接触电阻测试
接触电阻测试原理
接触电阻测试原理接触电阻测试是一种常用的电气测试方法，用于测量电子元器件或电路中的接触电阻。
接触电阻是指两个接触电极之间的电阻，它是导电材料接触面间的电阻和接触电导间的电阻的总和。
接触电阻测试可以评估电子元器件或电路的接触质量和工作状态，进而判断其可靠性和性能。
接触电阻测试的原理主要基于欧姆定律和测量电压、电流的关系。
在测试过程中，通过施加一个稳定的电流或电压，测量电路中的电压或电流，从而计算出接触电阻的大小。
具体而言，接触电阻测试可以分为两种方法：电流法和电压法。
电流法是指在测试过程中，通过施加一个稳定的电流，测量电路中的电压降，并计算出接触电阻。
这种方法适用于对电流敏感的电子元器件或电路，如电阻器、电感器等。
在测试中，通过使用电流源产生一个恒定的电流，然后在待测试的电子元器件或电路上测量电压降，根据欧姆定律可计算出接触电阻的大小。
电压法是指在测试过程中，通过施加一个稳定的电压，测量电路中的电流，并计算出接触电阻。
这种方法适用于对电压敏感的电子元器件或电路，如二极管、晶体管等。
在测试中，通过使用电压源产生一个恒定的电压，然后在待测试的电子元器件或电路上测量电流，根据欧姆定律可计算出接触电阻的大小。
接触电阻测试的具体步骤包括：选择适当的测试方法（电流法或电压法）、设置测试参数（电流或电压大小）、连接测试仪器和待测试电子元器件或电路、进行测试并记录测试结果。
在测试过程中，需要注意保持测试环境的稳定性，避免外界因素对测试结果的影响。
接触电阻测试的应用非常广泛。
在电子制造业中，接触电阻测试是对电子元器件和电路进行质量控制和故障分析的重要手段。
在航空航天、通信、汽车等领域，接触电阻测试也被广泛应用于电子设备的性能测试和维修保养中。
通过接触电阻测试，可以及时发现和解决接触不良、接触烧蚀、接触疲劳等问题，保证电子设备的正常运行。
接触电阻测试是一种重要的电气测试方法，通过测量电压或电流，计算出接触电阻的大小，评估电子元器件或电路的接触质量和工作状态。
接触电阻测试方法
接触电阻测试方法接触电阻测试是电气工程中常见的一种测试方法，用于检测电路中接触点的电阻情况。
接触电阻是指接触电路中两个接触点之间的电阻，它直接影响着电路的性能和稳定性。
因此，正确的接触电阻测试方法对于确保电路的正常运行至关重要。
本文将介绍几种常见的接触电阻测试方法，希望能对您的工作和学习有所帮助。
首先，我们来介绍一种简单的接触电阻测试方法——使用万用表。
在进行接触电阻测试时，我们可以将万用表的两个测试笔分别接触到待测接触点的两端，然后读取万用表上显示的电阻数值。
这种方法简单直接，适用于一些简单的接触点测试。
然而，需要注意的是，使用万用表测试接触电阻时，要确保待测接触点处于断电状态，以免造成损坏或触电危险。
除了使用万用表外，我们还可以借助专用的接触电阻测试仪进行测试。
接触电阻测试仪是一种专门用于测试接触电阻的仪器，它通常具有更高的测试精度和更多的测试功能。
使用接触电阻测试仪进行测试时，我们需要按照仪器说明书的操作步骤进行，通常包括连接测试线、设置测试参数、进行测试等步骤。
这种方法适用于对接触电阻要求较高的场合，如电力系统、铁路信号系统等。
此外，还有一种常见的接触电阻测试方法是使用接触电阻测试夹具。
接触电阻测试夹具是一种便携式的测试工具，通常具有夹持力强、测试精度高等特点。
在使用接触电阻测试夹具进行测试时，我们只需将夹具夹持住待测接触点，然后进行测试即可。
这种方法适用于一些需要频繁测试接触电阻的场合，如生产线上的接触点测试等。
总的来说，接触电阻测试是电气工程中非常重要的一项测试工作，它直接关系到电路的性能和稳定性。
在进行接触电阻测试时，我们可以选择不同的测试方法，如使用万用表、接触电阻测试仪或接触电阻测试夹具等。
不同的测试方法适用于不同的场合，我们需要根据实际情况选择合适的测试方法进行测试。
希望本文介绍的接触电阻测试方法能对您有所帮助，谢谢阅读！。
接触电阻测试..
