EIA-364系列标准

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EIA-364-27B中文版

EIA STANDARD EIA-364-27B 第1 页共7 页电子工业协会标准TP-27B电连接器的机械冲击(规定脉冲)试验程序EIA-364-27B（依据EIA-364-27A修订）1996年4月17日颁布1 目的描述一种电连接器机械冲击试验的标准方法，以便评估电连接器及其组件耐机械冲击的性能。

2 概述进行本试验是为了确定连接器及其组件当遭到诸如粗鲁搬运、运输或军用时可能出现的冲击的适应性。

测试系统的频率响应亦以容差规定。

3 定义3.1 轴图1给出了轴的图示定义，如果使用不同于图1所示的轴，则在相关参考文件中应在试验装置进行要求或对轴进行定义。

3.1.1 X轴与样品纵向长度一致的方向3.1.2 Y轴与样品纵向相垂直的方向(横向)3.1.3 Z轴与测试装置的固定面(与试验桌的桌面接触的面)垂直的方向图1---安装轴向定义4 样品制备4.1 除非另有规定，样品应按规定连接。

4.2 样品应按规定安装为了将不平衡负载的影响减至最小，应尽量将样品在试验平台上的试验负载分布均匀。

5 试验方法5.1 试验设备5.1.1 冲击机所使用的冲击试验机就能产生规定的输入冲击脉冲，如图2或图3所示。

冲击试验机的振动形式可以是自由跌落式，弹性回跳式，非弹性式，压缩空气式或其它振动形式。

5.1.1.1 冲击试验机的校准可以使用一个实际的试验项目或一个模拟的负载来校准试验机。

然后用规定的波形来校准冲击机，两次边疆的冲击施加在校准负载上应产生如图2或图3所给出的误差包络线内的波形。

然后拆除校准负载而对实际的样品进行冲击。

除了用实际样品替代校准负载外，如果所有保留条件相同，就应认为这样的校准符合波形的要求。

5.1.2测量仪器传感器应用标准的传感器进行校准，应达到±2%的精度。

为了达到试验程序的误差要求，测量仪器应满足下列特性：5.1.2.1 频率响应整个测量系统的频率响应，包括传感器和读出装置，应符合图4中的规定。

EIA-364-13C_插拔力测试标准

EIA STANDARD TP-13C M ATING AND UNMATING FORCE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORSEIA/ECA-364-13C (Revision of EIA-364-13B) JUNE 2006THE ELECTRONIC COMPONENTS SECTOR OF THE ELECTRONIC INDUSTRIES ALLIANCE ANSI/EIA-364-13C-2006NOTICEEIA Engineering Standards and Publications are designed to serve the public interest through eliminating misunderstandings between manufacturers and purchasers, facilitating interchangeability and improvement of products, and assisting the purchaser in selecting and obtaining with minimum delay the proper product for his particular need. Existence of such Standards and Publications shall not in any respect preclude any member or nonmember of EIA from manufacturing or selling products not conforming to such Standards and Publications, nor shall the existence of such Standards and Publications preclude their voluntary use by those other than EIA members, whether the standard is to be used either domestically or internationally.Standards and Publications are adopted by EIA in accordance with the American National Standards Institute (ANSI) patent policy. By such action, EIA does not assume any liability to any patent owner, nor does it assume any obligation whatever to parties adopting the Standard or Publication.This EIA Standard is considered to have International Standardization implication, but the International Electrotechnical Commission activity has not progressed to the point where a valid comparison between the EIA Standard and the IEC document can be made.This Standard does not purport to address all safety problems associated with its use or all applicable regulatory requirements. It is the responsibility of the user of this Standard to establish appropriate safety and health practices and to determine the applicability of regulatory limitations before its use.(From Standards Proposal No. 5136 formulated under the cognizance of the CE-2.0 National Connector Standards Committee.Published by©ELECTRONIC INDUSTRIES ALLIANCE 2006Technology Strategy & Standards Department2500 Wilson BoulevardArlington, VA 22201PRICE: Please refer to the currentCatalog of EIA Electronic Industries Alliance Standards and EngineeringPublicationsor call Global Engineering Documents, USA and Canada (1-800-854-7179)International (303-397-7956)All rights reservedPrinted in U.S.A.PLEASE !DON'T VIOLATETHELAW!This document is copyrighted by the EIA and may not be reproduced without permission.Organizations may obtain permission to reproduce a limited number of copies through entering into a license agreement. For information, contact:Global Engineering Documents15 Inverness Way EastEnglewood, CO 80112-5704 or callUSA and Canada (1-800-854-7179), International (303-397-7956)CONTENTSClause Page (1)1 Introduction (1)1.1 Scope (1)resources2 Test (1)2.1 Equipment3 Test specimen (1) (1)A3.1 Method (2)3.2 MethodB (2)procedure4 TestA (2)4.1 MethodB (2)4.2 Method5 Details to be specified (3) (3)6 Testdocumentation(This page left blank)TEST PROCEDURE No. 13CMATING AND UNMATING FORCE TEST PROCEDUREFORELECTRICAL CONNECTORS(From EIA Standards Proposal No. 5136, formulated under the cognizance EIA CE-2.0 Committee on National Connector Standards, and previously published in EIA-364-13B.)1 Introduction1.1 ScopeThis standard establishes a method to determine the forces required to mate and unmate electrical connectors or protective caps with connectors, connectors/sockets with gages or devices. Unless otherwise specified in the referencing document, method A shall be used.2 Test resources2.1 EquipmentThe test equipment shall consist of:2.1.1 Mounting fixtures that allow the specimens to be mounted in their normal manner.2.1.2 Force or torque gages, of suitable range for the connector size under test, so that readings will be in the middle 50% of the scale, where practicable, with a nominal full scale accuracy of +2%.2.1.3 Attachments and accessory type equipment as required to mate the test specimens and attach the force or torque gages (arbor press, etc.).2.1.4 Gage(s) or device(s) to mate the connector/socket with (applicable to method B only).3 Test specimen3.1 Method AThe specimen shall consist of a plug and a receptacle with all applicable contacts in place. All applicable hardware shall be assembled to the specimen including skirts, hoods, cable clamps, jackscrews, guide pins or sockets unless otherwise specified. The specimen shall not be lubricated or cleaned in any manner unless otherwise specified in the referencing document. If applicable the specimen shall be terminated as specified in the referencing document.3.2 Method BThe specimen shall consist of the connector/socket and the gage(s) or device(s) as specified in the referencing document. Unless otherwise specified in the referencing document, all applicable contacts and hardware shall be installed including skirts, hoods, cable clamps, guide pins, etc. The specimen shall not be lubricated or cleaned and active latches are to be deactivated unless otherwise specified in the referencing document. If applicable, the specimen shall be terminated as specified in the referencing document.4 Test procedure4.1 Method AUnless otherwise specified, the specimen shall be mounted to mounting fixtures by the normal mounting means.4.1.1 Mating force4.1.1.1 The two mating connectors shall be brought to a position where mechanical mating begins and the force or torque gage is at zero indication.4.1.1.2 The connectors shall then be fully mated or coupled at a rate of 25.4 millimeters/minute, unless otherwise specified in the referencing document, and the peak force or torque required for mating shall be recorded.4.1.2 Unmating forceThe mated connectors shall be fully unmated at a rate of 25.4 millimeters/minute, unless otherwise specified in the referencing document, and the peak force or torque required shall be recorded. 4.2 Method BThe fixtures required to hold the specimen and the specimen shall be attached to the force measuring system then the system shall be zeroed.4.2.1 Mating force4.2.1.1 The two mating components shall be brought to a position just before mechanical mating begins and the force measuring system is indicating zero.4.2.1.2 The gage/device shall then be fully mated to the connector/socket at a rate of 25.4 millimeters/minute, unless otherwise specified in the referencing document. The peak force required for mating prior to bottoming shall be recorded.4.2.2 Unmating forcesThe gage/device shall then be fully unmated from the connector/socket at a rate of 25.4 millimeters/minute unless otherwise specified in the referencing document. The peak force required for unmating shall be recorded.5 Details to be specifiedThe following details shall be specified in the referencing document:5.1 Number of specimens to be tested5.2 Measurements to be made; mating force, unmating force, or both5.3 Rates of mating and unmating, if other than specified in 4.1.1.2, 4.1.2, 4.2.1.2 and 4.2.25.4 Depth of mating if applicable5.5 Lubrication or cleaning, if required5.6 Wire type, gage, and length if applicable5.7 Applicable hardware5.8 Force or torque requirements5.9 Test conditions, if other than standard atmospheric5.10 Applicable to method B only: Details of the device(s) or gage(s) to be used for mating/unmating to the connector/socket, as well as the method and frequency of cleaning, if required6 Test documentationDocumentation shall contain the details specified in clause 5, with any exceptions, and the following:6.1 Title of test6.2Specimen description including part number if applicable6.3 If applicable, fixturing, gage details and gage part number6.4 Test equipment used, and date of last and next calibration6.5 Test procedure and method, if other than method A6.6 Values and observation6.7 Name of operator and date of testEIA Document Improvement ProposalIf in the review or use of this document, a potential change is made evident for safety, health or technical reasons, please fill in the appropriate information below and mail or FAX to:Electronic Industries AllianceTechnology Strategy & Standards Department – Publications Office2500 Wilson Blvd.Arlington, VA 22201FAX: (703-875-8906)Revision HistoryRevision letter Projectnumber Additions, changes and deletionsC SP-5136Original test procedure is now method A.Added Method B and paragraph 2.1.4, 3.2, 4.2, 5.10and 6.3.Revised paragraph 1.1, 4.1.1.2, 4.1.2, 5.2, 5.3, 6.2and 6.5.。

