命期(或称偶然失效期)内失效率基本不变。
筛选的过程就是促使元器件提前进入失效率基本保持常数的使用寿命期，同时在此期间剔除失效的元器件。
事物的好与坏的判别必须要有标准去衡量。
判断元器件的失效与否是由失效判别标准一一失效判据所确定的。
失效判据是质量和可靠性的指标，有时也有成本的内涵，所以元器件失效不仅指功能的完全丧失，而且指电学特性或物理参数降低到不能满足规定的要求。
简而言之，产品失去规定的功能称为失效。
在选择可靠性筛选次序时先先了解一下元器件失效都有哪些？失效一般分为现场失效和试验失效。
现场失效一般是在装机以后出现的失效，因此，我们在元器件测试筛选过程中只考虑试验失效。
试验失效主要是封装失效和电性能失效。
封装失效主要依靠环境应力筛选来检测。
所谓环境应力筛选，即在筛选时选择若干典型的环境因素，施加于产品的硬件上，使各种潜在的缺陷加速为早期故障，然后加以排除，使产品可靠性接近设计的固有可靠性水平，而不使产品受到疲劳损伤。
在正常情况下是通过在检测时施加一段时问的环境应力后，对外观的检查(主要是镜检，根据元器件的质量要求，采用放大10倍对元器件外观进行检测；也可以根据需要安排红外线及X射线检查)，以及气密性筛选来完成，当有特殊需要时，可以增加一些DPA(破坏性物理分析)等特殊测试。
元器件行业的可靠性标准与测试方法
元器件行业的可靠性标准与测试方法随着科技的发展和应用领域的扩大，元器件在电子产品中发挥着至关重要的作用。
然而，由于元器件在工作过程中经受着复杂的环境和条件，其可靠性成为了一个关键问题。
为了确保电子产品在使用过程中不出现故障，元器件行业制定了一系列的可靠性标准和测试方法。
本文将针对元器件行业的可靠性标准和测试方法进行探讨。
一、可靠性标准1.产品可靠性要求在元器件行业中，产品的可靠性是评价一个元器件制造商质量的重要指标。
产品的可靠性要求包括工作温度范围、电压范围、湿度要求、机械振动、冲击和落地等环境条件。
此外，产品的寿命要求、失效率和故障率等指标也是衡量产品可靠性的关键要素。
2.可靠性测试标准为了有效评估元器件的可靠性，行业制定了一系列的可靠性测试标准。
例如，国际电工委员会（IEC）发布了IEC 60068系列标准，其中包括了温度和湿度循环测试、机械振动和冲击测试、尘埃和腐蚀测试等。
此外，美国军标（MIL-STD）和美国电子工程师协会（IEEE）也发布了一系列可靠性测试标准，如MIL-STD-810和IEEE 1284等。
二、可靠性测试方法1.环境适应性测试环境适应性测试旨在评估元器件在不同环境条件下的可靠性。
常见的环境适应性测试包括温度和湿度循环测试、高温老化测试和低温冷冻测试。
这些测试能够模拟元器件在工作环境中的变化，并通过检测元器件在不同环境条件下的工作能力，来评估元器件的可靠性。
2.机械振动和冲击测试机械振动和冲击测试旨在评估元器件在机械振动和冲击条件下的可靠性。
通过将元器件暴露在不同频率和振幅的机械振动和冲击力下，检测元器件是否能够正常工作，并通过对元器件的振动和冲击响应进行分析，来评估元器件的可靠性。
3.尘埃和腐蚀测试尘埃和腐蚀测试旨在评估元器件在灰尘和腐蚀环境下的可靠性。
通过将元器件暴露在高浓度的灰尘和腐蚀物质中，检测元器件是否会受到腐蚀或被尘埃阻塞，并通过对元器件功能的测试，来评估元器件的可靠性。
电子元器件可靠性设计指南
电子元器件可靠性设计指南引言：随着现代电子技术的飞速发展，电子元器件已经成为各行各业中不可或缺的重要组成部分。
然而，由于电子元器件存在一定的寿命限制和故障风险，为了确保电子产品的长期可靠运行，我们需要遵循一系列的规范、规程和标准，从设计阶段开始，注重电子元器件的可靠性。
本文将重点介绍电子元器件可靠性设计的指南，帮助我们更好地理解和应用相关标准，以有效提高电子产品的稳定性和可靠性。
一、选用可靠性高的电子元器件材料在电子元器件设计过程中，正确选择可靠性高的材料至关重要。
我们需要在电气性能、机械性能、热学性能等多个方面进行综合考虑。
比如，电子组件的封装材料应该具有较高的耐热、耐候性能，以保证电子元器件在复杂的工作环境下也能正常工作。
此外，我们还需要关注材料的可靠性数据，根据可靠性指标进行评估和选择，确保选用的材料具备长期稳定的性能。
二、设计合理的电子元器件布局在电子电路设计中，合理的布局可以帮助有效减少电子元器件之间的干扰和功耗，提高系统的稳定性和可靠性。
布局时，应避免电子元器件之间的热点积聚，合理分配空间和资源，并避免相互干扰。
同时，还要合理设计电子元器件的供电和接地，降低电源噪声，减少高频信号的串扰。
三、严格执行电子元器件的质量控制电子元器件的质量控制是确保电子产品可靠性的重要环节。
我们需要从供应商选择、采购、储存、使用等多个环节加强质量管理。
首先，在选择电子元器件供应商时，应该考察其质量管理体系，确保其产品质量符合相应标准。
其次，在采购和使用电子元器件时，应严格执行相关的标准和规范，确保电子元器件的正确使用和正常工作。
此外，应合理储存电子元器件，防止其受潮、腐蚀等情况影响质量。
四、进行可靠性测试和寿命评估为了验证电子元器件的可靠性和长期使用寿命，我们需要进行可靠性测试和寿命评估。
可靠性测试可以帮助我们找出电子元器件的潜在故障和失效机制，并提供改进设计的依据。
而寿命评估则可以通过加速试验方法，模拟长期工作环境，评估电子元器件的可靠性。
电子元器件的可靠性与稳定性研究
电子元器件的可靠性与稳定性研究电子元器件是现代电子技术的基础和重要组成部分。
