TTL门电路逻辑功能的测试及功能的转换

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实验一集成ttl门逻辑功能参数测量

实验一集成ttl门逻辑功能参数测量

实验一集成TTL门电路逻辑功能及参数测一、实验目的⒈理解集成TTL门电路逻辑功能及参数测试的必要性。

⒉熟悉TTL与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能。

⒊掌握TTL与非门电路的主要参数及其测试方法。

二、预习要求⒈复习TTL门电路的基本工作原理。

⒉认真阅读讲义,明确各参数的定义、测试条件及测试方法。

⒊熟悉掌握数字逻辑实验箱的使用方法。

⒋了解被测TTL门电路的管脚排列及其功能。

三、实验设备与器材⒈数字逻辑实验箱⒉万用表⒊7421四输入双与非门、T072与或非门、74LS136二输入端四异或门各一块。

四、实验内容及步骤⒈测试与非门的逻辑功能①先将7421四输入端双与非门,按缺口标志向左排列,放入实验箱多孔插座板上。

参照图14-1,再按图14-2所示接好线。

输入端分别接不同的逻辑开关K,输出接发光的二极管器L。

(2)改变逻辑开关,实现各输入端高、低电平的转换;用发光二极管观察输出端逻辑状态,并用万用表测出对应电平值。

图14-17421引脚排列图图14-2与非门接线图(3)记录不同输入和输出状态的对应关系。

列出真值表。

⒉测试与或非门的逻辑功能图14-3T072引脚排列图14-4与或非接线图(1)参照图14-3T072引脚排列,按图14--4所示接好线。

(2)改变逻辑开关的状态,用发光二极管观察输出状态。

(3)记录各输入与输出对应状态,并列出真值表。

⒊测试异或门的逻辑功能图14-574LS136引脚排列图14-6异或门接线(1)先将74LS136二输入端四异或门(集电报开路异或门),插入实验箱多孔插座板上。

参照图14-5 74LS136引脚排列,按图14-6所示接好线。

(2)改变逻辑开关的状态,观察输出状态。

(3)记录各输入与之对应的输出状态,并列出真值表。

⒋测试TTL与非门电压传输特性图14-7 TTL与非门电压传输特性测试图图14-8 用JT-1测TTL与非门电压传输特性曲线方法一:(1)按图14-7TTL与非门电压传输特性测试图接好线。

数电实验一 TTL集成电路-逻辑门电路的参数测试

数电实验一 TTL集成电路-逻辑门电路的参数测试

实验内容二:参数测试4
输入 电压 0 (V)
输出 电压 (V) 输入 电压 1.2 (V) 输出 电压 (V) 1.3 1.4 1.5 1.6 2.0 3.0 4.0 5.0 0.2 0.4 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1
实验内容一:逻辑功能测试
输入变量A(1脚) 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 输入变量B(2脚) 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 输入变量C(4脚) 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 输入变量D(5脚) 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 输出变量F(6脚)
实验器件
电子技术实验台 万用表 74LS20:二-四输入与非门 1片
芯片引脚图
实验内容一:逻辑功能测试
1 74LS20为二-四输入与非门 2 按引脚图,7脚接地,14脚接+5V出端6脚接电平指示灯 5 输入和输出时:发光二极管灯亮为逻辑 “1”,灯灭为逻辑“0” 6 完成下表,推导输入与输出的关系:F=?
1
1 1 1
1
1 1 1
0
0 1 1
0
1 0 1
实验内容二:参数测试1
测试门电路导通时的电源电流ICCL和门电路 截止时的电源电流ICCH
实验内容二:参数测试2
测试门电路低电平输入电流IIL(灌电流)和 高电平输入电流IIH(拉电流,较小)
实验内容二:参数测试3
间接测量低电平扇出 系数:如图连线,调 节电位器,使电压表 达到0.4伏,记录电 流表示数IOLM。低电 平扇出系数 N=IOLM/IIL , 注意,N要取整。
实验内容二:参数测试4
测试门电路的电压传输特性

实验一_ttl门电路逻辑功能及参数测试

实验一_ttl门电路逻辑功能及参数测试

数字电子技术实验(共24学时)实验一(实验性质:验证性学时:2 )题目:TTL门电路逻辑功能及参数的测试------一、实验目的:①熟悉常用TTL门电路的逻辑功能。

②了解TTL门电路参数的测试方法及物理意义。

二、实验内容:必做内容:(A)、测试SSI门电路74LS00、74LS02的逻辑功能;参照表格一(B)、测试74LS00与非门特性曲线,参照表格二,所有曲线必须画在坐标纸上。

