平板电脑可靠性测试之高低温测试项目

平板电脑可靠性测试之高低温环境测试项目

平板电脑（Tablet PC）是一种小型、携带方便的个人电脑，以触摸屏作为基本输入设备，并允许用户通过触控笔或数字笔进行操作，而不是传统的键盘或鼠标。平板计算机在携带使用时只有简易外套保护或甚至没有，为了方便使用，设计缩小尺寸，这样一来可以直接放在口袋里或手提包、背包，但平版计算机在移动的过程当中也会经历到许多环境物理量的变化(如温度、湿度、振动、冲击、挤压..等)以及自然破坏(像是紫外线、太阳光、沙尘、盐雾、水滴..等)，也会造成人为的非故意伤害或不正常当机及误动作，甚至造成故障与破坏(例如：生活化学用品、手汗、跌落、端子插拔过当、口袋摩擦、水晶指甲..等)，这些都会缩短平板计算机的寿命，为了确保产品可靠度以及延长使用寿命提高，我们必须对平板计算机进行多项环境可靠度试验项目。其中最基本的就是环境试验项目。

平板电脑使用的各种恶劣环境及可靠性评估，测试其性能是否达到要求；主要包括高低温操作与高低温储存、温度与结露、温度循环与冲击、湿热组合性试验、紫外线、太阳光、滴水、沙尘、盐雾等测试。

1、高低温操作与储存推荐试验箱：BYH高低温试验箱

操作温度范围：0℃～35℃/5%～95%RH

储存温度范围：-10℃～50℃/10%～90%RH

操作低温试验：-10℃/2h/通电运转

操作高温试验：40℃/8h/通通运转

储存低温试验：-20℃/96h/关机

储存高温试验：60℃/96h/关机

车载储存高温试验：85℃/96h/关机

温度冲击：-40℃(30min)←→80℃(30min)/10cycle

湿热试验：40℃/95%R.H./48h/通电待机

湿热循环试验：40℃/95%R.H./1h→ramp:1℃/min→-10℃/1h，20cycles，通电待机

温湿度组合型试验

2、紫外光老化试验推荐设备：紫外光老化试验机（https://www.360docs.net/doc/9c14775250.html,）

据ASTM-G-154条件50℃/4h←→UVA：340nm/温度：60℃/4h，一个循环8h，共96h，试验后检查表面外观与颜色

3、防水、防尘测试推荐使用：淋雨试验箱砂尘试验箱

依据IEC60529，符合IPX2防水等级，可防止15度以内斜角落下的水滴进入平板计算机造成损害。试验条件：水流率3mm/min、每个位置2.5min、检查点：试验后、24小时之后、待机1星期。

依据IEC60529，符合IP5X防尘等级，无法完全防止粉尘之进入但不影响器具所应有之动作及安全性，除了平板计算机之外也是目前许多个人移动携带型3C产品常使用的防尘标准，如：手机、数位相机、MP3、MP4..等。

条件：

粉尘样品110mm/3～8h/试验中进行动态操作

试验后透过显微镜来检测灰尘微粒是否会进入到平板计算机内部空间。

产品可靠性试验标准

内部机密产品可靠性测试标准文件版本：V1.0 江苏中讯数码电子有限公司企业标准文档编号撰写人审核人批准人创建时间 2010．01．01发布 2010.01.01 实施

文件修改履历

目录一．目的 (4) 二．编制依据 (4) 三．适用范围 (4) 四．定义 (4) 五．主要职责 (4) 六.试验场所 (5) 七．可靠性测试内容 (5) 1．加速寿命测试 (5) 1.1跌落试验 (5) 1.2振动试验 (5) 1.3湿热试验 (6) 1.4静电试验 (6) 2．气候试应性测试 (7) 2.1低温试验 (7) 2.2高温试验 (7) 2.3盐雾试验 (7) 3．结构耐久测试 (8) 3.1按键/叉簧测试 (8) 3.2跌落测试 (8) 4．表面装饰测试 (8) 4.1丝印、喷油测试 (8) 5．特殊条件测试 (9) 5.1低温加电试验 (9) 5.1恒温湿热加电试验 (9) 八．最终检验 (9) 九．判断标准 (9) 十．试验程序 (10)

一 .目的 1．对产品硬件设计、制造进行验证确认符合相应国家标准； 2．在特定的可接受的环境下评估产品的质量和可靠性； 3．在特定的可接受的环境下评估产品的安全性； 4．统一并规范企业内产品硬件测试检验方法。二．编制依据 1．GB/T2421-1999 电工电子产品环境试验第一部分：总则 2．GB/T2422-1995 电工电子产品环境试验术语 3．GB/T4796-2001 电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级 4．GB/T2423.1-2001 电工电子产品环境试验第1部分：试验方法试验A：低温 5．GB/T2423.1-2001 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温 6．GB/T2423.1-2001 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落7．GB/T2423.10-1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动8．GB/T2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验试验Ca:恒定湿热试验方法 9．GB/T2423.17-2001 电工电子产品环境试验第2部分：试验Ka盐雾试验方法 10．GB/T17626.2-1998 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验三．适用范围 1．本文件使用于中讯数码有限公司所生产的所有产品。 2．根据技术中心的要求，本标准适用于提供相应的测试环境对一些部件进行可靠性测试四．定义为了了解、考核、评价、分析和提高产品可靠性而进行的试验。五．主要职责 1．技术中心 1.1定义项目/产品可靠性测试计划 1.2完成、跟踪项目/产品可靠性测试结果 1.3参与产品可靠性测试问题的分析及改进 1.4提供制定/修改可靠性测试程序及标准建议 1.5参与测试设备/仪器的日常管理、维护 1.6参与可靠性测试设备/仪器的开发 2．质管部

