EIA-364-09耐插拔测试方法
EIA-364-20A电子连接器耐电压测试方法
电子连接器的耐电压测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用﹒对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任﹒电子工业协会（EIA）工程部出版2001年华盛顿D.C.20006，N.W.Eye大街。
1983年印刷EIA版权所有U.S.A印制测试方法#20A电子连接器的耐电压测试方法此推荐标准是基于国际电子技术委员会(IEC)的技术内容;推荐512—2,测试4a,电压检测,1976.符合此IEC推荐的所有必要方面。
测试方法#20A电子连接器耐电压测试方法(摘自EIA建议标准NO.1555,是在EIA P-5.1工作组组织下提出。
)注﹔此TP-20A曾作为TP-20颁布于EIA建议标准RS-364中。
1.0TP-20A耐电压2.0目的这种测试程序的目的是介绍一种测试方法来确定电子连接器在额定电压内的安全运作性能，以及能够承受由于转换、掁荡和其它类似现象所引起的瞬间过载。
3.0 综述测试包括特定时间内﹐在连接器相互绝缘部分或是在绝缘部分与地之间，采用一个高于额定电压的电压值。
此标准化的目的是确定耐压值为连接器损坏电压最小值的75%。
并建议连接器的正常工作电压为承受电压值的1/3﹒这种测试经常被错误地认为是一种击穿电压或绝缘强度的测试。
导致绝绿破损或测量电冕并非此测试的本意。
它用来决定绝缘材料和组件部份间隙是否合适。
当一个连接器在这些方面不够完善时﹐实施电压测试将导致不正常放电或者情况恶化。
不正常放电伴随闪光(表面放电)﹑火花(空气放电)或破损(击孔放电)。
许多因素不同程度影响气体和固体的不导电行为，例如大气温度﹑气压﹑环境和电极形式﹑频率和波形﹑操作速率和测试电压的持续时间﹑样品的几何形式﹑机械压力和以前的测试纪录。
00-EIA-364系列标准
EIA-364系列标准EIA-CB18 固體的鉭式電容器儲存期限EIA-364-E 電子連接器/ 插座測試過程包括環境類別EIA-364-01B 加速度電子連接的測試過程EIA-364-02C 空氣滲漏電子連接的測試過程EIA-364-03B 高度浸入電子連接的測試過程EIA-364-05B 接觸插入，釋放，移動迫使電子連接的測試過程EIA-364-06C 接觸電阻電子連接的測試過程EIA-364-07C 與軸向的Concentricity電子連接的測試過程聯繫EIA-364-08B 捲曲抗拉的力量電子連接的測試過程EIA-364-09C 耐久性電子連接和接觸的測試過程EIA-364-10E 流動的浸入電子連接和插座的測試過程EIA-364-11B 電阻到溶劑電子連接和插座的測試過程EIA-364-13D Mating和Unmating 力量電子連接的測試過程EIA-364-14B 臭氧暴露電子連接的測試過程EIA-364-17B 有或沒有電負荷電子連接和插座的測試過程的溫度生命EIA-364-18B 接线盒和插座的外观与尺寸检查的测试流程EIA-364-20D 禁得住電壓電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-21D 絕緣電阻電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-22B 類比生命電子連接的測試過程EIA-364-23C 低的水準接觸電阻電子連接和插座的測試過程EIA-364-24B 維修使電子連接的測試過程變老EIA-364-25C 探查損壞電子連接的測試過程EIA-364-26B 鹽水霧電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-27B 機械震動(指定的脈搏)電子連接的測試過程EIA-364-28D 振動電子連接和插座的測試過程EIA-364-29C 接觸保留電子連接的測試過程EIA-364-31B 濕度電子連接和插座的測試過程EIA-364-32D 熱震(溫度週期變化)電子連接和插座的測試過程EIA-364-35B 插入保留電子連接的測試過程EIA-364-36B DETERMINATION OF GAS-TIGHT CHARACTERISTICS TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS, AND OR CONTACT SYSTEMSEIA-364-37B 接觸約會和分離力量電子連接的測試過程EIA-364-38B 電報拔電子連接的測試過程EIA-364-39B 電子連接器，接觸和插座的液壓靜力測試過程EIA-364-40B 壓壞電子連接的測試過程EIA-364-41C 電報在電子連接的測試過程屈曲EIA-364-42B 影響電子連接的測試過程EIA-364-45A 防火牆火焰電子連接的測試過程EIA-364-46BEIA-364-48AEIA-364-50AEIA-364-53B 氮的Adic 蒸汽測試，金完成電子連接和插座的測試過程EIA-364-54A 有磁性的滲透性電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-56D 為了焊接熱電子連接和插座的測試過程的電阻EIA-364-66A EMI 保護效力電子連接的測試過程EIA-364-70BEIA-364-71B 焊接燈芯(波焊接技術)測試過程適合電子連接器和插座EIA-364-75EIA-364-81A 燃燒特性電子連接器住房，連接器會議和插座的測試過程EIA-364-82A 塑膠電子連接和插座住房的測試過程的Corrosivity EIA-364-83 殼牌公司轟炸和轟炸在艙壁測試過程抵抗適合電動汽車連接器EIA-364-89AEIA-364-90 串音比率電子連接，插座，電纜組件的測試過程或者相互連接系統EIA-364 91A 灰塵電子連接和插座的測試過程EIA-364-95 充分的鋪席子和鋪席子穩定電子連接的測試過程EIA-364-99 規格位置和保留電子連接的測試過程EIA-364-100 標明永久為電子連接和插座的測試過程EIA-364-101 Attentuation電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA 364-102 上升時間墮落電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364-103 傳播延遲電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364 104A 可燃性電子連接的測試過程EIA-364-105A 高度低溫電子連接的測試過程EIA-364-106 駐波比率(SWR)電子連接的測試過程EIA-364-107 眼睛圖案和在電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程感到緊張EIA-364-108 阻抗，反射系數，返回損失，並且VSWR在時間和頻率領土電子連接器，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程測量EIA-364 1000.01 評價電子連接器的性能的環境考試方法學和插座在生意辦公室應用方面使用EIA-364-109 環電感測量電子連接(1 nH 10 nH)的測試過程EIA-364-110。
#EIA-364-09 (耐插拔)
電子工業協會測試方法#09B電子連接器的耐插拔測試方法1.0TP—09A 耐插拔2.0目的﹕此測試程序的目的是介紹一种統一的測試方法，此方法模擬連接器的預期壽命來測試電子連接器周圍環境對插拔造成的影響﹒帶有量規的插拔只用來產生机械應力﹐而帶有裝配元件的耐力測試產生机械應力和磨損應力。
3.0儀器3.1參考文件要求的配合元件。
3.2夾片，夾鉗或其它連接器夾持工具或測試量規通過半系統測試恰當結合使用可以自由滑動（假如連接器規格說明有要求）。
3.3指定速度下自動或半自動的連接器插拔檢測机,如果參考文件沒有特別說明,應採用正弦曲線運動﹒注﹕如果參考文件說明可允許人工測試.﹐則須細心确保一致性和精确定位及校準﹒4.0樣品准備4.1測試樣品應包括所有應用的指導書﹑關鍵元件及硬件設備，終端使用適宜的電線或電纜。
4.2使用合适的安裝工具將樣品安裝在正常的操作位置上﹒在安裝過程中應慬慎小心以防凝固﹒机械測試時﹐可使用諸如滑動离合器類的机械裝置以防止樣品因超負載力而損坏。
4.3制造商供應的連接器有時會帶潤滑油﹐測試前應小心操作以确保潤滑油不被抹除﹐並防止被灰塵﹑外界物質等污染﹒若無特別說明，不可超量使用正常生產時所用的潤滑油量。
4.4除非特別說明﹐連接器機械安裝要完全模擬實際使用中的連接器插拔﹒5.0測試方法5.1除非特別說明﹐樣品被固定在測試夾具上之前﹐允許在測試机器上自行較準﹔安裝后﹐按參考文件規定的次數進行循環插拔﹒5.2除非參考文件特別說明﹕每小時循環速率應是﹕自動化裝置 500±50手工插拔最多300自動循環連接250—300除非特別說明﹐測試期間不得對樣品使用電子加載。
5.3檢驗或測試應在參考文件說明的時間內完成。
注意﹕中斷檢測期間的樣品會影響隨后的測試結果。
