基于散斑干涉法的温度测试
电子散斑干涉实验报告
电子散斑干涉实验报告电子散斑干涉实验报告引言:电子散斑干涉实验是一种经典的物理实验,通过电子的干涉现象展示了波粒二象性的特性。
本实验旨在通过观察电子的干涉图案,深入了解电子的波动性质,并探讨干涉现象的原理。
实验器材与原理:本实验所需的器材包括电子枪、狭缝、屏幕和电子探测器。
电子枪通过电子的发射,产生电子束;狭缝用于调节电子束的宽度和方向;屏幕用于接收电子束,并观察干涉图案;电子探测器用于测量电子的强度。
实验过程:首先,将电子枪与电子探测器连接,将电子枪的电压调至适当的值,以确保电子能够发射。
然后,将狭缝放置在电子枪和屏幕之间的适当位置,并逐渐调节狭缝的宽度,观察屏幕上的干涉图案的变化。
最后,使用电子探测器测量不同位置的电子强度,并记录下来。
实验结果与讨论:在实验中,我们观察到了明暗相间的干涉条纹,这些条纹是由电子的波动性质引起的。
当电子通过狭缝时,它们会发生衍射,形成一系列的圆环状干涉条纹。
这是因为电子的波长与狭缝的大小相当,导致电子在经过狭缝后发生干涉。
通过调节狭缝的宽度,我们可以观察到干涉图案的变化。
当狭缝较宽时,干涉条纹较模糊,圆环状的条纹不太明显。
而当狭缝较窄时,干涉条纹变得更加清晰,圆环状的条纹更加明显。
这是因为狭缝的宽度决定了电子波束的展宽程度,狭缝越窄,电子波束的展宽越小,干涉条纹就越清晰。
此外,我们还测量了不同位置的电子强度。
我们发现,在干涉条纹的暗纹处,电子强度较低;而在干涉条纹的亮纹处,电子强度较高。
这进一步验证了干涉现象的存在。
结论:通过电子散斑干涉实验,我们深入了解了电子的波动性质和干涉现象的原理。
实验结果表明,电子具有波粒二象性,可以通过狭缝发生衍射和干涉。
干涉条纹的形成与狭缝的宽度有关,狭缝越窄,干涉条纹越清晰。
此外,干涉条纹的亮暗变化也与电子的强度分布有关。
通过本实验的探索,我们对电子的性质有了更深入的了解,并且对光学干涉现象也有了更深刻的认识。
这对于进一步研究电子的行为和开展相关应用具有重要意义。
关于火焰温度测量方法的介绍
摘要: 本文综述了火焰的分类及其温度测量方法,介绍了热电偶法、成象法、激光光谱法、辐射法和声波法的测量原理,并分析比较了它们的适用性和各自特点。
简要描述了用于固体火箭发动机羽焰温度测量的多点多波长高温计。
最后,展望了火焰温度测量的发展趋势。
关键词:测量,温度,火焰,原理Abstract:Reviewed in this paper the classification of the flame and the temperature measuring method, introduces the thermocouple method, imaging method and laser spectrum method, radiation method and principle of measurement of the acoustic method, and analysis and comparison of their applicability and their respective characteristics. Briefly describe the used in solid rocket motor plume flame temperature measuring multi-point multiwavelength pyrometer. In the end, prospects the development trend of flame temperature measurement. Keywords: measurement, temperature, flame, and principle目录一.引言 (1)二.火焰的分类及特性 (1)三.火焰温度的测量方法 (2)(一)接触法测温 (2)1.热电偶法 (2)2.光纤法 (3)(二)非接触法测温 (3)1.成象法 (3)2.激光光谱法 (5)3.声波法 (7)4.辐射法 (9)D成像法 (11)四.结语 (16)致谢 (17)[参考文献] (17)一.引言火焰温度是燃烧过程的重要热力参数之一。
数字散斑测量技术
数字散斑测量技术数字散斑测量技术是一种能够实现非接触、高精度测量的技术,广泛应用于光学领域。
本文将从介绍数字散斑测量的原理、应用领域和发展前景等方面进行阐述。
一、数字散斑测量技术的原理数字散斑测量技术是基于散斑干涉原理的一种测量方法。
散斑是由于光波经过光学系统后在接收屏幕上产生的一种随机干涉图样。
在数字散斑测量中,通过对散斑图像进行数字化处理,可以获取到被测物体的形貌信息。
具体来说,数字散斑测量技术主要包括以下几个步骤:首先,通过激光器产生一束单色、高相干度的光源;然后,将光源照射到被测物体表面,形成散斑图像;接着,使用CCD相机等光学设备将散斑图像转化为数字信号;最后,通过数字信号处理算法,提取出散斑图像中的相位信息,进而得到被测物体的形貌数据。
数字散斑测量技术在光学领域有着广泛的应用。
首先,它可以用于光学元件的表面形貌检测。
光学元件的表面形貌对其光学性能有着重要影响,通过数字散斑测量技术可以实现对光学元件表面形貌的高精度测量,从而保证产品质量。
数字散斑测量技术还可以应用于光学镜头的定位和对焦。
在光学系统中,准确定位和对焦是保证成像质量的关键步骤,利用数字散斑测量技术可以实现对光学镜头的快速、精确定位和对焦,提高成像质量。
数字散斑测量技术还可以应用于光学薄膜的厚度检测。
光学薄膜的厚度对其光学性能有着重要影响,通过数字散斑测量技术可以实现对光学薄膜厚度的高精度测量,为薄膜制备提供可靠的数据支持。
三、数字散斑测量技术的发展前景数字散斑测量技术作为一种非接触、高精度测量技术,在光学领域有着广阔的应用前景。
随着光学元件、光学系统和光学薄膜等的发展,对于光学形貌、定位和厚度等的要求也越来越高,数字散斑测量技术将会得到更广泛的应用。
随着数字图像处理技术和计算机算法的不断发展,数字散斑测量技术在数据处理和分析方面也将得到进一步的提升。
未来,数字散斑测量技术有望实现更高的测量精度和更快的测量速度,为光学领域的研究和应用提供更好的支持。
激光散斑干涉实验
激光散斑干涉实验摘要:激光散斑测量法是在全息方法基础上发展起来的一种测量方法,这种方法具有很强的实用价值。
散斑位移测量不仅可以实现离面微位移的测量,也可以进行面内微位移测量。
主要是对面内微位移进行了测量研究,利用设计的测量系统将物体发生位移前后的散斑图由CCD记录下来,分别用数字散斑相关法和散斑照相法对散斑图像进行了分析处理,并得出了相应的结论。
