LED芯片寿命测试
LM80测试报告的要求说明
LM80测试报告的要求说明一、LM80测试报告的目的二、测试项目1.LED芯片的光通量衰减测试：测试LED产品在规定时间内的光通量衰减情况，比较测试前后的光通量数据，计算光通量衰减率。
2.温度测量：测量LED产品的表面温度、周围环境温度和接触材料的温度，以了解产品在正常工作条件下的温度情况。
3.电流和电压测量：测量LED产品的工作电流和电压，确保产品在额定电流和电压范围内正常工作。
4.光衰测量：测试LED产品在规定时间内的光衰情况，测量其初始光通量和测试后的光通量，计算光衰率。
5.寿命测试：通过对LED产品进行加速寿命测试，模拟长时间使用的情况，以评估产品的可靠性和寿命。
三、测试方法1.LM80测试要使用符合国际电工委员会（IEC）或美国照明工程学会（IES）的标准测试方法。
2.测试设备要符合国际标准，并保持校准状态，确保测试数据的准确性和可信度。
3.测试需在恒定的温度环境和电流条件下进行，以确保测试结果的可比性。
四、测试报告的内容1.产品信息：包括产品型号、生产日期、生产厂商等信息。
2.测试环境：包括测试设备、温度条件、电流和电压设置等信息。
3.测试结果：包括光通量衰减率、光衰率、温度测试结果、电流和电压数据等详细结果。
4.比较分析：将测试数据与产品规格进行比较和分析，评估产品的性能和质量。
5.结论和建议：根据测试结果，对LED产品的寿命和性能做出结论，并提出相关的改进建议。
六、报告的准确性和可靠性1.LM80测试报告应由经过相关培训和资质认证的测试人员进行，确保测试过程的准确性和可靠性。
2.测试报告应尽可能提供详尽的测试数据和结果，并保持数据的真实和可验证性。
3.如果有其他相关测试报告或认证报告，应将其与LM80测试报告一并提供，以进一步验证产品的可靠性和性能。
led寿命测试标准
led寿命测试标准
LED寿命测试标准通常包括以下几个方面：
1. L70寿命测试： L70寿命是指LED光输出衰减到初始光通量的70%所需要的时间。
测试时，LED灯具需要持续点亮，并记录每隔一定时间的光通量数据，通过拟合曲线来确定L70寿命。
2. Lumen维持率测试：LED灯具在使用一段时间后，其光输出会发生衰减，而Lumen维持率是指LED光输出衰减到初始光通量的百分比。
测试中通常使用恒流电源点亮LED灯具，然后每隔一定时间测量光通量，并计算Lumen维持率。
3. 环境温度测试：高温会对LED的寿命产生影响，因此测试中需要将LED置于高温环境下进行使用，并记录不同温度下的光通量变化。
通过分析光通量和温度之间的关系，可以预测LED在不同温度下的寿命。
4. 可靠性测试：可靠性测试主要包括高温寿命测试、低温寿命测试、湿热循环测试等，以模拟不同环境下的使用情况，评估LED在各种应力条件下的寿命。
以上是LED寿命测试的一些常见标准，具体的测试标准可能因产品类型和用途而有所不同，需要根据实际情况进行具体确定。
led老化测试标准
led老化测试标准LED老化测试标准。
LED作为一种新型的光源，其在照明行业中的应用越来越广泛。
然而，LED产品在长时间使用后会出现老化现象，影响其使用寿命和光效。
因此，LED老化测试成为了必不可少的环节，而LED老化测试标准的建立和执行对于保证LED产品质量具有重要意义。
首先，LED老化测试标准应包括测试的环境条件。
这些条件包括温度、湿度、电压等因素，这些因素会直接影响LED产品的老化速度和效果。
在测试中，需要对这些环境条件进行模拟，以确保测试结果的准确性和可靠性。
其次，LED老化测试标准应明确测试的时间和周期。
LED产品的老化过程是一个渐进的过程，需要经过一定的时间才能观察到明显的老化现象。
因此，测试标准应规定测试的时间和周期，以便对LED产品的老化情况进行全面和准确的评估。
另外，LED老化测试标准还应包括测试的方法和指标。
测试方法应包括恒流老化、脉冲老化等，以模拟LED产品在不同工作状态下的老化情况。
而测试指标则应包括光通量衰减、颜色温度漂移、色坐标漂移等，这些指标可以客观地反映LED产品老化的程度和影响。
此外，LED老化测试标准还应考虑到不同类型LED产品的特性和应用场景。
不同类型的LED产品在老化过程中可能表现出不同的特点，因此测试标准应根据LED产品的特性进行相应的调整，以确保测试结果的准确性和适用性。
最后，LED老化测试标准的建立还需要考虑到国际标准的统一和参考。
LED产品在国际市场上具有广泛的应用，因此LED老化测试标准的制定应考虑到国际标准的统一性，以便LED产品在国际市场上具有竞争力。
综上所述，LED老化测试标准的建立和执行对于保证LED产品质量具有重要意义。
通过明确测试的环境条件、时间和周期、方法和指标，考虑到不同类型LED产品的特性和应用场景，以及国际标准的统一和参考，可以确保LED产品在长时间使用后依然具有良好的性能和质量，从而满足用户的需求和期望。
LED的寿命试验方法
LED的寿命试验方法LED（发光二极管）是一种半导体器件，可以将电能转化为可见光能量。
相比传统的光源，LED具有更长的寿命，更低的能耗和更高的亮度。
但是，为了确保其质量和可靠性，需要进行寿命试验。
下面将介绍一种常见的LED寿命试验方法。
一、理论背景LED的寿命测试是通过长时间的运行来模拟使用条件，以观察LED光衰和颜色偏移。
寿命测试主要以光通量衰减和光色变化为指标进行评估。
光通量衰减是指LED发出的光强度随时间的增加而减少，光色变化是指LED的光谱分布在寿命期间发生变化。