①电压传输特性曲线,并从曲线上读出U OH、U OL、U ON、U OFF、、U NH、U NL、参数的值;②输入负载特性曲线,并从曲线上确定R ON、R OFF参数的值;选作内容:①输入短路电流I IS及输入高电平电流I IH的测试;②输出负载特性曲线,并从曲线上确定I OH、I OL参数的值。

三、预习报告要求:(1)、画出要测各种SSI集成电路的逻辑功能测试表格。

基本格式一:表格标题:(与非门真值表)器件名:(74LS00)输入输出F=(表达式)A B 标准电平Uo 实验电压Uo 理论F值实验F值0 00 11 01 1基本格式二:标题:(与非门电压传输特性曲线)器件名:(74LS00)参量1(U i)参量2(U O)(2)、查手册画出要测各种SSI集成电路的引脚图(3)、画出测试电路图(4)、标示所用的参数的物理意义四、参考资料:实验指导书P88:TTL门电路逻辑功能测试;P90 :TTL与非门静态参数测试五、实验用器件:74LS00、74LS02六、实验报告要求:1.认真整理实验数据,并列出表格或画出曲线,分析实验测量数据与理论数据误差;(数值收获量变)2.写出本次实验电路小结(原理、概念提高质变);回答书上思考题3.认真总结本次实验的心得体会和意见,以及改进实验的建议。

实验一TTL门电路的逻辑功能测试

实验一TTL门电路的逻辑功能测试

实验一TTL门电路的逻辑功能测试一、实验目的:1.了解TTL门电路的基本原理和逻辑功能;2.掌握TTL门电路的实验方法;3.学会使用逻辑分析仪测试TTL门电路的逻辑功能。

二、实验原理:TTL(Transistor-Transistor Logic)是一种基于晶体管的数字集成电路。

TTL门电路由NPN型和PNP型晶体管构成,通过输入端的电平状态控制输出端的电平状态。

常用的TTL门电路有与门、或门、非门、与非门、或非门等。

1. 与门(AND gate):只有当所有输入端都为高电平(逻辑1)时,输出端才为高电平;否则输出端为低电平(逻辑0);2. 或门(OR gate):只要有任意一个输入端为高电平,输出端就为高电平;否则输出端为低电平;3. 非门(NOT gate):输出端与输入端的电平相反;4. 异或门(XOR gate):当输入端的逻辑状态不同时,输出端为高电平;否则输出端为低电平;5. 与非门(NAND gate):当所有输入端都为高电平时,输出端为低电平;否则输出端为高电平;6. 或非门(NOR gate):只要有任意一个输入端为高电平,输出端为低电平。

三、实验仪器和器件:1.实验仪器:逻辑分析仪、示波器、直流电源、万用表;2.实验器件:TTL芯片(具体选用与门、或门、非门、与非门、或非门等)。

四、实验步骤:1.确定使用的TTL芯片,并查阅该芯片的技术手册,了解其引脚的功能和使用要求;2.将TTL芯片插入到实验面包板或焊接板上,根据技术手册连接相应的电源、输入端和输出端;3.打开逻辑分析仪,并将TTL芯片的输出端连接到逻辑分析仪的输入端,将TTL芯片的输入端连接到逻辑分析仪的输出端;4.打开逻辑分析仪的电源,并设置逻辑分析仪的采样频率和采样时间;5.根据TTL芯片的引脚定义和逻辑功能,设计特定的输入信号,并观察逻辑分析仪输出的波形;6.根据逻辑功能的定义,验证TTL芯片的输出是否与预期一致;7.记录实验数据,并分析实验结果。