其可靠性与稳定性是影响电子产品质量和寿命的关键因素，也是电子制造领域的重点研究方向之一。
一、电子元器件可靠性的定义和影响因素电子元器件的可靠性是指其在规定的工作条件下，在一定时间内正常运行、不出现故障的能力。
影响电子元器件可靠性的因素较为复杂，主要包括两个方面：内部因素和外部因素。
内部因素包括材料质量、制造工艺、设计结构、加工精度等因素，这些因素直接影响元器件的品质和性能。
外部因素包括电气应力、温度、湿度、振动、气氛环境等因素，这些因素会与内部因素相互作用，共同影响电子元器件的可靠性。
二、电子元器件可靠性的评价方法评价电子元器件可靠性的方法主要包括两个方面：实验测试和数学模拟。
实验测试是通过一系列的可靠性试验，对元器件的品质和性能进行评估。
例如，可进行加速寿命试验、温度循环试验、高温高湿试验、电压应力试验等，以便评估电子元器件的可靠性水平。
数学模拟是利用计算机辅助软件对元器件进行数学模拟，解析其物理和化学特性，以预测其寿命和可靠性。
这种方法具有快速、准确等优点，对于需要大量试验数据的元器件可靠性评估尤为有效。
三、电子元器件的稳定性研究电子元器件的稳定性研究不仅关乎其性能表现，还涉及到应用中的安全稳定性和可靠性问题。
电子元器件的稳定性主要包括长期稳定性和短期稳定性两个方面。
长期稳定性是指电子元器件在长时间工作状态下，各项性能指标的变化程度。
对于一些长期运行和高度安全要求的设备，尤其需要关注长期稳定性问题。
短期稳定性则是指元器件在工作过程中由不同条件引起的临时性的性能偏差。
这种稳定性问题对于高速、高频、高精度设备尤其关键。
四、电子元器件可靠性和稳定性的研究现状和未来发展方向电子元器件可靠性和稳定性的研究不断得到深入，实现了快速进展。
在可靠性试验方法上，常规耐热、耐零下温度、抗电应力、耐湿等测试以外，现在也考虑到模拟卫星轨道等特殊工作条件下的可靠性评估。
电子元器件基础知识培训教材
电子元器件基础知识培训教材一、引言在现代电子技术领域，电子元器件是构成各种电子设备的基础。
无论是简单的电路还是复杂的系统，都离不开电子元器件的作用。
了解电子元器件的基础知识，对于从事电子技术相关工作的人员以及电子爱好者来说，都是至关重要的。
二、电子元器件的分类（一）电阻器电阻器是限制电流流动、调节电路中电压和电流比例的元件。
其主要参数包括电阻值、功率、精度等。
电阻器根据制造材料和结构的不同，可分为碳膜电阻、金属膜电阻、绕线电阻等。
（二）电容器电容器是储存电荷的元件，常用于滤波、耦合、旁路等电路中。
电容器的主要参数有电容值、耐压值、介质材料等。
常见的电容器有电解电容、陶瓷电容、钽电容等。
（三）电感器电感器能够储存磁场能量，在电路中主要用于滤波、谐振、变压等。
其主要参数包括电感量、品质因数、额定电流等。
常见的电感器有空心电感、磁芯电感等。
（四）二极管二极管具有单向导电性，常用于整流、检波、稳压等电路。
常见的二极管有整流二极管、稳压二极管、发光二极管等。
（五）三极管三极管是一种具有放大作用的半导体器件，可用于放大、开关等电路。
根据结构和工作原理的不同，三极管分为 NPN 型和 PNP 型。
（六）集成电路集成电路是将多个电子元器件集成在一块芯片上的器件，具有体积小、性能高、可靠性强等优点。
常见的集成电路有运算放大器、微处理器、存储器等。
三、电子元器件的识别（一）电阻器的识别电阻器的阻值通常标注在其表面，可以通过色环法或直接标注数字来表示。
色环法是通过不同颜色的环来表示电阻值和精度，需要记住相应的颜色代码。
数字标注则直接给出电阻值和精度。
（二）电容器的识别电容器的电容值和耐压值通常也标注在其表面。
电解电容一般会直接标注电容值和耐压值，而陶瓷电容等小容量电容则可能使用数字代码来表示电容值。
（三）电感器的识别电感器的电感量通常标注在其外壳上，有些电感器可能没有标注，需要通过测量来确定。
（四）二极管的识别二极管的极性可以通过其外壳上的标记来判断，一般来说，有银色环或白色环的一端为负极。
电子元器件的可靠性与质量控制最佳实践和质量标准
电子元器件的可靠性与质量控制最佳实践和质量标准在现代的电子设备中，电子元器件起着至关重要的作用。
无论是电视、手机、电脑还是其他各种电子产品，都离不开电子元器件的支持。
因此，保证电子元器件的可靠性和质量控制是非常重要的。
本文将介绍电子元器件的可靠性与质量控制的最佳实践和质量标准。
一、可靠性测试1. 电子元器件的可靠性测试是确保元器件在设计寿命内能够正常工作的关键。
这些测试包括环境应力测试、可靠性试验和可靠性审核。
其中环境应力测试是模拟元器件在不同环境条件下的工作，以检测元器件对温度、湿度、振动和冲击等因素的适应能力。
可靠性试验是通过对元器件进行长时间的工作来评估其寿命和稳定性。
可靠性审核是针对元器件的设计、制造和测试等方面进行评估，以确保其符合质量标准。
2. 为了提高电子元器件的可靠性，一些最佳实践应该被应用。
首先，元器件的设计应符合相关的质量标准和规范。
其次，制造过程中应严格控制元器件的品质和工艺。
再次，对元器件进行全面的测试和验证，包括原始材料检测、工艺过程控制和最终产品测试等。
最后，建立完善的供应链管理体系，确保元器件的来源可靠。
二、质量控制标准1. 一些国际组织和标准机构制定了质量控制标准，以指导电子元器件的制造和测试。
例如，国际电工委员会（IEC）发布了一系列有关电子元器件可靠性和质量的标准，如IEC 60068系列和IEC 60749系列。
这些标准规定了元器件的环境应力测试方法和可靠性试验方法。