关键词:激光散斑;位移测量;数字图像处理一、引言激光自散射体的粗糙表面漫反射或通过透明散射体(毛玻璃等)时,在散射表面或附近的光场中会形成无规则分布的亮暗斑点,称为激光散斑。
激光散斑在全息图上是一种有害的背景噪声,但由于散斑携带了光束和光束所通过物体的光学信息,于是产生了广泛的应用。
例如,用散斑的对比度测量反射表面的粗糙度;利用散斑的动态情况测量物体运动的速度;用散斑进行光学信息处理,甚至利用散斑验光等等。
但应用领域最广的是散斑干涉测量技术。
散斑干涉技术在机械工程方面可以用于测量物体表面的形变和裂纹、损伤和应力分布,在天文学方面可以测量大气的扰动和温度场分布,在医学、力学和光处理等领域也有广泛的影响。
二、实验2.1实验测试系统散斑干涉测量离面位移光路图如下图所示2.2实验原理(1)激光散斑当相干光照射一个粗糙物体的表面(或通过透明的粗糙面)时,在物体表面前的空间,可得到一种无规律分布且明暗相间的颗粒状光斑,称为散斑。
由于激光的高度相干性,表面散射光在空间中随机相干叠加后会形成一些亮暗分明的区域,且呈现无规则分布,按照在散射面有无透镜,可以将散斑场划分为主观散斑和客观散斑,由于透镜的使用,主观散斑又被称为成像散斑。
(2)利用散斑干涉术测量面内位移散斑干涉计量就是将物体表面空间的散斑记录下来,当物体运动或由于受力而产生变形时,这些随机分布的散斑也随之在空间按一定规律运动。
因此能利用记录的散斑图分析物体运动或变形的有关信息。
当测量物体在面内发生位移时,通常在被测物体位移前,将散斑记录下来,然后使物体垂直于光轴发生一微小面内位移d,再次记录。
激光电子散斑干涉测量受热金属形变
即 。r ()=U()x [ 。 r 一 r ]。由于变形 0rep () △ () 前后参考光波维持不变 , 因此位移后的合成光强为
维普资讯
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2 — 2 8 51 5 2 Hu g Y n Y.A h s h f t c n q e f ra t ma in o h s ee mi p a e s i e h i u o u o t f p a e d t r - t o n t n n iia s e r g a h . P o e d n s f E a i i d g tl h a o r p y o r c e i g o S M C n e e c o fr n e, 1 94; 4 - 5 9 1: 8- 2 3 Ra tg so iP K.Dii p c l at r n e e gt s e k e p t n i tf mmer n e ae e h l a e t a d r lt d te - y
并对受 热 金 属 的 表 面 形 变 进 行 了三 维 面 内位 移 测 量 , 到 了金 属形 变 的三维 图象 。 得
1 激光 电子散斑干涉测量物体形变原理
电子散斑 干涉 技 术 是 利 用 被 测 物 体 的光 学 粗 糙 表面所 造 成 的漫 反 射 光 与参 考 光 之 间 的干 涉 进
文献标志码
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由于散 斑干涉 技术 测 量 具 有 非接 触 、 高精 度 和
数字散斑瞬态高温测试技术方案设计
第一章绪论1.1 研究目的和意义在工程实际中,由于工件和设备的各种运动,使得设备之间产生了许多非稳态导热现象。
热力设备的启动,停机,变工况,突然冷却等,使设备产生了瞬态高温。
若瞬态温度太高,则会由于过大的热应力而损坏部件,因此对瞬时温度的检测和控制变得极其重要。
传统的温度探测器多是使用热-电的方法,而由热到电的过程需引入电阻、电感、电容等元件,这样温度的产生和探测之间会产生时间延迟,并且引入电路的过程可能会导致原温度场频率发生变化,同时一些机械的探测需要无接触性探测。
另外,在很多情况下,当温度达到,甚至超过一定极限时,传统的温度传感器会失去探测能力。
因此,传统的温度传感器遇到了很大的挑战,实现瞬态高温的实时、非接触性检测具有重大的意义。
散斑干涉测量技术是60年代末由J. M. Burch 和J. T. To kardki首先提出的一种光学测量技术, 具有非接触、测量精度高、对环境的防震要求低、可在明光下操作、能进行全场测量等特点, 因而广泛应用于光学粗糙表面的变形测量和无损检测。
随着计算机技术、电子技术和数字图像处理技术的发展, 形成了电子散斑干涉测量技术( electronic speckle pattern interferometry, 简称ESPI),它具有实时处理信息、实时显示干涉条纹、快速方便、对工作环境的防震要求低并可以实现条纹自动化测量等优点。
另外由散斑干涉模型可以知道,温度与弹性模量,等温压缩系数,体胀系数等有关系,而弹性模量等的测量时一个复杂的过程,如果本系统能非常完美地解决高温的测试,那么我们可以将本实验扩展为对弹性模量,等温压缩系数和体膨胀系数的测量,即本系统对其它物理量的研究也有重要意义。
本文在充分利用ESPI优点的基础上,应用CCD通过图像采集卡把散斑图像变成一种完全数字化的图像,并且借助于计算机程序对变形或位移前后散斑图求相关运算而实现计量。
这样,本系统即摆脱了传统高温测量的不足,又实现了高温测试的进一步的创新。
干涉法测量气体温度场的深入研究
文章 编 号 : 0-8221)204— 1 056 ( 00—1 0 0 0 75
干 涉 法 测 量 气 体 温 度 场 的 深 入 研 究
陈 浩 ; 况 庆 强 2 , 一
(. 西教 育 期 刊社 , 西 南 昌 1江 江 30 4 ;. 西 师 范 大学 物理 与 通 讯 电子 学 院 , 西 南 昌 3062江 江 302) 302
迈克尔逊 干涉仪是研究光学 干涉 的典 型光 学精密仪器 , 是大学物理实验 中的常用仪器 , 也 主要用 于测量激
光波长或微 位移 . 然而 , 实验教学 中这些 仪器 都是 固定 成套 的 , 不利 于改 变测试 对象 、 拓展新 的实验 . 文利用 本
半导体激 光器 、 镜 、 透 分束镜 、 面反射镜 等光学 元 器件 , 建迈 克尔 逊干涉 仪 , 干涉仪 的一 条光路 上加 上待 平 组 在 测温度场 , 实验得 到温度变化前 后 的干 涉条纹 , 图像处 理 和数值计 算分 析得 出温度 场分 布 , 用 并对 实验 结果进
行分析讨论 .
