07-射线检测方法
射线标准标准
标准《承压设备无损检测》2005版——射线探伤加入时间： 2008-10-10 浏览次数：4222中中华人民共和国行业标准JB/T 4730-2005代替JB4730-1994部分承压设备无损检测第1部分：射线探伤Nondestructive Testing of Pressure Equipments—Part 2：Radiographic testing2005-07-26发布 2005-11-01实施国家发展和改革委员会发布目次前言……………………………………………………………………………1 范围…………………………………………………………………………2 规范性引用文件……………………………………………………………3 一般要求…………………………………………………………………4 具体要求…………………………………………………………………5 承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级…………………6 承压设备熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级…7 射线检测报告……………………………………………………………………附录A（资料性附录）工业射线胶片系统的特性指标…………………………附录B（资料性附录）黑度计（光学密度计）定期校验方法…………………附录C（资料性附录）典型透照方式示意图……………………………………附录D（资料性附录）环向对接焊接接头透照次数确定方法…………………………附录E（规范性附录）焦点尺寸计算方法………………………………………附录F（规范性附录）专用像质计的型式和规格………………………………附录G（规范性附录）搭接标记的摆放位置……………………………………附录H（规范性附录）对比试块的型式和规格…………………………………前言JB/T 4730.1—2005～4730.6-2005《承压设备无损检测》分为以下六部分：——第1部分：通用要求；——第2部分：射线检测；——第3部分：超声检测；——第4部分：磁粉检测；——第5部分：渗透检测；——第6部分：涡流检测。
(整理)探伤仪使用指南
探伤仪使用指南HY-28型全数字智能超声波探伤仪采用国际先进的数字集成技术，各项性能指标达到国内先进水平，仪器功能齐全，性能稳定，操作简便，是模拟仪器升级换代最经济的数字式超声波探伤仪。
该仪器用于检测各种材料内部的缺陷如焊缝、钢、铜、铝、硬质合金（粉末冶金件）、铸件（铸钢和球墨铸铁）、复合材料等等），可有效检测出气孔、裂纹、疏松、夹杂、未焊透等缺陷。
功能简介：全中文显示，独具模拟超声波探伤仪操作模式,上手极快。
良好的放大特性和很宽的检测范围，检测灵敏度和分辨率比模拟机有明显的改善和提高。
四个独立探伤通道，可自由设置各行业探伤工艺标准，现场探伤无需携带试块。
存储500组的A扫描数据，可直接连接打印机打印探伤报告，并可支持多种打印机。
仪器可与计算机数据通讯实现数据管理，RS232双向串行接口传输。
实际使用时无须调节水平扫描，仪器自动显示回波位置（即具有声程－水平距离－深度的三角显示和测量）和波幅高度及当量等数据；且具备闸门定位声光报警功能。
自动制作DAC曲线，取样点不受限制。
判废线、测长线、定量线可根据各行业标准自由调整，并贮存于仪器中，DAC曲线可随增益的改变自动同步浮动。
仪器采用SMT技术组装，低功耗设计并配置高容量锂电池，仪器带电池重量仅3.5Kg，且具有高强度的铸铝合金机壳，坚固耐用，携带与使用轻松自如。
主要技术指标:1、什么是无损探伤/无损检测？(1)无损探伤是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下，对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。
