插入损耗测试
插入损耗测试
EMI电源滤波器插入损耗的测量方法EMI滤波器尚没有产品类国标,只是企业标准,EMI电源滤波器的主要性能指标一般包括插入损耗、频率特性、阻抗匹配、额定的电流值、绝缘电阻值、漏电流、物理尺寸及重量、使用环境以及本身的可靠性;在使用时考虑最多的是额定的电压及电流值、插入损耗、漏电流三项;本文主要介绍EMI滤波器插入损耗的测量方法;EMI滤波器插入损耗测量方法是根据CISPR17 1981出版物提出的滤波器标准测量方法包括共模、差模、常模和Ω／100Ω阻抗测量方法;1. 共模插入损耗标准测量方法根据CISPR17 1981出版物B6提出的共模插入损耗标准测量方法Asymmetrical Measurement,如图所示;根据插入损耗的定义,先要测量没有滤波器时,负载50Ω上的电压V1作为0dB的参考电压;再测量有滤波器后,负载500上的电压V2,通过频谱分析仪将20logV1/V2随频率变化的结果显示在屏幕上或通过接口打印出来;测量时注意,滤波器的输入端和输出端是并联的,目的是取得共模插入损耗的平均值;因为滤波器的Cy电容量尽管标称值和误差等级一样,其实际值也不完全一样,电感尽管绕组匝数一样,但磁芯的磁导率误差和工艺上也很难实现在绕制和装配时完全对称,因此采用平均值才有意义;图共模插入损耗的典型测量方法2．差模插入损耗标准测量方法根据CISPR17 1981出版物B5提出的差模插入损耗标准测量方法Symmetrical Meausurement,如图所示;图差模插入损耗的典型测量方法由于频谱分析仪或标准信号发生器输出、输入均采用对地非对称结构的50Ω同轴电缆,为了测量对地对称的差模插入损耗,需对频谱分析仪跟踪发生器的输出信号滤波器的输入信号进行不对称-对称变换,对频谱分析仪输入信号滤波器的输出信号进行对称-不对称的逆变换,其他步骤同上;3．常模插入损耗标准测量方法根据CISPR17 1981出版物B7提出的不对称测量方法Unsymmetrical Measurement又称常模Normal Mode测量,如图所示;图常模插入损耗的测量方法与共模插入损耗测量电路相比,在N和地之间接入一个尚未被标准所批准的50Ω电阻;常模也是经常用来表示差模的一种方法,尽管理论分析常模除了有差模成分外,还含有共模成分;上述测量方法又称为50Ω／50Ω,系统测量方法,即源和负载阻抗均在50Ω匹配条件下测量;它也是目前许多滤波器制造商传统沿用的测量方法;用以上共、差模插入损耗测量方法时需注意：1由于测量仪器输出信号幅值在不同的频率有波动,所以没插入滤波器前的0dB校正,应该对所测频域的各主要频点逐点进行校对;具备条件的,可进行计算机编程进行自动校正;2被测滤波器外壳应该接地良好,否则MHz以上测得的插入损耗相差很大;3要确保滤波器输入,输出连接线之间有良好的隔离,以避免它们之间在高频段产生射频耦合,给高频段测量带来很大误差;4没有频谱分析仪,也可以用标准信号发生器和示波器来代替,但后者动态范围小,在高频段的测量误差较大;4. Ω,/100Ω阻抗测量方法根据CISPR出版物提出一种“近似”实际的测量方法;在实际情况中,由于源阻抗和负载阻抗不可能是恒定的50Ω,所以实际使用中的滤波器插入损耗特性,与用50Ω／50Ω系统测量获得的电源滤波器插入损耗特性不尽相同,甚至差别很大;CISPR出版物提出一种近似实际的测量方法,是Ω,/100Ω及100Ω,/Ω系统测量方法,如图所示;Ω,/100Ω及100Ω,/Ω系统测量方法这里,仅涉及l0kHz～30MHz范围内的插入损耗;以上是目前插入损耗的主要测量方法,可根据条件选择合适的测量方法;。
