光耦检验
如何检测光耦的好坏
如何检测光耦的好坏
光耦有四脚的，六脚的，八脚的。
在发现产品故障的时候，我们如何判别光耦的好坏呢？下面我对此作了一下实验。
其中电路如下：
【我的试验1：】
在1，2两脚穿接一个LED灯并连上低压电源。
在另一端量测电阻值，有值。
断开电源后无穷大则代表光耦是好的。
否则是坏的。
【我的试验2：】
用两个万用表测量阻值，先在1，2脚一段测量并且不松开表笔，有阻值则红表笔接的是光耦1脚（二极管正极），阻值998欧。
此时再用另一万用表测量3，4脚，有值则4脚接的是红表笔。
阻值为278欧。
则光耦是好的。
【另外】
光耦的原理是在输入端导通时，内部产生强光给内部三极管（可以想象为NPN型三极管）使之导通。
注意输出端要有上拉电压才能保证信号传输。
NEC是单向传递的。
在双向传输电路中我们得注意分析信号传输方向，确保光耦安装准确。
8脚光耦原理图如下：
6脚光耦和和68脚光耦类似，只是去掉和8脚光耦光耦1脚和8脚。
使用6脚光耦代替8脚光耦时把6脚光耦1脚当2脚用，其他脚类推加一。
光耦的好坏
用两个万用表,一个数字的一个指针的,指针的用电阻的*10档,数字的用二极管档.原理我不说了,大家自己想吧.用两个手拿两对表笔同时在路测(这个比较难,光耦拆下来更难,不过也是可以测出的),当指针表测上1,2时数字表显示0.116(大概范围),指针表离开时数字表马上变为1,这个光耦是好的,否则是坏的.
我一般都是只测1,2的正反阻值来大概判断,你这样比较可靠
简单的说，光耦是由光电二极管和光敏三极管密封而成。（有的光敏三极管的基极未引出）
当光电二极管加正向偏置电压（等于或大于开启电压）时，发出光信号，光敏三极管接受到光信号就导通
方法：用数字万用表的PN结测量端，红表笔“电池+极”接光耦的“1”端，黑表笔“电池-极”接光耦的“2”端（即使光耦的发光二极管正向导通），用另一电表测量“3”“4”端电阻，断开或接通输入端（发光二极管端），输出端电阻应有大幅度变化，说明改光耦是好的。另发光二极管端万用表可用电池串限流电阻代替。
希望各位发果光耦损坏，一定要用线性光耦代换。
光藕检验标准与规范
A类不合格：严重缺点（CRI） AQL：0
B类不合格：主要缺点（MAJ） AQL：0.65
C类不合格：次要缺点（MIN） AQL：1.0
3.常规项目检验标准及检验方法 表一
检验项目
抽样水平
检验方法
检验标准
不良描述
不良判定
检验工具
CR
MA
MI
外观
外包装
全数包装
目视全数外包装
5.检验环境
5.1在本标准中，除气候环境试验和可靠性试验外，其他试验均在下述正常大气条件下进行:
温度：10～35℃
相对湿度：35％～75％
大气压力：86～106kPB
5.2在本标准中,所有目视检验均在40W灯管下1.0米处，1.0以上视力距材料15cm检查10S.
