ICT基础知识

transformer)，我们一般都把它当成Jump来测。
二极管测试原理 三极管测试原理
测量原理：提供一个3mA或20mA的固定电流 及0V-10V可程序电压源(Programmable Voltage)直接加在二极管两端，并输入该 二极管正向导通所需电压来测试即可 。
CL：Current Limit
内阻而影响量测偏移，可放宽上限与下限范围； • 对于单一步骤测试很稳定，整页测试或全部测试会出现不良，可以在重
测字段键入“D”在测试前先放电。
方法一：用mode1:低一档固定电流源，防止D导通，限压 方法二：交换高低点 Mode 2 快速量测
Mode2 电压源为DC 0.2V，使D处于截至状态
L在DC源下为短路，故选择Mode 3/4/5 AC交流相位分离法
300mV, 10KHz
～
电容效应由Lead Frame耦合到Sensor Plate上， Sensor Plate接收此信号经滤波及放大后送给
Lead Frame与Sensor Plate之电容效应
系统作处理；若此测试脚焊接不良，信号将无 法传到Lead Frame，系统接收到的信号将趋近
于零。
A Cframe
衡量ICT的5大要素
* 测试覆盖率。 * 测试时间。 * 稳定性 * 故障定位 * 信息反馈
各品牌介绍(高端)
各品牌介绍(一般)
各品牌介绍(一般)
德律ICT介绍
压床
蜂巢板
针床（治具） 打印机
PC TR-518FE测试主机
硬件与测试原理
TR-518测试主机板卡介绍
17 16 15
4 3 21
于Vx及I已知，利用Vx=IR公式，即可得知被测两端之量测电阻值，系统把两测试 点间之阻抗值，对于不同MODE，分别显示如下：
量测值
R>55
25<R<55
R<25
R>5
Mode 0
4
3
1
Mode 1
4
Mode 2
R<5
R>10
R<10
1
4
1
注意点：在我们的ICT程式中，对一电感、保险丝、变压器（除inverter
电容debug
• 电容并联电阻、电感，选择mode5、6、7，且C一定时，f越高，效果越好； • 300pF以下之电容，一般使用较高频的信号做量测(Mode2、Mode3)； • 3uF以上电容，选用mode 4、8； • 小电容测试不稳定时，可以加延迟时间配合重测改善其稳定度； • 大电容(30μF以上)之重测次数以3次为限；如不稳定可以配合放电来改善。 • 如果测量值偏高，检查是否有电容、电感或小电阻并联；若有并联之零件，可更
电容测试原理 固定AC电压源模式（mode 0、1、2、3）
1：适用范围：单个电容 2：测试原理：由于V=Ic*Zc，而V及Ic已知， 故得知Zc=1/2π*f*c，又因f已知，故即可得知 电容C 。 注意点：电容越小，所需AC电压源的频率越 高。
相位测量模式（mode 5、6、7）
1：适用范围：电容并联电阻 2：测试原理：提供一个适当频率的AC电 压源并在被测组件两端测量出Iz，由于 V=Iz*Zrc，而V及Iz已知，故可得知Zrc， 又因Zc=Zrc*sinθ，而Zrc及sinθ已知， 故可得知Zc，又因Zc=1/2*π*f*c，而Zc及 f已知，故即可得知电容C值。
ICT能发现焊锡短路，PCB短路、断线等故障。 故障定位
测试不良时，测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、 网络点上，故障定位准确，同时不良报告可以通过打印机列印 出来，对故障的维修不需要许多专业的知识，方便维修人员对 不良PCB的故障处理。 报表分析 ICT测试系统能够生成日报表、期报表、分布表、分布图、不 良测试针排行榜、不良零件排行榜、IC空焊分布表等。
DC固定电流源模式（mode 4、8）
V V2 V1
T T1 T2
1：适用范围：单个3μF 以上的电容 2：测试原理：对于3μF以上的电容若使用 AC电压源模式，则需要较低的频率来测试， 从而增加ICT的测试时间，故可以利用电容 充电曲线的斜率的方式来得到电容的值。测 试方法为：提供一个固定的DC电流源，并在 T1时间测量电容两端的V1值，及T2时间测量 电容两端的V2值，由于： Slope=(V2-V1)/(T2-T1)=△V/△T，而V1、 V2及T1、T2已知，故得知Slope，又因 Slope*C=Constant，而Slope及Constant已 知，故即可得电容C值。
2. 以电压源当信号源输入时，则在相接组件二之 另一脚加上一等低电位能(Guarding Point)， 以防止与被测组件相接之组件所产生的电流流 入，而增加量测的电流，影响量测的精准性。 此时隔离点的选择必须以和被测组件低电位能 脚(Low-Pin)相接之旁路组件为参考范围。
开路短路测试原理
ICT提供一个直流电流源到两个量测点，以确认两个量测点之间的阻抗值。计算机会把 两测试针点之间的阻抗值分为四组:
AC电压源 ～ 0.3V, 10KHz
Cfault
A Cframe
AC电压源 ～ 0.3V, 10KHz
检测器
1:正常情况下，Cframe范围在140～200fF。
Cframe 等效电路 检测器
2:空焊情况下，Cframe小于30fF。
Cframe Cfault 等效电路
短路群
短路群：“将测试针点之间阻抗小于25Ω的点自动聚集成不同的短群。”
低一档电流源模式（mode 1）
1：适用范围：电阻并联二极管或IC保护二极管 2：测试原理：电阻两端测量电压值若超过0.5V ～0.7V左右时，此时二极管导通，该电阻两端电 压将被维持在0.5V至0.7V左右，固无法量测出真 正的Vr值 ，所以将电流源降低一级，使二极管 不导通，此时就测试原理就相当于mode 0。
理解： 1. 短路群内的点是从小到大的有序点； 2. 相邻两两之间阻抗小于25Ω； 3. 任意两点之间阻抗不得大于55Ω.
