BJ4814晶体管图示仪技术说明书
晶体管特性图示仪使用方法
1、定义：晶体管特性图示仪是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。
它功能强，用途广泛、直接显示、使用方便、操作方便的优点，对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用，是必不可少的测试工具。
晶体管特性图示仪是一种专用示波器，它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。
例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性、电流放大特性及反馈特性；二极管的正向、反向特性；稳压管的稳压或齐纳特性；它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、β或α参数等。
2、晶体管特性图示仪与示波器的区别：晶体管特性图示仪能够自身提供测试时所需要的信号源，并将测试结果以曲线形式显示在荧光屏上。
3、优缺点：晶体管特性图示仪不能用于测量晶体管的高频参数。
4、组成：主要由阶梯波发生器、集电极扫描信号源、测试变换电路、控制电路、X-Y方式示波器等部分组成。
由于晶体管特性图示仪的测量原理基础是逐点测量法，且是动态测量，故晶体管特性图示仪的功能应该满足：能提供测试过程所需的各种基极电流（阶梯波发生器）；每个固定基极电流期间，集电极电压能做相应改变；（集电极扫描信号源）能够即使取出各组测量值并传送至显示电路。
5、晶体管特性图示仪各组成部分的作用：（见书P127）阶梯波发生器（组成和工作原理见书P129）：提供基极阶梯电压或电流集电极扫描信号源：每个固定基极电流期间，集电极电压能做相应改变；测试变换电路：为适应测试NPN和PNP管控制电路：实现集电极扫描信号源和阶梯波信号源的同步X-Y方式示波器：X和Y轴放大器（对取自被测器件上的电压信号进行放大，然后送至偏转板形成扫描线）和示波管6、晶体管特性图示仪的操作使用面板介绍：包括五部分（示波管控制电路；集电极电源；偏转放大；阶梯信号测试台）J2461型晶体管特性图示仪J2461型晶体管特性图示仪，是根据教育部《JY6－78》号技术标准的规定和要求而设计的。
它是J2458型教学示波器的辅助装置，主要供中等学校实验室测量晶体管使用。
XJ4810晶体管图示仪操作规程
XJ4810晶体管图示仪操作规程一、使用范围该图示仪可以测试多种半导体二极管、三极管、光耦、可控硅集成门电路等半导体器件，因为在本公司使用，主要用来对三极管及稳压二极管的进货检测。
二、操作面板简介该仪器操作面板开关及旋钮繁多，为便于叙述，按面板布局进行分区介绍，面板操作件分为六个区：1.显示区，该区内有显示示波管，电源开关兼辉度钮，聚集与辅助聚集旋钮2.集电极电源区，该区内有：a)峰值电压范围开关，共6档b)峰值电压调节旋钮，0-100%c)极电功耗限制电阻转换开关，1Ω~0.5mΩ共10档d)正负极性转换开关e)电容平衡与辅助平衡旋钮3.y轴作用区，该区内主要为集电极电流转换开关，由0.2mA至0.5A共22档，还有一只上下移动旋钮4.x轴作用区，该区内主要为x轴电压转换开关，由0.05V/度-50V度共22档，另外还有一只左右移动旋钮5.阶梯信号区，该区内有：a)阶梯信号大小选择，由0.05V/度-1V/度5档电压和0.2mA/度至50m A/度17档电流b)级/簇调节旋钮c)调零旋钮d)串联电阻开关e)极性转换开关f)单簇与重复开关（阶梯作用）6.测试台区，该测试台为可插拔式，台面上有二只四孔插座（左、右各一只）1只六孔插座，还有左右各四个外接测试插孔，这些插座与插孔，都是用来插被测元件的。
另外，台面上还有5只测试转换开关，用它来控制测试左面的还右面的或者测二簇。
三、操作方法：1.将仪器电源插头插入充电220V插座内2.打开电源开关（此开关兼带在辉度旋钮上，拉出为开），予热2分钟3.调节聚集与辉度，使光标便于观察，调节x轴或y轴区的移动旋钮，将光标移至左下角零点处4.根据不同的测试对象，设置好各种参数下面就本公司目前需测试的器件，列设置参数如下表：5.将被测器件插入测试台插，要注管脚的A、B、C及与插座标志一致6.依顺时针方向旋转峰值电压百分比旋钮，使曲线在x轴方向到达最右边（测稳压香，只要达到稳压值，就可停止旋钮转动）7.差别器件好坏对三极管，看两点：一是最上面一根曲线应到达第八格以上，达不到说明峰值不够，二是曲线形态应为图1，图2一般为不良管曲线；对稳压二极管，看两点：一是稳压值是否与管子标峰值相同，允许5%，二是曲线形态为图10为正确，图11~图15为不良管曲线。
电子测量实验报告
电子测量实验报告姓名：学号：同组人：指导教师：曾国宏实验日期：示波器波形参数测量实验报告姓名：学号：指导教师：曾国宏一、实验目的通过示波器的波形参数测量，进一步巩固加强示波器的波形显示原理的掌握，熟悉示波器的使用技巧。
1．熟练掌握用示波器测量电压信号峰峰值，有效值及其直流分量。
2．熟练掌握用示波器测量电压信号周期及频率。
3．熟练掌握用示波器在单踪方式和双踪方式下测量两信号的相位差。
二、实验预习实验所用示波器为SS7802A型示波器。
SS7802型示波器是日本岩崎公司生产的带有CRT读出功能的20MHZ带宽模拟双踪示波器。
该示波器带有CRT读出功能，所以能够方便、准确地进行电压幅度、频率、相位和时间间隔等的测量。
单踪示波器和双踪示波器的差别：单踪示波器只能显示一个信号的波形，双踪可以同时显示两个信号的波形。
三、实验仪器与设备1、 SS7802A型示波器a、主要参数：SS-7802模拟示波器·具有能够选择场方式、线路的TV/视频同步功能·附有光标和读出功能·5位数计数器规格及性能·显像管：6英寸、方型8×10p(1p=10mm)约16kV·垂直灵敏度：2mV/p~5V/p（1-2-5档）（通道1、通道2）精度：±2%·频率范围：20MHz·时间轴扫描A·100ns/p~500ms/p·TV/视频同步：能够选择场方式、能够选择ODD、EVEN、BOTH、扫描线路·b、主要功能描述示波器操作板如图所示：包括如下五个操作控制区域：水平控制区【POSITION】：将【POSITION】向右旋转，波形右移。
FINE 指示灯亮时，旋转【POSITION】可作微调。
MAG×10 ：扫描速率提高10 倍，波形将基于中心位置向左右放大。
ALT CHOP ：选择ALT（交替，两个或多个信号交替扫描）或CHOP（断续，两个或多个信号交替扫描）。
晶体管特性图示仪操作规范
德信诚培训网XJ4810型晶体管特性图示仪操作规范
一、目的：
通过该图示仪的测试，确保来料三极管的放大倍数能满足我司要求。