6.相关表格
《进料检验报表》
《进料品质异常单》
√
直流电源 电流表
输入与输出端耐压测试
1-2PCS
把高压仪的两端引线分别夹到光耦输入输出端，然后跟据测试条件给光耦测试耐压
与规格书资料要求测试项目符合
与要求不符
√
高压测试仪
输入与输出端绝缘电阻测试
1-2PCS
把绝缘电阻仪的两端引线分别夹到光耦输入输出端，根据条件测试绝缘电阻
与规格书资料要求测试项目符合
与要求不符
√
绝缘电阻测试仪
XXXX股份有限公司
文件编号
版 次
原材料检验标准与规范
修 订 码
生效日期
2016-5-23
原材料名称：光耦
页 码
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续上表一：
检验项目
抽样水平
检验方法
检验标准
光电耦合器的三种检测方法
光电耦合器的三种检测方法
光电耦合器又称光耦合器或光耦，它属于较新型的电子产品，现在它广泛应用于计算机、音视频各种控制电路中。
由于光耦内部的发光二极管和光敏三极管只是把电路前后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间没有电气连接，因此能有效隔断电路间的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。
光电耦合器的检测：
判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。
更可靠的检测方法是以下三种。
1. 比较法
拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
2. 数字万用表检测法
下面以PC111 光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路如图1 所示。
检测时将光耦内接二极管的+端{1}脚和-端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe 的c、e 插孔内，此时数字万用表应置于NPN 挡;然后将光耦内接光电三极管c 极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e 极{4}脚接红表笔，并将指针式万用
表拨在R 乘以1k 挡。
这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。
指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低;若表针不动，则说明光耦已损坏。
3. 光电效应判断法
仍以PC111 光耦合器的检测为例，检测电路如图2 所示。
将万用表置于R 乘以1k 电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚;然后用一节1.5V 的电。
判断光耦的好坏的方法
判断光耦的好坏的方法什么是光耦光耦，又称光隔离器，是一种半导体元器件。
它包括一个发光二极管和一个光敏三极管，在两者之间，通过透明壳体的光路进行电光转换。
光耦常被用于隔离输入和输出，有很好的隔离效果。
光耦的工作原理当外界电压施加到光耦的输入端（发光二极管侧）时，发光二极管里的晶体管被激活，辐射出光线，从而照亮光耦的另一端（光敏三极管侧），光敏三极管转换光信号为电信号。
因为光路隔离，光耦电路的输入和输出之间不存在直接电路连接，达到了隔离效果。
如何判断光耦的好坏1. 使用万用表使用万用表可以简单地测试光耦的正常工作情况。
首先，将万用表调到测量欧姆值的量程，同时将光耦的控制端和反控制端分别连接到万用表的正和负极。
此时，如果光耦没有故障，万用表的数值应该在几百欧左右。
如果数值过小，可能是发光二极管或光敏三极管其中之一损坏了。
2. 观察输出信号将光耦的输入端接到直流电源或者电子信号源，同时用示波器或其他测试设备观察光耦输出端口的信号变化。
正常情况下，当输入电压达到光耦的截止电压时，输出端口会产生电压或电流的变化。
如果没有任何变化，可能是光耦本身有故障。
3. 检查芯片表面检查光耦芯片表面是否有明显的损坏或裂痕。
如果有，说明该光耦已经报废，需要更换新的元器件。
光耦故障的可能原因1. 灯管损坏光耦的灯管（发光二极管）是一个常见的损坏原因，由于灯管寿命有限，当它们达到寿命限制时，就会出现故障。
此时需要更换整个光耦。
2. 光敏管损坏光敏管（光敏三极管）也是常见的故障原因之一，由于光照不足，光敏管损坏或电路设计不合理，使光敏管过流或过压而损坏。
这种故障也需要更换整个光耦。