2. 此外，一些行业协会和厂商也发布了自己的质量控制标准。
例如，电子工程师协会（IEEE）提供了一系列关于电子元器件质量控制和可靠性测试的标准，如IEEE 1284和IEEE 610等。
此外，一些知名的电子元器件制造商也制定了自己的质量控制标准，如Intel和Texas Instruments等。
三、质量问题的处理1. 在电子元器件的生产和使用过程中，难免会遇到一些质量问题。
这些问题可能涉及到材料的选择、生产过程中的错误以及运输和存储中的损坏等。
电子元器件的可靠性与寿命评估：方法与工具
电子元器件的可靠性与寿命评估：方法与工具电子元器件的可靠性和寿命评估是电子工程师和产品设计师在进行产品设计和制造过程中不可忽视的重要环节。
本文将详细介绍电子元器件可靠性和寿命评估的方法和工具，包括可靠性测试、加速寿命试验、失效模式与失效机理分析等。
一、可靠性测试可靠性测试是通过对元器件进行长时间不间断、高负载的工作，以模拟实际工作环境，获取元器件在运行过程中的可靠性指标。
可靠性测试可以分为环境应力测试和可靠性固有测试两种。
1. 环境应力测试环境应力测试是在电子元器件所处的环境条件下，对其进行工作负载测试，以评估其在实际工作环境下的可靠性。
常用的环境应力测试包括温度循环测试、湿度试验和振动冲击试验等。
- 温度循环测试：将元器件置于高温和低温交替的环境中，观察元器件在温度变化下的可靠性表现。
- 湿度试验：将元器件置于高湿度或低湿度环境中，观察元器件在湿度变化下的可靠性表现。
- 振动冲击试验：通过对元器件进行振动或冲击，观察元器件在振动或冲击下的可靠性表现。
2. 可靠性固有测试可靠性固有测试是通过对元器件在正常工作条件下进行长时间运行，观察其在实际工作环境下的可靠性表现。
常用的可靠性固有测试包括静电放电测试、高电压测试和电流波形测试等。
- 静电放电测试：通过在元器件上施加静电放电，观察元器件在静电放电下的可靠性表现。
- 高电压测试：通过在元器件上施加高电压，观察元器件在高电压下的可靠性表现。
- 电流波形测试：通过观察元器件在工作电流波形下的表现，评估其在实际工作环境中的可靠性。
二、加速寿命试验加速寿命试验是一种通过提高元器件运行环境中的应力水平，以缩短测试时间并模拟元器件长时间使用下的疲劳和老化过程的方法。
加速寿命试验可以分为温度加速寿命试验和电压加速寿命试验两种。
1. 温度加速寿命试验温度加速寿命试验通过提高元器件工作温度，加速元器件的老化过程。
常用的温度加速寿命试验方法包括高温老化试验和高温高湿老化试验。
电子元器件的可靠性与质量控制策略
电子元器件的可靠性与质量控制策略在电子设备的制造过程中，电子元器件的可靠性和质量控制是至关重要的。
本文将探讨电子元器件可靠性及相关的质量控制策略，旨在提高电子产品的品质。
一、电子元器件的可靠性分析电子元器件的可靠性是指在特定条件下，在给定时间内，不发生失效的能力。
了解电子元器件的可靠性意味着能够预测其寿命和失效情况，为质量控制提供依据。
1.1 可靠性的评估指标电子元器件的可靠性评估指标主要包括以下几个方面：- 失效率：衡量在给定时间内电子元器件失效的概率。
- 平均无故障时间（MTBF）：衡量在特定时间内电子元器件无故障运行的平均时间。
- 可靠度：衡量在给定条件下，电子元器件在特定时间内无故障的概率。
1.2 影响可靠性的因素电子元器件的可靠性受到多种因素的影响，包括但不限于：- 温度变化：高温环境容易导致电子元器件损伤或失效。
- 湿度变化：过高的湿度可能引起电子元器件的腐蚀。
- 电压应力：超出电子元器件耐受范围的电压可能导致失效。
- 组装工艺：不良的焊接和连接可能导致元器件间的电气连接问题。
- 运输和存储条件：不当的运输和存储条件可能损坏电子元器件。
二、质量控制策略2.1 零部件选择与供应链管理为了保证电子元器件的可靠性，选择质量可靠的供应商是至关重要的。
这涉及到供应链管理，包括：- 与供应商建立长期稳定的合作关系，以确保供应的持续性。
- 对供应商进行评估，包括其质量控制体系、生产能力和技术支持能力等。
- 采用多品牌、多样品的策略，以减少供应链风险。
2.2 工艺控制与制造过程监控对于电子元器件制造过程，有效的工艺控制和制造过程监控是确保产品质量的关键。
包括但不限于以下措施：- 严格控制环境条件，包括温度、湿度等参数，以保证生产环境的稳定性。
- 建立可追溯性体系，确保每个步骤都有完整的记录和检查。
- 使用自动化设备和工艺技术，减少人为误差的发生。
- 进行过程监控，及时发现异常情况并采取相应措施。
2.3 可靠性测试与验证可靠性测试和验证是确保电子元器件可靠性的重要手段。
元器件可靠性研究及其应用
元器件可靠性研究及其应用元器件是电子产品中至关重要的组成部分，其可靠性直接影响电子产品的使用寿命和性能稳定性。
因此元器件可靠性研究成为电子科技领域的一个重要课题。
一、元器件可靠性概述元器件可靠性是指元器件在正常使用条件下正常运行的时间长短及其失效率。
元器件的失效率是指在一定时间内元器件出现失效的概率。
元器件可靠性水平越高，其失效率越低，其在电子产品中的可用性越高。
元器件可靠性受多种因素影响，其中主要包括环境因素、制造和组装工艺因素、质量控制因素、设计因素等。
环境因素主要包括温度、湿度、振动、冲击、电磁辐射等，其中温度是影响元器件可靠性最重要的因素之一。
制造和组装工艺因素包括元器件的封装、焊接、印刷电路板等工艺，这些工艺的质量和精度，直接影响元器件的可靠性。