1 原 理
11 气体折射 率随温度变化 的关系 . 根据经典 电动力学 有关均匀 透明介质 的 Lrn— r t 关 系 , 折射率与密度之 问满足l o zL e z e o n 光学 8 』
( 一1/p +2]= 常数 , n )[ ( )
式
(, 1/ = K, r一 ) p t
实验 上都 比较复杂 , 的测量精度不 高l . 文利用气体折 射率 与密度 、 而有 6本 j 温度 的关 系 , 组建迈 克尔逊 干涉测 温
系统 , 通过 实验研究气体 流场的干涉测温技 术 , 旨在实验 系统的简 洁性 、 图像 分析 、 位提取 的精确 性方面做 出 相 努力 , 使得 该技术在测量 效率和精度上有 新的提高 _ . 7 J
基于散斑干涉光谱分布变化量探测瞬态高温的研究
2012 年 7月
光
谱
学
与
光
谱
分
析
Vo. 2 No 7 p 1 5 — 8 5 13 , . , p 8 2 1 5
S e to c p n p c r lAn l ss p c r s o y a d S e ta a y i
J l ,2 1 uy 0 2
收 稿 日期 :2 1—20 ,修 订 日期 : 0 20 6 0 20 8 2 1—41
Fi .1 Ac iii n s se fs e kl ntr e e e fi g g qu sto y tm o p c ei e f r nc rn e
基金项 目:国家 自然科学基金项 目( 0 7 o9 和山西省 自然科学基金项 目(0 9 1 2 —) 6381) 2 0 10 62 资助 作者简介 :武锦辉 ,17 9 8年生 ,中北大学讲师 ema :  ̄ i w ̄ih c1 3 @1 3cr 30 7 3 4 6 .o i l n u 2 4 6 .o n 2 0 0 8 @1 3 tn
文献标识码 : A D :1. 94 i n 1 0—5 3 2 1 ) 71 5—4 OI 0 3 6  ̄. s. 0 00 9 (0 2 0—8 20 s
中图 分 类 号 : 3 04 2
个 函数本身非线性 , 以只通过十涉条纹距离 变化量分 析被 所
引 言
散斑干涉技术是对物体表面微小形变进行 测量的一种非 接触式测 最方法 。 技术在 元器件 和加 工件 的应力学 实验 、 该 新 材 料 测 试 、 械 结 构 的振 动检 测 等 领域 已被 广 泛 应 用 l ] 机 1。 散斑干涉技术l 6 在散斑 干涉 、图像 采集 与处理技 术 的基 是 础上时瞬态微小形变进行测量的现代光 电检测技术 , 具有实 时性强 、全场检测 、 精度高等优点 ,由面阵 C D探测器 采集 C 被测表面的散斑干涉条纹 , 再通过 图像处理 系统分析干涉条 纹 的宽度与个数 , 完成对被测表 面形变 的间接测量 。
微小形变中有机玻璃的观察方法
微小形变中有机玻璃的观察方法有机玻璃(或称亚光材料)是一种非晶态的有机聚合物材料,其特性之一是在受力作用下会发生微小的形变。
观察和研究这些微小形变可以帮助我们了解有机玻璃的性质和特点,为材料设计和应用提供参考。
下面是几种常用的观察方法:1.激光散斑干涉法(LSPI):激光散斑干涉法是一种非接触式、高灵敏度的观测方法,可用于测量有机玻璃的微小形变。
该方法利用激光产生的散斑图案,通过测量散斑的变形来推断材料的形变情况。
这种方法不仅可以精确测量位移场,还可以提供形变梯度和应变率等信息。
2.数字图像相关法(DIC):数字图像相关法是一种基于图像处理的观测方法,可用于测量有机玻璃的形变。
该方法通过比较不同时间点拍摄的图像,通过图像相关算法计算出图像上每一点的位移信息,从而获得整个物体的形变变化。
这种方法需要使用高分辨率的相机和专业的图像处理软件。
3.电子全步骤显微镜(SEM):电子全步骤显微镜是一种高分辨率的显微镜,可以用来观察有机玻璃的微观结构和形变。
通过电子束的照射,可以得到高放大率的样品表面图像,从而观察细微的形变和裂纹情况。
此外,SEM还可结合能谱分析、电子背散射等技术,对有机玻璃进行化学成分和结构分析。
4.红外热像法(IRT):红外热像法是一种非接触式的观察方法,通过测量物体表面的红外辐射热图来推断其形变情况。
有机玻璃受形变后,其热导率、热容性等物理性质会发生变化,从而导致热辐射和传导的差异。
红外热像法可以通过检测这种差异,来获得材料的形变信息。
5.压电传感器:压电传感器是一种常见的接触式测量方法,常被用于测量固体材料的压力和形变。
在观察有机玻璃的微小形变时,可以将压电传感器安装在材料表面,通过测量电信号的变化来推断形变情况。
这种方法可以提供高时间分辨率的数据,并且能够直接测量表面位移。
通过以上几种观察方法,我们可以了解有机玻璃在受力作用下的形变情况,并得到形变场、应变率等多种形变参数。
这些观察方法的选择要根据具体实验的要求和材料的性质来确定,以获得准确和有效的结果。
拉曼测温技术
Raman 光谱测温Raman信号与物质极化率有关,温度改变引起极化率的变化从而改变Raman 信号,可以根据Raman信号的变化进行温度的检测以及传热的分析。
Raman测温的方法主要包括:Raman强度测温,Raman频率测温和Raman半高宽测温。
当前对于材料的Raman测温研究主要是硅、碳纳米管、石墨烯、金刚石等。
[1]1 Raman强度测温原理:能级上的粒子数在平衡时遵从Boltzmann分布,在平衡态下N个全同粒子分布在其单粒子任一可及能级εi(i=1,2,3,…,为单粒子能级的标号)上最可几粒子数n i由下式确定:n i=Nqωi exp(−εi/kT)式中:ωi为能级εi的简并度;k为Boltzmann常数;T为热力学温度;q为单粒子配分函数。
Strokes散射和Anti-Strokes散射分别对应于低能级到高能级的跃迁或高能级到低能级的跃迁。
Raman 散射的Strokes线的光强I S和Anti-strokes光强I AS分别为:I S∝1/[1−exp(−ℏωk/k B T)]I S∝1/[exp(+ℏωk/k B T)−1]式中:k B是Boltzmann常数,T是绝对温度,ℏ是约化Planck常量。