5.4初始和最終測量5.4.1插拔力﹑接触電阻﹑外殼電阻﹑絕緣電阻﹑抗壓﹑接触保持力及密封測試等﹐可在測試前﹑測試中和測試后進行﹐它們可顯示電子連接器耐插拔的結果。
EIA-364-13A(插拔力)
測試樣品由一插頭和一可接触端插座組成。除非特別說明﹐樣品應由所有可用硬件包括邊緣﹑机罩﹑線夾﹑螺釘﹑導片或插座組成。除非規格中另有說明，樣品不需要任何方法進行潤滑或清洗。
4.0測試方法
4.1 測試儀器
測試儀器包括﹕
4.1.1可使樣品以正常方式安裝的安裝夾具。
4.1.2測試中﹐測力表或力距表應置於連接器的合適位置，以便於讀數指針位於量規的中間，這樣，操作量規可精確到±2%。
4.2.2.3拔出力
按規格中說明的力率將連接器完全拔出﹐並記錄拔出力峰值。
5.0細節說明
按規格要求進行測試時，下列細節將作說明：
(a)被測樣品數目﹔
(b)插入力和拔出力﹔
(c)插拔速率﹔
(d)可能的插入深度。
測試方法#13A
電子連接器的插拔力測試方法
（摘自EIA建議標準NO.1653.在EIA P-5.12工作組組織下提出的。）
注：此TP-13A之前曾作為TP-13發佈於EIA推荐標準RS-364-3。
1.0TP—13A插拔力測試 Nhomakorabea2.0目的﹕
此測試的目的是介紹一种決定電子連接器或其保護蓋所需插拔力的標準方法。
4.1.3按要求，附屬測量儀器應與測試樣品相配合並隨帶測力表和力矩表（軸壓等）。
4.2測試步驟
4.2.1除非特別說明﹐樣品應按正常情況進行安裝。
4.2.2插入力
4.2.2.1將兩個相配的電子連接器放在機械裝配初始位置﹐並且測力表和力矩表的讀數為零。
4.2.2.2按規格中說明的力率將連接器完全充分插入（相配）﹐並記錄插入力峰值。
EIA-364（连接器产品常用测试规范之目录）
EIA-364（连接器产品常用测试规范之目录）Item Standard NO.Rev.Description1EIA-CB18Solid Tantalum Capacitor Shelf-Life固体的钽式电容器储存期限2EIA-364E ELECTRICAL CONNECTOR/SOCKET TEST PROCEDURES INCLUDING ENVIRONMENTAL CLASSIFICATIONS 电子连接器/插座（包括环境类）的测试程序3EIA-364-01B Acceleration Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的加速测试程序4EIA-364-02C Air Leakage Test Procedure for Electrical Connectors空气渗漏电子连接器的测试程序5EIA-364-03B Altitude Immersion Test Procedure for Electrical Connectors高度浸入电子连接器的测试程序6EIA-364-05B Contact Insertion, Release and Removal Force Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子插入、释放及取出测试程序7EIA-364-06C Contact Resistance Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的接触电阻测试程序8EIA-364-07B Contact Axial Concentricity Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子同心度测试程序9EIA-364-08B Crimp Tensile Strength Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的卷曲抗拉强度测试程序10EIA-364-09C Durability Test Procedure for ElectricalConnectors and Contacts端子连接器与端子的耐久性测试程序11EIA-364-10D Fluid Immersion Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的液体浸没测试程序12EIA-364-11B Resistance to Solvents Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的电阻测试程序13EIA-364-13D Mating and Unmating Forces T est Procedure for Electrical Connectors电子连接器的插入力和拔出力测试程序14EIA-364-14B Ozone Exposure Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的臭氧暴露测试程序15EIA-364-17B Temperature Life with or without Electrical Load Test Procedure for Electrical Connectors andSockets. 电子连接器和插座的温度寿命测试或没有电负载测试程序16EIA-364-18B Visual and Dimensional Inspection Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的外观与尺寸检验程序17EIA-364-20C Withstanding Voltage Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets and Coaxial Contacts电子连接品、插座和同轴端子的耐电压测试程序18EIA-364-21C Insulation Resistance Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, and Coaxial Contacts电子连接品、插座和同轴端子的绝缘电阻测试程序19EIA-364-22B Simulated Life Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的模拟寿命测试程序20EIA-364-23C Low Level Contact Resistance T est Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的接触电阻测试程序21EIA-364-24B Maintenance Aging Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的维持能力测试程序22EIA-364-25C Probe Damage Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的探伤测试程序23EIA-364-26B Salt Spray Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts and Sockets电子连接器、端子和插座的盐雾测试程序24EIA-364-27B Mechanical Shock (Specified Pulse) Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的机械震动(指定的脉搏)测试程序25EIA-364-28E Vibration Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的振动测试程序26EIA-364-29C Contact Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子保持力测试程序27EIA-364-30A Capacitance Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的电容测试程序28EIA-364-31B Humidity Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的湿度测试程序29EIA-364-32D Thermal Shock (Temperature Cycling) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的热冲击(温度周期变化)测试程序30EIA-364-35B Insert Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的保持力测试程序31EIA-364-36B Determination of Gas-tight Characteristics test procedure for Electrical connectors and or contact systems. 