3. 外部环境因素光耦的正常工作需要适宜的环境条件，如果光耦长时间处于潮湿、高温或者高压等环境中，也会导致输入输出的电路不正常。
总结光耦是一种很常见的半导体元器件，广泛应用于电子电路中。
在使用光耦时，需要注意其正常工作环境和使用条件，如使用温度、电压及光源等。
光耦检验规范
XXXXXXX有限公司
光耦检验规范
文件编号： 生效日期： 编制： 审核 ： 批准： 受控章： 版本/修订号： 使用部门：品管部
1.检验目的：
为使光耦来料符合本厂之产品要求，特制定检验和判定标准。
2.适用范围：
本标准适用于本公司入料产品，包括公司内部生产和发外加工的产品。
3.检验依据：
《进货单》.《材料样品承认书》.抽样计划《MIL-STD-105E》
4.名词定义：
CR严重缺点：使用者在使用产品或靠近产品时有安全上的顾虑。
MA主要缺点：使用者在使用产品时有功能性(电气.机构)问题发生或是降低产品在功能上的使用。
MI次要缺点：不会显著的影响或是降低产品价值。
光藕应该怎么测量？
光藕应该怎么测量？这个问题需要从两方面来说明，首先我们要明白光耦的工作原理，其次才是如何测试光耦。
一、光电耦合器简介光电耦合器简称光耦，是以光为传输媒介传输电信号的电子器件，它通过其内部的“电-光-电”转换实现信号的耦合与传输。
根据光电耦合器内部输出电路的不同，光电耦合器可分为光电二极管型、光电三极管型、达林顿管型、晶闸管型、集成电路型等。
光电耦合器的特点是输入端与输出端既能传输电信号、又同时具有电的隔离性。
光电耦合器的结构：将一个发光二极管与一个光电三极管密封在一起，发光二极管是输入端，光电三极管是输出端。
输入信号使发光二极管发光，光电三极管接受光照后就产生光电流，并可在其负载电阻上得到输出信号，从而实现了电信号的隔离传输。
光电耦合器的用途主要是隔离传输和隔离控制。
在隔离耦合、电平转换、机电控制等方面广泛使用。
二、光电耦合器的检测光电耦合器的输入端与输出端之间时绝缘的，所以，检测光电耦合器时应分别检测其输入端和输出端。
1、检测输入端将万用表置于电阻测量档，分别检测光电耦合器输入端发光二极管的正、反向电阻。
正常情况下其正向电阻约为几百欧姆，反向电阻约为几十千欧。
需要说明的是，光电耦合器中的发光二极管正向管压降比普通发光二极管的低，在1.3V以下。
2、检测输出端光电耦合器的输出部分有多种形式，以光电三极管型光电耦合器为例，在光电耦合器输入端悬空的前提下，检测光电耦合器输出端两引脚（及内部光电三极管的c.e极）之间的正、反向电阻，均应为无穷大。
3、检测光电传输性能检测时，用3V直流电源串接一个限流电阻，给光电耦合器输入端接正向电压，这时光电耦合器的输出部分光电三极管应导通，两个引脚之间的阻值很小。
当输入端正向电压去掉时，光电耦合器的输出光电三极管应截止，所测得的阻值应为无穷大。
如果不是这种情况，说明光电耦合器已损坏。
4、检测绝缘性能检测时，测量光电耦合器的输入端与输出端之间任意两个引脚之间的电阻，均应为无穷大。
光耦过零检测波形
光耦过零检测波形一、引言光耦（Optocoupler）是一种将输入和输出电路隔离开来的器件，通过光电转换的原理来实现隔离，广泛应用于电气控制系统中。
在许多应用场合中，需要对交流电路进行过零检测，以实现精确的控制。
光耦过零检测是一种常见的应用，本文将详细介绍光耦过零检测波形的特点和分析。
二、光耦过零检测原理光耦过零检测是通过将交流电压信号经过光耦输入端的光电转换，然后输出到检测电路中，通过对输出信号波形的分析来实现对交流电路过零点的准确检测。
常见的过零检测方法有两种：零点交叉检测和增量式检测。
无论采用哪种方法，光耦过零检测的核心思想是将交流电压信号通过光耦转换为光信号，然后再转换回电信号进行分析判断。
三、光耦过零检测波形特点1. 正弦波形光耦过零检测所处理的通常是交流电压信号，因此输出波形会呈现周期性的正弦波形。
在过零点处，波形会经历零点电压，此时输出波形的变化率最大，便于进行零点检测。
2. 波形延迟由于光耦本身的响应时间和输出端的检测电路延迟，输出波形会出现一定的延迟。
这种延迟对于过零检测的准确性有一定影响，需要在设计时加以考虑和补偿。
3. 波形失真在一些特殊情况下，光耦输出波形可能会出现失真，即波形的形状不再是纯粹的正弦波形。
这可能由于光耦本身的非线性特性或者外部环境干扰所导致，需要通过分析和优化电路来解决。
四、光耦过零检测波形分析1. 过零点检测光耦输出波形的过零点处对应着交流电路的零点电压，因此可以通过检测波形过零点的位置来实现对零点的精确检测。
通过比较过零点的时间和交流电路周期的关系，可以得到精确的过零检测信号。
2. 波形延迟补偿对于输出波形延迟的问题，可以采用延迟补偿电路或者在控制系统中引入延迟补偿算法来解决。