两者的强度比为:I k,S/I k,AS∝exp(ℏωk/k B T)可以通过测量Strokes峰和Anti-Strokes峰的比值来计算材料的温度。
[2]国内:黄福敏[3]研究了碳纳米管拉曼光谱的温度效应。
根据碳纳米管性质的不同,选取D模,G模,E2g模,D*模信号中的几种,通过测量Strokes峰和Anti-Strokes峰的比值计算温度后平均化。
实验结果显示各模分辨计算的温度之间误差小于50K,同时观察到拉曼位移随温度存在线性变化的现象。
俞帆[4~6]等对Sr(NO3)2,CCl4,单晶硅等材料的温度进行了测量。
测温基于公式:T=hv ik B∙ln[I SI AS ∙(v+v iv−v i)4]式中:v,v i分别是激励激光频率和拉曼散射频移。
激光散斑干涉电子测量技术
激光散斑干涉电子测量技术李康华(哈尔滨工业大学威海校区光电科学系,威海 264209)摘要:激光散斑干涉测量是根据与物体变形有内在联系的散斑图, 将物体表面变形测量出来。
本文介绍了激光散斑干涉技术的原理、检测方法及其应用。
从实验检测中,发现其是一种非常便捷、先进、并具有发展潜力的光测技术,能广泛应用在许多领域中,尤其是工业产品生产的领域中。
关键词:激光散斑干涉技术1 引言散斑现象早已被人们所熟悉,但是在激光问世之后才被深刻的了解,并且应用到许多的领域.激光是一种高度相干性的光源,当它照射在具有漫反射性质的物体表面,根据惠更斯理论,物体表面的每一点都可以看成一个点光源,从物体表面反射的光在空间相互叠加,就会在整个空间发生干涉,形成随机分布的,明暗相间的斑点,这些斑点成为激光斑点(speckle)[1].随着科技的发展,对散斑的深入研究,人们发现, 发现这些斑点的大小和位置虽然是随机分布,但是整体上斑点是符合统计学规律的。
在一点范围内,散斑场的运动是与物体表面上各点的运动一一对应的。
散斑的尺寸和形状, 与物体表面的结构、观察位置、光源和光源到记录装置之间的光程等因素有关。
当物体表面位移或变形时, 其散斑图也随之发生变化, 物体散斑虽为随机分布。
但物体变形前、后散斑有一定规律, 且常有物体表面位移或变形的信息。
散斑干涉计量就是根据与物体变形有内在联系的散斑图, 将物体表面位移或变形测量出来。
激光散斑干涉法测量物体变形,除了具备全息干涉法的非接触直观,可以遥感,全场性实时性外,还具备光路简单,对试件表面,实验条件要求不高,计算方便,精度可靠等特点[8-10]。
因此,激光散斑干涉电子测量技术在许多领域上都得到到了广泛的应用。
2 散斑干涉原理散斑干涉计量的全过程分为2 步: 第1 步应用相干光照射目标的粗糙表面, 记录目标表面位移信息的散斑图; 第2 步将记录的散斑图放在某一分析光路( 逐点分析或全场分析光路) 中, 把散斑图中传感的位移或变形信息分离出来, 进行定性或定量分析。
散斑干涉技术在测量中的应用
散斑干涉技术在测量中的应用散斑干涉技术是一种基于光学干涉原理的测量技术,利用光波的干涉现象来实现对物体表面形貌、位移、振动等参数的测量。
该技术具有测量精度高、非接触性强、适用范围广等优点,在工业、科研等领域得到了广泛的应用。
本文将重点介绍散斑干涉技术在测量中的应用,包括表面形貌测量、位移测量和振动分析等方面。
一、表面形貌测量散斑干涉技术在表面形貌测量中具有独特的优势,可以实现对物体表面微小形貌的高精度测量。
通过散斑干涉技术,可以获取物体表面的三维形貌信息,包括表面的高程、曲率等参数。
这对于工件的质量控制、表面质量评估具有重要意义。
在实际应用中,散斑干涉技术常常与数字图像处理技术相结合,利用计算机对采集到的干涉图像进行处理和分析,从而得到物体表面的形貌信息。
通过对比不同时刻的干涉图像,可以实现对物体表面的形貌变化进行实时监测和分析,为工艺控制和质量检测提供重要依据。
二、位移测量散斑干涉技术在位移测量领域也有着重要的应用。
通过测量物体表面的位移信息,可以实现对物体运动、变形等参数的监测和分析。
散斑干涉技术可以实现对微小位移的高灵敏度检测,广泛应用于微位移传感、振动分析等领域。
在位移测量中,散斑干涉技术可以实现对物体表面微小位移的实时监测,具有高灵敏度和高分辨率的特点。
通过对散斑图像的处理和分析,可以获取物体表面的位移信息,并实现对物体运动状态的精确控制。
这对于机械系统的振动分析、结构健康监测等方面具有重要意义。
三、振动分析散斑干涉技术在振动分析领域也有着广泛的应用。
通过对物体表面的散斑图像进行采集和处理,可以实现对物体振动状态的实时监测和分析。
散斑干涉技术可以实现对物体振动的高精度测量,为振动分析和结构动力学研究提供了重要手段。
在振动分析中,散斑干涉技术可以实现对物体振动模式、频率等参数的准确测量,为结构的动态特性分析提供重要数据支持。
通过对散斑图像的时域和频域分析,可以获取物体振动的频谱信息,进而实现对振动源的诊断和分析。
电子散斑干涉实验报告
电子散斑干涉实验报告
一、实验目的
本实验旨在探究电子散斑干涉现象及其相关原理,并通过实际操作和测量数据来验证此理论。
二、实验设备
1.电子枪
2.电子束衍射仪
3.光学平台
4.数值计算软件
三、实验步骤
1.调整电子枪产生的电子束的方向和亮度。
2.在电子束衍射仪的屏幕上观察电子散斑现象。
3.将屏幕移动至不同位置,记录不同位置的散斑图样。
4.利用数值计算软件进行模拟,预测不同位置的散斑图样。
5.将实际测量值与预测值进行比对,分析误差。
四、实验结果
通过本实验,我们成功观察到了电子散斑干涉现象,并记录了不同位置的图样。
随后,我们利用数值计算软件进行模拟,得到了预测值,并将实测值与预测值进行比对。
实验数据表明,预测值与实测值非常接近,验证了此理论的正确性。
五、实验结论
本实验通过实际操作和测量数据,验证了电子散斑干涉理论的正确性。
同时,我们还了解了电子散斑干涉的相关原理和实验方法,这有助于深化我们对该理论的认识和使用。
六、实验注意事项
1.操作前需仔细了解实验原理和方法,确保操作正确。
2.实验过程中需注意对设备的保护,避免人为损坏。
3.需要记录正确的实验数据,并及时进行分析和比对。
4.实验后要彻底清洗设备和工作台,保持实验环境整洁。
七、参考文献
1.杨振宁等.理论物理学——量子力学[M].上海科学技术出版社,1994.
