CH22 可靠性加速测试方法
辛烷值测量仪操作规程
辛烷值测量仪操作规程引言辛烷值测量仪是测量燃料抗爆性能的一种重要仪器。
为了确保测量结果的准确性和测量过程的安全性，特制定以下操作规程。
设备及器材设备：辛烷值测量仪一台器材：测量瓶、清洗瓶、温度计、计时器、电子天平、天平盘、毛细管、计量杯、喇叭口瓶、导电布、聚四氟乙烯垫片等操作流程前期准备1.环境准备1.准备好干燥、通风、不受直射阳光的实验室。
2.环境温度保持在20-25℃的稳定状态，相对湿度控制在50%-60%之间。
2.设备准备1.接通电源，检查设备运转是否正常。
2.开启辛烷值测量仪软件，并进行初始化操作。
3.检查领头瓶、喇叭口瓶、测量瓶、计量杯等器材是否净洁，并进行消毒处理。
4.检查毛细管是否完整、不含气泡，在接口处涂上少量润滑油。
3.样品准备1.用电子天平称量精确的燃油样品。
2.加入适量的标准正庚烷。
测量过程1.设置参数1.确定计算参数：压力、温度、时间。
2.将标准正庚烷体积、质量以及实际升数输入辛烷值测量仪软件进行参数设置。
2.安置装置1.将领头瓶、喇叭口瓶、测量瓶依次安装在相应的位置，并迅速用聚四氟乙烯垫片密封。
2.用导电布覆盖领头瓶、喇叭口瓶等设备上的金属部分，以防止静电爆燃。
3.引爆1.启动测量仪软件，将燃油样品系统温度控制在40℃左右等待5分钟。
2.在测量仪软件提示下开启蒸气供应系统。
3.在测量仪软件指示下打开点火装置，引燃喇叭口瓶燃料气体，持续10秒钟。
4.记录测量结果，按测量仪软件提示步骤，进行下一次测量。
4.清洗器材1.将煤油或汽油倒入测量瓶中，加入标准正庚烷，将加入的溶液放在测量瓶中，盖上清洗瓶塞。
2.在清洗测量瓶、领头瓶、喇叭口瓶等器材过程中，需使用电子天平计量，清洗干净后立即进行消毒使之达到无菌状态。
3.用清洁蒸馏水清洗毛细管，将毛细管两端直接浸泡在水中，用吹气球轻吹水中气泡，取出后吹干。
5.关机操作完成后，关闭辛烷值测量仪软件，关闭电源，并清洗干净设备与器材。
注意事项1.进行操作前，需进行必要的安全措施，如关闭机房空气处理设备，防止外界尘埃污染空气，保证仪器运转质量。
加速可靠性试验
加速试验的发展—80年代
■ Gregg. K. Hobbs博士经多年对环境应力 筛选的研究提出了高加速寿命试验 (Highly Accelerated Life Testing) 和高 速应力筛选(Highly Accelerated Stress Screening)
加速试验的发展—90年代
■ 美国波音公司首次提出可靠性强化试验 （RET-Reliability Enhancement Testing
■ 定量加速试验 ALT
定性加速试验——HALT
■ HALT—高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing) 。使用阶跃式应力使得产品承受 不同的应力以此来发现产品的设计限的一种过 程。HALT意在于发现产品的应力限以及确认产 品的薄弱地方。这种信息的使用有助于产品的 再设计。
定量加速试验—— ALT
■ ALT—加速寿命试验(Accelerated Life Testing).
加速试验试验使用的应力类型
经统计，对产品可靠性产生影响的 环境应力主要是温度和振动应力。据统 计引起产品故障的环境因素中，温度占 50%左右，振动占20%左右。
加速试验使用的设备
■ 温度箱 ★液氮制冷 ★快速温变率，产品上温变率可达60℃/min ★温度运行范围-100℃～+200℃
加速度自功率控制谱
HALT试验夹具
辅助测试设备开发
■ 针对于不同的产品，根据其功能参数设 计不同的测试设备。
执行HALT
进行HALT试验
HALT样本容量
■ 样本容量n的计算如下式
其中： P(d)是某一故障可能被检测到的概率 p是故障概率或者是任何有故障单元的概率
HALT样本容量
锁头耐用度测试操作规程最新
锁头耐用度测试操作规程最新案例一：1，将被测锁接接头固定于仪器的自动定中心夹持器上 , 确保夹持方法不会使 22mm 锁接接头与外圆锥试验接头的连接处产生变形。
2，将 22mm 锁接接头与试验仪器在(35±3)℃,相对湿度至少 80%条件下停放 1h。
如果测试多个 22mm 锁接接头 ,其余接头可在相同温度和湿度条件下放置而不夹于仪器上。
夹持于仪器后需再放置至少 5min。
3，按制造商使用说明将 22mm 锁接接头与外圆锥试验接头锁接。
4，1min后, 连接好测力装置 , 以不超过 20N/s加力速率施加至(50±5)N的分离力 , 在无起动脱开机构的情况下维持该力 10s,观察锁接的 22mm 锁接接头与外圆锥试验接头是否脱开。
5，在不去除拉力载荷 ,也不起动脱开机构的情况下 ,施加(25±5)N·cm旋转力矩 , 或使试验接头旋转20°,取先实现者。
维持该力矩或该位置 10s,观察锁接的 22mm 锁接接头是否与外圆锥试验接头脱开。
6，使用空气, 在组件内建立高于大气压(8±0.5)kPa的静压力, 测定组件的泄漏率案例二：1.本设备能同时装夹和测试1～2把门锁；2.门框采用100mmX50mmX3mm的方管制作并方便拆卸，可安装锁扣板，安装位置可安装3个螺钉，而且上下调节350mm。