质量控制因素包括材料质量、制造工艺等，质量控制不严谨可能导致元器件失效率增加。
设计因素则包括元器件的选型和应用电路的设计等。
二、元器件可靠性评估方法为了评估元器件的可靠性，现代电子产品研发通常使用可靠性评估方法。
传统的可靠性评估方法主要使用加速模型法和寿命试验法。
加速模型法是指在相对较短的时间内，通过人工加速元器件的失效过程，利用加速因子，预测元器件在正常使用条件下的失效率。
寿命试验法则是在正常使用条件下，通过长时间的测试，观察元器件的失效率。
近年来，随着大数据、人工智能等技术的发展，出现了基于数据分析的可靠性评估方法，其基本思路是从元器件使用的实际数据中，挖掘出与可靠性相关的规律和模式，并对数据进行预测和分析。
这种方法的优点是减小了对元器件的人工干预，提高了评估的精度和可靠性，同时容易推广和落地应用。
三、元器件可靠性应用领域元器件可靠性不仅是电子科技领域的研究课题，在实际应用中也得到了广泛的应用。
在国防军工领域，元器件可靠性尤为重要，它直接关系到武器系统的可靠性和行动能力。
同时，在医疗设备、航空航天、交通、通信、能源等领域，元器件可靠性也是重要的考虑因素。
元器件可靠性的研究与分析
元器件可靠性的研究与分析第一章前言随着电子技术的不断进步，各种电子设备在生产和应用中越来越广泛。
尤其是随着大数据、云计算等新兴技术的发展，电子设备对元器件的依赖程度也越来越高，元器件的可靠性对电子设备的正常工作和使用寿命有着决定性的影响。
因此，对元器件的可靠性进行研究和分析，对于提高电子设备的可靠性和稳定性具有非常重要的意义。
本文将从元器件可靠性研究的基本概念和方法出发，介绍可靠性理论和分析方法，着重分析应用中常用的元器件可靠性测试方法和分析方法，并探讨可靠性测试结果的分析和优化方法。
第二章元器件可靠性的基本概念1.1 元器件可靠性的定义元器件可靠性是指元器件在一定时间内（或一定次数内）能够按照其规定的性能要求正常工作的概率，通常用故障率来描述。
故障率是指单位时间（或单位次数）内设备发生故障的概率。
元器件可靠性与其制造精度、设计质量、材料质量、环境因素等有关。
1.2 可靠性参数元器件可靠性研究中常用的参数包括：故障率、失效时间、平均寿命、可靠度等。
其中，故障率即单位时间（或单位次数）内发生故障的频率，用符号λ 表示；失效时间指元器件从使用开始到故障的时间差，用符号tf 表示；平均寿命是指元器件平均使用寿命，用符号 MTTF（MeanTime To Failure）来表示；可靠度是指元器件在规定时间或规定次数内正常工作的概率，用符号 R 表示。
1.3 元器件可靠性的分类元器件可靠性可分为两类：固有可靠性和使用可靠性。
固有可靠性是指元器件在不考虑使用条件和环境因素的情况下的可靠性。
固有可靠性常用MTTF指标来描述元器件的使用寿命。
使用可靠性是指元器件在特定环境条件下的可靠性，一般用故障率或失效时间来描述。
第三章可靠性理论与分析方法2.1 可靠性理论可靠性理论主要研究元器件的故障规律、故障率、故障模式及其与元器件质量和可靠性的关系等问题。
常用的可靠性理论包括：指数分布、威布尔分布、韦伯分布、寿命分布、混合分布、加速寿命试验等。
电子元器件可靠性的测试与分析
电子元器件可靠性的测试与分析第一章：引言电子元器件是现代电子设备中不可或缺的部分，其重要性和复杂性越来越高。
但电子元器件存在着一定的可靠性问题，例如寿命短、失效率高、工作不稳定等，如果不加注意，这些问题可能会导致设备故障，甚至给人身安全带来危险。
因此，对电子元器件的可靠性进行测试和分析是非常重要的。
第二章：电子元器件可靠性测试方法2.1 加速寿命测试加速寿命测试是通过提高元器件的温度、湿度、电压、电流等环境条件，加速元器件的老化，从而预测元器件的寿命。
加速寿命测试可以大大缩短测试时间，提高测试的可靠性。
2.2 可靠性评估测试可靠性评估测试是通过对元器件的实验验证和可靠性评估，确定元器件在实际工作环境下的可靠性。
评估测试需要考虑元器件的外界环境、负载、工作周围温度、湿度、强电场、辐射等多种因素。
2.3 组限分析组限分析是将同一批次的元器件分为几组，在同样的工作条件下测试，观察每组元器件的失效情况，从而推测整个批次失效率与时间的关系。
组限分析可以快速鉴别元器件的缺陷和寿命短的元器件，为保证元器件的可靠性提供依据。
第三章：电子元器件可靠性测试流程3.1 测试准备测试准备包括选取合适的测试设备、测试环境和测试方法等。
在确定测试方法时，需要结合元器件的使用环境、工作条件、负载特性等因素。
3.2 测试方案制定测试方案包括测试方案的设计、实验方案的制定和测试方案的实施等。
在测试方案设计中，需要确定测试的目的、测试方法、测试流程和测试指标等。
3.3 测试执行测试执行包括实现测试方案、数据采集和分析等。
在测试执行过程中，需要对元器件进行加速寿命测试、可靠性评估测试和组限分析等测试。
3.4 测试结果分析测试结果分析包括数据分析、结果验证和原因分析等。
在结果分析过程中，需要对测试数据进行分析、对结果进行验证并找出测试结果与元器件失效原因的关系。
第四章：电子元器件可靠性分析方法4.1 故障分析故障分析是将失效的元器件进行分析，找出其失效原因。
电子元器件的可靠性设计和寿命评估
电子元器件的可靠性设计和寿命评估电子元器件的可靠性设计和寿命评估是电子工程领域中非常重要的一个方面。
本文将从以下几个方面详细讨论电子元器件的可靠性设计和寿命评估的步骤和相关内容。