ttl逻辑门实验报告

ttl逻辑门实验报告

ttl逻辑门实验报告TTL逻辑门实验报告引言:逻辑门是数字电路中最基础的组成部分,它们通过处理和操作逻辑信号来实现各种逻辑功能。

TTL(Transistor-Transistor Logic)逻辑门是一种常见的数字逻辑门家族,它由晶体管和电阻器等离散元件组成。

本文将介绍TTL逻辑门的原理、实验过程和结果,以及对实验结果的分析和讨论。

一、实验目的本次实验的目的是通过搭建TTL逻辑门电路,观察和分析逻辑门的输入输出关系,验证逻辑门的功能和特性。

二、实验材料和设备1. 电源:提供适当的电压和电流给电路。

2. 逻辑门芯片:使用74LS00、74LS02、74LS04等常见的TTL逻辑门芯片。

3. 连接线:用于连接电路中的各个元件和芯片。

4. 电阻器:用于限制电流和调整电压。

5. 开关:用于控制逻辑门的输入信号。

三、实验步骤1. 准备工作:将所需的逻辑门芯片、电源、电阻器、开关等准备好,并确认它们的工作状态良好。

2. 搭建电路:根据实验要求,按照逻辑门的真值表和电路图,将逻辑门芯片、电源、电阻器、开关等连接起来。

3. 测试输入输出:将逻辑门的输入信号设置为不同的状态,观察和记录逻辑门的输出信号。

4. 分析和记录:根据实验结果,整理和分析逻辑门的输入输出关系,记录实验数据和观察现象。

5. 实验总结:根据实验结果和分析,总结逻辑门的功能和特性,思考实验中可能存在的问题和改进方法。

四、实验结果与分析在实验中,我们搭建了几个常见的TTL逻辑门电路,包括与门、或门和非门。

通过设置不同的输入信号,我们观察到了逻辑门的输出信号变化。

实验结果表明,逻辑门能够根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。

以与门为例,当输入信号A和B同时为高电平(逻辑1)时,与门的输出信号为高电平(逻辑1);而当输入信号A和B中任意一个或两个同时为低电平(逻辑0)时,与门的输出信号为低电平(逻辑0)。

这符合与门的逻辑功能定义,即只有当所有输入信号都为高电平时,与门的输出才为高电平。

TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

实验二TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。

其逻辑框图、符号及引脚排列如图2-1(a)、(b)、(c)所示。

(b)(a) (c)图2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。

)其逻辑表达式为 Y=2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。

ICCL是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。

通常ICCL >ICCH,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗为PCCL =VCCICCL。

手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。

ICCL 和ICCH测试电路如图2-2(a)、(b)所示。

[注意]:TTL电路对电源电压要求较严,电源电压VCC只允许在+5V±10%的范围内工作,超过5.5V将损坏器件;低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(a) (b) (c) (d)图2-2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。

IiL是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。

在多级门电路中,IiL相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望IiL小些。

实验1 TTL基本门电路逻辑功能测试

实验1 TTL基本门电路逻辑功能测试

平,允许输出端通过合适的电阻R接至电源Vcc。
9
实验一 TTL基本门电路逻辑功能测试
一.实验目的 1.掌握常用TTL逻辑门电路的逻辑功能,熟悉其型号、 外形和外引线排列。 2.验证基本门电路的逻辑功能;了解控制门的控制作用 二.实验设备与器件 仪器或器材名称 数字电路实验箱 二4输入与非门集成电路 四2输入或非门集成电路 四2输入异或门集成电路 与或非门集成电路 四2输入与非门 型号规格 SAC-DGII-4 74LS20 74LS02 74LS86 74LS51 74LS00 数 量 1台 1片 1片 1片 1片 2片
(1).用与非门组成其它功能门电路的方法和步骤是怎 样的? (2).异或门可用五个与非门组成,是否可用四个与非 门组成?试用公式推导之。
20
A B
&
O
&
1
O
Y
21
数字电路实验室(B602)
请同学们不要动实验箱里的元件 想看集成块的同学到门口桌上泡 沫板上看,看完后再插回原处
1
集成电路外引线排列规律
2
注意事项
1.实验前必须充分预习,完成指定的预习任务。 2.使用仪器和实验箱前必须了解其性能、操作方法及注意事项,
使用时应严格遵守。
3.实验时接线要认真,相互仔细检查,确定无误才能接通电源, 初学或没有把握应经指导教师审查同意后再接通电源。 4.数字电路实验注意: 实验前先要读懂集成块的外引线排列,分清电源、地、输入、
输出端,读懂集成块的逻辑功能表, 然后根据集成块的逻辑
功能设计、连接电路。
3
5.实验时应注意观察,若发现有破坏性异常现象(例如有元 件冒烟、发烫或有异味)应立即关断电源,保持现场,报 告指导教师。找出原因、排除故障,经指导教师同意再继 续实验。

ttl逻辑门功能与参数测试实验报告

ttl逻辑门功能与参数测试实验报告

ttl逻辑门功能与参数测试实验报告TTL逻辑门功能与参数测试实验报告引言:逻辑门是数字电路中的基本组成单元,其功能是根据输入信号的逻辑关系产生输出信号。

TTL(Transistor-Transistor Logic)逻辑门是一种常见的数字逻辑门,其采用晶体管作为开关元件,具有高速、低功耗等优点。

本实验旨在研究TTL逻辑门的功能和参数,并进行相应的测试。

一、实验目的本实验的目的是通过测试TTL逻辑门的功能和参数,深入了解其工作原理和性能特点。

二、实验器材和原理1. 实验器材:- TTL逻辑门芯片(如74LS00、74LS02等)- 示波器- 电源- 连接线等2. 实验原理:TTL逻辑门是由晶体管、二极管和电阻等元件组成的。

