实验三 集成运算放大器指标测试
运放参数测试
实验七集成运算放大器参数的测试一．实验目的1．了解集成运算放大器的主要参数。
2．通过实验，掌握集成运算放大器主要参数的测试方法。
二．预习要求1．复习集成运算放大器的技术指标，主要参数的定义及测试方法。
2．了解用示波器观察运算放大器传输特性的方法。
3．了解输入失调电压U IO和输入失调电流I IO产生的原因。
三．实验设备名称型号或规格数量示波器日立V—252 1直流稳压电源JWD—2 1函数信号发生器GFG－8020G（或8016G） 1晶体管毫伏表DA—16 1万用表YX—960TR或其它型号 1四．实验内容及测试方法反映集成运算放大器特性的参数主要有以下四大类：输入失调特性、开环特性、共模特性及输出瞬态特性。
1．集成运算放大器的传输特性及输出电压的动态范围的测试运算放大器输出电压的动态范围是指在不失真条件下所能达到的最大幅度。
为了测试方便，在一般情况下就用其输出电压的最大摆幅U op-p 当作运算放大器的最大动态范围。
输出电压动态范围的测试电路如图1(a）所示。
图中u i为100Hz正弦信号。
当接入负载R L后，逐渐加大输入信号u i的幅值，直至示波器上显示的输出电压波形为最大不失真波形为止，此时的输出电压的峰峰值U op-p就是运算放大器的最大摆幅。
若将u i输入到示波器的X轴，u o输入到示波器的Y轴，就可以利用示波器的X—Y显示，观察到运算放大器的传输特性，如图1 (b) 所示，并可测出U o p-p的大小。
R 1R f u o+15V27U OP-PR2 µA741 6 u o0 u i u i34-15V（a）运算放大器输出电压动态范围的测试电路（b）运算放大器的传输特性曲线图1（图中：R1 = R2 = 1.2kΩ，R f= 20kΩ）U op-p与负载电阻R L有关，对于不同的R L，U op-p也不同。
根据表1，改变负载电阻R L 的阻值，记下不同R L时的U op-p，并根据R L和U op-p，求出运算放大器输出电流的最大摆幅I op-p = U op-p /R L，填入表1中。
集成运算放大器的指标测试
大不失真输出电压。则转换速率为： SR | dvo | max 2 fVo(max) 。当输入正弦波 υs 的频率太高时，由于 dt
受转换速率的限制，将出现输出电压的变化跟不上输入电压的变化，从而引起输出正弦波形严重失真，甚
至使输出几乎成为三角波，而且幅度也将明显地减小。
三、主要仪器设备
实验箱、信号源、示波器、导线、LM358；
放大器的开环差模电压增益为： Aod Vo Vid Vid
Vo R2
。
R1 R2
5、Vo(max) 的测试如图5.4 所示，与Aod 的测试电路相同。实验时，只需改变υs 幅度，并观察υo 是 否开始出现削顶失真，从而确定运放在一定电源电压下的最大不失真输出电压幅度Vo(max)。
6、集成运放的共模抑制比是其差模电压放大倍数 Aod 与共模电压放大倍数 Aoc 之比的绝对值，即
向与输出信号对比，不断加大输入频率，记下输出从正弦波变至三角波时的临近频率。 在实验任务 3、4、6、7 时，输出端上需用示波器监视，被测运放始终工作在线性放大区内即不饱和，
且电路没有产生自激振荡。
五、实验数据记录和处理
1-3、万用表测得数据为
VO1
VO2
VO3
VO4
-0.218V -0.220V -0.221V -0.213V
电流 IIO，设 IBP 和 IBN 分别是运放同相输入端和反相输入端的输入电流，则输入失调电流 IIO=│IBP－IBN│。 集 成 运 放 IIO 一 般 在 100nA 以 下 。 测 得 运 放 的 输 出 电 压 VO2 ， 则 输 入 失 调 电 流 为 ：
IIO | VO2 VO1 | R1 1 。 R1 R2 Rb
了使输出电压回到零，需要在输入端加上反向补偿电压，该补偿电压称为输入失调电压 VIO。VIO 可能为 正，也可能为负。高质量运放的 VIO 一般在 1mV 以下。测出输出电压 VO1 的大小（实测值可能为正，也
运算放大器性能测试
运算放大器的指标测试一、实验目的1．加深对集成运算放大器特性和参数的理解。
2．学习集成运算放大器主要性能指标的测试方法。
二、实验内容1．测量输入失调电压V IO 。
2．测量输入失调电流I IO 。
3．测量输入偏置电流I IB 。
4．测量开环差模电压增益A od 。
5．测量最大不失真输出电压幅度V o(max)。
6．测量共模抑制比K CMR 。
7．测量转换速率SR 。
三、实验准备1．了解集成运放μA741的管脚排列。
2．查阅有关资料，找出集成运放μA741主要性能指标的典型数据。
3．理解V IO 、I Io 、A od 、K CMR 、V om 等指标的测试电路的工作原理，选定实验所需仪器，拟定实验步骤。
四、实验原理与说明集成运算放大器是一种高增益的直接耦合放大电路，在理想情况下，集成运放的A od =∞、R i =∞、V IO =0、I IO =0、K CMR =∞。
但是实际上并不存在理想的集成运算放大器。
为了解实际运放与理想运放的差别，以便正确使用集成运放大器，有必要研究其实际特性，并对其主要指标进行测试。
下面介绍的是运放主要指标的简易测试方法。