电子连接器和（或）端子系统的气密特性测试程序32EIA-364-37B Contact Engagement and Separation Force Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器端子结合力和分离力测试程序33EIA-364-38B Cable Pull-Out Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的电材拉拔力测试程序34EIA-364-39B Hydrostatic Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts and Sockets电子连接器、接触和插座的液压静力测试程序35EIA-364-40B Crush Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器v压坏测试程序36EIA-364-41C Cable Flexing Test Procedure for Electrical Connectors电报在电子连接的测试程序屈曲37EIA-364-42B Impact Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的机械冲压测试程序38EIA-364-45A Firewall Flame Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的阻燃火焰测试程序39EIA-364-46B MICROSECOND DISCONTINUITY TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS,CONTACTS AND SOCKETS电子连接器、端子和插座的瞬断（微秒不间断）测试程序40EIA-364-48A Metallic Coating Thickness Measurement of Contacts Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器端子喷涂层厚底测试程序41EIA-364-50A Dust (Fine Sand)Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的粉尘（细沙）测试程序42EIA-364-53B Nitric Acid Vapor Test, Gold Finish Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的硝酸蒸汽测试、黄金制品测试程序43EIA-364-54A Magnetic Permeability Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts, and Sockets电子连接器、端子和插座的导电率测试程序44EIA-364-56C Resistance to Soldering Heat Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的焊接热电阻测试程序45EIA-364-59A LOW TEMPERATURE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS电子连接器和插座的低温测试程序46EIA-364-66A EMI Shielding Effectiveness Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的电磁干扰屏蔽效应测试程序47EIA-364-70B TEMPERATURE RISE VERSUS CURRENT TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS 电子连接器与插座的温升与电流测试程序48EIA-364-71B Solder Wicking (Wave Solder Technique) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的溢锡(波峰焊接技术)测试程序49EIA-364-75LIGHTNING STRIKE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS电子连接器的雷击测试程序50EIA-364-81A Combustion Characteristics Test Procedure for Electrical Connector Housings, Connector Assemblies and Sockets. 电子连接器塑料、组装成品与插座的燃烧特性测试程序51EIA-364-82A Corrosivity of Plastics Test Procedure for Electrical Connector and Socket Housings电子连接器与插座塑胶的塑胶腐蚀性测试程序52EIA-364-83Shell-to-Shell and Shell-to-Bulkhead Resistance Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的接地壳与接地壳及接地壳与主板之电阻测试程序53EIA-364-89A Space Application Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的空间应用测试程序54EIA-364-90Crosstalk Ratio Test Procedures for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies orInterconnect Systems电子连接器、插座、线束或互联系统的串扰率测试程序55EIA-364-91A Dust Test Procedure for Electrical Connector and Sockets电子连接器与插座的粉尘测试程序56EIA-364-95Full Mating and Mating Stability Test Procedures for Electrical Connectors电子连接器的完整互配与互配稳定测试程序57EIA-364-99Gage Location and Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的计量位置与保留测试程序58EIA-364-100Marking Permanence Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的永久性标识测试程序59EIA-364-101Attenuation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems 电子连接器、插座、线束或互联系统的衰减测试程序60EIA-364-102Rise Time Degradation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets,Cable Assemblies orInterconnection Systems。
插拔力测试
插拔力测试
插拔力测试介绍：
插拔力试验是指将相互配合的公母两端电子连接器进行插入和拔出所需要的力量。
改试验适用于连接器的插入力、拔出力、塑料保持力以及使用寿命等多种测试，透过计算机的分析，可精确测量待测物的荷重、行程及相对应变化曲线，并可准确控制连接器插拔力测试行程、速度、目标测定次数及暂停时间。
插拔力测试标准：
EIA-364-13D-2007
适用产品：
插拔力测试适用产品：
连接器公母头，数据线，耳机等等。
试验设备：
插拔力测试机
测试流程：
1 确认测试条件
2 确认样品数量
3 是否判定（1根据客户要求 2标准判定）
4 测试结果，出具报告
可靠性测试项目：冷热冲击试验，快速温度变化试验，UV紫外光老化试验，氙灯老化及盐雾试验，振动试验，三综合试验等。
EIA-364-90 串音测试中文版