EIA-364（连接器产品常用测试规范之目录）

EIA-364（连接器产品常用测试规范之目录）Item Standard NO.Rev.Description1EIA-CB18Solid Tantalum Capacitor Shelf-Life固体的钽式电容器储存期限2EIA-364E ELECTRICAL CONNECTOR/SOCKET TEST PROCEDURES INCLUDING ENVIRONMENTAL CLASSIFICATIONS 电子连接器/插座（包括环境类）的测试程序3EIA-364-01B Acceleration Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的加速测试程序4EIA-364-02C Air Leakage Test Procedure for Electrical Connectors空气渗漏电子连接器的测试程序5EIA-364-03B Altitude Immersion Test Procedure for Electrical Connectors高度浸入电子连接器的测试程序6EIA-364-05B Contact Insertion, Release and Removal Force Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子插入、释放及取出测试程序7EIA-364-06C Contact Resistance Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的接触电阻测试程序8EIA-364-07B Contact Axial Concentricity Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子同心度测试程序9EIA-364-08B Crimp Tensile Strength Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的卷曲抗拉强度测试程序10EIA-364-09C Durability Test Procedure for ElectricalConnectors and Contacts端子连接器与端子的耐久性测试程序11EIA-364-10D Fluid Immersion Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的液体浸没测试程序12EIA-364-11B Resistance to Solvents Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的电阻测试程序13EIA-364-13D Mating and Unmating Forces T est Procedure for Electrical Connectors电子连接器的插入力和拔出力测试程序14EIA-364-14B Ozone Exposure Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的臭氧暴露测试程序15EIA-364-17B Temperature Life with or without Electrical Load Test Procedure for Electrical Connectors andSockets. 电子连接器和插座的温度寿命测试或没有电负载测试程序16EIA-364-18B Visual and Dimensional Inspection Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的外观与尺寸检验程序17EIA-364-20C Withstanding Voltage Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets and Coaxial Contacts电子连接品、插座和同轴端子的耐电压测试程序18EIA-364-21C Insulation Resistance Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, and Coaxial Contacts电子连接品、插座和同轴端子的绝缘电阻测试程序19EIA-364-22B Simulated Life Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的模拟寿命测试程序20EIA-364-23C Low Level Contact Resistance T est Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的接触电阻测试程序21EIA-364-24B Maintenance Aging Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的维持能力测试程序22EIA-364-25C Probe Damage Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的探伤测试程序23EIA-364-26B Salt Spray Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts and Sockets电子连接器、端子和插座的盐雾测试程序24EIA-364-27B Mechanical Shock (Specified Pulse) Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的机械震动(指定的脉搏)测试程序25EIA-364-28E Vibration Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的振动测试程序26EIA-364-29C Contact Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子保持力测试程序27EIA-364-30A Capacitance Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的电容测试程序28EIA-364-31B Humidity Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的湿度测试程序29EIA-364-32D Thermal Shock (Temperature Cycling) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的热冲击(温度周期变化)测试程序30EIA-364-35B Insert Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的保持力测试程序31EIA-364-36B Determination of Gas-tight Characteristics test procedure for Electrical connectors and or contact systems. 电子连接器和（或）端子系统的气密特性测试程序32EIA-364-37B Contact Engagement and Separation Force Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器端子结合力和分离力测试程序33EIA-364-38B Cable Pull-Out Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的电材拉拔力测试程序34EIA-364-39B Hydrostatic Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts and Sockets电子连接器、接触和插座的液压静力测试程序35EIA-364-40B Crush Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器v压坏测试程序36EIA-364-41C Cable Flexing Test Procedure for Electrical Connectors电报在电子连接的测试程序屈曲37EIA-364-42B Impact Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的机械冲压测试程序38EIA-364-45A Firewall Flame Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的阻燃火焰测试程序39EIA-364-46B MICROSECOND DISCONTINUITY TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS,CONTACTS AND SOCKETS电子连接器、端子和插座的瞬断（微秒不间断）测试程序40EIA-364-48A Metallic Coating Thickness Measurement of Contacts Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器端子喷涂层厚底测试程序41EIA-364-50A Dust (Fine Sand)Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的粉尘（细沙）测试程序42EIA-364-53B Nitric Acid Vapor Test, Gold Finish Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的硝酸蒸汽测试、黄金制品测试程序43EIA-364-54A Magnetic Permeability Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts, and Sockets电子连接器、端子和插座的导电率测试程序44EIA-364-56C Resistance to Soldering Heat Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的焊接热电阻测试程序45EIA-364-59A LOW TEMPERATURE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS电子连接器和插座的低温测试程序46EIA-364-66A EMI Shielding Effectiveness Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的电磁干扰屏蔽效应测试程序47EIA-364-70B TEMPERATURE RISE VERSUS CURRENT TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS 电子连接器与插座的温升与电流测试程序48EIA-364-71B Solder Wicking (Wave Solder Technique) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的溢锡(波峰焊接技术)测试程序49EIA-364-75LIGHTNING STRIKE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS电子连接器的雷击测试程序50EIA-364-81A Combustion Characteristics Test Procedure for Electrical Connector Housings, Connector Assemblies and Sockets. 电子连接器塑料、组装成品与插座的燃烧特性测试程序51EIA-364-82A Corrosivity of Plastics Test Procedure for Electrical Connector and Socket Housings电子连接器与插座塑胶的塑胶腐蚀性测试程序52EIA-364-83Shell-to-Shell and Shell-to-Bulkhead Resistance Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的接地壳与接地壳及接地壳与主板之电阻测试程序53EIA-364-89A Space Application Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的空间应用测试程序54EIA-364-90Crosstalk Ratio Test Procedures for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies orInterconnect Systems电子连接器、插座、线束或互联系统的串扰率测试程序55EIA-364-91A Dust Test Procedure for Electrical Connector and Sockets电子连接器与插座的粉尘测试程序56EIA-364-95Full Mating and Mating Stability Test Procedures for Electrical Connectors电子连接器的完整互配与互配稳定测试程序57EIA-364-99Gage Location and Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的计量位置与保留测试程序58EIA-364-100Marking Permanence Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的永久性标识测试程序59EIA-364-101Attenuation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems 电子连接器、插座、线束或互联系统的衰减测试程序60EIA-364-102Rise Time Degradation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets,Cable Assemblies orInterconnection Systems。