行业平板电脑整机可靠性测试规范

行业平板电脑可靠性测试规范文件版本：文件编号：制定部门：测试部制定日期： █一般□机密□极机密

通过切实有效的验证，确认产品在研发、物料或制造上，是否有潜在可靠性缺失，确保产品在运输、储存及使用等过程中，符合客户所需的可靠度要求。二、适用范围：适用于所有深圳市汉普电子技术开发有限公司研发和生产的行业平板电脑。三、参考标准： YD/T 1539-2006：移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法； GB/T ：电子电工产品环境试验标准； GB/T 9286：色漆和清漆、漆膜的划格试验； GB 4208-2008：外壳防护等级（IP代码）；

GB/T ：包装运输包装件试验标准。四、定义： 1、严重缺陷(critical defect): 对用户，维修或依赖该产品的个人，有发生危险或不安全结果之缺点； 2、主要缺陷(major defect): 指严重缺陷以外的缺陷，其结果或许会导致故障，或实质上降低产品单位的使用性能，以致不能达成期望的目标； 3、次要缺陷(minor defect): 指产品之使用性，实质上不致降低其期望目的的缺陷，或虽与已设定的标准有所差异，但在产品单位之使用与操作效用上，并无多大影响。五、测试机台与时程： 1、新产品研发各阶段，生管或RD应最少提供20台测试样机； 2、测试时间为日历天15个工作日； 3、各单项测试后出具测试报告，所有项目完成后3个工作日内整理出最终测试报告。六、样机编码规则： 1、样机编码规则以「公元末2码+日期+流水号」之规则编码，如:091006-001；

2、异常代码之编码原则以「机种+流水号」之规则编码，如:PA02-001。七、测试前的样机记录： 1、收到测试样机时，需确认外观、系统功能全检确保实验前测试样机良好，并填写「外观系统功能全检表」； 2、拿到样机后，需于样机管制流程卡填写管制编号「样机管制流程卡」如有更换部件也需填写表格，做纪录； 3、样机标示卡贴于样机右上角，须与该样机管制流程卡相同，如标示卡位置影响到实验样机时，得以撕除贴纸并于实验前复制一张，于实验完成后再将序号贴上，后续会依此机台编号做登记并追踪纪录； 4、执行测试前，确认每项实验项目执行状况及进度； 5、测试中如遇测试异常时需填写「异常清单汇整表」，以利机台异常追踪； 6、测试完成后出具可靠性测试报告； 7、完成所有可靠性测试项目后提供完整可靠性计划测试总表。八、测试项目：

电子产品可靠性试验国家标准清单

电子产品可靠性试验国家标准清单 GB/T 15120、1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印 GB/T 14598、2-1993 电气继电器有或无电气继电器 GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法 GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则 GB/T 5839-1986 电子管与半导体器件额定值制 GB/T 7347-1987 汉语标准频谱 GB/T 7348-1987 耳语标准频谱 GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2689、1-1981 恒定应力寿命试验与加速寿命试验方法总则 GB/T 2689、2-1981 寿命试验与加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、3-1981 寿命试验与加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、4-1981 寿命试验与加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080、1-1986 设备可靠性试验总要求 GB/T 5080、2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则 GB/T 5080、4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计与区间估计方法(指数分布)

GB/T 5080、5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T 5080、6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验 GB/T 5080、7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性与维修性数据收集指南 GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南 GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法 GB/T 6993-1986 系统与设备研制生产中的可靠性程序 GB/T 7288、1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟 GB/T 7288、2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟 GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南 GB/T 9414、1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言 GB/T 9414、2-1988 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求 GB/T 9414、3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲 GB/T 9414、4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究 GB/T 9414、5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验 GB/T 9414、6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示 GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法 GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定

平板电脑成品检验规范

文件类型: 检验规范主题: 平板电脑检验规范文件编号: 页次：01/07 修订次: *****目^录*****

1. 目的：为确保平板电脑的生产、检验工作有序进行，为过程质量控制、例行检验、最终成品检验和确认检验提供依据，特编写本标准。 2. 范围本标准适用于福建新威电子工业有限公司通讯厂所生产的平板电脑成品质量检验。 3. 规范性引用文件在下面所引用的文件中，为有效版本。 GB/T 2828-2003 GB/T 2829-2003 对于企业标准部分没有写出年代号，使用时应以网上发布的最新标准逐批检查计数抽样程序及抽样表周期检查计数抽样程序及抽样表参考文件一：可靠性试验规范参考文件二：锂电池检验规范参考文件三：适配器来料检验规范 4.抽样检查水准： 1. A : 一般检查水平U 2. 抽样方式：一次抽样方式 3. 抽样检查水平：正常检查 4. 严重缺陷（Major ） 0.65 :加严检查水平川轻微缺陷（Minor ） 2.5 5.缺陷分类： 1、致命缺陷（Critical ）: 不符合安全标准规定,对使用维修或保管产品的人存在一定的危险性或不安全的缺陷。存在一个或一个以上致命缺陷的不合格品，称为致命不合格品。 2、严重缺陷（Major ）：不构成致命缺陷，但产品的重要特性不符合规定要求或产品质量特性严重不符合规定，使产品基本功能失效或不能正常工作，严重降低产品的实用性能的缺陷。存在一个或一个以上重缺陷，但不能包含致命缺陷的不合格品，称为严重不合格品。 3、轻微缺陷（Mi nor ）：不构成致命缺陷或严重缺陷，只对产品的实用性能有轻微影响的缺陷。存在一个或一个以上轻微缺陷，但不包含致命缺陷和严重缺陷的不合格品，称为轻微不合格品。 6.使用工具：数据连接线一条内存卡一张外网线一条一条电源适配器一个电脑一台五色图检验环境要求路由器一个耳机 7. 7.1 7.2 7.3 环境温度：相对湿度: 光照条件: 25C± 10C 35%~80% 灯光条件 500lx---1000lx 7.4 视距：40cm ± 5cm 7.5 视角：以被检验表面垂直线为基准土 45°范围内。 7.6 目视时间：3~5秒