二、测试方法1.设定运行条件：根据实际应用情况，设置LED的工作电流、工作温度和工作时间。
2.制作测试样品：根据所需测试的LED型号和数量，制作测试样品。
3.安装测试样品：将测试样品安装在测试装置中，确保良好的散热条件以保证测试结果的精确性。
4.运行测试样品：将测试样品通电运行，记录初始的光通量和光色参数。
5.定期测试：每隔一定时间，如1000小时、2000小时等，对测试样品进行测试。
测试项目包括光通量衰减和光色变化。
6.测试数据分析：将每次测试的数据记录下来，根据光通量衰减和光色变化的情况进行分析，得出寿命测试结果。
7.统计处理：根据测试结果，计算出平均寿命和故障率等指标。
三、注意事项1.温度控制：在进行寿命测试时，需要严格控制测试样品的工作温度，因为温度是影响LED寿命的关键因素之一2.典型样品选择：在进行寿命测试时，应选择具有代表性的典型样品进行测试，以保证测试结果的准确性和可靠性。
3.测试记录：对每次测试的数据进行详细的记录，包括测试时间、光通量、光色参数等，以便进行后续的数据分析和处理。
4.测试环境：为确保测试结果的可靠性，需要在恒温、湿度和尘埃等影响因素较小的环境中进行测试。
5.寿命评估：通过光通量衰减的情况可以评估LED的寿命，一般认为光通量衰减到初始值的70%时为LED的寿命。
综上所述，LED寿命试验方法包括设定运行条件、制作测试样品、安装测试样品、运行测试样品、定期测试、数据分析和统计处理等步骤。
led老化测试标准原理
led老化测试标准原理
LED老化测试是指通过将LED光源长时间连续运行，以模拟真实使用环境下LED的老化过程，从而评估其在使用寿命、光输出、颜色稳定性等方面的性能。
LED老化测试的原理主要基于以下几个方面：
1. 光衰减测试：LED老化测试会持续对LED光源进行长时间运行，并测量其光输出的衰减情况。
通过不断记录和比对测量结果，可以评估LED的光衰减速率以及其寿命预测。
2. 颜色稳定性测试：LED的颜色稳定性是指其光谱特性和颜色点在使用寿命中是否保持稳定。
LED老化测试会监测LED光源的颜色参数，如色温、色坐标等，以评估LED在长期使用过程中颜色是否发生变化。
3. 温度影响测试：LED的性能受环境温度的影响较大。
LED老化测试通常会模拟不同温度条件下的使用环境，以评估LED在不同温度下的光输出和寿命表现。
通过LED老化测试，可以对LED产品的品质进行验证，提前发现潜在的问题，优化产品设计，确保其在实际使用中的可靠性和稳定性。
同
时，LED老化测试还可以为制定产品质量标准和性能参数提供参考依据。
led芯片检验
led芯片检验LED芯片检验LED芯片是LED灯的核心部件，其质量的好坏直接影响到LED灯的性能和寿命。
为了确保LED芯片的质量，需要进行严格的检验。
下面将从外观检验、电性能检验和光参数检验三个方面介绍LED芯片的检验方法。
一、外观检验外观检验是LED芯片检验的基础，合格的LED芯片其外观应该无明显的损伤、氧化、污染等情况。
具体的外观检验方法如下：1.目测检验：用肉眼检查LED芯片的外观是否正常，是否有氧化、污染或者磨损。
2.显微镜检验：将LED芯片放在显微镜下观察，检查是否有划痕、裂纹等缺陷。
3.颜色检验：通过目测或者使用色差仪等工具检验LED芯片的颜色是否正常。
二、电性能检验LED芯片的电性能检验主要包括电流、电压和功率等参数的测试。
下面是常用的电性能检验方法：1.电流测试：使用电流表或者万用表测量LED芯片在标准电流下的电流值，检查是否符合设计要求。
2.电压测试：使用电压表或者万用表测量LED芯片在标准电压下的电压值，检查是否符合设计要求。
3.功率测试：通过测量电流和电压计算出LED芯片的功率值，检查是否符合设计要求。
三、光参数检验LED芯片的光参数检验是判断其光电转换效率和光质量的重要手段。
以下是几种常用的检验方法：1.亮度测试：使用光度计测量LED芯片的光亮度，检查是否符合设计要求。
2.色彩坐标测试：使用色度计测量LED芯片的色彩坐标，判断其颜色是否符合设计要求。
3.色温测试：使用色温计测量LED芯片的色温，检查是否符合设计要求。
4.发光角度测试：使用光度计测量LED芯片的发光角度，判断其光散射范围是否符合设计要求。
在LED芯片检验过程中，需要使用一些专业的测试仪器和设备，比如电流表、电压表、万用表、光度计、色度计等。
同时，还需要制定一套完善的LED芯片检验标准和流程，以确保检验的准确性和可靠性。
总之，LED芯片的检验工作是确保LED灯质量的关键环节。
通过外观检验、电性能检验和光参数检验等多方面的检验手段，可以有效评估LED芯片的质量，并对不合格的芯片进行淘汰，以提高LED灯的品质和可靠性。
LED寿命测试标准
•LM-80-08 手册里提及业界所采用的两种不同标准，一种规定灯泡流明数低于原本的70%及不适合继续使用，另一种则规定流明数低于原本的50%就不再使用。
第一种标准(L70)主要是一般照明的LED 灯具所采用的，第二种标准(L50)则是装饰性的LED灯具采用。
这两种LED寿命标准是由照明研究中心的固态照明系统和技术联盟小组(ASSIST)所制定的。
举例来说，一个通过LM-80-08检测的LED灯具和宣称通过检测的LED样品使用超过30,000小时后，流明数仍比原本光输出量的70%高，这代表通过LM 80不但是达成基本的光衰要求，甚至还有更好的表现。
目前市场上的LM80测试项目，费用都十分高昂，大约要1.5万美元，原因是要点亮数千个小时，来做好光衰测试的参数和精确资料，能够花钱去做的厂商，普遍是中型以上、大型厂商为主。