例:R1、R2、R3的阻抗分别为25Ω、25Ω、15Ω，1、4、6、10是针点号， 如果对该电路进行短路学习，那么请写出能学习到的短路群：
电阻debug
• 电阻并联电阻：标准值需改为并联后的阻值； • 电阻并联电容：选用mode 2快速测试模式，并加大delay时间； • 电阻并联二极管(D、IC、Q)：选用mode 1低一档电流源模式； • 电阻并联电感：使用交流电信号以相位分离法检测； • 10k以上的电阻：一般采用mode 2快速测试模式比较稳定； • 测试小电阻(小于10Ω)时，可能因测试针接触不良或排线(Flat Cable)的
飞针ICT基本只进行静态的测试，优点是不需制作夹 具，程序开发时间短。 针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能 测试，故障覆盖率高，但对每种单板需制作专用的针 床夹具，夹具制作和程序开发周期长。
ICT的功能
电子元件参数值测试 ICT能够定量的对电阻、电感、电容、二极管、三极管、
可控硅、场效应管、集成块等通用和特殊元器件的漏装、错装、 参数值超差进行精确的量测。 线路板开路及短路测试
快速测试模式（mode 2）
1：适用范围：电阻并联0.3μF 以上的电容 2：测试原理：提供一个0.2V DC电压源，当对 电容充电至Ic=0时，再测试流经电阻端的Ir，因 为V=IrR，而V及Ir已知，即可得知电阻R值 。
交流相位模式（mode 3、4、5）
1：适用范围：电阻并联电感 2：测试原理：若使用DC，则电感相当于导线， 将电阻短路。若使用适当频率的AC，可以测 试电阻和电感两端的电流Iz，由V=Iz*ZrL可得 ZrL，跟据相位领先与滞后的原理可得 R=ZrL*Cosθ。
阻抗值R 机器辨别值 屏幕显示值
Rቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ5Ω 0 1
5Ω＜R≦25Ω 1 1
25Ω＜R≦55Ω 2 3
R＞55Ω 3 4
在开路/短路学习时，会将测试针点之间阻抗小于25Ω的点自动聚集成不同的短路群 (Short Groups)。
开路测试(Open Test)时，在任一短路群(Short Group)中任何两点之阻抗不得大于55Ω， 否则即是开路测试不良(Open Fail)。
短路测试时，如果： 1.在短路群中任何一点与非短路群中任一点之阻抗小于5Ω。 2.不同短路群中任两点之阻抗小于5Ω。 3.非短路群中任两点之阻抗小于5Ω。 则为短路不良
电阻测试原理 固定电流源模式（mode 0）
1：适用范围：单个电阻 2：测试原理：根据欧姆定律，Vr=I*R，I为 ICT提供的固定电流源，为已知，电阻两端 的电压Vr可以由ICT测出，则R就可以算出。
ICT Training
Yunwu Mao
MSMT2
2010/05/20
基础知识
ICT（ In-Circuit Test）在线测试仪
是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来 检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。 它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、 短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确 等特点。
电感测试原理 固定AC电压源模式（mode 0、1、2、3）
1：适用范围：单个电感
2：测试原理：由于V=IL*ZL，而V及IL 已知，故得知ZL=2πfL，又因f已知， 故即可得知电感L值 。
注意点：电感越小，所需AC电压源的 频率越高
AC相位模式（mode 5、6、7）
1：适用范围：电感和电阻并联
Solder Joint
接点（Solder Joint）组成。
IC内部结构图
测试时，在IC上压一个感应片（Sensor
Sensor Probe
Plate），IC内部较粗的连接线和感应片之间
Sensor Plate 会有一个微小的电容效应，此时若在IC测试脚