磁盘检测之读懂SMART

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磁盘检测之读懂SMART

磁盘检测之读懂SMART

磁盘检测之读懂S.M.A.R.TS.M.A.R.T.(自监测、分析、报告技术):这是现在硬盘普遍采用的数据安全技术,在硬盘工作的时候监测系统对电机、电路、磁盘、磁头的状态进行分析,当有异常发生的时候就会发出警告,有的还会自动降速并备份数据。

早在上个世纪九十年代,人们就意识到数据的宝贵性胜于硬盘自身价值,渴望有种技术能对硬盘故障进行预测并实现相对安全的数据保护,因此S.M.A.R.T技术应运而生。

对于不少用户,特别是商业用户而言,一次普通的硬盘故障便足以造成灾难性后果,所以时至今日,S.M.A.R.T技术仍为我们所用。

S.M.A.R.T信息保留在硬盘的系统保留区(service area)也叫固件区内,这个区域一般位于硬盘0物理柱面的最前面几十个物理磁道,由厂商写入相关内部管理程序。

系统保留区除了S.M.A.R.T信息表外还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。

监测软件通过一个名为“SMART RETURN STATUS”的命令(命令代码为:B0h)对S.M.A.R.T信息进行读取,且不允许最终用户对信息进行修改。

在硬盘以及操作系统都支持S.M.A.R.T.技术并且该技术默认开启的的情况下,在不良状态出现时S.M.A.R.T.技术能够在屏幕上显示英文警告信息:“WARNING:IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE,A FAILURE MAY BE IMMINENT.” (警告:立刻备份你的数据同时更换硬盘驱动器,可能有错误出现。

)SMART数据分析:例如用任意软件查看硬盘的SMART结果如下:S.M.A.R.T检测参数分为7列,分别是ID检测代码、属性描述、属性值、最大错误值、阈值、实际值和属性状态。

ID检测代码(ID)ID检测代码不是唯一的,厂商可以根据需要,使用不同的ID代码或根据检测参数的多少增减ID代码的数量。

硬盘测试的技巧

硬盘测试的技巧

硬盘测试的技巧硬盘测试是一项重要的任务,可以帮助我们评估硬盘的性能、稳定性和可靠性。

下面是一些硬盘测试的技巧,希望对您有所帮助。

1. 检查硬盘的SMART数据S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology) 是硬盘内置的一项技术,可以监测硬盘的运行状态和性能指标。

通过检查SMART数据,可以获取硬盘的健康状况和存在的问题。

可以使用一些专业的硬盘测试软件,如CrystalDiskInfo和HD Tune等,来读取并分析SMART数据。

2. 进行表面扫描硬盘表面的坏道是硬盘常见的问题之一。

坏道会影响硬盘的读写速度和数据可靠性。

通过进行表面扫描可以发现并修复硬盘表面的坏道。

可以使用诸如HDDScan或Victoria等软件进行表面扫描。

3. 进行读写速度测试硬盘的读写速度是硬盘性能的重要指标之一。

可以使用各种工具和测试软件进行读写速度测试,例如CrystalDiskMark、AS SSD或ATTO Disk Benchmark等。

这些软件可以测量硬盘的顺序读写速度和随机读写速度,并提供速度图表和统计数据。

4. 进行温度测试硬盘的温度也是一个需要关注的指标。

过高的硬盘温度可能会导致硬盘性能下降甚至故障。

可以使用硬盘温度监控软件,如Hard Disk Sentinel或HDDScan 等,来实时监测硬盘的温度并进行测试。

5. 进行噪音测试噪音是硬盘工作时产生的另一个指标。

通过进行噪音测试可以评估硬盘的安静程度和噪音水平。

可以使用硬盘噪音测试工具或将硬盘放置在一个安静的环境中,以便更好地听到硬盘的噪音。

6. 进行长时间稳定性测试长时间的稳定性测试可以帮助我们评估硬盘在持续工作负载下的表现和可靠性。

可以使用软件工具,如Hard Disk Sentinel、HDDScan或PassMark BurnInTest 等,来进行长时间的负载测试,并观察硬盘的稳定性和温度变化。

了解电脑硬盘的SMART技术

了解电脑硬盘的SMART技术

了解电脑硬盘的SMART技术SMART(自我监测、分析和报告技术)是一种用于硬盘驱动器的监测和诊断功能,可以帮助用户及时了解硬盘的健康状况,以便采取预防措施或及时更换硬盘。

在本文中,我们将探讨SMART技术的背景、原理和作用,以及如何利用SMART工具来监测和维护硬盘。

一、SMART技术的背景介绍SMART技术是由硬盘制造商引入的一项先进功能,旨在提供硬盘驱动器的自我监测和预警机制。

在过去,当硬盘出现问题时,用户可能无法及时发现,直到硬盘彻底失效或丢失重要数据。

SMART技术的引入旨在改变这一现状,提供更准确、及时的硬盘健康状况报告。

二、SMART技术的原理SMART技术基于硬盘驱动器内置的传感器和自检功能,通过监测多个参数和指标来评估硬盘的健康状况。

这些参数包括温度、旋转速度、读写错误率、寻道时间、驱动器使用时间等。

通过对这些参数进行监测和分析,SMART技术可以提前预测硬盘故障的可能性,并发送警报,提醒用户备份数据或更换硬盘。

三、SMART技术的作用1. 提前发现硬盘问题:SMART技术可以对硬盘进行实时监测,当硬盘出现异常时,如读写错误率过高或温度超过安全范围,SMART会向用户发送警报。