EIA-364-04-正向力

EIA-364-04电连接器正向力测试标准1987年11月13日颁布1 概述进行本试验是为了确定使端子在正常条件下发生给定的偏移所需的法向力大小。

这数据及它们之间的相互关系有利于正确评价连接器端子界面的完整性和稳定性。

本标准讲的试验程序是破坏性的而非承诺性的（acceptance）测试。

2 测试装置2.1 尺寸足够大的支持装置，以便容纳端子或边接器装配体系。

上述装置应以不扰乱端子相对于塑料壳的本来位置或连接(locking)特点的方式容纳连接器装配体系。

2.2 使用规定的荷重元来产生能满足测试极限需要的测试力，其精度达到+0.5%。

2.3 与荷重元相连的合适的探测器。

2.4 一个线性转换器（线规），用来确定端子偏移的距离。

2.5 一个X-Y记录仪，精度达到+1%。

2.6 一个读数装置，精度达到+2%。

2.7 测试装置应能手工使端子偏移或通过一个预定的拔出机械来使端子偏移，并且能以指定的速率（介于每分钟0.01至1英寸之间）产生光滑的轴向位移2.8 由于不同特征的连接器或端子，可能需要不同的装置。

测试时也可能需要除去某些端子。

特殊的装置应在规格书中规定。

3 测试程序3.1 对测试设备进行校正（如荷重元，X-Y记录仪，线规）3.2 准备好连接器或端子3.2.1 在连接器组装时，if access is not possible，在不影响正向力测量的情况下可以改变塑胶壳（housing）。

端子与housing之间的自然锁定(locking)和预加载荷(preload)不能改变。

3.2.2 对于多尖端子，可能影响探测器的尖端应事先除去，但不能影响测试结果。

3.2.3 将连接器焊接到印刷电路板上或固定在测试位置。

3.3 将准备好的连接器固定在测试装置上。

3.3.1 连接器在测试装置的位置适当，不能改变端子相对于塑料壳的本来位置或锁定(locking)特点，也不能改变natural beam 的偏移特征。

3.3.2 利用前述装置夹紧连接器上的自由端子（loose contacts），使之固定在测试装置上，而不改变natural beam 的偏移特征（d eflection characteristics）。

EIA-364-20A

電子連接器的耐電壓測試方法公告EIA工程標准和出版物是為服務於公眾利益而制定的,它是為了消除生產者和購買者之間的誤解,促進產品的交流和提高,並幫助購買者在最短時間內挑選到他所需要的滿意的產品﹒該標準的提出會促使EIA的成員在生產和銷售產品時遵循該標準﹐而它也可以由國內外非EIA成員自愿使用﹒對于推荐標准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在選取時未考慮其專利內容,故在此過程中EIA對任何專利所有者不承擔責任﹐對任何采用該標準的機構也不承擔責任﹒電子工業協會（EIA）工程部出版2001年華盛頓D.C.20006，N.W. Eye大街。

測試方法#20A電子連接器耐電壓測試方法(摘自EIA建議標准NO.1555,是在EIA P-5.1工作組組織下提出。

)注﹕此TP-20A曾作為TP-20頒佈於EIA建議標准RS-364中。

1.0 TP-20A耐電壓2.0 目的這种測試程序的目的是介紹一种測試方法來確定電子連接器在額定電壓內的安全運作性能，以及能夠承受由於轉換、掁蕩和其它類似現象所引起的瞬間過載。

3.0 綜述測試包括特定時間內﹐在連接器相互絕緣部分或是在絕緣部分与地之間，采用一個高于額定電壓的電壓值。

此標準化的目的是確定耐壓值為連接器損壞電壓最小值的75%。

並建議連接器的正常工作電壓為承受電壓值的1/3﹒這种測試經常被錯誤地認為是一种擊穿電壓或絕緣強度的測試。

導致絕綠破損或測量電冕並非此測試的本意。

它用來決定絕緣材料和元件部份間隙是否合适。

當一個連接器在這些方面不夠完善時﹐實施電壓測試將導致不正常放電或者情況惡化。

不正常放電伴隨閃光(表面放電)﹑火花(空气放電)或破損(擊孔放電)。

許多因素不同程度影響氣體和固體的不導電行為，例如大氣溫度﹑氣壓﹑環境和電極形式﹑頻率和波形﹑操作速率和測試電壓的持續時間﹑樣品的幾何形式﹑機械壓力和以前的測試紀錄。

EIA-364系列标准

EIA-364系列标准EIA-364系列标准，带目录，总共53个标准，6个压缩包EIA-CB18 固体的钽式电容器储存期限EIA-364 D 电子连接器/ 插座测试过程包括环境类别EIA-364 01B 加速度电子连接的测试过程EIA-364 02C 空气渗漏电子连接的测试过程EIA-364 03B 高度浸入电子连接的测试过程EIA-364 05B 接触插入，释放，移动迫使电子连接的测试过程EIA-364 06B 接触电阻电子连接的测试过程EIA-364 07b 与轴向的Concentricity电子连接的测试过程联系EIA-364 08B 卷曲抗拉的力量电子连接的测试过程EIA-364 09C 耐久性电子连接和接触的测试过程EIA-364 10C 流动的浸入电子连接和插座的测试过程EIA-364 11A 电阻到溶剂电子连接和插座的测试过程EIA-364 13B Mating和Unmating 力量电子连接的测试过程EIA-364 14B 臭氧暴露电子连接的测试过程EIA-364 17B 有或没有电负荷电子连接和插座的测试过程的温度生命EIA-364 20C 禁得住电压电子连接，插座和同轴的接触的测试过程EIA-364 21C 绝缘电阻电子连接，插座和同轴的接触的测试过程EIA-364 22B 类比生命电子连接的测试过程EIA-364 23B 低的水准接触电阻电子连接和插座的测试过程EIA-364 24B 维修使电子连接的测试过程变老EIA-364 25C 探查损坏电子连接的测试过程EIA-364 26B 盐水雾电子连接器，接触和插座的测试过程EIA-364 27B 机械震动(指定的脉搏)电子连接的测试过程EIA-364 28D 振动电子连接和插座的测试过程EIA-364 29B 接触保留电子连接的测试过程EIA-364 31B 湿度电子连接和插座的测试过程EIA-364 32C 热震(温度周期变化)电子连接和插座的测试过程EIA-364 35B 插入保留电子连接的测试过程EIA-364 37B 接触约会和分离力量电子连接的测试过程EIA-364 38B 电报拔电子连接的测试过程EIA-364 39B 电子连接器，接触和插座的液压静力测试过程EIA-364 40B 压坏电子连接的测试过程EIA-364 41C 电报在电子连接的测试过程屈曲EIA-364 42B 影响电子连接的测试过程EIA-364 45A 防火墙火焰电子连接的测试过程EIA-364 53B 氮的Adic 蒸汽测试，金完成电子连接和插座的测试过程EIA-364 54A 有磁性的渗透性电子连接器，接触和插座的测试过程EIA-364 56B 为了焊接热电子连接和插座的测试过程的电阻EIA-364 66A EMI 保护效力电子连接的测试过程EIA-364 71B 焊接灯芯(波焊接技术)测试过程适合电子连接器和插座EIA-364 81A 燃烧特性电子连接器住房，连接器会议和插座的测试过程EIA-364 82A 塑胶电子连接和插座住房的测试过程的Corrosivity EIA 364-83 壳牌公司轰炸和轰炸在舱壁测试过程抵抗适合电动汽车连接器EIA 364-90 串音比率电子连接，插座，电缆组件的测试过程或者相互连接系统EIA-364 91A 灰尘电子连接和插座的测试过程EIA 364-95 充分的铺席子和铺席子稳定电子连接的测试过程EIA 364-99 规格位置和保留电子连接的测试过程EIA 364-100 标明永久为电子连接和插座的测试过程EIA 364-101 Attentuation电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA 364-102 上升时间堕落电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA 364-103 传播延迟电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA-364 104A 可燃性电子连接的测试过程EIA 364-105 高度低温电子连接的测试过程EIA 364-106 驻波比率(SWR)电子连接的测试过程EIA 364-107 眼睛图案和在电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程感到紧张EIA 364-108 阻抗，反射系数，返回损失，并且VSWR在时间和频率领土电子连接器，电报会议或者相互联系系统的测试过程测量EIA 364 1000.01 评价电子连接器的性能的环境考试方法学和插座在生意办公室应用方面使用EIA 364-109 环电感测量电子连接(1 nH 10 nH)的测试过程。

