VLSI高层次综合中可测性和低功耗设计方法研究的开题报告

VLSI高层次综合中可测性和低功耗设计方法研究的开题报
告
1.研究背景和意义：
随着半导体加工工艺和设计技术的不断发展，集成电路的规模和复杂性越来越高，这导致了测试和低功耗设计成为了VLSI设计中不可或缺的一个领域。

在这个背景下，可测性和低功耗设计逐渐成为了VLSI高层次综合的研究热点。

在VLSI设计中，可测性是指能够通过一定的测试方法定位到芯片中的故障点，
从而提高芯片测试的效率和可靠性。

低功耗设计则是指在保证芯片功能的情况下，尽
可能地减小芯片的功耗。

可测性和低功耗设计不仅可以提高芯片设计的质量和效率，
还能够降低芯片的制造成本和环境污染。

2.研究内容和方法：
本研究旨在探究在VLSI高层次综合中可测性和低功耗设计的方法和实现技术。

具体来说，本研究将从以下几个方面展开：
（1）可测性增强方法：研究采用扫描链、BIST、Boundary Scan等现有的可测
性增强方法，进一步提高芯片的可测性，在设计的早期阶段解决可测性问题。

（2）功耗优化方法：研究低功耗设计的常用技术，如时钟门控、多电压域设计、功耗管理仿真、时序优化等方法，寻找实现芯片低功耗设计的最佳方法，并优化到达
清晰的芯片效果。

（3）高层次综合算法：研究高层次综合算法和工具，通过对算法和工具进行分
析和比较，寻找最能实现可测性和低功耗设计的高层次综合算法。

（4）实验验证：将上述方法应用于实际电路设计中，验证在可测性和低功耗方
面所取得的效果，并分析实验结果得到上述方法的实用性和优越性。

3.预期成果和意义：
通过本研究，预期得到以下成果：
（1）深入探究VLSI高层次综合中可测性和低功耗设计的方法和实现技术，为VLSI设计提供相应的研究方法和理论基础。

（2）通过对可测性增强方法和功耗优化方法的研究和实验验证，提高芯片测试
效率和可靠性，同时减小芯片功耗，降低制造成本和对环境的污染。

（3）通过对高层次综合算法的研究和比较，为VLSI高层次综合提供可行性和有效性的算法和工具。

（4）为下一步VLSI设计研究提供理论基础和实用工具，并具有一定的推广应用价值。