LED寿命方面，LM-80-08制定了标准测试环境和变动参数。
测试报告须涵盖重要数据及测试的过程。
典型的白帜灯泡寿命为1,000小时；CFL则为8,000至10,000小时；最好的萤光灯管则可达30,000小时。
一般的金属卤素灯平均寿命为7,500至20,000小时(寿命标准采用L50)，而一般的LED灯泡寿命为30,000至50,000小时(寿命标准采用L70)。
LM-80-08 并没有提供估算LED寿命的方法。
IES 的技术备忘录-TM-21-11Projecting Long Term Lumen Maintenance of LED Light Sources建议从LM-80-08检测过程中得到的数据去计算LED 光源的维持率。
此份备忘录是用来估计LED光源维持率和高过6,000小时的寿命。
IES LUMENS-80手册中规定三种不同的检测环境温度。
而TM-21则可基于三种检测结果估计LED光源的维持率。
验证和测试工程师应该依据IES 指南方针LUMENS-79-08和 LUMENS-80-08确认LED制造商光源是否真的通过检测标准。
led老化测试标准
led老化测试标准LED老化测试标准。
LED（Light Emitting Diode）作为一种新型的照明光源，具有节能、环保、寿命长等优点，被广泛应用于室内照明、户外广告、汽车照明等领域。
然而，LED作为一种电子元件，其使用寿命与老化特性是需要进行严格测试和评估的。
因此，LED老化测试标准成为LED行业中的重要标准之一。
LED老化测试标准旨在评估LED在长时间使用后的性能衰减情况，以确定其使用寿命和稳定性。
在LED老化测试中，通常会考虑以下几个方面的指标：1. 亮度衰减，LED在长时间使用后，其亮度是否会逐渐衰减，以及衰减的速度如何；2. 色温变化，LED的色温是否会随着使用时间的增加而发生变化，以及变化的趋势如何；3. 光通量衰减，LED的光通量是否会随着使用时间的增加而逐渐减小，以及减小的速度如何；4. 色均匀性，LED发光面积内的颜色均匀性是否会随着使用时间的增加而发生变化，以及变化的程度如何；5. 光电参数变化，LED的电流、电压等光电参数是否会随着使用时间的增加而发生变化，以及变化的趋势如何。
在进行LED老化测试时，需要制定一系列的测试方法和标准，以确保测试结果的准确性和可比性。
一般来说，LED老化测试标准应包括以下内容：1. 测试设备，包括LED老化测试台、光度计、色温计、电流电压测试仪等测试设备的规格和型号；2. 测试条件，包括测试环境的温湿度、测试时间、测试电流等条件的设定；3. 测试方法，包括LED老化过程中各项指标的测试方法和步骤，以及测试数据的采集和处理方法；4. 测试要求，包括LED老化测试过程中各项指标应满足的要求和标准数值；5. 测试报告，包括测试结果的记录和分析，以及对测试结果的评价和结论。
在LED老化测试标准中，需要特别注意的是测试条件的设定和数据的采集处理方法。
测试条件的设定应尽可能接近实际使用环境，以确保测试结果的真实性和可靠性。
同时，数据的采集和处理方法应符合统计学原理，以确保测试结果的准确性和可比性。
led寿命测试报告
LED（Light-Emitting Diode）的寿命测试报告通常涵盖LED灯具或LED器件在特定条件下的寿命评估结果。
这些测试通常通过加速寿命测试和实际使用寿命测试来完成。
一份典型的LED寿命测试报告可能包括以下内容：
测试目的：阐明测试的目标和目的，例如评估LED的寿命特性、确定可靠性等。
测试标准：指明测试所遵循的标准或规范，例如IEC标准、MIL标准等。
测试设备和方法：描述测试所使用的设备、仪器和测试方法。
可能包括测试环境（温度、湿度等）和测试参数（电流、电压等）。
加速寿命测试结果：报告在加速寿命测试条件下的测试结果，通常以时间为单位（小时、天等）。
这些测试条件可能会模拟实际使用中的极端环境，以加速LED的老化过程。
实际使用寿命测试结果：如果进行了实际使用寿命测试，报告可能会提供在典型使用条件下的寿命评估结果。
这可能包括LED灯具或器件在实际应用中的运行时间和性能表现。
寿命曲线和失效分析：报告可能包括LED的寿命曲线图，显示灯具或器件的亮度衰减和故障情况随时间的变化。
失效分析可能会提供对LED失效模式和原因的分析。
结论和建议：根据测试结果，报告可能给出对LED寿命特性的总结和评估，并提供相应的建议，例如改进设计、优化使用条件等。
需要注意的是，LED寿命测试结果可能因测试条件、样品选择和测试方法的不同而有所差异。
因此，具体的LED寿命测试报告可能会根据特定的测试目的和要求而有所不同。
可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论
一、可靠性理论基础1.可靠度:如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n（t),当N足够大时，产品在t时刻的可靠度可近似表示为:随时间的不断增长,将不断下降。
它是介于1与0之间的数，即。
2.累积失效概率:表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率，用F（t)表示,又称为失效分布函数.如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n（t），则当N足够大时，产品在该时刻的累积失效概率可近似表示为：3.失效分布密度：表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。