HF:电流激励高端 LF:电流激励低端 HS:电压取样高端 LS:电压取样低端
由于四线法测量接触电阻采用10mA/100mA的恒流源，故测量接触电阻的 实质是测量微动接触电压。
影响接触电阻的因素
接触形式
接触电阻的形式可分为三类：点接触、线接触和面接触。
接触形式对收缩电阻Rs的影响主要表现在接触点的数目上。一般情 况下，面接触的接触点数n最大而Rs最小；接触则n最小，Rs最 大；线 接触则介于两者之间。
影响接触电阻的因素
接触压力
接触压力F对收缩电阻Rs值和表面膜电阻Rb值的影响最大，F 的增加使接触点的有效接触面积增大，即接触点数ｎ增加，从而 使Rs减小。当加大F超过一定值时，可使触头表面的气体分子层 吸附膜减少到２～３个；当超过材料的屈服压强时，产生塑性变 形，表面膜被压碎出现裂缝，从而增加了接触面积，这就使收缩 电阻Rs因表面膜电阻Rf的减小而下降， Rs和Rf同时减小，从而 使接触电阻大大下降。相反，当接触不到位、接触触头失去了弹 性变形等原因使接触压力F下降时，接触面积减小，收缩电阻Rs 增大，表面膜电阻Rf受F的破坏作用减弱或不受其影响，从而使 表面膜电阻Rf增大。同时因Rf增大，使接触面积减小，从而使接 触电阻增大，二者的综合作用使接触电阻整体上升。
接触形式对膜电阻Rf的影响主要是看每一个接触点所承受的压力F。 一般情况下，在对触头外加压力F相同的情况下，点接触形式n最小，单 位面积承受压力F1最大，容易破坏表面膜，所以有可能使Rf减到最小； 反之，面接触的F1就最小，对Rf的破坏力最小，Rf值有可能最大。
表面越平滑的材料，其接触电阻变异就越小。
铜只要2-3分钟，镍约30分钟，铝仅需2-3秒钟，其表面便可形成厚度约2um的氧化膜层
接触电阻的测量实训报告
一、实习目的本次实习的主要目的是通过实际操作，掌握接触电阻的测量方法，了解接触电阻的基本原理，以及影响接触电阻的因素。
同时，通过本次实训，提高自己的动手能力和实验操作技能，培养严谨的科学态度和团队协作精神。
二、实习内容1. 接触电阻基本原理接触电阻是指两个不同金属接触时，由于电子在接触面上发生散射，从而产生的电阻。
接触电阻的大小取决于接触面积、接触压力、接触材料的种类、温度等因素。
2. 接触电阻测量方法（1）四线法测量接触电阻四线法是一种常用的测量接触电阻的方法，其原理是通过测量电流和电压，根据欧姆定律计算出接触电阻。
（2）两探针法测量接触电阻两探针法是一种简单的测量接触电阻的方法，通过测量电流和电压，根据欧姆定律计算出接触电阻。
3. 影响接触电阻的因素（1）接触面积：接触面积越大，接触电阻越小。
（2）接触压力：接触压力越大，接触电阻越小。
（3）接触材料的种类：不同材料的接触电阻不同，一般来说，银、金等贵金属的接触电阻较小。
（4）温度：温度越高，接触电阻越小。
三、实习过程1. 实验器材（1）电源：直流稳压电源（2）待测接触电阻：铜片、铝片（3）测试仪器：数字多用表、万用表、四线法测量电路2. 实验步骤（1）搭建四线法测量电路，将待测接触电阻接入电路中。
（2）使用数字多用表测量电流和电压，根据欧姆定律计算出接触电阻。
（3）改变接触面积、接触压力、接触材料的种类、温度等，观察接触电阻的变化。
3. 实验数据（1）接触面积为1cm²，接触压力为0.1N，接触材料为铜片，温度为25℃时，接触电阻为0.1Ω。
（2）接触面积为1cm²，接触压力为0.5N，接触材料为铝片，温度为25℃时，接触电阻为0.3Ω。
（3）接触面积为2cm²，接触压力为0.1N，接触材料为铜片，温度为50℃时，接触电阻为0.08Ω。
四、实习结果与分析1. 通过本次实训，我们掌握了接触电阻的测量方法，了解了接触电阻的基本原理。
接触电阻的多种测量方法
接触电阻的多种测量方法接触电阻就是电流流过闭合的接触点对时的电阻。
这类测量是在诸如连接器、继电器和开关等元件上进行的。
接触电阻一般非常小其范围在微欧姆到几个欧姆之间。
根据器件的类型和应用的情况，测量的方法可能会有所不同。
ASTM 的方法B539 测量电气连接的接触电阻和MIL-STD-1344 的方法3002 低信号电平接触电阻是通常用于测量接触电阻的两种方法。
通常，一些基本的原则都采用开尔文四线法进行接触电阻的测量。
测量方法图4-42 说明用来测试一个接点的接触电阻的基本配置。
使用具有四端测量能力的欧姆计，以避免在测量结果中计入引线电阻。
将电流源的端子接到该接点对的两端。
取样(Sense)端子则要连到距离该接点两端电压降最近的地方。
其目的是避免在测量结果中计入测试引线和体积电阻(bulk resistance)产生的电压降。
体积电阻就是假定该接点为一块具有相同几何尺寸的金属实体，而使其实际接触区域的电阻为零时，整个接点所具有的电阻，设计成只有两条引线的器件有的时候很难进行四线连接。
器件的形式决定如何对其进行连接。
一般，应当尽可能按照其正常使用的状态来进行测试。
在样品上放置电压探头时不应当使其对样品的机械连接产生影响。
例如，焊接探头可能会使接点发生不希望的变化。
然而，在某些情况下，焊接可能是不可避免的。
被测接点上的每个连接点都可能产生热电动势。
然而，这种热电动势可以用电流反向或偏置补偿的方法来补偿。
干电路(Dry Circuit)测试通常，测试接点电阻的目的是确定接触点氧化或其它表面薄膜积累是否增加了被测器件的电阻。
即使在极短的时间内器件两端的电压过高，也会破坏这种氧化层或薄膜，从而破坏测试的有效性。
击穿薄膜所需要的电压电平通常在30mV 到100mV 的范围内。
在测试时流过接点的电流过大也能使接触区域发生细微的物理变化。
电流产生的热量能够使接触点及其周围区域变软或熔解。
结果，接点面积增大并导致其电阻降低。
接触电阻测试方法
接触电阻测试方法接触电阻测试是一种常见的电气测试方法，用于检测接触电阻的大小，以确保电路的正常工作。
接触电阻是指电气连接器或接插件中的接触部分的电阻，它直接影响到电流的通畅和信号的传输。
因此，正确的接触电阻测试方法对于保障电路的可靠性和稳定性至关重要。
首先，进行接触电阻测试之前，需要准备好相应的测试仪器。
常用的接触电阻测试仪包括接触电阻测试仪、万用表、示波器等。
在选择测试仪器时，需要根据具体的测试要求和被测对象的特点来确定。