通过这些警报,用户可以及时采取措施来避免数据丢失或硬盘故障。

2. 数据备份和恢复:SMART技术不仅可以监测硬盘的健康状况,还可以提供有关硬盘寿命和剩余寿命的报告。

这使用户能够根据硬盘的状态来制定数据备份计划,以防止重要数据的丢失。

此外,在更换硬盘时,SMART技术也可以帮助用户进行数据的迁移和恢复。

3. 保证系统稳定性:硬盘是计算机系统的关键组件之一,其稳定性对于计算机的性能和可靠性至关重要。

通过使用SMART技术,用户可以及时检测硬盘的健康状况,预防潜在的硬盘故障,从而确保计算机系统的稳定性和可靠性。

四、如何利用SMART工具进行硬盘监测和维护1. 安装SMART工具:SMART技术通常由硬盘制造商提供相应的软件工具,用户可以从官方网站下载并安装这些工具。

SMART技术检测磁盘故障参数

SMART技术检测磁盘故障参数

SMART技术检测磁盘故障参数SMART检测参数说明一般情况下,用户只要观察当前值、最差值和临界值的关系,并注意状态提示信息即可大致了解硬盘的健康状况。

下面简单介绍各参数的含义,以红色标出的项目是寿命关键项,蓝色为固态硬盘(SSD)特有的项目。

在基于闪存的固态硬盘中,存储单元分为两类:SLC(Single Layer Cell,单层单元)和MLC(Multi-Level Cell,多层单元)。

SLC成本高、容量小、但读写速度快,可靠性高,擦写次数可高达100000次,比MLC高10倍。

而MLC虽容量大、成本低,但其性能大幅落后于SLC。

为了保证MLC的寿命,控制芯片还要有智能磨损平衡技术算法,使每个存储单元的写入次数可以平均分摊,以达到100万小时的平均无故障时间。

因此固态硬盘有许多SMART参数是机械硬盘所没有的,如存储单元的擦写次数、备用块统计等等,这些新增项大都由厂家自定义,有些尚无详细的解释,有些解释也未必准确,此处也只是仅供参考。

下面凡未注明厂商的固态硬盘特有的项均为SandForce主控芯片特有的,其它厂商各自单独注明。

01(001)底层数据读取错误率 Raw Read Error Rate数据为0或任意值,当前值应远大于与临界值。

底层数据读取错误率是磁头从磁盘表面读取数据时出现的错误,对某些硬盘来说,大于0的数据表明磁盘表面或者读写磁头发生问题,如介质损伤、磁头污染、磁头共振等等。

不过对希捷硬盘来说,许多硬盘的这一项会有很大的数据量,这不代表有任何问题,主要是看当前值下降的程度。

在固态硬盘中,此项的数据值包含了可校正的错误与不可校正的RAISE错误(UECC+URAISE)。

注:RAISE(Redundant Array of Independent Silicon Elements)意为独立硅元素冗余阵列,是固态硬盘特有的一种冗余恢复技术,保证内部有类似RAID 阵列的数据安全性。

SMART介绍

SMART介绍

SMART详解1、查看SMART状态Worst=最坏值;这个名称容易产生歧意,其实就是某个属性出现过的峰值;Value=目前的值;Threshold=阈值/极限值;如果磁盘的某个属性超过阈值时,就表示该盘出现了问题;Status=状态;OK表示正常;FAIL表示磁盘已经出现问题了;如果当一个参数的数值(Value)往阈值(Threshold)变化,就表示该项参数在恶化,也许是常态的老化现象,也许是出现了问题;相反的,如果往门槛值的反方向变化时,则表示该问题在改善,或是状况已经暂时解除。

但不管怎样,只要数值(Value)曾低于阈值(包括Worst),就代表这颗磁盘快挂了,应该尽快备份数据。

SMART数据会因硬盘厂商和产品型号的不同而有差异,不过不必担心,因为关键属性是任何一款硬盘都不会遗漏的。

那什么叫关键属性?其实SMART的属性分为Critical Attributes和Informative Attributes两类,关键属性和信息属性。

其中关键属性包括了有关硬盘健康的最重要的数据,而信息属性所提供的数据一般只是辅助性的,相对来说比较次要的。

区分它们的方法是看threshold(阈值/极限值),值为非零代表关键属性,为零代表信息属性。

2、S.M.A.R.T.AttributesID Hex Attribute name Description0101Read Error Rate读取出错率Indicates the rate of hardware read errors that occurred when readingdata from a disk surface.The raw value has different structure fordifferent vendors and is often not meaningful as a decimal number.0202ThroughputPerformance输出性能Overall(general)throughput performance of a hard disk drive.If thevalue of this attribute is decreasing there is a high probability thatthere is a problem with the disk.0303Spin-Up Time旋上时间Average time of spindle spin up(from zero RPM to fully operational[millisecs]).硬盘马达达到规定转速所花费的时间0404Start/Stop Count启停次数A tally of spindle start/stop cycles.The spindle turns on,and hencethe count is increased,both when the hard disk is turned on afterhaving before been turned entirely off(disconnected from powersource)and when the hard disk returns from having previously beenput to sleep mode.[13]硬盘马达启动/停止的次数。

硬盘SMART检测参数详解

硬盘SMART检测参数详解

硬盘SMART检测参数详解用户最不愿意看到的事情,莫过于在毫无警告的情况下发现硬盘崩溃了。

诸如RAID的备份和存储技术可以在任何时候帮用户恢复数据,但为预防硬件崩溃造成数据丢失所花费的代价却是相当可观的,特别是在用户从来没有提前考虑过在这些情况下的应对措施时。

硬盘的故障一般分为两种:可预测的(predictable)和不可预测的(unpredictable)。

后者偶而会发生,也没有办法去预防它,例如芯片突然失效,机械撞击等。

但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况,可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。

对于可预测的情况,如果能通过磁盘监控技术,通过测量硬盘的几个重要的安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。

那么在发生故障前,至少有足够的时间让使用者把重要资料转移到其它储存设备上。

最早期的硬盘监控技术起源于1992年,IBM在AS/400计算机的IBM0662SCSI2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为PredictiveFailureAnalysis(故障预警分析技术)的监控技术,它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。

不久,当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe的类似技术。

通过该技术,硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量值传送给操作系统和用户的监控软件中,每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。

1995年,康柏公司将该技术方案提交到SmallFormAnalysisAndReportingTechnology),全称就是“自我检测分析与报告技术”,成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。