EIA-364-90 串音 (Crosstalk) 测试1.简介1.1范围这个测试程序应用于连接系统,比如像电子连接器,插座,和缆线组件整合.1.2目的这个标准描述了如何量测在连接系统整合中驱动线路和承受线路电磁耦合的量.时域(方法A)和频域(方法B)的量测方法,单动和差动的传输,还有插入式和参考治具测量法都将会叙述.1.3定义1.3.1 驱动讯号对于时域的测量来说,驱动讯号为一步阶波形;对于频域的测量,驱动讯号为一弦波波形.1.3.2 串音比串音比的定义为耦合到承受线路导体或导体对的讯号量比上在驱动线路导体或导体对上的讯号量.不管是耦合或驱动的讯号必须用相同的单位,比如说电压或电流,而串音比必须用百分比或 dB来表示.1.3.3 近端串音比(Near End Crosstalk Ratio – NEXT)串音比是由承受线路在接近驱动线路的发送端而量得,这个串音比是由近端的承受线路讯号量比上近端的驱动线路讯号量.1.3.4 远程串音比(Far End Crosstalk Ratio – FEXT)串音比是由承受线路在接近驱动线路的接收端而量得,这个串音比是由远程的承受线路讯号量比上近端的驱动线路讯号量.1.3.5 量测系统爬升时间量测系统爬升时间为包含治具,经过滤波效应(filtering),但不包含待测物,所测得的爬升时间.爬升时间通常是量测从 10%到90%的位准所需花费的时间.1.3.6 待测环境阻抗阻抗是由治具上的传导讯号导体所呈现.阻抗是由传输线,终端电阻,接收端,讯号来源和治具寄生效应的结果.1.3.7 步阶振幅如图一所示,步阶振幅是从 0% 到 100% ,忽略 overshoot 和 undershoot, 的电压差值.1.3.8 隔离标准板(Isolation Standard)隔离标准板为一没有待测物,但与测试治具有相同的串音特性的参考治具,这个治具可以为或可以不为测试板的一部份.1.3.9 终端连接在传输线末端的阻抗,通常是为了减小在传输在线的反射能量.2.测试资源2.1设备2.1.1 方法 A,时域2.1.1.1步阶讯号产生器连接于驱动线路,而承受线路则连接于示波器.如果是差动讯号的应用,则步阶讯号产生器和示波器都必须要有处理差动讯号的能力,这表示输出端要能调整振幅和 skew的差异,而输入端要能显示两个输入讯号的差跟和,为了能更改不同的爬升时间,仪器要提供滤波(filtering)或归一化(normalization)的功能.在这种情况下,时域反射仪(TDR)通常会被采用.2.1.1.2 探针当探针被采用的时候,必须要有合适的爬升时间表现和负载电路特性.2.1.2 方法B,频域网络分析仪(Network Analyzer)是较为偏好的,当需要较大的动态范围(dynamic range)时,讯号产生器和频谱分析仪的组合也可为替代的方案.一个八端口的网络分析仪或baluns可用来做差动讯号的测量.2.2治具除非在参考文件中有其他特别规定,否则待测物环境阻抗必须要匹配测试设备的阻抗.通常单动 (single-ended) 量测要求 50奥姆的阻抗而差动(differential) 量测要求 100奥姆.2.2.1 待测物导体配置对于每一个测量,驱动线路和承受线路必须如参考文件所示而摆置,如果可能的话,邻近于待测线路的线路必须做终端(terminated)的动作.除非有其他特别的规定,否则采用 1:1的讯号对接地的比例(如果是做差动讯号的测量,则采用一对差动讯号线路对应一个接地线路),所有的线路都对应到相同的接地面,如图二所示.治具必须设计成所有的线路有相同的时间延迟.注意–当驱动讯号为差动的模式且非均衡时,则共模(common mode)讯号的能量必须被终端(terminated)图二2.2.2 终端驱动线路的远程和承受线路的两边末端都必须用待测环境阻抗做终端,所采用的方法可以参考图三或图四,如果待测环境阻抗和测量设备的阻抗不匹配的话,可使用匹配电路(matching network),在整个的频率量测范围内必须注意到尽量减小电阻性终端的电抗效应.注意–治具的几何形状和材质会影响到测量肇因于治具的寄生效应,所以通常以产品的用途来规划最有意义的治具形态.图三单动模式测量的阻抗终端图四差动模式测量的阻抗终端2.2.3 串音从待测物所量得的串音中分离出治具的串音是困难的,所以参考文件必须规范治具以使治具所产生的串音量减到最小.注意–因为测试板的脚位布局或缆线组件整合的终端技术会严重地影响到串音量,所以建议治具应包含隔离标准板(Isolation Standard)2.2.4 插入式技术治具(Insertion Technique Fixture)这种治具必须设计成不管有没有加入待测物都可以做串音的测量,如图五所示,如果为了双动测量(balanced measurement)而使用baluns,或为了阻抗匹配而使用最小损耗垫(minimum loss pads),如图三和图四所示,这些都包含在治具2.2.5 参考治具技术(Reference Fixture Technique)使用这种技术一个个别包含有近端和远程的治具将会被用来做治具串音的测量,这个治具,除了没有待测物外,将是待测物治具的复制品;如果有电路线路的话,必须包含治具的连接器,贯孔,弯折(bends),和转角(corners);如果为了双动测量(balanced measurement)而使用baluns,或为了阻抗匹配而使用最小损耗垫(minimum loss pads),如图三和图四所示,这些都包含在治具之中.之中.3.待测物3.1叙述这项测试的待测物必须有一条以上的讯号线,而且必须为下列对象之一:一.1.1可分离的连接器接合一起的连接器配对.一.1.2缆线整合组件附有连接器或接合在一起的连接器配对的缆线.一.1.3插座插座和测试组件,或插座和可插入的转接头.一. 4.测试步骤一.驱动线路的远程和承受线路的两端都必须用待测环境阻抗做终端,终端的方法可用图三和图四的其中一种.一.4.1方法A,时域一.4.1.1一般性原则一.4.1.1.1待测物必须放置距离会影响测量结果之对象至少 5cm 远之处.一.4.1.1.2 参考测量和治具串音一.4.1.1.2.1量测并纪录从10%到90%位准的量测系统爬升时间,除非参考文件有其他任何的规范.一.4.1.1.2.2治具的串音会添加在待测物的串音中,如果有使用最小损耗垫,那么最小损耗垫也包含在治具之中;如果参考文件明确地描述治具,那么治具所贡献的串音量即为已知值,则治具串音的测量就是非必须的;这些结果是量测量对时间的关系图,用以下的其中一种技术来量测量测系统爬升时间,驱动线路振幅,和治具串音量.一.4.1.2插入式测量法一.4.1.2.1在不加入待测物的情况下,把治具的近端和远程连接起来,将示波器和脉冲讯号产生器连接在驱动线路治具的适当位置;对多个同步驱动讯号线路,匹配它们的振幅,并且减小它们之间的 skew;对双动讯号的测量,减小这对线路的skew,量测并报告 skew的值.一.4.1.2.2如果同步要被驱动的线路数目超过了设备的容许值,或者频道间 skew的排除是一件令人担心的事,那么一次驱动一条线路且串音量以迭加(superposition)的方式纪录下来.一.4.1.2.3量测驱动讯号在通过治具时的步阶爬升时间和振幅(如果有要求,这个动作可以使用加上待测物的治具来完成),调整滤波功能使得量测爬升时间符合要求的值,或如表一的值.表一4.1.2.4依照参考文件将示波器连接于承受线路,测量将待测物移除的治具串音量,将治具串音振幅除以步阶讯号振幅以求得治具串音比并将其表示成百分比的形式,除非有其他的规范,否则将峰值和符号给纪录下来.4.1.3 参考治具测量法4.1.3.1将示波器和脉冲产生器连接在驱动线路的适当位置;对于双动讯号的测量,讯号源必须使正向和负向的步阶讯号振幅一致,且将其 skew移除;对于多个同步驱动讯号线路,使其振幅一致且移除 skew.4.1.3.2如果同步要被驱动的线路数目超过了设备的容许值,或者频道间 skew的排除是一件令人担心的事,那么一次驱动一条线路且串音量以迭加(superposition)的方式纪录下来.4.1.3.3量测驱动讯号在通过参考治具时的步阶爬升时间和振幅(如果对远程串音有要求,这个动作可以使用加上待测物的治具来完成),调整滤波功能使得量测爬升时间符合要求的值,或如表一的值.4.1.3.4如参考文件所示,将示波器连接在参考治具的承受线路上,量测承受线路接收到的最大振幅,把这个值减去在驱动讯号产生前承受线路上的讯号振幅以便获得承受线路的串音量(包含符号),将承受线路的串音量除以步阶讯号的振幅以计算治具串音比,并将其表示成百分比的形式.4.1.4 待测物串音测量4.1.4.1在治具上加入待测物.4.1.4.2将示波器连接在承受线路被要求的位置,而同样的,把步阶讯号产生器连接在驱动讯号线路被要求的位置;对于双动讯号的测量,讯号源必须使正向和负向的步阶讯号振幅一致,且将其 skew移除;对于多个同步驱动讯号线路,使其振幅一致且移除 skew.4.1.4.3如果同步要被驱动的线路数目超过了设备的容许值,或者频道间 skew的排除是一件令人担心的事,那么一次驱动一条线路且串音量以迭加(superposition)的方式纪录下来.4.1.4.4量测承受线路接收到的最大振幅,把这个值减去在驱动讯号产生前承受线路上的讯号振幅以便获得承受线路的串音量(包含符号),将待测物-与-治具的承受线路的串音量除以步阶讯号的振幅以计算待测物-与-治具的串音比,并将其表示成百分比的形式.注意-当治具的串音量接近于待测物-与-治具的串音量时,对于结果的解释就要小心了,从这项测试减去治具串音并不是正确的做法.。
电子连接器耐插拔测试方法
循环插拔.
3.2 除非参考文件特别说明,每小时循环速率应是：
自动化装置
500±50
手工插拔
最多 300
自动循环连接
250—300
如 参 考 文 件 无 特 别 说 明 ,测 试 期 间 不 得 对 样 品 使 用 电 子 加 载 .
3.3 参考文件说明应在测试前,中,后进行检查与检测,如无特别说明时,循环插
2.2 某些连接器有时会附带润滑油,测试前应小心操作以确保润滑油不被抹除, 并 防 止 被 灰 尘 ﹑ 外 界 物 质 等 污 染 .(若 无 特 别 说 明 ,不 可 超 量 使 用 正 常 生 产 时 所 用 的 润 滑 油 量 ).
2.3 除 非 参 考 文 件 特 别 说 明 ,连 接 器 机 械 插 拔 安 装 时 要 完 全 模 拟 实 际 使 用 中 的连接器插拔﹒
2.4 样品要求人工插拔测试时,须注意确保舆实际使用中的连接器插拔的一致 性.
