[新版]6种检测方法.ppt

• 在建立方法时，按各品种项下的规定，精密称（量）取杂质对照品和 待测成分对照品各适量，配制测定杂质校正因子的溶液，进样，记录 色谱图，或根据线性检测结果计算。
A样/C样
f=
A杂/C杂
K样
或f=
K杂
计算杂质的校正因子。此校正因子可直接载入各品种项下，用于校正杂 质的实测峰面积。这些需作校正计算的杂质，通常以主成分为参照， 采用相对保留时间定位，其数值一并载入各品种项下。
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外标法
• 优点：
外标法方法相对内标法简便，不需用校正因子，不论样品中其他组分 是否出峰，均可对待测组分定量准确。对照品好找，用待测组分的纯 品作为对照品。
• 不足：
1、进样量必须准确。此法的准确性受进样重复性和实验条件稳定性 的影响。由于微量注射器不易精确控制进样量，当采用外标法测定供 试品中成分或杂质含量时，以定量环或自动进样器进样为好。
某化合物百分含量（%）=
峰面积 Σ峰面积
×100%
简单的说就是配制溶液，进样，按峰面积百分比法读取含量。 一般系统适应性主要考察分离度。（如：双乙酰阿昔洛韦。 D-NAP方法，P4）
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3
峰面积百分比法
优点：
快速、简单、无需考察系统重复性（进样量不严格）无 需对照品
缺点：
测定误差大，本法通常只能用于粗略考察供试品中的杂质含量。除 另有规定外，一般不宜用于微量杂质的检查。
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峰面积归一法
在建立方法时，按各品种项下的规定，精密称（量）取杂质对照品和 待测成分对照品各适量，配制测定杂质校正因子的溶液（一般为 100%限度加样溶液），进样，记录色谱图，按
式中：Ci—加样溶液中加入的杂质百分含量； Ai1—回收异丙醇中杂质的平均峰面积； Ai2—加样溶液中杂质的峰面积； Cs—加样溶液中主成份的百分含量； As—加样溶液中主成份的峰面积。
公式为：
Aim*C对
杂质含量（%）=
A对*C供试品
*f*100
式中：AIM 待测杂质峰面积；
C对 自身对照溶液中供试品浓度； A对 待测杂质峰面积； C供试品 供试品浓度； f 校正因子。
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不加校正因子的主成分自身对照 法
• 测定杂质含量时，若没有杂质对照品，也可采用不加校正因子的主成 分自身对照法。
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峰面积归一化法
优点：
快速、简单、无需考察系统重复性（进样量不严格）验 证时需对照品，之后无需对照品。
缺点：
同峰面积百分比法。误差较大， 但比百分比法准确。
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外标法
• 建立方法时，按各品种项下的规定，精密称（量）取对照品和供试品， 配制成溶液，分别精密取一定量，注入仪器，记录色谱图，测量对照 品溶液和供试品溶液中待测成分的峰面积（或峰高），按下式计算含 量：
• 含量（% ）=（CR/CX）(AX/AR)*100 • 式中CR——对照溶液中待测组分浓度；
CX——供试品溶液中待测组分浓度； AX ——供试品溶液中待测组分浓度； AR ——对照溶液待测组分峰面积。
系统适应性中需考察重复性。
基本原理：浓度和峰响应成线性。（如各产品项下含量方法，
CPG BSA杂质A、基因毒.性......杂... 质等）
2、仪器及人员精密度要求较高。需控制实验条件稳定性。
3、定期校正。
4、只能每个待测组分均需进其对照溶液。
但此外，为了降低外标一点法的实验误差，应尽量使配制的对照品溶液 的浓度与样品中组分的浓度相近。
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杂质பைடு நூலகம்查法
1、 加校正因子的主成分自身对照法 已知且有对照品杂质
2、不加校正因子的主成分自身对照法 未知或无对照品杂质
高效液相色谱六种定量方法原 理及使用条件
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六种定量方法
• 1、峰面积百分比法 • 2、峰面积归一法 • 3、外标法
加校正因子的主成分自身对照法
• 4、杂质检查法
不加校正因子的主成分自身对照法
• 5、内标法
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峰面积百分比法
• 按各品种项下的规定，配制供试品溶液，取一定量注入仪 器，记录色谱图。测量各峰的面积和色谱图上除溶剂峰以 外的总色谱峰面积，计算各峰面积占总峰面积的百分率。
3、供试品溶液的记录时间，除另有规定外，一般为主成分色谱峰保 留时间的2倍。
方法确定后不调节。
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加校正因子的主成分自身对照法
测定杂质含量时，进样自身对照溶液（自身对照溶液：供试品溶液稀释 至主成分浓度一般为杂质限度浓度）
测量供试品溶液色谱图上各杂质的峰面积，分别乘以相应的校正因子后 与对照溶液主成分的峰面积比较，依法计算各杂质含量。
计算杂质的校正因子。此校正因子可直接载入各品种项下，用于校正杂 质的实测峰面积。这些需作校正计算的杂质，通常定位或以主成分为 参照，采用相对保留时间定位，其数值一并载入各品种项下。
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峰面积归一法
按各品种项下的规定，配制供试品溶液，取一定量注入仪器，记录色谱 图。测量各峰的面积，加入校正因子计算各组分面积及总峰面积。计 算各组分折算后峰面积占总峰面积的百分比。
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加校正因子的主成分自身对照法
• 需系统适应性考察：
1、灵敏度考察：定量限最低要求在杂质一半限度以下。（可调节进 样浓度或进样量）
2、系统适应性考察：通常含量低于0.5%的杂质，峰面积的相对标准 偏差（RSD）应小于10%；含量在0.5%～2%的杂质，峰面积的 RSD应小于5%；含量大于2%的杂质，峰面积的RSD 应小于2%
已知杂质且有对照品的我们现在都加校正因子，未知杂 质按1.0计。 除另有规定外，校正因子大于等于1.0时，保留至小数点 后1位，反之，保留至小数点后两位；结果为0.80~1.2之 间，通常按1.0计，反之，杂质浓度计算时，应乘以测试 得到的校正因子。
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加校正因子的主成分自身对照法
公式如下：
峰面积×响应因子
某化合物百分含量（%）=
Σ峰面积×响应因子
×100%
比面积百分比法多了一步校正因子计算。如双乙酰阿昔洛韦。
若杂质含量较少，乘校正因子对总面积影响较小，可按结果×校正因子 报告。
若杂质含量较大或个数较多，乘校正因子对总面积影响较大，需按峰面 积乘校正因子重新计算总峰面积后再计算。（如：vcv 有关物质2等）