SMART的目的是监控硬盘的可靠性、预测磁盘故障和执行各种类型的磁盘自检。

硬盘SMART简要说明

硬盘SMART简要说明

马达尝试启动的重试计数。这个属性存储了马达为了达到标准转速而进行的启动尝试的总计数,即第一次启动并不能成功达到标准转速。这个属性值的增加是一个标志,说明硬盘的机械系统出现了问题。
12(0C) 通电周期计数 Power Cycle Count (越小越好,通常无阀值)
这个属性表明了整个硬盘通电/去电周期的次数,即开关次数。
197(C5) 当前待映射扇区计数 Current Pending Sector Count (应小于阀值)
“不稳定的”扇区数量,即等待被映射的扇区数量。 如果不稳定的扇区随后被读写成功,这个值会降低,扇区也不会重新映射。扇区读取错误不会造成重新映射,扇区只会在写入失败时发生重新映射。这个值有时候会有问题,因为带缓存写入不会重新映射扇区,只有直接读写才会真正写入磁盘。
通过接口循环冗余校验(Interface Cyclic Redundancy Check,ICRC)发现的通过接口电缆进行数据传输的错误。
200(C8) 写入错误率 Write Error Rate (应小于阀值)
写入一个扇区时发生错误的总数
05.c5.c6项是反映硬盘健康状况的三项数据。
01(01) 读取错误率 Read Error Rate (应小于阀值)
硬件读取错误率,在从磁盘表面读取数据发生错误时记录。任何大于0的数据表明在磁盘表面或者读写柱头(read/write heads)发生过问题。
05(05) 重新映射扇区计数 Reallocated Sectors Count (应小于阀值)
C5,待映射扇区数。有坏的扇区需要替换。还没替换,试试用mhdd之类的软件擦一下(一般硬盘有坏道或硬盘加密所至),如果删除全部分区再次格式化后还是有的话,那就是硬盘物理磨损了,真正的坏扇区来了

磁盘smart检查

磁盘smart检查

1 磁盘smart信息介绍S.M.A.R.T的全称为“Self-Monitoring,Analysis and Reporting Technology”,即“自我监测、分析及报告技术”。

支持S.M.A.R.T技术的硬盘可以通过硬盘上的监测指令和主机上的监测软件对磁头、盘片、马达、电路的运行情况、历史记录及预设的安全值进行分析、比较。

当出现安全值范围以外的情况时,就会自动向用户发出警告。

磁盘Smart信息中包含各种值的介绍:1、属性当前值(value)属性值是指硬盘出厂时预设的最大正常值,一般范围为1~253。

通常,最大的属性值等于100(适用于IBM、富士通)或253(适用于三星)。

当然,也有例外的时候,比如由西部数据公司生产的部分型号硬盘,就用了两个不同的属性值,最初生产时属性值设为200,但后来生产的有些硬盘属性值又改为100。

2、最大出错值(Worst)最大出错值是硬盘运行中曾出现过的最大的非正常值。

它是对硬盘累计运行的计算值,根据运行周期,该数值会不断地刷新,并且会非常接近阈值。

S.M.A.R.T分析和判定硬盘的状态是否正常,就是根据这个数值和阈值的比较结果而定。

新硬盘开始时有最大的属性值,但随着日常使用或出现错误,该值会不断减小。

因此,较大的属性值意味着硬盘质量较好而且可靠性较高,而较小的属性值则意味着故障发生的可能性增大。

3、实际值(Date)是硬盘各检测项目运行中的实际数值,很多项目是累计值。

例如:Start/Stop Count(启停次数),累计的实际值是436,即该硬盘从开始到现在累计加电启停436次。

4、属性状态(Status)这是S.M.A.R.T针对前面的各项属性值进行比较分析后,提供的硬盘各属性目前的状态,也是我们直观判断硬盘“健康”状态的重要信息。

根据S.M.A.R.T的规定,这种状态一般有正常、警告和报告故障或错误等3种状态。

5、阈值(Threshold)又称门限值。

磁盘检测之读懂SMART

磁盘检测之读懂SMART

磁盘检测之读懂S.M.A.R.TS.M.A.R.T.(自监测、分析、报告技术):这是现在硬盘普遍采用的数据安全技术,在硬盘工作的时候监测系统对电机、电路、磁盘、磁头的状态进行分析,当有异常发生的时候就会发出警告,有的还会自动降速并备份数据。

早在上个世纪九十年代,人们就意识到数据的宝贵性胜于硬盘自身价值,渴望有种技术能对硬盘故障进行预测并实现相对安全的数据保护,因此S.M.A.R.T技术应运而生。

对于不少用户,特别是商业用户而言,一次普通的硬盘故障便足以造成灾难性后果,所以时至今日,S.M.A.R.T技术仍为我们所用。

S.M.A.R.T信息保留在硬盘的系统保留区(service area)也叫固件区内,这个区域一般位于硬盘0物理柱面的最前面几十个物理磁道,由厂商写入相关内部管理程序。

系统保留区除了S.M.A.R.T信息表外还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。

监测软件通过一个名为“SMART RETURN STATUS”的命令(命令代码为:B0h)对S.M.A.R.T信息进行读取,且不允许最终用户对信息进行修改。

在硬盘以及操作系统都支持S.M.A.R.T.技术并且该技术默认开启的的情况下,在不良状态出现时S.M.A.R.T.技术能够在屏幕上显示英文警告信息:“WARNING:IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE,A FAILURE MAY BE IMMINENT.” (警告:立刻备份你的数据同时更换硬盘驱动器,可能有错误出现。

)SMART数据分析:例如用任意软件查看硬盘的SMART结果如下:S.M.A.R.T检测参数分为7列,分别是ID检测代码、属性描述、属性值、最大错误值、阈值、实际值和属性状态。

ID检测代码(ID)ID检测代码不是唯一的,厂商可以根据需要,使用不同的ID代码或根据检测参数的多少增减ID代码的数量。

看硬盘SMART参数----HDtune工具查看

看硬盘SMART参数----HDtune工具查看

从网上下载一个工具:HDtune或HDtunePro,这个工具非常管用,功能也很多,别的功能先不谈,当前只谈“健康”页签的功能。

运行HDtune工具,选择你要查看的硬盘(前提,你的硬盘必须是通过SATA或eSATA连接电脑的,而不是通过USB连接的,USB连接有时SMART参数不能完全显示),再选择“健康”页签,呈现在你眼前的便是该硬盘的SMART参数。