产品可靠性测试规范

产品可靠性测试规范 Standardization of sany group #QS8QHH-HHGX8Q8-GNHHJ8-HHMHGN#

产品可靠性测试规范 1.目的本文制定产品可靠性测试的要求和方法,确保产品符合可靠性测试要求。 2. 范围本文件适用于此CPIT有限公司所生产的所有产品。 3. 定义 N/A 4. 职责品控部QC/QA人员负责本文件所规定的通讯产品的可靠性测试内容要求在检查过程中的实施. 品控部经理或其授权人负责本文件所规定的内容与实际情况相符并正确,并监督品控部QC/QA人员对本文件的实施. 5．内容实验顺序除非特殊要求，试验样品进行试验时，一般按下表的顺序进行：实验条件及容差： 5.2.1 实验条件：

5.2.2 试验条件容差： a.温度容差：试验样品除必要的支承点外，应完全被空气包围。试验区测量系统的温度和包围试验样品空气各处的温度容差：高温为 +/-2℃，低温为+/-3℃. b.湿度容差：+/-5%. c.振动振幅容差：+/-15%. d.振动频率容差：+/-1Hz. 5.2.3落地实验标准 5.2.3.1 落地实验应以箱体一角三棱六面按规定高度自由落下的方式进行。

重量高度 0~10kg以内 75cm 10~20kg以内 60 cm 20kg以上 53 cm 5.2.3.2 注意事项： 5.2.3. 体内机台及包材在每个步骤后应该检验。 5.2.3. 任一步骤发现部件有损坏的应立即更换。 5.2.3. 详细记录。 5. 3 样品数量：测试时机： 6.4.1 产品处于PP时. 6.4.2 第一次量产. 6.4.3 当产品的材质,设计等变更时. 6.4.5 生产出现异常时. 6.4.6 新客户需重新进行产品评估时. 6.4.7 客户投诉与之相关时. 6．程序从QA PASS的成品机中随机抽取20台，重新检查其外观及功能，确保其为合格产品方可进行以下步骤. 按试验顺序分别完成各项测试.对于每个测试中所出现的不合格品交测试组或相关技术部门分析其原因. 对于不合格品必须有相应的备份成品机进行补充或进行修理使其重新达到合格要求.

产品可靠性试验报告模板

产品可靠性试验报告一、试验样品描述二、试验阶段三、试验结论

四、试验项目

High Temperature Storage Test （高温贮存）实验标准：产品可靠性试验报告测试产品状态 ■小批□中批□量产开始时间/Start Time 结束时间/Close Time 试验项目名称/Test Item Name High Temperature Storage Test (高温贮存) 产品名称Name 料号/P/N （材料类填写供应商）试验样品/数量试验负责人（5Pcs ）实验测试结果 ■通过□不通过□条件通过试验目的验证产品在高温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性试验条件 Test Condition 不通电，以正常位置放入试验箱内，升温速率为1℃/min，使产品温度达到70℃，温度稳定后持续8小时，完成测试后在正常环境下放置2小时后进行产品检查试验条件图 Test Condition 仪器/设备高温烤箱、万用表、测试工装合格判据试验后样品外观、机械性能、电气性能、等各项性能正常包装压力测试 OK 包装振动测试 OK 包装跌落测试 OK Group 7 酒精测试 OK RCA 纸带耐磨测试附着力测试 OK 百格测试 OK 材料防火测试

备注说明注意：测试不通过或条件通过时需要备注说明现象或原因、所有工作状态机器需要连接信号线、功能测试涵盖遥控距离和按键功能 Low Temperature Storage Test（低温贮存）实验标准：产品可靠性试验报告测试产品状态■小批□中批□量产开始时间/Start Time 结束时间/Close Time试验项目名称/Test Item Name Low Temperature Storage Test (低温贮存) 机型名称Name料号/P/N（材料类填写供应商）试验样品/数量试验负责人实验测试结果■通过□不通过□条件通过试验目的验证产品低温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性试验条件Test Condition 不通电，以正常位置放入试验箱内，降温速率为1℃/min，使试验箱温度达到-30℃，温度稳定后持续8小时，完成测试后在正常环境下放置2小时，后进行产品检查. 试验条件图Test Condition