1．输入失调电压V IO 的测量在常温下，当输入信号为零时，集成运放的输出电压不为零，该输出电压称为输出失调电压。
为了使输出电压回到零，需要在输入端加上反向补偿电压，该补偿电压称为输入失调电压V IO 。
V IO 可能为正，也可能为负。
高质量运放的V IO 一般在1mV 以下。
V IO 的大小主要反映了运放内部差分输入级中两个三极管V BE 的失配程度。
当运放的输入外接电阻（包括信号源内阻）比较小时，失调电压及其温漂往往是引起运放误差的主要原因。
输入失调电压的测试电路如图9.19所示。
电路中R 1和R 3、R 2和R 4的参数应严格对称。
测出输出电压V O1的大小（实测值可能为正，也可能为负），则输入失调电压为：O1211IO V R R R V +=图9.19 V IO 测试电路 2．输入失调电流I IO 的测量在常温下，当输入信号为零时，集成运算放大器两个输入端的输入电流之间的差值称为输入失调电流I IO ，设I BP 和I BN 分别是运放同相输入端和反相输入端的输入电流，则输入失调电流I IO =│I BP －I BN │。
集成运算放大器参数的测试标准实验报告
电子科技大学微电子与固体电子学院标准实验报告课程名称集成电路原理与设计电子科技大学教务处制表电 子 科 技 大 学实 验 报 告学生姓名： 学 号： 指导教师： 实验地点：微固楼335 实验时间：一、实验室名称： 微电子技术实验室 二、实验项目名称：集成运算放大器参数的测试 三、实验学时：4 四、实验原理：运算放大器符号如图1所示，有两个输入端。
一个是反相输入端用“-”表示，另一个是同相输入端用“+”表示。
可以是单端输入，也可是双端输入。
若把输入信号接在“-”输入端，而“+”端接地，或通过电阻接地，则输出信号与输入信号反相，反之则同相。
若两个输入端同时输入信号电压为V - 和V + 时，其差动输入信号为V ID = V - - V + 。
开环输出电压V 0=A VO V ID 。
A VO 为开环电压放大倍数。
运算放大器在实际使用中，为了改善电路的性能，在输入端和输出端之间总是接有不同的反馈网络。
通常是接在输出端和反相输入端之间。
图1 运算放大器符号本实验的重点在于根据实验指导书要求，对开环电压增益、输入失调电压、共模抑制比、电压转换速率和脉冲响应时间等主要运放参数进行测量。
五、实验目的：运算放大器是一种直接耦合的高增益放大器，在外接不同反馈网络后，就可具有不同的运算功能。
运算放大器除了可对输入信号进行加、减、乘、除、微分、等数学运算外，还在自动控制、测量技术、仪器仪表等各个领域得到广泛应用。
为了更好地使用运算放大器，必须对它的各种参数有一个较为全面的了解。
运算放大器结构十分复杂，参数很多，测试方法各异，需要分别进行测量。
本实验正是基于如上的技术应用背景和《集成电路原理》课程设置及其特点而设置，目的在于：（1）了解集成电路测试的常用仪器仪表使用方法及注意事项。
（2）学习集成运算放大器主要参数的测试原理，掌握这些主要参数的测试方法。
通过该实验，使学生了解运算放大器测试结构和方法，加深感性认识，增强学生的实验与综合分析能力，进而为今后从事科研、开发工作打下良好基础。
实验三 集成运算放大器指标测试
四、实验仪器、设备与器件
1. 2. 3. 4. 5. 数字万用表；交流毫伏表； 电子实验仪；函数发生器； μA741集成运放 ； 电位计：1kΩ、10kΩ、100kΩ若干； 电阻：51Ω、100Ω、1kΩ、2kΩ、5.1 kΩ、10kΩ、 20kΩ、30kΩ、100kΩ、200kΩ、470kΩ若干； 6. 电容：1μF 、10μF 、33μF、100μF若干
KCMR dB 20 lg
U oc U ic
R2 U ic dB R1 U oc
Uic为100HZ，有效值1V的正弦交流信号UOPP的测量（扩展）
集成运放的动态范围与电源电压、外接负载及信号源频 率有关。 测量方法： 加入交流Ui，改变Ui幅度，观察Uo削顶失真开始时刻，从 而确定Uo的不失真范围，这就是运放在某电源电压下可能 输出的电压峰峰值Uopp。 （实物测量及仿真）
三、设计任务与要求
4.共模抑制比KCMR的测量
共模抑制比：差模电压增益Aud与共模电压增益Auc之比。 R U A K CMR ud 或 KCMR dB 20 lg 2 ic dB
Auc
R1 U oc
测量方法： 差模增益： Aud
R2 R1
共模增益： Auc 共模抑制比：
集成运放的失调：零输入时输出不为零的现象。 输入失调电压：输入信号为零时，输出端出现的电压折算 到同相输入端的数值。
U IO R1 U O1 R1 R f
测量方法： 闭合开关K1及K2，使 电阻R短接，测量此时 输出电压UO1即为 输出失调电压。
三、设计任务与要求
2.输入失调电流IIO的测量
三、设计任务与要求
3.开环电压放大倍数Aod的测量
集成运算放大器的参数测量
集成运算放大器的参数测量技术集成运放是直接耦合的多级放大器集成制作在一小块芯片上。
其管脚一般有八脚、十四脚等，其封装形式有金属圆壳和双列直插塑封两种形式，双列直插塑封式更为多见。
集成运放不是一个元件，而是一个放大器，其性能优劣和应用范围，也是用相应参数来表示的，这是我们选择和使用集成运放时的主要依据。
集成运放参数的测量方法，主要有搭电路测试和用专的模拟ＩＣ测试仪测量。