其工作原理是根据输入信号的逻辑关系,控制晶体管的导通和截止,从而产生输出信号。

三、实验步骤1. 连接电路:将TTL逻辑门芯片与电源、示波器等设备连接起来,确保电路连接正确、稳定。

2. 功能测试:依次测试TTL逻辑门的各个输入端和输出端。

通过输入不同的逻辑电平(如高电平、低电平),观察输出端的变化情况。

记录下每个逻辑门的真值表,分析其逻辑功能是否正确。

3. 参数测试:测试TTL逻辑门的各项参数,包括功耗、传输延迟等。

通过测量电路的功耗和延迟时间,分析逻辑门的性能特点。

四、实验结果与分析1. 功能测试结果:根据测试数据,可以得到每个TTL逻辑门的真值表。

通过比对真值表和理论值,可以判断逻辑门的功能是否正确。

若功能正确,则说明TTL逻辑门芯片工作正常。

2. 参数测试结果:测量得到的功耗和传输延迟等参数可以用于评估TTL逻辑门的性能。

功耗越低,说明逻辑门的能耗越少;传输延迟越短,说明逻辑门的响应速度越快。

根据测试结果,可以对TTL逻辑门的性能进行评估和比较。

五、实验总结通过本次实验,我们深入了解了TTL逻辑门的功能和参数。

通过功能测试,我们验证了逻辑门的正确性;通过参数测试,我们评估了逻辑门的性能。

ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测定

ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测定

ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测定TTL集成逻辑门是一种常见的数字电路元件,它可以实现多种逻辑功能,如与门、或门、非门等。

在数字电路设计中,TTL集成逻辑门是必不可少的元件之一。

本文将介绍TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数测定。

一、TTL集成逻辑门的逻辑功能TTL集成逻辑门的逻辑功能主要包括与门、或门、非门、异或门等。

其中,与门的逻辑功能是当所有输入信号都为高电平时,输出信号才为高电平;或门的逻辑功能是当任意一个输入信号为高电平时,输出信号就为高电平;非门的逻辑功能是将输入信号取反输出;异或门的逻辑功能是当输入信号相同时,输出信号为低电平,否则输出信号为高电平。

TTL集成逻辑门的逻辑功能可以通过其内部的晶体管电路实现。

在TTL 集成逻辑门中,晶体管的开关状态决定了输出信号的电平。

当输入信号为高电平时,晶体管处于导通状态,输出信号为低电平;当输入信号为低电平时,晶体管处于截止状态,输出信号为高电平。

二、TTL集成逻辑门的参数测定TTL集成逻辑门的参数测定主要包括输入电压、输出电压、输入电流、输出电流等。

这些参数的测定可以帮助我们了解TTL集成逻辑门的工作状态,从而更好地设计数字电路。

1. 输入电压TTL集成逻辑门的输入电压通常为5V。

在实际应用中,输入电压的波动会对TTL集成逻辑门的工作产生影响。

因此,需要测定TTL集成逻辑门的输入电压范围和稳定性。

2. 输出电压TTL集成逻辑门的输出电压通常为0V和5V。

在实际应用中,输出电压的稳定性和噪声水平会对数字电路的工作产生影响。

因此,需要测定TTL集成逻辑门的输出电压范围、稳定性和噪声水平。

3. 输入电流TTL集成逻辑门的输入电流通常为几微安到几毫安。

在实际应用中,输入电流的大小和波动会对数字电路的工作产生影响。

因此,需要测定TTL集成逻辑门的输入电流范围和波动。

4. 输出电流TTL集成逻辑门的输出电流通常为几毫安到几十毫安。

在实际应用中,输出电流的大小和波动会对数字电路的工作产生影响。

实验1 TTL门电路逻辑功能测试

实验1 TTL门电路逻辑功能测试

实验1 TTL门电路逻辑功能测试一. 实验目的1.掌握常用TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法;2.熟悉数字电路实验箱的使用方法。

二. 实验原理1.门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。

本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路,TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。

2.集成电路外引线的识别使用集成电路前,必须认真查对识别集成电路的引脚,确认电源、地、输入、输出、控制等端的引脚号,以免因接错而损坏器件。

引脚排列的一般规律为:扁平和双列直插型集成电路:识别时,将文字,符号标记正放(一般集成电路上有一圆点或有一缺口,将圆点或缺口置于左方),由顶部俯视,从左下脚起,按逆时针方向数,依次1.2.3……。