SMART参数的各项意义在本文结尾有网文介绍,此处只讲几个重要参数:(05)重映射扇区计数,(C5)当前待映射的扇区数,(C6)脱机无法校正的扇区数,(C7)Ultra DMA CRC错误计数。

(05)一旦出现,表明你的硬盘已出现了物理坏道,物理坏道无法修复的。

这种情况,第一件事就是快快备份数据。

你的硬盘如果在保修期内,速去更换吧。

如果出保了,将就用吧,只要(05)数值不会持续增加,这硬盘还能用,容量也不会改变,直到数据值超过阀值,容量才开始减少,你必须得通过一些软件工具屏蔽坏道了,否则数据进了坏道就很难读出来了。

而且如果(05)数值持续增加,你的硬盘离坏不远了,没多久就会超过阀值。

(C5)出现数值,这种情况比较多见。

特别是当你的电脑遇到停电、死机、蓝屏的次数比较多时,这一项值出现的机率就较大了。

这一项值的出现,会表现为,拷贝时出现CRC冗余校验错误。

一旦你在使用硬盘时出现CRC冗余校验错误,速去查看hdtune的参数(C5)值,肯定不是0了。

发生了这种情况,不必害怕,这是逻辑坏道,一般来说是可以修复的,如何修复,下回分解。

如果不重视这个值,长期不修复的话,时间一长,系统会把它当作物理坏道看待,直接写到(05)值里,那这个坏道就变成了物理坏道,哭都来不及了。

(C6)这项值比(C5)还重要,它是(C5)向(05)过渡的值。

一旦出现这值,速速备份数据,如果保修期内,速速换盘;如果出保,低格硬盘,可能会消除(C5)数值而使C6值不再增加也不向05进数。

如何读懂磁盘检测之S、M、A、R、T教程

如何读懂磁盘检测之S、M、A、R、T教程

如何读懂磁盘检测之S.M.A.R.T教程S.M.A.R.T.(自监测、分析、报告技术):这是现在硬盘普遍采用的数据安全技术,在硬盘工作的时候监测系统对电机、电路、磁盘、磁头的状态进行分析,当有异常发生的时候就会发出警告,有的还会自动降速并备份数据。

早在上个世纪九十年代,人们就意识到数据的宝贵性胜于硬盘自身价值,渴望有种技术能对硬盘故障进行预测并实现相对安全的数据保护,因此S.M.A.R.T技术应运而生。

对于不少用户,特别是商业用户而言,一次普通的硬盘故障便足以造成灾难性后果,所以时至今日,S.M.A.R.T技术仍为我们所用。

S.M.A.R.T信息保留在硬盘的系统保留区(service area)也叫固件区内,这个区域一般位于硬盘0物理柱面的最前面几十个物理磁道,由厂商写入相关内部管理程序。

系统保留区除了S.M.A.R.T信息表外还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。

监测软件通过一个名为“SMART RETURN STATUS”的命令(命令代码为:B0h)对S.M.A.R.T信息进行读取,且不允许最终用户对信息进行修改。

在硬盘以及操作系统都支持S.M.A.R.T.技术并且该技术默认开启的的情况下,在不良状态出现时S.M.A.R.T.技术能够在屏幕上显示英文警告信息:“WARNING:IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YO UR HARD DISK DRIVE,A FAILURE MAY BE IMMINENT.”(警告:立刻备份你的数据同时更换硬盘驱动器,可能有错误出现。

)1、SMART数据分析:例如用任意软件查看硬盘的SMART结果如下:S.M.A.R.T检测参数分为7列,分别是ID检测代码、属性描述、属性值、最大错误值、阈值、实际值和属性状态。

2、ID检测代码(ID)ID检测代码不是唯一的,厂商可以根据需要,使用不同的ID 代码或根据检测参数的多少增减ID代码的数量。

硬盘SMART参数解释

硬盘SMART参数解释

硬盘SMART参数解释Raw Read Error Rate 底层读取错误率,⾼值暗⽰盘体/磁头有问题Throughput Performance 读写通量性能 (越⾼越好) * ⼀般在进⾏了⼈⼯ Offline S.M.A.R.T. 测试以后才会有值。

Spin Up Time 电机起转时间,单位为秒或者毫秒Start/Stop Count 电机起停次计数,⾼值暗⽰故障概率增加Reallocated Sector Count 重定位扇区计数,表⽰硬件已经发现了多少坏扇区* 理想情况下这个值应该为0,如果不为0也不要太惊慌,⽽是应该⽐较密切的关注这个值的变化情况:如果连续⼏周没有变化,那你应该可以放⼼的继续使⽤⽐较长的⼀段时间;如果这个值持续攀升,那么请尽快备份所有数据,并考虑购买新硬盘。

Seek Error Rate 寻道错误率,这个视硬盘⼚家⽽定,有的⼚新硬盘都会有* ⼀般不为零也不要紧,但是如果持续升⾼,暗⽰盘体/磁头机械有问题。

Seek Time Performance 寻道性能 (越⾼越好),如果持续减低,暗⽰盘体/磁头机械有问题Power-On Hours 磁盘加电时间。

* 参考磁盘⼚家给的该款硬盘的 MTBF(平均故障间隔时间) 可以估计故障概率。

但是也有可能超过MTBF⽽不会出现故障,因为统计数据对于个体来说是不精确的v-Spin Retry Count 电机起转重试,理想情况应该为0,⾮0表⽰电机或者控制芯⽚可能存在问题* 当然,在某些情况下可能认为造成这个值的⾮故障升⾼,⽐如电压供给不⾜。