(2)无损检测：Nondestructive Testing（缩写 NDT）2、常用的探伤方法有哪些？无损检测方法很多据美国国家宇航局调研分析，认为可分为六大类约70余种。
但在实际应用中比较常见的有以下几种：常规无损检测方法有：－超声检测 Ultrasonic Testing（缩写 UT）；－射线检测 Radiographic Testing（缩写 RT）；－磁粉检测 Magnetic particle Testing（缩写 MT）；－渗透检验 Penetrant Testing （缩写 PT）；－涡流检测Eddy current Testing（缩写 ET）；非常规无损检测技术有：－声发射Acoustic Emission(缩写 AE)；－泄漏检测Leak Testing（缩写 UT）；－光全息照相Optical Holography；－红外热成象Infrared Thermography；－微波检测 Microwave Testing3、超声波探伤的基本原理是什么？超声波探伤仪的种类繁多，但在实际的探伤过程，脉冲反射式超声波探伤仪应用的最为广泛。
射线检测质量分级
射线检测质量分级焊缝质量按缺欠性质、长度、数量分为四个级别；其中Ⅰ级最佳，Ⅱ级、Ⅲ级依次降低，超过Ⅲ级为Ⅳ级。
裂纹是焊缝中危害性大的缺陷，应评为Ⅳ级。
（1）长宽比小于或等于3的气孔、夹渣和夹钨统称圆形缺欠。
（2）圆形缺欠应用评定区进行评定。
评定区框线的放置是引起圆形缺欠评级争议的关键。
本标准参照GB3323-87的使用说明，从正文中明确了评定区的框线的放置要求。
即：评定区的框线必须放在焊缝内缺欠最严重的区域，框线内必须完整的包括严重区域的主要缺欠，框线的长边与焊缝平行。
与框线外切的不计点数，相割的计入点数，如图05所示。
图05 圆形评定区框放置（3）表7、表8、表9及表10与原标准相同，只不过表10的评定区10㎜×20㎜，对应的母材厚度由原来的>25～30㎜，变为>25～50㎜。
（4）对圆形缺欠各国评定不一：ASME和API std 1104都是用标准图来表示合格与否的。
我国焊缝射线检测标准都是分级的，合格级别在相应的标准或设计图样中明确，这与日本JIS3104的评定方法相一致。
圆形缺欠长径超过1/2壁厚评为Ⅳ级与原标准相同，这与我国的锅炉压力容器标准的规定是一致的。
GB3323-87规定“Ⅰ级焊缝或母材厚度小于或等于5㎜的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺陷，在评定区内不得多于10点，否则应降一级”，此条规定不是说Ⅰ级焊缝在评定区内不计点数的缺欠超过10点就评为不合格而可以评为Ⅱ级；母材厚度小于或等于5㎜的Ⅱ级焊缝内不计点数的圆形缺欠超过10点，不能评为Ⅱ级而评为Ⅲ级。
原标准“把计点数与不计点数之和不得多于10点，若多于10点，则应降一级”的规定对圆形缺欠评定过严。
不计点数的圆形缺欠对焊接质量影响很小，故本标准予以修正，修改后的此条规定与JB4730的规定相一致。
此条与原标准相同。
底片上发现的气孔有的黑度很大，按评定区内的点数算，可评为合格。
但是要注意这种缺欠是否是垂直于板厚方向的柱孔或针孔，这类缺欠易造成管道泄漏。
乳腺机X射线性能检测操作规程
乳腺机X射线性能检测操作规程1. 目的为了规范乳腺机X射线性能检测操作程序，保证正确使用仪器，保证检测工作的顺利进行和设备安全。
2. 适用范围适用于从事乳腺X射线摄影系统质量控制性能检测的专业技术人员常规操作，质量控制人员检测、校正仪器，有关职能部门负责人监督仪器的使用维护。
3. 检测所用仪器及模块表3-1 仪器及型号4.质量控制性能检测项目与技术要求表4-1 检测项目与技术要求1.质量控制性能检测操作方法4.1. 标准照片密度4.1.1. 将4cm 厚的专用检测模体置于乳腺摄影乳房支撑台上。