一、可靠性设计的步骤：1. 确定可靠性指标：在电子元器件的设计阶段，首先需要确定设计所需的可靠性指标。
例如，可以选择故障率、寿命、可用性等指标作为可靠性设计的参考。
2. 材料选择和评估：选择合适的材料对于电子元器件的可靠性设计至关重要。
在选择材料时，需要考虑其耐久性、热特性、化学特性等因素，并进行相应的评估和测试。
3. 系统可靠性分析：进行系统级可靠性分析是确保电子元器件可靠性的重要步骤。
这涉及到分析整个电子系统中各个组件之间的相互作用，以及对系统整体性能的影响。
4. 设计优化：通过对可靠性进行建模和仿真，可以进行设计优化，找到电子元器件设计中存在的潜在问题，并及时进行修复和改进。
二、寿命评估的步骤：1. 加速寿命试验：通过对电子元器件进行加速寿命试验，可以模拟出元器件在实际使用过程中的老化和损耗情况，以判断其寿命和可靠性。
2. 可靠性数据分析：对实验数据进行可靠性数据分析，包括使用可靠性统计方法对试验数据进行处理和分析，以得出元器件的寿命评估结果。
3. 寿命预测：基于可靠性数据分析的结果，可以进行寿命预测。
这涉及到使用数学模型和可靠性工程方法，预测元器件在实际使用中的寿命和可靠性。
4. 可靠性改进措施：根据寿命评估的结果，可以采取一系列的可靠性改进措施，包括材料和工艺的改进，设计的优化等，以提高元器件的可靠性。
三、其他相关内容：1. 可靠性测试：在电子元器件的设计和制造过程中，需要进行可靠性测试，以验证设计和生产的可靠性水平。
这包括环境适应性测试、可靠性验证测试、可靠性保证测试等。
2. 可靠性标准和规范：在进行可靠性设计和寿命评估时，需要遵守相关的可靠性标准和规范，以确保设计和评估的准确性和可靠性。
例如，国际电工委员会（IEC）的可靠性标准。
电子元器件行业培训方案
电子元器件行业培训方案一、培训背景和目标随着科技的快速发展，电子元器件作为现代电子设备的重要组成部分，在各个领域都起着关键的作用。
为了满足电子元器件行业的需求，提升从业人员的专业技能和综合素质，制定一套全面的培训方案是必要的。
本次培训旨在通过系统的课程设置和实践操作，提升学员对电子元器件的认识和理解，加强其在电子元器件设计、生产和维修方面的能力，培养一批具备实际操作经验和技术创新能力的电子元器件专业人才。
二、培训内容和计划1. 基础课程1.1 电子元器件概述- 介绍电子元器件的基本分类、特点和功能，并讲解其在电子设备中的应用。
1.2 电子元器件原理与应用- 讲解各种电子元器件的原理、特点和应用场景，包括二极管、三极管、场效应管、集成电路等。
1.3 电子元器件选型与匹配- 分析电子元器件的选型依据和匹配原则，培养学员在实际项目中进行合理选型的能力。
2. 技能提升课程2.1 电子元器件检测与测量- 教授电子元器件常见的检测方法和仪器的使用技巧，包括万用表、示波器等。
2.2 电子元器件焊接与组装- 指导学员掌握电子元器件的正确焊接方法和组装流程，提高焊接质量和可靠性。
2.3 电子元器件故障分析与修复- 培训学员故障排查的基本思路和方法，强化维修技能和独立解决问题的能力。
3. 行业趋势和创新研究3.1 电子元器件市场动态- 分析电子元器件市场的发展趋势和最新动向，帮助学员了解行业的发展前景。
3.2 电子元器件新材料和新技术- 介绍电子元器件制造中的新材料和新技术，培养学员对创新的敏感性和应用能力。
3.3 电子元器件设计与研发- 探讨电子元器件设计的基本原理和流程，引导学员进行相关的研究和开发工作。
三、培训方式和评估方法1. 培训方式采用线下实体培训和在线网络培训相结合的方式进行，学员可根据自身情况选择合适的学习模式。
- 线下实体培训：由专业讲师授课，进行理论讲解和实践教学，提供实际操作机会和实验环境。
- 在线网络培训：通过网络平台提供课程视频、教材和习题，学员可自由选择学习时间和地点。
电子元器件的可靠性和寿命评估技术
电子元器件的可靠性和寿命评估技术近年来，随着电子设备的广泛应用，电子元器件的可靠性和寿命评估成为了一个重要的研究领域。
在电子产品的设计和制造过程中，能够准确评估和预测电子元器件的可靠性和寿命，对于保证产品的稳定性和可靠性具有至关重要的意义。
本文将介绍电子元器件可靠性和寿命评估的相关技术和方法，并对其应用进行探讨。
一、可靠性评估技术可靠性是指电子元器件在一定的工作条件下能够在规定的时间内正常工作的能力。
为了评估电子元器件的可靠性，可以采用以下几种技术：1. 应力与失效分析技术应力与失效分析技术是通过分析电子元器件所受到的外部应力和内部失效模式，来评估元器件的可靠性。
在这个过程中，可以使用故障模式与失效分析（FMEA）等方法，对电子元器件的故障模式和失效机理进行深入研究。
通过分析元器件的物理劣化机理和故障行为，可以识别元器件的潜在故障模式，并进一步预测元器件的寿命和可靠性。
2. 加速寿命试验技术加速寿命试验技术是一种通过增加元器件的工作应力或提高温度等方法，将长期工作环境的影响迅速模拟出来，从而缩短寿命试验的时间。
通过在较短的时间内进行试验和评估，可以获取电子元器件在长期使用情况下的可靠性数据。
加速寿命试验技术是评估电子元器件可靠性的常用方法之一，可以有效地提高评估的效率和准确性。
3. 统计分析技术统计分析技术是通过对大量元器件的寿命数据进行分析和统计，来评估元器件的可靠性和寿命。
常用的统计方法有可靠性增长分析、失效分布分析等。
通过对元器件的寿命数据进行统计分析，可以得到元器件的寿命分布曲线和可靠性参数，进一步预测元器件的可靠性和寿命。