平板电脑成品检验标准

平板电脑整机成品检验标准 1、范围为了统一成品出厂质量检验标准，确保成品整机满足规定质量要求，特制定此标准；本标准规定了MID成品整机出厂检验质量要求、检验项目、检验方法。适用于MID 成品检验。 2、引用标准 Q/SPTA003.1-2009 MID检验标准(企业标准) 3、一般要求 3.1 正常测试条件温度：15～35℃ 相对湿度：25%～75% 大气压力：86Kpa～106kPa 电源电压：交流220V±22V 电源频率:50/60 Hz 在上述测试条件下，被测平板电脑应满足其性能要求，但在比上述测试条件更宽的范围内，设备仍能工作，但可不满足其所有的性能要求，并允许被测平板电脑在更为极端的条件下储存。 3.2 图形符号图形符号应符合GB/T 5465.1-5465.2《电气设备用图形符号》中的有关规定。 3.3 互连配接要求 MID与耳机、外接扬声器、音箱、显示器、USB设备、以太网、电缆系统等外部设备配接时，平板电脑与外设应能正常工作。MID与外接直流电源的配接要求由产品标准中规定。 4、整机检验的分类检验包括：全数检验和抽样检验

5、整机的全数检验 5.1.成品整机全数检验要求：必须在PCBA全数检验及老化完成并合格后才能进行。 5.2.检验方式：全数检验方式采取在线检验方式，在整机生产的各主要环节设置QC，对整机生产的成品整机进行全数检验。 5.3.检验项目及检验方法 5.3.1.外观和结构检验按《产品外观和结构检验标准》要求进行，凡有任何一项不符合要求，无论判据为Z、A或B均按照不合格品处理。 5.3.2.功能和性能检验所有项目按工艺要求从头至尾全部运行一遍，任意一项不能PASS即判为不合格品，并记录好流程卡及质量报表，将整机放致修理位维修。具体检验方法按照《MID整机成品出厂检验标准》进行。 5.4.质量记录及处理凡在线检验中发现不合格机器，均要在流程卡写明故障并将不合格机器隔离，经修复后重新提交检验。每天做好质量原始记录，并由质量管理部门收集、整理、存档，对重大质量问题要及时将信息反馈给主管领导。 6、整机的抽样检验抽样检验用于成品整机的交收检验。抽检检验必须在全数检验完成后并且全部合格的提交验收批次产品中进行。 6.1.抽样检验的质量要求和检验方法 6.1.1.包装和附件检验 6.1.1.1.包装箱必须具有如下标志，且标志正确、清晰可辨 6.1.1.1.1.产品型号 6.1.1.1.2.公司Logo 6.1.1.1.3.包装质量：kg；

产品可靠性测试规范

产品可靠性测试规范 1.目的本文制定产品可靠性测试的要求和方法,确保产品符合可靠性测试要求。 2. 范围本文件适用于此CPIT有限公司所生产的所有产品。 3. 定义 N/A 4. 职责 5.1 品控部QC/QA人员负责本文件所规定的通讯产品的可靠性测试内容要求在检查过程中的实施. 5.2 品控部经理或其授权人负责本文件所规定的内容与实际情况相符并正确, 并监督品控部QC/QA人员对本文件的实施. 5．内容 5.1 实验顺序除非特殊要求，试验样品进行试验时，一般按下表的顺序进行： 5.2 实验条件及容差： 5.2.1 实验条件：

0~10kg以内 75cm 10~20kg以内 60 cm 20kg以上 53 cm 5.2.3.2 注意事项： 5.2.3.2.1 体内机台及包材在每个步骤后应该检验。 5.2.3.2.2 任一步骤发现部件有损坏的应立即更换。 5.2.3.2.3 详细记录。 5. 3 样品数量： 5.4 测试时机： 6.4.1 产品处于PP时. 6.4.2 第一次量产. 6.4.3 当产品的材质,设计等变更时. 6.4.5 生产出现异常时. 6.4.6 新客户需重新进行产品评估时. 6.4.7 客户投诉与之相关时. 6．程序 6.1 从QA PASS的成品机中随机抽取20台，重新检查其外观及功能，确保其为合格产品方可进行以下步骤. 6.2 按6.1试验顺序分别完成各项测试.对于每个测试中所出现的不合格品交测试组或相关技术部门分析其原因. 6.3 对于不合格品必须有相应的备份成品机进行补充或进行修理使其重新达到合格要求.

平板电脑检验标准

平板电脑（M I D）成品出厂检验标准1、范围为了统一成品出厂质量检验标准，确保成品整机满足规定质量要求，特制定此标准；本标准规定了平板电脑（MID）成品整机出厂检验质量要求、检验项目、检验方法。适用于平板电脑（MID）成品检验。 2、 3、 3.1 正常测试条件温度：15～35℃ 相对湿度：25%～75%

大气压力：86Kpa～106kPa 电源电压：交流220V±22V 电源频率:50/60 Hz 在上述测试条件下，被测笔记本应满足其性能要求，但在比上述测试条件更宽的范围内，设备仍能工作，但可不满足其所有的性能要求，并允许被测笔记本在更为极端的条件 4、