将装有胶片的暗盒插入乳房支撑台的暗盒匣中。
4.1.2. 在自动曝光条件下曝光，冲洗胶片，测量距胸侧边沿4cm 处照片长轴中心的光密度，并与基线值进行比较，基线值的光密度在1.4D~1.8D 范围内。
4.2. 胸壁侧射野的准直4.2.1. 将装有胶片的暗盒插入乳房支撑台的暗盒匣中，调整光野与胸侧支撑台边沿对齐，进行曝光，冲洗胶片。
4.2.2. 观察胶片，胸侧胶片边缘应全部曝光。
4.3. 胸壁侧射野与台边的准直4.3.1. 将装有胶片的暗盒于乳房支撑台底部，胸壁侧暗盒超出支撑台边沿4cm 左右，进行曝光，冲洗胶片。
4.3.2. 用刻度为1mm 的钢制直尺测量照片上曝光区域边沿与台边的距离。
4.4. 光野与照射野的一致性4.4.1. 将装有胶片的暗盒插入乳房支撑台的暗盒匣中，调整光野与胸侧支撑台边沿对齐，并在四边作好光野的标记，进行曝光，冲洗胶片。
4.4.2. 用刻度为1mm的钢制直尺测量光野与照射野相应边沿的距离。
4.5. 自动曝光控制4.5.1. 乳房支撑台上分别放置2cm、4cm、6cm 厚的模体，将装有胶片的暗盒分别插入乳房支撑台的暗盒匣中，在自动曝光控制下分别进行曝光。
4.5.2. 测量距胸侧4cm 处照片长轴中心的光密度，2cm 和6cm 模体影像光密度分别与4cm 影像光密度值比较。
4.6. 管电压指示的偏离4.6.1. 应采用非介入方法，如用剂量仪进行检测。
数字射线检测图像空间分辨率测量方法
数字射线检测图像空间分辨率测量方法陈乐章有为（上海市特种设备监督检验技术研究院，上海200062）摘要：工业数字射线检测技术应用过程中，图像空间分辨率是最重要的图像质量衡量指标。
分析相关标准提出的图像空间分辨率的测量方法，对比提出采用灰度轮廓图20%下凹内插值法最为合理。
关键词：数字射线检测；图像空间分辨率；20%下凹内插值法以CR和DR为主的数字射线检测技术在医学影像领域已经几乎完全取代了传统胶片照相，而在工业检测领域，数字射线检测技术应用则相对迟缓。
究其原因，主要是受制于数字射线检测普遍分辨率相对不足。
近些年，随着相关元器件制造工艺的不断改进和相关标准的不断完善，CR、DR系统等数字射线检测技术也逐渐开始在工业检测领域中崭露头角。
其中衡量数字射线检测图像质量最重要的指标之一便是图像空间分辨率（以下简称SR b），它反映了系统能够识别最小细节的能力，所以正确测量SR b就显得尤为必要。
本文通过对ISO17636-2-2015[1]以及ASTM E2597-07[2]等标准的研究，提出了正确测量SR b的前提，并阐述了数字射线检测SR b的几种测量方法及注意事项，提出采用内插值20%下凹法测量SR b最为合理。
1正确测量SR b的前提1.1线性灰度是正确测量SR b的前提[1]因为测量SR b主要依靠灰度直方图中双丝像质计线对灰度下沉幅度来决定，如果系统不能提供线性灰度，接收器上有无双丝像质计处接收到不同射线剂量而不能正比反应到图像灰度值上，那么下沉20%方法就失去其意义，测量结果也相差甚远。
1.2数字图像的平均灰度应大于最大灰度的50%对于像元尺寸≥80μm的标准系统，信噪比应大于100；对于像元尺寸<80μm的高分辨率系统，信噪比应大于70。
[1]这样的要求是保证双丝像质计影像质量较好，提高测量精度。
尤其对于厚度较大的工件，采用高电压和较长的曝光时间，散射线累积较大，所成图像噪声较大，会经常出现无法测量SR b的情况。
原子荧光对地质矿样中硒的测定
原子荧光对地质矿样中硒的测定摘要：沸水浴中王水消解地质矿样样品，加入尿素去除HNO3，利用盐酸铁盐作为掩蔽剂消除共存元素干扰，首次建立了氢化物发生原子荧光光谱法测定地质矿样中硒的快速检测方法。
经国家标准物质GBW07402、GBW07404和GBW07407验证，测定结果与标准值吻合，相对标准偏差（RSD）在0.57%～1.89%之间，加标回收率为94.00%～104.67%。