插回损测试使用简易说明
插回损测试使用简易说明1.功能说明前面板说明（前面板图）1.内部光源波长值。
2.回损通道光功率值(单位: dBm)。
3.回损测量值(单位: dB)。
4.光源输出接口及防尘帽。
5. Laser: 激光器波长选择键6. Zero: 归零键，测量前回损值归零7. Ref: 标定键，校准回损参考值8. BL/Hold背光键: （背光选择，去除插损通道暗电流）9.Λ: 波长键(插损通道波长切换键)。
10.dB/w: 归零键。
(插损单位切换键。
长按dBw键约3秒可切换到w单位)。
11.光功率计接口及防尘帽。
12.插损测量值。
13.插损通道光功率值(单位: dBm)。
14.插损波长值。
15.插损显示区。
（右边）16.回损显示区。
（左边）一、测试前的清零、标定1.测量前，将光路回损标定。
（此步骤必须使用APC-PC的标线）(1)把标线APC端插入光源输出接口（左边），末端插入光功率计接口(右边)如下图(2)此时回损测量值显示应该是14.8dB，如果该值在14dB到17dB之间可以视为正常值。
由于系统与器件造成的误差，可以修正也可以不修正。
(3)修正：长按Ref键，则左屏中间行显示REF?，再按λ键确认，则左屏下方显示14.8，标定完成。
如果测量双波长，按Laser键切换光源波长进行标定。
2．测量前，将光路回损归零。
目的将标线末端之前的回损归零。
缠绕的目的是阻止光传输到标线的末端。
(1)按Laser键切换光源波长，把标线的APC端(即始端)接到光源输出接口。
(2)用缠绕棒（建议使用直径3到5mm圆棒）缠绕标线的另一端(即末端），密绕5圈。
(3)此时回损通道光功率值(左边第二行)，应该在-60dBm到-70dBm之间。
(4)按Zero键。
回损屏显示如下图（如果测量双波长，按Laser键切换光源波长，再按下Zero键）。
（如下图）(5)按REF，显示EEE1，再按REF，则回损屏幕显示如下。
回损清零完成。
3.测量前光路插损归零。
PCB插入损耗不同测试方法的研究
文 献 标 识 码 ：Ａ 文章编号 ： １ ０ ０ ９ — ０ ０ ９ ６（ ２ ０ １ ７） 增干 ｌ Ｊ 一 ０ ０ ６ ４ — １ １
Ｒｅ ｓ ｅ ａ ｒ ｃ ｈ ｏｎ ｔ ｈｅ ｄｉ ｆｅ ｒ ｅ ｎｔ ｔ ｅ ｓ ｔ ｉ ｎｇ ｍｅ ｔ ｈｏ ｄｓ ｏ ｆ ｉ ｎｓ ｅ ｒ ｔ ｉ ｏ ｎ ｌ ｏ ｓ ｓ ｉ ｎ ＰＣ Ｂ
插 入损 托 （ 称抓 拟 ，数 、 捕述 为ｓ ２ １ ， 迁 ｉ ｎ ｓ ｅ ｒ ｔ ｉ ｏ ｎ ｌ ｏ ｓ ｓ ）： 端¨ 络Ｉ １ ｝ ｌ ｌ ，ｓ ２ ｌ 定 义为 从 ｌ 【 ２ｌ ｌ ｌ 米 ＃ Ｅ 、 介埙拟 ｝ Ｅ 、 邻近 线 １ ， Ｉ ＇ Ｊ 、
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光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗的测试
光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗的测试一．实验目的和任务1．了解光隔离器的工作原理和主要功能。
2．了解光隔离器各参数的测量方法。
3．测量光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗参数。