（外形尺寸:长(1800mm-2300mm)X宽1320mmX高2500mm）；3．试验门高2100mmmX宽1100mmm，门重按标准100KG 设计，且可加载砝码至总门重200Kg，砝码另计；4.门重100Kg至200Kg时，试验门平面垂直的变形不能超过5mm；5.能实现门锁的顺、逆时针旋转开启，调整方便；6.开启执手的角度任意调节，可上提及下压，采用0.4KW的伺服电机作为驱动装置；7.扭力可作出调整，调整为0～25的z大扭矩可达5KN；8.电机位置可上下调节，左右微调；9.每工位独立操作，配置1套系统，配备电子锁的功能，(即增加旋钮开启方舌功能及使用卡或指纹作为开门装置)，每工位独立在PLC及触摸屏；10.每工位可各自带10N、25N、50N及120N载荷(欧州标准)，负载位置为离门边25.4MM（更改为50mm，可左右微调）水平为执手的中心线。
不饱和加速寿命试验方法
不饱和加速寿命试验方法引言：不饱和加速寿命试验方法是一种常用的实验手段，用于评估材料在不饱和条件下的使用寿命。
本文将介绍不饱和加速寿命试验的基本原理、试验步骤以及注意事项。
一、不饱和加速寿命试验的基本原理不饱和加速寿命试验是通过提高温度、湿度和压力等环境因素，加速材料老化的过程，以评估材料在实际使用中的寿命。
其基本原理是通过模拟材料在实际使用中所遇到的极端环境条件，加速材料老化的过程，进而预测材料的使用寿命。
二、不饱和加速寿命试验的步骤1. 试样准备：选择代表性的试样，并根据试验要求进行加工和制备。
试样的尺寸和形状应符合标准要求。
2. 试验条件设定：根据具体的试验要求，确定试验的温度、湿度和压力等条件。
这些条件应该能够加速材料的老化过程，但又不会对试样造成过度损伤。
3. 试样装置：根据试验要求，设计合适的试样装置。
试样装置应具备良好的密封性和稳定性，以确保试验的可靠性和准确性。
4. 试验过程：将试样置于试样装置中，并根据设定的试验条件进行试验。
在试验过程中，需要定期监测试样的性能变化，并记录相关数据。
5. 试验结束：根据试验要求，确定试验的结束条件。
一般情况下，试验可以根据试样的性能变化曲线来确定。
三、不饱和加速寿命试验的注意事项1. 选择合适的试验条件：试验条件的选择应考虑到材料的实际使用环境，以及试验的目的和要求。
过高或过低的试验条件都可能导致试验结果的失真。
2. 试样的制备和选择：试样的制备和选择应符合试验的要求，并且能够代表材料的实际使用情况。
试样的尺寸和形状应与实际使用情况相符。
3. 试验装置的设计和制备：试验装置的设计和制备应符合试验的要求，并具备良好的密封性和稳定性。
试验装置的设计应尽量减少人为因素对试验结果的影响。
4. 试验过程的监测和记录：试验过程中需要定期监测试样的性能变化，并记录相关数据。
监测和记录的过程应准确可靠，以确保试验结果的准确性。
5. 试验结果的分析和评估：根据试验结果，进行数据分析和评估。
hast测试判定标准
hast测试判定标准HAST（Highly Accelerated Stress Testing）是一种用于加速测试产品可靠性的方法。
它通过施加高温、高湿、高电压等环境条件，在相对短的时间内模拟出长期使用中可能遇到的各种应力环境，以检验产品在极限条件下的可靠性和耐久性。
然后根据测试结果，判断产品是否满足设计和制造要求，并作出相应的改进措施。
HAST测试的判定标准是根据产品在测试过程中的可靠性指标来决定的。
常见的可靠性指标包括寿命（Life）、失效率（Failure Rate）、故障模式（Failure Mode）等。
在HAST测试中，通常采集大量测试数据，并通过统计分析方法对这些数据进行处理，以得出可靠性指标的估计值和可靠性评估结果。
对于寿命指标，通常使用可靠性指数（Reliability Index）来评估产品的寿命。
可靠性指数表示产品在一定时间内能够正常运行的概率，通常用MTBF（Mean Time Between Failures）来表示。
在HAST测试中，可以通过统计故障发生的次数和测试的总时间，计算出MTBF的估计值，然后与设计要求进行比较，判断产品是否能够满足寿命要求。
失效率是指产品在单位时间内出现失效的概率。
在HAST测试中，可以通过统计故障发生的次数和测试的总时间，计算出失效率的估计值。
通常，失效率与时间呈指数关系，即随着时间的增长，失效率逐渐增加。
通过与设计要求进行比较，可以判断产品的失效率是否满足要求。
故障模式是指产品在HAST测试中出现的失效类型。
不同的产品可能存在不同的故障模式，比如电路板可能出现焊接断裂、线路短路等问题。
在HAST测试过程中，将记录产品失效的类型和数量，根据统计数据可以分析出主要的故障模式和出现频率，进而对产品的设计和制造过程进行改进。
除了以上的可靠性指标外，还可以考虑其他因素来判断HAST测试结果的可靠性。
比如，测试的样本数量是否足够大，是否能够代表整个产品批次的特征；测试过程中是否按照标准的操作流程进行，是否存在数据采集和处理的偏差等。
Ch22_暂态稳定
注意： 电动机负荷放大因数是 125%说明所有母线的电动机负荷增加 25%的额定值。该值可 大于也可小于 100%。
充电器负荷(Charger Loading)
负荷类型(Loading Category)
选择这项使用充电器编辑器的负荷类型中设定的有功 P 和无功 Q 作为充电器负荷。
欧特艾远东（南京）计算机技术有限公司
分析案例标识(Study Case ID)