EIA-364-D中文

Qualification Procedure-Sequence
• 此建議測試順序是最低限度要求，適用所有的等級。 • 依照不同應用，特定測試項目可自測試順序、補充測試、及/或接合測試項中增加或刪除。
Qualification Procedure-Sample Size

測試件應含對應端。每一特性量測的數據數量應為測試件25%的端子量，但不應低於25筆數據。若低於 25筆數據，則所有端子必頇量測; 若還不足25筆，就必頇提供額外的測試件。
EIA-364-D目的/範圍

針對電子連接器及插座建議基本的 (recommended minimum) 測試次序(Sequence) 及方法(Procedures) 依照預定的應用環境分級, 以便對每一分級能作合適的評估定義各環境分級的儀器操作狀況, 包含溫度與溼度的最大範圍, 以及海洋氣候與嚴苛環境之可能性

Contact resistance at rated current shall be used in those applications where the current levels are in excess of 100 milliamperes and the voltage levels are in excess of 3.0 volts. 選定電流的電阻測試(CRRC)用於 I>100mA & V>3V.
Qualification Procedure-Sequence

Visual examination shall be performed on the test specimens initially and after each environmental and stress test. Unless otherwise specified, unmating of the test specimens shall not be permitted until completion of the test sequence. The referencing document shall specify if the test specimens are to be unmated after vibration, physical shock and salt spray for visual examination. If not specified, the test samples shall remain mated.測試前後的外觀檢驗之必要性與解除互配狀態之許可. Unless otherwise specified, IR and/or DWV shall be tested between the closest spaced contacts (adjacent and/or between rows). Six contact pairs or 25% of the positions whichever is greater shall be tested per specimen. In the event that hardware and/or metal shells are used, the test shall also be performed between the metal accessories and the contacts closest to them in accordance with EIA-364-20 and/or EIA-364-21. IR與DWV之測試點數量要求6對或25%的端子, 及端子與鐵殼/其他鐵件之測試必要.

EIA-364-26B中文版

EIA STANDARD EIA-364-26B 第1 页共5 页电子工业协会标准TP-26B电连接器、端子及插座的盐水喷雾试验程序EIA-364-26B（依据EIA-364-26A修订）1999年4月7日颁布1 目的描述一种盐水喷雾试验的标准方法，以便评估可控的盐雾气氛对电连接器及其组件的影响。

本试验与海滨大气气氛之间没有内在联系，但它可用来比较不同材料及保护涂层的耐腐蚀性能。

试验的失效机制可用盐水的电化学腐蚀来解释。

2 试验资源2.1 测试设备2.1.1试验箱试验箱及其附件应由不影响其盐雾腐蚀性能的材料制成，比如塑料、玻璃或橡胶等。

木材及其复合板或者含有甲醛、苯酚成份的材料不得用来制作试验箱。

试验箱及其附件应能保证盐雾不循环流动，并且所有的样品均暴露在相同的环境下，盐雾也不能直接在样品上凝结。

试验箱应有通风口，以避免箱内气压的累积而过高。

2.1.2 雾化器喷嘴的设计应保证能产生细小的、分散的、潮湿的浓雾。

雾化器的喷嘴应不与盐雾发生反应。

2.1.3 气压源进入雾化器的压缩气体应是没有受到不纯物（如油、灰尘）污染的，并且使用适当的方法来提供潮湿的温暖的压缩空气以满足试验条件的要求。

压缩空气就适合产生细小的分散的浓雾。

同时，为了保证盐水沉积物不堵塞雾化器，空气要有一定的相对湿度（95%~98%RH）。

一种解决的办法是先将气体以细小的气泡通过一个热水塔，水温不得低于35℃。

2.2 材料2.2.1 盐溶液盐溶液的浓度为5%(重量百分比)。

使用的氯化钠在干燥状态时所包含的碘化钠不超过0.1%，总的杂质含量不超过0.5%。

配制盐溶液时，使用5±1份的氯化钠和95份的蒸馏水。

使用的蒸馏水或其它纯净水中，其固体物质的总含量不得超过百万分之50。

盐水应用不具有腐蚀作用的过滤器过滤。

过滤器类似于图1所示，它在溶液槽中的位置如图2所示。

配制成的盐水的比重应符合图3的规定，且溶液的PH值应维持在6.5~7.2之间（34~36℃时的PH值）。

EIA-364连接器专项测试标准简介

EIA-364-45A
Firewall Flame Test Procedure for Electrical Connectors
EIA-364-46B
MICROSECOND DISCONTINUITY TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS,CONTACTS AND SOCKETS
Thermal Shock (Temperature Cycling) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets
EIA-364-35B
Insert Retention Test Procedure for Electrical Connectors
EIA-364-90
Crosstalk Ratio Test Procedures for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnect Systems
EIA-364-91A
Dust Test Procedure for Electrical Connector and Sockets
EIA-364-56C
Resistance to Soldering Heat Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets
EIA-364-59A
LOW TEMPERATURE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS
EIA-364-95
Full Mating and Mating Stability Test Procedures for Electrical Connectors

EIA-364-C规范介绍

3.溫濕度循環試驗目的：連接器在高溫高濕環境下﹐所產生的反應和受損程度，
與正常條件下測試結果做一比較﹐分析每一項數據﹐ 以確認它們是否在的有效范圍內。
4.蒸氣老化測試目的：是在對電子連接器或插座接點端子軟焊接性的預處理。
5. 溫度循環(熱沖擊)試驗目的:是想知道連接器在高溫及低溫衝擊下，電阻值是多少﹖并盡可能模擬在儲藏﹑運輸及操作的實際情況
壽命效果.。
一
5〃振動試驗測試目的:在決定產品的效果﹐在各種振動及可能在使用過程中遭遇的振動壽命。 6.機械沖擊試驗測試目的：是評估電連接器承受額定機械沖擊程度能力.男中中中中
1.鹽水噴霧試驗目的：當連接器曝露在允滿鹽份的大氣中
所獲得其成分﹑表面﹑結構及電氣的變化。
2.高溫試驗目的：是想知道連接器在經過一段高溫時間后，電氣及機特性的變化。
不同﹐而有不同要求，一般錫鉛表面要求約200g的正向力﹐而鍍金表面則在100g附近，由此正向力會衍生出與接觸阻抗及其它參數的關系.
2.插拔力測試目的：在決定連結器在正常位置下﹐端子插入和拔出所需的力量。
3.保持力測試目的：是在連接器端子拔出時易於從其適當位置移動端子的抵抗力量﹐
4. 插拔耐久性目的：是在評估以連接器經多次配合與分離後﹐是否可達預期的
溫度壽命(高低溫試驗)
接觸電阻分離力
低階接觸電阻
組：1
2
3
4
5
6
備注：樣品數量：第一組樣品4個(2個用于電阻另2個用于斷訊測試) 第二、五測試組2個樣品﹔第六組：依其它規定
接觸電阻與低階接觸電阻的差異：
1.低階接觸電阻測試（ＴＰ－23Ａ）﹐ 主要適用於傳輸訊號用的連接器。
2.接觸電阻測試(TP-6A)則適用於傳輸電力之連接器﹐ 所通之電流高出甚多。