方法检出限和测定下限分别为0.11ng/mL和0.37ng/mL。
与其它消解方法对比，本方法消解时间为1h，适用于地质矿样中硒的快速测定。
关键词：沸水浴；氢化物发生原子荧光光谱法；尿素；盐酸铁盐；硒前言测定地质矿样中硒的方法主要有：原子荧光光谱法、紫外光谱法、低压离子色谱法、电感耦合等离子体发射光谱法、石墨炉原子吸收法和全反射X-射线光谱法等。
其中氢化物发生原子荧光光谱法（HG-AFS）由于具备灵敏度高、检出限低、线性范围宽、试剂用量少、操作简单快速及分析成本低廉的特点，一直是测定地质矿样中硒含量的首选方法。
在各种检测方法中，地质矿样样品的消解处理是关键。
本文首次采用水浴加热，王水消解样品，尿素去除硝酸，利用盐酸铁盐消除共存元素干扰，有效解决了传统方法中硝酸和高氯酸消解处理样品时导致硒测定结果偏低的问题。
1 实验1.1 仪器与试剂AFS-8220型双道原子荧光光度计（北京吉天仪器有限公司）。
硝酸（优级纯，上海国药集团），盐酸（优级纯，上海国药集团），TiCl3（分析纯，15%～20%，上海迈瑞尔化学技术有限公司），尿素（分析纯，上海国药集团），H2O2（分析纯，上海国药集团），FeCl3?6H2O（分析纯，宜兴阿拉丁化工贸易有限公司），KBH4（分析纯，上海国药集团），KOH（分析纯，上海国药集团），硫脲（分析纯，上海国药集团），硒的标准贮备溶液（100mg/L，国家标准物质中心）。
实验用水均为二次蒸馏水。
1.2 试剂配制王水：用2000mL量筒分别量取1500mLHCl和500mLHNO3，混匀保存于2.5L玻璃瓶中。
射线透照工艺
射线透照工艺射线透照工艺是指为达到一定要求而对射线透照过程规定的方法、程序、技术参数和技术措施等，也泛指详细说明上述方法、程序、参数、措施的书面文件。
射线透照工艺文件有两种，一种称通用工艺规范，依照有关管理法规和技术标准，结合本单位具体情况(涉及的产品范围和现有设备条件)编制而成。
其内容除包括从试件准备直至资料归档的射线照相全过程，还包括对人员、设备、材料的要求以及一些基本技术数据，如曝光曲线等图表。
另一种称专用工艺，其内容比较简明，主要是与透照有关的技术数据，用于指导给定试件的透照工作。
因其通常用卡片形式填写，所以有时称为透照工艺卡。
工艺条件是指工艺过程中的有关参变量及其组合。
射线透照工艺条件包括设备器材条件，透照几何条件，工艺参数条件，工艺措施条件等。
本章重点介绍一些主要的工艺条件对照相质量的影响及应用选择原则。
4.1透照设备器材4.1.1射线源1、射线源分类X射线：400KV以下，可通过调节KV选择能量大小，穿透厚度上限达70-90mm左右。
Y射线：能量不可改变，只能根据工件厚度选择源的种类。
常用Y射线源的特性参数高能X射线：由加速器产生，能量1—30MeV,穿透厚度100—300mm，设备昂贵，适用于厚壁容器制造企业。
2、射线能量(射线源种类)的选择考虑因素：穿透力照相灵敏度设备特点选择原则：1)对于较薄材料(50mm以下)的透照，尤其是钢板对接，应优先选择X射线，可获得较好的照相灵敏度。
2)厚度50以上的透照，采用X射线、Y射线获得的照相灵敏度相近，根据工件及现场情况选择。
3)透照困难的现场，如狭小空间、架空管道等，可考虑采用Y射线。
4)环焊缝X射线透照，焦距满足要求的情况下，尽量采用锥靶周向X射线机，一来可提高工效，二来可减小缺陷影像的畸变。
4.1.2胶片1、胶片分类按现行承压设备射线检测标准(JB/T4730.2—2005)：胶片系统按照GB/T19384.1分为四类，即T1、T2、T3和T4类。
第07章 GR 和放射性同位素测井
−
式中： 衰变常数，表征衰变速度的常数，即单位时间内每个核发 λ 生衰变的几率， λ 越大衰变越快。
dt
= λN
N = N 0 e − λt 对上式积分，并令t=0时，N = N 0 ，则有：
