74LS00与非门外特性测量

常用仪器的使用及与非门等功能测试实验

常用仪器的使用及与非门等功能测试一、实验目的1．熟悉试验箱的结构，功能及使用方法。

2.掌握示波器测量信号电平和频率的方法。

3.通过实验验证与非门等芯片的逻辑功能。

二、实验仪器1．数字电路实验箱、示波器、电源、万用表、信号发生器各一台2．集成芯片74LS00四 2 输入与非门74LS32四 2 输入或门三、实验内容及步骤1.熟悉试验箱的结构、功能及使用方法。

学习示波器、电源、万用表、信号发生器的使用。

2.测试 TTL 与非门（74 LS00）的逻辑功能1）实验使用的四 2 输入与非门 74 LS00 是一种低功耗 TTL 逻辑电路集成芯片，片内集成了四个与非门，每个门有两个输入端和一个输出端。

实验中使用的芯片是双列直插式封装，体积较大，实用中多采用表面贴片封装，体积要小很多，但不适于我们的实验操作。

芯片引脚编号的定义：从芯片顶端（有半圆缺口）俯视，左上脚为 1 号引脚，按逆时针方向，引脚编号递增。

通常 74 系列芯片的直流电源正极端一般位于右上管脚，负极端位于左下管脚（也有例外，需格外注意）。

74LS00 集成电路的管脚见图 1 所示，管脚标“V CC”接电源 +5V，管脚标“GND”接电源“地”，集成电路才能正常工作。

门电路的输入端接入高电平（逻辑 1 态）或低电平（逻辑 0 态），可由实验箱逻辑电平开关 K 提供，门电路的输入端接逻辑电平指示灯 L，由 L 灯的亮或灭来判断输出电平的高、低。

图 1-174LS00四 2 输入与非门管脚图2）实验线路如图 2 所示，与非门的输入端 A、B 分别接实验箱中逻辑电平开关 K1、K2，扳动开关即可输入0 态或 1 态。

输出 F 接实验箱中逻辑指示灯 L1，当 L1亮时，输出为 1 态，不亮时则输出为 0 态。

（K1）A&F（L 1）（K2）B图 1-2TTL 与非门3）用数字表逻辑挡检测 TTL 门电路的好坏：先将集成电路电源管脚“V CC”和“GND”接通电源，其它管脚悬空，数字表的黑表笔接电源“地”，红表笔测门电路的输入端，数字表逻辑显示应为 1 态，如显示为 0 态则说明 TTL 与非门输入端内部已被击穿，门电路坏了，此门电路不能再使用；红表笔测门电路的输出端，输出应符合逻辑门的逻辑关系。

实验一 74LS00

1、实验内容：用一只 CT74LS00 四 2 输入与非门，可以组成一个简易的电源电压监视器2、实验原理：接通电源，A 点电压约 5 V 左右，绿色 LED 1 保持常亮。

在电源正常时，调节电位器，使 B 点电位刚好处于与非门的门槛电压，此时黄色 LED 2 和红色 LED 3 均不亮。

当电源电压偏低时，B 点电位低于门槛电压，则门 1 输入为低电平，输出为高电平，故 E 点为高电平，F 点为低电平，黄色 LED 2 导通而发光，而红色 LED 3 截止，不发光。

当电源电压偏高时，B 点电位上升，E 点电位下降，F 点电位上升，因而红色 LED 3 导通而发光，黄色 LED 2因截止而不发光3、芯片资料（74ls00）芯片真值表4、实验原理图焊接注意事项：器件清单1、按照元器件清单清点拿到的元器件数目、型号。

2、观察焊板合理布局，在对应的纸上画电气连接图，交给老师检查无误后在进行焊接操作。

3、注意集成电路底座的安装，主要是方向不要插反4、焊接完成检查无误后再操作台上上电进行测试。

测试过程接通电源，A 点电压约 5 V 左右，绿色 LED 1 保持常亮。

在电源正常时，调节电位器，使 B 点电位刚好处于与非门的门槛电压，此时黄色 LED 2 和红色 LED 3 均不亮。

当电源电压偏低时，B 点电位低于门槛电压，则门 1 输入为低电平，输出为高电平，故 E 点为高电平，F 点为低电平，黄色 LED 2 导通而发光，而红色 LED 3 截止，不发光。

当电源电压偏高时，B 点电位上升，E 点电位下降，F 点电位上升，因而红色 LED 3 导通而发光，黄色 LED 2因截止而不发光AB Y 00 0 01 0 10 0 11 1器件名称数量74LS00 1 10K 电位器 1 红黄绿发光二极管各一只电阻 470Ω 电阻 1K Ω 电阻 3.7K Ω 电阻 1.5K Ω。