扁平型多用于数字集成电路。

双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。

图 1 集成电路外引线的识别三序号名称型号与规格数量备注1数字电路实验箱1台2双踪示波器1台3万用表1台4数字信号发生器1台5集成芯片74LS002片二输入端四与非门四. 实验内容与步骤1.测试与非门的逻辑功能(1)在实验箱上选取一个14插座,按定位标记插好74L00集成块。

(2)将实验箱上+5V直流电源接74LS00的14脚,地接7脚,将1、2脚接逻辑电平开关输出口,输出3脚接发光二极管显示。

(3)按照表1所示,改变74LS20的1、2、4、5脚输入值,观察并记录发光二极管显示情况(发光管亮,表示输出高电平“1”,发光管不亮,表示输出低电平“0”)。

2.测试逻辑电路的逻辑关系用74LS00按图2接线,将输入输出逻辑关系分别填入表2中。

表23.利用与非门控制输出用一片74LS00按图3接线,S 接任一电平开关,用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。

4.用与非门组成其它门电路并测试验证用一片二输入端四与非门组成或非门画出电路图,测试并填表3。

Y= B A += B A• 表3图2Y图3五. 实验报告1.按各步骤要求填表并画逻辑图。

TTL门电路的逻辑功能测试

TTL门电路的逻辑功能测试
A
B
Y
0
1
0
0
1
1
0
0
1
1
1
0
1
1
1
0
或非门74SL02
异或门74LS86
A
B
Y
A
B
Y
0

1
0
0
1
1
1
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
0
与门74LS08逻辑表达式: 或门74LS32逻辑表达式:
非门74SL04逻辑表达式: 与非门74LS00逻辑表达式:
或非门74SL02逻辑表达式: 异或门74LS86逻辑表达式:
2、了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理介绍
实验中用到的基本门电路的符号为:
在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。
三、实验数据、计算及分析
1.依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86做实验,在实验箱IC插座模块找到相应管脚数目的IC插座,插上并保持连接正常。
四、实验器材
1.数字逻辑电路实验箱
2.芯片与门74LS08、或门74LS32、非门74LS04、与非门74LS00、或非门74LS02、
异或门74LS86各一片
五、实验评价(教师)
1.实验步骤正确,完成了本实验的全部内容。很好( ) 一般( ) 否( )
2.实验数据全面,调试步骤准确,结果正确。很好( ) 一般( ) 否( )
2.对照附录的相应芯片引脚图,按照芯片的管脚分布图接线,注意确保电源VCC(+5V)输入脚和地输入脚的连接,芯片输入端连接到逻辑电平输出单元,通过逻辑电平输出单元控制输入电平,当逻辑输出高电平时对应的发光二极管亮,否则不亮。芯片输出端连接到逻辑电平显示单元,输出高电平时对应的发光二极管亮,否则不亮。

ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)

ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)

ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告引言•介绍TTL集成逻辑门的背景和作用•说明本实验旨在测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数的性能实验设计1.实验材料: TLL集成逻辑门芯片、电路板、示波器等2.实验步骤:–步骤一:搭建所需电路,将TTL集成逻辑门芯片与其他电子器件进行连接–步骤二:使用示波器进行测量和记录–步骤三:根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析1.逻辑功能测试:–对不同的输入组合进行测试,并记录输出结果–比较测试结果与预期结果的一致性2.参数测试:–测试集成逻辑门的输入电流、输出电流、工作电压等参数–记录并分析测试数据–验证芯片参数是否符合规格书上的要求结论•总结实验过程中的观察结果和数据分析•评价TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数性能•提出可能的改进和优化建议参考文献•如果有的话,列出相关参考文献附录•实验所使用的电路图•数据记录表格•其他相关数据和图表实验设计实验材料•TTL集成逻辑门芯片•电路板•示波器•逻辑分析仪实验步骤1.准备实验所需材料和设备2.按照电路图搭建TTL集成逻辑门电路3.确保电路连接正确,没有短路或接触不良的情况4.使用逻辑分析仪设置输入信号,并观察和记录输出信号5.切换不同的输入组合进行测试,并记录相应的输出结果6.使用示波器对信号进行测量和记录7.根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析逻辑功能测试•在测试过程中,我们通过改变输入信号的值,观察输出信号的变化情况。