此式称为核衰变定律。由上式可看出，随着t↗，放射性元素的 原子数↘，当t → ，原子数量越接近于零。 除了用 λ 外，还用半衰期T来说明衰变的速度。半衰期就是从 放射性元素原子核的初始量开始，到一半原子已发生衰变时所经 历的时间，T和 λ 有如下关系：
N A ρZ 2 χ=K ( Eγ − 1.022) A
式中：K——常数； Eγ ——伽马光子的能量，MeV 当入射伽马光子的能量小于1.022 MeV时， 不形成电子对；而大于1.022 MeV时，减弱系数随 Eγ 的增大而直线 上升。
4、伽马射线的吸收
伽马射线通过物质时，会发生以上三种作用，伽马光子被 吸收，射线强度逐渐减弱，其程度随吸收系数增大而加剧：
下井仪器（ZGM-IB/IC 自然伽马测井仪）
仪器技术指标
耐温 耐压 最大井径 仪器外径 仪器长度 耐冲击 耐振动 电缆头电压 测量范围 测量精度 测速 晶体 重复性 稳定性 150℃ 或 175℃ 100 MPa 或 140 MPa 600 mm 89 mm 1524 mm 50g/100g 11ms 5g/7.5g 10～60Hz 三维 180 VAC/ 40mA 0～2000 API ±6 % 600m/h φ40×200mm ±5% ±3%（放射性强度80API,时间常数4s）
N ( L) = N 0 e
− µL
其中：N0、N 分别为未经吸收和经过厚度为L的吸收物质的伽马射 µ 线强度； = τ + σ + χ 为射线经过光电效应、康普顿散射以及 电子对效应的总吸收系数，其量纲为cm-1。 以上三种作用都可能发生，入射伽马光子的能量小于1.022 MeV 时，以光电效应为主，在0.1～2MeV的范围内时，以康普顿效 应为主，而当大于2MeV 时，电子对效应逐渐处于主导地位。
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(1) 移动式X射线机
X射线管放在充满冷却、绝缘油的管头内， 高压发生器用油浸在高压柜内，X射线管用强 制循环油冷却。 移动式X射线机的体积和重量一般都比较大， 适用于实验室、车间等固定场所，可用于透照 比较厚的工件。
(2) 携带式X射线机
X射线管和高压发生器放在一起，没有高压电 缆和整流装置。因此体积小、重量轻，适用于 流动性检验或对大型设备的现场探伤。
X射线窗口中心部 位的射线强度为 100% 时 ， 靠 近 阴 极 侧的射线强度比阳极 侧偏高。因此一般透 照焊缝时，尽量使焊 缝垂直于X射线管轴 线，以获得曝光均匀 的底片。
X射线管焦点是决定X射线管光学特性好坏的重 要标志，焦点大小直接影响探伤灵敏度。由于多 数X射线管的阴极形状是线焦点，在阳极靶面上 呈长方形，X射线从这个长方形射线源发出。
为防止管电压过高使底片质量下降，在射线检测 标准中，对不同材料各种厚度允许的最高管电压 作了限制，如图所示
在射线检测标准中，对不同材料各种厚度允许 的最低管电压没有限制，但也不宜过低。
因为X射线强度与被照射面到射线源之间的距 离的平方成反比。 管电压较低，衬度较高，显示多层次厚度的能 力降低了，射线检测的宽容度降低了。 对于多层次厚度工件(如小口径金属管)，采用 较高管电压，适当牺牲衬度，提高宽容度。
金属丝象质计是以一系列直径不同的金属丝 所组成，利用在底片上显示金属丝的粗细来评 价透照质量。
金属丝象质计制作简单、使用方便，在国内 外得到广泛采用。
射线源 像质计 像质计 工件 暗合 增感屏 胶片 底片
1号象质计钢丝(0.1～0.4mm)，用于透照厚度 20mm以下钢件；2号象质计(0.25～1.0mm)，用 于透照厚度5～60mm钢件 ；3号象质计(0.8～ 3.2mm)，用于透照厚度50～100mm钢件。
B级成象质量最高，适用于抗天及核设备等 极为重要的产品与部件。
象质计要放在工件靠近射线源的表面。