74ls00与非门逻辑应用实验报告

74ls00与非门逻辑应用实验报告实验目的：通过实验了解74LS00与非门的逻辑功能与应用。

实验器材：74LS00与非门芯片、适当数量的导线、示波器、信号发生器。

实验内容：1.将74LS00与非门芯片插入实验板中，并连接适当数量的电源和接地线。

2.使用示波器和信号发生器进行测试，验证74LS00与非门的逻辑功能。

实验步骤：1.将74LS00与非门芯片插入实验板的适当位置，并连接好电源和接地线。

2.将示波器的探头连接到74LS00与非门的输出端口，将信号发生器的输出信号连接到74LS00与非门的输入端口。

3.在示波器上观察信号波形，并记录观察到的结果。

实验结果：通过实验，我们得到了不同输入条件下74LS00与非门的输出波形如下：输入A输入B输出Y0 0 10 1 11 0 11 1 0从结果可以看出，当A和B的输入信号都为0时，Y的输出信号为1；当A和B的输入信号中有一个为1时，Y的输出信号为1；当A和B 的输入信号都为1时，Y的输出信号为0。

这符合与非门的逻辑功能。

实验分析：通过实验结果可以看出，74LS00与非门属于组合逻辑电路，其逻辑功能为如果A和B都是0，输出1，否则输出0。

这是由于与非门的逻辑功能是取反，也就是说输入的0输出就是1，输入的1输出就是0。

与非门的真值表如下：A B Y0 0 10 1 11 0 11 1 0实验总结：通过本次实验，我们了解了74LS00与非门的逻辑功能和应用。

通过实验结果可以看出，与非门的逻辑功能符合其逻辑特性。

在数字电路中，与非门的逻辑功能有着广泛的应用，可以用于逻辑运算、信号处理、数字电路设计等方面。

因此，了解与非门的逻辑功能和应用对于数字电路的设计与使用有着重要的意义。

希望本次实验能够增进大家对与非门的理解，为进一步的学习和探索打下良好的基础。

《数字电子技术》74LS00 与非门、 74LS86异或门实现半加器逻辑电路的设计及功能验证

表D
图C
七、实验报告 1、整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。 2、总结组合逻辑电路的分析方法。
。
项目名称: 74LS00 与非门、 74LS86异或门实现半加器逻辑电路的设计及功能验
证（实验指导书五）
一、实验目的： 1、掌握组合逻辑电路的功能测试。
2、验证半加器的逻辑功能。
3、进一步理解并掌握逻辑电路相互转转方法并实验验证。
二、实验原理
1、 TTL门电路
1）74LS00是四2输入与非门电路，其基本功能是：在输入信号全为高电平时输出才
五、注意事项： 1、正确选择集成电路的型号，在集成电路的管脚图中，只有在管脚标“VCC”接电源 +5V，管脚标“GND”接电源“地”后，集成电路才能正常工作（千万不可接反，否则将毁坏集成电路）。 74LS00、 74LS86管脚图如上图A、B所示。 2.门电路的输入端接入高电平（逻辑1态）或低电平（逻辑0态），可由实验箱中逻辑电平开关Ki提供，门电路的输出端可接逻辑电平指示灯L（即发光二极管），由L灯的亮或灭来判断输出是高、低电平。 3.（集成电路的输出端管脚不能与逻辑开关（K）相接，更不能直接接在电源上，否则集成电路会损坏。）
为低电平。如图A所示为其管脚排列和测试电路,逻辑表达式为
,表A为真值表。
输入
A
B
0
0
0
1
10Βιβλιοθήκη 11输出 F 1 1 1 0
。
2）1）74LS86是四2输入异或门电路，其基本功能是:当两个输入端相异(即一个为
‘0’，另一个为‘1’)时，输出为‘1’；当两个输入端相同时，输出为‘0’。如图B所示为
其管脚排列和逻辑电路,逻辑表达式为 Y=AB=AB+AB , 表B为真值表。

74ls00与非门逻辑应用实验报告

74ls00与非门逻辑应用实验报告实验名称：74LS00与非门逻辑应用实验实验目的：1. 了解与非门的结构和原理；2. 掌握与非门的工作特性和逻辑应用。

实验器材：- 74LS00与非门芯片- 电源- 信号发生器- 示波器- 电路连接导线- 电阻- LED灯实验步骤：1. 连接电源、信号发生器、示波器和74LS00与非门芯片，按照以下电路图进行连接：┌───┐IN1 ─┤1 14├─ VCCIN2 ─┤2 13├─ OUT1IN3 ─┤3 12├─ OUT2IN4 ─┤4 11├─ OUT3GND ─┤5 10├─ OUT4│6 9│─ NC│7 8│─ GND└───┘图1：74LS00与非门电路连接图2. 将电源接入芯片的VCC和GND引脚上，设置为适当的电压；3. 使用信号发生器分别将IN1、IN2、IN3和IN4接入芯片的相应引脚上；4. 在示波器上监测OUT1、OUT2、OUT3和OUT4的电压波形；5. 按下实验要求，改变信号发生器的输入信号，观察输出信号的变化；6. 将LED灯与OUT1、OUT2、OUT3和OUT4连接，验证输出信号是否正确。