这里主要介绍搭电路测运放电路参数的方法。
一、输入失调电压Ｕos的测量一个理想的运算放大器的输人端无信号输入时，输出端的输出电压为零。
但实际上由于制作工艺等方面的原因，运算放大器在输入端无信号输入时，输出端的电压不为零，这相当于在理想运放器的输入端串有一个电压Ｕos ,使Ｕo≠0,Ｕos称为算放大器的失调电压。
即Ｕos是运算放大器内部引起输出电压不为零的因素，折算到输入端的电压，如图１.４—ｌ所示。
≠0图1.４—1失调电压图１.４一２Uos 的测量图１.4一３ＩOS的测量UOS的测试电路很多，这里只介绍其中之一。
电路如图１.4—２所示，运算放大器处于闭环状态，由于U+=U-，此电路可看成是同相放大器，因此ｋf ＝（Ｒ1+Ｒf）／Ｒ1(1.4－１)测试方法：运放不加调零电路，用万用表测出Ｕ。
则Ｕos =Ｕ／ｋf＝Ｒ1／（Ｒ1+Ｒ2）⨯Ｕ（１.４－２）图中Ｒ1=100Ω，Ｒ2=10ｋΩ,则Ｖos＝1／101⨯Ｕ0二、输人失调电流IOS的测量I OS 是指输人信号为零时，两个输入端静态基极电流I b1与 I b2之差。
即I OS ＝I b1－I b2 (1.4－３) 测量时可采取相应电路分别测出I b1和I b2 ，从而获得I OS 。
在这里只介绍一种直接测I OS 方法。
电路如图 １.4—３ 所示。
即在前面测U OS 基础上，在同相、反相端分别串入 Ｒ＝10ｋΩ电阻，用数字万用表（或万用表）测出此时输出电压U 0，则I OS ＝（U 02－U 01）／[]R R R )/1(12+ (1.4－４)其中U 01为上边测U OS 时的U 01。
(完整word版)《模电实验报告》集成运算放大器的基本运用
实验三集成运算放大器的基本运用班级:_计算机科学与技术五班姓名：学号: 520 日期：（2） 由于r i =∞，故流进运放两个输入端的电流可视为零,即I IB =0，称为“虚断”.这说明运放对其前级吸取电流极小.上述两个特性是分析理想运放应用电路的基本原则，可简化运放电路的计算。
基本运算电路1） 反相比例运算电路电路如图5-1所示.对于理想运放，该电路的输出电压与输入电压之间的关系为1o F R U U i R =-为了减少输入级偏置电流引起的运算误差，在同相输入端应接入平衡电阻21//F R R R =图5-1 反相比例运算电路 图5-2 反相加法运算电路2）反相加法电路电路如图5—2所示，输出电压与输入电压之间的关系为01212()F F i i R R U U U RR=-+312////FR RR R =3)同相比例运算电路图5-3（a)是同相比例运算电路，它的输出电压与输入电压之间的关系1(1)Fi R U U R=+ 21//FRR R =当1R →∞时，U U i =0，即得到如图5—3（b ）所示的电压跟随器。
图中21R R =用以减小漂移和起保护作用.一般F R 取10K Ω，F R 太小起不到保护作用，太大则影响跟随性.(a ）同比例运算电路 （b ）电压跟随器图5—3 同相比例运算电路4)差动放大电路（减法器)对于图5-4所示的减法运算电路，当12R R =，3F R R =时，有如下关系)(1210U U RR U i i F -=图5-4 减法运算电路 5—5 积分运算电路tt2、同相比例运算电路1）按图5—3(a)连接实验电路。
实验步骤同内容1，将结果记入表5-2。
2）将图5—3（a ）中的1R 断开，得图5-3（b)电路重复内容1）。
表5-2 i U =0.5V f=100Hz1U （V ） 0U （V ）i U 波形0U 波形v Att实测值计算值3、反相加法运算电路1)按图5-2连接实验电路。
04.集成运算放大器的指标测试
流量时信号输入用直接耦合（DC）。
2. 测量输入失调电流IIO
输入失调电流 IIO： 当输入信号为零
时，集成运放两个输
入端上的电流之差称
为输入失调电流IIO。 输入失调电流 IIO的影响：
IIO IBP IBN
输入失调电流的大小反映了运放内部差分输入级基
集成运算放大器的指标测试
一、实验目的
学习集成运放组件的输入失调电压（VIO）、输入 失调电流（IIO）、开环差模电压增益（Aod）、最大输 出幅度（Vopp）和共模抑制比（KCMR）等主要技术指标 的测试方法。
二、相关知识（工作电源）
-15V
0V +15V
二、相关知识（测量线）
信号输入
屏蔽线
同轴连接 器
极偏置电流的失配程度。当运算放大电路的输入外接电
阻比较大时，输入失调电流及其漂移往往是引起运放误
差的主要原因。
2. 测量输入失调电流IIO
1. 两个输入端上的电阻必须精确匹配。
2. R1和R2、R3和R4的参数应严格对称。 3. R1和R2也可以取100Ω，这时R3和R4取10kΩ。 4. VO1指失调电压测试电路中的输出电压。
IIO
IBP IBN
V02 V01
R1 1 RF R1 RB
R1 R3 51 51
R2
5.1K
Rb －
IBN
2K Rb
A
＋
2K
IBP
R4 5.1K
+VCC
+ -VCC VO2
-
3. 测量开环差模电压增益Aod
1. 若输入信号太大，则输出会出现失真。 2. 输入信号100Hz以下。 3. 输入应采用屏蔽线。 4. 示波器监视输出波形有无自激。若出现自激，需在RF两端并