Recalibration Retries 磁头校准重试,⾼值暗⽰磁头机械有问题Device Power Cycle Count 设备开关计数,⾼值暗⽰故障概率增加mSoft Read Error Rate 软件读取错误率,⾼值暗⽰有扇区不稳定G-Sense Error Rate 加速度错误率* ⼀般存在于笔记本硬盘和企业级硬盘中,表⽰硬盘受到的可能导致故障的冲击次数。

硬盘SMART各状态含义

硬盘SMART各状态含义

硬盘SMART各状态含义S.M.A.R.T(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology,硬盘自动监测、分析和报告技术)。

SMART的属性分为Critical Attributes和Informative attributes两类,关键属性和信息属性。

其中关键属性包括了有关硬盘健康的最重要的数据,而信息属性所提供的数据一般只是辅助性的。

区分它们的方法是看threshold(阈值/极限值),值为非零代表关键属性,为零代表信息属性。

SMART的值的说明Threshold 阈值/极限值:如果某个属性超过threshold规定的极限值时,就表示你的硬盘出现了问题。

Value 当前值。

Worst 最坏值:这个名称容易产生歧意,其实就是某个属性出现过的峰值。

Data 数据:和某个属性有关联的数据总值,这个数值没什么实际用途。

status 状态:OK: Value is normal/OK: Always passing代表正常;Warning、Pre-Failure表示可能会发生故障,Bad、Failed表示已经有故障了。

SMART的属性的含义说明01 Raw Read Error Rate 读取出错率03 Spin Up Time 硬盘马达达到规定转速所花费的时间04 Start/Stop Count 硬盘马达启动/停止的次数05 Reallocated Sector Count 再分配扇区的总数07 Seek Error Rate 寻道出错率09 Power-On Time Count 硬盘开电时间总和0A Spin Retry Count 硬盘马达达到规定转速所用的次数0C Power Cycle Count 硬盘加电次数总和C2 Temperature 温度C3 Hardware ECC Recovered 硬件错误检查和纠正的恢复次数。

ECC全称是Error Checking and Correcting。

硬盘SMART检测参数详解

硬盘SMART检测参数详解

硬盘SMART检测参数详解SMART(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology)是一种嵌入在硬盘中的自我监测、分析和报告技术,用于检测硬盘的健康状况和预测可能的故障。

SMART报告显示了硬盘的各种检测参数,可以帮助用户及时采取措施以保护硬盘中的数据。

本文将详细介绍一些常见的SMART检测参数及其含义。

1. Raw Read Error Rate(原始读取错误率):表示在从硬盘中读取数据时发生的错误次数。

数值越小越好,如果该值超过了硬盘的阈值,说明硬盘的读取性能可能有问题。

2. Spin-Up Time(启动时间):指硬盘从静止状态启动到正常运转所需的时间。

数值越小越好,如果启动时间过长,可能是硬盘的电机出现了问题。

3. Start/Stop Count(启动/停止计数):指硬盘启动和停止的次数。

当硬盘的启动/停止次数超过阈值时,可能表示硬盘可能发生故障。

4. Reallocated Sectors Count(重分配扇区计数):表示硬盘因为发现一些扇区出现故障而将其重新分配给备用扇区的次数。

数值越大表示硬盘上的坏扇区越多,可能意味着硬盘的寿命已经接近尽头。

5. Seek Error Rate(寻道错误率):表示在寻找指定数据时发生的错误次数。

数值越小越好,如果这个值过高,可能是硬盘磁头或电机出现故障。

6. Power-On Hours(通电时间):指硬盘从上次通电以来的总工作时间。

数值越大表示硬盘使用时间越长,寿命可能越接近尽头。

7. Temperature(温度):硬盘的温度。

高温会对硬盘的寿命造成不利影响,用户应确保硬盘处于适宜的工作温度范围内。

8. Hardware ECC Recovered(硬件ECC恢复):表示硬盘自动纠错功能(ECC)成功恢复错误的次数。

数值越大表示纠错功能越有效。

9. Current Pending Sector Count(当前待定扇区计数):表示硬盘当前有多少个扇区出现了错误但尚未被硬盘重新分配。

原创如何看机械硬盘SMART信息。

原创如何看机械硬盘SMART信息。

原创如何看机械硬盘SMART信息。

本帖最后由 neeyuese 于 2010-4-2 22:09 编辑S.M.A.R.T,全称叫Self-Monitoring, Analysis, and Reporting Technology "自我监测,分析和报告技术"。

可以用来预测分析硬盘的潜在问题。

说道硬盘故障,分为忽然性和渐进性2种:前面种很难防止,没有任何迹象,比如芯片烧了,硬盘摔了或者人品不好之类的。

要防止只有多做备份了。

渐进性的故障是随着时间慢慢发生的,比如声音出现异常,可能是主轴马达磨损,硬盘逐渐老化出现读取困难等。

对于渐进性的故障,我们可以靠着SMART数据发现点有用的信息。

SMART状态表由下面几个参数构成:ID,点上去后下面会显示DESCRIPTION(属性描述)由于硬盘厂很多,很多厂家属性的名字也不尽相同,或者某些厂牌缺少某些属性,所以一般我们以ID来区别比较简单。

THRESHOLD(阈值)、CURRENT(当前值)和WORST(最坏值)当前值低于最坏值时候,硬盘处于警告状态,SMART像系统报告,这时候应该记得备份数据。

一般当前值是不可能降低到最坏值的(西数,希捷某些属性除外)。

DATA(数据), STATUS(状态)DATA里有更详细的数据,由各家厂自定义。

状态表现为健康和警告,错误。

根据S.M.A.R.T属性对硬盘故障预测的重要性不同,分为关键属性(Critical Attributes)和资料属性(Informative attributes)。

关键属性:对硬盘的使用寿命、各机械组件的渐进性故障具有一定的监测作用。

资料属性:反馈硬盘的相关运行记录供参考。

那么那些是关键属性哪?一般我们说THRESHOLD(阈值)不是0的属性是关键属性。

或者还有更简单的一个方法,用Everest看硬盘SMART信息,后面状态栏写:图中 O.K. Always Passes的就是资料属性。

电脑硬盘SMART监测与故障

电脑硬盘SMART监测与故障

电脑硬盘SMART监测与故障智能硬盘监测技术(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology,简称SMART)是一种为电脑硬盘提供自动检测和监测的机制。