接下来，进行接触电阻测试时，需要注意以下几点：1. 清洁被测接触部分，在进行接触电阻测试之前，需要确保被测接触部分表面干净，没有氧化层或污垢，以保证测试结果的准确性。
2. 确定测试点，根据实际情况确定需要测试的接触部分，通常选择电气连接器的插座和插头之间的接触部分进行测试。
3. 连接测试仪器，根据测试仪器的要求，正确连接测试仪器到被测接触部分，确保连接良好，避免因连接不良导致测试结果不准确。
4. 进行测试，根据测试仪器的操作说明，进行接触电阻测试。
通常可以通过测试仪器显示的数值来判断接触电阻的大小，也可以通过示波器观察接触部分的波形来判断接触电阻的情况。
5. 分析测试结果，根据测试结果，分析接触电阻的大小是否符合要求，如果接触电阻过大，需要进一步检查接触部分的情况，找出问题并进行处理。
总结，接触电阻测试是一项重要的电气测试方法，正确的测试方法可以有效地保障电路的可靠性和稳定性。
在进行接触电阻测试时，需要注意清洁被测接触部分、确定测试点、正确连接测试仪器、进行测试并分析测试结果。
只有这样，才能确保接触电阻测试的准确性和可靠性，为电路的正常工作提供保障。
常用接触电阻的测试方法
常用接触电阻的测试方法
接触电阻的测试方法主要有以下几种：
电桥法：利用电桥平衡原理，通过调节电桥的电阻值，使得电桥两端电压为零，从而得到接触电阻的值。
这种方法适用于小电阻值的测量，具有测量精度高的优点。
电流法：利用一定大小的电流通过被测接触电阻，通过测量电压和电流值，计算出接触电阻的大小。
这种方法适用于大电阻值的测量，具有测量范围广的优点。
矩形传输线模型（TLM）：这是一种应用广泛的接触电阻率测量方法，通过实验方法来测量
出接触电阻后再求得接触电阻率。
兆欧表、万用表、数字式欧姆表及伏安法、电压比较法等：在测量精度要求不高时，常采用
这些方法来测量接触电阻。
请注意，每种方法都有其适用的范围和限制，在实际应用中应根据具体情况选择合适的方法。
同时，为了获得更精准的测量结果，应遵循相关注意事项，例如使指针指示值尽可能
落到刻度的中段位置等。
接触电阻测量方法
接触电阻测量方法接触电阻是指两个接触物体之间由于接触不良或者表面氧化等原因而产生的电阻。
在电子元器件、电路连接、电气设备等领域中，接触电阻的大小直接影响着电路的性能和设备的稳定性。
因此，准确测量接触电阻是非常重要的。
本文将介绍几种常用的接触电阻测量方法，希望能够帮助大家更好地理解和应用接触电阻测量技术。
1. 万用表测量法。
万用表是一种常用的电工测量仪器，可以用来测量电阻。
在接触电阻测量中，可以使用万用表的电阻档位来测量接触电阻。
具体操作方法是将万用表的两个测试笔分别接触被测接触物体的两端，然后读取万用表上的电阻数值。
需要注意的是，在测量接触电阻时，要确保测试笔与被测接触物体之间的接触良好，以保证测量结果的准确性。
2. 四线法测量法。
四线法是一种常用的精密电阻测量方法，适用于测量低阻值的接触电阻。
四线法的原理是通过两对测试线，一对用于加电流，另一对用于测量电压，从而消除了测试线电阻对测量结果的影响。
在实际测量中，可以使用专门的四线法测量仪器，按照仪器说明书上的操作步骤进行测量。
四线法测量精度高，适用于对接触电阻精度要求较高的场合。
3. 接触电阻测试仪测量法。
接触电阻测试仪是一种专门用于测量接触电阻的仪器，具有测量速度快、操作简便、精度高等特点。
在使用接触电阻测试仪进行测量时，只需要将测试仪的测试夹具夹住被测接触物体，然后按下测试按钮即可完成测量。
接触电阻测试仪通常还具有数据存储、打印输出、数据分析等功能，能够满足不同场合的测量需求。
4. 热敏电阻法测量法。
热敏电阻法是一种利用热效应来测量接触电阻的方法。
具体操作是将一定电流通过被测接触物体，使其产生热量，然后利用热敏电阻或红外线测温仪等设备测量接触物体的温度变化，从而计算出接触电阻。
热敏电阻法测量接触电阻的原理简单，但需要注意控制电流大小和测温精度，以确保测量结果的准确性。
5. 超声波法测量法。
超声波法是一种利用超声波在材料中传播的速度来测量接触电阻的方法。
接触阻抗测试方法
接触阻抗测试方法接触阻抗测试方法是用来测量电极与测试物质之间的接触质量的一种测试方法。
在许多领域中，如医疗设备、生物传感器、电化学分析等，接触阻抗是一个重要的参数，它可以影响到电流传输和信号传感的效果。
因此，准确地测试接触阻抗对于保证设备和传感器的性能至关重要。
接触阻抗测试方法可以采用多种技术，下面将介绍其中几种常见的方法。
1. 四电极法（Four-electrode method）四电极法是一种常用的接触阻抗测试方法。
该方法使用两对电极，一对电极用于施加电流，另一对电极用于测量电压。
通过测量电压和电流的关系，可以计算出接触阻抗的值。
四电极法的优点是能够准确测量接触阻抗，而不受电极电阻的影响。
2. 微分阻抗法（Differential impedance method）微分阻抗法是一种基于频率扫描的接触阻抗测试方法。
该方法通过施加不同频率的电流信号，并测量相应的电压响应，然后根据频率和相位差的变化来计算接触阻抗。
微分阻抗法的优点是可以快速测量大范围的接触阻抗，并且对于复杂的接触体系也适用。
3. 电化学阻抗谱法（Electrochemical impedance spectroscopy, EIS）电化学阻抗谱法是一种基于交流电信号的接触阻抗测试方法。
该方法通过施加交变电压或电流信号，并测量相应的电压和电流响应，然后利用频率和相位差的变化来计算接触阻抗。
电化学阻抗谱法的优点是可以准确测量接触阻抗，并且对于液体和固体接触体系都适用。
4. 接触电阻法（Contact resistance method）接触电阻法是一种简单直接的接触阻抗测试方法。
该方法通过测量电极之间的电压和电流来计算接触阻抗。
接触电阻法的优点是仪器简单易用，测试速度快，但对于高接触阻抗的测试物质可能不够准确。
以上介绍了几种常见的接触阻抗测试方法，每种方法都有其适用的场景和优缺点。
在选择测试方法时，需要根据具体的应用需求和测试对象的特性来进行选择。
接触电阻测试报告
接触电阻：R（AV）=R0-R1-R2 三、判定：
, R（AV）＜ 20， （单位： mΩ）
该水晶头 P88RE03MV2S 插拔前/后的接触电阻均小于 20 微欧姆电阻规范要求。 四、 测试机图片：
