插回损测试仪
光回损测试原理
![光回损测试原理](https://img.taocdn.com/s3/m/1ff015297375a417866f8fce.png)
光回损测试原理引言:随着光纤通信的发展,高速光纤传输系统的广泛生产和应用(如SDH、大功率CATV等),必须具有很高的回波损耗,DF B激光器由于其线宽窄,输出特性很容易受回波损耗的影响。
从而严重影响系统的性能,即使是普通的激光器,也会不同程度地受回波损耗的影响,因此,系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。
关键词: 回波损耗菲涅尔反射瑞利散射偏振敏感性匹配负载1.回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时,总有部分光被反射回来,光器件中回波主要由菲涅尔反射(由于折射率变化引起)、后向瑞利散射(杂质微粒引起)以及方向性等因素产生的,则该器件的回波损耗RL为:RL(dB)=-10lg(反射光功率/入射光功率) (1)回波损耗的测试方法有基于OTDR和光功率计测试两种,OTDR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布,且不需要末端匹配(短光纤仍需匹配),但成本高,重要的是某些场合不能使用(例如:光探测器的回波损耗测试等),如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-301型回波损耗测试仪。
光功率计法主要将被测器件反射回来的光分离出来引导至光功率计,简单实用,应用范围广,使用时须进行末端匹配。
本文主要介绍光功率计法测试的原理。
光功率计法回波损耗测试基本原理框图如下:图1光功率计法基本原理框图激光经光模块注入到被测器件,反射光再经光模块引导至光功率计,测试方法分为4步:a.测试端连接校准件测出反射功率值Pref,若光源输出功率为P L,光模块衰减系数为k,校准件反射率为Rref,则:Prel = PL.k.Rref +Pp (2)其中,Pp为附加反射功率(指光模块内部及测试端连接器的反射等)b.测出附加反射功率Pp:将测试端进行匹配,使得测试端反射功率为0,即可测出附加反射功率Pp。
c.测试端连接被测器件,测出反射值PmeasPmeas = ( PL×k) R被测+Pp (3)R被测为被测器件反射率。
插回损中文说明书(USB).
![插回损中文说明书(USB).](https://img.taocdn.com/s3/m/16abb3da2cc58bd63186bde7.png)
目录1、概述-----------------------------------22、技术指标-------------------------------33、组成-----------------------------------44、功能说明-------------------------------45、使用说明-------------------------------66、测量数据记录---------------------------87、注意事项和常见故障----------------------98、维护及保养-----------------------------119、质量保证------------------------------121.概述插回损测试仪是集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,精心研制开发出来的一款精密光检测仪表。
它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护基本的测试仪器。
(一)特点(1)测试精度高通过内置高稳定的激光器,最先进的微电子技术和光检测设备,结合软件技术,使得仪器输出功率稳定、检测速度快、测试范围广。
(2)波长自动同步设定在回损模式下,光源与功率计波长同步切换,不需分别设定波长。
功率计模式时,可另行单独设定功率计测试波长。
(3)多种工作模式该测试仪表集成了回波损耗测试、光功率模块测试和插入损耗测试。
(4)操作简单方便回损/插损同步测量,无需按键切换。
回损/插损测试值分别在一台仪器上的两个液晶窗口同时显示,测试结果一目了然。
通过操作“Zero按键”。
和“Ref按键”程序会自动保存相应的校正数据,当仪器断电后再开机,被保存的数据立即生效不需要重复校准,简化测试过程。
(5)人体工学设计仪器采用高质量金属外壳,确保仪器性能不受生产环境下可能存在的电气干扰。
GR-326测试项目
![GR-326测试项目](https://img.taocdn.com/s3/m/7e5cefd07cd184254a35352c.png)
5
2
试验结束
-40
-55
-60
5
2
插回损测试仪
3
高温老化试验
温度:850C(1850F)
湿度:无控制的
持续时间:168小时(7天)
插回损测试:测试开始前跟测试结束后
插回损变化量:测试完成前后测量值之间的差别
插回损测试仪
高温老化箱
4
高温循环试验
温度:-400C~+750C
湿度:无控制的
持续时间:21个周期,168小时(7天)
Ferrule曲率半径
7mm~ 25mm
R4-68
顶点偏移量
≤50μm
R4-69
(3D干涉仪)
2
新产品
光学性能标准:接续损失
试验
最大损失值
平均损失值
增加损失值
(R)
(O)
(R)
(O)
(R)
(O)
新产品
0.40
0.20
0.20
0.15
———
————
无负载,通过试验
0.50
0.30
0.30
0.20
0.30
c.移去负载,至少10秒钟后,测量损失和反射比。
d.沿着00角,施加6.8kgf(15 lbf)负载至少5秒钟。
e.移去负载,至少10秒钟后,测量损失和反射比。
900角侧边拉拔(900side pull):
f.沿着900角,施加2.3kgf(5.0 lbf)负载至少5秒钟。对于小型连接器,负载水平可以减至1.5kgf(3.3 lbf)
b.清洗连接器组件。
c.测量插回损以及变化量。
可以带T型防尘帽保护端面
夹具、测试仪
AI9508光回波损耗测试仪使用说明书
![AI9508光回波损耗测试仪使用说明书](https://img.taocdn.com/s3/m/d7207052f6ec4afe04a1b0717fd5360cbb1a8d52.png)
AI9508A/B/C型光回波损耗测试仪使用说明书安全警告使用本仪器之前请一定要仔细阅读安全警告和使用说明书,以确保仪器的正确使用。
阅读完使用说明书后,将它放置在一个容易拿到的地方,以便随时取阅。
使用环境的限制:为了防潮,请小心不要将水弄到仪器上。
以免导致火灾、电击或仪器故障的发生。
在潮湿的地方使用仪器时必须保证良好的接地。
使用条件的限制:不要在超过仪器规定的使用电压范围外使用仪器,否则将会导致火灾、电击或故障的发生。