二、寿命评估技术寿命评估是指在实际使用过程中，通过对电子元器件的故障模式和失效机理进行研究，来评估元器件的工作寿命。
通过寿命评估技术，可以提前预测元器件的失效时间，并采取相应的措施来延长元器件的使用寿命。
以下是几种常用的寿命评估技术：1. 退化分析技术退化分析技术是通过对元器件退化过程的研究，来评估元器件的工作寿命。
电子元器件的可靠性与寿命评估确保产品可靠运行与使用寿命
电子元器件的可靠性与寿命评估确保产品可靠运行与使用寿命电子元器件是现代科技产品的核心组成部分，其可靠性和使用寿命评估对于产品的稳定运行至关重要。
本文将探讨电子元器件的可靠性与寿命评估的重要性，并介绍一些常用的评估方法和技术，以确保产品的可靠运行与使用寿命。
一、可靠性评估的重要性电子元器件在各类电子设备中起着至关重要的作用，其可靠性直接关系到整个产品的性能和安全性。
可靠性评估旨在确定元器件在特定环境条件下的故障和失效率，以及其使用寿命。
通过准确评估可靠性，企业可以及早发现潜在故障和失效问题，采取相应的预防和维修措施，从而提高产品的可靠性和使用寿命。
二、可靠性评估的方法与技术1. 加速寿命试验：通过在特定环境条件下进行一定时间的测试，观察元器件的故障和失效情况，推测其寿命，并进行可靠性分析。
2. 可靠性建模与预测：通过统计学方法和数学模型，分析元器件的寿命分布、可靠性参数等，预测其寿命和失效概率。
3. 工作环境模拟：模拟元器件在实际工作环境下的条件，如温度、湿度、振动等，并进行相应的测试，以评估元器件的可靠性和适用性。
4. 可靠性测试与验证：在元器件的设计和生产过程中，进行系统的测试和验证，以确保其性能符合设计要求，能够稳定运行并具有较长的使用寿命。
5. 故障分析与改进：针对元器件的故障和失效问题进行分析，找出原因并进行改进措施，以提高元器件的可靠性和使用寿命。
三、电子元器件寿命评估的影响因素1. 材料质量：元器件中所使用的材料对其寿命具有重要影响，优质的材料能够提高元器件的可靠性和使用寿命。
2. 环境条件：元器件在不同的环境条件下的工作状态和外界因素（如温度、湿度、振动等）会影响其寿命。
3. 工作电压与电流：工作电压和电流的大小和波动情况也会对元器件的可靠性和寿命产生影响。
4. 设计与制造质量：元器件的设计和制造质量直接决定了其可靠性和使用寿命。
良好的设计和制造过程能够降低元器件故障和失效的概率。
元器件可靠性基础试验[1]
![元器件可靠性基础试验[1]](https://img.taocdn.com/s3/m/7bdbdc6311661ed9ad51f01dc281e53a5902511b.png)
试验程序和方法： ①被试样品要在高温水汽下老化8小时
②水汽老化后进行干燥处理。
②给引线外表按要求涂覆一定厚度的给定涂覆层。
④加涂覆层之后，时效老化一定时问。
⑤在外引线的中部反复弯曲直至断裂。弯曲时，弯曲角度不小于90。，弯曲半 径要求小于外引线厚度或直径的1／4。
⑥试验判据：反复弯曲后，各涂覆层的接触面出现裂纹、剥落、脱皮、起泡 或分离等现象时应判为不合格。
离心加速度计算公式：
a 2R(m / s2) 4 2n2R (g)
9.8 4n2R(g) n为转速
离心加速度试验的应用
飞机转弯火箭发射、导弹改变方向一般离心加速度10-200g， 持续时间从几秒到几分钟。战斗机考虑到结构强度和人的承受 能力，离心加速度限制在10g以内。此外，在炮弹电引信等的 特殊场合，离心加速度可达10000g数量级。例如，炮弹飞行做 高速度旋转运动，如其转速为20000rin／min，器件装在离中 心轴线5cm处受到的离心加速度达22222g。
外引线涂覆层附着力试验
试验目的：考核外引线各涂覆层的牢固性
试验原理：外引线涂覆层附着力好的引线外引线涂覆上涂覆层后，经过任意地弯 曲，各涂覆层的接触面均不会出现裂纹、剥落、脱皮、起泡或分离等现象。这样 ，弯曲涂覆上涂覆层的外引线，根据各涂覆层的接触面出现裂纹、剥落、脱皮、 起泡或分离等现象的强弱，就可以判断外引线涂覆层附着力的好坏。
(3)试验设备：焊料槽、水汽老化室、焊剂(松香等)、焊料(焊锡等)、温度计、焊 接用夹具等。
(4)试验程序和方法 ①被试样品要在高温水汽下老化8小时，水汽老化后对被试验样品进行干燥处理 ②给引线外表加焊剂，所加焊剂的厚度及长度按试验要求进行。 ④加焊剂之后将外引线以一定速率(如(25土6.4)mm/s的速率)浸人规定组份的熔锡 ⑤外引线在熔锡中停留一定时问。外引线在熔锡中停留的时间应随其横截面积的 不同而有所差异。横截面积大的停留的时间长。 ⑥将外引线从熔锡中提起并从焊料槽取出，速率与浸入速率相同。 ⑦试验判据为外引线浸润焊锡的面积与应覆盖面积之比，要求比值不小于95％。
电子行业电子元器件可靠性
电子行业电子元器件可靠性1. 引言电子行业的发展日新月异，各种电子产品层出不穷。
而这些电子产品的核心组成部分就是电子元器件。
电子元器件的可靠性是制造商和用户关注的重要指标之一，它直接关系到产品的使用寿命、稳定性和用户的体验。
本文将介绍电子元器件可靠性的相关概念、评估方法以及提升可靠性的措施。
2. 电子元器件可靠性的概念电子元器件可靠性指的是在特定条件下，电子元器件在规定的使用寿命内能够保持正常工作的能力。
其可靠性可以通过多个指标来评估，如失效率、故障率、平均寿命等。
常见的电子元器件包括电阻、电容、二极管、晶体管等。
3. 电子元器件可靠性的评估方法为了评估电子元器件的可靠性，可以采用以下几种方法：3.1. 加速寿命试验加速寿命试验是一种常用的评估电子元器件可靠性的方法。