NO: 140218-02
水晶头 1PCS
样品型号 测试日期
P88RE03MV2S 铁质铁壳 2014-2-18
二、测试结果： （以下“/”前后分别为插拔前后的测试数据，字体颜色分别标注为黑色及蓝色）
线序 电阻 R0 R1 R2 R 1 白橙 2 橙 3 白绿 4 蓝 5 白蓝 6 绿 7 白棕 8 棕 AV
KH2521S 型接触电阻测试
五、测试过程图片：
格式版次：EQ2203-38
A0
审核： 方国龙
制作：吴奇华
65.3/64.9 84.0/83.8 128.7/128.7 48/48.8 41.3/41.9 120.0/120.4 65.0/66.0 78.8/77.9 6.3/6.1 56.7 2.3/2.1 6.8/5.7 75.2 2.0/3.2 6.0/6.1 120.6 3.1/2.0 6.0/6.1 39.9 2.1/2.8 6.3/5.9 33.8 1.2/2.2 5.4/6.1 112.4 3.2/1.9 6.6/5.3 59.2 0.7/1.5 7.3/5.9 70.0 1.5/2 1.762/2.175
将样品穿线后进行电阻测试值为r1将穿线后jack进行电阻测试值为r2将穿线后的样品插入穿线后的jack进行电阻测试值为r0
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接触电阻测试方法
接触电阻测试方法接触电阻测试是一种用于测量接点或连接器的电阻值的测试方法。
它通常用于确保连接器或接点的连接质量符合设计要求，并且能够正常工作。
接触电阻测试方法可以有效地检测接点及连接器的质量，避免因为连接不良导致的故障，是电气连接器制造和维护过程中必不可少的一项测试。
接触电阻测试方法一般通过使用电流源和电压测量仪器来完成。
以下是一般的接触电阻测试方法步骤：1. 设定测试电流：首先，需要确定测试电流的大小。
测试电流的大小应该能够保证准确地测量出接触电阻，但又不能太大以致于损坏被测连接器或接点。
通常，测试电流的大小在毫安级别。
2. 连接测试夹具：将被测连接器或接点与测试夹具连接起来，确保连接牢固可靠，并且不会引起额外的干扰。
3. 测量接触电压：在施加测试电流的情况下，使用电压测量仪器来测量连接器或接点的接触电压。
接触电压是由于接触电阻产生的电压降。
通过测量电压和已知的电流值，可以计算出接触电阻的大小。
4. 分析测试结果：根据测量的电压和电流值，计算出接触电阻的大小。
接触电阻的大小应该在设计要求的范围内。
接触电阻测试方法在电子制造和电气设备维护中应用广泛。
它可以用于测试插座、插头、开关、断路器、继电器、传感器等电接点件，确保它们符合设计要求，并能够正常工作。
接触电阻测试还可以用于评估连接器的寿命和稳定性，对产品的可靠性和持久性进行评估。
在电子制造过程中，接触电阻测试通常作为产品质量控制的一部分。
通过对连接器和接点进行接触电阻测试，可以确保产品品质良好，提高产品的可靠性和稳定性。
同时，通过对接触电阻测试结果的分析，可以监测产品的生产工艺，及时发现生产线上的问题，并进行改进，保证产品质量和一致性。
在设备维护和故障排除过程中，接触电阻测试可以用于快速定位故障点。
当设备出现电气连接问题时，通过对连接器和接点进行接触电阻测试，可以确定故障在哪里，从而快速进行修复和恢复设备正常工作。
接触电阻测试的正确性对于电子产品的性能和可靠性具有至关重要的作用。
tlm接触电阻测试原理
tlm接触电阻测试原理
TLM（Transmission Line Method）接触电阻测试原理是一种用
于测量电子器件（如晶体管、集成电路等）接触电阻的方法。
该方
法利用传输线理论，通过测量器件引脚上的电压和电流来计算接触
电阻。
首先，TLM测试需要在测试样品上制备一系列具有已知间距的
电极，这些电极通常采用金属或者其他导电材料制成。
然后，通过
这些电极施加电压或电流，并测量在各个电极之间的电压和电流值。
根据这些测量值，可以利用传输线理论中的电阻计算公式来计算出
接触电阻的数值。
在TLM测试中，需要考虑电极之间的电场分布、电流密度分布
以及电阻分布等因素。
通过分析这些因素，可以更准确地计算出接
触电阻的数值。
此外，TLM测试还可以通过改变电极间距、形状和
材料等参数，来研究接触电阻与这些参数之间的关系，从而优化器
件的设计和制备工艺。
总的来说，TLM接触电阻测试原理是利用传输线理论和电阻计
算公式，通过测量器件引脚上的电压和电流来计算接触电阻的一种
方法。
通过对电极间的电场、电流密度和电阻分布等因素的分析，可以更准确地获得接触电阻的数值，并为器件的设计和制备工艺提供参考和优化方向。
接触电阻测试
接触电阻形成原理
在显微镜下观察连接器接触件的表面，尽管镀金层十分光滑， 则仍能观察到5-10微米的凸起部分。会看到插合的一对接触件的 接触，并不整个接触面的接触，而是散布在接触面上一些点的接 触。实际接触面必然小于理论接触面。根据表面光滑程度及接触 压力大小，两者差距有的可达几千倍。 实际接触面可分为两部分： 一.真正金属与金属直接接触部分。即金属间无过渡电阻的接 触微点，亦称接触斑点，它是由接触压力或热作用破坏界面膜后 形成的。此部分约占实际接触面积的5-10%。 二.通过接触界面污染薄膜后相互接触的部分。因为任何金属 都有返回 原氧化物状态 的倾向。
由于四线法测量接触电阻采用10mA/100mA的恒流源，故测量接触电阻的 的恒流源， 由于四线法测量接触电阻采用 的恒流源 实质是测量微动接触电压。 实质是测量微动接触电压。
影响接触电阻的因素
接触形式
接触电阻的形式可分为三类：点接触、线接触和面接触。
接触形式对收缩电阻Rs的影响主要表现在接触点的数目上。一般情 况下，面接触的接触点数n最大而Rs最小；接触则n最小，Rs最 大；线 接触则介于两者之间。 接触形式对膜电阻Rf的影响主要是看每一个接触点所承受的压力F。 一般情况下，在对触头外加压力F相同的情况下，点接触形式n最小，单 位面积承受压力F1最大，容易破坏表面膜，所以有可能使Rf减到最小； 反之，面接触的F1就最小，对Rf的破坏力最小，Rf值有可能最大。
低电平接触电阻检验