EIA-364-01~114 标准族清单 114份 201503

EIA-364-28 28
F
EIA-364-01~114标准族标准清单201503（完整版）
序号NO 编号Item Standard NO 版本Rev 连接器线束常用标准描述Description Popular Contact Engagement and Separation Force Test Procedure for Electrical Connectors 电子连接器端子结合力和分离力测试程序 EIA-364-38 38 电子连接器的电材拉拔力测试程序 EIA-364-39 39 电子连接器、接触和插座的液压静力测试程序 EIA-364-40 40 电子连接器压溃测试程序 EIA-364-41 41 线材折弯（连接器相关的）测试程序 EIA-364-42 42 电子连接器的机械冲击测试程序 EIA-364-43 43 电子连接器电缆夹紧 (弯矩) 测试程序 EIA-364-44 44 电子连接器的电晕测试程序 EIA-364-45 45 电子连接器的阻燃火焰测试程序 A YES Firewall Flame Test Procedure for Electrical Connectors A CORONA TEST PROCEDURE for Electrical Connectors C Cable Clamping (Bending Moment) Test Procedure for Electrical Connectors B Impact Test Procedure for Electrical Connectors C YES Cable Flexing Test Procedure for Electrical Connectors B Crush Test Procedure for Electrical Connectors B Hydrostatic Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts and Sockets B YES Cable Pull-Out Test Procedure for Electrical Connectors 备注Remark

eia 364标准

eia 364标准EIA 364标准是电子元件可靠性测试的重要标准之一，它涵盖了电子元件在不同环境条件下的可靠性测试要求和测试方法。

这一标准的制定旨在保证电子元件在各种应用环境下的稳定性和可靠性，从而确保设备和系统的正常运行。

本文将对EIA 364标准进行详细解读，包括标准的背景、内容要点和实际应用等方面。

首先，EIA 364标准的背景。

EIA 364标准是由美国电子行业协会（EIA）制定的，旨在为电子元件的可靠性测试提供统一的标准和方法。

随着电子技术的不断发展和应用领域的不断扩大，电子元件在各种极端环境下的可靠性要求也越来越高。

因此，制定一套统一的测试标准对于保证电子元件的可靠性至关重要。

其次，EIA 364标准的内容要点。

EIA 364标准主要包括了电子元件在不同环境条件下的可靠性测试要求和测试方法。

其中，环境条件包括温度、湿度、振动、冲击等多个方面。

标准规定了在不同环境条件下进行可靠性测试的具体要求，以及测试方法和测试参数的确定。

通过对这些要点的详细解读，可以更好地理解EIA 364标准的具体内容和实际应用。

最后，EIA 364标准的实际应用。

EIA 364标准的实际应用涉及到电子元件的生产、测试和应用等多个环节。

在电子元件的生产过程中，需要严格按照EIA 364标准的要求进行可靠性测试，以确保产品的质量和可靠性。

在产品测试和验证阶段，也需要根据标准的要求进行相应的可靠性测试，以验证产品在不同环境条件下的性能和可靠性。

此外，在产品的实际应用过程中，也需要考虑到不同环境条件对产品性能的影响，以确保产品在各种应用环境下的可靠性和稳定性。

综上所述，EIA 364标准是电子元件可靠性测试的重要标准，它对于保证电子元件在各种应用环境下的稳定性和可靠性起着至关重要的作用。

通过对EIA 364标准的详细解读，可以更好地理解标准的背景、内容要点和实际应用，从而更好地应用于实际生产和测试过程中，确保产品的质量和可靠性。

EIA-364-30

電子連接器的電容測試方法公告EIA工程標准和出版物是為服務於公眾利益而制定的,它是為了消除生產者和購買者之間的誤解,促進產品的交流和提高,並幫助購買者在最短時間內挑選到他所需要的滿意的產品﹒該標準的提出會促使EIA的成員在生產和銷售產品時遵循該標準﹐而它也可以由國內外非EIA成員自愿使用﹒對于推荐標准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在選取時未考慮其專利內容,故在此過程中EIA對任何專利所有者不承擔責任﹐對任何采用該標準的機構也不承擔責任﹒電子工業協會（EIA）工程部出版2001年華盛頓D.C.20006，N.W. Eye大街。

)注意：此TP-30沒有在EIA-364系列測試中出版過。

1.0目的﹕1.1此測試方法的目的是介紹一种標準測試方法以確定電子連接器使用元件的電容。

1.2電容測試是一系列測試項目的一項基本測試,測試後可置於任何環境中。

2.0樣品準備：2.1測試樣品由一個符合規格說明的成品連接器組成。

3.0測試方法3.1測試儀器使用電容計量器測量電容將確保+/-0.5%的精確度，精確值為+0.2p f。

直流電壓和交流電壓的峰值總數不得超過樣品額定電壓。

標準測試頻率為:1KHz +/- 1%1MHz +/- 1%1KHz +/- 1%為最佳測試頻率。

3.2測試過程3.2.1使用如下配置按規定頻率測試電容3.2.1.1通過最低阻抗路徑,用以下將端子接地:所有其它端子所有鐵殼接地片3.2.1.2任意兩連接端之間,以下部件可接於地面任意處:所有其它端子所有鐵殼接地片3.2.1.3 其它方面或操作條件按規格規定進行。