实验三集成运算放大器的基本应用
实验三 集成运算放大器的基本应用—— 模拟运算电路一、实验目的1. 研究由集成运算放大器组成的比例、加法、减法和积分等基本运算电路的功能。
2. 了解运算放大器在实际应用时应考虑的一些问题。
二、实验仪器 1．双踪示波器 2．万用表3．交流毫伏表三、实验原理在线性应用方面，可组成比例、加法、减法、积分、微分、对数、指数等模拟运算电路。
1）反相比例运算电路电路如图11-1所示。
对于理想运放，该电路的输出电压与输入电压之间的关系为i FO U R R U 1-= （11-1）图11-1 反相比例运算电路为减小输入级偏置电流引起的运算误差，在同相输入端应接入平衡电阻R 2=R 1∥R F 。
2）反相加法电路图11-2 反相加法运算电路电路如图11-2所示，输出电压与输入电压之间的关系为)(2211i F i F O U R RU R R U +-= R 3=R 1∥R 2∥R F （11-2） 3）同相比例运算电路图11-3（a ）是同相比例运算电路，它的输出电压与输入电压之间的关系为i FO U R R U )1(1+= R 2=R 1∥R F （11-3） 当R1→∞时，U O =U i ，即得到如图11-3（b ）所示的电压跟随器。
图中R 2=R F ，用以减小漂移和起保护作用。
一般R F 取10K Ω，R F 太小起不到保护作用，太大则影响跟随性。
图11-3 同相比例运算电路4）差动放大电路(减法器)对于图11-4所示的减法运算电路，当R1=R2，R3=RF 时，有如下关系式：)(1120i i U U R RFU -=（11-4）图11-4 减法运算电路5）积分运算电路反相积分电路如图11-5所示。
在理想化条件下，输出电压U 0等于⎰+-=tCiUdt U RCt U 00)0(1)( （11-5）式中U C (0)是t=0时刻电容C 两端的电压值，即初始值。
图11-5 积分运算电路如果Ui(t)是幅值为E 的阶跃电压，并设UC(0)=0，则⎰-=-=tt RCEEdt RCt U 001)( （11-6） 此时显然RC 的数值越大，达到给定的U0值所需的时间就越长，改变R 或C 的值积分波形也不同。
集成运算放大器参数的测试---最后更正
集成运算放大器参数的测试一、实验目的1、进一步加深对运算放大器主要参数的理解及实际运放与理想运放的差异。
2、掌握运算放大器主要参数的测试方法。
二、知识点及涉及内容本实验知识点为集成运放的基本构成、理想运放的性能参数；涉及参数的测试方法。
三、实验仪器示波器、信号源、模拟电路实验箱、万用表。
四、实验原理集成运算放大器是由多级基本放大电路组成的高增益放大器，具有开环增益高、输入电阻大、输出电阻小的特点。
用理想化的条件进行分析，可使得各种运放功能电路的分析变得非常简便和实用，但在实际的应用中，由于运放的非理想特性会对电路产生影响，因此在实际应用中需要掌握集成运放的特性参数，进行合理的选择。
以下是对集成运放的主要特性参数的描述。
1、输入失调特性参数(1)输入偏置电流当输入电压为零时，流入集成运算放大器两个输入端的静态电流的平均值称为输入偏置自流，即。
(2)输入失调电压若输入电压为零，输出电压不为零，则需要在输入端加补偿电压，以使输出为零，这个补偿电压称为输入失调电压。
(3)输入失调电流当输入电压为零时，两个输入电流之差，称为输入失调电流，即。
输入失调电流是一个差值，它的大小与输入偏流有关，输入偏流越小，输入失调电流也就越低。
2、差模特性参数(1)开环差模电压增益是集成运放在开环情况下对差模信号的电压增益。
(2)差模输入电阻和输出电阻是集成运放两个差分输入端间对差模信号的等效动态电阻，是运算放大器开环工作时输出端对地的动态电阻。
(3)最大差模输入电压是运放两输入端之间所能承受的最大差模电压。
若超过此规定值，器件特性将变坏，甚至损坏器件。
(4)频带宽度和单位增益带宽。
和是表征运算放大器小信号频率特性的参数。
当开环差模增益因频率升高而下降时的频率，即为频带宽度。
当开环增益下降到O dB时所对应的频率称为单位增益带宽。
3、共模特性参数(1)共模抑制比是集成运算放大器开环差模电压增益与其共模电压增益之比值的对数值，B。
实验三、运算放大器参数测量与基本应用
实验三、运算放大器参数测量及基本应用一、实验目的1．认识运算放大器的基本特性，通过仿真和测试了解运放基本参数，理解参数的物理含义，学会根据实际需求选择运放；2．掌握由运放构成的基本电路和分析方法；3．熟悉仿真软件Multisim的使用，掌握基于软件的电路设计和仿真分析方法；4．熟悉便携式虚拟仿真实验平台，掌握利用其进行实验的使用方法。
二、实验预习1. 复习运放的理想化条件，了解集成运算放大器的主要技术指标和含义；2. 复习运放应用的各种基本电路结构；3. 熟悉运放LM358L(因multisim元器件库中没有LM358L，所以仿真用LM358J来做，而实际电路用LM358L，它们DIP封装引脚排列是一样的)的性能参数及管脚布局，管脚布局如图3.1所示，并根据图3.2所示的内部原理图理解电路结构和工作原理。
图3.1 LM358L管脚LM358J为单片集成的双运放，采用DIP-8封装，INPUT1(-)为第一个运放的反相端输入，INPUT1(+)为同相端输入，OUTPUT1为输出，第二个运放命名原则相同。