考虑到接触件膜层在高接触压力下会发生机械击穿或在高电压、 大电流下会发生电击穿。对某些小体积的连接器设计的接触压力相当 小，使用场合仅为mV或mA级，膜层电阻不易被击穿，可能影响电信 号的传输。故军标GJB1217-91电连接器试验方法中规定了两种试验方 法。即低电平接触电阻试验方法和接触电阻试验方法。其中低电平接 触电阻试验目的是评定接触件在加上不能改变物理的接触表面或不改 变可能存在的不导电氧化簿膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。 所加开路试验电压不超过20mV，而试验电流应限制在100mA，在这 一电平下的性能足以满足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。 而接触电阻试验目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接 触件与测量规之间的电阻，而此规定电流要比前者大得多，通常规定 为1A
接触电阻试验标准
拟制
林如龙
接触电阻试验标准
审核
批准
文件编号
版本
1.0
制定日期
页码
共1页,第1页
1．0目的：了解线路的连接质量和其导电特性，避免使触点产生危险的过热现象。
2．0使用设备：接触电阻计。
3．0定义：接触电阻的定义是接触表面两边的电位差与通过接触表面的电流比值，
符合欧姆定律。
4．0测试方法：
4．1用仪器所附的专用的测试线和测试钳，连接好仪器及试品，所有接点必须牢靠，不应有松动现象。。
4．2检查确认无误后合上电源开关。
4．3调节“电流调节”旋钮，使电流升至100.0A，按下“复位/测试”键，此时电阻表显示值为所测回路电阻值。若显示1，则表示所测回路电阻值超量程；如果测量电流不是100.0A，例如为Io，电阻表显示为Ro，则实际电阻值为R=100×(Ro÷Io)μΩ。
7．0定期校验和相关记录：
7．1本仪器的校验周期：每年送外校准一次。
7．2相关的记录要予以保留。44测量完毕，断开电源。5．0测试标准：
5．1用300V绝缘电阻表进行测试。
5．2所测产品的接触电阻应该小于1Ω。
5．3试验产品需在5PCS以上。
6．0试验说明
6．1接触电阻试验合格不等于接触可靠。试验证明仅用检测静态接触电阻是否合格，
并不能保证动态坏境下使用接触可靠。
6．2接触电阻主要受接触材料，表面状态等因素影响。
接触电阻测试仪的测量是怎样的
接触电阻测试仪的测量是怎样的接触电阻测试仪是用于测试电路中接触电阻的一种仪器。
接触电阻是指电路中接触面或接头所引起的电阻。
由于接触电阻会影响电路的性能，因此需要对接触电阻进行测试，以保证电路的正常工作。
本文将详细介绍接触电阻测试仪的测量方法和注意事项。
测量方法接触电阻测试仪的测量方法通常分为二线法和四线法。
二线法二线法又称为单端法，是接触电阻测试仪的基本测量方法。
该方法在电路中断开一端，测试另一端的接触电阻。
具体测量步骤如下：1.将测试仪插入电路中待测端口。
2.按下测试按钮，测试仪将向待测端口注入一定电流。
3.读取测试仪显示的待测端口的电阻值。
需要注意的是，二线法存在一些误差，因为在电路中的线路电阻和测试仪自身的内阻也会被计算在内，影响测试结果的准确性。
四线法四线法是一种比较准确的接触电阻测试方法，可以有效地消除线路电阻和测试仪内阻的影响。
该方法的测量步骤如下：1.将测试仪的四个线缆依次连接到被测电路的四个端口上。
2.按下测试按钮，测试仪将向待测电路注入一定电流。
3.读取测试仪显示的待测端口的电阻值。
四线法的测量精度比二线法更高，但相对来说使用起来也更加复杂。
注意事项在使用接触电阻测试仪进行测试时，需要注意以下几点：1.测试前需保证电路处于安全状态，断电、卸载或者退出电池。
2.在进行四线法测试时，线缆的连接要保持稳定，避免线路电阻和测试仪内阻的干扰。
3.测试前要对仪器进行校准，以保证测量结果的准确性。
4.测试时应选择合适的量程，以免测量结果超出仪器的范围。
5.测试完毕后，要将测试仪还原到初始状态，避免影响下一次测试结果。
结论接触电阻测试仪是一种可靠的测量工具，经过正确的操作和使用，可以有效地测试电路中的接触电阻。
在测量过程中，需要注意微小的误差和干扰，以确保测试结果的准确性。
接触电阻测试仪测试方法
接触电阻测试仪测试方法1. 仪器介绍接触电阻测试仪是一种用于测试电气接触点的质量和可靠性的测试仪器，它通过测试接触点的电阻值来判断接触点是否正常。
测试仪常常用于电气设备的维护和安全测试中，可测试各种类型的接触点，包括插头、继电器、开关等。
接触电阻测试仪由主机、测量夹、电源和附件组成。
其中测量夹是一种夹具，用于固定测试对象和测试仪之间的连接。
2. 测试原理接触电阻测试仪是通过在接触点上施加电流，再通过测试电压的方式来测量接触点的电阻值。
测试中通常需要施加一定的载流量，以确保测试结果的准确性。
3. 测试前的准备工作测试前需要先对测试仪进行检查和校准，确保测试仪的各项指标符合要求。
同时也需要对测试对象进行检查，确保测试对象没有损坏或者已经失效。
4. 测试步骤(1) 首先将测试仪主机和测试对象之间的连接线连接好，并将测试夹固定到测试对象的接触点上。
(2) 打开测试仪电源，并设置好测试仪的参数，如电流大小和测试时间等。
(3) 施加测试电流，并开始进行测试。
测试通常需要几秒钟到几分钟不等。
测试过程中需要注意监测测试仪的指示灯，确保测试结果的准确性。
(4) 测试结束后，关闭测试仪电源，并将测试结果记录下来。
5. 测试结果的分析测试结果的分析需要结合具体的测试对象和测试参数进行。
一般来说，如果测试结果显示接触点的电阻值较低，那么可以判断接触点的质量较好；反之，如果测试结果显示接触点的电阻值较高，那么可以判断接触点存在一定的质量问题。
6. 注意事项(1) 测试前需要对测试对象进行检查和清洁，保证测试结果的准确性。
(2) 在测试过程中需要注意测试仪的指示灯，确保测试结果的准确性。
(3) 测试后需要将测试仪清洁和校准，准备下一次测试。
接触电阻测试解析
接触电阻测试方法及说明
1、假设银胶的内阻为0Ω。
2、假设银胶与ITO的接触电阻为0Ω。
3、四点探针（方阻测试仪）测试范围为长20mmX宽10mm。
ITO
4、首先使用四点探针测试大于其测试范围的方阻值。
5、银胶的印刷面积为长10mmX宽10mm。
AG
6、印刷图案的总面积为长40mmX宽10mm，测试两银胶间的回路电阻值。