通过对系统响应时间的测量和分析，可以实现对延迟的准确补偿，提高过零检测的精确度。
3. 波形失真处理在面对波形失真的情况下，需要对光耦输出端的电路进行优化设计，避免非线性效应的影响。
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则背景随着现代工业的不断发展，对于电气设备的需求越来越高。
而在电气设备的使用中，往往涉及到电气隔离的问题。
为了保障电气设备的安全性，采用光电耦合器进行电气隔离已经成为目前常用的一种方式。
然而，由于各种因素，光电耦合器存在使用不当或者质量问题，可能导致电气设备的安全性受到威胁。
因此，对于光电耦合器的安全检验实施细则显得尤为重要。
检验方法1. 外观检查首先，需要对光电耦合器的外观进行检查。
主要包括以下内容：•确认光电耦合器的型号及规格是否与设计一致•检查光电耦合器的外壳，确认是否存在破损、变形、裂缝等情况•检查光电耦合器的端子、插座是否完好无损，接触是否良好2. 电性能检查电性能检查是检验光电耦合器是否正常工作的关键环节。
主要包括以下内容：•确认光电耦合器是否与电源、接收器连接正确•检查光电耦合器的工作电压是否与设计一致•检查光电耦合器的漏电流是否符合标准•检查光电耦合器的开通、关断时间是否达到标准3. 耐压性能检查耐压性能检查是对光电耦合器的安全性进行审查的重要环节。
主要是通过模拟实验来检测光电耦合器的耐压性能，并比对是否符合标准要求。
主要包括以下内容：•确认光电耦合器的工作电压•在设计工作电压面前施加高压电，观察是否发生电弧、击穿等现象，对光电耦合器进行不小于5min的耐压试验•检查耐压试验后光电耦合器的外观和电性能是否正常4. 终端性能检查终端性能检查主要是检验光电耦合器和信号源之间的联系，保证信号源能准确地接收光电耦合器的信号。
主要包括以下内容：•确认光电耦合器的端子和信号源的接口是否配套•在信号源工作情况下，检查光电耦合器能否正常输出幅值、带宽、稳定性等信号指标制定依据本文档制定依据主要来自以下标准：•GB/T 18802.1-2015 机电产品与设备电气装置用光电耦合器第1部分：一般规定•GB/T 18802.2-2015 机电产品与设备电气装置用光电耦合器第2部分：性能试验方法结论通过上述检验方法的实施，能够全面、综合地检验光电耦合器的安全性和可靠性。
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则1. 引言安全电气隔离用光电耦合器是用于实现电气隔离的重要设备，其稳定性和可靠性对于保障电气设备的安全运行至关重要。
为了保证其性能和质量，需要进行定期的安全检验。
本文档旨在提供安全电气隔离用光电耦合器安全检验的实施细则，以指导工程师进行检验操作。
2. 检验范围安全电气隔离用光电耦合器的安全检验主要包括以下方面：1.外观检查：检查光电耦合器的外观是否完好无损、无锈蚀等情况。
2.电气参数测试：测量光电耦合器的输入输出电阻、输入输出电流和输入输出电压等参数。
3.绝缘测试：通过绝缘电阻测试，评估光电耦合器的绝缘性能是否符合要求。
4.温升测试：在正常工作条件下测量光电耦合器的温度升高情况，确保其工作温度在安全范围内。
5.安全间隔测试：通过对光电耦合器的输入输出端进行带电间隔测试，验证其电气隔离性能是否合格。
6.阻燃性能测试：对光电耦合器进行阻燃性能检验，判断其受热后的自燃蔓延情况。
3. 检验设备进行安全电气隔离用光电耦合器安全检验时，需要准备以下仪器和设备：1.数字万用表：用于测量电阻、电流和电压等电气参数。
2.绝缘电阻测试仪：用于测量绝缘电阻。
3.温度计：用于测量光电耦合器的温度升高情况。
4.带电间隔测试仪：用于进行带电间隔测试。
5.阻燃性能测试仪：用于检测光电耦合器的阻燃性能。
4. 检验步骤4.1 外观检查1.检查光电耦合器的外壳是否存在明显的损坏、变形或锈蚀等情况。
2.检查连接器和插座的安装是否牢固，插座中的引脚是否变形或松动。
4.2 电气参数测试1.使用数字万用表测量光电耦合器的输入输出电阻。
将万用表的测量量程调至适当范围，通过接触电极测量输入输出电阻值，并记录结果。
2.测量光电耦合器的输入输出电流。
根据实际情况选择合适的接线方式，使用数字万用表测量输入输出电流，并记录结果。
3.测量光电耦合器的输入输出电压。
在合适的电路接线下，使用数字万用表测量输入输出电压，确保其值在规定范围内，并记录结果。
光耦检验规范
项目
作业规范
名称
光电耦合器检验规范
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1目的:对光电耦合器样品零件进行规格及性能测试,使其能达到工程设计及生产之质量需求.