Vcc为正电源输入端，V EE/GND可以接地，也可以接负电压。
双电源（±1.5-±16V）。
图3.2 LM358J内部原理图LM358L主要由输入差分对放大器、单端放大器、推挽输出级以及偏置电路构成。
三、实验设备便携式虚拟仿真实验平台（PocketLab、元器件）。
四、实验内容（一）仿真实验1. 运放基本参数仿真测量(用LM358J 代替LM358L) （1） 电压传输特性根据图3.3所示电路，采用正负电源供电，运放反相端接地，同相端接直流电压源V 3，在-150μV~150μV 范围内扫描V 3电压，步进1μV ，得到运放输出电压（节点3）随输入电压V 3的变化曲线，即运放电压传输特性，根据仿真结果给出LM358J 线性工作区输入电压范围，根据线性区特性估算该运放的直流电压增益A vd 。
集成运算放大器的应用实验报告
集成运算放大器的应用实验报告集成运算放大器（Operational Amplifier，简称Op-Amp）是一种重要的电子器件，广泛应用于各个领域，包括电子通信、仪器仪表、控制系统等。
本文将介绍集成运算放大器的基本原理和应用实验报告。
一、集成运算放大器的基本原理集成运算放大器是一种高增益、差分输入、单端输出的电子放大器。
它由多个晶体管、电阻和电容器等器件组成，以实现放大、滤波、反相和非反相等功能。
集成运算放大器的输入阻抗高、输出阻抗低，具有较大的开环增益和较宽的频率响应范围。
集成运算放大器的基本原理是负反馈。
通过将输出信号与输入信号进行比较，并将差值放大反馈给输入端，从而实现对输入信号的放大和控制。
这种负反馈使得集成运算放大器具有稳定性、线性度高的特点。
二、集成运算放大器的应用实验报告为了深入了解集成运算放大器的应用，我们进行了一系列实验。
以下是其中几个实验的报告：实验一：非反相放大器我们首先搭建了一个非反相放大器电路。
该电路由一个集成运算放大器、两个电阻和一个输入信号源组成。
通过调节电阻的阻值，我们可以改变电路的放大倍数。
实验结果表明，当输入信号为正弦波时，输出信号也为正弦波，但幅值比输入信号大。
这验证了非反相放大器的放大功能。
实验二：反相放大器接下来，我们搭建了一个反相放大器电路。
该电路同样由一个集成运算放大器、两个电阻和一个输入信号源组成。
与非反相放大器不同的是，输入信号通过电阻接到集成运算放大器的反向输入端。
实验结果显示，输出信号与输入信号相比，幅值变大且相位相反。
这证明了反相放大器的放大和反相功能。
实验三：低通滤波器我们进一步设计了一个低通滤波器电路。
该电路由一个集成运算放大器、一个电容和一个电阻组成。
输入信号通过电容接到集成运算放大器的反向输入端，输出信号从集成运算放大器的输出端取出。
实验结果显示，该电路能够滤除高频信号，只保留低频信号。
这说明了低通滤波器的滤波功能。
实验四：积分器最后，我们设计了一个积分器电路。
集成运算放大器参数的测量
式中Uo辅助放大器输出端的电压。
三、输入失调电压IIO的测试
为使放大器输出电压为0所必须施加的输入差模电流称为输入失调电流IIO。
下面介绍测试方法：
一、开环电压增益AU的测试
测量AU时，K+，K-闭合，根据规定接入适当的RL，若测试条件规定负载为10kΩ时，RL可不接，负载即为RL＝10kΩ，负载确定后即可进行测试。
首先将K2置“1”，即接地，由于电路有深负反馈，两个运放的输入端均具有虚开和虚短特性，并考虑到R2和R3远小于A的输入阻抗，因而待测放大器的输出电压为0，记此时测得的辅助放大器的输出为Uo1，它反映在待测放大器的输入端电压为Ui1为
然后将K2置“2”，同理，待测放大器的输出电压为－ES，记此时测得的辅助放大器的输出为Uo2，它反映在待测放大器的输入端电压为Ui2为
在这两次测量中待测放大器输出端电压变化为ES，相应的输入端的电压变化为
所以待测放大器的开环电压增益AU为
二、输入失调电压UIO的测试
为了使放大器输出电压为0所必须施加的输入差模电压称为输入失调电压UIO，它是集成差分放大器对程度的标志，失调电压越小，通常输出电压的适度漂移也越小。
则
四、输入偏置电流IIB的测试
放大器输出电压为零时，它的两个输入端的偏置电流的平均值称为输入偏置电流IIB。
测量时，K1断开，K2置“1”，即接地，精确选取R+＝R-＝R，首先将K+闭合，K-断开，测得Uo1，再将K+断开，K-闭合，测得Uo2，由图可见
集成运算放大器的测试
集成运算放大器的测试1. 简介集成运算放大器（Integrated Circuit Operational Amplifier，简称IC Op-Amp）是一种基础电路模块，广泛应用于模拟电子电路中。
在实际电路设计中，对IC Op-Amp的测试是十分重要的，可以保障电路的正常运行和性能。
本文将介绍IC Op-Amp测试中的要点和方法。
2. 设备和工具在进行IC Op-Amp测试前，需要准备下列设备和工具：1.待测试IC Op-Amp2.可调直流电源3.双踪示波器4.函数信号发生器5.电阻箱6.多用万用表7.接线、夹子、连接线等3. DC参数测试在实际电路中，IC Op-Amp通常会处理各种不同幅值和频率的输入信号，因此对其进行DC参数测试就显得十分重要。