5、整机的全数检验 5.1.成品整机全数检验要求：必须在PCBA全数检验及老化完成并合格后才能进行。 5.2.检验方式：全数检验方式采取在线检验方式，在整机生产的各主要环节设置QC，对整机生产的成品整机进行全数检验?。 5.3.检验项目及检验方法 Z、A 凡在线检验中发现不合格机器，均要在流程卡写明故障并将不合格机器隔离，经修复后重新提交检验。每天做好质量原始记录，并由质量管理部门收集、整理、存档，对重大质量问题要及时将信息反馈给主管领导。 6、整机的抽样检验抽样检验用于成品整机的交收检验。抽检检验必须在全数检验完成后并且全部合格的

提交验收批次产品中进行。 6.1.抽样检验的质量要求和检验方法 6.1.1.包装和附件检验 6.1.1.1.包装箱必须具有如下标志，且标志正确、清晰可辨、方向（可选），及其它有关危险的警告标记，标记应符合GB191-2000的规定。6.1.1.2.包装箱材料质量 6.1.1.2.1.包装箱必须要求纸箱尺寸正确，纸箱纸质良好，纸箱装订完好； 6.1.1.2.2.纸箱无破损、裂纹、色差、斑块等不良现象；

电子产品可靠性测试报告.docx

XXXX股份有限公司检测中心检测报告报告编号：2019-5-25 样品名称电子产品可靠性测试样品编号2019-5-25 委托单位XXXX 实业有限公司型号/规格RC661-Z2委托单位 XXXXXX检测类别委托试验地址样品来源收样日期2019年4月15日委托方送样方式 2019 年4月15日～样品数量120检测日期 2019年5月15日 1.高低温工作试验10.外箱跌落试验18.标签酒精测试 2.高温高湿工作试验11.外箱振动试验19.盐雾测试 3.外箱温湿度交变储存试验 12.稳定性测试20.外箱抗压测试 4.外箱高温高湿储存试验13.铅笔硬度测试21.ESD 测试检测项目 5.冷热冲击试验14.底噪测试22.电源通断测试 6.裸机跌落试验15.防水测试23.裸机振动试验 7.裸机微跌试验16.大头针缝隙安全测试 https://www.360docs.net/doc/9c14775250.html,B 线摇摆测试 8.彩盒包装跌落试验17.标签橡皮测试25.125℃高温存放 9.快递盒包装跌落试验样品说明委托方提供120 个样品用于本次试验，其中：裸机 40台， PCBA 20 块，带包装 3 箱（ 60台）。

参考标准：检测依据 YD/T 1539-2006《移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法》检测结论样品按照要求完成了测试，测试结果见报告正文备注--- 编制：审核：批准：批准人职务：年月日年月日年月日第1页共 9页

XXXX股份有限公司检测中心检测报告报告编号：2019-5-25 试验情况综述序号项目 1高低温1 标准要求温度45℃ 试验情况工作试验 2高温高湿工作试验3外箱温湿度交变储存试验持续时间 6 小时 2温度45℃～ -10 ℃ 降温时间 2 小时 3温度-10 ℃ 持续时间 6 小时 4温度-10 ℃～ 45℃ 升温时间 1 小时每循环时间15小时循环次数4 样品状态在线测试温度40℃ 相对湿度90﹪ 持续时间96h 样品状态在线测试 1温度70℃ 湿度40﹪ 持续时间12 小时 2温度70℃～ -20 ℃ 降温时间 2 小时 3温度-20 ℃ 4持续时间12 小时温度-20 ℃～湿度40 ﹪ 升温时间 1 小时每循环时间27 小时循环次数4 样品状态包装、不

产品可靠性测试标准QW-QA-61

产品可靠性测试标准文件编号QW-QA-61 版本生效日期 2014.11.30修改码页码1/20 1目的作为产品质量保证系统的一部分，可靠性测试标准将力求达到以下目标： a)根据相关测试标准，在特定的可接受的环境下对产品、部件施加特定的测试方法，通过不断的催化产品、部件的寿命和疲劳度，以评估并提高其质量和可靠性； b)根据相关测试标准，模拟各种高于客观实际的环境条件，对产品、部件进行全面的考核，以确定其整个生命期间的实用性; c)规范公司产品可靠性试验作业方法. 5可靠性测试程序 5.1温度冲击 ●测试环境：低温-35℃，高温+70℃ ●测试目的：验证样机高低温冲击下的材料性能，结构配合，装配、制成工艺等可靠性 ●测试标准：GB/T2423.22-2002;IEC60068-2-14 ●测试设备：温度冲击箱 ●测试类型：必选 ●样品数量：4台 ●测试方法：↓ 1)样机中预存入5个电话和5条短信息,并将手机时钟设置为当前日期时间。 2)手机中装入充满电的电池，不插测试卡，设置为关机状态放进高低温冲击箱内 3)样机置于+70℃高温箱内持续30分钟后，在5分钟内迅速移入-35℃低温箱并持续30分钟后，再在5分钟内迅速回到高温箱。此为一个循环（一个循环用时1小时），共循环24次。 4)实验结束后将样机从温度冲击箱中取出，在室温（20~25℃）恢复2小时后进行外观、结构、功能及内存检查。 5)对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。 ●检验标准：样机外观，结构，功能和内存均无异常，无与测试前状态不一致的现象。 5.2低温应用测试 ●测试环境：-25°C ●测试目的：验证样机低温下的工作性能 ●测试标准：GB/T2423.1IEC60068-2-1 ●测试设备：综测仪气候实验箱 ●测试类型：必选 ●样品数量：不少于3台 ●测试方法：