实验结果与分析：在实验过程中，我们通过改变信号发生器的输入信号，观察了与非门74LS00的输出信号。

通过示波器监测到的波形和LED灯的亮灭情况，我们可以验证与非门的逻辑功能是否正确。

结论：通过本次实验，我们了解了与非门的结构和原理，掌握了与非门的工作特性和逻辑应用。

与非门是常用的逻辑门之一，可以实现逻辑或、与、非和异或等功能，广泛应用于数字电路设计和逻辑电路设计中。

我们也通过实验验证了74LS00与非门的正确性，并使用LED灯验证了输出信号。

74ls00与非门实验步骤

74ls00与非门实验步骤
嗨，宝子！今天咱们来唠唠74LS00与非门实验的步骤哈。

咱得先把实验器材准备好。

这74LS00芯片肯定不能少呀，就像做菜不能少了主要食材一样。

还有电源，这可是给咱整个实验提供动力的源泉呢，没它可不行。

再就是导线啦，它们就像是连接各个部分的小纽带，把各个元件连接起来，让电流能愉快地跑来跑去。

接下来就是搭建电路啦。

找到芯片的引脚图可重要啦，这就像是地图一样。

把芯片稳稳地插在面包板上，可别插歪咯，不然它会闹小脾气不工作的呢。

按照与非门的逻辑，连接输入和输出的导线。

这个时候呀，就像在给小电路搭积木，一块一块地把它们组合好。

然后呢，就该给输入信号啦。

这输入信号就像是给这个电路小世界的指令。

可以用逻辑电平开关来控制输入是高电平还是低电平。

这时候就像在跟电路对话，告诉它该怎么工作啦。

等输入信号给好之后，咱就得观察输出啦。

用逻辑电平指示灯来看输出是高电平还是低电平。

要是结果和咱们预期的与非门逻辑不一样，可别慌哦。

那就像解谜一样，再去检查一下电路连接有没有问题，是不是哪个导线松了，或者是不是输入信号给错啦。

要是一切都顺利，看到正确的输出结果的时候，那感觉可棒啦，就像自己精心培育的小种子终于开花结果了一样。

这个实验其实就像是一场小小的冒险，在这个过程中我们能更好地理解与非门的逻辑功能呢。

宝子，你要是做这个实验呀，一定要细心又耐心哦，这样才能让这个小电路乖乖听话呢。

74LS00与非门外特性测量(精)

74LS00与非门外特性测量一、实验目的⏹通过对74LS00与非门外特性测量，了解集成电路的电气性能和特点⏹掌握示波器和信号源的使用方法二、实验器材双踪示波器、信号发生器、实验箱、FLUKE表、74LS0074LS00芯片管脚图（P215）74LS00推荐运行环境和电气特性（P216）实验内容实验内容⏹74LS00的电气特性。

ICCL、ICCH、IIL、IIH(前四个不做)、VOL、VOH。

⏹用环形振荡器测量TTL与非门的门延时。

⏹测量TTL与非门的输入输出特性曲线。

从曲线上找出：VinON 、VinOFF、V outH、V outL74LS00的电气特性（二）测量VOH、IIL☐IIL=-0.12mA；VOH=？☐插实验箱的线用FLUKE表的短路档测下看是否导通的！！74LS00的电气特性（三）测量VOL、IIHIIH=0.3μA；VOL=？ICCL ICCH用环形振荡器测量TTL与非门的门延时注意问题：⏹使用两片74LS00，七个TTL与非门反馈，第8个与非门用作整形。

⏹读出振荡周期T，tpd≈T/2N⏹tpd范围：3ns—10ns三角波，f=100HZ,VPP=4V,offset=2V实验步骤：1、信号源先接示波器，调节信号源：a、输出三角波b、信号源外特性调节到高阻状态c、f=100HZ,VPP=4V,offset=2V2、按电路图搭好电路，示波器XY格式观察波形，用YT格式读数测量TTL与非门的输入输出特性曲线注意事项1、信号发生器要接示波器，信号发生器内阻为50Ω，默认情况（ON DEFAULT）认为系统外负载也为50Ω，实际情况是，示波器内阻为1MΩ，阻值很大，所以将信号发生器外特性调到高阻（HIGH Z）状态。

否则示波器的值不对！！如何调节到高阻：(1)shift+menu(2)按>，调到D：SYS MENU,按∨(3) 调到1:OUT TERM,按∨(4)将50Ω调到HIGH Z(5)ENTER2、信号源输出三角波，VPP=4V，offset=2V原因：VI（Input Clamp V oltage）max=-1.5V测量TTL与非门的输入输出特性曲线3、如何从YT格式读数CURSOR+类型（电压、时间）思考题⏹1．若TTL与非门输出接电阻，所接电阻的电阻值最小为多少？⏹2．输出端接上拉电阻对TTL与非门的输出负载能力和门延时有何改变？⏹3．若要求TTL门电路输入接高电平，将其直接接在直流偏置电源上，是否妥当？或将其悬空，是否得当？⏹4．若要求TTL门电路输入接高电平，且输入端对地接有电阻，该电阻的电阻值最大为多少？思考题答案⏹ 1. VOH/IOH=2.7/0.4=7K⏹ 2.拉电流变大,灌电流变小,负载均衡.门延迟,可以改善上升沿,使上升沿更陡峭,下降沿改善不大.⏹ 3.不妥当.以为要保证输入端有电流输入,否则达不到要求.悬空,更无电流输入.⏹ 4.按钮电路:VIL/IIL=0.8/0.36=2K。