eia-364系列标准（EIA-364seriesstandard）

eia-364系列标准（EIA-364 series standard）EIA-364 series standard, with directory, a total of 53 standards, 6 compression packagesEIA-CB18 solid tantalum capacitor storage periodThe EIA-364 D electronic connector / socket test process includes environmental categoriesTest procedure of EIA-364 01B acceleration electronic connectionTest procedure for EIA-364 02C air leakage electronic connectionsTest procedure for highly immersed electronic connections of EIA-364 03BEIA-364, 05B contact, insertion, release, movement, forcing, electronic connection, testing processTest procedure for electronic connection of EIA-364 06B contact resistanceThe connection process between the EIA-364 07B and the axial Concentricity electronic connectionTest procedure for EIA-364 08B Crimp Tensile Force electronic connectionsEIA-364 09C durability test procedures for electronicconnections and contactsEIA-364 10C flow test procedures for immersed electronic connections and socketsEIA-364 11A resistance to solvent electronic connections and sockets test processTest procedures for EIA-364, 13B, Mating, and Unmating power electronic connectionsTest procedure for EIA-364 14B ozone exposure electronic connectionsEIA-364 17B has or has no electrical load, electronic connections, and sockets for testing the temperature lifeEIA-364 20C withstand voltage, electronic connections, sockets, and coaxial contact test proceduresEIA-364, 21C, insulation, resistance, electronic connections, sockets and coaxial contact test proceduresThe test process of EIA-364 22B analog life electronic connectionsEIA-364, 23B low level contact resistance, electronic connections and sockets test processEIA-364 24B maintenance keeps the test process of electronic connections getting olderEIA-364 25C examines the test process for damaging electronic connectionsEIA-364 26B brine mist electronic connector, contact and socket test procedureEIA-364 27B mechanical shock (designated pulse) electronic connection test procedureTest procedure for EIA-364 28D vibration electronic connections and socketsEIA-364 29B contact test procedure for retention of electronic connectionsEIA-364, 31B humidity, electronic connections and sockets test processEIA-364, 32C thermal shock (temperature cycle changes), electronic connections and sockets test processThe EIA-364 35B inserts the test process that retains the electronic connectionThe test process for EIA-364 37B engagement, engagement and separation of forces, electronic connectionsThe test process of EIA-364 38B telegraph electronic connectionHydrostatic test procedures for EIA-364 and 39B electronicconnectors, contacts and socketsEIA-364 40B crushed electronic connection testing processEIA-364 41C telegraphy in electronic connection test procedure bucklingEIA-364 42B affects the testing process of electronic connectionsTest process of flame electronic connection of EIA-364 45A firewallEIA-364 53B nitrogen Adic vapor test, gold complete electronic connection and socket test processThe EIA-364 54A has magnetic permeability electronic connectors, contacts and sockets for the testing processEIA-364 56B in order to weld the resistance of the hot electronic connections and sockets during the test processEIA-364 66A EMI test procedures for protecting the effectiveness of electronic connectionsThe EIA-364 71B welding wick (wave soldering technology) test procedure is suitable for electronic connectors and socketsEIA-364 81A combustion characteristics, electronic connectors, housing, connector, conference and socket test processEIA-364 82A plastic electronic connections and sockets housing test process CorrosivityEIA 364-83, Shell Companies bombing and bombing in bulkhead test procedure resists resistance to electric car connectorEIA 364-90 crosstalk ratios, electronic connections, sockets, test procedures for cable assemblies, or interconnected systemsTest procedure for EIA-364, 91A dust, electronic connections and socketsEIA 364-95 adequate placement of mats and mats to stabilize electronic connections during testingTest procedure for EIA 364-99 specification position and retention of electronic connectionsEIA 364-100 indicates permanent testing procedures for electronic connections and socketsTest procedures for EIA 364-101 Attentuation electronic connectors, sockets, telegraph conferences, or interconnected systemsEIA 364-102 rise time, degradation, electronic connectors, sockets, telegraph conferences, or test procedures for Interconnected SystemsEIA 364-103 propagation delays, electronic connectors, sockets,telegraph conferences, or test procedures for Interconnected SystemsTest procedure for EIA-364 104A flammability electronic connectionsTest procedure for EIA 364-105 high temperature electronic connectionTest procedure for EIA 364-106 standing wave ratio (SWR) electronic connectionEIA 364-107 eye patterns and tension in electronic connectors, sockets, telegraph conferences, or interconnected system testingEIA 364-108 impedance, reflection coefficient, return loss, and VSWR measurements in time and frequency, territory, electronic connectors, telegraph conferences, or interconnected system testing processesEIA 3641000.01 environmental testing methods and sockets for evaluating the performance of electronic connectors are used in business office applicationsTest procedure for EIA 364-109 ring inductance measurement of electronic connections (1, nH, 10, nH)。

00-EIA-364系列标准

EIA-364系列标准EIA-CB18 固體的鉭式電容器儲存期限EIA-364-E 電子連接器/ 插座測試過程包括環境類別EIA-364-01B 加速度電子連接的測試過程EIA-364-02C 空氣滲漏電子連接的測試過程EIA-364-03B 高度浸入電子連接的測試過程EIA-364-05B 接觸插入，釋放，移動迫使電子連接的測試過程EIA-364-06C 接觸電阻電子連接的測試過程EIA-364-07C 與軸向的Concentricity電子連接的測試過程聯繫EIA-364-08B 捲曲抗拉的力量電子連接的測試過程EIA-364-09C 耐久性電子連接和接觸的測試過程EIA-364-10E 流動的浸入電子連接和插座的測試過程EIA-364-11B 電阻到溶劑電子連接和插座的測試過程EIA-364-13D Mating和Unmating 力量電子連接的測試過程EIA-364-14B 臭氧暴露電子連接的測試過程EIA-364-17B 有或沒有電負荷電子連接和插座的測試過程的溫度生命EIA-364-18B 接线盒和插座的外观与尺寸检查的测试流程EIA-364-20D 禁得住電壓電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-21D 絕緣電阻電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-22B 類比生命電子連接的測試過程EIA-364-23C 低的水準接觸電阻電子連接和插座的測試過程EIA-364-24B 維修使電子連接的測試過程變老EIA-364-25C 探查損壞電子連接的測試過程EIA-364-26B 鹽水霧電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-27B 機械震動(指定的脈搏)電子連接的測試過程EIA-364-28D 振動電子連接和插座的測試過程EIA-364-29C 接觸保留電子連接的測試過程EIA-364-31B 濕度電子連接和插座的測試過程EIA-364-32D 熱震(溫度週期變化)電子連接和插座的測試過程EIA-364-35B 插入保留電子連接的測試過程EIA-364-36B DETERMINATION OF GAS-TIGHT CHARACTERISTICS TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS, AND OR CONTACT SYSTEMSEIA-364-37B 接觸約會和分離力量電子連接的測試過程EIA-364-38B 電報拔電子連接的測試過程EIA-364-39B 電子連接器，接觸和插座的液壓靜力測試過程EIA-364-40B 壓壞電子連接的測試過程EIA-364-41C 電報在電子連接的測試過程屈曲EIA-364-42B 影響電子連接的測試過程EIA-364-45A 防火牆火焰電子連接的測試過程EIA-364-46BEIA-364-48AEIA-364-50AEIA-364-53B 氮的Adic 蒸汽測試，金完成電子連接和插座的測試過程EIA-364-54A 有磁性的滲透性電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-56D 為了焊接熱電子連接和插座的測試過程的電阻EIA-364-66A EMI 保護效力電子連接的測試過程EIA-364-70BEIA-364-71B 焊接燈芯(波焊接技術)測試過程適合電子連接器和插座EIA-364-75EIA-364-81A 燃燒特性電子連接器住房，連接器會議和插座的測試過程EIA-364-82A 塑膠電子連接和插座住房的測試過程的Corrosivity EIA-364-83 殼牌公司轟炸和轟炸在艙壁測試過程抵抗適合電動汽車連接器EIA-364-89AEIA-364-90 串音比率電子連接，插座，電纜組件的測試過程或者相互連接系統EIA-364 91A 灰塵電子連接和插座的測試過程EIA-364-95 充分的鋪席子和鋪席子穩定電子連接的測試過程EIA-364-99 規格位置和保留電子連接的測試過程EIA-364-100 標明永久為電子連接和插座的測試過程EIA-364-101 Attentuation電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA 364-102 上升時間墮落電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364-103 傳播延遲電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364 104A 可燃性電子連接的測試過程EIA-364-105A 高度低溫電子連接的測試過程EIA-364-106 駐波比率(SWR)電子連接的測試過程EIA-364-107 眼睛圖案和在電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程感到緊張EIA-364-108 阻抗，反射系數，返回損失，並且VSWR在時間和頻率領土電子連接器，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程測量EIA-364 1000.01 評價電子連接器的性能的環境考試方法學和插座在生意辦公室應用方面使用EIA-364-109 環電感測量電子連接(1 nH 10 nH)的測試過程EIA-364-110。

EIA-364-13A

電子連接器的插拔力測試方法公告EIA工程標准和出版物是為服務於公眾利益而制定的,它是為了消除生產者和購買者之間的誤解,促進產品的交流和提高,並幫助購買者在最短時間內挑選到他所需要的滿意的產品﹒該標準的提出會促使EIA的成員在生產和銷售產品時遵循該標準﹐而它也可以由國內外非EIA成員自愿使用。

對于推荐標准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在選取時未考慮其專利內容,故在此過程中EIA對任何專利所有者不承擔責任﹐對任何采用該標準的機構也不承擔責任。