平板电脑检验标准

平板电脑（MID）成品出厂检验标准 1、范围为了统一成品出厂质量检验标准，确保成品整机满足规定质量要求，特制定此标准；本标准规定了平板电脑（MID）成品整机出厂检验质量要求、检验项目、检验方法。适用于平板电脑（MID）成品检验。 2、引用标准 GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T9813-2000 微型计算机通用规范； GB191-1990 包装储运图示标志； GB4943-2001 信息技术设备的安全（ide IEC950:1991）； GB9254-2008 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法； Q/SPTA003.1-2009 平板电脑（MID）检验标准(企业标准) 3、一般要求 3.1 正常测试条件温度：15～35℃ 相对湿度：25%～75% 大气压力：86Kpa～106kPa 电源电压：交流220V±22V 电源频率:50/60 Hz 在上述测试条件下，被测笔记本应满足其性能要求，但在比上述测试条件更宽的范围内，设备仍能工作，但可不满足其所有的性能要求，并允许被测笔记本在更为极端的条件下储存。 3.2 图形符号图形符号应符合GB/T 5465.1-5465.2《电气设备用图形符号》中的有关规定。 3.3 互连配接要求平板电脑（MID）与耳机、外接扬声器、音箱、显示器、USB设备、以太网、电缆系统等外部设备配接时，电脑与外设应能正常工作。平板电脑（MID）与外接直流电源的配接要求由产品标准中规定。 4、整机检验的分类检验包括：全数检验和抽样检验 5、整机的全数检验 5.1.成品整机全数检验要求：必须在PCBA全数检验及老化完成并合格后才能进行。 5.2.检验方式：全数检验方式采取在线检验方式，在整机生产的各主要环节设臵QC，对整机生产的成品整机进行全数检验。 5.3.检验项目及检验方法 5.3.1.外观和结构检验按《产品外观和结构检验标准》要求进行，凡有任何一项不符合要求，无论判据为Z、A 或B均按照不合格品处理。 5.3.2.功能和性能检验使用公司专门检测软件（T2部分）进行，要求对软件中T2部分的所有项目按工艺要求从头至尾全部运行一遍，任意一项不能PASS即判为不合格品，并记录好流程卡及质量报表，将整机放致修理位维修。具体检验方法按照《产品测试软件说明》进行，软件及说明由工程部提供。

IC可靠性测试项目及参考标准

IC产品的质量与可靠性测试 (IC Quality & Reliability T est) 质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命。质量（Quality）就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（SPEC）的要求，是否符合各项性能指标的问题；可靠性（Reliability）则是对产品耐久力的测量，它回答了一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问题。所以说质量（Quality）解决的是现阶段的问题，可靠性（Reliability）解决的是一段时间以后的问题。知道了两者的区别，我们发现，Quality的问题解决方法往往比较直接，设计和制造单位在产品生产出来后，通过简单的测试，就可以知道产品的性能是否达到SPEC的要求，这种测试在IC的设计和制造单位就可以进行。相对而言，Reliability的问题似乎就变的十分棘手，这个产品能用多久，谁能保证产品今天能用，明天就一定能用？为了解决这个问题，人们制定了各种各样的标准，如: JESD22-A108-A、EIAJED- 4701-D101，注：JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council）电子设备工程联合委员会,，著名国际电子行业标准化组织之一；EIAJED：日本电子工业协会，著名国际电子行业标准化组织之一。在介绍一些目前较为流行的Reliability的测试方法之前，我们先来认识一下IC产品的生命周期。典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线（Bathtub Curve）来表示。 ⅠⅡⅢ

?Region (I) 被称为早夭期（Infancy period）这个阶段产品的failure rate 快速下降，造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷； ?Region (II) 被称为使用期（Useful life period）在这个阶段产品的failure rate保持稳定，失效的原因往往是随机的，比如温度变化等等； ?Region (III) 被称为磨耗期（Wear-Out period）在这个阶段failure rate 会快速升高，失效的原因就是产品长期使用所造成的老化等。认识了典型IC产品的生命周期，我们就可以看到，Reliability的问题就是要力图将处于早夭期failure的产品去除并估算其良率，预计产品的使用期，并且找到failure的原因，尤其是在IC生产，封装，存储等方面出现的问题所造成的失效原因。下面就是一些IC产品可靠性等级测试项目（IC Product Level reliability test items ）一、使用寿命测试项目（Life test items）：EFR, OLT (HTOL), LTOL ①EFR:早期失效等级测试（Early fail Rate Test）目的: 评估工艺的稳定性，加速缺陷失效率，去除由于天生原因失效的产品。测试条件: 在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试失效机制：材料或工艺的缺陷，包括诸如氧化层缺陷，金属刻镀，离子玷污等由于生产造成的失效。具体的测试条件和估算结果可参考以下标准： JESD22-A108-A EIAJED- 4701-D101 ②HTOL/ LTOL：高/低温操作生命期试验（High/ Low Temperature Operating Life）目的: 评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力测试条件: 125℃，1.1VCC, 动态测试失效机制：电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性，离子玷污等参考标准：