下面是DC参数测试的步骤：1.连接示波器和电源：将双踪示波器的通道1连接到待测试IC Op-Amp的输出端，通道2连接到输入端。
同时，将可调直流电源的正极连接到IC Op-Amp的VCC引脚，负极连接到VEE引脚。
2.测量输入偏移电压：将函数信号发生器的输出连接到ICOp-Amp的正输入端，输入为0V。
使用万用表测量IC Op-Amp的输出电压，并与0V比较。
得到的输出电压即为输入偏移电压。
如果偏移电压较大，会影响电路的稳定性。
3.调整输入偏移电压：使用电阻箱或仿真工具，调整引脚上的电压，直到输入偏移电压为0。
这一步是十分重要的，因为输入偏移电压为0时，IC Op-Amp的基准电平与输入信号相等，不会产生误差。
4.测量输入偏移电流：使用多用万用表测量IC Op-Amp的两个输入端之间的电流。
由于IC Op-Amp有一个高阻输入，因此输入偏移电流一般十分小，一般不会影响电路。
5.温度漂移测试：在常温和高温（如：100°C）两种情况下接通电源，然后测量输入偏移电压。
输入偏移电压的变化即为温度漂移。
温度漂移也会对电路的稳定性产生影响，应当予以注意。
电路实验报告集成运算放大器的指标测试
实验报告课程名称：电路与电子技术实验II 指导老师： 成绩：__________________实验名称：集成运算放大器的指标测试 实验类型：________________同组学生姓名：__________ 一、实验目的和要求（必填） 二、实验内容和原理（必填） 三、主要仪器设备（必填） 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析（必填） 七、讨论、心得一、 实验目的和要求1、加深对集成运算放大器特性和参数的理解。
2、学习集成运算放大器主要性能指标的测试方法。
二、实验内容1、测量 输入失调电压VIO 。
2、测量 输入失调电流IIO 。
3、测量 输入偏置电流IIB 。
4、测量 开环差模电压增益Aod 。
5、测量 最大不失真输出电压幅度Vo(max) 或峰峰值Vopp6、测量 共模抑制比KCMR 。
7、测量 转换速率SR 。
三、实验器材集成运算放大器LM358、电阻电容等元器件、MY61数字万用表、示波器。
四、操作方法和实验步骤1、测量 输入失调电压V IO在常温下，当输入信号为零时，集成运放的输出失调电压V OO 折合到输入端的数值，称为输入失调电压V IO 。
或者说，为了使输出电压回到零，需在输入端加上反向补偿电压，该补偿电压称为输入失调电压V IO 。
输入失调电压V IO 的影响：失调电压的大小主要反映了运放内部差分输入级元件的失配程度。
当运算放大电路的输入外接电阻（包括信号源内阻）比较低时，失调电压及其漂移往往是引起运放误差的主要原因。
专业：电子信息工程 姓名：学号： 日期： 地点：1. 零输入时零输出吗？将运放的二个输入端u I(+)、u I(-)均接0V，用示波器监视输出电压波形，并用示波器测量其直流电压（平均值、输出失调电压V OO）、有效值、峰峰值、频率。
2. 将运放的二个输入端均悬空用示波器监视输出电压波形，并用示波器测量其直流电压（平均值）、有效值、峰峰值、频率。
大学电子专业集成运算放大器指标测试
实验二十集成运算放大器指标测试一、实验目的（l）加深对集成运算放大器特性和参数的理解。
（2）学习集成运算放大器主要性能指标的测试方法。
三、实验仪器及设备（1）低频信号发生器1台（2）晶体管毫伏表1台（3）双踪示波器1台（4）双路稳压电源1台（5）数字式万用表l块（6）微型计算机系统1套二、实验原理集成运算放大器是一种高增益的直接耦合放大电路，在理想情况下，集成运放的A ud =∞、R i=∞、U OS=0、I OS=0、K CMR=∞。
但是实际上并不存在理想的集成运算放大器。
为了解实际运放与理想运放的差别，以便正确使用集成运算放大器，有必要研究其实际特性，并对其主要指标进行测试。
集成运放组件的各项指标通常是由专用仪器进行测试的，下面介绍的是运放主要指标的简易测试方法。
本实验采用的集成运放为双列直插式组件μA741（或LM741），引脚排列如图20－1示，②脚和③脚为反相和同相输入端，⑥脚为输出端，⑦脚和④脚为正、负电源端，①脚和⑤脚为失调调零端，①⑤脚之间可接入几十KΩ的电位器，滑动触头接到负电源端，⑧脚为空脚。
图20－1 μA741管脚图图20－2 U0S、I0S、I IB测试电路1．集成运放主要指标测试（1）输入失调电压U0S理想运放组件当输入信号为零时，其输出也为零。
但是即使是最优质的集成组件，由于运放内部差动输入级参数的不完全对称，输出电压往往不为零，这种零输入时输出不为零的现象称为集成运放的失调。
在常温下，当输入信号为零时，集成运放的输出电压不为零，该输出电压称为输出失调电压。
为了使输出电压回到零，需要在输入端加上反向补偿电压，该补偿电压称为输入失调电压U 0S 。
U 0S 的大小主要反映了运放内部差分输入级中两个三极管U BE 的失配程度。
当运放的输入外接电阻（包括信号源内阻）比较小时，失调电压及其温漂往往是引起运放误差的主要原因。
失调电压测试电路如图20－2所示。
闭合开关K 1及K 2，使电阻R B 短接，测量此时的输出电压U 01 即为输出失调电压，则输入失调电压O1F11OS U R R R U +=实际测出的U 0S 可能为正，也可能为负，一般在1～5mV ，对于高质量的运放U 0S 在1mV 以下。