把仪器连接到市电时,一定要将它直接连接到专用插座上,不要使用任何额外的连线,以免由于发热或着火引起危险。
拔电源插头时要注意用手拿住插头。
如果用手扯电源线将会弄坏电源线并有可能引起火灾或电击。
不要用潮湿的手插拔电源插头,以防引起电击。
不要将电源线靠近电热器,这样有可能使电源线受热熔化而导致火灾或电击。
为了避免发热或引起火灾,不要使电源插座过载。
确保电源插头和插线板的可靠接触。
如果金属片之类的东西碰到电源插线板上的金属片,将会引起火灾或电击。
如果将仪器安装在带有支架的台面或滑动台架上时,一定要锁定支架。
不能将仪器放置在不平的地方,如晃动的工作台或倾斜的地方,以避免仪器翻倒,如果仪器移动或翻倒,将会引起物理损坏。
不能将仪器放置在特别潮湿或多灰尘的地方。
否则将导致电击或故障。
不要从外部将金属片等物体插入或掉入仪器内,IAI9508A/B/C型光回波损耗测试仪使用说明书这样将会导致火灾、电击或故障的发生。
不要将仪器放置在被阳光直射的地方,这样的地方温度很高,而设备内部温度的升高有可能会引起火灾。
移动仪器时,必须先将电源插头从插座上拔出。
然后确保仪器的外部连线都被拿开,之后才能移动设备。
否则将损坏连线并有可能引起火灾或电击。
不要阻塞仪器的气孔会使热量在仪器内部积累,在一定时候会引起火灾。
不要损坏、剥开或重新焊接、弯曲、扭曲或用力拖拉电源线,如果有重物放置在电源线上或者加热或拖拽电源线时,电源线将会损坏,从而引起火灾或电击的发生。
插回损测量
![插回损测量](https://img.taocdn.com/s3/m/d2e69be2ba0d4a7302763a1b.png)
1光器件的回损测量引言:随着宽带接入如 LTE, FTTX 的应用越来越多,骨干光纤通信带宽越来越大,光纤本身的和光 纤系统中的无源光器件都变得越来越复杂,光纤系统中无源器件的反射对更高速率的通信系统性 能的影响越发显著,人们对光纤无源器件回波损耗指标测试的关注度在持续上升。
光纤无源器件的回损测试方案自光纤通信系统开始就有了,早期的典型测试仪表如:JDSU 公 司的 RX Meter, Agilent 公司的 816xx 系列。
这些测试仪表的共同特点是:测试方法采用标准的连 续光方法,即 IEC 建议的 OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer)法,测量时通常需要用缠 绕光纤的方法消除额外反射,测量回损的范围在 70dB 以下。
随着光纤通信技术的进步,测试仪 表也在发展,使用 OCWR 方法的测试仪技术非常成熟,随着竞争产品的越来越多,这两种仪表都 早已停止生产。
使用 OCWR 方法测量回损存在许多限制,如:测试步骤多,需要过程复杂的系统校“零”, 不能一次连接进行插损/回损的测试,不能区分瑞利散射和菲涅尔反射回损,只适用于≤55dB 的 回损测量等[1]。
另一方面,由于这些限制,在很多应用场合下不适合或者无法使用 OCWR 法进行测量,如: 无法弯曲也不允许破坏接头的光缆接头盒,特种光缆,MPO 接头等。
图 1:无法弯曲的光纤接头 为了解决这些问题,我们需要采用其他的回损测量方法,如 OTDR 法。
为了比较 OCWR 和OTDR 两种测量方法,让我们首先回顾一下回损测试的原理以及 IEC61300‐3‐6 对回损测试方法的描 述。
1. 原理和测量方法1.1 回损的来源按照 IEC61300‐3‐6 的定义,回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射 光功率[mW]与入射光功率[mW]的比值。
23⎛ P ⎞ 即: RL = 10 ⋅ log ⎜ r⎜ ,回损的值是正的。
G&H3000A型光插回损测试仪工作原理
![G&H3000A型光插回损测试仪工作原理](https://img.taocdn.com/s3/m/62d08f38580216fc700afd51.png)
G&H3000A型回损仪测试原理分析引言:随着光纤通信的发展,高速光纤传输系统的广泛生产和应用(如SDH、大功率CATV 等),必须具有很高的回波损耗,DFB激光器由于其线宽窄,输出特性很容易受回波损耗的影响。
从而严重影响系统的性能,即使是普通的激光器,也会不同程度地受回波损耗的影响,因此,系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。
关键词: 回波损耗菲涅尔反射瑞利散射偏振敏感性匹配负载1.回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时,总有部分光被反射回来,光器件中回波主要由菲涅尔反射(由于折射率变化引起)、后向瑞利散射(杂质微粒引起)以及方向性等因素产生的,则该器件的回波损耗RL为:RL(dB)=-10lg(反射光功率/入射光功率) (1)回波损耗的测试方法有基于OTDR和光功率计测试两种,OT DR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布,且不需要末端匹配(短光纤仍需匹配),但成本高,重要的是某些场合不能使用(例如:光探测器的回波损耗测试等),如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-3 01型回波损耗测试仪。
光功率计法主要将被测器件反射回来的光分离出来引导至光功率计,简单实用,应用范围广,使用时须进行末端匹配。
本文主要介绍光功率计法测试的原理。
光功率计法回波损耗测试基本原理框图如下:图1光功率计法基本原理框图激光经光模块注入到被测器件,反射光再经光模块引导至光功率计,测试方法分为4步:a.测试端连接校准件测出反射功率值Pref,若光源输出功率为PL,光模块衰减系数为k,校准件反射率为Rref,则:Prel = PL.k.Rref +Pp (2)其中,Pp为附加反射功率(指光模块内部及测试端连接器的反射等)b.测出附加反射功率Pp:将测试端进行匹配,使得测试端反射功率为0,即可测出附加反射功率Pp。
c.测试端连接被测器件,测出反射值PmeasPm eas =( PL×k) R被测+Pp (3)R被测为被测器件反射率。
《插回损测试仪》word版
![《插回损测试仪》word版](https://img.taocdn.com/s3/m/cff40aa4964bcf84b8d57b73.png)
插回损测试仪1、概述------------------22、技术指标--------------33、组成------------------44、功能说明--------------45、使用说明--------------56、维护及保养-----------157、质量保证-------------151 / 11.概述YW-B330i插回损测试仪是玉炜科技集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。