2.测试项目:(检查前必须先戴上静电带)
2.1.外观:
2.1.1测试工具:目视﹑静电带
b.对于无基极引纤的光电耦合器,需测量C-E极间电阻为无穷大,即穿透电流Iceo=0.对于有基极引纤的光耦还应分别测量接收管的集电极与发射结正.反向电阻,均应单向道通.(具体测试方法参见三极管检验规范2.3.2.)
c.用R*10K档检查发射管与接收管的绝缘电阻应为无穷大.(此步骤可用高压AC5000V测试取代)
2.4.2.2(CTR电流传输比)测试工具要求:静电带、万用表两块(需选同一型号).
公式1.1CTR=(Ic/If)×100%(Ic为输入电流.If为输出电流.)
如下图:
a.设表A﹑表B代表两块万用表,均拔至R*100檔,电流比例系数分别为K1.K2.被测光电耦合器为PC817型.先不接表A,只将表B的黑表毕接第4脚,红表毕接第3脚,因接收管呈截止状态,故电阻读数为无穷大.然后接上表A,其黑表毕接1脚,红表毕接2脚.此时观察到表B的读数从无穷大迅速减小到几百欧,说明接收管已导通.在同样测试条件下(测试环境不变),指针偏转角度愈大,证明光电耦合器的CTR值愈高.设测量时表A.表B的正向偏转格数分别为n1.n2,利用测负载电流法得到:If=K1n1,Ic=K2n2,代入公式1.1中
2.1.2测试方法:在自然光线下,把光电耦合器放在距离眼睛10cm~20cm处正视.
a.表面的丝印标记应清晰正确且符合样板和承认书规格。
a316j光耦检测原理
a316j光耦检测原理
光耦合器，如A316J，其检测原理主要基于光电转换和信号隔离的原理。
1. 光电转换：光耦内部包含一个发光元件（如LED）和一个光敏接收元件（如光敏三极管或光敏二极管）。
当在发光元件两端施加电信号时，发光元件会发出光线。
这个过程中，电信号被转化为光信号。
2. 信号隔离：发射出的光经过中间的光隔离区传输到光敏接收元件。
光敏接收元件接收到光信号后，将其再次转换为电信号。
由于发光元件和光敏接收元件之间没有直接的电气连接，而是通过光来传递信息，因此实现了电气上的隔离，有效防止了前级电路对后级电路的影响，提高了系统的稳定性和抗干扰能力。
3. 检测功能：在实际应用中，可以通过检测光耦输出端的电流或电压变化，间接得知输入端信号的状态，实现对电路状态的检测和控制。
所以，A316J光耦作为光电耦合器，其检测原理主要是利用光电效应进行信号的隔离与传输。
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则
一、资料
电气特性及结构，安全性关键件或原材料一览表（名称、型号规格、生产厂、安全证书编号）。
二、适用范围
安全电气隔离用光电耦合器
三、检验依据及项目
1.检验依据：SJ/T10686-1995（VDE0884）《安全电气隔离用光
电耦合器》
2.检验项目：目视检查、抗电强度、工作检验、爬电距离和间
隙、绝缘电阻、耐焊接热、温度循环、振动、冲击负荷、密
封（不适用于塑封器件）、干热、湿热、低温、恒定湿热四、试样
110只+10只备份调试样品。
五、合格判定
各检验项目试验合格则判定为产品安全检验合格。
一个试验组的所有样品均应满足单独判据的要求，任何一个样品不应失效。
若一个试验组内一个试验样品失效，则应另取样同数量的样品重复进行该组的试验，在该试验组内不应再发生失效。
光耦检测220v交流的原理
知识创造未来
光耦检测220v交流的原理
光耦检测是一种常见的电气检测方法，可以检测220v交流电路中
的电气信号。
光耦检测的原理是基于光电控制技术，通过光电耦合器
件将电信号转换为光信号，再经过光电传输系统将光信号再次转换为
电信号，最终达到检测电路的目的。
在光耦检测系统中，光电耦合器件负责将电信号转换为光信号。
光电耦合器件由发光二极管和光电三极管两部分组成，通过发光二极
管将电信号转换为光信号，再通过光电三极管将光信号转换为电信号。
这样就可以实现电信号的检测。
在光电控制技术的帮助下，光耦检测
的准确性和可靠性非常高。
在使用光耦检测时，必须注意一些安全问题。
首先，必须对光电
耦合器件进行正确的安装和连接，保证接线正确可靠。
其次，为了保
护器件，必须避免在高温、潮湿、刺激性气体等环境下使用光耦器件。
此外，在使用过程中，应定期检查系统结构和接线状态，以确保系统