3 、测试步骤：
3.1 将 样 品 固 定 在 测 试 夹 具 上 之 前 ,确 保 测 试 夹 具 不 会 影 响 仪 器 自 我 较 准 时 ,
允 许 在 测 试 机 器 上 自 行 较 准 ;安 装 后 ,设 定 耐 插 拔 测 试 的 次 数 及 速 率 进 行
审核
姚松
日期： 2008-2-25
批准： 崔和平 日期： 2008-3-27
制/修订者： 吴朔
日 期： 08.02.20
审核
姚松
日期： 2008-2-25
批准： 崔和平 日期： 2008-3-27
深圳市德力康电子科技有限公司 作业标准
电子连接器耐插拔测试方法
文件编号：108000-D-072 文件版本：A 页 码：第 3 页 共 2 页
连接器规范和测试要求
【技术&知识】连接器规范和测试要求文：KnightChen/CACT工程部连接器依照其产品功能和使用环境，将规范要求分为四大部分。
1.电气规范要求2.机械规范要求3.环境规范要求4.环保要求一、电气规范要求电气特性是连接器实现连接功能的主要特性。
确定连接器的电气特性，以保证连接器满足连接功能。
连接器的电气特性有：1.接触阻抗（ContactResistance）目的：维持连接器在使用期限内的接触阻抗，以减少信号和能量在传输过程中的损失或衰减。
测试方法：EIA-364-23(EIA-364-06)orMIL-STD-1344A,3004.1。
测试要点：a.测试电流/电压100mA@20mV，被测试连接器（连接系统）无负载。
b.测试电流为低电流是为了避免接触阻抗受到端子（导体）热电效应影响。
c.测试电压为低电压是为了避免端子（导体）之间接触界面绝缘薄膜被击穿和熔化。
规范要求：一般要求50m?（initial）；100m?（final，即在寿命测试或环境测试後）。
定义接触阻抗此参数是为了减少信号和能量在传输过程中的损失或衰减，电流就像水流一样。
阻力越小，能量的损失和衰减就越少。
就连接器的接触处而言，影响其阻抗大小的因素有正向力（对於弹性接触结构而言），接触环境，如端子（导体）的表面粗糙度，表面处理方式（如电镀的金属特性和致密性），端子与端子（或其他导体）的结合方式（是焊接or铆合or弹性接触等）。
从电学理论角度来说，接触阻抗为C点绿色圈接触处的阻抗；在客人使用角度来说，连接器提供A点到B点的导通（连接），所以客人要的阻抗应包含从A点到B点的所有导体本身的阻抗和接触处的阻抗（包括焊接、铆合等接触方式）如图一示。
（图一）2.耐电压(WithstandingVoltage)目的：确认两导体（或两回路）之间的绝缘介质（包含气体）及其间距是否适合和足够，以确保连接器在开关冲击电压或意外过载（一定时间内的过电压）状态下能维持正常功能，确保安全性。
连接器可靠性测试项目介绍
连接器可靠性测试项目介绍连接器是将一个回路上的两个导体桥接起来，使得电流或者讯号可以从一个导体流向另一个导体的导体设备。
连接器形式和结构是千变万化的，随着应用对象、频率、功率、应用环境等不同，有各种不同形式的连接器。
连接器做可靠性测试项目有插拔力测试、耐久性测试、绝缘电阻测试、振动测试、机械冲击测试、冷热冲击测试、混合气体腐蚀测试等。
连接器可靠性测试方法：1、插拔力测试参考标准：EIA-364-13目的：验证连接器的插拔力是否符合产品规格要求；原理：将连接器按规定速率进行完全插合或拔出，记录相应的力值。
2、耐久性测试参考标准：EIA-364-09目的：评估反复插拔对连接器的影响，模拟实际使用中连接器的插拔状况。
原理：按照规定速率连续插拔连接器直至达到规定次数。
3、绝缘电阻测试参考标准：EIA-364-21目的：验证连接器的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温，潮湿等环境应力时，其阻值是否符合有关技术条件的规定。
原理：在连接器的绝缘部分施加电压，从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出来的电阻值。
4、耐电压测试参考标准：EIA-364-20目的：验证连接器在额定电压下是否能安全工作，能否耐受过电位的能力，从而评定连接器绝缘材料或绝缘间隙是否合适原理：在连接器接触件与接触件之间，接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间，观察样品是否有击穿或放电现象。
5、接触电阻测试参考标准：EIA-364-06/EIA-364-23目的：验证电流流经接触件的接触表面时产生的电阻值原理：通过对连接器通规定电流，测量连接器两端电压降从而得出电阻值6、振动测试：参考标准：EIA-364-28目的：验证振动对电连接器及其组件性能的影响。
振动类型：随机振动，正弦振动7、机械冲击测试参考标准：EIA-364-27目的：验证连接器及其组件耐冲击的能力或评定其结构是否牢固；测试波形：半正弦波，方波。
8、冷热冲击测试参考标准：EIA-364-32目的：评估连接器在急速的大温差变化下，对于其功能品质的影响。
EIA-364系列标准
EIA-364系列标准EIA-364系列标准，带目录，总共53个标准，6个压缩包EIA-CB18 固体的钽式电容器储存期限EIA-364 D 电子连接器/ 插座测试过程包括环境类别EIA-364 01B 加速度电子连接的测试过程EIA-364 02C 空气渗漏电子连接的测试过程EIA-364 03B 高度浸入电子连接的测试过程EIA-364 05B 接触插入，释放，移动迫使电子连接的测试过程EIA-364 06B 接触电阻电子连接的测试过程EIA-364 07b 与轴向的Concentricity电子连接的测试过程联系EIA-364 08B 卷曲抗拉的力量电子连接的测试过程EIA-364 09C 耐久性电子连接和接触的测试过程EIA-364 10C 流动的浸入电子连接和插座的测试过程EIA-364 11A 电阻到溶剂电子连接和插座的测试过程EIA-364 13B Mating和Unmating 力量电子连接的测试过程EIA-364 14B 臭氧暴露电子连接的测试过程EIA-364 17B 有或没有电负荷电子连接和插座的测试过程的温度生命EIA-364 20C 禁得住电压电子连接，插座和同轴的接触的测试过程EIA-364 21C 绝缘电阻电子连接，插座和同轴的接触的测试过程EIA-364 22B 类比生命电子连接的测试过程EIA-364 23B 低的水准接触电阻电子连接和插座的测试过程EIA-364 24B 维修使电子连接的测试过程变老EIA-364 25C 探查损坏电子连接的测试过程EIA-364 26B 盐水雾电子连接器，接触和插座的测试过程EIA-364 27B 机械震动(指定的脉搏)电子连接的测试过程EIA-364 28D 振动电子连接和插座的测试过程EIA-364 29B 接触保留电子连接的测试过程EIA-364 31B 湿度电子连接和插座的测试过程EIA-364 32C 热震(温度周期变化)电子连接和插座的测试过程EIA-364 35B 插入保留电子连接的测试过程EIA-364 37B 接触约会和分离力量电子连接的测试过程EIA-364 38B 电报拔电子连接的测试过程EIA-364 39B 电子连接器，接触和插座的液压静力测试过程EIA-364 40B 压坏电子连接的测试过程EIA-364 41C 电报在电子连接的测试过程屈曲EIA-364 42B 影响电子连接的测试过程EIA-364 45A 防火墙火焰电子连接的测试过程EIA-364 53B 氮的Adic 蒸汽测试，金完成电子连接和插座的测试过程EIA-364 54A 有磁性的渗透性电子连接器，接触和插座的测试过程EIA-364 56B 为了焊接热电子连接和插座的测试过程的电阻EIA-364 