它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。
YW-B330i实现光源模块与光功率计模块的波长联动,有效减少操作步骤,还可以对损耗测量设定限定值,不同颜色显示测试数据,一目了然。
是光通信系统研究、开发和生产、维护等部门必备的基本测试仪器,也是光器件性能指标、光纤光缆及光无源器件性能测试的理想测试工具。
2.技术指标3.组成1.YW-B330i插回损测试仪----------------------1台2.操作说明书--------------------------------------1本3.FC/SC/ST/2.5通用/1.25通用接口--------1套4.保险丝(1A)-----------------------------------2只5.电源线(250V10A)----------------------------1根6.清洁棉签------------------------------------------1包4.功能说明按键说明标识 功能 λ 更改测试波长 Ref 测试插损时光源归零 BL 测试回损时归零 dBm/dB 切换功率显示单位 Set 进行损耗限定值设定 +损耗限定值设定时数字加操作光源输出口(单模)FCAPC 光源输出口(多模) FC-UPC测试接口插损显示回损显示-损耗限定值设定时数字减操作Enter损耗限定值设定时确认操作5.使用说明(1)选择标准跳线(下面简称标线)。
回损测量方法的比较
![回损测量方法的比较](https://img.taocdn.com/s3/m/5e8565046c175f0e7cd1371b.png)
光回损测量方法的比较光回损测量有两种方法:OTDR法和OCWR法,这两种方法都是IEC61300-3-6建议的方法。
下面描述了两种方法的测量灵敏度差异和如何使用两种方法得到相同测试的结果。
OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometry) 回损测量法具有很长的历史,是最接近RL定义的测试方法,根据IEC61300-3-6的描述,OCWR法适合测量≤55dB的回损类型。
OTDR法由于使用方便,无需缠绕,可以测量更大动态范围(>55dB),测试速度快等优点受到更多欢迎。
在讨论任何RL测试结果前必须强调,适当的检查和清洁是取得准确测试结果的前提,连接问题是我们大多数时间得到得到异常结果的原因。
只有在恰当的连接下才能准确测量到RL,RL的值会由于每次连接时连接表面的微小变化而受到影响。
图1: JDSU 基于OTDR法的插回损仪表回损来源回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射光与入射光功率的比值。
对于所有的RL测量,对于所有测量方法,DUT长度的定义是关键。
举例如下:对于两种方法,长度或者光路径的定义不同,反射反射是由于光从一种介质进入另一种折射率不同的介质造成的。
菲涅尔现象描述了这种反射因此通常称为菲涅尔反射。
对于光接头,造成反射的原因是机械接头的空气气隙、中心对齐误差和污染造成的微小颗粒。
图1 是两个个光纤接头通过适配器连接,接头连接的地方产生了由于局部不连续引起的回损。
图 2 : 光纤接头的局部,连接处产生了菲涅尔反射散射光束在光纤中前向传播时,遇到光纤中的不连续点会产生散射,产生不连续点的可能是制作光纤材料的杂质、微小的空气气隙甚至机械拉伸。
散射有许多种,最常见的是瑞利散射,其强度与光波长的4次方成反比。
瑞利散射和菲涅尔反射的主要差别是瑞利散射存在于整个光路径上。
举例说明:普通的2米长SMF-28单模光纤的回损是 69 ~ 70dB. 当我们比较两种回损测量方法时这个特征对于我们的比较十分重要(1)。
插回损测试使用简易说明
![插回损测试使用简易说明](https://img.taocdn.com/s3/m/095edc4b2e3f5727a5e96275.png)
插回损测试使用简易说明1.功能说明前面板说明(前面板图)1.内部光源波长值。
2.回损通道光功率值(单位: dBm)。
3.回损测量值(单位: dB)。
4.光源输出接口及防尘帽。
5. Laser: 激光器波长选择键6. Zero: 归零键,测量前回损值归零7. Ref: 标定键,校准回损参考值8. BL/Hold背光键: (背光选择,去除插损通道暗电流)9.Λ: 波长键(插损通道波长切换键)。
10.dB/w: 归零键。
(插损单位切换键。
长按dBw键约3秒可切换到w单位)。
11.光功率计接口及防尘帽。
12.插损测量值。
13.插损通道光功率值(单位: dBm)。
14.插损波长值。
15.插损显示区。
(右边)16.回损显示区。
(左边)一、测试前的清零、标定1.测量前,将光路回损标定。
(此步骤必须使用APC-PC的标线)(1)把标线APC端插入光源输出接口(左边),末端插入光功率计接口(右边)如下图(2)此时回损测量值显示应该是14.8dB,如果该值在14dB到17dB之间可以视为正常值。
由于系统与器件造成的误差,可以修正也可以不修正。
(3)修正:长按Ref键,则左屏中间行显示REF?,再按λ键确认,则左屏下方显示14.8,标定完成。
如果测量双波长,按Laser键切换光源波长进行标定。
2.测量前,将光路回损归零。
目的将标线末端之前的回损归零。
缠绕的目的是阻止光传输到标线的末端。
(1)按Laser键切换光源波长,把标线的APC端(即始端)接到光源输出接口。
(2)用缠绕棒(建议使用直径3到5mm圆棒)缠绕标线的另一端(即末端),密绕5圈。
(3)此时回损通道光功率值(左边第二行),应该在-60dBm到-70dBm之间。
(4)按Zero键。
回损屏显示如下图(如果测量双波长,按Laser键切换光源波长,再按下Zero键)。
(如下图)(5)按REF,显示EEE1,再按REF,则回损屏幕显示如下。
回损清零完成。
3.测量前光路插损归零。
插损回损仪说明书(双屏幕)中文
![插损回损仪说明书(双屏幕)中文](https://img.taocdn.com/s3/m/bde5cc4fe518964bcf847c0f.png)
ORL-3.1 光纤插损回损测试仪主要特点如下: l LCD 直接显示测试参数和数据 l 插损分辨率 0.01dB l 回波损耗测量范围达 73dB l 专业通用连接头,适配 FC、ST、SC、LC 各型跳线 l 可选工作波长 1310/1550nm l 定标简单,测量便捷
产品型号 : 产品序列号: 购买日期 : 用户名称 : 电 话: 地 址: 邮政编码 : 盖 章:
产品保修卡
传 真: E—mail:
(请保留此联,剪下下联并在此基础上寄出) (请沿虚线剪下并寄回本公司)
产品型号 : 产品序列号: 购买日期 : 用户名称 : 电 话: 地 址: 邮政编码 :
传 真: E—mail:
5.1 插入损耗测量………………………………………………………7 5.2 回波损耗测量………………………………………………………7 六、跳线测量………………………………………………………………8 七、注意事项………………………………………………………………10 八、使用维护………………………………………………………………10 九、保修须知………………………………………………………………11
SC/APC SC/APC
SC/APC
过渡跳线 FC-SC 转换器 标准跳线 标准 SC-SC 适配器 被测跳线 图 10:SC/APC 跳线的测量连接
在测量的过程中,也可以选择使用特殊的 FC/APC-SC/APC 特殊转接跳线 代替图 10 中的过渡跳线和 FC-SC 转换器,然后选择相应标准跳线测量。
④ 、Hold 保持回损测量结果(方便做记录)。
⑤ 、λ
免缠绕式光插回损测试仪校准规范建议书
![免缠绕式光插回损测试仪校准规范建议书](https://img.taocdn.com/s3/m/bfd9cf3d02d8ce2f0066f5335a8102d276a261de.png)
附件:电子行业计量技术规范项目建议书光时域反射法是一种基于光脉冲反射的测试技术,测量示意图如图2所示:距离图2光时域反射法基于光时域反射的回波损耗测量仪不仅可以准确定位到被测件的位置,还具备很多优点如:光路上非被测件的反射对其测量结果影响较小,有较高的动态范围,不需要末端缠绕,可以区分瑞利散射和菲涅尔反射和与光开关一起能实现大规模复杂的测试要求等。
使用OCWR方法测量回损存在很多的限制,比如:测试步骤多,需要过程复杂的系统校“零”,不能一次连接进行插损和回损的测试,不能区分瑞利散射和菲涅尔反射,不适合>55dB以上的回损测量等等。
由于这些限制使得OCWR方法不适合一些特定场景的回损测量,如:无法弯曲和不能破坏接头的光缆接头盒,特种光缆和MPo光纤等。
1.适用范围本规范适用于基于光时域反射技术的免缠绕式光插回损测试仪的计量校准。
2.计量特性典型的免缠绕式光插回损测试仪的外观及指标:(1)制造厂:嘉慧、型号:JW8307A:范围和主要计量特性(2)制造厂:Dimension>型号:R1M1112A-1FA/R1M5156A-1FP:(3)制造厂:OPTOTEST、型号:OP940:Return1ossSourceWaveIengthCaM)rx∙dMeasurementRang e[MeasurementUnejrityBIOnm.155Onm1490nm∙.1625nm∙.IOdBto-SOdBt1dB(∙12d8to∙72dB)850nm,1»0nm40dBto∙⅞8dβt1dBH0dBto∙45<JB)upto2S00meters1.7meters(bothref1ections<∙4SdB)Ma∩dre1-ffeeminimumIdbwnee∙fΠXor⅜Insertion1ossD⅛uncttony__________,Xor wgftcħan∩f∣tyτwfm.∙∙0wrJΛot√4法a mar changt o/rc∙∙∙Rx1.2.0v*dΛτwn参考典型仪器及标准中免缠绕式光插回损测试仪的技术要求,计量特性如下:2.1插入损耗波长范围:单模131Onm、1490nm>155Onm和1625I1m;多模850nm和1300nm;插入损耗测量范围:(0〜60)dB;最大允许误差:(0〜1)dB:÷0.05dB,(1〜5)dB:±0.1OdB,>5dB:±0.20dB;2.2回波损耗波长范围:单模131Onm、1490nm>155Onm和1625nm;多模850nm和1300nm;回波损耗:单模(12〜75)dB,多模(10〜55)dB;最大允许误差:单模(12〜70)dB:÷1dB,(70〜75):+2dB;多模(15〜50)dB:÷1dB,(50〜55):±2dBo2.3长度测量范围:3m~2.5km;最大允许误差:±(1.5m+1%x长度)。
插回损校准说明
![插回损校准说明](https://img.taocdn.com/s3/m/fd698b8d02d276a200292e63.png)
TL100校准说明TL100的校准分为3个部分:光源模块校准,功率模块校准,回损模块校准。
一、光源模块校准步骤:图11.开机后,按图1用一根APC/APC的跳纤将TL100面板的RL输出口和功率计连接起来。
2.将串口的USB端连接到电脑主机上,另一端接到P1对应的RX、TX、GND的位置,设置TL100和功率计的波长为1310nm,调节滑动变阻器R54使功率计显示的功率值为0dBm,记下串口显示的ADC值和功率计显示的功率值,利用公式校准值=10*log10(校准点时测得的ADC)-(外部功率计在校准点的值),计算出功率校准值填入程序中Power_Caliration_1310之后。
切换1550nm后计算的校准值填入程序中Power_Caliration_1550之后。
二、功率模块校准步骤:图21.开机后,按图2连接仪器。
2.设置光源、光衰减器、TL100的波长都为1310nm,调节光衰减器,使功率显示在+10~0、0~-10、-10~-20、-20~-30、-30~-40、-40~-50不同的档位中的某个值,分别利用公式:校准值=10*log10(校准点时测得的ADC)-(外部功率计在校准点的值)计算出不同档位的功率参数填入对应的功率档位OPM_Caliration_1310_RankX之后。
3.用黑色物体挡住或用黑色帽子盖住IL端口,记下此时ADC的值即为暗电流校准参数,并将其填入程序Dark_Current_Caliration_1310之后。
4.调节光衰减器,使功率显示在-50~-70dB档位中的某个值,利用公式:校准值=10*log10(校准点时测ADC-暗电流校准参数)-(外部功率计在校准点的值)5.更换1550nm,进行类似操作。
三、回损模块校准步骤:参考回损校准1.开机后将波长设置为1310nm,按图3(a)接一根11dB左右回损的校准纤(用标准回损仪进行测试)。
2.将挡位切换程序切换到1档,打开曲线图,调节1档的滑动变阻器R33(约为270Ω)使11dB器件峰值不平顶,同时观察REF1的峰值信噪比大于20dB,否则更换REF1。
十大网络测试仪品牌排行榜网络测试仪哪个牌子好
![十大网络测试仪品牌排行榜网络测试仪哪个牌子好](https://img.taocdn.com/s3/m/89c22d29700abb68a882fb93.png)
十大网络测试仪品牌排行榜网络测试仪哪个牌子好网络测试仪通常也称专业网络测试仪或网络检测仪,是一种可以检测OSI模型定义的物理层、数据链路层、网络层运行状况的便携、可视的智能检测设备,主要适用于局域网故障检测、维护和综合布线施工中,网络测试仪的功能涵盖物理层、数据链路层和网络层。
那么有哪些网络测试仪品牌呢?高端营销推广平台鹿豹座就来为你盘点一下。
福禄克福禄克(Fluke)公司是世界电子测试工具生产、分销和服务的领导者。
福禄克公司于1948年成立,作为丹纳赫集团的全资子公司,福禄克是一个跨国公司,总部设在美国华盛顿州的埃弗里德市,工厂分别设在美国、英国,荷兰和中国。