2.赵九章,等.计算光学[M].高等教育出版社,2006.
3.陈增强.物理实验指导[M].浙江大学出版社,2006.。
散斑干涉实验
散斑干涉实验光信息科学与技术08级3班 组别:B17一、实验目的1、了解散斑的性质及特点。
2、掌握散斑和离面散斑的测试方法。
二、实验原理1、散斑的形成当相干光照射一个粗糙物体的表面(或通过透明的粗糙面)时,在物体表面前的空间,可得到一种无规律分布且明暗相间的颗粒状光斑,称为散斑。
要形成散斑且散斑质量较好必须具备以下条件:(1)有能发生散射光的粗糙表面;(2)粗糙表面深度须大于入射光波长;(3)入射光线的相干度要足够高,如使用激光。
图1、散斑图像散斑携带了散射面的丰富信息,可以通过散斑的性质来推测物体表面的性质。
由于这种办法的无损、快速等诸多优点,它被广泛应用于工业控制的缺陷检测、医学的光活检等领域,且受到越来越多的关注2、散斑的大小散斑颗粒的大小,可用它的平均直径来表示,颗粒尺寸的严格定义是两相邻亮斑间距离的统计平均值。
此值由产生散斑的激光波长及粗糙表面圆型照明区域对该散斑的孔径角'u 决定:散斑平均半径=<v σ>='0.6/sin u λ (1)上式说明散斑的大小粗略对应于散射光的干涉条纹间距。
散斑的形状与照明区域的形状有关,若照明区域增大则散斑变小。
上面所讲的散斑是由粗糙表面的散射光干涉而直接形成的,称为直接散斑(如图2所示)。
若经过一个光学系统,在它的像平面上形成的散斑,称为成像散斑,亦称主观散斑(如图3所示)。
图2、客观散斑的形成 图3、主观散斑原理图成像平面上P 点的散斑直径v σ,决定于透镜出射光瞳对P 点的孔径角'u ,即<v σ>='0.6/sin u λ=0.6/NA λ=1.2(1+M )F λ (2)其中NA 为透镜的数值孔径,M 是透镜的放大率。
主观散斑是物面上的散斑图像成像所得,这个物方散斑图的平均直径用<S>表示:<S>='0.6/M*sin u 0.6/M*NA λλ= (3)3、散斑的光强分布正常散斑图是杂乱无章的随机散斑图,其强度分布为负指数概率密度函数。
用散斑干涉光谱分布检测瞬态温度
s e k ei t re e c atm h n e . h tr e e c rn e n te me s r d s Nc r b an d b e a e r a p c l e fr n ep t n e c a g s T ei e r n efi g s a u e u n f o h r e a eo ti e y t r a ar yCCD h c l c i n b f r n f r d f r a i n Th o r s o d n p cr m e st u c i n wi h n e y t e c a g s o ol t eo ea d a e eo e o t m to . e c re p n i g s e tu d n i f n t l c a g s b h h n e f y o l ta se ttmp r tr , d t e a l u e c a g so e trwa e e g h i iv re y t e s e k ep t m n e f r me r . r n in e e au e a mp i d h n h t n e fc n e v l n t n e td b p c l at s h e i t re o t y Th o g ee t g a d c lu ai g t e r t ft e a p i d ft e c n e v ln t , h a se tt mp r tr a e r u h d tc i n a c lt h ai o n n o h m l u t e o e trwa e e g h t e t n in e e a u e c n b h r o t i e y s e t m ay i. n t e a ay i a d c lu ai n f r h n t n o a se t e e au ea dma e a tan b an db p cr u a l ss I n l ssn ac lt o ef ci f r n i n mp r t r n t r l r i , n h o t u o t t i s ma e a t i n n e e e c i g s d r e ea l d d p a e f n t n o eta se t e e a r h n ea d t r ls a n a d i t r r n e f n e , e v d t mp i e a h s ci f h n in mp r t ec a g n i r f r i h u t n u o t r t u it re e c f n e ,S a o p o i e t e n c s ay c n iin o e e t g t e u e f s e t l e s y u c i n n e f r n e r g s O s t r v d h e e s r o d t s f r d t ci h s o p c a d n i fn to i o n r t tmp r tr . 6 n a e i d , d S 6 0 y e a e e e au e 6 0 n ll s r do e a I 6 0 t p r a CCD ee t ri s d t b an t e s e k e p t r n e e e c n d t c o su e o t i p c l at n i tr r n e o h e f fi g s y t m xr c s t e a p i d ai f t e c n a v ln t r m p c a iti u i n f n t n n d b rn e ,s se e ta t h m l u t e r to o e t l wa ee g h fo s e t l d sr t u c i ,a y h r r b o o