二、适用范围：
适用于常有晶体三极管的放大倍数之测量。
三、操作步骤：（参照图示仪参数表）
1.接好电源线，打开电源开关，预热15分钟。
2.调节辉度、聚焦及辅助聚焦，使光点清晰。
3.依参数表，将峰值电压按钮置于合适位置；将峰值电压旋钮调零；集电极电源极性按钮、阶梯极性按钮、“转换”按钮均置于“”位置。
4.校准、调零：
4.1通过上下、左右移位，使光点置于左下角坐标零点。
按下“校准”键，
亮点应对准最右上端点。
校准后弹出此键。
4.2调节“级/簇”旋钮为10级，调节“电流/度”旋钮至阶梯档位，缓慢增
大峰值电压，使亮线右端与Y轴10度线重合，调节“调零”旋钮，使线簇达到11条，且线簇底线应与X轴零度线重合，即完成调零。
5.依被测三极管规格及参数表，将“电流/度”旋钮、“电压/度”旋钮、“电压
-电流/级”旋钮、功耗限制电阻旋钮置于合适位置；将阶梯信号键置于“重复”
位置。
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电子测量实验报告
电子测量课程实验报告姓名：学号：班级：指导教师：实验日期： 2013年10月20日星期日“示波器波形参数测量”实验报告一、实验内容和目的本实验利用示波器测量波形的参数，进一步巩固和加强示波器的基础知识，熟练掌握示波器的使用方法和测量技巧。
具体包括三个内容：1. 熟练掌握用示波器测量电压信号峰峰值，有效值及其直流分量。
2. 熟练掌握用示波器测量电压信号周期及频率。
3. 熟练掌握用示波器在单踪方式和双踪方式下测量两信号的相位差。
二、实验设备1.示波器——SS7802Aa、主要参数：SS-7802模拟示波器·具有能够选择场方式、线路的TV/视频同步功能·附有光标和读出功能·5位数计数器规格及性能·显像管：6英寸、方型8×10p(1p=10mm)约16kV·垂直灵敏度：2mV/p~5V/p（1-2-5档）（通道1、通道2）精度：±2%·频率范围：20MHz·时间轴扫描A·100ns/p~500ms/p·TV/视频同步：能够选择场方式、能够选择ODD、EVEN、BOTH、扫描线路·b、主要功能描述示波器操作板如图所示：包括如下五个操作控制区域：水平控制区【◄POSITION►】：将【◄POSITION►】向右旋转，波形右移。
FINE 指示灯亮时，旋转【◄POSITION►】可作微调。
MAG×10 ：扫描速率提高10 倍，波形将基于中心位置向左右放大。
ALT CHOP ：选择ALT（交替，两个或多个信号交替扫描）或CHOP（断续，两个或多个信号交替扫描）。
◆垂直控制区INPUT ：输入连接器（CH1、CH2）,连接输入信号。
EXT INPUT ：用外触发信号做触发源。
外信号通过前面板的EXT INPUT 接入。
【VOLTS/DIV】：调节【VOLTS/DIV】选择偏转因数。
按下【VOLTS/DIV】；偏转因数显示符号。
晶体管特性图示仪的使用
实验8 晶体管特性图示仪的使用8．1实验目的1）熟悉XJ4810/NW4822型图示仪的面板装置；2）熟悉XJ4810/NW4822型图示仪的面板装置的操作方法；3）掌握在正式测试前对仪器的检查、校验。
4）会使用XJ4810/NW4822测试二极管的正、反向特性，包括稳压二极管的稳压特性；5）会使用XJ4810/NW4822测试三极管的输入特性、输出特性及主要参数（不包括频率参数）；6）学会使用XJ4810/NW4822测试场效应晶体管、双基极二极管的特性曲线及主要参数。
8．2实验设备1）XJ4810/NW4822型图示仪一台。
2）2AP9、2CP10、2CW、3DG6、3AK20、3DD15、3DJ6、BT33各一只；晶体管亦可用新型号1N4001、9013、9012等。
3）稳压电源一台，测试BT33用。
8．3实验步骤实验前预习XJ4810/NW4822型图示仪的面板装置图（见附图10.1、附图10.2及附图11）及各控制装置的作用介绍（见附录10-1、附录10-2及附录11）；熟悉XJ4810/NW4822型面板装置及操作方法。
8.3.1 使用前的检查接通电源，预热5-10分钟后，进行下列调整：（1）调节“辉度”旋钮使亮度适中；（2）调节“峰值电压%”旋钮，逆时针旋到底，使集电极扫描电压为零伏，此时可揿下“峰值电压范围”的10V键。
调节“聚焦”和“辅助聚焦”，使光点清晰。
（3）放大器增益检查XJ4810型将光点聚焦好后，调节两个“移位”旋钮，将光点移至屏幕的左下方（即标尺刻度的左下角），按下“校准”旋钮，光点应在屏幕有（实线）刻度的范围内从左下角跳向右上角。
否则应用小螺丝马调整X或Y的增益微调。
NW4822型将光点聚焦好后，调节两个“移位”旋钮，将光点移至屏幕的左上方（即标尺刻度的左上角），按下“校准”旋钮，光点应在屏幕有（实线）刻度的范围内从左上角跳向右下角。
此时Y轴部分的“电流/度”及X轴部分的“电压/度”两个开关位置可置于任何位置。
XJ4810图示仪使用说明
3.7 XJ4810 半导体管特性图示仪概述：XJ4810 型半导体管特性图示仪，是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。
本仪器主要由下列几个部分组成：Y 轴放大器及X 轴放大器；阶梯信号发生器；集电极扫描发生器；主电源及高压电源部分。
本仪器是继JT－l 型晶体管特性图示仪后的开发产品。
它继承JT－l 的优点，并有了较大的改进与提高，与其它半导体管特性图示仪相比，具有以下特点：1．本仪器采用全晶体管化电路、体积小、重量轻、携带方便。
2．增设集电极双向扫描电路及装置，能同时观察二级管的正反向输出特性曲线、简化测试手续。
3．配有双簇曲线显示电路，对于中小功率晶体管各种参数的配对，尤为方便。
4．本仪器专为工作于小电流超β 晶体管测试提供测试条件，最小阶梯电流可达0.2μA／级。
5．本仪器还专为测试二级管的反向漏电流采取了适当的措施，使测试的反向电流I R 达20nA／div 。
6．本仪器配上扩展装置—XJ27100“场效应管配对测试台”可对国内外各种场效应对管和单管进行比较测试。
7．本仪器配上扩展装置—XJ27101“数字集成电路电压传输特性测试台”，可测试COMS，TTL 数字集成电路的电压传输特性。
XJ4810 型半导体管特性图示仪，功能操作方便，它对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线电领域的应用，是一个必不可少的测试工具。