销售和服务分公司遍布欧洲、北美、南美、亚洲和澳大利亚。
福禄克公司已授权的分销商遍布世界100多个国家,雇员约2400人。
比特比特TVR1000K验证网线实际性能(10M/100M/1000M)显示网络设备端口速度、双工和数据信号等级,在线检测网络设备与电脑之间问题,检测网线物理层故障(开路、短路、短路、串绕等)检测并显示网线电气指标(衰减、近端串扰、远端串扰、传播延迟、延迟偏移等)网线故障点定位和长度测试,配备音频寻线器用于查找和定位线缆走向。
赛博可以让网络和布线工作人员快速而准确地定位那些位于配线架上、机柜中或者已经连接到交换机、集线器等网络设备上的线缆。
CTK1015可以使用三种不同的闪烁频率闪亮网络设备的端口指示灯,这样既不会中断网络的使用,又可以迅速发现和定位已经连接到网络设备上的网线。
奈图尔北京奈图尔通讯科技有限公司创办于北京中关村高科技园区,集合了一支具有创新与开拓精神的工程师队伍,是国内首家以便携式网络检测设备为主导产品的高新技术企业,专注于研制和生产优质、坚固、易用的网络检测设备,致力于在便携式网络监测与检测设备领域成长为一流水准的供应商。
达迪柳州达迪通信技术股份有限公司成立于1992年,注册资金3000万元;是国内最早研制、生产通信测试设备仪表及通信监控系统软件的专业厂家,国家认证的高新技术企业和软件企业。
JW8301插回损测试仪使用说明书
![JW8301插回损测试仪使用说明书](https://img.taocdn.com/s3/m/d3fa16544531b90d6c85ec3a87c24028905f8577.png)
JW8301插回损测试仪使用说明书(V180521)2018.05目录1概述 (1)1.1 产品描述 (1)1.2 主要特点 (1)2技术指标 (2)3配置 (3)3.1标准配置 (3)3.2 选型配置 (4)4 整机外观说明 (5)4.1整机外观 (5)4.2前面板外观 (5)4.3仪器工作模式 (6)4.4后面板外观 (8)5 功能描述 (8)5.1按键功能描述 (8)5.2主菜单功能描述 (10)5.3子菜单设置 (10)6规格定义 (12)6.1动态范围 (12)6.2线性度 (12)6.3回损测试范围 (12)6.4回损测试精度 (12)6.5开机稳定时间 (12)6.6建议校准周期 (13)6.7仪器、环境 (13)6.8预热JW8301 (13)7使用说明 (13)7.1插入损耗测试 (13)7.2插损测试 (15)7.2回波损耗测试 (16)7.3 插回损同时测试 (18)7.4输出光源及光功率测量 (19)8维护及保养 (21)8.1探测器维护 (21)8.2连接器的清洁和保养说明 (21)9质量保证 (22)1概述1.1 产品描述JW8301系列插回损测试仪是针对CWDM器件、多波长器件、PLC、光纤跳纤等无源光器件插损回损检测的专业设备。
是嘉慧公司结合多年光无源器件检测经验的新一代精密光检测仪表,配置有红光或850光源功能,支持阈值判定、自动多波长检测、系统集成、二次开发、上位机解决方案等。
1.2 主要特点1)支持2波长、3波长、4波长插损回损检测;2)支持一路红光源或一路850多模光源;3)支持多波长自动测试及显示;4)可选波长数量同时显示测试;5)提供OPM、IL、RL、IL2、ILRL等多种工作模式;6)提供高精度光功率计模式,测试范围达+5dBm~-80dBm;7)提供USB/RS232满足不同需求;8)丰富的阈值设置、告警功能;9)光功率计部分可选积分球配置;10)光功率计部分可选外置探头配置(适应裸光纤夹具);11)功能强大的光器件应用软件;2技术指标光功率计部分光源部分主机部分注意(NOTES):①光功率计部分选用InGaAs为探测元件,其测试的波长为850~1700nm。
一种LC光纤适配器插入损耗检测装置
![一种LC光纤适配器插入损耗检测装置](https://img.taocdn.com/s3/m/c097fef664ce0508763231126edb6f1afe00717e.png)
本实用新型公开了一种LC光纤适配器插入损耗检测装置,包括检测装置、检测工位和驱动机构,所述检测装置包括LC光纤测试头、连接架和滑动板,所述LC光纤测试头固定安装在滑动板的上端面头部,本实用新型有效的解决了现有的LC光纤适配器插入损耗检测主要采用人工测试,使用插回损测试仪、标准跳线等工具进行测试,手动检测效率低,无法满足LC适配器大规模生产需要,通过对控制气缸来达到将LC光纤测试头插入适配器两个端口中的目的,并且将跳线另一端分别接入到测试仪,通过对检测工位和翻转机构的结构设置来便于适配器进行换向使用,从而可以实现适配器插入损耗互换性测试。
1、一种LC光纤适配器插入损耗检测装置,包括检测装置(1)、检测工位(2)和驱动机构(3),其特征在于:所述检测装置(1)包括LC光纤测试头(11)、连接架(12)和滑动板(13),所述LC光纤测试头(11)固定安装在滑动板(13)的上端面头部,所述连接架(12)垂直安装在滑动板(13)的下端面,且连接架(12)与滑动板(13)滑动连接,所述检测工位(2)包括稳定卡接架(21)和翻转机构(22),所述稳定卡接架(21)安装在对称的检测装置(1)之间,所述翻转机构(22)固定安装在稳定卡接架(21)的下端,所述驱动机构(3)包括伸缩气缸(31)和旋转气缸(32),所述伸缩气缸(31)固定安装在连接架(12)上,且伸缩气缸(31)的输出端与滑动板(13)相连接,所述旋转气缸(32)固定安装在翻转机构(22)的下端,且旋转气缸(32)输出端与稳定卡接架(21)相连接。
2、根据权利要求1所述的一种LC光纤适配器插入损耗检测装置,其特征在于,所述LC光纤测试头(11)包括陶瓷插芯(111)和跳线(112),所述陶瓷插芯(111)固定在滑动板(13)的头部,且跳线(112)一端与LC光纤测试头(11)电性连接,另一端与测试仪的光源输出口和光功率探测输入口电性连接。
3、根据权利要求2所述的一种LC光纤适配器插入损耗检测装置,其特征在于,所述连接架(12)包括支架(121)和固定架(122),所述支架(121)固定设置在检测装置(1)的下端,所述固定架(122)通过螺栓固定在支架(121)的上端面头部。
插回损测试仪
![插回损测试仪](https://img.taocdn.com/s3/m/1a426b1c5f0e7cd18425365b.png)
插回损测试仪1、概述------------------22、技术指标--------------33、组成------------------44、功能说明--------------45、使用说明--------------56、维护及保养-----------157、质量保证-------------1511.概述YW-B330i插回损测试仪是玉炜科技集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。