74LS00与非门外特性测量(精)

74LS00与非门外特性测量一、实验目的⏹通过对74LS00与非门外特性测量，了解集成电路的电气性能和特点⏹掌握示波器和信号源的使用方法二、实验器材双踪示波器、信号发生器、实验箱、FLUKE表、74LS0074LS00芯片管脚图（P215）74LS00推荐运行环境和电气特性（P216）实验内容实验内容⏹74LS00的电气特性。

ICCL、ICCH、IIL、IIH(前四个不做)、VOL、VOH。

⏹用环形振荡器测量TTL与非门的门延时。

⏹测量TTL与非门的输入输出特性曲线。

从曲线上找出：VinON 、VinOFF、V outH、V outL74LS00的电气特性（二）测量VOH、IIL☐IIL=-0.12mA；VOH=？☐插实验箱的线用FLUKE表的短路档测下看是否导通的！！74LS00的电气特性（三）测量VOL、IIHIIH=0.3μA；VOL=？ICCL ICCH用环形振荡器测量TTL与非门的门延时注意问题：⏹使用两片74LS00，七个TTL与非门反馈，第8个与非门用作整形。

⏹读出振荡周期T，tpd≈T/2N⏹tpd范围：3ns—10ns三角波，f=100HZ,VPP=4V,offset=2V实验步骤：1、信号源先接示波器，调节信号源：a、输出三角波b、信号源外特性调节到高阻状态c、f=100HZ,VPP=4V,offset=2V2、按电路图搭好电路，示波器XY格式观察波形，用YT格式读数测量TTL与非门的输入输出特性曲线注意事项1、信号发生器要接示波器，信号发生器内阻为50Ω，默认情况（ON DEFAULT）认为系统外负载也为50Ω，实际情况是，示波器内阻为1MΩ，阻值很大，所以将信号发生器外特性调到高阻（HIGH Z）状态。

否则示波器的值不对！！如何调节到高阻：(1)shift+menu(2)按>，调到D：SYS MENU,按∨(3) 调到1:OUT TERM,按∨(4)将50Ω调到HIGH Z(5)ENTER2、信号源输出三角波，VPP=4V，offset=2V原因：VI（Input Clamp V oltage）max=-1.5V测量TTL与非门的输入输出特性曲线3、如何从YT格式读数CURSOR+类型（电压、时间）思考题⏹1．若TTL与非门输出接电阻，所接电阻的电阻值最小为多少？⏹2．输出端接上拉电阻对TTL与非门的输出负载能力和门延时有何改变？⏹3．若要求TTL门电路输入接高电平，将其直接接在直流偏置电源上，是否妥当？或将其悬空，是否得当？⏹4．若要求TTL门电路输入接高电平，且输入端对地接有电阻，该电阻的电阻值最大为多少？思考题答案⏹ 1. VOH/IOH=2.7/0.4=7K⏹ 2.拉电流变大,灌电流变小,负载均衡.门延迟,可以改善上升沿,使上升沿更陡峭,下降沿改善不大.⏹ 3.不妥当.以为要保证输入端有电流输入,否则达不到要求.悬空,更无电流输入.⏹ 4.按钮电路:VIL/IIL=0.8/0.36=2K。

与非门传输特性实验报告

竭诚为您提供优质文档/双击可除与非门传输特性实验报告
篇一：实验1与非门测试
实验一TTL与非门的静态参数测试实验报告
一、实验数据（一）
1.低电平输出电源电流IccL和高电平输出电源电流Icch及静态平均功
率??
2.输入短路电流IIs和输入漏电流IIh
3.输出高电平uoh及关门电平uoFF
4.输出低电平uoL及开门电平uon（(:与非门传输特性实验报告)二）
测试TTL与非门的电压传输特性
（三）
平均传输延迟时间tpd
由示波器测得T=96.00ns，于是??pd=波形如下：
??14
=
9614
≈6.8571.
二、实验分析1.实验原理图
图1测量低电平输出电源电流IccL图2测量高电平输出电源电流Icch
图3测量输入短路电流IIs图4输入漏电流IIh
图5输出高电平uoh及关门电平uoFF图6测量输出低电平uoL及开门电平uon
图7测试TTL与非门的电压传输特性
图8测量平均传输延迟时间tpd
2.由实验（二）所得参数，运用matlab画出电压传输特性曲线。

uo(V)
0.511.5
2ui(V)
2.53
3.54
3.实验数据分析
a低电平输出电源电流IccL为2.029mA，高电平输出电源电流Icch为0.674mA，且低电平输出电源电流IccL比高电平输出电源电流高，符合理论值。

74ls00与非门集成电路的芯片功能

74ls00与非门集成电路的芯片功能一、74LS00与非门集成电路的工作原理74LS00是一种与非门集成电路芯片，由四个二输入与非门组成。

与非门是一种逻辑门，用于实现与非逻辑运算。

与非门的输入端有两个，输出端只有一个。

当两个输入端都为1时，输出为0；其他情况下，输出为1。

74LS00的输入端可以接受高电平（1）和低电平（0），输出端也可以输出高电平（1）和低电平（0）。

二、74LS00与非门集成电路的特点1. 74LS00采用了低功耗的TTL（Transistor-Transistor Logic）技术，具有较高的工作速度和较低的功耗。