集成运算放大器指标测试实训指导
集成运算放大器指标测试实训指导（特别提醒：实验电路图中可能存在有的元器件数值与实验电路板中的不相同，实验时应以实验电路板中的为准。
另外，由于元器件老化、湿度变化、温度变化等诸多因素的影响所致，实验电路板中所标的元器件数值也可能与元器件的实际数值不一致。
有的元器件虽然已经坏了，但仅凭肉眼看不出来。
因此，在每次实验前，应该先对元器件（尤其是电阻、电容、三极管）进行单个元件的测量（注意避免与其它元器件或人体串联或并联在一块测量）。
并记下元器件的实际数值。
否则，实验测得的数值与计算出的数值可能无法进行科学分析。
）一．实验目的1．掌握运算放大器主要指标的测试方法。
2．通过对运算放大器μA741指标的测试，了解集成运算放大组件的主要参数的定义和表示方法。
二．实验原理集成运算放大器是一种线性集成电路，和其它半导体器件一样，它是用一些性能指标来衡量其质量的优劣。
为了正确使用集成运放，就必须了解它的主要参数指标。
集成运放组件的各项指标通常是由专用仪器进行测试的，这里介绍的是一种简易测试方法。
本实验采用的集成运放型号为μA741，引脚排列如图7—1所示。
它是八脚双列直插式组件，②脚和③脚为反相和同相输入端，⑥脚为输出端，⑦脚和④脚为正，负电源端，①脚和⑤脚为失调调零端，①⑤脚之间可接入一只几十KΩ的电位器并将滑动触头接到负电源端。
⑧脚为空脚。
图7—1 图7—21．输入失调电压U OS理想运放输入信号为零时，其输出直流电压亦应为零。
但实际上，如无外界调零的措施，由于运放内部差动输入级参数的不完全对称，输出电压往往不为零。
这种零输入时输出不为零的现象称为集成运放的失调。
输入失调电压U OS是指输入信号为零时，输出端出现的电压折算到同相输入端的数值。
失调电压测试电路如图7—2所示。
闭合K 1及K 2，使电阻R B 短接，测量此时的输出电压U O1即为输出失调电压，则输入失调电压实际测出的U O1可能为正，也可能为负，高质量的运算U CS 一般在1mV 以下。
模电自主实验 - 集成运放参数的测试
姓名 班级 学号实验日期 节次 教师签字 成绩实验名称:集成运放参数测试1.实验目的1．通过对集成运算放大器uA741参数的测试，了解集成运算放大器的主要参数及意义 2．掌握运算放大器主要参数的简易测试方法。
2.总体设计方案或技术路线1．输入失调电压：理想运算放大器，当输入信号为零时其输出也为零。
但在真实的集成电路器件中，由于输入级的差动放大电路总会存在一些不对称的现象，使得输入为零时，输出不为零。
这种输入为零而输出不为零的现象称为失调，为讨论方便，人们将由于器件内部的不对称所造成的失调现象，看成是由于外部存在一个误差电压而造成，这个外部的误差电压叫做输入失调电压，记作U IO 。
输入失调电压在数值上等于输入为零时的输出电压除以运算放大器的开环电压放大倍数：udOOIO A U U =式中：U IO — 输入失调电压 U oo — 输入为零时的输出电压值A ud — 运算放大器的开环电压放大倍数本次实验采用的失调电压测试电路如图1所示。
测量此时的输出电压U O1即为输出失调电压，则输入失调电压1O F11IO U R R R U +=实际测出的U O1可能为正，也可能为负，高质量的运算放大器U IO 一般在1mV 以下。
测试中应注意： ① 将运放调零端开路；② 要求电阻R 1和R 2，R 3和R F 的阻值精确配对。
2．输入失调电流I IO当输入信号为的零时，运放两个输入端的输入偏置电流之差称为输入失调电流，记为I IO 。
21B B IO I I I -=式中：I B1，I B2分别是运算放大器两个输入端的输入偏置电流。
输入失调电流的大小反映了运放内部差动输入级的两个晶体管的失配度，由于I B1，I B2本身的数值已很小（uA 或nA 级），因此它们的差值通常不是直接测量的，测试电路如图2所示。
在图1基础上将输入电阻R B 接入两个输入端的输入电路中，由于R B 阻值较大，流经它们的输入电流的差异，将变成输入电压的差异，因此，也会影响输出电压的大小，因此，测出两个电阻R B 接入时的输出电压U O2，从中扣除输入失调电压U IO 的影响（即U O1），则输入失调电流I IO 为：BF 112O 1O 2B 1B IO R 1R R R U U I I I ⋅+⋅-=-= 一般，I IO 在100nA 以下。
(完整word版)《模电实验报告》集成运算放大器的基本运用
实验三集成运算放大器的基本运用班级:_计算机科学与技术五班姓名：学号: 520 日期：（2） 由于r i =∞，故流进运放两个输入端的电流可视为零,即I IB =0，称为“虚断”.这说明运放对其前级吸取电流极小.上述两个特性是分析理想运放应用电路的基本原则，可简化运放电路的计算。