分析案例标识显示在输入区。删除旧的标识，输入新的就可以改变分析案例的名字了。分析 案例标识 不超过 12 个字符，使用编辑器底部的浏览按钮，可以从一个案例切换到另一个案例。
初始潮流(Initial Load Flow)
最大迭代次数(Max Iteration)
点击显示选项 Display Options 按钮来定义暂态稳定分析模式中单线图的注释选项，并为暂态 稳定计算结果编辑单线图。更多信息参见显示选项部分。
报警窗口(Alert View)
此按钮再 ETAP 5.0 中没有， 我们将在以后推出的 ETAP 版本中添加。
暂态稳定报告管理器(Report Manager)
通常情况下停止图标是灰色的。当启动电动机加速计算时，该图标被激活并显红色。点击该 图标来中断当前计算。如果在计算完成前中断当前计算，则单线图无法显示计算结果，但文本输 出报告和图形存储中断时的计算结果。
获取在线数据(Get On-Line Data)
如果您所用的计算机安装的 ETAP 具有在线功能，可以复制在线数据到当前计算中。
绘图时间步长(Plot Time Step)
该值确定了 ETAP 记录用于绘图的模拟结果的频繁度。例如，设为 20， ETAP 在每隔 20 个 模拟时间步长就画一个点，如果模拟步长是 0.001 秒则绘图时间步长是 0.02 秒。这个数越小您的 图形看上去就越平滑，但硬盘里的图形文件就越大。要知道的是 ETAP 在整个模拟过程中，以这 个时间间隔来记录绘图信息。如果模拟时间步长是 0.001 秒，图形时间步长是 10，总的时间是 20 秒， ETAP 会在硬盘上绘制 20/(0.001*10)= 2000 个点，这是一个很大的图形文件，当然，图形也 取决于图中电机和母线的数量。
加速试验法的及应用
加速试验法的及应用加速试验法是一种通过加速产品的使用环境和时间，以提前研究和分析产品在实际使用过程中可能出现的问题的方法。
在工程领域中，加速试验法可以用于产品的寿命预测、可靠性评估、故障分析等方面。
下面将详细介绍加速试验法的原理和应用。
一、加速试验法的原理加速试验法的基本原理是通过提高产品的工作负载、加大环境条件、应用特定的材料损伤机制等方式，加速产品的老化和失效过程，从而在较短时间内观察和获得产品失效的数据。
具体来说，加速试验法的原理包括以下几个方面：1. 保持加速试验条件与实际使用条件之间的相似性。
加速试验的结果只有在试验条件与实际使用条件有着相似性的前提下才能作为可靠性评估的依据。
因此，在进行加速试验时，需要尽可能模拟产品的使用环境和加载条件。
2. 应用加速因素。
加速因素是指在加速试验中所使用的一些能够加快产品老化和失效的物理或化学过程。
常见的加速因素包括温度、湿度、振动、电磁辐射等。
通过调节加速因素的数值，可以使产品在较短时间内经历相当于多年或多个月甚至更长时间的使用过程。
3. 基于加速因素的失效模型。
加速试验过程中，需要建立基于加速因素的产品失效模型，用于预测和分析产品的寿命和失效机制。
例如，温度是常用的加速因素之一，可以通过弗兰克方程等模型来预测产品在不同温度下的寿命。
根据失效模型的预测结果，可以进行产品设计和优化，以提高产品的可靠性和寿命。
二、加速试验法的应用加速试验法在工程领域中有着广泛的应用。
以下是其中几个典型的应用案例：1. 产品寿命预测。
通过加速试验，可以模拟产品在实际使用过程中可能遇到的各种环境和负载条件。
通过观察和记录产品在加速试验中的失效时间和失效模式，可以推断产品在实际使用中的寿命。
这对于产品的设计和维修计划制定具有重要意义，可以帮助企业降低成本，提高产品的可靠性。
2. 故障分析。
加速试验法可以帮助工程师们深入了解产品的失效机制和故障原因。
通过模拟产品在不同工作状态下的工作条件，可以清晰地观察到产品中的缺陷和故障。
可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南
可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南一、试验前准备1.定义试验目标：明确试验的目标，例如研究产品在高加速条件下的寿命和可靠性。
2.确定试验条件：确定试验的温度、湿度、震动等条件，通常通过考虑实际使用环境和产品的特性来确定。
3.设定试验方案：根据试验目标和条件，制定试验方案，包括试验时间、采样点、数据记录等。
二、试验过程1.安装产品：按照产品的安装要求进行安装，并确保安装牢固可靠。
2.试验设备检查：检查试验设备的工作状态、仪器的准确度、传感器的连接等，确保设备正常工作。
3.数据采集与记录：使用合适的数据采集设备和记录方法，实时采集试验过程中的数据，例如温度、湿度、振动等。
三、试验注意事项1.温度控制：根据试验需求和产品的设计要求，控制试验环境的温度稳定在目标温度，避免产生温度过高或过低的影响。
2.湿度控制：根据试验需求和产品的设计要求，控制试验环境的湿度稳定在目标湿度，避免产生湿度过高或过低的影响。
3.震动控制：根据试验需求和产品的设计要求，设定合适的震动频率、振幅和持续时间，控制试验中的震动条件。
4.数据处理与分析：将试验过程中采集到的数据进行处理和分析，例如计算产品的寿命、可靠性指标等，得出试验结果并进行评估。
四、试验结果分析1.寿命分析：根据试验结果，计算产品的寿命参数，例如平均寿命、失效率曲线等，分析产品在高加速条件下的寿命特性。