的可靠性和安全性。
总之，光耦检测技术是一种非常实用的电气检测手段，应用广泛。
在使用时，需要注意安全问题，遵守操作规程，严格执行操作流程，
以确保系统稳定、可靠。
希望上述内容对于需要了解光耦检测220v交
流的人员有所帮助。
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光耦检测平面度原理
光耦检测平面度原理
光耦检测平面度通常使用一种被称为光栅的光学元件来实现。
这个过程主要包括发射光源、接收光源和光栅。
1. 发射光源：光耦器件中通常有一个发射光源，它可以是一种发光二极管（LED）或激光二极管（LD）。
这个光源会发射一束光线。
2. 接收光源：在另一端，有一个光敏元件，通常是光敏二极管（光电二极管）或光电二极管阵列。
这个元件用于检测发射光源的光信号。
3. 光栅：在两个光源之间，有一个被称为光栅的透明或反射性薄膜。
这个光栅通常具有规则的线条或点阵结构，类似于条形码。
工作原理如下：
-当发射光源发出光线时，光线照射到光栅上。
-光栅上的结构会使光线发生衍射，形成一系列亮暗相间的光斑。
-这些光斑经过被测平面反射或透射后，再次通过光栅。
-光栅结构会影响反射或透射光线的相位和幅度。
-接收光源检测到的光信号的变化，反映了被测平面的平面度情况。
通过分析接收光源中检测到的光信号的变化，可以确定被测平面的平面度。
这种方法具有高精度和灵敏度，因为光的波动性使得微小的表面高低差异都能够被探测到。
这在一些需要高精度平面度检测的应用中很有用，比如在制造业中的质量控制过程中。
光耦检验标准
1、GB / T2828.1-2003逐批检查计数抽样及抽样表。
序号
检验
项目
接收标准
检验
方法及工具
缺陷描述
缺陷等级
致命（CR）
严重（MA）
轻微（MI）
1
VF
符合技术要求。
电源
电压表
不符合技术要求。
√
2
电流转换比（CTR）
符合技术要求。
电流表
电压表
电源
不符合技术要求。
√
3
标识
标识完备、准确，无错误。
√
备注
本检验标准未尽项目，需检验时可参照行业标准、国标或工程技术文件要求。当检验标准的检验项目在技术要求中未作规定时，可不作检验要求。
符合设计要求。
卡尺
与设计要求不符。
√
6
可焊性
温度在260±10℃，时间2S，锡点圆润有光泽、稳固，上锡率＞95%。
恒温
铬铁
锡点不圆且有气泡，不牢固。
√
7
耐焊
接热
温度在260±10℃，浸锡时间5S后，外观、电气与机械性能良好。
恒温
铬铁
外观、电气与机械性能不良。
√
8
包装
包装良好，无混料现象。
目视
有混料现象。
光耦检验标准
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光耦检验标准
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审核
拟定
目的
确保本公司电子元器件---光耦品质符合客户要求。
范围
适应于电子元器件---光耦进料入库检验。
抽样标准
MIL-STD-105E单次Ⅱ级正常检验；CR=0；MA=1.0；MI=2.5。
光耦检验规程
光耦检验规程编制:审核:批准:天正集团质量部光耦检验规程１适用范围本规程适用于公司外购光耦的检验与验收。
２引用标准及检验依据GB2828 逐批检查计数抽样程序及抽样表。
光耦检验标准。
可焊性检验规程。
包装标志检验规程。
产品封样。
３检验设备及工具QT2图示仪、自制光耦测试台、DF2676AD交直流输出耐压测试仪游标卡尺、三氯乙烷清洗液。
４检验程序4.1 包装标志检验包装标志检验按《包装标志检验规程》进行，检验结果应符合要求。
4.2 可焊性检验可焊性检验按《可焊性检验规程》进行，检验结果应符合要求。
4.3 外观尺寸检验4.3.1 抽检要求正常检查：一次抽样方案检验水平：Ⅱ AQL值：0.044.3.2 检验要求a) 外观：封装应完整，清洁，无划伤、破损、碎裂现象，引脚无不规则，扭曲现象。
b) 标志：光耦上的规格、型号、批号、字符、图符清晰、正确，仔细检验光耦批号，应一致，不能同时出现二批以上批次，用三氯乙烷清洗液浸泡20min后不掉字（每批取5只）。
c) 引脚：引脚应牢固，光亮，无松动、氧化、腐蚀等缺陷。