它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。
YW-B330i实现光源模块与光功率计模块的波长联动,有效减少操作步骤,还可以对损耗测量设定限定值,不同颜色显示测试数据,一目了然。
是光通信系统研究、开发和生产、维护等部门必备的基本测试仪器,也是光器件性能指标、光纤光缆及光无源器件性能测试的理想测试工具。
22.技术指标光回波损耗测试工作波长1310/1550nm测试范围0 ~ 75 dB校准波长1310/1550nm测试精度0.25dB输出稳定性0.05dB/小时( @ 25℃) 接口类型FC/APC光插入损耗测试校准波长850/1310/1550nm测试范围+3 ~ -80 dBm测试精度0.25dB显示分辨率对数:0.001dB;线性:0.001nw/μW/mW 测试模式线形和非线性接口类型活动接口,FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器总指标电源AC 100-240V工作温度-5℃~+55℃外观尺寸260X265X140mm重量3kg33.组成1.YW-B330i插回损测试仪----------------------1台2.操作说明书--------------------------------------1本3.FC/SC/ST/2.5通用/1.25通用接口--------1套4.保险丝(1A)-----------------------------------2只5.电源线(250V10A)----------------------------1根6.清洁棉签------------------------------------------1包4.功能说明光源输出口(单模)FCAPC 光源输出口(多模)FC-UPC测试接口插损显示回损显示4按键说明标识功能λ更改测试波长Ref 测试插损时光源归零BL 测试回损时归零dBm/dB 切换功率显示单位Set 进行损耗限定值设定+ 损耗限定值设定时数字加操作- 损耗限定值设定时数字减操作Enter 损耗限定值设定时确认操作5.使用说明(1)选择标准跳线(下面简称标线)。
插回损中文说明书(USB)综述
![插回损中文说明书(USB)综述](https://img.taocdn.com/s3/m/4af0997c852458fb770b5653.png)
目录1、概述-----------------------------------22、技术指标-------------------------------33、组成-----------------------------------44、功能说明-------------------------------45、使用说明-------------------------------66、测量数据记录---------------------------87、注意事项和常见故障----------------------98、维护及保养-----------------------------119、质量保证------------------------------121.概述插回损测试仪是集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,精心研制开发出来的一款精密光检测仪表。
它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护基本的测试仪器。
(一)特点(1)测试精度高通过内置高稳定的激光器,最先进的微电子技术和光检测设备,结合软件技术,使得仪器输出功率稳定、检测速度快、测试范围广。
(2)波长自动同步设定在回损模式下,光源与功率计波长同步切换,不需分别设定波长。
功率计模式时,可另行单独设定功率计测试波长。
(3)多种工作模式该测试仪表集成了回波损耗测试、光功率模块测试和插入损耗测试。
(4)操作简单方便回损/插损同步测量,无需按键切换。
回损/插损测试值分别在一台仪器上的两个液晶窗口同时显示,测试结果一目了然。
通过操作“Zero按键”。
和“Ref按键”程序会自动保存相应的校正数据,当仪器断电后再开机,被保存的数据立即生效不需要重复校准,简化测试过程。
(5)人体工学设计仪器采用高质量金属外壳,确保仪器性能不受生产环境下可能存在的电气干扰。
gh3000a型光插回损测试仪工作原理
![gh3000a型光插回损测试仪工作原理](https://img.taocdn.com/s3/m/771ecb774431b90d6c85c76e.png)
G&H3000A型回损仪测试原理分析引言:随着光纤通信的发展,高速光纤传输系统的广泛生产和应用(如SDH、大功率CATV 等),必须具有很高的回波损耗,DFB激光器由于其线宽窄,输出特性很容易受回波损耗的影响。
从而严重影响系统的性能,即使是普通的激光器,也会不同程度地受回波损耗的影响,因此,系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。
关键词: 回波损耗菲涅尔反射瑞利散射偏振敏感性匹配负载1.回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时,总有部分光被反射回来,光器件中回波主要由菲涅尔反射(由于折射率变化引起)、后向瑞利散射(杂质微粒引起)以及方向性等因素产生的,则该器件的回波损耗RL为:RL(dB)=-10lg(反射光功率/入射光功率) (1)回波损耗的测试方法有基于OTDR和光功率计测试两种,OTDR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布,且不需要末端匹配(短光纤仍需匹配),但成本高,重要的是某些场合不能使用(例如:光探测器的回波损耗测试等),如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-3 01型回波损耗测试仪。
光功率计法主要将被测器件反射回来的光分离出来引导至光功率计,简单实用,应用范围广,使用时须进行末端匹配。
本文主要介绍光功率计法测试的原理。
光功率计法回波损耗测试基本原理框图如下:图1光功率计法基本原理框图激光经光模块注入到被测器件,反射光再经光模块引导至光功率计,测试方法分为4步:a.测试端连接校准件测出反射功率值Pref,若光源输出功率为PL,光模块衰减系数为k,校准件反射率为Rref,则:Prel = PL.k.Rref +Pp (2)其中,Pp为附加反射功率(指光模块内部及测试端连接器的反射等)b.测出附加反射功率Pp:将测试端进行匹配,使得测试端反射功率为0,即可测出附加反射功率Pp。
c.测试端连接被测器件,测出反射值PmeasPmeas = ( PL×k) R被测+Pp (3)R被测为被测器件反射率。
插回损测试仪测试原理 -回复