2. 74LS00具有较高的噪声容忍度，能够在恶劣的工作环境下稳定工作。

3. 74LS00的输入和输出电平兼容，可以与其他TTL系列芯片直接连接，方便进行电路设计和集成。

4. 74LS00的引脚布局合理，易于焊接和组装。

三、74LS00与非门集成电路的应用1. 逻辑电路设计：74LS00可以用于设计各种逻辑电路，如计数器、加法器、减法器、多路选择器等。

通过将多个74LS00连接在一起，可以构建复杂的逻辑功能电路。

2. 数字显示：74LS00可以用于驱动数码管，实现数字显示功能。

通过控制74LS00的输入，可以在数码管上显示不同的数字和字符。

3. 时序控制：74LS00可以用于时序控制电路的设计。

通过与非门的组合，可以实现时钟信号的分频、延时等功能。

4. 数据选择与处理：74LS00可以用于数据选择与处理电路的设计。

通过与非门的组合，可以实现数据的选择、编码、解码等操作。

5. 自动控制系统：74LS00可以用于自动控制系统的设计。

通过与非门的逻辑运算，可以实现控制信号的生成和处理，实现自动控制功能。

74LS00与非门集成电路芯片具有逻辑功能强大、工作可靠、应用广泛等特点。

在数字电路设计、数据处理、自动控制系统等领域中有着重要的应用价值。

通过合理地利用74LS00与非门集成电路芯片，可以实现各种复杂的逻辑功能，提高电路的工作效率和可靠性。

数字电路实验报告_北邮

一、实验目的本次实验旨在通过实践操作，加深对数字电路基本原理和设计方法的理解，掌握数字电路实验的基本步骤和实验方法。

通过本次实验，培养学生的动手能力、实验技能和团队合作精神。

二、实验内容1. 实验一：TTL输入与非门74LS00逻辑功能分析（1）实验原理TTL输入与非门74LS00是一种常用的数字逻辑门，具有高抗干扰性和低功耗的特点。

本实验通过对74LS00的逻辑功能进行分析，了解其工作原理和性能指标。

（2）实验步骤① 使用实验箱和实验器材搭建74LS00与非门的实验电路。

② 通过实验箱提供的逻辑开关和指示灯，验证74LS00与非门的逻辑功能。

③ 分析实验结果，总结74LS00与非门的工作原理。

2. 实验二：数字钟设计（1）实验原理数字钟是一种典型的数字电路应用，由组合逻辑电路和时序电路组成。

本实验通过设计一个24小时数字钟，使学生掌握数字电路的基本设计方法。

（2）实验步骤① 分析数字钟的构成，包括分频器电路、时间计数器电路、振荡器电路和数字时钟的计数显示电路。

② 设计分频器电路，实现1Hz的输出信号。

③ 设计时间计数器电路，实现时、分、秒的计数。

④ 设计振荡器电路，产生稳定的时钟信号。

⑤ 设计数字时钟的计数显示电路，实现时、分、秒的显示。

⑥ 组装实验电路，测试数字钟的功能。

3. 实验三：全加器设计（1）实验原理全加器是一种数字电路，用于实现二进制数的加法运算。

本实验通过设计全加器，使学生掌握全加器的工作原理和设计方法。

（2）实验步骤① 分析全加器的逻辑功能，确定输入和输出关系。

② 使用实验箱和实验器材搭建全加器的实验电路。

③ 通过实验箱提供的逻辑开关和指示灯，验证全加器的逻辑功能。

④ 分析实验结果，总结全加器的工作原理。

三、实验结果与分析1. 实验一：TTL输入与非门74LS00逻辑功能分析实验结果表明，74LS00与非门的逻辑功能符合预期，具有良好的抗干扰性和低功耗特点。

2. 实验二：数字钟设计实验结果表明，设计的数字钟能够实现24小时计时，时、分、秒的显示准确，满足实验要求。

74LS00测试

集成门电路功能测试一实验内容：1 测试74LS00逻辑功能2 静态测试与非门的电压传输特性3 动态测试与非门的传输特性（三角脉冲，min=0V，max=5V）二实验条件硬件基础电路实验箱，数字万用表，电位器，74LS00，导线若干，示波器，函数信号发生器。

三原理1 测试74LS00逻辑功能电路图VCC测量出来的输入AB 输出输出电平（空载时测量）00 1 4.0801 1 4.0810 1 4.0811 0 0.09其中输入“0”为0.00V，“1”为3.99V。

2 静态测试与非门的电压传输特性VCC其中一个输入保持为1，通过改变A 的输入来测试器件74LS00的传输特性。

测量数据：输出2.46V~~输入1.25V 0.40V~~~~1.31V A （V ） 0.23 0.41 0.94 1.09 1.12 1.20 1.25 1.29 1.56 1.83 2.47 3.77 5.02 Out （V ）4.08 4.08 3.94 3.60 3.48 3.09 0.81 0.45 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 与非门输出特性曲线12345051015Ao u t Out（V） 3 动态测试与非门的传输特性（三角脉冲，min=0V ，max=5V ）输入与输出波形为：Ch1为输入，ch2为输出。