可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南

术语和定义 HALT（High Accelerated Life Test）：高加速寿命试验，即试验中对试验对象施加的环境应力比试验对象整个生命周期内，包括运输、存储及运行环境内，可能受到的环境应力大得多，以此来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱环节，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到快速提升可靠性的目的。运行限或操作限（Operation Limit）：指产品某应力水平上失效（样品不工作或其工作指标超限），但当应力值略有降低或回复初始值时，试样又恢复正常工作，则样品能够恢复正常的最高应力水平值称为运行限。破坏限（Destruct Limit）：在某应力水平上升到某值时，样品失效，即使当应力回落到低于运行限时，试样仍然不能恢复正常工作，这时的应力水平值称为破坏限。裕度（Margin）：产品运行环境应力的设计限与运行限或破坏限的差值。产品的裕度越大，则其可靠性越高。夹具（Fixture）：在HALT试验的振动项目中固定试样的器具。振动试验必须使用夹具，使振台振动能量有效地传递给试样。加速度传感器（Accelerometer）：在某方向测量试样振动加速度大小的传感器。在HALT试验的振动项目中使用加速度传感器可以监视试验箱振动能量通过夹具有效传递给试样的效率。振动功率谱密度（Vibrating Power Spectral Density）：也称为加速谱密度，衡量振动在每个频率点的加速度大小，单位为（g2/Hz）。 Grms（Gs in a root mean square）：振动中衡量振动强度大小的物理单位，与加速度单位相同，物理含义为对振动功率谱密度在频率上积分后的平方根。热电偶（Thermocouple）：利用“不同导体结合在一起产生与温度成比例的电压”这一物理规律制作的温度传感器。在HALT试验的热应力测试项目中，利用热电偶监视产品各点的温度分布。功能测试（Functional Test）：对试样的测试，用以判断试样能否在测试环境下完成规定的功能，性能是否下降。一般是通过测量试样的关键参数是否达到指标或利用诊断模式测试试样的内部性能。摘要：本文围绕产品HALT试验，详细介绍HALT试验基本要求、总体过程及试验过程。关键词：HALT试验、基本要求、试验过程 1、HALT试验基本要求 1.1对试验设备的要求 1.1.1对试验箱的要求做HALT试验的设备必须能够提供振动应力和热应力，并满足下列指标：振动应力：必须能够提供6个自由度的随机振动；振动能量带宽为2Hz～10000Hz；振台在无负载情况下至少能产生65Grms的振动输出。热应力：目标是为产品创造快速温度变化的环境，要求至少45℃/min的温变率；温度许可范围至少为－90℃～＋170℃。

系统测试报告(详细模板)

xxxxxxxxxxxxxxx 系统测试报告 xxxxxxxxxxx公司 20xx年xx月

版本修订记录

xxxxxx测试报告目录 1引言 (1) 1.1编写目的 (1) 1.2项目背景 (1) 1.3术语解释 (1) 1.4参考资料 (1) 2测试概要 (2) 2.1系统简介 (2) 2.2测试计划描述 (2) 2.3测试环境 (2) 3测试结果及分析 (3) 3.1测试执行情况 (3) 3.2功能测试报告 (3) 3.2.1系统管理模块测试报告单 (3) 3.2.2功能插件模块测试报告单 (4) 3.2.3网站管理模块测试报告单 (4) 3.2.4内容管理模块测试报告单 (4) 3.2.5辅助工具模块测试报告单 (4) 3.3系统性能测试报告 (4) 3.4不间断运行测试报告 (5) 3.5易用性测试报告 (5) 3.6安全性测试报告 (6) 3.7可靠性测试报告 (6) 3.8可维护性测试报告 (7) 4测试结论与建议 (9) 4.1测试人员对需求的理解 (9) 4.2测试准备和测试执行过程 (9) 4.3测试结果分析 (9) 4.4建议 (9)

1引言 1.1 编写目的本测试报告为xxxxxx软件项目的系统测试报告，目的在于对系统开发和实施后的的结果进行测试以及测试结果分析，发现系统中存在的问题，描述系统是否符合项目需求说明书中规定的功能和性能要求。预期参考人员包括用户、测试人员、开发人员、项目管理者、其他质量管理人员和需要阅读本报告的高层领导。 1.2 项目背景项目名称：xxxxxxx系统开发方：xxxxxxxxxx公司 1.3 术语解释系统测试：按照需求规格说明对系统整体功能进行的测试。功能测试：测试软件各个功能模块是否正确，逻辑是否正确。系统测试分析：对测试的结果进行分析，形成报告，便于交流和保存。 1.4 参考资料 1)GB/T 8566—2001 《信息技术软件生存期过程》(原计算机软件开发规范) 2)GB/T 8567—1988 《计算机软件产品开发文件编制指南》 3)GB/T 11457—1995 《软件工程术语》 4)GB/T 12504—1990 《计算机软件质量保证计划规范》 5)GB/T 12505—1990 《计算机软件配置管理计划规范》

产品可靠性试验报告

产品可靠性试验报告（初稿）一、试验样品描述项目描述备注产品型号 Sample type：样品数量 Sample qty：硬件版本 H/W version：软件版本 S/W version：测试申请人： Test applicant：申请日期 Application date：二、试验阶段测试单位测试阶段□样品■小批□中批□量产三、试验结论测试结论■通过□不通过□条件通过

四、试验项目 Summary of Contents 测试项目测试结果备注 Group 1 高温贮存OK 低温贮存OK 恒温恒湿贮存OK 高低温度/电压交变测试交变湿热OK Group 2冷热冲击测试OK 振动测试OK 跌落测试OK 防水测试漏电起痕测试灼热丝测试雷击测试噪音测试 ROHS测试 Group 3 按键寿命测试OK 插拔寿命测试OK 接口弯折测试OK 电线摇摆测试盐雾测试 Group 4开/关机测试OK 耐高压试验OK ESD测试