一、主要技术指标（l）Y 轴编转因数：集电极电流范围：10μA∕div～500 毫安／div，分15 档，误差≤±3％；二极管反向漏电流：0.2μA∕div～5μA∕div 分 5 档2μA∕div～5μA∕div 误差不超过±3%基极电流或基极源电压：0.05V／div，误差≤±3％；外接输入：0.1V／div，误差≤±3％；偏转倍率：×0.1 误差不超过±（10%±10nA）（2）X 轴偏转因数：集电极电压范围：0.05～50V∕div，分10 档，误差≤±3％；基极电压范围：0.05～1V∕div，分 5 档，误差≤±3％；基极电流或基极源电压：0.05V∕div，误差≤±3％；外接输入：0.05V∕div，误差≤±3％。
晶体管特性图示仪使用详解
② “峰值电压 %”调节旋钮。 作用：使集电极电源在确定的峰值电压范围内连续变 化。 ③ “+、-”极性按键开关。 作用：按下时集电极电源极性为负，弹出时为正。
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• ④ “电容平衡”与“辅助电容平衡”旋钮。 • 作用：使在高电流灵敏度测量时容性电流最小，
减小测量误差 • ⑤ “功耗限制电阻 ”选择开关。 • 作用：改变串联在被测管集电极回路中的电阻以
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5．使用注意事项 （1）测试前应预设一些关键开关和旋钮的位置。 （2）“峰值电压范围”、“峰值电压%”、阶梯信号 “电压电流/级”及“功耗限制电阻”这几个开关甚 用。 （3）测试大功率器件（因通常测试时不能满足其散 热条件）及测试器件极限参数时，多采用“单簇”阶 梯。
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6．XJ 4810 型半导体管特性图示仪的应用 （1）同时显示二极管的正反向特性曲线 由于其集电 极扫描电压有双向扫描功能，可使二极管的正反向特 性曲线同时显示在荧光屏上。
• ⑤ “极性”开关 选择阶梯信号的极性。
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⑥ “重复-关”开关 开关弹出时，阶梯信号重复出 现，正常测试时多置于该位置；开关按下时，阶梯信 号处于待触发状态。 ⑦ “单簇”按钮 与“重复-关”开关配合使用。当 阶梯信号处于待散发状态时，按下该钮，对应指示灯 亮，阶梯信号出现一次，然后又回到待触发状态。多 用于观察被测管的极限特性，可防止被测管受损。
注意：此时 IB 和 UBE 均为阶梯波，但 IB 每级高度基本相同，而 UBE
由于输入特性的非线性而每级高度不同。集电极扫描电压的变化反映在荧 光屏上为亮点在各级水平方向的往返移动。
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（4）场效晶体管漏极特性曲线 ID = f（UDS）及 测
试原理框图如图所示。
晶体管特性图示仪使用方法简介
Y轴作用， 基极电压
X轴作用， 集电极电压
X轴作用， 基极电压
基极阶梯信号
集电极的扫描信号
集电极电流 IC
基极电压UB
集电极电压UC
基极电压UB
基极阶梯信号
集电极扫描信号
■
■ 检查垂直通道放大器： 将垂直部分的垂直电流 (CURRENT/DIV)位置， 此时， 阶梯信号发生器产生直通道部分， 可以检查垂直通道放大器工作是否正常。■ 检查水平通道放大器： 将水平部分的水平电压置， 此时， 阶梯信号发生器产生平通道部分， 可以检查水平通道放大器工作是否正常。■ 将水平通道和垂直通道同时加上校正信号， 调节位移旋钮，则可以找到坐标原点。第12页/共17页
垂直扩展 10
垂直部分
第7页/共17页
■
梯信号。■ 水平移位
档， 是通过分
0.05V/div
50V/div
第8页/共17页
， 共
VCE
~
10
■
■
■
■
显示方式显示方式倒相双簇
按钮： 按入时， 显示在垂直 、水平方向上倒相。■ (DUAL)按钮： 对572D2普通型晶体管图示仪， 此按钮无
PNP
第
15页/共17页
Q
Q
Q
Q
μ
μ
0
■
Q
Q
μ
μ
第16页/共17页
■
某些极限参数时， 用此开关。
测试台部分
第10页/共17页
■
■
第11页/共17页
集电极C接地
发射极电流I
基极电压UB
发射极电压U
基极电压UB
基极阶梯信号
晶体管特性图示仪的使用
晶体管特性图示仪的使用一、实验任务熟悉XJ4810型图示仪的面板装置及其操作方法；会测量二极管的正、反向特性，三极管的输入特性、输出特性及主要参数（不包括频率参数），场效应管的特性及其主要参数。
二、实验原理晶体管特性图示仪主要由阶梯波信号源、集电极扫描电压发生器、工作于X-Y方式的示波器、测试转换开关及一些附属电路组成。
晶体管特性图示仪根据器件特性测量的工作原理，将上述单元组合，实现各种测试电路。
阶梯波信号源产生阶梯电压或阶梯电流，为被测晶体管提供偏置；集电极扫描电压发生器用以供给所需的集电极扫描电压，可根据不同的测试要求，改变扫描电压的极性和大小；示波器工作在X-Y状态，用于显示晶体管特性曲线；测试开关可根据不同晶体管不同特性曲线的测试要求改变测试电路。
三、实验设备1、XJ4810型图示仪；数量：1台；2、9013、8050型NPN、9012、8550型PNP型三极管，二极管，稳压二极管，3DJ6G型N沟道结型场效应管；数量：各一只。
四、实验预习要求1、课外阅读《电子测量》晶体管测量的相关文献。
2、参照仪器使用说明书，掌握XJ4810型图示仪的使用方法。
3、详细阅读实验指导书，作好绘制波形和测试记录的准备6、。
五、实验步骤：1.测试小功率整流二极管IN4001，做以下旋钮设置：“峰值电压范围”：0～10V（正向特性测量）；0～200V（反向特性测量）“集电极电流极性”：+（正向特性测量）；－（反向特性测量）Y—“电流/度”：ICX—“电压/度”：VCE阶梯“重复—关”：关2.