*300mA （A ）调试出三角波参数： 2.4234KHz max=4.84V min=40.0mV 占空比：50.0% T=210.00us输出波形的特征：max=4.00V min=0.00V 占空比：26.2% T=10.00us以ch1为X轴，ch2为Y轴，得到的输入输出关系曲线为：在实验室，图上观察得到：when output=0.4V input=1.20VWhen output=2.4V input=1.32V四实验总结不会按要求用调节函数信号发生器调试出相关波形，实验操作慢不熟练，文件没有用位图文件保存。

TTL与非门参数的测试(精)

IIL测试电路
4. 高电平输入电流IIH的测试电路如图1.1.7 所示，测量并记录与非门的高电平输入电流IIH。
IIH测试电路
5. 空载导通功耗PON的测试电路如图1.1.8 所示，从+5V电源输出处用万用表测出电流ION就可以按下式求出空载导通功耗 PON: PON = VCC . ION
PON 测试电路
6. 空载截止功耗POFF的测试电路如图 1.1.9所示，从+5V电源输出处用万用表测出电流IOFF就可以按下式求出空载截止功耗 POFF: POFF = VCC . IOFF
POFF测试电路
7. 扇出系数NO的测试电路如图1.1.10所示，与非门的两输入端均悬空，接通电源，调节RW，使电压表的读数等于0.4V，读出此时电流表的读数IOL。根据下式计算出该与非门的扇出系数NO： NO = IOL / IIL
TTL与非门的电压传输特性
7. 空载导通功耗PON：
指输入全部为高电平、输出为低电平且不带负载时的功率损耗。
8. 空载截止功耗POFF：
指输入有低电平、输出为高电平且不带负载时的功率损耗。 9.噪声容限：电路能够保持正确的逻辑关系所允许的最大抗干扰值，称为噪声电压容限。输入低电平时的噪声容限为 VOFF ~ VIL，输入高电平时的噪声容限为 VIH ~ VON。通常TTL门电路的VIH取其最小值2.0V,VIL取其最大值0.8V。
TTL门电路是最简单、最基本的数字集成电路元件，利用其通过适当的组合连接便可以构成任何复杂的组合电路。因此，掌握TTL门电路的工作原理，熟悉、灵活的使用它们是数字技术工作者必备的基本功之一。
本实验采用四“与非门”74LS00，其引脚排列如图1.1.1所示:

集成与非门电路参数实验报告五

集成与⾮门电路参数实验报告五集成与⾮门电路参数的测试实验报告⼀．实验内容与⽬的1. 测量与⾮门74LS00的电压传输特性，根据数据画出门电路的传输特性曲线2. 测试CMOS与⾮门的电压传输特性曲线3.实测与⾮门电路的低电平扇出系数NOL实验仪器：⾃制硬件基础电路实验箱，双踪⽰波器，数字万⽤表元器件：74LS00, CD4011基本知识点：1.TTL和CMOS⾮门的主要参数及测试⽅法2.TTL和CMOS与⾮门的电压传输特性的测试⼆．预习内容：本实验旨在了解门电路主要参数的含义，熟悉主要参数的测试⽅法，根据实验要求，画出实验测试电路。

实验器件资料：TTL是指晶体管—晶体管逻辑电路，输⼊和输出端结构都采⽤了半导体晶体管，TTL集成门电路具有⼯作速度快，⼯作电压低和带负载能⼒强的特点。

COMS多采⽤“⾦属—氧化物—半导体”的绝缘栅极效应管，简称MOS场效应管。

CMOS电路功耗⼩，可靠性好，电源电压范围宽，容易与其他电路接⼝并易于实现⼤规模集成，因此CMOS集成门电路虽然⼯作速度⽐TTL电路低，但其应⽤⼴泛。

TTL集成门电路的电源电压为5V，阀值电压约1.3V，输出⾼电平约3.6V，低电平约3V.。

CMOS集成门电路的⼯作电压通常在3~18V之间，阀值电压近似为电源电压的⼀般，即Vcc/2。

TTL门电路的输⼊若不接信号，则视为⾼电平，CMOS集成电路与TTL集成电路不同，输⼊端必须接信号，或者固定电平。

三．实验过程与数据分析1.测量与⾮门74LS00的电压传输特性。

实验资料：电压传输特性是指门电路输出电压V。

随输⼊电压Vi⽽变化的关系，通过门电路的电压传输特性曲线可求得门电路的⼀些重要参数，如输出⾼电平VOH，输出低电平VOL，关门电平VOFF，开门电平VON，阀值电平VTH（转折去中点所对应的输⼊电压），⾼电平抗⼲扰容限VNH及低电平抗⼲扰容限VNL等值，可采⽤逐点测试法，即调节Rw，逐点测得Vi及Vo的值，并绘成传输特性曲线，求出相关参数连接实验电路图如下：实验步骤：1、打开⾃制硬件基础电路实验箱并打开电源，找到实验箱上的74LS00与⾮门。