通过在高温、高湿、高压等恶劣条件下进行长时间的测试，可以模拟出元器件在实际应用中可能遇到的环境压力。
根据加速寿命试验的结果，可以推断出元器件在正常使用环境下的可靠性。
3.2. 可靠性预测可靠性预测是一种基于统计方法的评估电子元器件可靠性的方法。
通过收集大量的元器件的历史数据，运用概率统计理论和可靠性数学模型，可以预测元器件在未来一段时间内的可靠性水平。
这种方法可以在设计阶段就对元器件的可靠性进行评估，从而在产品设计中做出相应的调整。
3.3. 可靠性试验可靠性试验是一种通过在真实环境中进行长时间观察和测试来评估电子元器件可靠性的方法。
通过在不同的工作条件下对元器件进行试验，可以得到元器件在实际使用环境中的可靠性数据。
这种方法对于评估元器件的可靠性非常准确，但需要耗费较长的时间和成本。
4. 提升电子元器件可靠性的措施为了提升电子元器件的可靠性，可以采取以下措施：4.1. 优化设计在电子元器件的设计过程中，应考虑使用高质量的材料和合适的工艺，以确保元器件的稳定性和可靠性。
设计过程中还应遵循一些设计规范和标准，如IPC-2221和MIL-STD-883等，以确保元器件的可靠性。
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1可靠性概念
在数值上，某个事件的概率可以用试验中的该事件发生 的频率来估计。例如取N0个产品进行试验，若在规定 的时间t内有r(t)个产品失效，则此时还有N0-r(t)个产品 可以完成规定的功能。在N0足够大时，可靠度的估计 值为
r(t) N 0-r(t) =1 R(t)= N0 N0
0≤ R(t)＜ 1
1 (t ) lim P(t T t t T t ) （1-9） t 0 t λ(t)反映t 时刻失效的速率，故也称为瞬时失效率。
P(t T t t ) P(t T t t T t ) P(T t ) 所以式（1-9）变为：
P(t T t t ) F (t t ) F (t ) dF (t ) 1 (t ) lin lin t 0 t 0 P(T t ) t R(t ) t dt R(t )
规定的工作条件：指产品工作时所处的环境条件、负荷
条件和工作方式。
1可靠性概念
环境条件一般分为气候环境和机械环境。负荷条件是指电 子元器件所承受的电、热、力等应力的条件。工作方式 一般分为连续工作或间断工作，不工作的情况属于存贮 状态。
气候环境：温度、湿度、气压、盐雾、霉菌、辐射等 机械环境：振动，冲击，碰撞、跌落、离心、摇摆等 电应力：静电，浪涌，过电压，过电流，噪声 温度应力：高温，低温，温度循环
2.可靠性试验的分类
各类寿命试验的定义或含义 长期寿命试验：模仿正常工作应力进行的寿命试验， 该试验需要较长的时间。 加速寿命试验：是在既不改变产品的失效机理又不增 加新的失效因子的前提下，提高试验应力，加速产品 失效进程的一种试验试法。这种试验可以用较短的时 间快速的评价产品的可靠性。
具体又分为恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿
质量管理措施加以暴露和排除。
2.可靠性试验的分类
偶然失效期
偶然失效期是在早期失效期之后, 此阶段是电子元器件的 正常工作期, 其特点是失效率比早期失效率低得多, 而且 稳定, 失效率几乎与时间无关, 近似为一常数。电子元器 件的使用寿命就是指这一时期。这一时期的失效是由偶然 不确定因素所引起的, 失效发生的时间也是随机的。
2.可靠性试验的分类
常用筛选方法 检查筛选 包括显微镜检查筛选，红外线非破坏性检查筛选，x 射线非破坏性检查筛选 密封性筛选： 液浸检漏筛选，湿度试验筛选 环境应力筛选 振动，离心加速度，冲击，温度循环等。 寿命筛选 高温贮存，功率老化等
2.可靠性试验的分类
2.3环境应力筛选试验 原理：环境应力筛选是通过向电子装备施加合理的环境应 力和电应力，将其内部的潜在缺陷加速变成故障，以便人 们发现并排除。 环境应力筛选是装备研制生产的一种工艺手段，筛选效果 取决于施加的环境应力、电应力水平和检测仪表的能力。
加速度：1500~6000g 冲击次数：5~10次
振动加速度：20g
2 106 g ~ 3 106 g
频率：2Hz~2000Hz 加速度：2~20g
随机振动
2.可靠性试验的分类
2.4寿命试验和加速寿命试验 寿命试验的定义 评价分析产品寿命特征的试验。产品的失效率、平均寿 命等可靠性特征量反映了产品的寿命特征。 寿命试验的作用 了解产品寿命分布的统计规律以作为可靠性分析的基础， 作为制定筛选条件和改进产品质量的依据。 寿命试验的分类 按试验进行的时间分：长期寿命试验和加速寿命试验 按欲测定各阶段可靠性可分为：贮存寿命试验和工作寿 命试验 按进行试验的截尾方式可分为：非截尾试验和截尾试验， 截尾试验又分为定数截尾和定时截尾。
耗损失效期
电子元器件工作的后期称为耗损失效期, 此阶段的特点刚 好与早期失效期相反, 失效率随工作时间增加而迅速上升。 耗损失效是由于元器件长期使用而产生的损耗、磨损、老 化、疲劳等原因所引起的, 是电子元器件的寿命终结。
2.可靠性试验的分类
在实际中元器件不一定都 会出现上述的三个阶段, 在成批的电子元器件中, 有些元器件的失效率曲线 是递增型、有些是递减型, 而有些则是常数型, 如图 所示。浴盆曲线可看成是 三种失效率曲线的叠加合 成。
电子元器件的可靠性
---2013年12月