電子工業協會（EIA）工程部出版2001年華盛頓D.C.20006，N.W. Eye大街。

）注：此TP-13A之前曾作為TP-13發佈於EIA推荐標準RS-364-3。

1.0 TP—13A插拔力測試2.0 目的﹕此測試的目的是介紹一种決定電子連接器或其保護蓋所需插拔力的標準方法。

3.0 樣品准備測試樣品由一插頭和一可接触端插座組成。

除非特別說明﹐樣品應由所有可用硬件包括邊緣﹑机罩﹑線夾﹑螺釘﹑導片或插座組成。

除非規格中另有說明，樣品不需要任何方法進行潤滑或清洗。

4.0 測試方法4.1 測試儀器測試儀器包括﹕4.1.1 可使樣品以正常方式安裝的安裝夾具。

4.1.2 測試中﹐測力表或力距表應置於連接器的合適位置，以便於讀數指針位於量規的中間，這樣，操作量規可精確到±2%。

4.1.3 按要求，附屬測量儀器應與測試樣品相配合並隨帶測力表和力矩表（軸壓等）。

4.2 測試步驟4.2.1 除非特別說明﹐樣品應按正常情況進行安裝。

11-EIA-364-13B

EIA 標准TP-13B電子連接器插拔力測試程序EIA-364-13B1998年12月電子工業協會電子配件, 安裝, 設備&供應協會請勿違法!此文件為EIA版權所有, 未經允許不得翻印.該組織已獲得許可可以再版. 如需更多的信息, 請聯絡:全球工程文件15 Inverness Way East Englewood, CO 80112-5704或打電話至美國和加拿大的1-800-854-7179, 國際部電話(303)397-7956前言ELA工程標準的出版設計為通過消除制造商和采購商之間的誤解,促進了產品間的交流與改善而服務于公眾利益, ,協助采購商在選擇或獲得他們特別需求的產品時,將延誤減低到最小程度.這個標準的存在和發行不涵蓋運用此標准的成員與非成員在制造和銷售此產品時不符合此標準之事項的發生,也不存在此標準被ELA成員之外的自願運用,此標準既可在國內也可在國際上使用.所推荐的標準被ELA采用,根據美國國家標準協會專利政策,依據這個措施,ELA對一些專利用戶來講不承擔義務,也不對采用推荐標準的團體際承擔義務.此標准以國際電子機械委員會標准512-7,測試13b,插拔力,1993-08的主要技術內容為基礎.它符合此IEC標准的所有基本點.這個標準不從事對與此相關的運用和所有適用與調整的要求,它有對使用此標準的用戶建立合格的安全和健康實踐的義務,以決簀使用前調整范圍的適用性.(節選于標準提議No.4140,在國際連接器標準委員會CE-2.0的認可下闡明)由@電子工業協會1994發行工程部2500 Wilson BoulevardAilington, VA22201價格:請參考ELA,JEDEC和TIA標準和工程部出版的當前目錄或者打電話致全球工程文獻部,USA和加拿大(1-800-854-7179)國際電話(303-397-7956)版權所有 USA印刷目錄項目頁碼1.簡介-------------------------------------------------------------11.1范圍------------------------------------------------------------12.測試資源---------------------------------------------------------12.1試備------------------------------------------------------------13.測試樣品---------------------------------------------------------14.測試程序---------------------------------------------------------2 4.1插拔力----------------------------------------------------------24.2拔出力----------------------------------------------------------25.指定的細節-------------------------------------------------------26.測試文件---------------------------------------------------------3測試程序N0.13B電子連接器配插拔力測試程序(來自ELA標準建議號4140.在國家標準委員會ELA-2.0的認可下闡明,先前出版的EIA推荐標準RS-364作為TP-13A出版)1.簡介1.1范圍這套標準建立了一套程序,決議插入或拔出電子連接器時,或連接器保護帽所能承受的壓力.2.測試資源2.1設備測試設備由以下組成;2.1.1允許樣品以正常方式安裝的支撐裝置.2.1.2壓力或扭矩治具,適合測試下的連接器尺寸的合適范圍,這樣讀數在比例尺的50%位置,可行的話,用精度為+2%的標準比例尺.2.1.3所需插入樣品的附件與配件設備,以及附著壓力與轉矩治具(支撐架等等).3.測試樣品樣品包括適應合適位置端子的插頭與插座,所有的適合硬件安裝在樣品上,包括絕緣皮,鐵殼,電纜線夾具,螺絲,指導針與插座,除非特別指定.除非另外在參考文獻里指定.樣品不進行潤滑和清潔.如果可能的話,樣品將以參考文獻里指定的方式終止.4.測試程序除非另外指定,樣品以標準支撐方式安裝到支撐結構上.4.1插入力4.1.1兩個對插的連接器將被帶至機械對插開始的位置,壓力或扭矩在零指示點.4.1.2連接器要以參考文獻里指定的漸進率完全插入或接合,要記錄最高壓力或所需配合的扭矩.4.2拔出力插入的連接器將以參考文獻里指定的漸進率拔出,要記錄最大壓力與所需的扭矩.5.指定的細節下列細節參考文獻里有詳細說明.5.1測試的樣品數目.5.2插入和插拔力.5.3插入與拔出速度.5.4如果可行的話,記錄插入的深度.5.5潤滑劑和清潔劑,如果需要的話.5.6適合的金屬線類型,治具或長度.5.7適合的硬件.5.8壓力或扭矩需求.5.9除開標準空氣壓力的測試條件.6.測試文件文獻包括條款5中指定的細節,如有例外,為以下: 6.1測試題目.6.2包括支撐結構的樣品規格.6.3運用的測試設備,上次和下次校正的日期.6.4測試程序.6.5觀測值.6.6操作員姓名和測試日期.。