稳压二极管的测量，做以下旋钮设置：“峰值电压范围”：AC?? 0～10V“集电极电流极性”：+Y—“电流/度”：ICX—“电压/度”：VCE阶梯“重复—关”：关动态电阻RZ=△VZ/△IZ3.NPN型管的测量1）输出特性曲线的测试“峰值电压范围”：0～10V“集电极电流极性”：+Y—“电流/度”：ICX—“电压/度”：VCE阶梯“重复—关”：重复；“极性”：+“电压—电流/级”：20μA/度直流电流放大系数hFE=IC/IB（VCE=常数，IC=常数）交流电流放大系数β=△IC/△IB （VCE=常数）2）输入特性曲线的测试“峰值电压范围”：0～10V“集电极电流极性”：+Y—“电流/度”：阶梯信号X—“电压/度”：VBE阶梯“重复—关”：重复；“极性”：+“电压—电流/级”：适当档级3）IC—IB关系曲线的测量“峰值电压范围”：0～10V“集电极电流极性”：+Y—“电流/度”：ICX—“电压/度”：阶梯信号阶梯“重复—关”：重复；“极性”：+“电压—电流/级”：适当档级直流电流放大系数hFE=IC/IB（VCE=常数，IC=常数）4.PNP型管的测量（方法与NPN型管的测量类似）1）输出特性曲线的测试“峰值电压范围”：0～10V“集电极电流极性”：－Y—“电流/度”：ICX—“电压/度”：VCE阶梯“重复—关”：重复；“极性”：－“电压—电流/级”：20μA/度直流电流放大系数hFE=IC/IB（VCE=常数，IC=常数）交流电流放大系数β=△IC/△IB （VCE=常数）2）输入特性曲线的测试“峰值电压范围”：0～10V“集电极电流极性”：－Y—“电流/度”：阶梯信号X—“电压/度”：VBE阶梯“重复—关”：重复；“极性”：－“电压—电流/级”：适当档级输出特性曲线输入特性曲线3）IC—IB关系曲线的测量“峰值电压范围”：0～10V“集电极电流极性”：+Y—“电流/度”：ICX—“电压/度”：阶梯信号阶梯“重复—关”：重复；“极性”：+“电压—电流/级”：适当档级IC—IB关系曲线直流电流放大系数hFE=IC/IB（VCE=常数，IC=常数）4.PNP型管的测量（方法与NPN型管的测量类似）1）输出特性曲线的测试“峰值电压范围”：0～10V“集电极电流极性”：－Y—“电流/度”：ICX—“电压/度”：VCE阶梯“重复—关”：重复；“极性”：－“电压—电流/级”：20μA/度直流电流放大系数hFE=IC/IB（VCE=常数，IC=常数）交流电流放大系数β=△IC/△IB （VCE=常数）2）输入特性曲线的测试“峰值电压范围”：0～10V“集电极电流极性”：－Y—“电流/度”：阶梯信号X—“电压/度”：VBE阶梯“重复—关”：重复；“极性”：－“电压—电流/级”：适当档级3）IC—IB关系曲线的测量“峰值电压范围”：0～10V“集电极电流极性”：－Y—“电流/度”：ICX—“电压/度”：阶梯信号阶梯“重复—关”：重复；“极性”：－“电压—电流/级”：适当档级直流电流放大系数hFE=IC/IB（VCE=常数，IC=常数）IC—IB关系曲线5.场效应管的测量1）输出特性（漏极特性）的测量“峰值电压范围”：0～50V“集电极电流极性”：+Y—“电流/度”：ICX—“电压/度”：VCE阶梯“重复2）—关”：重复3）；“极性”：－4）“电压—电流/级”：1V/级饱和漏电流IDSS：在VGS=0V的那条曲线上，读测出UDS=10V所对应的Y轴电流；跨导gm=△IDS/△VGS（IDS=常数，VGS=常数）六．训练测试二极管、NPN型与PNP型三极管的各种参数特性。
晶体管特性图示仪安全操作及保养规程
晶体管特性图示仪安全操作及保养规程1. 前言晶体管特性图示仪是一种专业化的电子测量设备，它能够对晶体管进行测试，分析晶体管的性能。
为了保护该设备的安全，保持其良好工作状态，以及为最终用户提供最好的体验，我们为您提供以下安全操作以及保养规程。
2. 安全操作规程2.1 基本要求晶体管特性图示仪是一种精密的测量仪器，因此需要严格的安全操作措施，以确保设备能够长期稳定工作、准确测量。
下面为您介绍几个基本的操作要求：•操作人员必须接受过专门的培训，了解设备操作方法和基本的安全操作知识，遵守本规程以及制造商提供的相关指南。
•设备的选择、安装、使用、维护都必须遵循规程要求。
•操作过程中，必须仔细阅读并遵照设备相关标签和说明书。
•在使用设备之前，必须检查仪器和配件是否完好，避免因损坏导致安全隐患。
•操作人员必须佩戴耐压手套、护目镜等必要的防护用品，以确保操作的安全性。
2.2 指导步骤下面为您介绍一些常规的操作步骤，以供参考：1.开机前的检查：•检查电源线、测量线缆和所有连接线是否处于良好状态；•检查设备上的电源开关，确保其处于关闭状态；•检查可调整和固定元件是否处于良好状态。
2.开机操作：•插入电源线，连接测量线缆;•打开电源开关;•等待设备自检完成；•设置测量参数，根据测量对象的需要进行测量。
3.关机操作：•关闭电源开关；•拔出电源线、测量线缆。
3. 保养规程3.1 基本保养为了确保设备的正常工作，同时延长设备的使用寿命，我们为您提供以下安全保养规程：1.对设备的外部进行清洁和维护工作，确保设备表面干净。
清洁过程中需要注意防潮、防水、防静电等工作，并使用专门的清洁剂。
2.及时更换设备中的易损件，如保险丝、电解电容、继电器等，以确保设备持续稳定工作。
3.定期进行设备的校准和维修工作，确保仪器精度在指定范围内。
3.2 操作注意事项在进行设备的保养过程中，请注意以下几点：•执行操作时，请关闭电源开关，拔掉电源线，以确保操作的安全性；•不要使用任何有损设备或环境的废弃物或清洁液等;•进行维护时，要慎重选择和安装设备的配件，并确保其与设备兼容。
BJ4814型晶体管图示仪技术说明说
—————————目录1 概述 (3)2 工作特性 (3)3 工作原理 (5)4使用说明 (5)5 检查与计量 (13)1.概述BJ4814型半导体管特性图示仪是测量半导体器件直流及低频参数的专用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的特性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出图示仪的独特优势,因此它是半导体器件生产厂家及整机研制部门进行半导体器件的研制,性能改善,电路设计,器件的合理应用等工作必不可少的理想测试设备。
本仪器功能齐全,测试范围宽, 绝大部分电路实现了集成化,其中集电极扫描电路实现了电子扫描,大电流测试状态进行了占空比压缩,减小了成本,减小了重量。
阶梯部分的大电流测试状态采用了脉冲阶梯输出,减小了被测管的发热。
集电极电流测试新增了电子保护电路提高了反映速度,增加了仪器自身及对外保护能力,部分功能参考美国Tex-577产品特点,还有部分功能是为方便测试而增设的,因此使本仪器的应用范围得到拓宽,随着用户对本仪器的不断了解,根据自身需要也可开发新的应用领域,欢迎广大用户对本仪器的各个方面提出宝贵意见和建议,以促进我们的改进。