High Temperature Storage Test （高温贮存）实验标准：产品可靠性试验报告测试产品状态 ■小批□中批□量产开始时间/Start Time 结束时间/Close Time 试验项目名称/Test Item Name High Temperature Storage Test (高温贮存) 产品名称Name 料号/P/N （材料类填写供应商）试验样品/数量试验负责人（5Pcs ）实验测试结果 ■通过□不通过□条件通过试验目的验证产品在高温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性试验条件 Test Condition 不通电，以正常位置放入试验箱内，升温速率为1℃/min ，使产品温度达到70℃，温度稳定后持续8小时，完成测试后在正常环境下放置2小时后进行产品检查试验条件图 Test Condition 仪器/设备高温烤箱、万用表、测试工装合格判据试验后样品外观、机械性能、电气性能、等各项性能正常序列号（S/N ）外观结构包装压力测试 OK 包装振动测试 OK 包装跌落测试 OK Group 7 酒精测试 OK RCA 纸带耐磨测试附着力测试 OK 百格测试 OK 材料防火测试

平板电脑检验标准

平板电脑的验收标准前言为了加强对结构件生产流程相关环节的监督检验和外观质量控制，特制定本标准。本标准起草由品质部提出，﹡﹡﹡﹡﹡﹡﹡公司直属机构运营部归口管理。本次起草部门：品质部本次起草人：本次标准审核人：本次发布批准人：本标准于2008年01月首次发布 1目的实用、全面、统一规范品管组检验标准格式；达到我司成品检验标准严密性。 2范围本标准规定了﹡﹡﹡﹡﹡﹡﹡平板电脑系列产品中结构件的表面等级划分及其外观质量要求。本标准只适用于对结构件验收、产品的装配生产及成品的验收标准；也可用于指导设计。 3描述： 3.1 检验工具与设备 a：直尺、塞尺、卡尺（精度：±0.02mm）、万用表、变压器、专用测试夹具； b：标准胶片（不得使用影印片）；

c：透明胶带（同等替代品）； d：IPA溶液（99.9﹪酒精）； e：SD卡、MMC卡、MS卡及MSDRO卡。 3.2检验条件如下 a、环境温度：25℃—30℃ b、环境相对湿度：60％—70％ c、照明设备：白色荧光灯 d、照明条件：正常照明度（光度在300—600LUX） e、外观确认时间：不同等级面用时不同，总时间不超过20S f、视力要求：检验员双眼矫正视力不低于1.1 g、能力要求：认真、细致、熟悉本检验标准 h、上述各条件要求检验员眼睛与部件、半成品、成品在 500mm的距离检验。在自然光或光照度在400-500LX的近似自然光下（如40W日光灯、距离500mm处）,相距为450-650mm，观测时间按不同等级面而有不同。详见表3：表3 检测条件

4 缺陷等级定义 4.1 严重缺陷：为与完全规定政府相关法令相抵触及影响产品功能； 4.2 主要缺陷：为电气功能或机构外观不符合检验标准规定； 4.3 次要缺陷：非严重缺陷或主要缺陷。 5 表面类别定义 ﹡﹡﹡﹡﹡﹡﹡公司产品的各部位表面按其在产品中所处位置和质量要求划分为以下三类： A类表面：用户或检验员经常看的见的面。（如：顶面） B类表面：用户与检验员可能看见的面。（如：前后、左右侧面）C类表面：用户和检验员很少看见的面。（如：底面） 6外观缺陷描述 6.1总体外观 1、产品应避免灰杂质、脏污及其他污染； 2、表面杂物如果能被吹掉或干布擦试干净；则可接受（在检验过程中，有机溶剂不能备使用）。 6.2 疱块的判定标准：所有表面疱块不可接受； 6.3 气泡的判定标准 1、部件上的气泡装配后，如果能看见，则不可接受； 2、只要装配后从外表面看不见的气泡是可接受的。 6.4 色差的判定标准

硬件测试标准可靠性测试

1. 目的此可靠性测试标准的目的是尽可能地挖掘设计，制造中的潜在性问题，在正式生产之前寻找改善方法并解决上述问题点，为正式生产的产品在质量上做必要的保证；并检测产品是否具备设计上的成熟性、使用上的可靠性.具体包括新产品的试验、物料的试验及例行抽检试验等等。 2. 范围此指引适用于所有诺亚信高科技集团有限公司生产的移动产品。 3. 定义 3.1 技术员:设定仪器,完成相关测试项目,并记录测试结果.解决检测过程中的问题;并向工程师反馈检测方法的缺陷和不足。 3.2 工程师:判断测试结果是否可接受；跟进问题的解决情况；改善检测方法。 4. 抽样方案 4.1 以具体的实验项目要求为准。 5. 检验内容 5.1 环境可靠性试验 5.1.1 高温运行试验试验目的：验证手机在高温环境的适应性。试验样品：2sets 试验内容：55℃，手机配齐SIM卡/T卡，装电池开机，进行12小时测试，运行时间从到达 55℃温度始算起.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，1台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。判定标准: 1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。 2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。 3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。 4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。 5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。 5.1.2 低温运行试验试验目的:验证手机在低温环境下的适应性。试验样品: 2 sets