7、利用计算面积的方式去对比。
8、ITO的面积等于20mmX10mm=200mm。
9、单边整个银胶的面积等于10mmX10mm=100mm。
10、AG+ITO的面积等于40mmX10mm=400mm。
11、总的面积的一半也就等于ITO的面积400mm÷2=200mm。
12、在假设1和2的情况下，总的回路阻值的一半也就等于四点探针的测试方阻值。
（总面积÷2=ITO的面积）≈（总回路电阻÷2=ITO的回路电阻）。
13、但此处是包括了银胶内阻和ITO的接触电阻的电阻值。
14、这样就可以对比出实际的回路电阻和计算出的回路电阻的差异，也就是银胶的内阻
和ITO的接触电阻的值了。
计算的ITO回路电阻减四点探针测试的回路电阻值。
接触电阻测量方法
接触电阻测量方法1、接触电阻测量方法？【答案】除用毫欧计外,也可用伏-安计法，安培-电位计法。
在连接微弱信号电路中，设定的测试数条件对接触电阻检测结果有一定影响。
因为接触表面会附有氧化层，油污或其他污染物，两接触件表面会产生膜层电阻。
由于膜层为不良导体，随膜层厚度增加，接触电阻会迅速增大。
膜层在高的接触压力下会机械击穿，或在高电压、大电流下会发生电击穿。
但对某些小型连接器设计的接触压力很小，工作电流电压仅为mA和mV级，膜层电阻不易被击穿，接触电阻增大可能影响电信号的传输。
在GB5095“电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法”中的接触电阻测试方法之一，“接触电阻-毫伏法”规定，为防止接触件上膜层被击穿，测试回路交流或直流的开路峰值电压应不大于20mV，交流或直流的测试中电流应不大于100mA。
在GJB1217“电连接器试验方法”中规定有“低电平接触电阻”和“接触电阻”两种试验方法。
其中低电平接触电阻试验方法基本内容与上述GB5095中的接触电阻-毫伏法相同。
目的是评定接触件在加上不改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化薄膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。
所加开路试验电压不超过20mV，试验电流应限制在100mA。
在这一电平下的性能足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。
而接触电阻试验方法目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测量规之间的电阻。
通常采用这一试验方法施加的规定电流要比前一种试验方法大得多。
如军标GJB101“小圆形快速分离耐环境电连接器总规范”中规定；测量时电流为1A，接触对串联后，测量每对接触对的电压降，取其平均值换算成接触电阻值。
金属双极板接触电阻国标测试
金属双极板接触电阻国标测试
金属双极板的接触电阻国标测试是指通过一定的实验方法测试金属双极板之间的接触电阻是否符合国家标准。
该测试旨在保证金属双极板之间良好的接触，以确保电流正常地流动。
测试中，常用的方法是使用电阻测量仪器，如万用表或电阻测试仪，在一定的试验条件下，将测试电极接触到金属双极板的两个接触点上，然后测量两个接触点之间的电阻值。
国家标准通常会规定测试的具体条件，如测试温度、测试时间、电流大小等。
根据国家标准的要求，将测试得到的接触电阻值与标准值进行比较，如果测试值符合标准范围内的要求，则金属双极板的接触电阻可以认为合格；反之，则不合格需要进行修理或更换。
接触电阻的测试是金属双极板质量控制中的重要环节，通过该测试可以及时发现金属双极板之间的接触问题，并采取相应的措施，以确保设备的正常运行。
隔离开关接触电阻测量方法比较
隔离开关接触电阻测量方法比较隔离开关接触电阻测量方法比较隔离开关接触电阻的测量方法有几种，下面我将逐步介绍这些方法并进行比较。
第一种方法是使用万用表进行测量。
首先，将隔离开关的电源关闭并断开输入和输出电缆。
然后，将万用表的测量模式选择为电阻测量，并将测量引针连接到隔离开关的输入和输出端。
接下来，记录下所测得的电阻值，并将其与隔离开关的规格进行比较，以确定接触电阻是否在正常范围内。
第二种方法是使用专用测试仪器进行测量。
这种方法需要使用特定的测试仪器，例如接触电阻测试仪。
首先，将测试仪器连接到隔离开关的输入和输出端。
然后，按照测试仪器的操作说明进行操作，开始测量接触电阻。
测试仪器将会自动进行测量，并显示出测得的接触电阻值。
这种方法通常比手动使用万用表更精确和方便。
在比较这两种方法时，可以考虑以下几个因素：1. 精确度：使用专用测试仪器进行测量可以提供更准确的结果，因为这些仪器使用了更先进的测量技术和算法。
相比之下，手动使用万用表可能会受到人为误差的影响。
2. 方便性：手动使用万用表进行测量相对来说比较简单和便捷，因为万用表通常是一种常见的工具，容易获得并操作。
而使用专用测试仪器则需要额外的设备和学习操作方法。
3. 效率：使用专用测试仪器进行测量可以更快速地完成测量过程，因为仪器可以自动进行测量并显示结果。
手动使用万用表则需要更多的时间和努力。
综上所述，根据精确度、方便性和效率等因素综合考虑，使用专用测试仪器进行隔离开关接触电阻测量是更好的选择。
然而，在没有测试仪器的情况下，手动使用万用表仍然是一种可行的方法，只需注意减少人为误差的影响。
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接触电阻测试原理
接触电阻的测量一般都采用开尔文四线法原理。开尔文四线法连接 有两个要求：对于每个测试点都有一条激励线F和一条检测线S，二者严 格分开，各自构成独立回路；同时要求S线必须接到一个有极高输入阻抗 的测试回路上，使流过检测线S的电流极小，近似为零。
HF:电流激励高端 LF:电流激励低端 HS:电压取样高端 LS:电压取样低端
铜只要2-3分钟，镍约 分钟 铝仅需2-3秒钟 其表面便可形成厚度约2um的氧化膜层 分钟， 秒钟， 铜只要 分钟，镍约30分钟，铝仅需 秒钟，其表面便可形成厚度约 分钟 的氧化膜层
接触电阻的组成
接触电阻一般由收缩电阻、表面膜电阻和导体电阻组成 接触电阻一般由收缩电阻、表面膜电阻和导体电阻组成.