失效分布函数的导函数称为失效分布密度，其表达式如下:•早期失效期；•偶然失效期(或稳定使用期）；•耗损失效期。
二、寿命老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。
器件老化程度与外加恒流源的大小有关，可描述为：B t为t时间后的亮度，B0为初始亮度。
通常把亮度降到B t=0。
5B0所经历的时间t称为二极管的寿命. 1。
平均寿命如果已知总体的失效分布密度f(t）,则可得到总体平均寿命的表达式如下：2. 可靠寿命可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时，所经历的工作时间。
T R可由R（T R）=r求解,假如该产品的失效分布属指数分布规律，则：即可求得T R如下：3. 中位寿命中位寿命T0。
5指产品的可靠度R(t）降为50％时的可靠寿命，即:对于指数分布情况，可得：二、LED寿命测试方法LED寿命加速试验的目的概括起来有：•在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平•运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度；•在较短时间内提供试验结果，检验工艺;•在较短时间内暴露LED的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因；•淘汰早期失效产品,测定元LED的极限使用条件1. 温度加速寿命测试法由于通常LED寿命达到10万小时左右，因此要测得其常温下的寿命时间太长，因此采用加速寿命的方法。
led加速寿命试验方法
led加速寿命试验方法LED加速寿命试验方法LED（Light Emitting Diode）是一种新型的半导体光源，具有高亮度、低功耗、长寿命等优点，被广泛应用于照明、显示等领域。
然而，由于LED灯具在使用过程中受到环境温度、湿度、电压等因素的影响，其寿命也会受到影响。
为了保证LED产品的质量和可靠性，需要进行加速寿命试验。
本文将介绍一种常用的LED加速寿命试验方法。
一、试样准备1.1 选择合适的试样根据实际需要选择合适的LED产品作为试样。
要求试样具有代表性，并且符合相关标准要求。
1.2 安装试样将所选试样安装在适当的测试设备上，如恒温恒湿箱或温度循环箱中。
二、试验条件设置2.1 温度条件设置根据实际情况选择合适的温度范围和温度变化规律。
一般情况下，常用的温度范围为-40℃~85℃，变化规律可以是恒定温度或者周期性变化。
2.2 湿度条件设置根据实际情况选择合适的湿度范围和湿度变化规律。
一般情况下，常用的湿度范围为10%~90%RH，变化规律可以是恒定湿度或者周期性变化。
2.3 电压条件设置根据实际情况选择合适的电压范围和电压变化规律。
一般情况下，常用的电压范围为0~500V，变化规律可以是恒定电压或者周期性变化。
三、试验过程3.1 开始试验将试样安装在测试设备中，并按照预设的温度、湿度、电压条件进行加速寿命试验。
3.2 定期检测在试验过程中，需要定期检测试样的光通量、颜色温度、漏光率等参数，并记录下来。
3.3 考虑人为因素在试验过程中，还需要考虑人为因素对试样寿命的影响。
例如，是否经常开关灯具、是否频繁调节亮度等因素都会影响LED灯具的寿命。
四、试验结果分析4.1 数据处理根据记录下来的数据进行处理和分析，包括统计分析和图表展示等。
4.2 结果判断根据处理和分析后的数据，判断试样的寿命是否符合要求。
如果不符合要求，则需要进一步调整产品设计或者制造工艺。
五、试验注意事项5.1 试验过程中需要严格控制温度、湿度、电压等条件，避免因环境因素对试样寿命的影响而导致实验结果不准确。
led寿命标准
LED寿命标准的综述与展望LED是一种新型的照明技术，具有节能、环保、寿命长等优点。
但是，如何准确地评估和测试LED的寿命，以及如何制定合理的LED寿命标准，是目前照明行业面临的一个重要问题。
本文从LED寿命的定义、影响因素、测试方法、国内外标准等方面进行了综述，分析了目前存在的问题和挑战，并提出了一些改进和建议。
一、LED寿命的定义LED寿命是指LED在正常使用条件下，其光输出或光效发生衰减到某一特定值时所经历的时间。
通常，LED寿命有两种表达方式：Lp/Bq和L70。
Lp/Bq是指在给定的时间内，有p%的产品光输出或光效降低到初始值的q%以下。
例如，L90/B10表示10%的产品光输出或光效降低到初始值的90%以下时所用的时间。
L70是指产品光输出或光效降低到初始值的70%时所用的时间。
这是因为人眼对亮度的感知是非线性的，当亮度降低到70%时，人眼才能明显感觉到变暗。
二、影响LED寿命的因素LED寿命受多种因素的影响，主要包括以下几个方面：LED芯片本身的质量和性能。
不同类型和品牌的LED芯片，在材料选择、结构设计、工艺制造等方面都有差异，从而导致其发光效率、稳定性、可靠性等方面存在差异。
一般来说，高品质的LED芯片具有更高的发光效率和更长的寿命。
LED驱动电源的质量和性能。
LED驱动电源是将交流电转换为恒流电供给LED芯片使用的电子设备，其质量和性能直接影响着LED芯片的工作状态和寿命。
一般来说，高品质的LED驱动电源具有更高的转换效率和更好的稳压稳流功能，可以有效地保护LED芯片免受电压波动、过载、短路等异常情况的损害。
LED散热系统的设计和效果。
LED在工作过程中会产生大量的热量，如果不能及时地散发出去，会导致LED芯片温度升高，从而影响其发光效率和寿命。
