采购货物一览表

2.2.1.4配有微米尺，可快速读取样品厚度及切割厚度
*2.2.1.5切割频率：可调
2.2.2手动研磨盘
2.2.2.1可预先设定研磨厚度，控制样品机械减薄至70-100μm，精确控制样品厚度在5µm精度之内
*2.2.2.2快速简便的打磨出平面样品，其内置测厚工具显示其微米级厚度（µm）
2.2.3凹坑仪
*3.10.3 TEM与STEM模式相互切换后所需热稳定时间仅为几十秒
3.10.4 STEM放大倍数范围150x - 230Mx
3.11X射线能谱仪技术规格30mm2自动可伸缩Si(Li)探测器(用于TEM)
3.11.1设备用途：用在TEM上，对材料的微区成分进行定性和定量分析
3.11.2(*)探测器：液氮制冷锂漂移硅Si(Li)自动可伸缩探测器(r-TEM)：1）探头前端无快门之类异物，避免对TEM物镜磁场的影响；2）探测晶体最过额定值时能在两秒种内自动收缩，保护探头；4)采用金属波纹管道密封，确保TEM的高真空度。
5.2投标人应提供仪器使用软件的所有说明书。
5.3投标人应提供电子版说明书。
6.技术服务
6.1设备安装、调试和验收
6.1.1卖方应在合同生效后的2个月内到用户实验室现场测试震动及磁场情况，并向买方提出详细的安装要求和提供技术咨询。
6.1.2仪器到达用户所在地后，在接到用户通知后2周内进行安装调试，直至通过验收。仪器的安装调试需在30个工作日内完成。
-不锈钢样品固定座，配合15mm的研磨轮使用4个
(3) 656 Dimple Grinder高精度凹坑仪1套
-直径为15mm的抛光轮1个
-直径为15mm的抛光毛毡环15个
-直径为15mm的研磨轮3个
-钻石抛光膏，颗粒度为2-4um 1个
-三氧化二铝抛光液，颗粒度为0.05um 1个
-专用石蜡棒12个
6.5软、硬件升级：卖方应免费向用户提供自验收之后未来5年的仪器软件升级，与之相关的硬件升级收取成本费。
6.6由厂家负责场发射透射电子显微镜磁屏蔽改装的费用。
8.订货数量：1套
9.交货时间：合同生效后8个月内。
二、透射电镜CCD相机及样品制备仪器技术指标
1.工作条件
1.1电力供应：220V（10%），50Hz，1φ; 380V（10%），50Hz，3φ
3.11.3(*)晶体活区面：30mm2
3.11.4可分析元素范围：Be4~U92
3.11.5(*)能量分辨率(Mn-Ka)：优于136eV（标准）
3.11.6(*)免维护性：不用时勿需加液氮，并且断液氮和重新加液氮无须运行特殊保护程序
3.11.7谱仪硬件结构：采用32位高速PCI总线，可处理最大计数率: >500,000CPS，输出最大计数率>100,000CPS
3.8相机长度：最小≤30mm；最大≥4,500mm
*3.9样品台
3.9.1低背景双倾样品台最大倾斜角度：40
3.9.2样品移动范围：X,Y≥2 mm；Z :0.375 mm
3.9.3样品移速率（使用标准样品杆）：≤0.5nm/min
3.10扫描透射(STEM)
*3.10.1分辨率：0.19 nm
3.10.2探头：高角环形暗场探头（HADDF）
(1) 601 UltraSonic Cutter超声波切片机1套
其中包括：(括号内为数量)
-带有观察灯的立体显微镜1套
-X-Y双向可移样品台1套
-直径为3mm的圆形切割头1套
-8ml研磨膏2个
-专用石蜡棒5个
(2)623.Disc Grinder手动研磨盘1套
其中包括：(括号内为数量)
-手动研磨盘1个
1.2工作温度：15℃-25℃
1.3工作湿度：< 60%
2.技术要求
2.1透射电镜CCD相机
*2.1.1分辨率：4k x 2.7k即1100万像素，像素点尺寸：≤9µm×9µm
2.1.2安装位置：底装
2.1.3操作电压：最大电压至200kV
*2.1.4耦合方式：1:1光纤耦合，HCR (高衬度分辨率)技术
*2.2.3.1控制精度：1μm
2.2.3.2研磨载荷：0~40gms
2.2.3.3可控制研磨速度
2.2.3.4样品厚度连续可读
2.2.3.5减薄到设定厚度时自动终止或手动停止
2.2.3.6带有观察灯的立体显微镜，实现样品对中
*2.2.3.7可配套手动研磨盘不锈钢固定底座使用
2.2.4精密离子减薄仪
*2.2.4.1离子枪：潘宁式离子枪，装载微小磁铁，聚焦离子束设计，无易耗件
*2.2.4.2减薄角度：+10°到-10°，每只离子枪可独立调节
2.2.4.3样品旋转：1~6 rpm，离子枪固定，样品台旋转
*2.2.4.4离子枪束能量：0.1keV~6keV
2.2.4.5离子束调制：双束调制系统,可进行< 1º的单、双面减薄