4.4 电性能检验4.4.1 抽检要求正常检查：一次抽样方案检验水平：S-4 AQL值：0.104.4.2 检验要求a) 用QT2图示仪测试光耦二极管正向压降：VF ≤1.3（IF=10mA）；反向耐压VR≥5V（IR=10µA）b) 用自制测试台给光耦输入50000次脉冲信号后，光耦能正常工作。
c) 用DF2676AD交直流输出耐压测试仪测量光耦（光电二极管与光电三极管）耐压：Vrms≥5000VACt=60s5 检验结果及处理意见5.1 质量记录将检验结果按要求填写在《抽样检验报告单》上，对不合格品应写明质量情况。
5.2 入库交接a) 检验员根据检验结果填写《产品报验单》。
b) 代用、应生产急用需代用的检验员根据实际情况填写代用单，交部门负责人签字批准后办理有关手续方可入库。
c) 对检验合格后的产品给予合格标识，见本部门《内部管理制度》中规定关于检验合格后产品入库操作程序。
光耦检验标准
标识不准确。
V
4
外观
本体无变形、破损、污迹、缺Pin现象。
目视
本体有变形、破损、污迹、 缺Pin现象。
V
Pin脚不能有弯曲成螺旋状、折痕 现象。
Pin脚有弯曲成螺旋状、折 痕现象。
V
Pin脚无氧化、吃锡良好。
Pin脚有氧化、吃锡不良。
V
字体清晰易辩识，不能有模糊不 清。
无法辩识。
V
尚可辨识。
V
5
目视
有混料现象。
V
备注
本检验标准未尽项目，需检验时可参照行业标准、国标或工程技术文件要求。当检验标准的检验项 目在技术要求中未作规定时，可不作检验要求。
光耦检验标准
文件名称
光耦检验标准
生效日期
页码
1of1
使用状态
文件编号
版本
A/ 0
审核
拟定
目的
确保本公司电子兀器件---光耦品质符合客户要求。
范围
适应于电子兀器件---光耦进料入库检验。
抽样标准
MIL-STD-105E单次H级正常检验；CR=0;MA=1.0;Ml=2.5。
检验环境
在正常光源条件下，距离30cm远检验，以及适宜的角度检验产品。
参照标准
1、GB/T2828.1-2003逐批检查计数抽样及抽样表。序 号Fra bibliotek检验 项目
接收标准
检验 方法及
工具
缺陷描述
缺陷等级
致命
(CR)
严重
(MA)
轻微 (MI)
1
VF
符合技术要求。
电源 电压表
不符合技术要求。
V
2
电流转 换比
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电气特性
1、High Level output Current I OH
2、Low Level output Current I OL
3、High Level output Voltage V OH
4、Low Level output Voltage V OL
5、输入正向电压V F
6、输入级与输出级之间的绝缘电阻Rio
7、电流传输比CTR
开关特性
一、输入特性
光耦合器的输入特性实际也就是其内部发光二极管的特性。
常见的参数有：
1. 正向工作电压Vf（Forward Voltage）
Vf是指在给定的工作电流下，LED本身的压降。
常见的小功率LED通常以If=20mA来测试正向工作电压，当然不同的LED，测试条件和测试结果也会不一样。
2. 反向电压Vr（Reverse Voltage ）
是指LED所能承受的最大反向电压，超过此反向电压，可能会损坏LED。
在使用交流脉冲驱动LED 时，要特别注意不要超过反向电压。
3. 反向电流Ir（Reverse Current）
通常指在最大反向电压情况下，流过LED的反向电流。
4. 允许功耗Pd（Maximum Power Dissipation）
LED所能承受的最大功耗值。
超过此功耗，可能会损坏LED。
5. 中心波长λp（Peak Wave Length）
是指LED所发出光的中心波长值。
波长直接决定光的颜色，对于双色或多色LED，会有几个不同的中心波长值。
6. 正向工作电流If（Forward Current）
If是指LED正常发光时所流过的正向电流值。
不同的LED，其允许流过的最大电流也会不一样。
7. 正向脉冲工作电流Ifp（Peak Forward Current）
Ifp是指流过LED的正向脉冲电流值。