一般来说，高品质的LED散热系统具有更好的散热材料和更合理的散热结构，可以有效地降低LED芯片温度，并保持其在合适的温度范围内工作。
LED的老化(衰减)测试
光衰寿命：LED发光管的寿命标准是指亮度从100%下降到70%时,发光管的寿命中止了。
千万不要相信发光管厂跟你说他的发光管寿命10万小时，等他把样板给你测试你就知道了他的寿命了。
一般我们用几种方法来检测，1）30MA快速破坏性老化48小时，如果有坏灯、亮度衰减>10% 不要使用。
2)20MA极限电流流老化400小时，如果光衰>10% 不要使用。
3)由封装厂提供20MA 4000小时的老化曲线，光衰>30% 不要使用。
通过以上三种方法基本可以控制LED发光管的发光寿命了，红绿蓝三种发光管光衰最大的是蓝色，光衰最小的是红色。
我们根据这个规律对发光管的工作电流进行如下设定：对于保修一年的产品（3000小时）红色R<18MA 绿色R<14MA 蓝色B<12MA;对于保修三年的产品（8000小时）红色R<16MA 绿色R<10MA 蓝色B<9MA。
工作电流是在白平衡的条件下调配的，例如把红绿蓝3组灯放在乳白色灯罩里先把红色R=18MA,调整绿色和蓝色的电流看见灯罩发光呈白色，把绿色和蓝色的电流测量出来，不超过我们的规定值就可以了。
千万不要千篇一律把红绿蓝都定为20MA，这样做灯的寿命只有几百个小时，很快就会发现灯的亮度和颜色不均匀，等客户发觉光衰其实灯的寿命已经中止了。
芯片寿命测试标准
芯片寿命测试标准
芯片的寿命测试主要包括以下几个标准：
1. 温度循环测试：测试芯片在不同温度条件下的性能和可靠性，模拟实际使用环境中的温度变化。
测试目的在于验证芯片在温度变化时能否正常工作，以及能否保持稳定性和可靠性。
2. 高温存储测试：模拟芯片在长时间存储期间可能面临的高温环境，评估芯片在这种条件下的性能和可靠性，预测芯片在实际使用中可能遇到的问题。
3. 跌落测试：评估芯片在跌落或冲击情况下的机械强度和可靠性，检测芯片封装材料和焊接的可靠性，验证芯片内部结构和连接的稳定性。
4. 加速应力测试（uHAST）：通过施加极端的电压和温度条件来加速芯片
在短时间内的老化和故障模式，预测长期故障率。
5. 高温工作寿命（HTOL）：通过加速热激活失效机制来确定产品的可靠性，预测长期故障率。
这些测试标准各有侧重，有助于发现潜在的机械弱点、封装问题或连接失效，以及预测芯片在实际使用中可能遇到的问题。
寿命测试
LED芯片寿命试验过程全解析2013年03月28日 11:30 | 分类：分享LED具有体积小，耗电量低、长寿命环保等优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行*价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量。
1、引言作为电子元器件，发光二极管(LightEmittingDiode-led)已出现40多年，但长久以来，受到发光效率和亮度的限制，仅为指示灯所采用，直到上世纪末突破了技术瓶颈，生产出高亮度高效率的LED和兰光LED，使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等，提供了作为照明光源的可能性。
随着LED应用范围的加大，提高LED可靠性具有更加重要的意义。
LED具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行*价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量，为此在实现全色系LED产业化的同时，开发了LE D芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等，以提高寿命试验的科学性和结果的准确性。
2、寿命试验条件的确定电子产品在规定的工作及环境条件下，进行的工作试验称为寿命试验，又称耐久性试验。
随着LED生产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观，LED的理论寿命为10万小时，如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验，很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的*价，而我们试验的主要目的是，通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况，进而推断其寿命。
根据LED器件的特点，经过对比试验和统计分析，最终规定了0.3×～0.3mm2以下芯片的寿命试验条件：[1].样品随机抽取，数量为8～10粒芯片，制成ф5单灯;[2].工作电流为30mA;[3].环境条件为室温(25℃±5℃);[4].试验周期为96小时、1000小时和5000小时三种;工作电流为30mA是额定值的1.5倍，是加大电应力的寿命试验，其结果虽然不能代表真实的寿命情况，但是有很大的参考价值;寿命试验以外延片生产批为母样，随机抽取其中一片外延片中的8~10粒芯片，封装成ф5单灯器件，进行为96小时寿命试验，其结果代表本生产批的所有外延片。
led老化测试标准
led老化测试标准LED老化测试标准。
LED（Light Emitting Diode）作为一种新型的光源，具有节能、环保、寿命长等优点，在照明、显示等领域得到了广泛应用。