基于光学散斑干涉技术的半导体器件平坦度检测方法研究
基于光学散斑干涉技术的半导体器件平坦度检测方法研究摘要:半导体器件在微电子工业中扮演着重要角色,其平坦度是评估器件质量的关键参数之一。
目前,基于光学散斑干涉技术的方法在半导体器件平坦度检测中得到了广泛应用。
本文综述了光学散斑干涉技术在半导体器件平坦度检测中的原理、方法、优势和局限性,并着重介绍了相关领域的研究进展和未来发展方向。
1. 引言半导体器件的平坦度是决定其在微电子工业中性能和可靠性的重要参数。
由于半导体技术的高度集成和微纳工艺对器件的平坦度要求越来越高,传统方法已经不能满足要求。
光学散斑干涉技术作为一种非接触式、高精度、高灵敏度的表面形貌测量方法得到了广泛关注。
2. 基于光学散斑干涉技术的原理光学散斑干涉技术利用光的干涉现象,通过测量散斑图的变化来获取被测物体表面形貌信息。
当光线照射在一个不均匀的表面上时,由于表面形貌的变化会在空间上引起光程差的变化,从而产生干涉。
通过分析干涉图案的特性,可以反推出被测物体表面的形状和平坦度。
3. 基于光学散斑干涉技术的平坦度检测方法基于光学散斑干涉技术的方法主要包括传统的Twyman-Green干涉仪和白光干涉仪。
Twyman-Green干涉仪利用波前分解技术,通过加入样品表面产生的特定波前来实现相位测量。
而白光干涉仪则利用不同波长的光分别进行干涉测量,通过多个波长的相位信息来求解样品表面的形状。
这些方法在实际应用中已经取得了令人鼓舞的成果。
4. 基于光学散斑干涉技术的优势和局限性基于光学散斑干涉技术的方法具有非接触测量、高精度、高灵敏度等优势。
同时,它还能对多种材料的平坦度进行测量,如金属、半导体、液晶等。
然而,这些方法在实际应用中也存在一些局限性,比如对光学系统的要求较高,同时还受到环境干扰、杂散光等因素的影响。
5. 研究进展和未来发展方向近年来,基于光学散斑干涉技术的方法在半导体器件平坦度检测领域取得了重要进展。
一些研究者提出了改进的方法,如基于迭代算法和数字图像处理的散斑干涉技术。
高温下封装翘曲度的测量方法和最大允许翘曲度
高温下封装翘曲度的测量方法和最大允许翘曲度
高温下封装翘曲度的测量方法,主要包括以下两种:
1. 使用专门的测量工具进行翘曲度测量。
根据实际需求和规格,可以采用不同种类的测量工具,如投影仪、光学比较仪等。
这些工具通过将样品与标准模型进行比较,能够测量出样品表面的翘曲变形量。
2. 使用先进的测试设备,如电子散斑干涉仪。
该设备能够通过激光散斑干涉技术,对样品表面进行无损检测,并实时显示翘曲度数据。
至于最大允许翘曲度,这主要取决于具体的应用场景和产品要求。
一般来说,对于一些高端封装产品,如微间距球栅阵列(Fine pitch ball grid array,缩写FPBGA)封装的产品,其翘曲度要求非常严格,一般在0.5%以内。
而对于一些普通的封装产品,翘曲度要求相对较为宽松,但通常也不应超过1-2%。
因此,根据实际需要和具体情况进行翘曲度的测量和控制在生产中至关重要。
散斑干涉条纹测量系统设计
散斑干涉条纹测量系统设计散斑干涉条纹测量系统是一种非接触式三维测量技术,它通过利用光的干涉现象,对物体表面进行高精度测量。
该系统广泛应用于工业、制造、医疗等领域,具有高精度、快速、非接触等优点。
本文将着重介绍散斑干涉条纹测量系统的设计过程,包括系统的基本原理、硬件设备、软件编程等方面。
一、系统原理散斑干涉条纹测量系统基于光的干涉原理,通过光的空间相干性实现物体表面的测量。
主要包括两部分,散斑光源和干涉仪。
散斑光源是通过激光器、铁氟龙透镜、透镜、光圈等器材组合而成,能够在物体表面产生一系列随机排列的散斑点。
光照射于物体表面后,散斑点会因物体表面的形态而产生多种不同的偏移角度和干涉强度,形成干涉图案。
而干涉仪则通过反射镜、分束器、光电二极管等器材,将干涉图案转换为电信号。
当光束经过反射镜反射后,被分成两束光。
这两束光返回的光路不同,因此产生不同的光程差。
当它们再次汇合时,就会产生干涉。
光电二极管可将干涉条纹转换为电信号,并经过放大电路放大信号,最后由计算机处理并得到物体表面的三维信息。
二、硬件设备散斑干涉条纹测量系统的硬件设备主要分为散斑光源和干涉仪两部分,下面将分别进行介绍。
1. 散斑光源散斑光源是产生散斑点的光源,其主要组成部分如下。
(1)激光器。
激光器是产生激光束的装置,可通过调整激光器的波长、功率等参数,实现最优的测量效果。
(2)铁氟龙透镜。
铁氟龙透镜具有高折射率、低色散的特点,可以有效地减小色散引起的误差,提高系统的测量精度。
(3)透镜。
透镜用于调节和聚焦激光束,使其能够产生一定大小的散斑点。
(4)光圈。
光圈用于控制散斑点的大小和密度。
2. 干涉仪干涉仪主要用于将干涉图案转换为电信号,并通过计算机处理成三维信息。
其主要组成部分如下。
(1)分束器。
分束器(如菲涅耳透镜等)将反射回来的光束分成两束,并使其产生一定的相位差。
(2)反射镜。
反射镜用于反射光束,将其分成两束,然后经过分束器产生干涉。
散斑测应变
散斑测应变散斑测应变是一种常用的非接触式应变测量方法,它基于散斑干涉原理,通过测量散斑图案的变化来获得被测物体的应变信息。
散斑测应变技术具有测量范围广、精度高、响应速度快等优点,在工程领域中得到了广泛的应用。
散斑测应变的原理是利用激光照射在物体表面上,由于物体表面的微小变形引起激光的相位改变,从而产生干涉条纹。
这些干涉条纹的密度和形状与物体的应变有关。
通过对干涉条纹进行分析和处理,可以获得物体表面的应变分布情况。
散斑测应变的实验装置包括激光器、物体样品、光学系统和检测器等。
首先,激光器产生一束单色、相干性良好的激光光束。
然后,激光光束经过光学系统,聚焦到物体表面上。
物体表面的微小变形引起激光的相位改变,从而产生干涉条纹。