收缩电阻 是电流在流经电接触区域时，从原来截面较大的导体 突然 转入截面很小的接触点，电流发生剧烈收缩现象（或集中现象），此 现象所呈现的附加电阻称为收缩电或集中电阻。 表面膜电阻:由于接触表面氧化膜层及其他污染物所构成的电阻称为 表面膜电阻 膜层电阻或界面电阻。 导体电阻: 导体电阻 实际测量电连接器接触件的接触电阻时，都是在接点引出 端进行的，故实际测得的接触电阻还包含接触表面以外接触件和引出 导线本身的导体电阻。导体电阻主要取决于金属材料本身的导电性能， 它与周围环境温度的关系可用温度系数来表征。
影响接触电阻的因素
材料性质
构成电接触的金属材料的性质，直接影响接触电阻的大小，比 如：电阻率ρ、材料的硬度、材料的化学性质、材料的金属化合物 的机械强度等。以我国普遍使用的铜为例，铜有良好的导电和导热 性能，其强度和硬度都比较高，熔点也较高，易于加工。因此铜线 接头在接触良好的情况下，温度低于无接头部位的温度；但在高温 下，其在大气或变压器油中也能氧化，生成Cu2O，其导电性很差， 氧化膜厚度随着时间和温度的增加而不断地增加，接触电阻也成倍 地增加，有时甚至使用闭合电路出现断路现象。
由于四线法测量接触电阻采用10mA/100mA的恒流源，故测量接触电阻的 的恒流源， 由于四线法测量接触电阻采用 的恒流源 实质是测量微动接触电压。 实质是测量微动接触电压。
影响接触电阻的因素
接触形式
接触电阻的形式可分为三类：点接触、线接触和面接触。
接触形式对收缩电阻Rs的影响主要表现在接触点的数目上。一般情 况下，面接触的接触点数n最大而Rs最小；接触则n最小，Rs最 大；线 接触则介于两者之间。 接触形式对膜电阻Rf的影响主要是看每一个接触点所承受的压力F。 一般情况下，在对触头外加压力F相同的情况下，点接触形式n最小，单 位面积承受压力F1最大，容易破坏表面膜，所以有可能使Rf减到最小； 反之，面接触的F1就最小，对Rf的破坏力最小，Rf值有可能最大。
低电平接触电阻检验
考虑到接触件膜层在高接触压力下会发生机械击穿或在高电压、 大电流下会发生电击穿。对某些小体积的连接器设计的接触压力相当 小，使用场合仅为mV或mA级，膜层电阻不易被击穿，可能影响电信 号的传输。故军标GJB1217-91电连接器试验方法中规定了两种试验方 法。即低电平接触电阻试验方法和接触电阻试验方法。其中低电平接 触电阻试验目的是评定接触件在加上不能改变物理的接触表面或不改 变可能存在的不导电氧化簿膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。 所加开路试验电压不超过20mV，而试验电流应限制在100mA，在这 一电平下的性能足以满足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。 而接触电阻试验目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接 触件与测量规之间的电阻，而此规定电流要比前者大得多，通常规定 为1A
影响接触电阻的因素
接触表面的光洁度
接触表面的光洁度对接触电阻有一定的影响，这主要表现 在接触点数ｎ的不同。接触表面可以是粗加工、精加工，甚至 是采用机械或电化学抛光。不同的加工形式直接影响接触点数 ｎ的多少，并最终影响接触电阻的大小。
影响接触电阻的因素
接触电阻在长期工作中的稳定性
电阻接触在长期工作中要受到腐蚀作用： 化学腐蚀。电接触的长期允许温度一般都很低，虽然接触面的 金属不与周围介质接触，但周围介质中的氧会从接触点周围逐渐侵 入，并与金属起化学作用，形成金属氧化物，从而使实际接触面积 减小，使接触电阻增加，接触点温度上升。温度越高，氧分子的活 动力越强，可以更深地侵入到金属内部，这种腐蚀作用变得更为严 重。 电化学腐蚀。不同的金属构成电接触时，能够发生这种腐蚀。它 使负极金属溶解到电解液中，造成负电极金属的腐蚀。
使用电压和电流
使用电压达到一定阈值，会使接触件膜层被击穿，而使接触 电阻迅速下降。但由于热效应加速了膜层附近区域的化学反应， 对膜层有一定的修复作用。于是阻值呈现非线性。在阈值电压附 近，电压降的微小波动会引起电流可能二十倍或几十倍范围内变 化，使接触电阻发生很大变化 。 当电流超过一定值时，接触件界面微小点处通电后产生的焦 耳热作用而使金属软化或熔化，会对集中电阻产生影响，随之降 低接触电阻。
物体电阻的产生: 在电场作用下， 物体电阻的产生 在电场作用下，物体内部电子的振动与原子内其他 物质的振动相互碰撞引起的,而接触点由于是两种物质的接触， 物质的振动相互碰撞引起的 而接触点由于是两种物质的接触，自然会 而接触点由于是两种物质的接触 有更多的杂质和其他物质，这样接触电阻就会产生 有更多的杂质和其他物质，这样接触电阻就会产生.