然而，LED产品在长期使用过程中会出现光衰、色温漂移、光通量下降等老化现象，因此需要进行老化测试来评估其性能和可靠性。
本文将介绍LED老化测试的标准及相关内容。
首先，LED老化测试应该包括光衰测试、色温漂移测试、光通量衰减测试等内容。
光衰测试是指LED在一定时间内光通量的衰减情况，通过测量光通量随时间的变化来评估LED的老化情况。
色温漂移测试是指LED在使用过程中色温的变化情况，通过测量色温随时间的变化来评估LED的色温稳定性。
光通量衰减测试是指LED在一定时间内光通量的变化情况，通过测量光通量随时间的变化来评估LED的寿命。
其次，LED老化测试应该遵循相关的标准和规范，如国际电工委员会（IEC）发布的LED老化测试标准、美国照明工程学会（IES）发布的LED照明产品老化测试标准等。
这些标准和规范对LED老化测试的方法、设备、环境条件、测试参数等都有详细的规定，确保测试结果的准确性和可靠性。
另外，LED老化测试还应该考虑到实际应用环境的影响，如温度、湿度、电压波动等因素对LED老化的影响。
在进行老化测试时，需要模拟实际使用环境的条件，以便更准确地评估LED产品的性能和可靠性。
此外，LED老化测试的结果应该能够为LED产品的设计、制造和应用提供参考依据。
通过老化测试，可以评估LED产品的寿命、稳定性、可靠性等性能指标，为产品改进和优化提供数据支持，同时也可以为用户提供LED产品的性能参数，帮助用户选择合适的LED产品。
综上所述，LED老化测试是评估LED产品性能和可靠性的重要手段，应该遵循相关的标准和规范进行测试，并考虑实际应用环境的影响，以获得准确、可靠的测试结果，为LED产品的设计、制造和应用提供参考依据。
希望本文对LED老化测试标准有所帮助，谢谢阅读。
led测试方法
led测试方法一、初步观察。
1.1 外观查看。
咱拿到一个LED啊，先瞅瞅它的外观。
就像看一个新朋友，先看个大概模样。
看看外壳有没有破损啊，引脚是不是整齐的。
要是外壳裂了或者引脚歪七扭八的，那这LED可能就有点问题了。
这就好比一个人衣服破破烂烂的，看着就不太靠谱。
1.2 颜色判断。
再看看颜色。
不同的LED有不同的颜色，像红的、绿的、蓝的等等。
如果这个LED标明是红色的，可看起来却有点发黄，那这里面可能就有猫腻了。
这就跟你买苹果似的，说是红苹果，结果看起来颜色不对，那肯定有点不正常。
二、简单测试工具准备。
2.1 电源。
要测试LED啊，电源可不能少。
咱可以用个电池盒加上电池，这就像给LED准备的“干粮”。
一般3 5伏的直流电源就差不多能让LED亮起来了。
这电源就如同LED 的动力源泉，没它可不行。
2.2 限流电阻。
可别忘了限流电阻。
这东西就像个“守门员”，防止电流太大把LED给烧坏了。
如果没有这个限流电阻，那电流就像脱缰的野马，一下子就可能把LED给冲垮了。
一般根据LED的规格来选择合适的限流电阻，这就好比给不同饭量的人分合适的食物一样。
三、实际测试。
3.1 连接电路。
把LED、限流电阻和电源连接起来。
这连接就像搭积木一样，要按照正确的顺序。
LED的正极要接到电源的正极那一边，负极接到负极那一边，中间串上限流电阻。
要是接反了，那就像走路走反了方向，LED是不会亮的。
这就跟你穿鞋子穿反了一样，肯定不合适。
3.2 观察发光情况。
连接好之后，看看LED亮不亮。
如果亮了，那就像看到自己种的花开花了一样高兴。
再看看亮度是不是均匀，有没有闪烁的情况。
要是亮度不均匀，就像一个脸上有黑斑的苹果，看着就不太舒服。
如果闪烁，那可能是电路接触不良或者LED本身有问题。
这就好比一个人说话结结巴巴的，肯定是哪里不太顺畅。
四、深入测试（可选）4.1 亮度测量。
要是想更精确地知道LED的性能，还可以测量亮度。
这时候就需要用到专门的亮度测量仪了。
LED特性测量要点
LED特性测量要点LED（Light Emitting Diode）是一种半导体器件，以其高亮度、低能耗和长使用寿命的特点而被广泛应用于照明、电子显示和通信等领域。
为了确保LED的品质和性能，需要进行LED特性测量。
下面是LED特性测量的要点：1.亮度测量：LED的亮度是其最重要的性能之一、亮度测量通常使用光度计或光度分布仪来进行。
测量时需要将LED与光度计或光度分布仪连接，确保光线被准确地传递给测量仪器。
在测量过程中，需要考虑到LED 的散热问题，以避免测量结果受到LED温度的影响。
2.色度测量：LED的颜色是通过不同的材料和电流驱动来实现的。
在色度测量中，通常使用色度计或分光光度计进行。
测量时需要将LED与色度计或分光光度计连接，通过测量LED发出的光的光谱分布和颜色坐标来确定其颜色品质。
在测量过程中，需要注意光源的稳定性和波长校准。
3.电流电压测量：LED的工作需要一定的电流和电压，因此需要对LED的电流电压进行测量。
电流通常使用数字多用表或电流计来测量，测量时需要将LED连接到适当的电路中并测量其电流。
电压通常使用数字多用表或电压计来测量，在测量电压时需要注意测量点的选择和接触的可靠性。
4.耐压测试：LED需要具备一定的耐压能力，以保证其在使用中的安全性和稳定性。
耐压测试通常使用高压电源和绝缘测试仪进行。
在测试过程中需要注意测试电压的选择和施加时间，以及测试之前对测试设备的校准和安全措施。
5.温度测量：LED的发光效果和寿命与其工作温度密切相关，因此需要对LED的温度进行测量。
温度测量通常使用温度计或红外测温仪进行。
在测量过程中需要注意测量点的选择和接触的可靠性，以及测量仪器的精度和响应时间。