与放在靠近胶片一面表面上相比，在相同透 照条件下，靠胶片容易显示更细的金属丝。 因为愈靠近胶片半影愈小、成象愈清楚。同 样，工件中相同性质和大小的缺陷越靠近胶片 时越容易在底片上发现。 所以将象质计放在工件靠近射线源表面上透 照后、能在底片上显示出来，说明工件中远离 胶片的缺陷也能在底片上显示出来。
新出厂或存放一段时间的X线管必须经过训 练试验，将管内气体吸收掉才能正常使用。 小焦点X射线管虽然具有探伤灵敏度高，透照 清晰的优点，但是由于焦点面积小，阳极靶很 容易因局部过热而被烧坏。
一般大型X射线管(如1400kV)常常采用大小不 同的两个焦点，即所谓双焦点X射线管。 这样对一般射线检测可用大焦点，要求灵敏 度高时可用小焦点，提供了选择余地。 普通X射线管的射线束一般为40o 圆锥角，透 照范围比较小。为了提高透射效率，可采用360o 辐射的周向X射线管。
其次，象质计应放在接近胶片的一端，而不是 在胶片中心。因为象质计放在中心部位时灵敏度 够了，不能说明边缘部分灵敏度也够。 当把象质计放在胶片一端时灵敏度达2%，则 说明整个底片的灵敏度都够了。 每张底片原则上都必须有象质计，当采用周向 360o等距离透照时，可每隔90o放一象质计。
(2) 几何不清晰度
目前一般所说的X射线照相灵敏度，都是指相 对灵敏度。
但在射线照相前，被透照工件中所能发现的 最小缺陷尺寸是无法知道的，一般采用带有人 工缺陷的象质计来确定透照灵敏度。
象质计的材质应与被透照工件相同，目前国内 外采用的主要有3种象质计即槽状象质计、孔型 象质计和金属丝象质计。
槽状象质计主要用于苏联，孔型象质计主要 用于英国和美国。
衰减系数与射线波长是三次方正比关系，射 线能量愈大，衰减系数愈小。
缺陷影象 底片
在能穿透工件的情况下，尽量采用较低的管 电压，减少射线能量。
此时被透照工件对射线的吸收能力增强，这 就使有缺陷部位和无缺陷部位的黑白对比度增 大，从而提高了底片灵敏度。
缺陷影象 底片
此外，管电压愈高，它使底片产生的固有不清 晰度愈大，有时称为胶片不清晰度，它与射线 的能量有关。表为固有不清晰度的实验值。
同时X射线机也可按射线束辐射方向分为定 向辐射和周向辐射两种。 其中周向X射线机特别适用于管道、锅炉和压 力容器的环形焊缝检测，由于一次曝光可以检 测整条焊缝，工作效率显著提高。
此外，还有一些特殊用途的X射线机，如软X 射线机，管电压60kV以下，可用于检测金属薄 件、非金属材料等低原子序数物质的内部缺陷。
射线源 像质计 像质计 工件 暗合 增感屏 胶片 底片
采用金属丝象质计时，透照灵敏度按下式计算
底片灵敏度 底片上观察到最细金属丝直径 100 % 透照部位最大厚度
一般要求灵敏度小于等于2%，要求高的在一 定厚度范围内要达到1%。
按标准我国X射线照相质量分为3级：
A级成象质量一般，适用于承载负荷较小的 产品与部件。 AB级成象质量较高，适用于锅炉和压力容器 产品与部件。
工件厚度b一定 时，欲减小半影 宽 度 Ug ， 主 要 因 素是射源尺、焦 距愈大时，半影 就愈小。 但焦距大则射线 强度低，即曝光 时间延长，既降 低检测效率又增 加散射线。 实际工作中，要 综合考虑。
几何不清晰度允 许值也可用图中曲 线表示。 由于焦距不能过 大，这就是在射线 照相中为什么希望 尽量采用小焦点X 射线机的道理。
射线源
工件 暗盒
缺陷 增感屏 胶片
荧光增感屏常用的荧光物质是钨酸钙，当X射 线透照时，钨酸钙增感屏能吸收40%～50%的X 射线能量并把它转变成荧光。 荧光增感屏的增感系数大致10～60，荧光物质 会降低影象的清晰度，从而降低底片灵敏度。
射线源
工件 暗盒
缺陷 增感屏 胶片
在X射线探伤中，现在用得比较普遍的是金属 增感屏(金属箔)。
这就是实际焦点。当靶面与X射线管轴线的垂直 线之间倾斜20o 时，其有效焦点面积约为实际焦 点面积的三分之一。