硬件实验报告之与非门逻辑功能与特性曲线波形图

硬件实验报告三一：实验目的和要求1．认识了解与非门的逻辑功能。

2．通过静态法和动态法来得到与非门的传输的特性曲线二、实验仪器硬件基础电路实验箱、数字万用表、双踪示波器。

芯片74LS00。

三：实验原理1.O C与非门当输入为00时输出为1，当输入为01时输出为0，当输入为10时输出为0，当输入为11时输出为0.四：实现电路（1）静态测试电路：（电压源是5伏，未加保护电阻，如果要加则只能加小的电阻，图中的与非门在试验中是用74LS00代替的）（2）动态测试电路实验箱上的电路连接：五：实验步骤：1. 测试基本oc与非门路的逻辑功能功能测试74LS00的功能，并记录。

2.测试与非门的传输特性曲线（1）静态法：测试74LS00的电压传输特性，并记录，描点作图。

（电压在0v---5v）（2）动态法：用示波器进行动态测试（要先得到稳定的三角波才能连接电路），验证手动测试测出的开门电压、关门电压，并得图。

六：实验数据记录1.静态法得到的数据A/V 0.00 0.070.730.18 0.92 1.04 1.23 1.33 1.40 1.47 1.40 1.52 1.58 1.66 1.84 Y/V 4.02 4.02 4.00 3.48 3.48 3.47 3.32 2.97 2.51 1.88 1.19 0.58 0.58 0.57 0.17 2.动态法得到的波形图注：将CH1和CH2的波形图合并时的步骤很重要。

七.实验总结（1）此次试验首先要学会芯片的取放，防止芯片烧坏。

（2）在连接到点为其之前要用万用表进行好坏的判断。

（3）我在实验中的三角波很不稳定的原因是示波器的黑色端与试验箱，函数信号发生器的接地端都要连在一起。

八．.实验评价通过这次试验很好的认识了芯片，虽然我们预习时查了74LS00但读了都不太懂，直到实验中才知道他的与非门功能是这样实现的。

总的来说对示波器的操作还不是很熟悉。

实验一常用仪器的使用及与非门

实验一常用仪器的使用及与非门、逻辑门外特
性的功能测试
一、实验目的
1、熟悉实验箱的结构、功能以及使用方法。

2、掌握用示波器测量信号电平和频率的方法。

3、通过实验验证与非门的逻辑功能。

4、掌握TTL门电路及各参数的意义及测试方法。

二、实验器材与仪器
1、数字电路实验箱1台
2、示波器1台
3、万用表及工具
4、四2输入与非门74LS00 2片
三、实验内容
1、用示波器测试实验箱的10k固定脉冲的波形，测出其输出低电平为-2.04V，高电平为2.04V。

2、用示波器观察并记录实验箱的可调连续脉冲的波形，将电位器右旋到底，测出其频率
113.28khz
3、测与非门的逻辑功能：
输入端输出端
A B Y
0 0 3.2V
0 1 3.2V
1 0 3.2V
1 1 0.3V
4、图形法测试四2输入与非门74LS00的电压转移特性
5、测量TTL门电路的平均传输延迟时间
该实验用74LS00的3个与非门组成环形振荡器，测出自激振荡的周期T=4.85×10-8 s，则t pd=T/2N=T/6=8.1×10-9 s。

实验一TTL与非门的参数和特性测试

注意：第3、4两项要测电压，请按书2.2.1中的方法正确将万用表由“电流挡”，换回电压挡再进行测量，否则会造成万用表的损坏。
3.
电压传输特性的测试
电压传输特性描述的是与非门的输出电压uo 随输入ui的变化情况。即uo=f(ui)。按图7.1.4 接好电路、调节电位器，使输入电压、输出电压分别按表7.1.2中给定的各值变化时，测出对应的输出电压或输入电压的值填入表7.1.2中。根据测得的数据，画出电压传输特性曲线。
一．实验目的
1．掌握TTL与非门74LS00的工作原理。 2．掌握TTL与非门的主要参数和静态特性的测试方法，并加深对各参数意义的理解。
二．所用器件
四2输入与非门74LS00，其管脚如图7.1.1 所示。第一位数字表示不同的门，A、B为输入， Q为输出。
三．预习要求
1．复习关于TTL门电路参数的内容，明确各参数的意义。 2．查阅资料，了解各参数的取值范围。
2．静态功耗
按图7.1.3接好电路，分别测量输出低电平和高电平时的电源电流ICCH及ICCL。于是有 Po= (ICCH+ ICCL)Vcc/2 注意：74LS00为四与非门，测ICCH、ICCL时，四个门的状态应相同，图7.1.3(a)所示测得的为ICCL；测ICCH时，为使每一个门都输出高电平，可按图 7.1.3(b)接线。Po应除以4得出一个门的功耗。
最大灌电流iolmax的测量按图715接好电路调整rw用电压表监测输出电压uo当uo04v时停止改变rw将ab两点从电路中断开用万用表的电阻挡测量rw利用公式iolmaxvcc04rrw计算iolmax然后计算扇出系数niolmaxiis1ttl门电路的输入端悬空时应时视为高电平还是低电平
实验一

