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AC and DC Power Source
Input Power Source
Including AC and DC sources for applying power to the UUT during test execution.
OVP Power Source
The DC Power Source for implementing Over Voltage / Under Voltage protection tests.
LEKE
®
系统架构
DC Source
AC Source
负载 负载 负载 负载 1 2 3 4
负载 N
EMU 601
OVP SOURCE
SPS
N: Max=12
LEKE
®
wk.baidu.com系统特性
测量准确度
测试速度
测试可靠性 及稳定性
输出电压量测采用了14-bit A/D转换器, 输出电压噪声的量测采用了8段低通滤波 器，进行差模放大方式来量测的。时序 量测采用了24-bit 计数器. 同步平行测试。比传统测试方法快约3倍 由MOSFET构成的电子负载，可以更真实 更快速更准确的模拟被测物的实际工作 状态(如负载电流大小、电流变化率、动 态负载状态等各种状态模拟 系统可测试1~12组输出的多种AC/DC、 DC\DC 电源产品； 可以通过系统中的6 组内建继电器和16 –bit的逻辑控制信 号及10组电压量测点与其它仪器设备连 接作业； 模块化的系统架构及图形界面；操作简 单；内建41测试参数。
LOAD X
Relay Matrix
Measurement Circuit
LEKE
®
传统的测试系统
测试速度慢
无法全面的模拟动态测试功能
继电器组切换容易产生不知名的干 扰信号。干扰正常的輸出信号的测 量。 因继电器组的延时，会造成时序量 测出现误差
LEKE
®
Chroma 6000 SMPS ATE
LEKE
®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
可测量短路时的短路电流 过压保护测试的保护点及保护时间 内建10组电压量测点，可分别量测被 测物内的任意点的直流电压及均方根 电压。 通过6组内建继电器和16 –bit的逻辑 控制信号，可与其它仪器设备连线作 业。
LEKE
®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
®
系统硬件组成
开关分析仪
Overshooting
UUT Output Voltage
Output disabled by OVP circuit
Active Load Sink Current
t
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Voltage
Output disabled by OVP circuit
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Voltage
Vs1
Vs2
Load 1
fall rate
Load Current
rise rate
Load 2 T2 t
T1
LEKE
®
系统硬件组成
扩展测量单元 - 601
可控制被测物输入交流电源的开机角度和关机 角度 可模拟各种复杂电源输入波形。 可模拟从 0.1mS 到 650mS瞬间电源输入波形 断电状态 可量测被测物输入之特性，包括浪涌电流、均 方根电流、电压、真实功率、功率因素等。
Active Load Sink Current
t
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Von
Rated Load
Rise Rate t
LEKE
®
系统硬件组成 开关分析仪
可模拟高速动态负载状态
可以根据被测物负载应用特性，仿真被 测物负载电流的实际状态。 负载电流范围：0～50A 负载电流变化率：0.0001 ～ 2.5A/us 负载电流变化时间：4us ～ 10mS
LEKE
®
Chroma 6000 测试系 统培训资料
制作：周正
LEKE
®
系统结构介绍 测试程序编写
LEKE
®
一，系统结构介绍
系统硬件介绍 测试参数介绍
LEKE
®
传统的测试系统
DC OUTPUT
LOAD 1 LOAD 2 LOAD 3
LOAD 4
AC INPUT
Switching Power Supply
LEKE
®
系统硬件
Dos Version PowerPro / Windows Version
Windows 95 Windows NT
LEKE
®
系统软件
测试参数
Complete Testing Capabilities for AC/DC Power Supplies and DC/DC Converters
可扩充性
其它
LEKE
®
系統硬件組成
开关电源分析仪
6000 SMPS ATE
扩展测量单元
- model 601
可程控交/直流源
OVP
可程控直流源
其它测试设备
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
可程控 电子负载
4 1/2 DMM
电流变化率 (2.5A/us) Von control 动态负载 (125KHz) Voltage : Vdc, dV Current : Idc Noise : Vpp, Vn
时序分析 系统控制 测试软件
8组时序定时器 外部/內部控制信号 CPU 控制 IEEE-488 通讯接口 标准打印机接口 完善标准的测试项目 全自动测试
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
可模拟被测物开机瞬间各种状态 如开机角度的控制，带载点的控制
负载电流变化的快慢
LEKE
被测物输入真实功率的量测
1 True Power = T
T
0
Vac(t) x Iac(t) dt
LEKE
®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
Input On/Off Phase Control & Inrush Current Measurement
Voltage
Current
t
LEKE
®
系统硬件组成
直流输出电压 DC Output Voltage 输出峰值噪声 Peak to Peak Noise 输出噪声有效值 RMS Noise 动态响应 Dynamic Response ( Max. 125KHz rate ) 输入调整率 Line Regulation 负载调整率 Load Regulation 交叉调整率 Cross Regulation
Input Power Source
Including AC and DC sources for applying power to the UUT during test execution.