通过SMART技术,我们可以及时发现硬盘的潜在问题以及预测故障的可能性,从而采取相应的措施来保护重要的数据。

一、SMART技术原理及作用SMART技术通过硬盘内置的传感器和自我诊断工具来收集与硬盘运行情况相关的各种数据,包括温度、读写错误率、旋转速度、起停次数等。

通过这些数据的收集和分析,SMART技术可以对硬盘的健康状况进行评估。

当硬盘出现问题或存在潜在故障时,SMART技术会提供警告信息,使用户能够及早采取防护措施,防止数据丢失和系统崩溃的风险。

二、SMART监测的方法和工具为了实施SMART监测,我们可以使用多种方式和工具。

以下是一些常见的SMART监测工具:1. 硬盘厂商提供的监测工具:大多数硬盘厂商都提供了自家设计的SMART监测工具,用户可以从厂商官方网站下载和安装。

这些工具通常具有用户友好的界面,并可以提供详细的硬盘状态报告。

2. 第三方监测工具:除了硬盘厂商提供的工具,还有许多第三方软件也提供了SMART监测功能。

例如CrystalDiskInfo、HD Tune等。

这些工具通常具有丰富的功能和可视化界面,可以更直观地展示硬盘的运行状态。

三、SMART监测结果的解读在进行SMART监测后,我们需要对监测结果进行分析和解读。

以下是一些常见的SMART监测参数及其含义:1. 温度:硬盘的工作温度。

过高的温度可能导致硬盘寿命的缩短和数据丢失的风险。

2. 读写错误率:硬盘在读写数据时出现错误的频率。

高错误率可能意味着硬盘驱动器有坏道或其他故障。

3. 旋转速度:硬盘的旋转速度。

过低或过高的旋转速度可能导致读取和写入速度的下降,影响系统性能。

4. 起停次数:硬盘的启动和停止次数。

频繁的起停操作可能加速硬盘的磨损,增加故障风险。

硬盘SMART检测参数详解

硬盘SMART检测参数详解

硬盘S M A R T检测参数详解Document number:NOCG-YUNOO-BUYTT-UU986-1986UT硬盘SMART检测参数详解用户最不愿意看到的事情,莫过于在毫无警告的情况下发现硬盘崩溃了。

诸如RAID的备份和存储技术可以在任何时候帮用户恢复数据,但为预防硬件崩溃造成数据丢失所花费的代价却是相当可观的,特别是在用户从来没有提前考虑过在这些情况下的应对措施时。

硬盘的故障一般分为两种:可预测的(predictable)和不可预测的(unpredictable)。

后者偶而会发生,也没有办法去预防它,例如芯片突然失效,机械撞击等。

但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况,可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。

对于可预测的情况,如果能通过磁盘监控技术,通过测量硬盘的几个重要的安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。

那么在发生故障前,至少有足够的时间让使用者把重要资料转移到其它储存设备上。

最早期的硬盘监控技术起源于1992年,IBM在AS/400计算机的IBM0662SCSI2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为PredictiveFailureAnalysis(故障预警分析技术)的监控技术,它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。

不久,当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe的类似技术。

通过该技术,硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量值传送给操作系统和用户的监控软件中,每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。

1995年,康柏公司将该技术方案提交到SmallFormAnalysisAndReportingTechnology),全称就是“自我检测分析与报告技术”,成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。

硬盘SMART检测参数详解[转]

硬盘SMART检测参数详解[转]

硬盘SMART检测参数详解[转]⼀、SMART概述 硬盘的故障⼀般分为两种:可预测的(predictable)和不可预测的(unpredictable)。

后者偶⽽会发⽣,也没有办法去预防它,例如芯⽚突然失效,机械撞击等。

但像电机轴承磨损、盘⽚磁介质性能下降等都属于可预测的情况,可以在在⼏天甚⾄⼏星期前就发现这种不正常的现象。

如果发⽣这种问题,SMART功能会在开机时响起警报,⾄少让使⽤者有⾜够的时间把重要资料转移到其它储存设备上。

最早期的硬盘监控技术起源于1992年,IBM在AS/400计算机的IBM 0662 SCSI 2代硬盘驱动器中使⽤了后来被命名为Predictive Failure Analysis(故障预警分析技术)的监控技术,它是通过在固件中测量⼏个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发⽣故障”。

不久,当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe的类似技术。

通过该技术,硬盘可以测量⾃⾝的的健康指标并将参量值传送给操作系统和⽤户的监控软件中,每个硬盘⽣产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。

1995年,康柏公司将该技术⽅案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进⾏标准化,该⽅案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的⽀持,1996年6⽉进⾏了1.3版的修正,正式更名为S.M.A.R.T.(Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology),全称就是“⾃我检测分析与报告技术”,成为⼀种⾃动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。

作为⾏业规范,SMART规定了硬盘制造⼚商应遵循的标准,满⾜SMART标准的条件主要包括: 1)在设备制造期间完成SMART需要的各项参数、属性的设定; 2)在特定系统平台下,能够正常使⽤SMART;通过BIOS检测,能够识别设备是否⽀持SMART并可显⽰相关信息,⽽且能辨别有效和失效的SMART信息; 3)允许⽤户⾃由开启和关闭SMART功能; 4)在⽤户使⽤过程中,能提供SMART的各项有效信息,确定设备的⼯作状态,并能发出相应的修正指令或警告。

硬盘SMART检测参数详解

硬盘SMART检测参数详解

硬盘SMART检测参数详解[转]要说Linux用户最不愿意看到的事情,莫过于在毫无警告的情况下发现硬盘崩溃了。

诸如RAID的备份和存储技术可以在任何时候帮用户恢复数据,但为预防硬件崩溃造成数据丢失所花费的代价却是相当可观的,特别是在用户从来没有提前考虑过在这些情况下的应对措施时。