2.工作特性2.1 额定使用条件及规格A.环境温度: 0 ～+ 40°CB.相对湿度: + 40°C 20 ～90 % RHC.大气压力: Pb - 106 KPaD.供电要求: 220V ±10% 50Hz ±5%E.整机功率: <50V A (非测试状态) <60V A (测试状态)F.外形尺寸: (E×B×H)mm 480×220×320 (主机) 80×110×40(测试盒件)G.预热时间: 15分钟H.整机重量: 15KgI.工作时间: 连续工作8小时J.工作位置: 水平放置或正面仰角小于20°放置K.外电磁场干扰: 应避免L.阳光照射: 应避免直射2.2 技术性能及指标2.2.1 X轴系统A.工作方式: 分集电极电压(Vc),基极电压(Vb),二极管电压(Vd)和阶梯信号四类.B.位移范围: 大于10度C.集电极电压偏转因数: 20mV/度～ 20V/度. 1-2-5序共10挡误差≤±3%D.基极电压偏转因数: 20mV/度～ 1V/度. 1-2-5序共6挡误差≤±3%E.二极管电压偏转因数: 100V/度～ 500V/度. 1-2-5序共3挡误差≤±3%F.阶梯信号偏转因数: 1阶/度误差≤±5%2.2.2 Y轴系统A.工作方式: 分集电极流(Ic),和阶梯信号两类.B.位移范围: 大于10度C.集电极电流偏转因数: 1uA/度～ 2A/度. 1-2-5序共20挡误差≤±3%D.阶梯信号偏转因数: 1阶/度误差≤±5%2.2.3 阶梯信号源A.工作方式: 分恒压源和恒流源两类B:极性: 正或负C:阶梯电流源: 1 A ～ 200mA/阶 1-2-5序共17挡误差≤±5%D:阶梯电压源: 20mV/度～ 1V/度 1-2-5序共6挡误差≤±5% (源内阻100Ω) E:级/族: 1-10 连续步进2.2.4集电极扫描电源A:额定电压范围及容量:0 ～ 20V 20A0 ～ 200V 0.5A0 ～ 5000V 0.002AB.极性: 正或负C.方式:0-20v 范围(Y轴0.001~5mA/度) 100Hz0-20v 范围(Y轴10~50mA/度) 500Hz0-20v范围(Y轴0.1~0.5A/度) 100Hz间歇(8mS)扫描0-20v范围(Y轴1~2A/度) 50Hz间歇(18m)扫描0-200v范围(Y轴0.001~5mA/度) 100Hz0-200v范围(Y轴10~50mA/度) 100Hz间歇(8mS)扫描0-5000v范围直流2.2.5显示系统A.示波管型号: 13SJ38JB.有效工作面: 75mm×75mm(标尺)C.分度: 1度(X)=7.5mm 1度(Y)=7.5mm2.2.6基本安全要求A.绝缘要求: ≥ 2MΩB.漏电流: ≤ 5mA(峰值)C.介电强度电压试验: 电源进线相对机壳应能承受1500V(50Hz交流有效值)1分钟试验,不出现击穿和飞弧现象.3. 工作原理整机原理方框图见(图1)从图1中可见,本机主要由集电极扫描电源,阶梯波发生器X,Y放大器,高频高压电路及低压供电电源几大部分组成,集电极电源提供被测管的扫描电压(C,E端)阶梯波发生器供给B端注入信号,通过X,Y放大器将电压及电流调理后供给由高频高压驱动加亮的示波管,显示出被测器件的特性曲线供观测.图1 4.使用说明用户在实际使用本机前,应详细阅读本章的使用说明熟悉各个旋纽机开关的功能,请使用者对照实物及有关说明进行操作.4.1主机4.1.1面板(图2)与机箱(图3)1.示波管(13SJ38J)2.辉度; 调整图像亮度.3.聚焦; 调整图像清晰度.4.辅助聚焦;用以调整清晰度5.整机电源开关,按下"电源开"一端电源接通。
晶体管图示仪的使用
实验一晶体管图示仪的使用一、实验目的熟练掌握晶体管特性图示仪的使用方法，学会用晶体管特性图示仪测量半导体器件的静态参数。
在不损坏器件的情况下，测量半导体器件的极限参数。
二、晶体管特性图示仪测量半导体器件的工作原理1．概述YB4810型晶体管特性图示仪是一种用阴极射线示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器，尤其能在不损坏器件的情况下，测量其极限参数，如击穿电压、饱和压降等。
2．主要技术指标（1） Y轴偏转系数集电极电流范围为10μA/div~0.5A/div，分15档，误差不超过±5%；二极管反向漏电流0.2μA/div~5μA/div，分5档，2μA/div、5μA/div误差不超过±5%，1μA/div误差不超过±7%，0.5μA/div误差不超过±10%，0.2μA/div误差不超过±20%；外接输入为0.1V/div误差不超过±5%。
（2） X轴偏转系数集电极电压范围为0.1V/div~50V/div，分9档，误差不超过±5%；基极电压范围为0.1V/div~5V/div，分6档，误差不超过±5%；外接输入为0.05V/div误差不超过±7%。
（3）阶梯信号阶梯电流范围为0.1μA/级~50mA/级，分18档；1μA/级~50mA/级，误差不超过±5%，0.1μA/级误差不超过±7%；阶梯电压范围为0.05V/级~1V/级，分5档，误差不超过±5%；串联电阻10Ω、10KΩ、0.1MΩ，分3档，误差不超过±10%；每簇级数4~10级连续可调。
2．4集电极扫描电源、高压二极管测试电源其峰值电压与峰值电流容量如下表所示，其中最大输出不低于下表：（4）其它校正信号为0.5Vp-p误差不超过±2%（频率为市电频率），1Vp-p误差不超过±2%（频率为市电频率）；示波管15SJ110Y14内（UK=1.5Kv，UA4=+1.5kV）；电源电压为（220±10%）V；电源频率为（50±5%）Hz；视在功率在非测试状态约50W；满功率测试状态约80W。
晶体管特性图示仪的使用
XJ4810晶体管特性图示仪说明书晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。
用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。
图A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示：1. 集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。
2. 集电极峰值电压保险丝：1.5A。
3. 峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。
4. 功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
5. 峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。
当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。
AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。
6. 电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。
为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最小。
7. 辅助电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。
8. 电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