![插回损测试仪测试原理 -回复](https://img.taocdn.com/s3/m/eb4ec70368eae009581b6bd97f1922791688bed6.png)
插回损测试仪测试原理-回复插回损测试仪是一种用来测试电子元器件或电路的损耗的设备。
它可以测量电路中能量的减少,并确定电路中损耗的位置和大小。
在本文中,我们将详细介绍插回损测试仪的工作原理,并逐步解释其如何进行准确的测试。
第一部分:插回损测试仪的概述插回损测试仪是一种用于测量电子元器件或电路中的损耗的仪器。
它通过将被测电路插入到测试仪的输入端和输出端之间,测量电路中的信号损耗。
插回损测试仪通常由一个信号发生器、一个功率计和一个频谱分析仪组成。
第二部分:插回损测试仪的工作原理插回损测试仪的工作原理基于以下两个基本原则:功率传输和功率消耗。
1. 功率传输:当信号从发生器经过测试电路并进入功率计时,被测电路会对信号进行一定程度的干扰。
功率传输是通过测量输入信号和输出信号之间的差异来量化的。
2. 功率消耗:在通过被测电路时,信号的能量会被耗散或转化为其他形式,如热或噪音。
这种能量损耗可以通过测量被测电路输入和输出之间的信号强度来计算。
第三部分:插回损测试仪的测试步骤进行插回损测试时,需要按照以下步骤进行操作:1. 连接测试设备:首先,将测试仪器中的信号发生器与被测电路的输入端连接。
然后将功率计和频谱分析仪与被测电路的输出端连接。
2. 设置测试参数:根据被测电路的特性和测试要求,设置信号发生器的输出频率、幅度和波形。
同时,设置功率计和频谱分析仪的测量范围和分辨率。
3. 校准测试设备:在进行正式测试之前,必须校准测试仪器以确保准确的测量结果。
对测试设备进行校准时,参考测试仪器的用户手册,根据标准参考电路进行校准。
4. 进行测试:一旦测试仪器完成校准,即可开始进行实际的插回损测试。
在测试过程中,信号发生器会产生一个输入信号,经过被测电路后,输出信号将被功率计和频谱分析仪测量。
5. 记录和分析结果:对于每个测试点,记录输入信号的强度、被测电路的损耗以及输出信号的强度。
根据这些测量值,计算出被测电路的插回损耗,并将结果进行分析和比较。
插回损测试仪测试原理
![插回损测试仪测试原理](https://img.taocdn.com/s3/m/75c0af7e590216fc700abb68a98271fe910eafd7.png)
插回损测试仪测试原理插回损测试仪是一种用于测量光纤连接的损耗的仪器。
它通过将光纤连接到测试仪上,并发送光信号通过光纤,然后测量信号在传输过程中的损耗情况。
插回损测试仪的工作原理如下:1. 光源发射光信号:插回损测试仪通常配备有一种光源,如激光二极管或发光二极管。
这个光源会发射出一束光信号,然后将其注入到光纤中。
2. 光纤传输信号:光信号会沿着被测试的光纤传输。
在传输过程中,光信号会遇到各种因素导致的损耗,如光纤的材料损耗、弯曲损耗、接头损耗等。
3. 接收器接收光信号:插回损测试仪通常还配备有一个接收器,用于接收光信号。
接收器会将接收到的光信号转换为电信号,并对其进行放大和处理。
4. 计算损耗值:通过比较发送的光信号和接收到的光信号,插回损测试仪可以计算出信号在传输过程中的损耗值。
一般来说,损耗值以分贝(dB)为单位表示。
插回损测试仪的工作原理可以通过以下实例来说明:假设我们需要测试一段长度为10公里的单模光纤的插回损。
我们首先将光纤的一端连接到插回损测试仪的光源输出端口,然后将光纤的另一端连接到插回损测试仪的接收器输入端口。
插回损测试仪会发射光信号,并将其注入到光纤中。
光信号会在光纤中传输,并在传输过程中遇到损耗。
这些损耗可能是由于光纤的材料损耗、弯曲损耗、接头损耗等因素引起的。
接收器会接收到光信号,并将其转换为电信号。
然后,插回损测试仪会对接收到的电信号进行放大和处理。
通过比较发送的光信号和接收到的光信号,插回损测试仪可以计算出信号在传输过程中的损耗值。
损耗值通常以分贝(dB)为单位表示。
例如,如果发送的光信号功率为-10 dBm,接收到的光信号功率为-20 dBm,则插回损为10 dB。
插回损测试仪的工作原理非常重要,因为它可以帮助我们评估光纤连接的质量。
通过测量插回损,我们可以判断光纤连接是否合格,是否需要进行修复或更换。
此外,插回损测试还可以帮助我们检测光纤连接中的问题,如接头松动、光纤断裂等。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
插回损测试仪1、概述------------------22、技术指标--------------33、组成------------------44、功能说明--------------45、使用说明--------------56、维护及保养-----------157、质量保证-------------1511.概述YW-B330i插回损测试仪是玉炜科技集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。
它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。
YW-B330i实现光源模块与光功率计模块的波长联动,有效减少操作步骤,还可以对损耗测量设定限定值,不同颜色显示测试数据,一目了然。
是光通信系统研究、开发和生产、维护等部门必备的基本测试仪器,也是光器件性能指标、光纤光缆及光无源器件性能测试的理想测试工具。
22.技术指标光回波损耗测试工作波长1310/1550nm测试范围0 ~ 75 dB校准波长1310/1550nm测试精度0.25dB输出稳定性0.05dB/小时( @ 25℃) 接口类型FC/APC光插入损耗测试校准波长850/1310/1550nm测试范围+3 ~ -80 dBm测试精度0.25dB显示分辨率对数:0.001dB;线性:0.001nw/μW/mW 测试模式线形和非线性接口类型活动接口,FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器总指标电源AC 100-240V工作温度-5℃~+55℃外观尺寸260X265X140mm重量3kg33.组成1.YW-B330i插回损测试仪----------------------1台2.操作说明书--------------------------------------1本3.FC/SC/ST/2.5通用/1.25通用接口--------1套4.保险丝(1A)-----------------------------------2只5.电源线(250V10A)----------------------------1根6.清洁棉签------------------------------------------1包4.功能说明光源输出口(单模)FCAPC 光源输出口(多模)FC-UPC测试接口插损显示回损显示4按键说明标识功能λ更改测试波长Ref 测试插损时光源归零BL 测试回损时归零dBm/dB 切换功率显示单位Set 进行损耗限定值设定+ 损耗限定值设定时数字加操作- 损耗限定值设定时数字减操作Enter 损耗限定值设定时确认操作5.使用说明(1)选择标准跳线(下面简称标线)。