硬盘的故障一般分为两种:可预测的(predictable)和不可预测的(unpredictable)。

后者偶而会发生,也没有办法去预防它,例如芯片突然失效,机械撞击等。

但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况,可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。

对于可预测的情况,如果能通过磁盘监控技术,通过测量硬盘的几个重要的安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。

那么在发生故障前,至少有足够的时间让使用者把重要资料转移到其它储存设备上。

最早期的硬盘监控技术起源于1992年,IBM在AS/400计算机的IBM 0662 SCSI 2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为Predictive Failure Analysis(故障预警分析技术)的监控技术,它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。

不久,当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe 的类似技术。

通过该技术,硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量值传送给操作系统和用户的监控软件中,每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。

1995年,康柏公司将该技术方案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进行标准化,该方案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的支持,1996年6月进行了1.3版的修正,正式更名为S.M.A.R.T.(Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology),全称就是“自我检测分析与报告技术”,成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。

如何在计算机上查看当前的硬盘SMART信息

如何在计算机上查看当前的硬盘SMART信息

如何在计算机上查看当前的硬盘SMART信息在计算机使用过程中,硬盘是存储数据的关键组件之一。

为了确保硬盘的健康状况以及预测可能出现的故障,SMART(Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology)技术应运而生。

通过SMART技术,我们可以获取并监控硬盘的各项指标及运行状态。

本文将介绍如何在计算机上查看当前的硬盘SMART信息。

一、Windows系统中查看硬盘SMART信息在Windows系统中,我们可以通过以下步骤查看硬盘的SMART信息:1. 打开计算机,并进入“管理工具”。

2. 在“管理工具”中,找到并点击“计算机管理”。

3. 在“计算机管理”界面中,点击左侧的“设备管理器”。

4. 在“设备管理器”中,点击“磁盘驱动器”展开选项。

5. 选择要查看SMART信息的硬盘,并右键点击,选择“属性”。

6. 在弹出的“属性”窗口中,选择“详细信息”选项卡。

7. 在“详细信息”中,找到并点击“物理设备对象名称”属性。

8. 复制该属性值,用于后续查询。

二、使用第三方工具查看硬盘SMART信息除了Windows系统自带的功能,我们还可以借助一些第三方工具来查看硬盘的SMART信息。

以下是几个常用的工具:1. CrystalDiskInfo:这是一款免费且功能强大的工具,可用于检查和监控硬盘的SMART信息。

下载安装后,打开软件即可查看硬盘的各项指标及状态。

2. HDDScan:这是一款免费的硬盘诊断工具,支持多种硬盘接口类型。

安装并打开软件后,选择要检测的硬盘,便可在SMART选项卡中查看相关信息。

3. Hard Disk Sentinel:这是一款收费软件,但提供试用版。

它可以在后台监控和分析硬盘的SMART数据,及时报告硬盘的问题和预测硬盘的故障。

三、Linux系统中查看硬盘SMART信息对于Linux系统用户,可以通过命令行方式查看硬盘SMART信息。

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磁盘检测之读懂
S.M.A.R.T
S.M.A.R.T.(自监测、分析、报告技术):这是现在硬盘普遍采用的数据安全技术,在硬盘工作的时候监测系统对电机、电路、磁盘、磁头的状态进行分析,当有异常发生的时候就会发出警告,有的还会自动降速并备份数据。

早在上个世纪九十年代,人们就意识到数据的宝贵性胜于硬盘自身价值,渴望有种技术能对硬盘故障进行预测并实现相对安全的数据保护,因此S.M.A.R.T技术应运而生。

对于不少用户,特别是商业用户而言,一次普通的硬盘故障便足以造成灾难性后果,所以时至今日,S.M.A.R.T技术仍为我们所用。

S.M.A.R.T信息保留在硬盘的系统保留区(service area)也叫固件区内,这个区域一般位于硬盘0物理柱面的最前面几十个物理磁道,由厂商写入相关内部管理程序。

系统保留区除了S.M.A.R.T信息表外还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。

监测软件通过一个名为“SMART RETURN STATUS”的命令(命令代码为:B0h)对S.M.A.R.T信息进行读取,且不允许最终用户对信息进行修改。

在硬盘以及操作系统都支持S.M.A.R.T.技术并且该技术默认开启的的情况下,在不良状态出现时S.M.A.R.T.技术能够在屏幕上显示英文警告信息:“WARNING:IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE,A FAILURE MAY BE IMMINENT.” (警告:立刻备份你的数据同时更换硬盘驱动器,可能有错误出现。

)SMART数据分析:
例如用任意软件查看硬盘的SMART结果如下:
S.M.A.R.T检测参数分为7列,分别是ID检测代码、属性描述、属性值、最大错误值、阈值、实际值和属性状态。

ID检测代码(ID)
ID检测代码不是唯一的,厂商可以根据需要,使用不同的ID代码或根据检测参数的多少增减ID代码的数量。

上表已经详细介绍了ID检测代码及其说明。

属性描述(Name)
属性描述即检测项目名称。

可由厂商自定义增减,由于ATA标准不断更新,有时候同一品牌的不同型号产品也会有所不同。

但必须确保S.M.A.R.T规定的几个主要检测项目(虽
然不同厂商对检测项目都有特定的命名规则,但这些监测项目的实质其实是一样的)。

阈值(Tresh)
是由硬盘厂商指定的可靠的属性值,通过特定公式计算而得。

如果有一个属性值低于相应的阈值,就意味着硬盘将变得不可靠,保存在硬盘里的数据也很容易丢失。

可靠属性值的组成和大小对不同硬盘来说是有差异的。

这里需要注意的是,ATA标准中只规定了一些S.M.A.R.T参数,它没有规定具体的数值,“Threshold”的数值是厂商根据自己产品特性而确定的。

因此,用厂商自己提供的检测软件往往会跟Windows下的检测软件(例如AIDA32)的检测结果有较大出入。

这里,推荐以厂商软件的检测结果为标准,因为Windows环境下,系统要求硬盘的启动程序比DOS下多得多,这可能导致硬盘S.M.A.R.T值比DOS环境下检测的波动更大。