2.可靠性评估：根据试验数据，分析产品的可靠性指标，例如可靠度、失效率、故障率等，评估产品在高加速条件下的可靠性水平。
3.结果解释和改进：根据试验结果和分析，结合产品的设计和制造过程，解释试验结果，并提出改进产品可靠性的建议和措施。
五、试验注意事项1.安全措施：在进行高加速寿命试验时，要注意保证试验人员的安全，使用符合要求的试验设备和设施，正确使用试验设备以避免发生事故。
2.数据记录与保存：确保试验过程中的数据记录的准确性和完整性，并妥善保存试验数据，以备后续分析和评估使用。
可靠性试验设计及分析
第四章 （46）可靠性试验设计与分析§4．6 加速寿命试验(Accelerated Life Testing)随着科学技术的发展，高可靠性、长寿命的产品愈来愈多，前面讲的截尾寿命试验也不能适应这种要求，如，不少电子元器件寿命很长，在正常工作温度040C 下，寿命可达数百万小时以上，若取1000个这种元件可能只有1～2个失效，甚至没失效的情况。
假如我们把温度提高到060C ，甚至080C ，只要失效机理不变，仅环境更恶劣一些，则失效数会增加，这种超过正常应力下的寿命试验称为加速寿命试验。
加速寿命试验的目的：用加强应力的办法，加快产品故障，缩短试验时间，以便在较短的时间内预测出产品在正常应力作用下的寿命特征。
其基本原则是失效机理不变。
一． 加速寿命试验的类型(1).恒定应力加速寿命试验（简称恒加试验）试验之前，先选一组加速应力水平，如12,,......,k s s s ，它们都是高于正常应力水平0s ，一般取012k s s s s <<<鬃鬃鬃<。
然后将一定数量的样品分成k 组，每组在一个加速应力下进行寿命试验，直到各组均有一定数量的样品失效为止（如定数截尾0r r ）。
从图4.32可以看出，恒加试验是由若干个寿命试验组成，为了缩短寿命试验，特别是低应力水平下的寿命试验采用截尾试验，这样才能更好地发挥加速寿命试验缩短试验时间地优点。
(2).步进应力加速寿命试验（简称步加试验）它也选定一组加速应力水平0s 12k s s s <<<鬃鬃鬃<， （0s 为正常应力水平） 试验时把一定数量的样品都置于应力水平1s 进行寿命，经过一段时间，如1t 小时后，把应力提高到2s ，将未失效的样品在2s 应力下继续进行寿命试验，一直到有一定数量的样品发生失效为止。
如图4.33所示。
在本试验中，一个样品先在加速应力1s 下试验一段时间，若失效，则退出试验，若没有失效，将进入2s 应力下的试验，如此下去，一个样品可能会遭遇若干个加速应力水平的考验。
加速试验技术及产品加速试验方法标准介绍
加速试验技术及产品加速试验方法标准介绍加速试验技术是在较短时间内对产品进行加速老化或者加速损坏的试验方法，以模拟产品在正常使用过程中所遭受的各种环境和负荷条件，以评估产品的可靠性和性能。
本文将介绍加速试验技术以及产品加速试验方法的标准。
加速试验技术是一种常用的产品可靠性试验方法，通过将产品置于加速试验设备中，在较短时间内对产品进行加速老化或者加速损坏，以模拟产品在正常使用过程中所遭受的各种环境和负荷条件。
加速试验技术的目的是加速产品的老化过程，以评估产品在正常使用寿命内的可靠性和性能。
在进行加速试验时，需根据产品的使用环境和负荷条件，选择合适的试验方法和试验参数。
常见的加速试验方法包括温度加速试验、湿热加速试验、振动加速试验、冲击加速试验等。
这些试验方法都有相应的试验标准，以确保试验的准确性和可重复性。
温度加速试验是加速试验中常用的一种方法。
在温度加速试验中，通过将产品置于高温环境下，使其在较短时间内经历长时间的高温暴露，以模拟产品在高温环境下的老化情况。
温度加速试验通常根据产品的使用环境和要求，选择合适的温度和时间进行。
常见的温度加速试验标准有GB/T 2423.2-2012《电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验B: 高温试验》等。
湿热加速试验是另一种常用的加速试验方法。
在湿热加速试验中，通过将产品置于高温高湿环境中，使其在较短时间内经历长时间的高温高湿暴露，以模拟产品在潮湿环境下的老化情况。
湿热加速试验通常根据产品的使用环境和要求，选择合适的温度、湿度和时间进行。
常见的湿热加速试验标准有GB/T 2423.3-2016《电工电子产品环境试验第3部分: 试验方法试验Ca: 恒定湿热试验》等。
振动加速试验是模拟产品在运输、使用等过程中所遭受的振动负荷的一种加速试验方法。
在振动加速试验中，通过将产品置于振动试验台上，施加不同频率和振幅的振动载荷，以模拟产品在振动环境下的使用情况。
振动加速试验通常根据产品的使用环境和要求，选择合适的振动频率和振幅进行。
车载电子电器零件常用加速试验及可靠性计算方法
车载电子电器零件常用加速试验及可靠性计算方法随着汽车技术的不断进步，车载电子电器成为车辆中不可或缺的重要组成部分。
为了保证车载电器的可靠性和性能，需要进行加速试验和可靠性计算。
本文将介绍车载电子电器常用的加速试验方法和可靠性计算方法。
一、车载电子电器加速试验车载电子电器加速试验是指在较短时间内进行的试验，通过模拟产品在长期使用中承受的环境力学、电学、热学等因素，验证其可靠性和耐久性。
车载电子电器加速试验一般可以分为以下几类：1. 加速气候试验加速气候试验是通过模拟低温、高温、潮湿、干燥等恶劣气候条件，对车载电子电器进行加速试验。