二．实验原理光隔离器又称为光单向器，是一种光非互易传输无源器件，该器件用来消除或抑制光纤信道中产生的反向光，由于这类反向光的存在，导致光路系统间将产生自耦合效应，使激光器的工作变得不稳定和产生系统反射噪声，使光纤链路上的光放大器发生变化和产生自激励，造成整个光纤通信系统无法正常工作。
若在半导体激光器输出端和光放大器输入或输出端连接上光隔离器，减小反射光对LD的影响，因此，光隔离器是高码速光纤通信系统、精密光纤传感器等高技术领域必不可少的元器件之一。
光隔离器是利用了磁光晶体的法拉第效应，其组成元件有：光纤准直器（Optical Fiber Collimator）、法拉第旋转器（Faraday Rotator）和偏振器（Polarizator）。
隔离器按照偏振特性来分，有偏振相关型和偏振无关型。
它们的原理图如图1.1和图1.2所示：图1.1 偏振相关的光隔离器图1.2 偏振无关的光隔离器对于偏振相关光隔离器，光通过法拉第旋转器时，在磁场作用下，光偏振方向旋转角为FHL =φ，式中H 为磁场强度，L 为法拉第材料长度，F 为材料的贾尔德系数。
如图 1.1，当输入光通过垂直偏振起偏器后，成为垂直偏振光，经过法拉第旋转器旋转了045，而检偏器偏振方向和起偏器偏振方向成045角，使得光线顺利通过，而反射回来的偏振光经过检偏器、法拉第旋转器以后，继续沿同一方向旋转045，即偏振方向刚好与起偏器偏振方向垂直，则光无法反向通过。
由于只有垂直偏振的光能通过光隔离器，因此称为偏振相关光隔离器。
偏振无关光隔离器如图1.2所示，图1.2(a)为光隔离器正向输入。
当包含两个正交偏振的输入光波被一个偏振分束器分离，变为垂直偏振光和平行偏振光。
第25-2部分：衰减（插入损耗）
第25-2部分：衰减（插入损耗）内容目录前言1．概述1．1范围与目的1．2定义2．试验条件2．1设备2．2夹具3．试样3．1样品描述4．试验步骤4．1夹具的衰减4．2试样的测量4．3阻抗分析仪（开路/短路测量方法）4．4附加测量4．5时间域方法5．要规范的详细项目6．试验文件的编制附录A（标准型）夹具和设备图表附录B（提示性）实用指南图1——波形图A.1——方法示意图图A.2——单端端接图A.3——差分(平衡) 端接图A.4——衰减夹具中的试样实例前言1）IEC（国际电工委员会）是一个由各个国家电工委员会（IEC国家委员会）组成的一个全球性组织。
IEC的宗旨是针对所有电气和电子领域内涉及标准化问题促进国际间的合作。
为此，IEC除组织各种活动外还出版国际标准。
标准的起草工作委托于各个技术委员会；对主题感兴趣的任何IEC国家委员会都可以参与标准的起草。
与IEC协作的国际、政府以及非政府组织也可以参与起草工作。
IEC与国际标准化组织（ISO）按照双方协议的条件紧密合作。
2）技术问题上的正式决议或协议是有对这些问题特别关切国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能代表国际上的一致意见。
3）这些决议或协议以推荐标准的形式供国际上使用，并在其意义上为各个国家委员会认可。
4）为了促进国际上的统一，IEC希望各个国家委员会在本国条件许可的情况下，采用IEC标准的文本作为其国家标准。
IEC标准与相应的国家标准之间的差异应尽可能在国家标准中标明。
5）IEC未制定使用认可标志的任何程序。
当宣称某一产品符合相应的IEC 标准时，IEC无法承担任何责任。
6）注意，本标准的某些部分应符合专利权要求。
IEC无须对指出相关的专利权承担责任。
国际标准IEC60512-25-3由第48B分委员会：国际技术委员会连接器分委员会48：机电元件和电子设备机械结构制定。
本标准的文本以下列文件为依据：批准本标准的所有表决资料可以查阅上表中所列的表决报告。