9. 电源指示：接通电源时灯亮。
10. 聚焦旋钮：调节旋钮可使光迹最清晰。
11. 荧光屏幕：示波管屏幕，外有座标刻度片。
晶体管测试仪使用说明
晶体管测试仪使用说明输入电压：直流6.8V-12V工作电流30mA左右，输入7.5V直流电压时实测●晶体管测试仪控制测试仪由一个旋转编码器开关控制，旋转编码器开关一共可以有4种操作，短按、长按、左旋、右旋。
在关机状态下短按一次，就能打开电源，开始测试。
在一次测试完成后，如果没有检测到器件。
长按开关或者左右旋转开关可以进入功能菜单，进入功能菜单后，左旋或者右旋开关可以在菜单项上下选择，要进入某一个功能项，则短按一次开关。
当需要从某个功能里退出时，则长按开关。
●测试器件测试仪一共有3个测试点，TP1、TP2、TP3。
这三个测试点在测试座里的分布如下：在测试座的右边是贴片元件的测试位置，上面分别有数字1,2,3,各代表TP1、TP2、TP3测试只有2个引脚的元件时，引脚不分测试顺序，2个引脚任意选择2个测试点，3个脚的器件引脚分别放到三个测试点中，不分顺序。
经过测试后，测试仪自动识别出元件的引脚名称、所在的测试点，并显示在屏幕上。
测试只有2个脚的元件时，如果使用的是TP1和TP3两个测试点，则测试完成后自动进入连续测试模式，这样可以连续的同步测量TP1和TP3上的元件，不用再按开关。
如果使用的是“TP1和TP2”或者“TP2和TP3”测试，则只测试一次。
要再一次测试则按一次开关。
测试电容器前，先给电容器放电，再插入测试座测量，否则有可能损坏测试仪的单片机。
●校准测试仪校准是用于消除自身元器件的误差，使得最后的测试结果更加精确。
校准分为快速校准和全功能校准。
快速校准的操作方法：用导线将三个测试点TP1、TP2、TP3短接，然后按下测试按钮，同时注意观察屏幕。
屏幕颜色会变成黑底白字，在出现提示信息”Selftest mode..? ”后，按一下测试按钮，就进入到快速校准过程；如果在出现提示信息“Selftest mode..?”后，2秒钟内没有按键，则进行一次正常的测试过程，最后显示出短接TP1、TP2、TP3三个测试点导线的电阻值。
5_晶体管特性图示仪测三极管直流参数
实验五 晶体管特性图示仪测量三极管的直流参数晶体管在电子技术方面具有广泛的应用。
在制造晶体管和集成电路以及使用晶体管的过程中，都要检测其性能。
晶体管输入、输出及传输特性普遍采用直接显示的方法来获得特性曲线，进而可测量各种直流参数。
一、实验目的（1）了解YB4812型晶体管特性图示仪原理，掌握其使用方法；（2）观察三极管的输出特性曲线；（3）测试四种三极管的反向击穿电压和直流电流增益。
二、实验原理利用晶体管特性图示仪测试晶体管输出特性曲线的原理如图1所示。
图中T 代表被测的晶体管，R B 、E B 构成基极偏流电路。
取E B >>V BE ，可使I B =(E B －V BE )/R B 基本保持恒定。
在晶体管C-E 之间加入一锯齿波扫描电压，并引入一个小的取样电阻R C ，这样加到示波器上X 轴和Y 轴的电压分别为V X =V CE = V CA －I C ∙ R C ≈V CA ， V Y =－I C ∙ R C ∞－I C图5.1 测试输出特性曲线的原理电路R E图5.2 基极阶梯电压与集电极扫描电压间关系当I B恒定时，在示波器的屏幕上可以看到一根I C—V CE的特性曲线，即晶体管共发射极输出特性曲线。
为了显示一组在不同I B的特性曲线簇Ici=Φ(I C i, V CE)应该在X轴的锯齿波扫描电压每变化一个周期时，使I B也有一个相应的变化，所以应将图1中的E B改为能随X轴的锯齿波扫描电压变化的阶梯电压。
每一个阶梯电压能为被测管的基极提供一定的基极电流，这样不同的阶梯电压V B1、V B2 、V B3 …就可对应地提供不同的恒定基极注入电流I B1、I B2 、I B3…。
只要能使每一阶梯电压所维持的时间等于集电极回路的锯齿波扫描电压周期，如图5.2所示，就可以在T0时刻扫描出I C0=Φ(I B0, V CE)曲线，在T1时刻扫描出I C1=Φ(I B1, V CE)曲线。
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—————————目录1 概述 (3)2 工作特性 (3)3 工作原理 (5)4使用说明 (5)5 检查与计量 (13)1.概述BJ4814型半导体管特性图示仪是测量半导体器件直流及低频参数的专用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的特性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出图示仪的独特优势,因此它是半导体器件生产厂家及整机研制部门进行半导体器件的研制,性能改善,电路设计,器件的合理应用等工作必不可少的理想测试设备。
本仪器功能齐全,测试范围宽, 绝大部分电路实现了集成化,其中集电极扫描电路实现了电子扫描,大电流测试状态进行了占空比压缩,减小了成本,减小了重量。
阶梯部分的大电流测试状态采用了脉冲阶梯输出,减小了被测管的发热。
集电极电流测试新增了电子保护电路提高了反映速度,增加了仪器自身及对外保护能力,部分功能参考美国Tex-577产品特点,还有部分功能是为方便测试而增设的,因此使本仪器的应用范围得到拓宽,随着用户对本仪器的不断了解,根据自身需要也可开发新的应用领域,欢迎广大用户对本仪器的各个方面提出宝贵意见和建议,以促进我们的改进。
2.工作特性2.1 额定使用条件及规格A.环境温度: 0 ～ + 40°CB.相对湿度: + 40°C 20 ～90 % RHC.大气压力: Pb - 106 KPaD.供电要求: 220V ±10% 50Hz ±5%E.整机功率: <50V A (非测试状态) <60V A (测试状态)F.外形尺寸: (E×B×H)mm 480×220×320 (主机) 80×110×40(测试盒件)G.预热时间: 15分钟H.整机重量: 15KgI.工作时间: 连续工作8小时J.工作位置: 水平放置或正面仰角小于20°放置K.外电磁场干扰: 应避免L.阳光照射: 应避免直射2.2 技术性能及指标2.2.1 X轴系统A.工作方式: 分集电极电压(Vc),基极电压(Vb),二极管电压(Vd)和阶梯信号四类.B.位移范围: 大于10度C.集电极电压偏转因数: 20mV/度 ～ 20V/度. 1-2-5序共10挡 误差≤±3%D.基极电压偏转因数: 20mV/度 ～ 1V/度. 1-2-5序共6挡 误差≤±3%E.二极管电压偏转因数: 100V/度 ～ 500V/度. 1-2-5序共3挡 误差≤±3%F.