最后,检测器接收到干涉条纹的图像,并将其转换为电信号,经过处理后得到应变的信息。
散斑测应变的应用非常广泛。
在材料力学研究中,散斑测应变可以用于研究材料的力学性能和应力分布情况。
在工程实践中,散斑测应变可以用于检测结构件的应力和变形情况,从而评估结构的安全性和可靠性。
此外,散斑测应变还可以用于生物医学领域,如测量人体组织的应变情况,研究人体运动和力学特性等。
散斑测应变技术具有一些特点。
首先,它是一种非接触式测量方法,不需要与被测物体直接接触,可以避免传感器对被测物体的干扰。
其次,散斑测应变具有较高的测量精度,可以实现微小应变的测量。
此外,散斑测应变的响应速度快,可以实时监测被测物体的应变变化。
然而,散斑测应变技术也存在一些限制。
首先,散斑测应变对光学系统的要求较高,需要保证激光的相干性和光线的稳定性。
其次,散斑测应变对环境的要求较高,需要保持实验环境的稳定和干净。
此外,散斑测应变只能测量物体表面的应变,无法获取物体内部的应变信息。
散斑测应变是一种重要的应变测量方法,具有广泛的应用前景。
随着科学技术的不断发展,散斑测应变技术将会得到进一步的改进和完善,为工程实践和科学研究提供更加可靠和精确的应变测量手段。
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基于散斑干涉法的温度测试1 绪论1.1 研究背景及意义温度是表征物体冷热程度的物理量,是国际单位制中七个基本物理量之一,它与人类生活、工农业生产和科学研究有着密切关系[1]。
随着科技的迅速发展,高温、超高温、低温、超低温等非常态实验及工程应用越来越多,越来越复杂;另一方面,武器型号、重大装备及精密制造技术的发展也需要进行温度场的检测研究。
科学技术发展日新月异,行业需求不断提高,对温度测量的精确度要求也越来越高,因此温度场的测量研究一直都受到人们的广泛关注。
温度的测量方法有很多,目前常用的测温方法主要有接触式测温和非接触式测温两大类。
在非接触测温方法中,光学测温技术[2],是近十几年发展起来的一门全新的测试技术,其基本原理是利用温度的变化所引起的光学性质的变化来测量并计算出该物理量。
光学测温法由于不与被测物体直接接触,不会对被测物体产生干扰,并且具有时间和空间分辨率高以及能实现现场实时测量等优点,成为国内外研究的热门[3]。
本课题主要研究基于数字散斑干涉法的一种温度测试技术,是光学测温方法的一种全新技术。
1.2 温度测试技术发展现状由于温度与科学研究及国民经济中工农业生产密切相关,近年来,国内外各种温度测试技术层出不穷,按照大的方向划分,可分为接触式测温和非接触测温两大类,如图1.1所示[4]。
下面分别介绍两类测温方法的原理及特点。
图1.1 温度测量方法分类接触式测温方法包括膨胀式测温、电量式测温和接触式光电、热色测温等几大类。
接触测温法在测量时需要与被测物体或介质充分接触,利用热传导原理,使两者之间进行充分的热交换,最后达到热平衡。
这时感温元件的某一物理参数的量值就代表了被测对象的温度值。
通常来说,接触式测量仪表比较简单,测试结果直观可靠,仪器价格相对低廉,因而在实际生活中得到了广泛的应用。
但是接触式测温方法的缺点也很明显,由于测温元件与被测物体需要进行充分的热交换,所以需要一定的时间才能达到热平衡,因而存在测温延迟现象。
同时受到耐高温和耐低温材料的限制,不能应用于某些极端环境的温度测量;另外在测量过程中,测量器件与温度场直接接触,会导致待测温度场的自身独立性受到破坏,加之测量时接触不良等现象的存在,这些都会给测试结果带来一定的误差。
非接触式测温方法不需要与被测对象直接接触,因而不会干扰温度场,保证了温度场本身的真实性;而且测温范围很广,不受测温上限的限制,动态响应特性一般也很好,可以实现实时性,全场性测量。
但是这种方法会受到被测对象表面状态或测量介质物性参数的影响。
非接触测温方法主要包括辐射式测温、光谱法测温、激光干涉式测温以及声波测温方法等。
由于科技的进步,近年来某些极端环境下温度的研究得到快速发展,加上热辐射技术以及光学精密仪器的不断更新进步,非接触测温方法在此基础上大显身手,成为近些年研究的重点[5]。
虽然温度测量方法多种多样,但在很多情况下,对于实际工程现场或一些特殊条件下的温度测量[4],比如对极端低温或高温环境温度、腐蚀性介质温度、流体或固体表面温度、固体内部温度分布、微小尺寸目标温度、生物体内温度、大空间温度分布、强电磁场干扰条件下温度测量来讲,要想得到准确可靠的结果并非易事,需要非常熟悉各种测量方法的原理及特点,结合被测对象要求选择合适的测量方法才能完成。
同时,还要不断探索新的温度测量方法,改进原有测量技术,来满足各种条件下的温度测量需求。
1.3 数字散斑干涉技术发展概况1.3.1 数字散斑干涉技术发展历程散斑现象早在1914年就被人们发现,但一直未予以重视。
到了20世纪40年代英国学者Denis Gabor提出全息术[6],但是由于散斑的存在,影响了全息图的质量,散斑由此引起人们的关注,并开始作为一种噪声得到了系统的研究,对此进行大量的工作是试图如何消除散斑效应。
1962年贝尔实验室的Rigden和Gordon首先解释了激光散斑现象的产生[7]。
当用相干性很好的光(如激光)照射漫反射表面时,漫反射表面形成无数小光点,类似于点光源,它们反射的光彼此相互干涉,并在物体表面前方的空间形成了无数随机分布的点,人们把这些相干的亮点和暗点称为散斑,把这种随机分布的散斑结构称为散斑场[8]。
随后1969年英国学者Leenderz在国际光学会议上提出了利用散斑检测粗糙表面的光学干涉方法——散斑干涉测量法(Speckle Interferometry)[9]。
在早期的检测中,由于散斑干涉测量法采用全息干板作为记录介质,需要复杂的后期光学滤波和数据处理工作,因此导致该技术难以得到推广。