属性值(VAL)
属性值是指硬盘出厂时预设的最大正常值,一般范围为1~253。

通常,最大的属性值等于100(适用于IBM、昆腾、富士通)或253(适用于三星)。

当然,也有例外的时候,比如由西部数据公司生产的部分型号硬盘,就用了两个不同的属性值,最初生产时属性值设为200,但后来生产的硬盘属性值又改为100。

最大出错值(Wrst)
最大出错值是硬盘运行中曾出现过的最大的非正常值。

它是对硬盘累计运行的计算值,根据运行周期,该数值会不断地刷新,并且会非常接近阈值。

S.M.A.R.T分析和判定硬盘的状态是否正常,就是根据这个数值和阈值的比较结果而定。

新硬盘开始时有最大的属性值,但随着日常使用或出现错误,该值会不断减小。

因此,较大的属性值意味着硬盘质量较好而且可靠性较高,而较小的属性值则意味着故障发生的可能性增大。

实际值(Raw)
是硬盘各检测项目运行中的实际数值,很多项目是累计值。

例如:上图中的Power Cycle Count(启停次数),累计的实际值是3201,即该硬盘从开始到现在累计加电启停3201次。

属性状态(Health)
这是S.M.A.R.T针对前面的各项属性值进行比较分析后,提供的硬盘各属性目前的状态,也是我们直观判断硬盘“健康”状态的重要信息。

根据S.M.A.R.T的规定,这种状态一般有正常、警告和报告故障或错误等3种状态。

S.M.A.R.T判定出这3个状态与S.M.A.R.T
的Pre-failure/advisory BIT(预知错误/发现位)参数的赋值密切相关。

当Pre-failure/advisory BIT=0,并且可靠属性值远大于阈值的情况下,为正常提示“OK”标志。

当Pre-failure/advisory BITt=0,并且可靠属性值大于阈值但接近阈值临界值时,为警告提示“!”标志;当Pre-failure/advisory BITt=1,并且可靠属性值小于阈值时,为报告故障或错误提示“!!!”标志。

在图中,我们发现出现“OK”标志的正常状态下有“值正常”(Value is Normal)和“总是略过”(Always Passing)两个状态说明。

它们的区别是:“值正常”表明此项S.M.A.R.T值是正常的,硬盘没有故障;“永远略过”则表明此项只是某参数的记录,没有合格与不合格的标准,如“Power-on time”,这个参数只是记录了硬盘已经加电工作的时间,这个参数应当永远合格,它不用来衡量硬盘的性能,因此显示为“OK:Value is Normal”。

下面我们以ID为“04”的Number of spin-up times(加电次数)检测参数为例,完整地来理解这7列参数的意义:从图中我们看到此参数规定的属性正常值(VAL)为“100”,这个正常值是通过计算公式:“100-硬盘正常使用寿命期间的加电次数/1024”而给出的。

而最大出错值是硬盘运行的累计计算值。

例如如果是新硬盘,则加电次数为0,因此为100-0/1024=100,最大出错值=属性正常值。

随着加电次数的增加,该最大出错值不断变化。

厂商规定的阈值为20,即当硬盘的开关电次数达到81920次时(100-81920/1024=20),最大出错值=阈值,系统就会提示用户备份数据。

因此,加电次数在81920次范围之内,并且最大出错值始终大于阈值20的状态下,均为正常。

图中的加电次数(Raw实际值)为3381次,因此最大出错值近似为100,状态显示为“OK:Value is Normal(值正常)”。

需要特别注意的是:每一个参数所给出的值都是经过一些特定的计算公式而给出的。

作为用户,只要观察“Wrst”和“Tresh”值的关系,并注意状态提示属性状态信息即可大致了解硬盘的健康状况。

本文部分内容来自网络搜索。

特殊问题的解答
1.组建RAID之后,S.M.A.R.T是否仍然生效?
用户组建RAID之后,S.M.A.R.T功能仍然有效,但是这需要RAID卡控制芯片支持S.M.A.R.T功能。

实际上,RAID卡的S.M.A.R.T报警功能与硬盘在常规状态下的报错信息并无太大差别。

报警时,相应模块所对应的硬盘指示灯(通常为红色)会长亮以起到警示作用。

2.为什么监测不到USB接口外置硬盘的S.M.A.R.T状态?
对于一个USB接口外置硬盘而言,系统将它判定为一个USB设备,监测不到S.M.A.R.T 信息是因为USB标准中没有此项规定。

此时虽然硬盘自身仍然在记录S.M.A.R.T状态,但由于它是USB外设,系统就不会监测它的S.M.A.R.T状态。

3.S.M.A.R.T功能对系统性能是否有影响?
硬盘记录S.M.A.R.T信息有两种方式,第一种是“在线(On-line)”收集,所谓在线收集就是硬盘在工作时,根据硬盘的实际工作状态收集到的信息,硬盘实时或在指定时间段内更新自身的S.M.A.R.T数据。

举例来说,如果一个ATA硬盘在写入数据到一个扇区时,遇到一个不可修正的错误,硬盘会及时把这个信息更新到SMART数据中;对于SCSI硬盘,如果它设定的S.M.A.R.T更新周期是4分钟,则它会把在4分钟内收集到的相关S.M.A.R.T 信息更新到S.M.A.R.T数据区,然后再开始下一个周期的跟踪。

在线收集状态对系统性能没有影响。

第二种是“离线(off-line)”收集,离线收集是硬盘收到主机发来的一些特定指令时而进行自检测试,此时硬盘会处于“idel”状态或错误修正状态,在这类情况下,硬盘自身将作大量动作以测试健康状态,导致硬盘对主机发出的正常要求产生延迟。

所以离线收集状态会造成系统性能的下降。

4.S.M.A.R.T技术对相关信息的记录是否有周期性?
对于SCSI硬盘而言,记录S.M.A.R.T信息有周期性,一般情况下周期处于4分钟~120分钟之间。

这个值在硬盘出厂时就已设定,并且只能通过专业软件进行修改;而对于ATA硬盘,S.M.A.R.T信息的记录则没有周期性。

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