66A EMI 保护效力电子连接的测试过程EIA-364 71B 焊接灯芯(波焊接技术)测试过程适合电子连接器和插座EIA-364 81A 燃烧特性电子连接器住房，连接器会议和插座的测试过程EIA-364 82A 塑胶电子连接和插座住房的测试过程的Corrosivity EIA 364-83 壳牌公司轰炸和轰炸在舱壁测试过程抵抗适合电动汽车连接器EIA 364-90 串音比率电子连接，插座，电缆组件的测试过程或者相互连接系统EIA-364 91A 灰尘电子连接和插座的测试过程EIA 364-95 充分的铺席子和铺席子稳定电子连接的测试过程EIA 364-99 规格位置和保留电子连接的测试过程EIA 364-100 标明永久为电子连接和插座的测试过程EIA 364-101 Attentuation电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA 364-102 上升时间堕落电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA 364-103 传播延迟电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA-364 104A 可燃性电子连接的测试过程EIA 364-105 高度低温电子连接的测试过程EIA 364-106 驻波比率(SWR)电子连接的测试过程EIA 364-107 眼睛图案和在电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程感到紧张EIA 364-108 阻抗，反射系数，返回损失，并且VSWR在时间和频率领土电子连接器，电报会议或者相互联系系统的测试过程测量EIA 364 1000.01 评价电子连接器的性能的环境考试方法学和插座在生意办公室应用方面使用EIA 364-109 环电感测量电子连接(1 nH 10 nH)的测试过程。
EIA-364-09耐插拔 实验规范
電子連接器的耐插拔測試方法公告EIA工程標准和出版物是為服務於公眾利益而制定的,它是為了消除生產者和購買者之間的誤解,促進產品的交流和提高,並幫助購買者在最短時間內挑選到他所需要的滿意的產品﹒該標準的提出會促使EIA的成員在生產和銷售產品時遵循該標準﹐而它也可以由國內外非EIA成員自愿使用。
對于推荐標准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在選取時未考慮其專利內容,故在此過程中EIA對任何專利所有者不承擔責任﹐對任何采用該標準的機構也不承擔責任。
EIA標準根据國際標準制定﹐但是國際電工協會還沒有提出EIA標準與IEC 標準的有效的對照。
該標準的提出不是意在安全問題或适用性做硬性規定﹒標準使用者的職責是在使用前建立起一個安全健康的實踐体系和确定某些標準的适用性。
（摘自NO.2377建議標準，EIA P-5.1下屬連接器委員會形成）電子工業協會（EIA）工程部出版2001年華盛頓D.C.20006，N.W.賓西法尼亞大道。
價格：請參照時價EIA，JEDEC標準，工程出版物或者稱為全球工程文件，美國、加拿大（1-800-854-7179），國際（714-261-1455）1992年印刷版權所有,U.S.A印制電子工業協會測試方法#09B電子連接器耐插拔測試方法此EIA所推荐的標准是基于國際電子技術委員會(IEC)的技術內容;推荐512—5,測試9a,机械操作,1977.它符合此IEC推荐的所有必要方面.電子工業協會測試方法#09B電子連接器的耐插拔測試方法1.0TP—09A 耐插拔2.0目的﹕此測試程序的目的是介紹一种統一的測試方法，此方法模擬連接器的預期壽命來測試電子連接器周圍環境對插拔造成的影響﹒帶有量規的插拔只用來產生机械應力﹐而帶有裝配元件的耐力測試產生机械應力和磨損應力。
3.0儀器3.1參考文件要求的配合元件。
3.2夾片，夾鉗或其它連接器夾持工具或測試量規通過半系統測試恰當結合使用可以自由滑動（假如連接器規格說明有要求）。
EIA-364连接器专项测试标准简介
Firewall Flame Test Procedure for Electrical Connectors
EIA-364-46B
MICROSECOND DISCONTINUITY TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS,CONTACTS AND SOCKETS
Thermal Shock (Temperature Cycling) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets
EIA-364-35B
Insert Retention Test Procedure for Electrical Connectors
EIA-364-90
Crosstalk Ratio Test Procedures for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnect Systems
EIA-364-91A
Dust Test Procedure for Electrical Connector and Sockets
EIA-364-56C
Resistance to Soldering Heat Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets
EIA-364-59A
LOW TEMPERATURE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS
EIA-364-95
Full Mating and Mating Stability Test Procedures for Electrical Connectors
USB 3.0 A TO C 可靠性测试规范
三阶文件USB A/C数据线测试规范页数1/5 版本A/0修订履历版本修订内容日期修/制订者审核批准A/0 新制订2017-03-03 Peter Mils YANGi三阶文件USB A/C数据线测试规范页数2/5 版本A/0可靠性测试规范：Test conditionTemperature：15℃ to 35℃Air pressure ：86 to106 kPaRelative humidity：25% to 85%NO Testdescription Test procedure Performance Relatedstandard1 寿命测试EIA364-0920-30次/Min ●U SB A 3000次, 电气性能正常●T ype-C 10000次电气性能正常EIA364-092 插入力EIA364-131.插拔力测试仪器2.测试速度为12.5mm/分钟3.单位为N ●M icro USB插拔耐久测试前后：插入力大于等于6N，小于等于25N●T ype-C插拔耐久测试前后：插入力大于等于5N，小于等于20NEIA364-133 拔出力EIA364-131.插拔力测试仪器2.测试速度为12.5mm/分钟●M icro USB插拔耐久测试前后：拔出力大于等于8N，小于等于25N●M icro USB插拔耐久测试前后：拔出力大于等于8N，小于等于20NEIA364-134 抗拉脱EIA 364-38A1.轴向固定线缆PLUG；2.距离PLUG端 10cm处进行负重；3.重量40N;4.持续1分钟●线缆无开路、短路、绝缘击穿；●外背jacket无断裂；●连接器与线缆无分离；●芯线端点无脱离连接器；●电气性能正常；EIA364-38A5 端口抗弯折EIA 364-411.