EIA-364-90 串音测试中文版

EIA-364-90 串音 (Crosstalk) 测试1.简介1.1范围这个测试程序应用于连接系统,比如像电子连接器,插座,和缆线组件整合.1.2目的这个标准描述了如何量测在连接系统整合中驱动线路和承受线路电磁耦合的量.时域(方法A)和频域(方法B)的量测方法,单动和差动的传输,还有插入式和参考治具测量法都将会叙述.1.3定义1.3.1 驱动讯号对于时域的测量来说,驱动讯号为一步阶波形;对于频域的测量,驱动讯号为一弦波波形.1.3.2 串音比串音比的定义为耦合到承受线路导体或导体对的讯号量比上在驱动线路导体或导体对上的讯号量.不管是耦合或驱动的讯号必须用相同的单位,比如说电压或电流,而串音比必须用百分比或 dB来表示.1.3.3 近端串音比(Near End Crosstalk Ratio – NEXT)串音比是由承受线路在接近驱动线路的发送端而量得,这个串音比是由近端的承受线路讯号量比上近端的驱动线路讯号量.1.3.4 远程串音比(Far End Crosstalk Ratio – FEXT)串音比是由承受线路在接近驱动线路的接收端而量得,这个串音比是由远程的承受线路讯号量比上近端的驱动线路讯号量.1.3.5 量测系统爬升时间量测系统爬升时间为包含治具,经过滤波效应(filtering),但不包含待测物,所测得的爬升时间.爬升时间通常是量测从 10%到90%的位准所需花费的时间.1.3.6 待测环境阻抗阻抗是由治具上的传导讯号导体所呈现.阻抗是由传输线,终端电阻,接收端,讯号来源和治具寄生效应的结果.1.3.7 步阶振幅如图一所示,步阶振幅是从 0% 到 100% ,忽略 overshoot 和 undershoot, 的电压差值.1.3.8 隔离标准板(Isolation Standard)隔离标准板为一没有待测物,但与测试治具有相同的串音特性的参考治具,这个治具可以为或可以不为测试板的一部份.1.3.9 终端连接在传输线末端的阻抗,通常是为了减小在传输在线的反射能量.2.测试资源2.1设备2.1.1 方法 A,时域2.1.1.1步阶讯号产生器连接于驱动线路,而承受线路则连接于示波器.如果是差动讯号的应用,则步阶讯号产生器和示波器都必须要有处理差动讯号的能力,这表示输出端要能调整振幅和 skew的差异,而输入端要能显示两个输入讯号的差跟和,为了能更改不同的爬升时间,仪器要提供滤波(filtering)或归一化(normalization)的功能.在这种情况下,时域反射仪(TDR)通常会被采用.2.1.1.2 探针当探针被采用的时候,必须要有合适的爬升时间表现和负载电路特性.2.1.2 方法B,频域网络分析仪(Network Analyzer)是较为偏好的,当需要较大的动态范围(dynamic range)时,讯号产生器和频谱分析仪的组合也可为替代的方案.一个八端口的网络分析仪或baluns可用来做差动讯号的测量.2.2治具除非在参考文件中有其他特别规定,否则待测物环境阻抗必须要匹配测试设备的阻抗.通常单动 (single-ended) 量测要求 50奥姆的阻抗而差动(differential) 量测要求 100奥姆.2.2.1 待测物导体配置对于每一个测量,驱动线路和承受线路必须如参考文件所示而摆置,如果可能的话,邻近于待测线路的线路必须做终端(terminated)的动作.除非有其他特别的规定,否则采用 1:1的讯号对接地的比例(如果是做差动讯号的测量,则采用一对差动讯号线路对应一个接地线路),所有的线路都对应到相同的接地面,如图二所示.治具必须设计成所有的线路有相同的时间延迟.注意–当驱动讯号为差动的模式且非均衡时,则共模(common mode)讯号的能量必须被终端(terminated)图二2.2.2 终端驱动线路的远程和承受线路的两边末端都必须用待测环境阻抗做终端,所采用的方法可以参考图三或图四,如果待测环境阻抗和测量设备的阻抗不匹配的话,可使用匹配电路(matching network),在整个的频率量测范围内必须注意到尽量减小电阻性终端的电抗效应.注意–治具的几何形状和材质会影响到测量肇因于治具的寄生效应,所以通常以产品的用途来规划最有意义的治具形态.图三单动模式测量的阻抗终端图四差动模式测量的阻抗终端2.2.3 串音从待测物所量得的串音中分离出治具的串音是困难的,所以参考文件必须规范治具以使治具所产生的串音量减到最小.注意–因为测试板的脚位布局或缆线组件整合的终端技术会严重地影响到串音量,所以建议治具应包含隔离标准板(Isolation Standard)2.2.4 插入式技术治具(Insertion Technique Fixture)这种治具必须设计成不管有没有加入待测物都可以做串音的测量,如图五所示,如果为了双动测量(balanced measurement)而使用baluns,或为了阻抗匹配而使用最小损耗垫(minimum loss pads),如图三和图四所示,这些都包含在治具2.2.5 参考治具技术(Reference Fixture Technique)使用这种技术一个个别包含有近端和远程的治具将会被用来做治具串音的测量,这个治具,除了没有待测物外,将是待测物治具的复制品;如果有电路线路的话,必须包含治具的连接器,贯孔,弯折(bends),和转角(corners);如果为了双动测量(balanced measurement)而使用baluns,或为了阻抗匹配而使用最小损耗垫(minimum loss pads),如图三和图四所示,这些都包含在治具之中.之中.3.待测物3.1叙述这项测试的待测物必须有一条以上的讯号线,而且必须为下列对象之一:一.1.1可分离的连接器接合一起的连接器配对.一.1.2缆线整合组件附有连接器或接合在一起的连接器配对的缆线.一.1.3插座插座和测试组件,或插座和可插入的转接头.一. 4.测试步骤一.驱动线路的远程和承受线路的两端都必须用待测环境阻抗做终端,终端的方法可用图三和图四的其中一种.一.4.1方法A,时域一.4.1.1一般性原则一.4.1.1.1待测物必须放置距离会影响测量结果之对象至少 5cm 远之处.一.4.1.1.2 参考测量和治具串音一.4.1.1.2.1量测并纪录从10%到90%位准的量测系统爬升时间,除非参考文件有其他任何的规范.一.4.1.1.2.2治具的串音会添加在待测物的串音中,如果有使用最小损耗垫,那么最小损耗垫也包含在治具之中;如果参考文件明确地描述治具,那么治具所贡献的串音量即为已知值,则治具串音的测量就是非必须的;这些结果是量测量对时间的关系图,用以下的其中一种技术来量测量测系统爬升时间,驱动线路振幅,和治具串音量.一.4.1.2插入式测量法一.4.1.2.1在不加入待测物的情况下,把治具的近端和远程连接起来,将示波器和脉冲讯号产生器连接在驱动线路治具的适当位置;对多个同步驱动讯号线路,匹配它们的振幅,并且减小它们之间的 skew;对双动讯号的测量,减小这对线路的skew,量测并报告 skew的值.一.4.1.2.2如果同步要被驱动的线路数目超过了设备的容许值,或者频道间 skew的排除是一件令人担心的事,那么一次驱动一条线路且串音量以迭加(superposition)的方式纪录下来.一.4.1.2.3量测驱动讯号在通过治具时的步阶爬升时间和振幅(如果有要求,这个动作可以使用加上待测物的治具来完成),调整滤波功能使得量测爬升时间符合要求的值,或如表一的值.表一4.1.2.4依照参考文件将示波器连接于承受线路,测量将待测物移除的治具串音量,将治具串音振幅除以步阶讯号振幅以求得治具串音比并将其表示成百分比的形式,除非有其他的规范,否则将峰值和符号给纪录下来.4.1.3 参考治具测量法4.1.3.1将示波器和脉冲产生器连接在驱动线路的适当位置;对于双动讯号的测量,讯号源必须使正向和负向的步阶讯号振幅一致,且将其 skew移除;对于多个同步驱动讯号线路,使其振幅一致且移除 skew.4.1.3.2如果同步要被驱动的线路数目超过了设备的容许值,或者频道间 skew的排除是一件令人担心的事,那么一次驱动一条线路且串音量以迭加(superposition)的方式纪录下来.4.1.3.3量测驱动讯号在通过参考治具时的步阶爬升时间和振幅(如果对远程串音有要求,这个动作可以使用加上待测物的治具来完成),调整滤波功能使得量测爬升时间符合要求的值,或如表一的值.4.1.3.4如参考文件所示,将示波器连接在参考治具的承受线路上,量测承受线路接收到的最大振幅,把这个值减去在驱动讯号产生前承受线路上的讯号振幅以便获得承受线路的串音量(包含符号),将承受线路的串音量除以步阶讯号的振幅以计算治具串音比,并将其表示成百分比的形式.4.1.4 待测物串音测量4.1.4.1在治具上加入待测物.4.1.4.2将示波器连接在承受线路被要求的位置,而同样的,把步阶讯号产生器连接在驱动讯号线路被要求的位置;对于双动讯号的测量,讯号源必须使正向和负向的步阶讯号振幅一致,且将其 skew移除;对于多个同步驱动讯号线路,使其振幅一致且移除 skew.4.1.4.3如果同步要被驱动的线路数目超过了设备的容许值,或者频道间 skew的排除是一件令人担心的事,那么一次驱动一条线路且串音量以迭加(superposition)的方式纪录下来.4.1.4.4量测承受线路接收到的最大振幅,把这个值减去在驱动讯号产生前承受线路上的讯号振幅以便获得承受线路的串音量(包含符号),将待测物-与-治具的承受线路的串音量除以步阶讯号的振幅以计算待测物-与-治具的串音比,并将其表示成百分比的形式.注意-当治具的串音量接近于待测物-与-治具的串音量时,对于结果的解释就要小心了,从这项测试减去治具串音并不是正确的做法.。

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