1971年英国学者Butter 和Leenderz[10]以及美国学者Makovski[11]相继成功的以电视摄相机取代了全息干板的使用,视频检测技术的引进使得采用可视化方式来记录并处理静态和动态光学粗糙表面的位移成为可能,这种技术被称为电子散斑干涉测量法(ESPI)。
数字散斑干涉技术(DSPI)是在电子散斑干涉计量技术上发展起来的,其特点就是将电子信号进行数字化和数据处理,信息以数字图像的形式记录下来,存储在计算机中。
它通过把物体变形前后的散斑图量化为数字图像,存贮在帧存体中,由计算机用数字的方法对它进行运算,从而在监视器上再现干涉条纹图。
数字散斑干涉减小了电子散斑的噪声,大大提高了干涉条纹的清晰度。
1980年Nakadate[12]首次实现并得到512x512列阵的数字散斑干涉条纹,但直到1984年才由Creath正式提出来并作为一种新技术加以推广,数字图象列阵也逐步发展到今天的512x512或1024x1024,灰度等级发展到256,而且以微机和图像板取代了原始的大型数字图象处理系统。
目前,该技术逐步代替了以往的用电子处理方法的电子散斑干涉法。
但在习惯上,人们往往将用电子处理方法实现的电子散斑干涉法(ESPI)和用数字处理方法实现的数字散斑干涉法(DSPI)统称为电子散斑干涉法(ESPI)。
我国对数字散斑干涉技术的研究和应用起步比较晚,所以在技术和产品化方面处于学习和创新的初步发展阶段,经过不懈努力,也取得了一定的研究成果。
例如,八十年代末,天津大学秦玉文教授[13]首次提出使用渥尔德棱镜作错位镜,解决了双像光强不等的问题。
之后又把视频技术、计算机技术引入错位散斑干涉术,从而形成了数字错位散斑干涉术。
1996年,天津大学的佟景伟、张东升[14,15]等人对撞击载荷下数字散斑离面位移的测试进行了研究,实现了撞击载荷下的数字散斑干涉,使条纹质量大大提高等。
经过近几十年的研究和发展,数字散斑干涉测量技术已经成为一种比较成熟的高精度无损测量技术,广泛应用于振动、位移、形变、断裂及粗糙度等的测量,成为当前国际上的热门研究课题之一。
1.3.2 数字散斑干涉技术的特点数字散斑干涉技术是一种测量光学粗糙表面位移或变形等物理量的干涉测量技术,具有波长量级的灵敏度,广泛应用在无损检测中。
由于它综合了现代发展的多项技术:激光技术、视频技术、电子技术、计算机技术、信息与数字图象处理技术及精密测试技术,因此数字散斑干涉技术具有如下特点[16]:(l)它采用CCD摄像机和电子存储器取代了全息干板记录物面散斑场的光强信息,可实现实时显示干涉条纹,实时处理信息,快速方便;(2)它使用的图像采集卡(Frame Grabber Board)速率快,采集散斑场信息快速及时,从而对工作环境的要求大大降低。
测试过程中不需要防震处理,可以走出实验室,进入现场测试;(3)它采用相减模式处理干涉散斑场,可消除一般杂散光的影响,所以它可以在明室下操作,这给工作人员带来了方便;(4)数字散斑条纹图能够以数字形式存入帧存介质中,便于条纹的后期处理,再结合计算机软件技术,使条纹自动分析成为可能,为实现条纹自动化测量创造了良好的条件。
1.4 本课题研究意义温度的改变会引起物体自身的微小变形,这种形变量与温度之间存在着确定的函数关系。
当这种变形量处于散斑干涉模型的测量范围之内时,理论上我们就可以利用散斑干涉技术测量物体受热后发生的微小形变量,再通过形变量与温度的关系式进行代换,最终得到不同形变时刻对应的物体温度。
因此本课题提出利用散斑干涉技术测量温度实质上是测量物体因温度改变而发生的变形量,然后通过后期计算得到结果,这是一种间接测温方法。
数字散斑干涉技术测温属于非接触式测温方法,即测量过程不需要与被测对象接触,因而不会干扰温度场;实验过程中反映试件变形的散斑条纹即时显示在计算机屏幕上,能迅速记录瞬时温度场的全过程,具有实时性,直观性的特点;试件发生微小变形就可观察到反映其形变的散斑干涉条纹的变化,具有很高的灵敏度,因此与其他测量方法相比,能够更精确地测量物体表面的温度场;而且系统光路比较简单,一般不需要防震台,对光源功率要求也不高,对待测试件的材料尺寸和形状没有特殊要求[17],是一种简单新颖的温度测量方法。
1.5 本论文的主要工作内容及结构安排本论文是基于散斑干涉法的温度测试技术研究方案,要求在学习理解了散斑干涉测量技术的基础上,建立起温度场测量的理论模型,然后设计具体的实验方案进行验证,并对实验相关参数进行分析、讨论。
具体的结构安排如下:第一章:介绍课题研究背景和相关技术的国内外研究现状,明确本课题研究意义;第二章:建立散斑干涉技术测温方法的理论模型;第三章:设计并操作具体的验证性实验;第四章:实验后期相关参数处理;第五章:全文总结与展望。
2 系统模型建立2.1 系统模型建立总体思路数字散斑干涉技术是一种测量光学粗糙表面位移或变形等物理量的干涉测量技术,通过引入参考光与物光相干涉形成散斑干涉图像,并以此作为待测物体形貌变化的信息载体。
当待测物体发生某种形变会引起物光与参考光之间的相位差变化,会形成另一幅散斑干涉图像,通过采集待测物体形变前后两帧图像,对其运用相关算法进行处理,就可以得到待测物体的变形量,这样就建立起了散斑干涉条纹与物体应变之间的关系模型。
物体由于某种原因引起温度变化时,会发生位移或形变,而这种形变是由物体内部的热力学及材料学等性质决定的,所以物体温度与由于温度而引起的位移或形变本身存在着一个定量关系,因此运用相关的热力学及材料学知识就可以建立起物体应变与温度的关系模型。
因此,通过以上两个关系模型进行相关变量代换,就可以建立起散斑干涉条纹与物体温度之间的关系,达到利用数字散斑干涉法间接测量温度的目的。
为了更好地利用实验效果来验证本文理论,本课题主要以受热条件下的金属固体作为研究对象,模型的建立也是依此作为基础进行。
2.2 应变-数字散斑干涉条纹模型的建立2.2.1 散斑的形成及其特性当激光照射光学粗糙表面上时,这些表面上无规则分布的面元散射的子波相互叠加使反射光场具有随机的空间光强分布,呈现出颗粒状的结构,这就是散斑[18]。