试验时需要严格控制环境温度、湿度等条件，并在相应条件下进行长时间的运行测试。
2. 加速震动试验加速震动试验是通过模拟车辆行驶在路面颠簸、颠簸、起伏等道路环境下，对车载电子电器进行增强振动测试。
试验时需要根据实际道路条件，模拟相应的振动频率和振动加速度。
3. 加速老化试验加速老化试验是通过模拟车辆长期使用中承受的环境力学、电学、热学等因素，对车载电子电器进行长时间的老化测试。
试验时需要对电子电器的电气特性、机械强度等进行测量分析，以评估其可靠性和耐久性。
二、车载电子电器可靠性计算方法可靠性计算是指通过统计分析的方法，对车载电子电器在长期使用中可能出现的故障概率进行评估。
常用的车载电子电器可靠性计算方法有以下几种：1. 应力-强度模型应力-强度模型是一种较为简单的可靠性计算方法，通过对电子电器的应力水平和机械强度等因素进行分析，计算其故障概率。
其中，应力水平一般可以通过模拟车辆长期使用中的实际工作条件进行检测，机械强度则需要对电子电器的设计和制造工艺进行评估。
2. 事件树模型事件树模型是一种较为复杂的可靠性计算方法，通过将电子电器可能遇到的故障事件进行分类、定性和定量分析，计算其故障概率。
其中，事件树模型需要涉及到电子电器的设计、制造、测试、安装、维护等多个环节，以保证可靠性的全过程。
车载电子电器零件常用加速试验及可靠性计算方法
２ ０ １ ８ ０ ４ ）
摘 要 ：简要 介 绍 电 子 电 器 零 件 结 合 环 境 应 力 的 寿 命 加 速 模 型 ， 以及 可 靠 性 试 验 要 求 的 计 算 方 法 。首 先 介 绍 了 ３ 种 加速 模 型 ， 以及 其 相 应 的 应用 情 况 ；其 次 ，根 据 给 定 的 可靠 度 、置 信 度 水 平 计 算 相 应 的可 靠 性 测 试 要 求 ；最 后 根 据 实 际 的测 试 结 果 ，得 到 产 品 的 实 际可 靠 度 ．并 以此 来 指 导设 计 。 关 键 词 ： 电子 电 器 ；加 速试 验 ；可 靠 性 试 验 ；Ａ ｒ ｒ ｈ ｅ ｎ ｉ ｕ ｓ 模 型 ；Ｃ ｏ ｆ ｉ ｎ — Ｍａ ｎ ｓ ｏ ｎ 模 型 ；Ｌ ａ ｗ ｓ ｏ ｎ 模 型
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加速寿命试验的加速模型 标准
加速寿命试验的加速模型标准【加速寿命试验的加速模型标准】1. 引言在工程领域，对产品的寿命进行评估和预测是非常重要的，尤其是在一些对产品寿命要求较高的行业，比如航空航天、汽车、医疗器械等。
加速寿命试验是一种常见的手段，通过在相对较短的时间内模拟产品使用过程的加速速度，以求得产品的可靠性和寿命指标。
而加速寿命试验的加速模型标准则是对试验过程中使用的加速模型进行规范和标准化，以确保试验结果的可靠性和可比性。
2. 加速寿命试验的基本原理在进行加速寿命试验时，需要首先确定试验过程中所使用的加速模型。
加速模型是指在实验室条件下对产品进行加速老化或破坏的方法和技术，以求得产品在实际使用环境下的寿命。
常见的加速模型包括温度应力模型、湿度应力模型、压力应力模型等。
这些加速模型都是基于一定的物理和化学原理建立起来，通过模拟产品在实际使用过程中所受到的环境应力，来加速产品老化和失效的过程。
3. 加速寿命试验的加速模型标准针对不同的产品和行业，加速寿命试验的加速模型标准有所不同。
一般来说，国际上对加速寿命试验的加速模型标准进行了规范和统一，比如ISO 9227对盐雾试验的加速模型进行了规范，ISO 6270对循环试验的加速模型进行了规范等。
这些标准主要包括了试验条件、试验方法、试验过程中的监测和记录要求等内容，以确保试验过程中的可靠性和可比性。
4. 个人观点在加速寿命试验中，选择合适的加速模型标准是非常重要的。
一个合适的加速模型标准可以有效地加速产品老化和失效的过程，节约时间和成本。
然而，在选择加速模型标准时，需要充分考虑产品的实际使用环境和应力条件，以及试验过程中的可靠性和可比性要求。
针对一些特殊的产品和行业，也需要根据实际情况进行定制化的加速模型标准，以满足产品寿命评估和预测的需要。
5. 总结加速寿命试验的加速模型标准是对试验过程中所使用的加速模型进行规范和标准化的重要手段。
选择合适的加速模型标准可以有效地加速产品老化和失效的过程，节约时间和成本。
CT22高压开关动特性测试仪操作说明教学文案
• 2、测试案例
• 1）高压开关（断路器）测试： • 安装位移传感器（不测速可不装）；选择相应的速度定义（见速度定
义设置），如非动杆角轴测速，还需输入校准行程；如选用非默认定 义传感器，只需安装相应选中的传感器即可，安装设置测时范围=1S， 分、合、负接开关控制回路，设置分合命令，按操作键后，由仪器送 电或外电同步，即可测出开关的固有时间、同期、弹跳、行程、速度 等各项指标。
• 内电源主动控制开关操动，须断开二次回路控制电源，避免两个电源 冲突。再行连接上述分+、合+、负直流输出线。
• 外电源主动控制开关操动时，不须断开二次回路控制电源。电源选择 置外，连接上述分+、合+、负 直流输出线外，还需连接外电源 +、 - 直流输入线。
• 交直流外同步时，不需连接外电源 +、 - 直流输入线，连接上述分+、 合+、负 线，此时由开关自行供电、操作。
图形显示：I-t曲线及曲线上每一点(I,t)的参数值