*2.1.12图像存储模式：*.dm3图像存储格式，并可与.tiff格式、.jpg格式、.emf格式、.bmp格式、.gif格式等自由转换
2.2透射电镜样品制备仪器
2.2.1超声波切割机
2.2.1.1切割厚度：<40μm~5mm
2.2.1.2样品台：带磁性，X-Y双向可移
*2.2.1.3样品定位：带有观察灯的立体显微镜，用于样品准确定位
1套
4.1.7必备电镜控制计算机等1套
4.1.8其它保证设备正常运行和保养所需的全套标准备品备件、专用工具
1套
4.2一体化STEM系统一套，包括：
4.2.1扫描透射附件（STEM）1套
4.2.2高角环状暗场探头（HAADF）1套
4.3一体化能谱仪系统（全套软硬件）1套
5.技术文件：
5.1投标人应提供仪器主体及主要附件的详细的操作，安装，及调整说明书。
3.配置
（1）4K x 2.7K 1100万像素CCD相机主机部分，底部安装，最大操作电
压为200Kev，其中已包括基本操作软件DigitalMicrograph 1套
2.19 "液晶显示器电脑（Dell电脑(P4 3.0/4GB/500G/19”LCD) (国内采购）1套
3.透射电镜样品制备系列仪器
3.2.2高压稳定性：≤1 ppm/10min
3.3电子枪
3.3.1电子枪类型：肖特基场发射电子枪
3.3.2束流：1nm束斑电流：0.6nA
3.3.3束斑漂移：< 1nm/min
3.4最小束斑尺寸
3.4.1透射模式(TEM)：≤2 nm
*3.4.2汇聚束模式：最小束斑≤0.3 nm
3.5照明模式
3.5.1两种照明模式：平行光模式和汇聚束模式。每种模式下各有11种束斑尺寸，大小可调。
3.14.2能比较方便地实现常用功能,包括样品移动、光束移动、放大倍数、模式切换、聚焦、合轴操作等。
3.14.3电镜操作者可以根据需要拥有一套或多套电镜状态参数，每套状态参数相互独立，可在使用过程中迅速切换调用。可设置任意多个用户，每个用户之间的参数设置相对独立，同时还可以相互调用。
*3.14.4控制软件具有多种探测器（附件）同时采集数据功能和频谱分析功能，可进行在线或后续的离线分析，可在几秒种之内完成所需模式（如常用的透射模式与扫描透射模式）之间的切换，实现在同一点的多种模式或手段的综合分析。
3.11.14（*）售后服务：在中国具有的稳定高素质的技术服务队伍，提供优良的技术支持。厂家在中国北京等地设有能谱维修站，具有维修能谱探头的技术力，能够快速响应用户的维修服务请求。每年在国内举办能谱应用高级培训班和用户交流会，提高使用水平。
（对于有图像系统的能谱仪，System 60）
3.11.15*)图像系统：具有高性能的图像系统，在能谱平台上实现能谱的采集与定量分析、线扫描及所有的面扫描（常规面分布、定量面分布和快速面分布等），并且：
-耐火玻璃及不锈钢样品座1个
(4) 691 Precision Ion Polishing System with Low Energy Guns
2.2.4.6样品更换：快速样品更换时间<1min，无需破减薄室真空
*2.2.4.7样品台：铜柱样品台，钼柱样品台，粘式、夹式DouPost样品台每样至少提供一个，以适用于各种样品的减薄需求
2.2.4.8真空系统：无油机械泵+分子泵系统
2.2.4.9所需气体：氩气，操作压力25psi，无需水冷
备注：其中，带*的指标为重要的必须满足的技术指标
电子数字图像最大清晰度：8192x6400
X射线成分图最大清晰度：2048x1600
3.11.16快速智能面分布(Live Spectral Mapping)和元素侦探器(Element Detective)，存储样品每一扫描位置(x, y)的能谱图，用户而后可以在离线状态下从图像上的任何位置创建谱线、线扫描和面分布图，并可以利用元素侦探器分析试样中的微量元素和微量相。
1.6仪器运行的持久性：仪器可连续使用。
2.设备用途：科研
3.技术规格
3.1分辨率
*3.1.1点分辨率：≤0.24nm
3.1.2线分辨率：≤0.102nm
*3.1.3信息分辨率：≤0.14nm
3.2加速电压
3.2.1加速电压：最高：200kV；最低：20kV；加速电压全程范围内切换仅需通过软件完成。
6.2技术培训：在用户所在地对用户进行至少2人、为期3天的培训。培训内容包括仪器的技术原理、仪器操作、数据处理、仪器基本维护等。
6.3保修期：卖方提供1年的免费保修,保修期自仪器验收签字之日起计算。增加一年报修。
6.4维修响应时间：卖方应在24小时内对用户的服务要求作出响应；需要在现场解决问题的，应在5个工作日内到达仪器现场。
3.12记录装置