实验二组合逻辑电路实验(半加器、全加器)教材

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1 实验目的 2 实验设备 3 实验内容与步骤
掌握 验证 学会
实验目的
组合逻辑电路的功能测试
数 法半字加电器路和实全验加箱器及的示逻波辑器功的能使用方 二进制数的运算规律
实验设备
序号 名称
型号与规格 数量
1 数字电路实验箱
THD-1
1
2 二输入四与非门
74LS00
3
3 二输入四异或门
74LS86
0
0
1
1
1
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
1
输出
Y1
Y2
(1)按上图接线(注意数字编号与芯片管脚编号对应) (2)写出Y2的逻辑表达式并化简。 (3)图中A、B、C接实验箱下方的逻辑开关,Y1,Y2接实验箱上方的电平显示发光管。 (4)按表格要求,拨动开关,改变A、B、C输入的状态,填表写出Y1,Y2的输出状态。 (5)将运算结果与实验结果进行比较 。
输入
Ai
Bi
Ci-1
0
0
0
输出
Si
Ci
0
0
1
0
1
0
0
1
1
1
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
1
认真复习,加强练习, 巩固成果,学以致用!
Goodbye!
实验步骤
1、检查芯片完好
每个小组在数字电路试验箱上找到本次实验所需要的芯片 ,并查看芯片形状是否完好,芯片管脚有没有插牢。
2、查看数字电路实验箱
74LS86
74LS00
3、了解芯片
芯片管脚示意图
4、实验内容与结果(一)
1.组合逻辑电路功能测试 (选用芯片74LS00)
输入
A
B
C
0
0
0
0
0
1
0
1
5、记录实验结果(二)
2.用异或门(74LS86)和与非门(74LS00)组成的半加器电路
输入
A
B0001101
1
输出
Y
Z
(1)在数字电路实验箱上插入异或门和与非门芯片。输入端A、B接逻辑开 关,Y,Z接电平显示发光管。 (2)按表格要求,拨动开关,改变A、B输入的状态,填表写出y、z的输出 状态,并根据真值表写出y、z逻辑表达式。
5、记录实验结果(三)
3.全加器组合电路的逻辑功能测试
Ai
Bi
Ci-1
Y
0
0
0
0
0
1
0
1
0
0
1
1
1
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
1
Z
X1
X2
X3
Si
Ci
5、记录实验结果(四)
F AB AC BC
自己设计实现逻辑函数,给出逻辑电路连接图,并连接调试。
5、记录实验结果(选做)
(1)画出用异或门、或非门和与非门实现全加器的逻辑电路图,写出逻辑表达式。 (2)找出异或门、或非门和与非门器件,按自己设计画出的电路图接线,注意:接 线时,或非门中不用的输入端应该接地。与非门中不用的输入端应该接VCC。 (3)当输入端Ai Bi Ci-1为下列情况时,测量Si和Ci的逻辑状态并填入表格中
1
4 二输入端四或非门 74LS02
1
实验内容与步骤
1. 组合逻辑电路功能测试 2.用异或门(74LS86)和与非门组成的半加
器电路 3.全加器组合电路的逻辑功能测试 4. 用与非门实现逻辑函数 F AB AC BC *5.用异或门、或非门、与非门组成的全加器
电路的逻辑功能测试(选做)
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