基本运算电路1） 反相比例运算电路电路如图5-1所示.对于理想运放，该电路的输出电压与输入电压之间的关系为1o F R U U i R =-为了减少输入级偏置电流引起的运算误差，在同相输入端应接入平衡电阻21//F R R R =图5-1 反相比例运算电路 图5-2 反相加法运算电路2）反相加法电路电路如图5—2所示，输出电压与输入电压之间的关系为01212()F F i i R R U U U RR=-+312////FR RR R =3)同相比例运算电路图5-3（a)是同相比例运算电路，它的输出电压与输入电压之间的关系1(1)Fi R U U R=+ 21//FRR R =当1R →∞时，U U i =0，即得到如图5—3（b ）所示的电压跟随器。
图中21R R =用以减小漂移和起保护作用.一般F R 取10K Ω，F R 太小起不到保护作用，太大则影响跟随性.(a ）同比例运算电路 （b ）电压跟随器图5—3 同相比例运算电路4)差动放大电路（减法器)对于图5-4所示的减法运算电路，当12R R =，3F R R =时，有如下关系)(1210U U RR U i i F -=图5-4 减法运算电路 5—5 积分运算电路tt2、同相比例运算电路1）按图5—3(a)连接实验电路。
实验步骤同内容1，将结果记入表5-2。
2）将图5—3（a ）中的1R 断开，得图5-3（b)电路重复内容1）。
表5-2 i U =0.5V f=100Hz1U （V ） 0U （V ）i U 波形0U 波形v Att实测值计算值3、反相加法运算电路1)按图5-2连接实验电路。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
U oc U ic
R2 U ic dB R1 U oc
Uic为100HZ，有效值1V的正弦交流信号
三、设计任务与要求
5.输出电压最大动态范围UOPP的测量（扩展）
集成运放的动态范围与电源电压、外接负载及信号源频 率有关。 测量方法： 加入交流Ui，改变Ui幅度，观察Uo削顶失真开始时刻，从 而确定Uo的不失真范围，这就是运放在某电源电压下可能 输出的电压峰峰值Uopp。 （实物测量及仿真）
1 2 3 4 8 7 6 5
A741
二、实验原理
• 集成运算放大器是一种线性集成电路。用一 些性能指标来衡量其质量优劣。 • μA741的主要参数指标：
(1)输入失调电压UIO (2)输入失调电流IIO (3)开环电压放大倍数Aod (4)共模抑制比KCMR
三、设计任务与要求
1.输入失调电压UIO的测量
三、设计任务与要求
3.开环电压放大倍数Aod的测量
调零方法：
8 7 6 5
A741
1 2 3 4
调零：输入Ui =0,调Rw使Uo=0
三、设计任务与要求
3.开环电压放大倍数Aod的测量
开环电压放大倍数：运算放大器没有外部反馈时的直流差 模电压放大倍数。即运放输出电压UO与差模输入电压Ui之 比。 测量方法：
实验三 集成运算放大器指标测试 一、实验目的
1. 掌握运算放大器（运放）主要指标的测试 方法。 2. 通过对运算放大器μA741指标的测试，了 解集成运算放大器组件的主要参数的定义 和表示方法。
A741集成运放管脚介绍：
1.5 调零端 2. 反相输入端(-) 3. 同相输入端(+) 4. 脚负电源端(-15V) 6. 输出端 7. 脚正电源端(+15V)
四、实验仪器、设备与器件
1. 2. 3. 4. 5. 数字万用表；交流毫伏表； 电子实验仪；函数发生器； μA741集成运放 ； 电位计：1kΩ、10kΩ、100kΩ若干； 电阻：51Ω、100Ω、1kΩ、2kΩ、5.1 kΩ、10kΩ、 20kΩ、30kΩ、100kΩ、200kΩ、470kΩ若干； 6. 电容：1μF 、10μF 、33μF、100μF若干
集成运放的失调：零输入时输出不为零的现象。 输入失调电压：输入信号为零时，输出端出现的电压折算 到同相输入端的数值。
U IO R1 U O1 R1 R f
测量方法： 闭合开关K1及K2，使 电阻R短接，测量此时 输出电压UO1即为 输出失调电压。
三、设计任务与要求2.输入失调电 NhomakorabeaIIO的测量
五、实验报告要求
1. 写出实验的基本原理，画出各主要参数的测试电 路图。 2. 整理测量数据及计算结果。 3. 分析实验现象及可能采取的措施。
六、思考题
1. 测试失调电压时，观察电压表读数Uo是否始终是 一个定值？为什么？ 2. 若Uo≠0，如何利用失调调零端将它调至零？调零 的原理是什么？一旦将Uo调至零后，它是否不再 变化？为什么？
输入失调电流：输入信号为零时，运放的两个输入端的基 极偏置电流之差。
I IO I BI I B2
测量方法： 断开开关K1及K2，使电阻 R串接，用万用表测出该 电路的输出电压UO2。
U O 2 U O1 U O 2 U O1 R1 I IO R R1 R f Rf 1 R R1
三、设计任务与要求
4.共模抑制比KCMR的测量
共模抑制比：差模电压增益Aud与共模电压增益Auc之比。 R U A K CMR ud 或 KCMR dB 20 lg 2 ic dB
Auc
R1 U oc
测量方法： 差模增益： Aud
R2 R1
共模增益： Auc 共模抑制比：
Rf、R1、R2构成直流闭环，抑制输 出电压漂移。Rf、R构成交流闭环， US经R1、R2分压，使Ui足够小，保 证运放工作在线性区。R3与R2匹配， 减小偏置电流影响。 被测运放的开环放大倍数为：
Aod R1 R2 U O R2 U i
+ -
US为80HZ，有效值50mV的正弦交流信号