•比较测试结果与预期结果,判断逻辑门的逻辑功能是否符合要求。

•对不同的输入组合进行测试,包括与、或、非等逻辑运算。

参数测试•我们测量了TTL集成逻辑门的输入电流、输出电流和工作电压等参数。

•记录并分析了测试数据,比较参数值与规格书上的要求。

•验证TTL集成逻辑门的参数是否在工作范围内,符合设计要求。

结论•实验结果表明,TTL集成逻辑门具有良好的逻辑功能和参数性能。

TTL逻辑门变换实验报告

TTL逻辑门变换实验报告

实验1 常用仪器使用和TTL 门逻辑变换一、实验目的1、掌握稳压直流电压源、函数信号发生器、双踪数字示波器、数字电路实验箱的使用方法。

2、熟悉TTL 集成门电路的外形、引脚排列规律及使用注意事项。

3、掌握基本逻辑门电路的逻辑功能及其测试方法。

4、掌握用标准的“与非门”实现逻辑变换的方法。

二、实验设备1、函数信号发生器;2、数字双踪示波器;3、数字电路实验箱;4、集成电路:74LS00。

三、实验内容1、熟练使用函数信号发生器;2、熟练使用双踪数字示波器,通过HELP 键来初步了解触发的功能;3、函数信号发生器A 路产生1kHz ,0-5V 的方波信号,用数字示波器观察波形并测量频率、周期、峰峰值:①方波②频率③峰峰值④偏移;4、测试与非门的功能:将每一个与非门分别接入电路,即检查与非门。

F =AB,当输入均为“1”时,实验箱的指示灯不亮,当其中一个为“0”时,指示灯亮。

依次检测每一个与非门电路。

5、用与非门实现与门、或门和异或门: (1)F=AB=AB=1∙AB 用原有的一个与非门直接输入A 和B ,其输出的接入下一个与非门的输入端,另一个输入端悬空。

在输出即达到与非门实现与门的目的。

(2)F=A +B =B A ∙∙∙11用三个与非门即可实现,一个门输入A 信号另一个输入悬空,一个门输入B 另一个输入悬空;两个输出分别接入下一个门的输入端,接出输出即达到与非门实现或门的目的。

(3)F=A ○+B =AB B AB A ∙∙∙用一个A 和B 输入构成与非门(用两次)将其输出,分别再次将A 和B 输入接下来的两个与非门。

再将这两个输出接到下一个与非门的输入端,输出即可到达与非门实现异或门的目的。

四、实验结果74LS00引脚图:(1)F=AB=AB ∙1连线顺序: 1和2接开关 2→3→4 6→灯。

实验结果:当1和2均为高电平时灯亮,其余情况灯均不亮。

用真值表检验结果如下:(2)F=A+B=1A ∙∙B∙1连线顺序: 1→3→413→11→54 5→6→灯实验结果:1和2均为低电平时,灯不亮,其余情况灯都亮。

TTL门电路的逻辑功能与特性测试

TTL门电路的逻辑功能与特性测试

TTL门电路的逻辑功能与特性测试TTL(Transistor-Transistor Logic,晶体管-晶体管逻辑)门电路是一种数字电路的实现方式,采用晶体管作为主要的电子开关元件。