X射线照相灵敏度与有效焦点直接有关，实际 焦点面积大对散热有利，有效焦点面积小对透照 灵敏度有利。一般所说的是指有效焦点。 常用有效焦点2.3×2.3、3×3、4×4 (mm)等 尺寸，采用特殊的磁聚焦方法可以使有效焦点尺 寸达到0.1～0.2mm
射线源 像质计 像质计 工件 暗合 增感屏 胶片 底片
由于射线照相时，不同厚度工件所能发现缺陷的 最小尺寸不同，比较薄的工件容易发现细小缺陷， 厚工件则只能发现尺寸稍大一些的缺陷。
射线源 像质计 像质计 工件 暗合 增感屏 胶片 底片
因此，采用绝对灵敏度往往不能反映不同厚度 工件的透照质量。 用所能发观的最小缺陷尺寸占被透照工件厚度 的百分比表示，则更能反映不同厚度工件的透照 质量，这称为相对灵敏度或百分比灵敏度。
金属增感屏的增感因素大小与射线软硬、屏的 成分、厚度以及胶片特性有关。
对软X射线来说，金属增感屏实际上不能缩短 曝光时间，射线愈硬、增感因素愈明显。 采用γ 射线照相时由于散射线严重，必须采用 金属增感屏增感。 在透照时，增感屏与胶片的贴紧对增感屏的使 用效果极为重要。如果在透照时增感屏与胶片 之间有间隙，则将大大降低增感效果。
3-2-5 增感屏与胶片的选择
(1) 增感屏的选择
射线可以使胶片感光，但只有一小部分与感光 胶片上的AgBr起光化作用而使胶片感光。 这将使实际透照时间大大延长，对厚工件甚至 无法使底片得到满意的黑度。
在射线探伤时，常常要在胶片两侧贴加增感屏， 以增加胶片感光速度，减少透照时间。
射线源
工件 暗盒
被透照物质的原子序数和密度愈大，则对射线 的吸收也愈大，因此需选用较高的管电压。 X射线机发展的趋势是继续向小型化、轻型化 发展，以及随着微机应用的普及一般X射线机的 操纵箱采用微机控制。
3-2-2 象质计与几何不清晰度
(1) 灵敏度与象质计
射线照相灵敏度是指在射线透照的底片上所能 发现的工件中沿射线穿透方向上最小缺陷的尺寸， 称为绝对灵敏度。
(3)射线能量的选择
射线能量决定于管电压，管电压愈高则射线 能量愈大，探伤时穿透能力愈强。
射线能量不仅与被透照工件厚度有关，而且 与透照灵敏度有关。 在能够透过工件的前提下，尽量采用较低管 电压，以便提高底片灵敏度和射线照相质量。
缺陷部位与无缺陷部位的黑度差取决于胶片上 射线强度差，强度差取决于衰减系数，衰减系 数愈大则射线强度差愈大。
金属-陶瓷X射线管是X射线管制造上的一次重大 变革，这种管子结构简单，如图所示。
金属-陶瓷组件被熔接在金属管内以形成真空密 封，并且为阴极和阳极提供机械支承，起到两 极绝缘，提供高压电缆联接插座。这种射线管 的优点是尺寸小、重量轻、耐机械振动。
选择X射线机要考虑其透过力、可搬动性、焦点 尺寸、管电流大小、X射线束形状等。穿透能力 取决于X射线的能量或波长，管电压愈高则射线 透过能力愈强。
缺陷 增感屏 胶片
当X射线透照时增感屏产生荧光，除了射线直 接使胶片感光外，荧光又使胶片感光。
一般采用增感因子，来表示增感屏增感作用的 强弱，即 无增感屏时所需暴光时间
K 有增感屏时所需暴光时间
射线源
工件 暗盒
缺陷 增感屏 胶片
以往X射线照相采用荧光增感屏，荧光物质所 发荧光强度与所照射的射线强度成正比，可以增 加胶片的感光速度、缩短曝光时间。
3-2 X射线检测方法
X射线照相能够得到工件内部状况的二维图象， 但是由于几何关系二维投影像不可能完全真实地 反映工件内部真实的缺陷形状和大小。
这是由于焦点、焦距和缺陷位置等因素的影响， 有可能产生放大、畸变、重叠、半影等情况，必 须根据实际情况作出恰当的判断。
3-2-1 X射线机
X射线机按其结构形式大致可分为两大类：移 动式X射线机和携带式X射线机。 移动式X射线机的管电压可达420kV，携带式X 射线机的管电压一般可达300kV。 两者在结构上和应用上都有些不同。
微焦点X射线机，焦点尺寸0.01～0.1mm，最 小可达0.005mm，适用于检测半导体器件、集成 电路，陶瓷等内部结构和焊接质量。