过零检测电路
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
过零检测电路如下，光耦我用的pc817
检测过零点，然后输入单片机INT0 ，过零后单片机中断延时，来控制可控硅光耦MOC3061导通时间，隔离后控制双向可控硅，负载用的是交流单相电机。但是调节到一定速度（低速时）电机会出现抖动，这是
什么原因？电路与下图相似
单片机程序如下：
#include
unsigned char time;
sbit bb1=P2^0;
sbit key1 = P2^4;
sbit key2 = P2^5;
sbit key3 = P2^6;
sbit key4 = P2^7;
unsigned char k;
void delay(unsigned int t) // 延时子程序，入口参数ms,延迟时间=t*1ms,t=0~65535 {
unsigned char j; //j=0~255
while(t--) //t的值等于while()下面{}的语句执行的次数
{
for(j = 0; j < 30; j++);//j进行的内部循环，j=j+1,每执行一次加1，大约消耗单片机处理时间//8us,那么执行一次for()，注意for()后面加了分号。大约消耗CPU 8us*125=1000us=1ms
}
}
void int0() interrupt 0
{
TR0=1;
}
void PWM (void)
{
if(key1==0) //按下相应的按键
{
k=0;
}
else if (key2==0) //按下相应的按键
{
k=10;
}
else if (key3==0) //按下相应的按键
{
k=15;
}
else if (key4 ==0) //按下相应的按键
{
k=30;
}
}
void timer0() interrupt 1
{
TH0=(65536-3000)/256;
TL0=(65536-3000)%256;
time=0;
}
void main()
{
bb1=1;
time=1;
TMOD=0x01;
TH0=(65536-3000)/256;
TL0=(65536-3000)%256;
EA=1;
PT0=1;
EX0=1;
IT0=1;
ET0=1;
k=0;
while(1)
{
if(time==0)
{
time=1;
PWM();
bb1=0;
delay(k);
bb1=1;
TR0=0;
}
}
}