阶梯信号偏转因数: 1阶/度 误差≤±5%2.2.2 Y轴系统A.工作方式: 分集电极流(Ic),和阶梯信号两类.B.位移范围: 大于10度C.集电极电流偏转因数: 1uA/度～ 2A/度. 1-2-5序共20挡 误差≤±3%D.阶梯信号偏转因数: 1阶/度 误差≤±5%2.2.3 阶梯信号源A.工作方式: 分恒压源和恒流源两类B:极性: 正或负C:阶梯电流源: 1μA ～ 200mA/阶 1-2-5序共17挡 误差≤±5%D:阶梯电压源: 20mV/度 ～ 1V/度 1-2-5序共6挡 误差≤±5% (源内阻100Ω) E:级/族: 1-10 连续步进2.2.4集电极扫描电源A:额定电压范围及容量:0 ～ 20V 20A0 ～ 200V 0.5A0 ～ 5000V 0.002AB.极性: 正或负C.方式:0-20v 范围 (Y轴 0.001~5mA/度) 100Hz0-20v 范围 (Y轴 10~50mA/度 ) 500Hz0-20v范围 (Y轴0.1~0.5A/度 ) 100Hz间歇(8mS)扫描0-20v范围 (Y轴1~2A/度) 50Hz间歇(18m)扫描0-200v范围 (Y轴 0.001~5mA/度) 100Hz0-200v范围 (Y轴 10~50mA/度) 100Hz间歇(8mS)扫描0-5000v范围 直流2.2.5显示系统A.示波管型号: 13SJ38JB.有效工作面: 75mm×75mm(标尺)C.分度: 1度(X)=7.5mm 1度(Y)=7.5mm2.2.6基本安全要求A.绝缘要求: ≥ 2MΩB.漏电流: ≤ 5mA(峰值)C.介电强度电压试验: 电源进线相对机壳应能承受1500V(50Hz交流有效值)1分钟试验,不出现击穿和飞弧现象.3. 工作原理整机原理方框图见(图1)从图1中可见,本机主要由集电极扫描电源,阶梯波发生器X,Y放大器,高频高压电路及低压供电电源几大部分组成,集电极电源提供被测管的扫描电压(C,E端)阶梯波发生器供给B端注入信号,通过X,Y放大器将电压及电流调理后供给由高频高压驱动加亮的示波管,显示出被测器件的特性曲线供观测.图14.使用说明用户在实际使用本机前,应详细阅读本章的使用说明熟悉各个旋纽机开关的功能,请使用者对照实物及有关说明进行操作.4.1主机4.1.1面板(图2)与机箱(图3)1.示波管(13SJ38J)2.辉度; 调整图像亮度.3.聚焦; 调整图像清晰度.4.辅助聚焦;用以调整清晰度5.整机电源开关,按下"电源开"一端电源接通。
6.电源指示灯; 此灯亮表明仪器已接通电源.7.垂直偏转因数选择开关.8.零点按纽; 按入显示Y轴零参考点.9.满度按纽; 按入从零点上移10度.(可用侧面"Y增益"调准)10.垂直移位璇钮; 顺时针时向上移.11.水平偏转因数选择开关.12.零点按纽; 按入显示X轴零参考点.13.满度按纽; 按入从零点右移10度. (可用侧面"X增益"调准)14.水平移位旋纽.15.阶梯幅度选择开关; 选择阶梯波每阶的幅度值.16.极性按钮; 按入状态—阶梯为负极性. 弹出入状态—阶梯为正极性.17.级/族开关; 选择阶梯的阶数.18.开关处于中间位置时,阶梯信号是通路状态,被侧管已接通阶梯信号进行测量.置于 "Ib=0"位置时,为零电流.使被测管的基极处于开路状态."Vb=0"位置时,为零电压.使被测半导体管的基极处于短路状态.19.串连电阻:当阶梯选择开关(15)置于V/度位置时,串联电阻将串联在被测半导体管的 输入电路中.当阶梯选择开关\置于mA/度位置时阶梯信号不通过串联电阻。
图220.扫描峰值电压调节旋纽； 调至零点（逆时针到底）集电极施加电压为0,并有解除保护功能。
顺时针旋转可增加集电极扫描电压值。
21.集电极扫描极性控制开关. 按入状态— 扫描电压为负. 弹出状态— 扫描电压为正.22.功耗限制串联电阻选择开关; 置适当挡位,以保护被测器件.23.按入状态— 扫描电压范围在0 ～ 20V.24.按入状态— 扫描电压范围在0 ～ 200V.25.按入状态— 二端测试电压范围在0 ～ +5KV(直流).26.当被测器件电流大于Y 轴满度值 1.05倍左右时保护指示灯亮.扫描电源关断.当需 要再次测量时将峰值电压旋纽(16)调回零点(保护指示灯灭)后再继续测试.27.扫描调零；调整扫描信号的起始点在零电位的位置。
28.容性电流微调;平衡(小电流挡时)接线及元件对地的杂散电容所引起的失真。
29.二端测试电压Vd(0 ～ +5KV)输出端.30.接地端.31.二端测试电压(0 ～ +5KV)电压接入指示.32.测试选择开关:开关可以转换左右两边被测管。
33.可以配合香蕉插头连接被测半导体管。
34.被测管插座。
35.回流端插座;计量Y 轴集电极电流时标准电流输入端.图336.X 增益;可配合X 轴"校整"—"零点""满度"以调准偏转幅度。
37.Y 增益;可配合Y 轴"校整"—"零点""满度"以调准偏转幅度。
38.阶梯调零; 调整阶梯信号的起始点在零电位的位置。
39.电源插座;通过电源连接线接到电源。
40.电源导向开关;配合"容性电流微调"起到减小杂散电容所引起的失真。
41.电源保险管座;内装1A 保险管。
注意事项在全面了解本机各个控制开关及旋纽之后,下面便可实际操作,首先要注意以下几点:A.每此开机前,首先检查电源连线是否连接良好,要将"测试选择"开关置"关"档位,集电极扫描信号中的"峰值电压"旋纽置零位置(逆时针璇到底).严禁在"峰值电压"旋纽调高以后短路"E"."C"两端,或"B"."C"两端。
B.在大电流测试和在高压测试时,为保证器件安全和测试精度,应尽量缩短加电时间,而且不能在测试状态下转换各种开关,如需要改变测试状态,应先将扫描峰值电压钮旋至最小,然后将测试选择开关置中间关断位置.C.在两端测试时,必须将”集电极扫描信号”部分极性置”+”;首先要将被测器件连接好,再转入测试状态(Vd-5KV 红色指示灯亮).在本项测试状态下和扫描电压大于20V 档位的状态严禁操作者的任何部位接触被测器件和测试端子及金属带电部件以保证人身安全. 严禁在"峰值电压"调高以后短路输出端.为保证被测器件安全,在高压测试时Y 轴电流挡尽量选择小一些.两端测试电压不能超过5000V(500V/度×10度)后继续往高调.D.