(5)触发方式：线圈电压、电流，传感器、断口信号任一 同步触发
(6)直流电源: 输出电压：12～250V连续可调; 输出电流：≤ 20A; 负载变化率：≤ 1%
• 2、技术指标
(1) 时间测试： 测试范围：0.1ms～1S～12S 准确度： ±（0.1%读数+2个字） 图形显示：1S内，13路≮0.1ms所有跳变
• 2）手力操动开关测试 • 手力操动的开关，无电同步信号，不能测试固有时间参数。此时设置
测时范围：=1S，不需外接分合同步信号，只需接入各相断口测试引
• 1、基本功能
五、技术规格
• 1）时间： 固有分闸（合闸）时间 分闸（合闸）相内不同期﹑分闸（合闸）相间不同期﹑ 合闸（分闸）弹跳 时间 合闸（分闸）弹跳次数——可以从时间波图t上读取 合闸（分闸）弹跳过程——可以从时间波图t上读取 合-分时间（重合闸）分-合时间（重合闸） 金短时间 无流时间——可以从时间波图t上读取
芯片可靠性测试要求及标准解析
芯片可靠性测试要求及标准解析芯片可靠性测试要求都有哪些？华碧实验室通过本文，将为大家简要解析芯片可靠性测试的要求及标准。
加速测试大多数半导体器件的寿命在正常使用下可超过很多年。
但我们不能等到若干年后再研究器件；我们必须增加施加的应力。
施加的应力可增强或加快潜在的故障机制，帮助找出根本原因，并帮助TI 采取措施防止故障模式。
在半导体器件中，常见的一些加速因子为温度、湿度、电压和电流。
在大多数情况下，加速测试不改变故障的物理特性，但会改变观察时间。
加速条件和正常使用条件之间的变化称为“降额”。
高加速测试是基于JEDEC 的资质认证测试的关键部分。
以下测试反映了基于JEDEC 规范JEP47 的高加速条件。
如果产品通过这些测试，则表示器件能用于大多数使用情况。
温度循环根据JED22-A104 标准，温度循环(TC) 让部件经受极端高温和低温之间的转换。
进行该测试时，将部件反复暴露于这些条件下经过预定的循环次数。
高温工作寿命(HTOL)HTOL 用于确定高温工作条件下的器件可靠性。
该测试通常根据JESD22-A108 标准长时间进行。
温湿度偏压高加速应力测试(BHAST)根据JESD22-A110 标准，THB 和BHAST 让器件经受高温高湿条件，同时处于偏压之下，其目标是让器件加速腐蚀。
THB 和BHAST 用途相同，但BHAST 条件和测试过程让可靠性团队的测试速度比THB 快得多。
热压器/无偏压HAST热压器和无偏压HAST 用于确定高温高湿条件下的器件可靠性。
与THB 和BHAST 一样，它用于加速腐蚀。
不过，与这些测试不同，不会对部件施加偏压。
高温贮存HTS（也称为“烘烤”或HTSL）用于确定器件在高温下的长期可靠性。
与HTOL 不同，器件在测试期间不处于运行条件下。
静电放电(ESD)静电荷是静置时的非平衡电荷。
通常情况下，它是由绝缘体表面相互摩擦或分离产生；一个表面获得电子，而另一个表面失去电子。
csa c22.2 冲击测试问题标准
CSA C22.2是加拿大标准协会发布的一系列标准，其中包括了大量的电气安全标准。
CSA C22.2标准涵盖了电气产品的设计、制造、安装和使用等方方面面，旨在保障人们在使用电气产品时的安全和可靠性。
冲击测试是评估电气产品安全性能的重要手段之一，而CSA C22.2标准中的冲击测试问题标准具有重要的意义。
本文将从以下几个方面来介绍CSA C22.2冲击测试问题标准的相关内容。
1. 标准的背景和意义CSA C22.2标准作为加拿大的电气安全标准，其制定旨在确保电气产品在设计、生产和使用过程中的安全性和可靠性。
而冲击测试作为电气产品安全性能评估的一项重要内容，对于预防电气产品在受到外部冲击时可能出现的安全隐患至关重要。
CSA C22.2中的冲击测试问题标准便是围绕这一目标而制定的，旨在规范电气产品在受到冲击时的表现和安全性能。
2. 标准的主要内容CSA C22.2冲击测试问题标准主要包括了以下几个方面的内容：2.1 冲击试验设备和条件：标准详细规定了进行冲击测试所需的试验设备和条件，包括试验设备的型号、参数要求、校验方法等内容，以保证冲击测试的可靠性和准确性。
2.2 冲击测试方法：标准规定了冲击测试的具体方法和步骤，包括了试验样品的准备、试验设备的设置、冲击试验的进行和数据记录等内容，以确保冲击测试的规范和规定。
2.3 冲击试验结果的评定：标准规定了对冲击试验结果的评定标准和方法，包括了对试验样品的损坏情况、安全性能的影响等内容进行评定，以确定电气产品的安全性能是否符合要求。
3. 标准的应用范围CSA C22.2冲击测试问题标准主要适用于各种电气产品的冲击测试，包括但不限于家用电器、工业设备、电子产品等各类电气产品。
无论是生产厂家、测试机构还是监管部门，均可依据该标准进行电气产品的冲击测试，以验证产品的安全性能是否符合相关要求。
4. 标准的意义和作用CSA C22.2冲击测试问题标准的制定，对于加强电气产品的安全性能评定、预防产品在受到冲击时可能出现的安全隐患、保障人们在使用电气产品时的安全都具有重要的意义和作用。
继电保护装置高加速寿命试验导则
继电保护装置高加速寿命试验导则
继电保护装置高加速寿命试验导则是用于评估继电保护装置在高加速环境下的寿命和可靠性的指南。
该导则主要包括以下内容：
1. 试验目的：明确试验的目的和要求，例如评估继电保护装置在高加速环境下的寿命和可靠性。