TTL门电路被广泛应用于逻辑电路中,具有多种逻辑功能和特性。

本文将对TTL门电路的逻辑功能和特性进行详细的测试与分析。

一、逻辑功能测试1.与门(AND Gate):与门是TTL门电路的最基本逻辑门之一,它具有两个或多个输入端和一个输出端。

当所有输入端均为高电平(1)时,输出端才为高电平(1),否则输出端为低电平(0)。

测试与门时,将不同组合的输入信号输入到与门的输入端,并观察输出端的电平状态,验证与门的逻辑功能是否正确。

2.或门(OR Gate):或门是TTL门电路的另一种基本逻辑门,也具有两个或多个输入端和一个输出端。

当任意一个或多个输入端为高电平时,输出端为高电平,只有当所有输入端均为低电平时,输出端才为低电平。

测试或门时,同样输入不同组合的输入信号,并观察输出端的电平状态,验证或门的逻辑功能是否正确。

3.非门(NOT Gate):非门是TTL门电路中的单输入门电路,即只有一个输入端和一个输出端。

非门的输出端与输入端电平相反。

测试非门时,将不同的输入信号输入到非门的输入端,并观察输出端的电平状态,验证非门的逻辑功能是否正确。

4.与非门(NAND Gate):与非门可以看作是与门和非门的组合,具有两个或多个输入端和一个输出端。

与非门的输出端与与门的输出端相反。

测试与非门时,同样输入不同组合的输入信号,并观察输出端的电平状态,验证与非门的逻辑功能是否正确。

5.或非门(NOR Gate):或非门可以看作是或门和非门的组合,具有两个或多个输入端和一个输出端。

或非门的输出端与或门的输出端相反。

测试或非门时,同样输入不同组合的输入信号,并观察输出端的电平状态,验证或非门的逻辑功能是否正确。

二、特性测试1.输入电压范围测试:对于TTL门电路,输入信号的电平范围是有限的,常见的TTL门电路的输入电压范围是0.8V~2.0V,当输入信号低于0.8V时,被视为低电平(0),当输入信号高于2.0V时,被视为高电平(1)。

实验十四TTLCMOS门电路参数及逻辑特性的测试

实验十四TTLCMOS门电路参数及逻辑特性的测试

实验十四TTLCMOS门电路参数及逻辑特性的测试一、实验目的1.了解TTL与CMOS门电路的参数及逻辑特性。

2.学习如何测试TTL与CMOS门电路的参数及逻辑特性。

二、实验原理1.TTL门电路TTL(Transistor-Transistor Logic)是一种采用双晶体管作为放大元件的数字集成电路系列。

它采用多级晶体管级联放大来实现逻辑函数。

TTL门电路主要参数和特性如下:1)输入电压范围:0-0.8V(低电平),2-5V(高电平)。

2)输出电压范围:0-0.4V(低电平),2.4-5V(高电平)。

3)输入电流低电平(IIL):0-0.25mA。

4)输入电流高电平(IIH):-0.25mA至-0.4mA。

5)输出电流低电平(IOL):16mA(最大)。

6)输出电流高电平(IOH):-400uA(最大)。

2.CMOS门电路CMOS门电路主要参数和特性如下:1)输入电压范围:0-1.5V(低电平),3.5-5V(高电平)。

2)输出电压范围:0-0.1V(低电平),4.9-5V(高电平)。

3)输入电流低电平(IIL):-0.1uA。

4)输入电流高电平(IIH):0.1uA。

5)输出电流低电平(IOL):2.5mA(最大)。

6)输出电流高电平(IOH):-2.5mA(最大)。

三、实验器材1.电源。

2.TTL与CMOS门电路芯片(如7400,7402,7404,7410,4011,4013等)。

3.手持式数字万用表。

4.集成电路实验台。

5.连接导线。

四、实验步骤1.将所需的TTL与CMOS门电路芯片插入集成电路实验台上的插槽中。

2.根据芯片引脚的连接方式,使用连接导线将电路连接起来。

3.根据实验目的,选择相应的测试方法,进行测试。

五、实验内容1.测试输入电压范围。

将输入电压逐渐调整到低电平和高电平的边界值,观察输出电压的变化。

记录输入电压与输出电压的对应关系,判断输入电压范围。

2.测试输入电流范围。

将电源接入到 TTL 或 CMOS 门电路芯片的 Vcc 和 GND 引脚上。

ttl门电路参数测试实验报告

ttl门电路参数测试实验报告

ttl门电路参数测试实验报告嘿,大家好!今天我们来聊聊TTL门电路的参数测试。

这可是个让人既兴奋又有点小紧张的话题。

TTL门电路,这名字听起来是不是就让人觉得很高大上?其实它就是我们平常生活中用到的逻辑电路中的一部分,简单来说,它帮助我们实现各种各样的电子功能,像是开关、计算和控制,简直就是电子世界的小魔法师。