在测试高频半导体管输出特性时,有可能产生自激震荡,使波形不平坦,出现失真,或显示不清晰此时,可用适当容值的电容(如100～3000Pf)接在被测管的 B.E间,消除自激震荡.4.2实际操作开机前先将各控制机构调定如下:辉度,聚焦,辅助聚焦 适中Y轴选择开关 --------------- ------------ 阶梯X轴选择开关 ---------------------------- 2V/度(Vc)零电流,零电压开关 ------------------- 正常阶梯选择开关 -------------------------- 0.02V/级阶梯极性 ---------------------------------- 正级/簇 -------------------------------------- 10集电极扫描极性 ----------------- 正峰值电压范围 ------------------- 0 ～ 20V峰值电压 ----------------------- 0V功耗限制电阻 ------------------- 2K然后接通电源预热15分钟,如果本机是第一次开葙使用应先进性功能检查以判断仪器是否经过运输发生故障.4.3.1功能检查A.将X,Y校正按入"零点"适当调整水平及垂直位"移位"旋纽.将光点移到标尺的左下角 按入"满度"光点应移至标尺的右上角调节辉度和聚焦旋纽,光点应有相应的变化.B.检查水平及垂直的移位旋纽,应符合2.2.1B和2.2.2.B的规定.C. Y轴测试选择波段开关选至"阶梯",X轴测试选择波段开关选至"Vc-1V/度调整集电极电压旋钮使水平扫线条满十度,11条扫线即10级阶梯信号,最下端一条为0及阶梯.(如图4)图4D.分别调节阶梯开关,"阶梯极性""阶梯幅度"钮.应有相应的变化.E.置"阶梯极性"为"+" "级/族"为10, X,Y轴测试选择均为"阶梯". 图像如图5F.旋转水平"Vb"的六个档位,图像应有相应的变化.然后置水平为2V(Vc),垂直为50mA/度,将功耗限制电阻阻值从0Ω逐步增加,水平扫线有所缩短.G.在测试盒左C,E之间跨接一个10Ω的电阻,应显示一条斜线,再将功耗限制电阻从0Ω逐步增加至2K,斜线应逐级缩短.H.将Y 轴测试选择波段开关从50mA当调到10mA挡,图像斜率应于相应的变化;I.选择集电极扫描电源(基极阶梯信号源)极性开关从"+"极性调到"-"极性,图像应分别有相应的变化.图54.3.2.应用举例在此举几个常规的例子,应本仪器测试范围宽,由于篇幅有限不可能面面俱到,希望使用者根据测试原理及本机能力自行开发. 集电极扫描电源,基极阶梯信号源和X,Y放大系统都可以独立使用,但不能超越其承受功率和测试范围.4.3.2.1.双极型三极管现以3DG182为例,进行几项参数的测试:A.输出特性-H22将半导体管的E.B.C管脚插在测试盒相应的插座上图6各开关所置挡位:Y轴选择开关 --------------- 1mA/度X轴选择开关 --------------- 2V/度(Vc)阶梯选择开关 --------------- 0.01mA/级零电流,零电压开关 -------- 正常阶梯极性---------------------- 正级/簇 -------------------------- 10集电极扫描极性 ------------ 正功耗限制电阻 --------------- 1KΩ峰值电压范围 --------------- 0 - 20V峰值电压调节 --------------- 调至零点后将测试选择开关'拨到被测管一边逐渐调高集电极扫描电压得到图6曲线,根据坐标刻度所在档位读出Ic值.根据阶梯选择开关得到Ib值.B.饱和压降将X轴测试选择波段开关置0.2V(Vc)挡,在一定的Ic处可从X轴上直接读取.C.输入特性-H11将半导体管的管脚插在测试盒的左插座上各开关所置挡位:Y轴选择开关 --------------- 阶梯X轴选择开关 --------------- 0.2V/度(Vb)阶梯选择开关 --------------- 0.01mA/级零电流,零电压开关 -------- 正常阶梯极性---------------------- 正级/簇 -------------------------- 10集电极扫描极性 ------------ 正功耗限制电阻 --------------- 100Ω峰值电压范围 --------------- 0 - 20V峰值电压调节 --------------- 调至零点后将测试选择开关'拨到被测管一边图7 逐渐调高集电极扫描电压得到图7曲线,根据器件的使用情况,读出Ib.Vb的增量值,便可计算出输入阻抗.D.BVceo和Iceo将阶梯信号部分选至Ib=0挡,选择适当的功耗限制电阻,逐渐加大水平偏转因数(Vc)和集电极扫描电压,扫线拐点处即为BVceo.见图8.E. BVcer.Icer 和 BVces.Ices将所需的外接电阻接在测试盒的"B"和"E"插孔之间即刻测试BVcer和Icer.将阶梯信号部分选至"Vb=0"可测BVces和Ices测试方法同D条.图8F.共基极特性测量共基极特性时,将被测管腿E,B位置互换插入管座;还以3DG182D为例.图9各开关所置挡位:Y轴选择开关 --------------- 1mA/度X轴选择开关 --------------- 2V/度(Vc)阶梯选择开关 --------------- 0.01mA/级零电流,零电压开关 -------- 正常阶梯极性---------------------- 负级/簇 -------------------------- 10集电极扫描极性 ------------ 正功耗限制电阻 --------------- 1KΩ峰值电压范围 --------------- 0 - 20V峰值电压调节 --------------- 调至零点后将测试选择开关'拨到被测管一边调整"峰值电压"旋纽便可得到图9的共基极特性曲线.G.二极管及稳压二极管的正反相测试同BVceo,只是二极管的两极相应插在C,E两插孔即可.4.3.2.2.场效应半导体管现以为3DJ6G例, 进行几项参数的测试:A.转移特性图10各开关所置挡位:Y轴选择开关 --------------- 0.5mA/度X轴选择开关 --------------- 阶梯阶梯选择开关 --------------- 0.1V/级阶梯极性---------------------- 负零电流,零电压开关 -------- 正常集电极扫描极性 ------------ 正功耗限制电阻 --------------- 100Ω峰值电压范围 --------------- 0 - 20V峰值电压调节 --------------- 调至零点后将测试选择开关'拨到被测管一边 调整"峰值电压"旋纽便可得到图10的转移特性曲线.从曲线中可读出饱和漏电流值与夹断电压值.B.输出特性图11各开关所置挡位:X轴选择开关 --------------- 1V/度(Vc)阶梯选择开关 --------------- 0.05V/级其余档位同上4.3.2.3.Vd高反压半导体管测试现以1N4007为例, 进行反向电压的测试.用高压连接线接入被测管--输出端接被测管负端、地线端接被测管正端。