2. 试验装置和设备：列出进行试验所需的装置和设备，包括高加速设备、测量设备和数据记录设备等。
3. 试验参数设置：确定试验过程中的相关参数，如高加速等级、试验时间等。
4. 试验方法和步骤：详细描述试验的具体方法和步骤，包括装置的安装和调试、试验环境的控制、试验样品的加速和监测等。
5. 数据采集和分析：说明采集试验数据的方法和要求，以及对数据进行分析的方法和指标。
6. 试验结果评价：根据试验数据和分析结果，对继电保护装置的寿命和可靠性进行评价和判定。
7. 安全措施：列出进行试验时需要注意的安全措施，确保试验过程中的安全性。
8. 试验报告：要求编写试验报告，包括试验目的、装置和设备、
试验方法和步骤、试验结果等内容。
以上是继电保护装置高加速寿命试验导则的主要内容，不同的标准和要求可能会有所不同。
根据实际情况和需要，进行必要的调整和修改。
可靠性加速测试方法
可靠性加速测试方法可靠性是指产品在一定时间内保持正常工作的能力。
在产品开发过程中，通过加速测试可以模拟产品在长时间、复杂条件下的使用情况，从而评估产品的可靠性。
环境加速是通过模拟产品在不同环境条件下的使用情况，来评估产品的可靠性。
具体方法有：1.温度环境测试：将产品在不同温度下进行测试，检查其在极端温度条件下的性能表现和可靠性。
2.湿度环境测试：将产品在高湿度、低湿度环境下进行测试，检查其在湿度变化条件下的耐用性和可靠性。
3.震动环境测试：将产品在不同加速度和振动频率下进行测试，模拟产品在运输和使用过程中的振动环境，评估其抗震性和可靠性。
负载加速是通过给产品施加超过正常工作负载的条件，来评估产品在高负荷情况下的可靠性。
具体方法有：1.运行时间加速：在短时间内连续运行产品，超过其正常使用寿命，检查其在超载运行情况下的稳定性和可靠性。
2.负载循环加速：在短时间内反复施加产品正常工作负载，模拟产品长时间使用过程中的负荷变化，评估其在负荷变化条件下的可靠性。
时间加速是通过缩短加速测试时间，来评估产品在相对较短时间内的可靠性。
具体方法有：1.加速老化：将产品暴露在高温、高湿度等恶劣环境下，加速其老化过程，评估其在相对较短时间内的可靠性。
2.加速失效：通过施加高压、高温、高频率等条件，加速产品失效过程，评估其在相对较短时间内的可靠性。
故障加速是通过模拟产品在各种故障情况下的使用情况，来评估产品的可靠性。
具体方法有：1.故障注入：通过预先在产品中引入故障，在加速测试过程中观察和记录产品的故障表现和反应，评估其在故障条件下的可靠性。
2.突发故障加速：在产品正常工作条件下，突然施加故障条件，观察产品的响应和恢复能力，评估其在突发故障条件下的可靠性。
此外，还可以结合统计学方法，如应用Weibull分析、生存分析等方法，对加速测试结果进行数据分析和可靠性预测。
总之，可靠性加速测试方法是评估产品可靠性的重要手段，通过模拟产品在不同环境、负载、时间和故障条件下的使用情况，可以提前发现和解决潜在问题，确保产品在长时间使用中的稳定性和可靠性。
电子元器件加速寿命试验方法的比较介绍
电子元器件加速寿命试验方法的比较介绍1 引言加速寿命试验分为恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验。
将一定数量的样品分成几组，对每组施加一个高于额定值的固定不变的应力，在达到规定失效数或规定失效时间后停止，称为恒定应力加速寿命试验（以下简称恒加试验）；应力随时间分段增强的试验称步进应力加速寿命试验（以下简称步加试验）；应力随时间连续增强的试验称为序进应力加速寿命试验（以下简称序加试验）。
序加试验可以看作步进应力的阶梯取很小的极限情况。
加速寿命试验常用的模型有阿伦尼斯（Arrhenius）模型、爱伦（Eyring）模型以及以电应力为加速变量的加速模型。
实际中Arrhenius模型应用最为广泛，本文主要介绍基于这种模型的试验。
Arrhenius模型反映电子元器件的寿命与温度之间的关系，这种关系本质上为化学变化的过程。
方程表达式为式中：为化学反应速率；E为激活能量（eV）； k为波尔兹曼常数0.8617×10-4 eV/K；A为常数；T为绝对温度（K）。
式⑴可化为式中：式中：F0为累计失效概率； t(F0)为产品达到某一累计失效概率 F(t)所用的时间。
算出b后，则式⑵是以Arrhenius方程为基础的反映器件寿命与绝对温度T之间的关系式，是以温度T为加速变量的加速方程，它是元器件可靠性预测的基础。
2 试验方法2.1 恒定应力加速寿命试验目前应用最广的加速寿命试验是恒加试验。
恒定应力加速度寿命试验方法已被IEC标准采用[1] 。
其中3.10加速试验程序包括对样品周期测试的要求、热加速电耐久性测试的试验程序等，可操作性较强。
恒加方法造成的失效因素较为单一，准确度较高。
国外已经对不同材料的异质结双极晶体管（HBT）、CRT 阴极射线管、赝式高电子迁移率晶体管开关（PHEMT switch）、多层陶瓷芯片电容等电子元器件做了相关研究。
和InP PHEMT单片微波集成电路（MMIC）放大器进行了恒加试验 [2]。
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如此逐步增大應力，直到改變物理現象為止 最後使用統計方法，推估失加速測試縮短之
時間和正常應力之關係
.