咱们首先得了解什么是TTL。

TTL,听起来像个超炫的流行词,其实是“晶体管晶体管逻辑”的缩写。

它的工作原理就像是给小晶体管们安排任务,让它们互相配合来实现我们想要的结果。

真是有趣得很!在实验开始前,大家得先准备好一堆设备。

电源、示波器、万用表……哦,真是应有尽有,感觉像是要开启一场科技探险!开始的时候,大家先把电路搭建好。

搭电路就像拼乐高,得仔细对照图纸,别把零件拼错了哦。

然后,电源一接通,哎呀,电路居然动了起来!那一刻,真是有种“我终于做成了”的成就感。

就是进行参数测试了。

我们需要测试几个关键的参数,比如输入电压、输出电压、逻辑电平等等。

看起来简单,但其实稍不留神就可能出错,像是在走钢丝,一不小心就得重来。

在测试过程中,万用表可是我们的好朋友。

它就像个侦探,帮我们查出每个电压值的秘密。

哦,你们知道吗?TTL电路对电压的要求可严格了,过高或过低都有可能导致电路工作不正常,像个调皮的小孩儿,时不时就要闹脾气。

测试中,有的同学紧张得手心都出汗了,真是笑死人了,大家就像在参加一场紧张刺激的比赛,谁能精准地测出各项参数,谁就是今天的“电路王”。

有趣的是,测试的结果往往充满了惊喜。

哦,电压正常,逻辑电平也没问题,简直像在开派对!可出现了意外的结果,那就得认真分析了。

为什么会这样呢?可能是连接不牢,也可能是元件坏了,真是“细节决定成败”啊。

大家一起脑力风暴,讨论各种可能的原因,气氛一下子热烈起来。

仿佛整个实验室都充满了电流的活力,大家的热情像被点燃的火焰,越烧越旺。

不过,实验总是有意外的。

就在我们兴致勃勃地测试的时候,突然有个同学喊:“哎呀,电路冒烟了!”这可吓坏了我们,大家立马像逃命似的往后退。

ttl门电路的逻辑功能

ttl门电路的逻辑功能

ttl门电路的逻辑功能TTL门电路是数字电路中最常见的一个门电路,它由两个或多个晶体管组成,用以实现数字逻辑运算。

在本文中,我们将详细介绍TTL 门电路的逻辑功能。

一、什么是TTL门电路TTL(Transistor-Transistor Logic)门电路是一种基于晶体管的数字逻辑门电路,由两个或多个晶体管构成。

TTL门电路广泛应用于数字电路中,在计算机、通信、控制等领域起着重要的作用。

二、TTL门电路的逻辑功能TTL门电路常见的逻辑功能有四种,分别是与门、或门、非门以及异或门。

1、与门与门是TTL门电路中最基本的逻辑门,它只有在所有输入都为1时才输出1,否则输出0。

其逻辑符号为“&”,可以用如下真值表来表示:A |B | Q--|---|--0 | 0 | 00 | 1 | 01 | 0 | 01 | 1 | 1从真值表可以看出,只有当输入A和B都为1时,输出Q才为1。

2、或门或门是TTL门电路中另一种常见的逻辑门,它在任意一个输入为1时就输出1,只有在所有输入都为0时才输出0。

其逻辑符号为“|”,可以用如下真值表来表示:A |B | Q--|---|--0 | 0 | 00 | 1 | 11 | 0 | 11 | 1 | 1从真值表可以看出,只要输入A和B中有一个为1,输出Q就为1。

3、非门非门是TTL门电路中另一种逻辑门,它将输入0变为1,将输入1变为0。

其逻辑符号为“~”,可以用如下真值表来表示:A | Q--|--0 | 11 | 0从真值表可以看出,当输入A为0时,输出Q为1;当输入A为1时,输出Q为0。

4、异或门异或门是TTL门电路中另一种常见的逻辑门,它只有在输入A和B不同时才输出1,否则输出0。

其逻辑符号为“^”,可以用如下真值表来表示:A |B | Q--|---|--0 | 0 | 00 | 1 | 11 | 0 | 11 | 1 | 0从真值表可以看出,只有当输入A和B不同时,输出Q才为1。

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TTL门电路逻辑功能的测试及功能的转换
内容:
1.测试74LS00的逻辑功能
2.测试74LS08的逻辑功能;
3.测试74LS86的逻辑功能;
4.测试74LS02的逻辑功能。
一.试验目的
⑴了解集成元器件引脚的排列特点
⑵掌握TTL与门主要参数的测试方法
⑶掌握TTL与门电压传输特性的测试方法
二.试验内容
㈠74LS00四2输入与非门
1
1
1
10
1
1
1
1
11
0
0
0
0
由测试结果可得结论:相同出0,相异出1。
㈣74LS02四2输入或非门
AB
1Y
2Y
3Y
4Y
00
1
1
1
1
01
0
0
0ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
0
10
0
0
0
0
11
0
0
0
0
A由测试结果可得结论:全0出1。
㈤扩充试验:设计Y=A+B电路并做连接测试
AB
1Y
2Y
3Y
4Y
00
1
1
1
1
01
1
1
1
1
10
1
1
1
1
11
0
0
0
0
由测试结果可得结论:有0出1,全1出0。
㈡74LS08四2输入与门
AB
1Y
2Y
3Y
4Y
00
0
0
0
0
01
0
0
0
0
10
0
0
0
0
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1
1
1
1
由测试结果可得结论:有0出0,全1出1。
㈢74LS86四2输入异或门
AB
Y
Y
Y
Y
00
0
0
0
0
01
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