接触电阻的Байду номын сангаас用
接触电阻检验合格不等于接触可靠
在许多实际使用场合，汽车、摩托车、火车、动力机械、自动化 仪器以及航空、航天、船舶等军用连接器，往往都是在动态振动环境 下使用。实验证明仅用检验静态接触电阻是否合格，并不能保证动态 环境下使用接触可靠。往往接触电阻合格的连接器在进行振动、冲击、 离心等模拟环境试验时仍出现瞬间断电现象。故对一些高可靠性要求 的连接器，许多设计员都提出最好能对其进行动态振动试验来考核接 触可靠性。
接触电阻形成原理
在显微镜下观察连接器接触件的表面，尽管镀金层十分光滑， 则仍能观察到5-10微米的凸起部分。会看到插合的一对接触件的 接触，并不整个接触面的接触，而是散布在接触面上一些点的接 触。实际接触面必然小于理论接触面。根据表面光滑程度及接触 压力大小，两者差距有的可达几千倍。 实际接触面可分为两部分： 一.真正金属与金属直接接触部分。即金属间无过渡电阻的接 触微点，亦称接触斑点，它是由接触压力或热作用破坏界面膜后 形成的。此部分约占实际接触面积的5-10%。 二.通过接触界面污染薄膜后相互接触的部分。因为任何金属 都有返回 原氧化物状态 的倾向。
接触电阻测试
实验室
April 12th.2012
接触电阻的定义
何为接触电阻？ 何为接触电阻？ 接触电阻就是电流流过闭合的接触点对时的电阻. 接触电阻就是电流流过闭合的接触点对时的电阻 适用产品: 连接器、继电器线束、开关等元件. 适用产品 连接器、继电器线束、开关等元件
接触电阻的产生？ 接触电阻的产生？
表面越平滑的材料，其接触电阻变异就越小。 表面越平滑的材料，其接触电阻变异就越小。
影响接触电阻的因素
接触压力
接触压力F对收缩电阻Rs值和表面膜电阻Rb值的影响最大，F 的增加使接触点的有效接触面积增大，即接触点数ｎ增加，从而 使Rs减小。当加大F超过一定值时，可使触头表面的气体分子层 吸附膜减少到２～３个；当超过材料的屈服压强时，产生塑性变 形，表面膜被压碎出现裂缝，从而增加了接触面积，这就使收缩 电阻Rs因表面膜电阻Rf的减小而下降， Rs和Rf同时减小，从而 使接触电阻大大下降。相反，当接触不到位、接触触头失去了弹 性变形等原因使接触压力F下降时，接触面积减小，收缩电阻Rs 增大，表面膜电阻Rf受F的破坏作用减弱或不受其影响，从而使 表面膜电阻Rf增大。同时因Rf增大，使接触面积减小，从而使接 触电阻增大，二者的综合作用使接触电阻整体上升。
为便于区分，将收缩电阻加上表面膜电阻称为真实接触电阻 真实接触电阻。 真实接触电阻 而将实际测得包含有导体电阻的称为总接触电阻 总接触电阻。 总接触电阻
R= Rs+ Rf + Rp,式中：Rs—收缩电阻；Rf—膜层电阻；Rp—导体电阻。 式中： 收缩电阻； 膜层电阻； 导体电阻。 式中 收缩电阻 膜层电阻 导体电阻
因此铜不适合于做非频繁操作电器的触头材料，对于频繁操作的接触器， 电流大于150A时，氧化膜在开闭时产生电弧的高温作用下分解，可采用铜 触头。从整体减小接触电阻的角度看，可在铜上镀银或锡，后两者的优点 是电阻率及材料的布氏硬度值小，氧化膜机械强度很低， 因此铜件上采取此措施可减小接触电阻 。
影响接触电阻的因素
影响接触电阻的因素
触点有四种工作状态，即：闭合状态、断开过程、断开状态、闭合过程。
在理想情况下，触点闭合时其接触电阻为零；触点断开时接触电阻为无穷 大；在闭合过程中接触电阻瞬时由无穷大变为零；断开过程中接触电阻瞬 时由零变为无穷大。但实际上，在闭 合状态时耦合触点间有接触电阻存 在，若接触电阻太大，就可能导致被控电路电压降过大或不通；在断开状 态时要求触点间有一定的绝缘电阻，若绝缘电阻不足就可能导致击穿放电， 致使被控电路导通；在闭合过程中有触点弹跳现象，可能破坏触点的可靠 闭合；在断开过程中可能产生电弧破坏触点可靠断开。
影响接触电阻的因素
温度
当接触点温度升高时，金属的电阻率就会有所增大，但材料 的硬度有所降低，从而使接触点的有效面积增大。前者使收缩 电阻Rs增大，后者使Rs减小，结果是两者互为补偿，故接触电 阻变化甚微。但是，发热使接触面上生成氧化层薄膜，增加了 接触电阻，这种接触电阻可成百成千倍地增大。其氧化速度与 触头表面温度有关，当发热温度超过某一临界温度时，这个过 程就会加速进行，这就限制了接触面的极限允许温度。否则， 则将使接触电阻剧增，会引起恶性循环。另外，当发热温度超 过一定值时，弹簧接触部分的弹性元件会被退火，使压力降低， 也会使接触电阻增加，恶性循环加剧，最后会导致连接状态遭 到破坏 。