器件集成与非门电路参数的测试实验报告

+ V o -+ V i -31 27 +5V +5V14 集成与非门电路参数的测试一、实验目的（1）TTL 和CMOS 与非门的电压传输特性的测试（2）TTL 和CMOS 与非门的主要参数及测试方法二、实验器件(1)HBE 硬件基础电路实验箱、双踪示波器、数字万用表 (2)元器件：74LS00、CD4011三、实验内容1. 测试与非门74LS00的电压传输特性测量电路原理如图所示，调节电位器R W ，使Vi 从0V 向5V 变化，逐点测试Vi 和Vo ，列表记录Vi 和Vo 值。

根据测试数据画出门电路的传输特性曲线。

电路连线：实验数据：传输特性曲线：Vi 0.45 0.73 0.83 1.11 1.28 1.39 1.47 1.58 1.69 Vo4.444.434.424.243.292.331.520.130.13&VV1 23V i +5.00V V DD +5V714 CH1CH20 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 Vi/VVo/V 4.5 4 3.5 3 2.5 2 1.5 1 0.5原理：根据调节上拉电阻接入电路中的电阻值来调节Vo 和Vi 的大小从而得出关系曲线。

2. ＣＯＭＳ与非门电压传输特性曲线与TTL 与非门电压传输特性曲线测试方法基本一样。

这是将不用的输入端接到电源++V DD (+5V)上即可，不得悬空。

下图为用V i 应为+5V 正弦直流电压。

电路连线：如上图。

示波器显示：原理：利用信号发生器产生一个连续信号在电路图中的Vi 端输入到电路中，再&用示波器的X-Y方式显示电路中的CH1和CH2信号的关系图像，动态测试ＣＯＭＳ与非门电压传输特性曲线。

四、实验心得此次实验内容很少，但任然花了好长时间才做出来，而且还是在老师帮助下。

示波器调节比较难弄，连线也有些纠结，通过此次实验我更加深入得了解了示波器的使用，初步掌握了TTL和CMOS与非门的电压传输特性的测试。

实验2 门电路特性参数测试

试验二门电路特性、参数测试说明：试验内容中，红色标注的部分为基本内容，必需完成。

其他内容依据试验老师的要求做。

一、试验目的1. 了解数字集成电路形状结构及外部引脚的排列规律。

2.把握规律门电路主要特性、参数的测试方法。

3.学习查阅器件手册。

4.进一步训练试验箱及常用仪器的使用方法。

二、试验资料1.TTL 与非门74LS0074LS00为四个2输入TTL与非门，为双列直插14脚塑料封装，外部引脚排列如图 2.1 所示。

它共有4个独立的两输入端“与非”门，各个门的构造和规律功能相同，其内部电路结构如图2.2所示。

图2.1 74LS00引脚排列图2. 2 74LS00与非门内部电路结构74LS00特性参数见表2-1、表2-2、表2-3。

表27推举工作条件参数最小标称最大单位Vcc 4.75 5 5.25 VIθH-400*IθL8 mAT A0 7() c*负号表示电流由器件流出表2-2直流特性（0~70 C）参数测试条件最小典型最大单位VlH 2 VV IL0.8 VV OH Vcc=min, V『max, I°H=max 2.7 3.4 VV OL Vcc=min, V IH=2¼ IoL=max 0.25 ().5 VIm Vcc=max, V JH=2.7V 20IlL Vcc=max, V I L=0.4V -0.4米mAIcc Vcc=max,输入输出悬空 2.4 4.4 mA*负号表示电流由器件流出TpHL1() 15S 与非门74HC0074HC00为四2输入COMS与非门，外部引脚排列与74LS00相同（图2.1）。

它共有4个独立的两输入端“与非”门，各个门的构造和规律功能相同，其内部电路结构如图 2.3所示。

74HC00特性参数见表2-4、表2-5、表2-6。

表2-4推举工作条件参数最小标称最大单位Vcc 2 6 VIθH-4* mAIθL 4 mAT A-40 85*负号表示电流由器件流出表2-5直流特性（一40〜85匕，除非另有说明）参数测试条件Vcc典型值** 保证值单位VlH 2.04.5困6.01.53.153.54.21.53.15因4.2VV IL 2.04.5窕6.00.30.9回1.2VV OHVlH= V JLIθH=-4mA4.5回6.04.24.75.73.84画5.34VV OL V1L= V1HIoL=4mA4.5宣6.00.20.20.20.330.330.33VI IH V IH=V CC 6.0 1.0 “A IlL V IL=地 6.0 -1,0* “A 图2. 3 74HC00与非门内部电路结构*负号表示电流由器件流出，**典型值在T=25C 条件下测得口方框内的数字是线性外推值表2-6开关特性*典型值在T=25°C 条件下测得** C PD 为空载功率消耗电容，打算空载动态功耗和空载电流功耗三、试验设施与器件设施：数字电子技术试验箱、万用表、电流表、示波器器件:74LS00（74IIC00）一片（四个2输入与非门）四、试验内容及步骤（一）TTL 与非门测试1 .验证TTL 与非门规律功能（D 任意选择其中一个与非门进行试验。