根据被测跳线选择不同的标线。
若被测线是PC端面则选5择APC-PC标线,若被测线是APC端面则选择APC-APC标线。
(2)测量前光路插损标定。
按λ键切换至所需波长,把标线的APC端(即始端)接到光源输出接口,让标线线型舒展,把标线的末端插入光功率计接口,按Ref健。
如果测量双波长,按λ键切换光源波长,可按下Ref键。
6(3)测量前光路回损标定。
按λ键切换至所需波长,把标线的APC端(即始端)接到光源输出接口,用缠绕棒缠绕标线的另一端(即末端),按下BL键,此时回损显示区域闪动的数值应该小于等于-60dBm。
如果测量双波长,按λ键切换光源波长,再按下BL键。
(4)测量跳线端面的插损。
用标准适配器把标线的末端与被测跳线的被测端(始端)连接,被测跳线的另一端(末端)插入光功率计接口,此时,插损显示区里的插损测量值就是被测跳线7始端的插人损耗值。
如果测量双波长,按λ键查看另一个波长的插入损耗值.(5)测量跳线端面的回损。
用缠绕棒在靠近被测跳线始端处缠绕,此时,回损显示区里的回损测量值就是被测跳线始端处的回波损耗值。
如果测量双波长,按λ键查看另一个波长的回波损耗值。
8(6)进行下一个测试,只需要重复第(4)、(5)步即可。
(7)若更换标线需要从第(1)步重新操作。
(8)损耗限定值设定:按“Set”键进入损耗限定值设定状态,操作面板上红色指示灯亮;按“+”、“-”键进行数据加减操作,直至所需数值;按“Enter”键确认设定数值,退出设定状态,操作面板上红色指示灯熄灭。
测量数据记录(客户指定订做)(1)把脚踏开关连接到仪表后面板的数据接口,用USB线连接仪表和电脑。
(2)打开仪表电源开关,第一次连接电脑时提示找到新硬件,需要添加USB的驱动程序。
把仪表附带的光盘放入光驱,添加光盘中的USB驱9动程序。
(3)把光盘中的“Loss Meter.exe”文件复制到电脑并运行。
A.Serial Port为PC机USB端口,打开软件后应该先点击“Open Port”B.显示区域,同步显示仪表的插损和回损的信息C.ProductID区域中可以输入产品的编号,默认值:日期。
D.Export Data:将当前记录数据导出,导出格式10为Excell表格形式。
(4)测量过程中,需耍保存差损值和回损值时,将软件界面上的“Insertion Loss”和“Return Loss”前面的选择框打钩,踩下脚踏开关,会先记录插损数据,再次踩下会记录回损数据,然后是下一组数据。
(5)测试完成,点击Export Data保存测试记录。
注意事项和常见故障(1)激光器输出为不可见激光辐射,设备工作时,不可直视光源输出口及连接在光源输出口的跳线端面,避免灼伤眼睛和皮肤。
(2)仪表属于高精密设备,接到光源输出口的标线端面必须是APC端面,并且保持干净无划伤,否则很容易损坏仪表内部的光源输出APC端面11(3)测量前,建议使用光纤放大镜检测所有光纤端面,并用专用清洁器具清洁端面。
(4)建议使用1米长标线。
(5)缠绕棒建议使用直径约3到8毫米圆棒,缠绕圈数最少5圈。
(6)如果使用APC-PC的标线,在做完“测量前光路插损归零”这步后,把标线末端从光功率接口拔出,此时回损测量值显示应该在14dB到17dB之间可以视为正常值。
如果该值大于17dB 或小于14dB,原因如下:12A.标线没有线型舒展平稳。
B.标线末端面有污渍,需要清洗端面。
C.标线末端面已经划伤,需要更换新标线。
D.标线始端面有污渍,需要清洗端面。
E.标线始端面已经划伤,需要更换新标线。
F.仪表内部光源输出口端面有污渍,拆卸输出口清洗端面(7)在做“测量前光路回损标定”这步时,按下BL键,回损显示区域闪动的数值如果大于-60dBm,说明此时光路回波功率值过大,原因如下:A.缠绕不合格,缠绕棒过粗,缠绕的圈数不够。
B.用光纤放大镜检查标线的始端是否有污渍,是否划伤。
13C.标线由于不规范缠绕.可能已经损坏,更换新标线。
D.如果确定标线没有问题,检查仪表内的APC端面足否有污渍,是否划伤。
旋下光功率输出口的旋钮,轻轻拔出光纤,用光纤放大镜检查端面。
6.维护及保养1、插回损测试仪应在无明显震动的情况下工作;2、保持光源输出接口以及仪表测试接口端面清洁,不使用不清洁、非标准的光接头;3、插回损测试仪不用时,请盖上防尘帽;4、请小心插拔光接头;5、请定期清洁光源输出接口以及仪表测试接口,清洁时请使用专用棉签轻轻擦拭;6、轻拿轻放,防止插回损测试仪跌落、碰撞。
147、质量保证我们不赞成用户自行修理YW-B330i。
7.1仪表保修期自交货之日起十八个月内。
玉炜科技将对其所有产品的物料及工艺承诺,保修期为发货至用户收到之日起十八个月内有效。
当购买的产品在此期间被发现有质量问题,玉炜公司会做出适当的修理或更换的。
但在任何情况下,玉炜公司的责任是不会超出该产品的购买价。
7.2 如果仪表在使用过程中出现问题,根据常见故障提示的解决方法仍无法解决,用户不得擅自打开机壳,请与公司市场部及各地代理商联系。
7.3对于因生产缺陷而造成的质量故障,我司负责免费维修或更换仪表,此保证仅适用于仪表的正常使用,而且无损坏或使用不当的条件下。
15YW-B330i的保修并不包括由以下原因引致的问题/故障:1、对仪器进行无授权修理或修改2、非恰当使用、疏忽使用、或意外等保修单Warranty Registration随同玉炜的产品均有一张公司的保修单(warranty registration card)。
请您填好后连同购置发票复印件一起寄回玉炜公司市场部,以便日后我们需要对你的仪器进行维护、技术升级、校准等事情时,有一个原始记录。
16上海玉炜电子科技有限公司产品保修卡产品型号:产品序列号:购买日期:用户名称:电话:传真:地址:邮政编码:E-mail:盖章:(请保留此联,剪下下联并在此基础上寄出)…………………(请沿虚线剪下并寄回本公司)产品型号:产品序列号:购买日期:用户名称:电话:传真:地址:邮政编码:E-mail:备注:用户请在购货后一月内,将此部分寄回本公司方为有效。
17上海玉炜电子科技有限公司保修须知保修期:自购买之日起18个月内保修条款:一、保修期内,在正常状态下使用本产品而发生的故障,用户可以出示本保修卡和发票或收据(复印件),可享受无偿维修服务。
二、下列情形,需要付费维修,视情况收取一定的材料费、维修费及运费;1、在正常状态下使用本产品而发生的故障,但已超过保修期范围者。
2、未出示本保修卡,保修卡遗漏、涂改或未填写清楚者。
3、非正常状态下使用,例如人为损坏,或高温、高压、潮湿等非正常状态下使用,正常视损坏情况付费维修。
4、非产品本身质量问题而造成的故障和损坏。
5、未按照说明书中的使用方法和注意事项而造成的故障和损坏。
三、下列情况,本公司不予维修:1、未经本公司同意,对仪器进行无授权修理或修改。
2、非本公司生产、销售的产品。
18。