16
逐步加嚴測試示意圖
應 力
時間
.
17
改變應力及測試時間
任意改變施加之應力，加速造成失效狀態 此法無法以合理之數學方法，找出產品之平
均壽命
.
18
多層次之應力測試
類似改變應力及測試時間之測試方式，但改 變過程為事先設定值
再以統計學之變異術分析或實驗設計法，找 出一最佳之測試方法
.
19
單一和多層次之失效分析
產品失效現象(Failure Mode)，可以分成單一 失效和多層次失效兩種
單一失效知分析
– 由連續、重複的失效現象中，找出其失效原因。 – 亦可藉由統計之迴歸分析，找出其失效原因。 – 或利用其它已知 之數學模式來分析
.
11
貝氏法則
如果事前我們對某種產品之失效模式已有經驗， 或是已知其分配公式，則利用貝氏法則會比 其他測試模式來的好。但此法有下列限制條 件：
1. 若未知機率分配，則吾人缺少合理的一些假 設，
2. 應用機會不多，除非對該產品已有相當程度 之了解。
.
12
貝氏法則
應用此法時，須經測試以便找到一可用之事 前機率分配。貝氏模式之推理用一特定應力測試，然後用韋氏機率紙求 算其特性壽命
重複上述步驟，但改以不同之應力測試 將前述結果描繪在座標圖上，再以統計迴歸
方法找出應力與壽命之關係
此法為最簡單且普遍之測試方法
.
15
逐步加嚴測試
測試方法為逐步增加測試應力，而測試時間 也按比例增長，以便達成加速失效之目的
解：30年 = 30×365天×24小時 = 262800小 時
1 6k k5 0之 之 V V 壽 壽 1 6命 命 5 0 848測 26試 28 4 時 .00小 10間 時
.
7
Arrhenius Model for Thermal Aging
有些電子元件會因溫度變化而影響其內部之 化學變化，以及影響其變化速度，此種變化關 係在化學上稱之為Arrhenius Equation，如式(1) 所示。
.
20
單一和多層次之失效分析
多層次失效
– 理論上，雖可藉變異數分析找出多層次失效現象 之原因，實務上大都將其視為單一失效原因來處 理。為改進前述做法，可採用“Competing Risk Model” (CRM)來分析
.
8
Arrhenius Model for Thermal Aging
R R0 e( E / RGT ) R0e R /T .......... .......... .......... .......... (1)
其中 B E RG
R為溫度為 T時之化學變化速度 ,
E為化學反應所需之活動 能 量
RG為氣體常數 , T為絕對溫度 ,
R0為常數
e為 The Base of Naperia.n Logrithms
9
Arrhenius Model for Thermal Aging
若可以找到一特性值Q，使得化學反應速率和產品壽命 之乘積等於Q，即
RLQ......................................................2()
將式(2)代入式(1)可得
L QeR/T R0
上式兩邊取對數後可得 loge(L) A B/T ,
其中Alog Q R0
實務上可用圖 222對數紙來繪圖
.
10
時間轉換法
此種模式是用在找尋在常態應力測試條件和 加速測試條件二者CDF(累積失效機率函數)之關 係，可用下式表示：
CDF at Acc. Stress = K × CDF at Rated Stress， K稱為加速因子，可由實驗求得。
.
2
可靠性加速測試
➢基本假設
a.環境條件加強，但不改變產品物理性質 b. 環境條件改變，所求得之各個失效分配，彼此之間
存在某種相似的統計分配特性。 c. 可以重覆試驗 d. 符合能量不滅之物理定律
.
3
加速試驗模式
（一）物理模式 * Inverse Power Law * Arrhenius Law
h( | t) f ()g(t |)
0 f ()g(t |)d0
此處h( | t) 為PosteriorPDF f () PriorPDF g(t |) 為當母數為時，時間 t之機率分配
.
13
施加應力之各種型式
固定應力法 逐步加嚴測試 改變應力及測試時間 多層次之應力測試 單一和多層次之失效分析
CH22 可靠性加速測試方法
➢ 目的 ➢ 基本假設 ➢ 加速試驗模式 ➢ Inverse Power Model ➢ Arrhenius Model for Thermal Aging ➢ 時間轉換法 ➢ 貝氏法則
.
1
可靠性加速測試
➢目的 利用較嚴厲的環境測試條件，使得產品的失
效時間縮短，然後以求得之結果，估計產品在 一般使用環境之壽命。
（二）統計模式 * Time Transformation Models * Baye’s Method
.
4
Inverse Power Model
❖ 適用於一般電子及電子產品、絕緣物體， 或是軸承等，其使用壽命和外界之應力 成 ”N” 次方的反比，如下式所示：
正 加常 嚴應 應力 力 正 加 下 下 常 嚴 之 之 N應 應 壽 壽 L L 力 力 N A 命 命 S SN A N
❖ 產品之特性壽命(Characteristic Life)通常可
由韋式分配求得，公式中之 “N” 值決定於
不同產品和其組成之物質，可由圖22-1之
負斜率 –[1/N]求得。
.
5
Inverse Power Model
應力座 標
加速測 試之應 力
正常施加 應力 Log Scale
以指數為單位1小時 時間座標.
特性壽命 1 Slop Exponent
30年
6
Inverse Power Model
例題一
某產品在正常情況下，應力為15kV，由上 述方法求得之指數為8，若測試電壓為60kV，經 證實兩種測試電壓產生之失效原因相同，也不 會改變其物理結構。若該產品之希望壽命為30 年，用60kV電壓需測試多久方能保證其壽命。