6.寿命测试：LED的寿命是其一个关键参数，寿命测试通常使用灯泡老化器和寿命测试仪进行。
在寿命测试中需要对LED进行长时间稳定连续工作，同时记录发光衰减和寿命结束的时间。
在测试过程中需要注意测试环境的稳定性和温度控制，并进行恰当的统计分析。
关于IESLM-79,LM-80,TM-21三者之间的对比
关于IESLM-79,LM-80,TM-21三者之间的对比目前越来越多的美国客户要求工厂提供LED灯的IES的测试报告,很多的客户也在咨询这方面的问题，很多人不是很了解IES报告中两个检测标准LM-79和LM-80的区别在哪里，在这里对这两个标准的测试项目做简单的介绍。
1.IES LM-79 主要测试为光电性能测试，由于某些测试项目需要借助分布式光度计才能完成，所以一般的厂家没有能力做一份完整的报告，这个测试一般针对的是整灯的厂家。
主要的测试项目如下：1、总光通量2、发光效率3、光强分布4、相关色温（CCT）5、显色指数（CRI）6、色品坐标（或称色度坐标）7、输入交流（或直流）电压8、输入交流（或直流）电流9、输入功率（DC或AC）10、输入电压频率11、功率因子2.IES LM-80主要测的是LED光源的流明维持，这一测试针对的是光源厂家，所以生产灯具的厂家只需要向你们的光源厂家要这一份测试报告就好了。
IES LM-80主要测的是LED 光源的流明维持，寿命的测试，一般要测6000小时。
IES TM-21文件是美国照明工程学会技术委员会经过多年努力研制出的测试方法。
TM-21可以推断出LED产品的流明维持率，即点亮不同时间后LED的光输出量。
TM-21非常重要，其重要性体现在：LED寿命可能超过5万小时，比传统照明长得多，一直测试到底是不切实际的，因为历时太长、而且很可能在其寿命期内就已被淘汰，并且，LED不会像其它光源那样直接熄灭，LED光衰是很缓慢的，LED的“死亡点”在哪里，现在仍是人们讨论的话题。
为了更好的了解TM-21的重要性，我们先回顾一下LM-79和LM-80。
LM-79是对集成了控制电路和散热器的LED产品进行电气和光度测量认定的方法，涵盖总光通量、电功率、功效、色度和亮度分布的测量。
通过LM-79可计算出整灯的初始性能。
但是LM-79不涉及产品可靠性和寿命的测量。
LM-80测试的是不同温度下LED封装、阵列和模组的流明维持率，至少测试6000小时，以每1000小时为进阶，建议测试10 000小时。
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LED芯片寿命试验
摘要：介绍了LED芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。
采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试验台不但操作简便、安全，而且试验容量大。
1、引言
作为电子元器件，发光二极管（Light Emitting Diode-LED）已出现40多年，但长久以来，受到发光效率和亮度的限制，仅为指示灯所采用，直到上世纪末突破了技术瓶颈，生产出高亮度高效率的LED和兰光LED，使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等，提供了作为照明光源的可能性。
随着LED应用范围的加大，提高LED可靠性具有更加重要的意义。
LED具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量，为此我司在实现全色系LED产业化的同时，开发了LED芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等，以提高寿命试验的科学性和结果的准确性。
2、寿命试验条件的确定
电子产品在规定的工作及环境条件下，进行的工作试验称为寿命试验，又称耐久性试验。
随着LED生产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观，LED的理论寿命为10万小时，如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验，很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价，而我们试验的主要目的是，通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况，进而推断其寿命。
我们根据LED器件的特点，经过对比试验和统计分析，最终规定了0.3×～0.3mm2以下芯片的寿命试验条件：
● 样品随机抽取，数量为8～10粒芯片，制成ф5单灯；
● 工作电流为30mA；
● 环境条件为室温（25℃±5℃）；
● 试验周期为96小时、1000小时和5000小时三种；
工作电流为30mA是额定值的1.5倍，是加大电应力的寿命试验，其结果虽然不能代表真实的寿命情况，但是有很大的参考价值；寿命试验以外延片生产批为母样，随机抽取其中一片外延片中的8~10粒芯片，封装成ф5单灯器件，进行为96小时寿命试验，其结果代表本生产批的所有外延片。
一般认为，试验周期为1000小时或以上的称为长期寿命试验。
生产工艺稳定时，1000小时的寿命试验频次较低，5000小时的寿命试验频次可更低。
3、过程与注意事项
对于LED芯片寿命试验样本，可以采用芯片，一般称为裸晶，也可以采用经过封装后的器件。
采用裸晶形式，外界应力较小，容易散热，因此光衰小、寿命长，与实际应用情况差距较大，虽然可通过加大电流来调整，但不如直接采用单灯器件形式直观。