弯折角度水平和垂直方向各+/-90°；2.60次/分钟；3. 测试5000次（水平500次—>垂直100次为1个循环，共5个循环）4.负重200g；●测试完成后需对测试端SR处线缆进行上、下、左、右、左上角、右上角、左下角、右下角多角度检测，无开路、短路、绝缘击穿；●外背jacket无断裂；●连接器与线缆无分离；●芯线端点无脱离连接器；●电气性能正常；●导通阻抗符合规格要求，并记录实际值EIA364-416 滚筒跌落跌落高度1米，跌落次数150次，每50检查一次，跌落速度参考值10-12次/分次（以跌落●测试完成线缆无损坏，松脱；●连接器可以无明显尺寸变化；●电气性能正常三阶文件USB A/C数据线测试规范页数3/5 版本A/0在滚筒铁板中心位置为准）7 跌落测试跌落高度1.2米，按照上、下、左、右每个方向各3次跌落到水平大理石平台●测试完成线缆无损坏，松脱；●连接器可以无明显尺寸变化；●电气性能正常8 强度测试 2.5个方向各施加力量；●上下左右4个方向力量要求大于3.5Kg,不损坏；●插入方向要求大于10Kg不损坏；●测试完成后电气性能正常；●线缆无松脱，无断裂；9 强度耐久测试力：F1=F2=1kgf测试次数：2000次（往复算一次）；施力点为接口到SR处15mm（从外壳平面量起15mm。
常规工程连接器Q test测试说明
CONNECTOR DIVISIONAPPLE連接器產品常规Q-test测试说明EIA-364 (美国电子工业学会）EIA-364(CONNECTOR DIVISION1. Low Level Contact Resistance (LLCR) 低阶接触阻抗2. Insulation Resistance 绝缘阻抗3. Dielectric Withstanding Voltage 耐电压4Temperature rise电气性能 4. Temperature rise温升5. 其它电气特性：电磁干扰泄露衰减；特性阻抗；插入损耗；反射系数，电压驻波比；串扰，传输延迟；时滞。
1. Mating/ unmating Force 插拔力2. Durability 寿命测试3. Contact retention force 端子保持力4. Contact normal force常规三机械性能端子正向力5. Vibration振动测试6.Physical shock振动冲击测试大测试1. Heat Soak 热储存测试2. Thermal Cycling 热循环测试3. Thermal Shock 冷热冲击测试环境性能冷热冲击测4. Humidity Cycling 温湿度组合循环测试5. Temperature Life 高温测试6.Salt Spray 盐雾测试7. Resistance to Soldering Heat 耐焊接热CONNECTOR DIVISION1.Low Level Contact Resistance (LLCR) 低阶接触阻抗测试1定义：1.任何金屬表面可能有a.灰塵b.氧化物c.油污等雜質, 當兩金屬表面接觸後該介質會影響電流之流通, 一般稱之為接觸阻抗. 高品质的连接器应当具有低而稳定的接触阻抗，连接器的接触阻抗从几毫欧到数十毫欧不等。
2.目的：在不破坏端子表面的氧化膜的情况下，测试结合的两个端子之间的接触阻值，以作为连接器端子的总体性评估.3. 方法：a）以四线量测法量测结合端子之电阻值b）测试电流：100mA max b）测试电流100mA max c）测试电压：DC 20mV max备注：常规CR测试电流和电压: DC 5V ；1A .4.参考标准：EIA-364-235测试仪器微欧姆机5.测试仪器：微欧姆机（设备自身就应具备四线法测试功能，它应有四个外接插孔。
#EIA-364-09电子连接器的耐插拔测试方法
电子连接器的耐插拔测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用。
对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任。
EIA标准根据国际标准制定﹐但是国际电工协会还没有提出EIA标准与IEC 标准的有效的对照。
该标准的提出不是意在安全问题或适用性做硬性规定﹒标准使用者的职责是在使用前建立起一个安全健康的实践体系和确定某些标准的适用性。
（摘自NO.2377建议标准，EIA P-5.1下属连接器委员会形成）电子工业协会（EIA）工程部出版2001年华盛顿D.C.20006，N.W.宾西法尼亚大道。
价格：请参照时价EIA，JEDEC标准，工程出版物或者称为全球工程文件，美国、加拿大（1-800-854-7179），国际（714-261-1455）1992年印刷版权所有,U.S.A印制电子工业协会测试方法#09B电子连接器耐插拔测试方法此EIA所推荐的标准是基于国际电子技术委员会(IEC)的技术内容;推荐512—5,测试9a,机械操作,1977.它符合此IEC推荐的所有必要方面.电子工业协会测试方法#09B电子连接器的耐插拔测试方法1.0TP—09A 耐插拔2.0目的﹕此测试程序的目的是介绍一种统一的测试方法，此方法模拟连接器的预期寿命来测试电子连接器周围环境对插拔造成的影响﹒带有量规的插拔只用来产生机械应力﹐而带有装配组件的耐力测试产生机械应力和磨损应力。
3.0仪器3.1参考文件要求的配合组件。
3.2夹片，夹钳或其它连接器夹持工具或测试量规通过半系统测试恰当结合使用可以自由滑动（假如连接器规格说明有要求）。
TYPEC数据线规格书
关键词：TYPE C数据线摘要：本文介绍了数据线的规格，性能及测试规范。
缩略语：1范围标准适用于TYPE A TO C数据线需求规格书，未尽规格描述以TYPE C协会规范V1.1 为准。
3.1数据线应能在下列条件下正常工作：3.1.1 工作环境温度：-20 C〜+55C；（仅作单体验证目的，与整机匹配时以整机试验环境为准）；3.1.2 相对湿度：5%〜95%3.1.3 大气压力：86 kPa 〜106kPa;3.1.4 数据线的存储温度：-40。
〜+85C；4 数据线主要参数4.1数据线连线规格详细尺寸以及工艺要求以3D图档为准1、type C金属插头，要求必须是整体拉伸成型，不能是折弯成型，不接受接缝；2、金属插头部分，要求做不锈钢原色，表面喷砂处理：50u” ~150u” MATTNICKELPLATING OVER ALL3、保证至少3A通流能力整条线缆产品详细规格（BOM青单,包括端子图纸2D &可拆解版本的3D）要有确认才能认可（认证时必须提供以上文件）。
4.2线材主体信息：4.2.1外观5V/3A A plug TO C plug, cover 式，白色半雾面,素材细咬花处理，MT110064.2.2主体结构绝缘材质NON-PV，C 须满足5.2 章节测试性能要求4.2.3 关键尺寸4.2.3.1 USB2.0 B plug参考协会规范4.2.3.2 TYPE C plug1. 红圈标示尺寸为重点尺寸，其余尺寸依据协会规范要求2. 各组件BOM LIST原材料信息需明确到具体牌号3. 