为保证寿命，通常会采用脉冲形式来驱动LED，通常LED规格书中给中的Ifp是以0.1ms脉冲宽度,占空比为1/10的脉冲电流来计算的。
二、输出特性
光耦合器的输出特性实际也就是其内部光敏三极管的特性，与普通的三极管类似。
常见的参数有：
1. 集电极电流Ic（Collector Current）
光敏三极管集电极所流过的电流，通常表示其最大值。
2. 集电极-发射极电压Vceo（C-E Voltage）
集电极-发射极所能承受的电压。
3. 发射极-集电极电压Veco（E-C Voltage）
发射极-集电极所能承受的电压
4. 反向截止电流Iceo
5. C-E饱和电压Vce(sat)（C-E Saturation Voltage）
四、传输特性：
1．电流传输比CTR（Current Transfer Radio）
2．上升时间Tr （Rise Time）& 下降时间Tf（Fall Time）
其它参数诸如工作温度、耗散功率等不再一一敷述。
三、隔离特性
1．入出间隔离电压Vio（Isolation Voltage）
光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值。
2．入出间隔离电容Cio（Isolation Capacitance）：
光耦合器件输入端和输出端之间的电容值
3．入出间隔离电阻Rio：（Isolation Resistance）
半导体光耦合器输入端和输出端之间的绝缘电阻值。
光耦合器的技术参数主要有发光二极管正向压降VF、正向电流IF、电流传输比CTR、输入级与输出级之间的绝缘电阻、集电极-发射极反向击穿电压V(BR)CEO、集电极-发射极饱和压降VCE(sat）。
此外，在传输数字信号时还需考虑上升时间、下降时间、延迟时间和存储时间等参数。
电流传输比是光耦合器的重要参数，通常用直流电流传输比来表示。
当输出电压保持恒定时，它等于直流输出电流IC与直流输入电流IF的百分比。
使用光电耦合器主要是为了提供输入电路和输出电路间的隔离，在设计电路时，必须遵循下列原则：所选用的光电耦合器件必须符合国内和国际的有关隔离击穿电压的标准；由英国埃索柯姆（Isocom）公司、美国FAIRCHILD生产的4N××系列（如4N25、4N26、4N35）光耦合器，在国内应用地十分普遍。
可以用于单片机的输出隔离；所选用的光耦器件必须具有较高的耦合系数。
以下为光电耦合器的常用参数：
反向电流IR：在被测管两端加规定反向工作电压VR时，二极管中流过的电流。
反向击穿电压VBR：被测管通过的反向电流IR为规定值时，在两极间所产生的电压降。
正向压降VF：二极管通过的正向电流为规定值时，正负极之间所产生的电压降。
正向电流IF：在被测管两端加一定的正向电压时二极管中流过的电流。
结电容CJ：在规定偏压下，被测管两端的电容值。
反向击穿电压V(BR)CEO：发光二极管开路，集电极电流IC为规定值，集电极与发射集间的电压降。
输出饱和压降VCE(sat)：发光二极管工作电流IF和集电极电流IC为规定值时，并保持IC/IF≤CTRmin 时（CTRmin在被测管技术条件中规定）集电极与发射极之间的电压降。
反向截止电流ICEO：发光二极管开路，集电极至发射极间的电压为规定值时，流过集电极的电流为反向截止电流。
电流传输比CTR：输出管的工作电压为规定值时，输出电流和发光二极管正向电流之比为电流传输比CTR。
脉冲上升时间tr,下降时间tf：光耦合器在规定工作条件下，发光二极管输入规定电流IFP的脉冲波，输出端管则输出相应的脉冲波，从输出脉冲前沿幅度的10%到90%，所需时间为脉冲上升时间tr。
从输出脉冲后沿幅度的90%到10%，所需时间为脉冲下降时间tf。
传输延迟时间tPHL,tPLH：从输入脉冲前沿幅度的50%到输出脉冲电平下降到1.5V时所需时间为传输延迟时间tPHL。
从输入脉冲后沿幅度的50%到输出脉冲电平上升到1.5V时所需时间为传输延迟时间tPLH。
入出间隔离电容CIO：光耦合器件输入端和输出端之间的电容值。
入出间隔离电阻RIO：半导体光耦合器输入端和输出端之间的绝缘电阻值。
入出间隔离电压VIO：光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值.。