目录
• • • • • 1.可靠性的概论 2.可靠性试验的分类 3.元器件试验的方法与设备 4.失效模式与失效机理 5.失效分析
1可靠性概念
1.1什么是可靠性？ 可靠性定义：产品在规定的条件下和规定的时间内，完成 规定功能的能力。 该定义明确指出评价一个产品的可靠性，与规定的工作条 件和规定的工作时间有关，也与规定产品应完成的功能 有关。 而 “三个规定”是理解可靠性概念的核心。 “产品”：新版ISO9000中定义的硬件和流程性材料等有 形产品以及软件等无形产品。 在这里，我只把“产品”定义缩小为零件，元器件， 部件，设备或系统。
从可靠度的定义可知，可靠度是对一定的时间而函数，固又称为可靠度函数R(t)。
1可靠性概念
可靠度与时间的关系曲线如图1-2
1可靠性概念
累积失效概率F（t）
累积失效概率——是产品在规定条件和规定时间内 失效的概率，其值等于1减可靠度。也可说产品在规 定条件和规定时间内完不成规定功能的概率，故也称 为不可靠度，它同样是时间的函数，记作F（t）。有 时也称为累积失效分布函数（简称失效分布函数）。 其表示式为： F(t)=P(T≤t)=1−P(T>t)=1−R(t) 从上述定义可以得出：F（0）=0，F（∞）=1。
2.可靠性试验的分类
筛选应注意的问题： ① 可靠性筛选可以提高一批产品使用的可靠性，但并不 能提高每一个产品的固有可靠性，因为筛选不能改变 失效机理而延长任何单个元器件的寿命，它只是剔除 早期失效的产品后使剩下产品的平均寿命比筛选前平 均寿命提高了。 ② 筛选不同于质量验收。质量验收是通过抽样检验判定 一批产品是否合格从而决定接收或拒收，而筛选是对 于合格产品100%地进行试验，以剔除早期失效产品。 ③ 筛选应力要选择好，不要对好产品造成损伤。
人力费用和保障费用提供信息； (3) 确认是否符合可靠性定量要求。
1可靠性概念
1.3可靠性常用术语和主要特征量 可靠性是一项重要的质量指标，只是定性描述就显得不够， 必须使数量化，这样才能进行精确的描述和比较。可靠性 的定量表示有其自己的特点，由于使用场合的不同，还难 用一个特征量来完全代表。 可靠度R或可靠度函数R(t) 产品的可靠度是指产品在规定条件下和规定时间内，完成 规定功率的功率. 假设规定的时间为t,产品的寿命为T,在一批产品中的寿命 有毒T＞t,也有的 T≤t,从概率论角度可将可靠度表示为T ＞t的概率，即 R(t)=P(T＞t)
命试验、序进应力加速寿命试验。
2.可靠性试验的分类
贮存寿命试验：产品在规定的环境条件下进行非工作状态 的存放试验。 通过贮存试验可以了解产品在特定环境条件下的贮存可靠 性。如解决贮存期间的参数变化规律，能否保持原有的可 靠性指标，贮存期可多长等。 注意： a.贮存条件根据产品的实际贮存情况可有室内，棚下、露 天、坑道等。 b.由于贮存试验样品处于非工作状态，失效率较低，通常 要选择较多的样品做较长期的观察测量。 工作寿命试验:对产品有规定条件下（保证工作状态）作加 负荷的试验。
元器件筛选的方法概述 电阻：高压蒸煮2小时，加电两小时，循环两小时；测试 阻值漂移小于技术标准。 贴片电容：湿热试验、温度循环 电解电容：高温加脉冲电压100小时；测试正切损耗角、 漏电流、容值，目测漏液、外壳 塑封器件：湿热加电，测试漏电流；温度冲击或炉温试验 功能测试，I-V测试； 空封器件：温度循环，低温监测漏电；温度冲击，全参数 测试
失效率
2.可靠性试验的分类
早期失效段
早期失效段，也称早期故障阶段。早期失效出现在产
品寿命的较早时期，产品装配完成即进入早期失效期， 其特点是故障率较高，且随工作时间的增加迅速下降。 早期故障主要是由于制造工艺缺陷和设计缺陷暴露产 生，例如原材料缺陷引起绝缘不良，焊接缺陷引起虚 焊，装配和调整不当引起参数漂移，元器件缺陷引起 性能失效等。早期失效可通过加强原材料和元器件的 检验、工艺检验、不同级别的环境应力筛选等严格的
L(t)
递减型
递增型 常数
失效率曲线
t
2.可靠性试验的分类
2.2可靠性试验项目的分类 可靠性筛选 定义：在产品制造过程中，将不符合要求的产品 （包括成品、半成品）剔除，而将符合要求的产品 保留下来的试验过程称为筛选。
注意在产品制造过程中，对各种工艺质量的检验，
成品、半成品的性能参数测试都要进行筛选。 目的：筛选目的是为剔除早期失效的产品。
1可靠性概念
由此可见，R（t）和F（t）互为对立事件。失效 分布函数F（t）与时间关系曲线如图1-4所示。
F(t)
1.0
0
t
1可靠性概念
失效概率密度f（t） 失效概率密度——是累积失效概率对时间的变化率，记 作f（t）。它表示产品寿命落在包含t的单位时间内的 概率，即产品在单位时间内失效的概率。其表示式为:
dF (t ) f (t ) F (t ) dt
即
F (t ) f (t )dt
0
t
1可靠性概念
失效率λ(t) 失效率——是工作到某时刻尚未失效的产品，在该时刻后单 位时间内发生失效的概率。记作λ(t)，称为失效率函数， 有时也称为故障率函数。 按上述定义，失效率是在时刻t 尚未失效的产品在t~t+Δt 的单位时间内发生失效的条件概率，即：
2.可靠性试验的分类
非截尾寿命试验:试验一直进行到全部试验样品都失效 才截止的试验。 截尾寿命试验：试验没有进行到全部试验样品都失效 就截止的试验。 a.定时截尾：试验进行到规定的时间就结束。 b.试验进行到规定的失效数就结束。
3.元器件试验的方法与设备
3.1元器件的筛选