采用单灯器件形式进行寿命试验，造成器件的光衰老化的因素复杂，可能有芯片的因素，也有封装的因素。
在试验过程中，采取多种措施，降低封装的因素的影响，对可能影响寿命试验结果准确性的细节，逐一进行改善，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。
3.1样品抽取方式
寿命试验只能采用抽样试验的评估办法，具有一定的风险性。
首先，产品质量具备一定程度的均匀性和稳定性是抽样评估的前提，只有认为产品质量是均匀的，抽样才具有代表性；其次，由于实际产品质量上存在一定的离散性，我们采取分区随机抽样的办法，以提高寿命试验结果准确性。
我们通过查找相关资料和进行大量的对比试验，提出了较为科学的样品抽取方式：将芯片按其在外延片的位置分为四区，分区情况参见图一所示，每区2～3粒芯片，共8～10粒芯片，对于不同器件寿命试验结果相差悬殊，甚至矛盾的情况，我们规定了加严寿命试验的办法，即每区4～6粒芯片，共16～20粒芯片，按正常条件进行寿命试验，只是数量加严，而不是试验条件加严；第三，一般地说，抽样数量越多，风险性越小，寿命试验结果的结果越准确，但是，抽样数量越多抽样数量过多，必然造成人力、物力和时间的浪费，试验成本上升。
如何处理风险和成本的关系，一直是我们研究的内容，我们的目
标是通过采取科学的抽样方法，在同一试验成本下，使风险性下降到最低。
3.2光电参数测试方法与器件配光曲线
在LED寿命试验中，先对试验样品进行光电参数测试筛选，淘汰光电参数超规或异常的器件，合格者进行逐一编号并投入寿命试验，完成连续试验后进行复测，以获得寿命试验结果。
为了使寿命试验结果客观、准确，除做好测试仪器的计量外，还规定原则上试验前后所采用的是同一台测试仪测试，以减少不必要的误差因素，这一点对光参数尤为重要；初期我们采用测量器件光强的变化来判断光衰状况，一般测试器件的轴向光强，对于配光曲线半角较小的器件，光强值的大小随几何位置而急剧变化，测量重复性差，影响寿命试验结果的客观性和准确性，为了避免出现这种情况，采用大角度的封装形式，并选用无反射杯支架，排除反射杯配光作用，消除器件封装形式配光性能的影响，提高光参数测试的精确度，后续通过采用光通量测量得到验证。
3.3封装工艺对寿命试验的影响
封装工艺对寿命试验影响较大，虽然采用透明树脂封装，可用显微镜直接观察到内部固晶、键合等情况，以便进行失效分析，但是并不是所有的封装工艺缺陷都能观察到，例如：键合焊点质量与工艺条件是温度和压力关系密切，而温度过高、压力太大则会使芯片发生形变产生应力，从而引进位错，甚至出现暗裂，影响发光效率和寿命。
引线键合、树脂封装引人的应力变化，如散热、膨胀系数等都是影响寿命试验的重要因素，其寿命试验结果较裸晶寿命试验差，但是对于目前小功率芯片，加大了考核的质量范围，寿命试验结果更加接近实际使用情况，对生产控制有一定参考价值。
3.4树脂劣变对寿命试验的影响
现有的环氧树脂封装材料受紫外线照射后透明度降低，是高分子材料的光老化，是紫外线和氧参与下的一系列复杂反应的结果，一般认为是光引发的自动氧化过程。
树脂劣变对寿命试验结果的影响，主要体现1000小时或以上长期寿命试验，目前只能通过尽可能减少紫外线的照射，来提高寿命试验结果的果客观性和准确性。
今后还可通过选择封装材料，或者检定出环氧树脂的光衰值，并将其从寿命试验中排除。
4、寿命试验台的设计
寿命试验台由寿命试验单元板、台架和专用电源设备组成，可同时进行550组（4400只）LED寿命试验。
根据寿命试验条件的要求，LED可采用并联和串联两种连接驱动形式。
并联连接形式：即将多个LED 的正极与正极、负极与负极并联连接，其特点是每个LED的工作电压一样，总电流为ΣIfn，为了实现每个LED的工作电流If一致，要求每个LED的正向电压也要一致。
但是，器件之间特性参数存在一定差别，且LED的正向电压Vf随温度上升而下降，不同LED可能因为散热条件差别，而引发工作电流If的差别，散热条件较差的LED，温升较大，正向电压Vf下降也较大，造成工作电流If上升。
虽然可以通过加入串联电阻限流减轻上述现象，但存在线路复杂、工作电流If差别较大、不能适用不同VF的LED等缺点，因此不宜采用并联连接驱动形式。
串联连接形式：即将多个LED的正极对负极连接成串，其优点通过每个LED的工作电流一样，一般应串入限流电阻R，如图二为单串电路，当出现一个LED开路时，将导致这串8个LED熄灭，从原理上LED芯片开路的可能性极小。
我们认为寿命试验的LED，以恒流驱动和串联连接的工作方式为佳。
采用常见78系列电源电路IC构成的LED恒流驱动线路，其特点是成本低、结构简单、可靠性高；通过调整电位器阻值，即可方便调整恒流电流；适用电源电压范围大，驱动电流较精确稳定，电源电压变化影响较小。
我们以图二电路为基本路线，并联构成寿命试验单元板，每一单元板可同时进行11组（88只）LED寿命试验。
台架为一般标准组合式货架，经过合理布线，使每一单元板可容易加载和卸载，实现在线操作。
专用电源设备，输出为5路直流36V安全电压，负载能力为5A，其中2路具有微电脑定时控制功能，可自动开启或关闭，5路输入、输出分别指示，图三为寿命试验台系统接线图。
本寿命试验台设计方案的优点：
● 寿命试验电流准确、可调、恒定；
● 具有微电脑定时控制功能，可自动开启或关闭；
● 可同时适用不同VF的LED，而不必另外调整；
● 采用单元组合结构，可随时增加寿命试验单元，实现在线操作；
● 采用低压供电，保障安全性能。