OVP Power Source
The DC Power Source for implementing Over Voltage / Under Voltage protection tests.
LEKE
®
系统架构
DC Source
AC Source
负载 负载 负载 负载 1 2 3 4
负载 N
EMU 601
OVP SOURCE
SPS
N: Max=12
LEKE
®
wk.baidu.com系统特性
测量准确度
测试速度
测试可靠性 及稳定性
输出电压量测采用了14-bit A/D转换器, 输出电压噪声的量测采用了8段低通滤波 器，进行差模放大方式来量测的。时序 量测采用了24-bit 计数器. 同步平行测试。比传统测试方法快约3倍 由MOSFET构成的电子负载，可以更真实 更快速更准确的模拟被测物的实际工作 状态(如负载电流大小、电流变化率、动 态负载状态等各种状态模拟 系统可测试1~12组输出的多种AC/DC、 DC\DC 电源产品； 可以通过系统中的6 组内建继电器和16 –bit的逻辑控制信 号及10组电压量测点与其它仪器设备连 接作业； 模块化的系统架构及图形界面；操作简 单；内建41测试参数。
LOAD X
Relay Matrix
Measurement Circuit
LEKE
®
传统的测试系统
测试速度慢
无法全面的模拟动态测试功能
继电器组切换容易产生不知名的干 扰信号。干扰正常的輸出信号的测 量。 因继电器组的延时，会造成时序量 测出现误差
LEKE
®
Chroma 6000 SMPS ATE
LEKE
®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
可测量短路时的短路电流 过压保护测试的保护点及保护时间 内建10组电压量测点，可分别量测被 测物内的任意点的直流电压及均方根 电压。 通过6组内建继电器和16 –bit的逻辑 控制信号，可与其它仪器设备连线作 业。
LEKE
®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
®
系统硬件组成
开关分析仪
Overshooting
UUT Output Voltage
Output disabled by OVP circuit
Active Load Sink Current
t
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Voltage
Output disabled by OVP circuit
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Voltage
Vs1
Vs2
Load 1
fall rate
Load Current
rise rate
Load 2 T2 t
T1
LEKE
®
系统硬件组成
扩展测量单元 - 601
可控制被测物输入交流电源的开机角度和关机 角度 可模拟各种复杂电源输入波形。 可模拟从 0.1mS 到 650mS瞬间电源输入波形 断电状态 可量测被测物输入之特性，包括浪涌电流、均 方根电流、电压、真实功率、功率因素等。
Active Load Sink Current
t
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
UUT Output Von
Rated Load
Rise Rate t
LEKE
®
系统硬件组成 开关分析仪
可模拟高速动态负载状态
可以根据被测物负载应用特性，仿真被 测物负载电流的实际状态。 负载电流范围：0～50A 负载电流变化率：0.0001 ～ 2.5A/us 负载电流变化时间：4us ～ 10mS
LEKE
®
Chroma 6000 测试系 统培训资料
制作：周正
LEKE
®
系统结构介绍 测试程序编写
LEKE
®
一，系统结构介绍
系统硬件介绍 测试参数介绍
LEKE
®
传统的测试系统
DC OUTPUT
LOAD 1 LOAD 2 LOAD 3
LOAD 4
AC INPUT
Switching Power Supply
LEKE
®
系统硬件
Dos Version PowerPro / Windows Version
Windows 95 Windows NT
LEKE
®
系统软件
测试参数
Complete Testing Capabilities for AC/DC Power Supplies and DC/DC Converters
可扩充性
其它
LEKE
®
系統硬件組成
开关电源分析仪
6000 SMPS ATE
扩展测量单元
- model 601
可程控交/直流源
OVP
可程控直流源
其它测试设备
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
可程控 电子负载
4 1/2 DMM
电流变化率 (2.5A/us) Von control 动态负载 (125KHz) Voltage : Vdc, dV Current : Idc Noise : Vpp, Vn
时序分析 系统控制 测试软件
8组时序定时器 外部/內部控制信号 CPU 控制 IEEE-488 通讯接口 标准打印机接口 完善标准的测试项目 全自动测试
LEKE
®
系统硬件组成
开关分析仪
可模拟被测物开机瞬间各种状态 如开机角度的控制，带载点的控制
负载电流变化的快慢
LEKE
被测物输入真实功率的量测
1 True Power = T
T
0
Vac(t) x Iac(t) dt
LEKE
®
系统硬件组成 扩展测量单元 - 601
Input On/Off Phase Control & Inrush Current Measurement
Voltage
Current
t
LEKE
®
系统硬件组成
直流输出电压 DC Output Voltage 输出峰值噪声 Peak to Peak Noise 输出噪声有效值 RMS Noise 动态响应 Dynamic Response ( Max. 125KHz rate ) 输入调整率 Line Regulation 负载调整率 Load Regulation 交叉调整率 Cross Regulation