应满足TYPE C 2.0 规格4.2.3.3 镀层厚度测试区域规定关于镀层测试区域和方法：TYPE C/A：TYPE C/A 产生接触的关键区域为PIN 针头部触点，因此镀层工艺为考虑成本一般只覆盖PIN 针触点位置，其他区域为flash Au, 所以镀层的量测范围定义在PIN 针触点弧顶的最高处1. Pin A5 (CC) of the USB Type-C plug shall be conn ected to VBUS through a resistor Rp. See Section 4.5.322 and Table 4-13 forthe functional descripti on and value of Rp.2. Con tacts B6 and B7 should not be prese nt in the USBType-C plug.3. All VBUSpins shall be connected together within the USBType-C plug. Bypass capacitors are not required for the VBUSpins at this cable.4. All Ground retur n pins shall be conn ected together withi n theUSB Type-C plug.5. All USBType-C plug pins that are not listed in this table shall be ope n (not conn ected).技术要求5.1 线材外观要求5.1.15.2 线材性能要求Test con diti onTemperature : 15°C to 35 °CAir pressure : 86 to106 kPaUSB数据线的安全性能应能满足CCEE规定要求。
RJ连接器机械性能测试方法
▪ 2.插入力测试Insertion force test
▪ 测试标准：EIA-364-13 ▪ 测试仪器：全自动插拔测试仪 或 推拉力计 ▪ 测试条件：插入速度： 25±3毫米/分钟 ▪ Test condition: Insertion speed at 25±3mm per minute ▪ 测试要求：2.27kgf 最大 ▪ Test requirement：2.27kgf max
Jack的Contact接触的临界位置，以Plug端部未脱离出 Jack且力并读数，记录测试数据
▪ 4.塑脚推断力测试
▪ 测试仪器：推拉力计 ▪ 测试对象: HS’G的香菇脚 ▪ 测试要求：塑脚推断力>=1.8kg
▪ 注意事项：产品的两个塑脚必须全部测试，且都必须满足 测试要求
▪ 1.插拔测试Durability test（耐久性测试）
▪ 测试标准：EIA-364-09 ▪ 测试仪器：全自动插拔测试仪 ▪ 测试条件：Plug 插入拔出jack自动插拔至少750次 ▪ 测试要求： ▪ 1.插拔前后接触阻抗值≤30mΩ
2.插拔后IN’S无后退、端子无下陷 3.插拔前后接触阻抗值最大允许变化10mΩ
▪ 3.拔出力测试Removal force test
▪ 测试仪器：全自动插拔测试仪或推拉力计 ▪ 测试要求：7.9kgf min ▪ 测试步骤： ▪ 1.Plug插入Jack； ▪ 2.插拔测试仪上端夹具夹紧Plug的一端，下端夹具夹紧
Jack一端； ▪ 3.调试插拔测试仪上下按钮至合适位置（Plug金片与
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電子連接器的耐插拔測試方法
公告
EIA工程標准和出版物是為服務於公眾利益而制定的,它是為了消除生產者和購買者之間的誤解,促進產品的交流和提高,並幫助購買者在最短時間內挑選到他所需要的滿意的產品﹒該標準的提出會促使EIA的成員在生產和銷售產品時遵循該標準﹐而它也可以由國內外非EIA成員自愿使用。
對于推荐標准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在選取時未考慮其專利內容,故在此過程中EIA對任何專利所有者不承擔責任﹐對任何采用該標準的機構也不承擔責任。
EIA標準根据國際標準制定﹐但是國際電工協會還沒有提出EIA標準與IEC 標準的有效的對照。
該標準的提出不是意在安全問題或适用性做硬性規定﹒標準使用者的職責是在使用前建立起一個安全健康的實踐体系和确定某些標準的适用性。
（摘自NO.2377建議標準，EIA P-5.1下屬連接器委員會形成）
電子工業協會（EIA）工程部出版
2001年華盛頓D.C.20006，N.W.賓西法尼亞大道。
價格：請參照時價
EIA，JEDEC標準，工程出版物或者稱為全球工程文件，美國、加拿大
（1-800-854-7179），國際（714-261-1455）
1992年印刷
版權所有,U.S.A印制
電子工業協會測試方法#09B
電子連接器耐插拔測試方法
此EIA所推荐的標准是基于國際電子技術委員會(IEC)的技術內容;推荐512—5,測試9a,机械操作,1977.它符合此IEC推荐的所有必要方面.
電子工業協會測試方法#09B
電子連接器的耐插拔測試方法
1.0TP—09A 耐插拔
2.0目的﹕
此測試程序的目的是介紹一种統一的測試方法，此方法模擬連接器的預期壽命來測試電子連接器周圍環境對插拔造成的影響﹒帶有量規的插拔只用來產生机械應力﹐而帶有裝配元件的耐力測試產生机械應力和磨損應力。
3.0儀器
3.1參考文件要求的配合元件。
3.2夾片，夾鉗或其它連接器夾持工具或測試量規通過半系統測試恰當結合
使用可以自由滑動（假如連接器規格說明有要求）。
3.3指定速度下自動或半自動的連接器插拔檢測机,如果參考文件沒有特別
說明,應採用正弦曲線運動﹒
注﹕如果參考文件說明可允許人工測試.﹐則須細心确保一致性和精确定位及校準﹒
4.0樣品准備
4.1測試樣品應包括所有應用的指導書﹑關鍵元件及硬件設備，終端使用適
宜的電線或電纜。
4.2使用合适的安裝工具將樣品安裝在正常的操作位置上﹒在安裝過程中應
慬慎小心以防凝固﹒机械測試時﹐可使用諸如滑動离合器類的机械裝置
以防止樣品因超負載力而損坏。
4.3制造商供應的連接器有時會帶潤滑油﹐測試前應小心操作以确保潤滑油
不被抹除﹐並防止被灰塵﹑外界物質等污染﹒若無特別說明，不可超量
使用正常生產時所用的潤滑油量。
4.4除非特別說明﹐連接器機械安裝要完全模擬實際使用中的連接器插拔﹒
5.0測試方法
5.1除非特別說明﹐樣品被固定在測試夾具上之前﹐允許在測試机器上自行
較準﹔安裝后﹐按參考文件規定的次數進行循環插拔﹒
5.2除非參考文件特別說明﹕每小時循環速率應是﹕
自動化裝置 500±50
手工插拔最多300
自動循環連接250—300
除非特別說明﹐測試期間不得對樣品使用電子加載。
5.3檢驗或測試應在參考文件說明的時間內完成。
注意﹕中斷檢測期間的樣品會影響隨后的測試結果。
5.4初始和最終測量
5.4.1插拔力﹑接触電阻﹑外殼電阻﹑絕緣電阻﹑抗壓﹑接触保持力及
密封測試等﹐可在測試前﹑測試中和測試后進行﹐它們可顯示電
子連接器耐插拔的結果。
5.4.2決定循環耐插拔結果的連接器檢測包括以下几點﹕
(a)連接裝置的磨損﹔
(b)鉚釘的松動或磨損(應用處)﹔
(c)端子和外殼上電鍍的不均勻磨損﹑擦傷﹑脫落﹔
(d)金屬屑片剝落(插入面處)﹔
(e)移位﹑彎曲或折斷接触﹔
(f)不能正确的插拔﹔
(g)彈性插入穿刺﹐硬件絕緣破損﹔
(h)机械操作特性包括關鍵部件的有效性和電极化系統。
6.0 細節說明﹕
下列細節將在規格說明中詳細說明﹕
(a)循環次數﹔
(b)除非特別說明﹐應潤滑﹔
(c)循環進行前﹑進行中和完成后進行觀測、測量﹔
(d)循環速率﹔
(e)人工或自動循環﹔
(f)如有需要﹐要進行定期檢測﹔
(g)被檢測樣品的數目﹔
(h)連接裝置是否被移去﹔
(i)失敗標准。
7.0 參考文件
數据表單應包括﹕
(a)測試標題﹔
(b)樣品描述﹔
(c)所用的測試器材﹔
(d)測試過程包括測試方法﹑循環速率﹑循環次數﹔
(e)評估﹑觀測及外觀檢測﹔
(f)操作者姓名和測試日期。
8.0說明
建立如下一或多款可行性標準﹕
(a)總插拔力；
(b)單個接触的拔出力和插入力；
(c)接触面可允許的電阻最大變化量；
注：不使用標准循環樣品﹔
(d) 導致電子元件損壞磨損的程度，隨後進行環境暴露測試。