插入损耗测试
EMI电源滤波器插入损耗的测量方法EMI滤波器尚没有产品类国标，只是企业标准，EMI电源滤波器的主要性能指标一般包括插入损耗、频率特性、阻抗匹配、额定的电流值、绝缘电阻值、漏电流、物理尺寸及重量、使用环境以及本身的可靠性。
在使用时考虑最多的是额定的电压及电流值、插入损耗、漏电流三项。
本文主要介绍EMI滤波器插入损耗的测量方法。
EMI滤波器插入损耗测量方法是根据CISPR17 (1981)出版物提出的滤波器标准测量方法包括共模、差模、常模和0.1Ω／100Ω阻抗测量方法。
1. 共模插入损耗标准测量方法根据CISPR17 (1981)出版物B6提出的共模插入损耗标准测量方法(Asymmetrical Measurement)，如图1.1所示。
根据插入损耗的定义，先要测量没有滤波器时，负载50Ω上的电压V1作为0dB的参考电压。
再测量有滤波器后，负载500上的电压V2,通过频谱分析仪将20log(V1/V2)随频率变化的结果显示在屏幕上或通过接口打印出来。
测量时注意，滤波器的输入端和输出端是并联的，目的是取得共模插入损耗的平均值。
因为滤波器的Cy电容量尽管标称值和误差等级一样，其实际值也不完全一样，电感尽管绕组匝数一样，但磁芯的磁导率误差和工艺上也很难实现在绕制和装配时完全对称，因此采用平均值才有意义。
图1.1 共模插入损耗的典型测量方法2．差模插入损耗标准测量方法根据CISPR17( 1981)出版物B5提出的差模插入损耗标准测量方法(Symmetrical Meausurement)，如图2.1 所示。
图2.1 差模插入损耗的典型测量方法由于频谱分析仪（或标准信号发生器）输出、输入均采用对地非对称结构的50Ω同轴电缆，为了测量对地对称的差模插入损耗，需对频谱分析仪跟踪发生器的输出信号（滤波器的输入信号）进行不对称-对称变换，对频谱分析仪输入信号（滤波器的输出信号）进行对称-不对称的逆变换，其他步骤同上。
光纤跳线插入损耗回波损耗的测试方法
光纤跳线插入损耗回波损耗的测试方法尾纤尾纤：英文名称pigtail，指只有一端有连接器的光纤或光缆。
光跳线跳线：北美的英文名称常称作jumper，欧洲常称作cord，指两端都有连接器的光纤或光缆，有的有分支。
分支缆分支缆：英文名称为branch cord，指一端为一个连接器另一端有多个连接器的光跳线。
尾纤组件尾纤组件：英文名称pigtail assembly，指两条尾纤有连接器的那端通过一个适配器连接起来形成的组合。
光跳线组件跳线组件：jumper cable assembly尾纤和光跳线分为下面三种形态，并以此为基础，分别说明其各项技术指标要求，其它特殊形态(如圆形连接器等)的尾纤或光跳线由具体的技术规格书单独说明。
测试仪器测试用光功率计的光源(S)和光检测器(D)必须符合IEC 61300-3-4的要求。
插入损耗的测试方法采用标准IEC 61300-3-4 Part 5.4.5 Insertion method (B) with direct coupling to power meter规定的方法，即插入法(B)。
插入损耗测试仪器的测试精度不低于0.03dB，显示精度不低于0.01dB。
光跳线的插入损耗测试尾纤的插入损耗测试1.4 光连接器的插入损耗测试参照尾纤的插入损耗测试方法测试A端连接器的插入损耗，调转被测光跳线的方向，测试B端连接器的插入损耗。
注意，插入损耗的测试2 回波损耗的测试方法2.1 测试仪器光跳线和尾纤的回波损耗测试，既可采用基于OTDR(后向散射)原理的免缠绕回波损耗测试仪，也可采用基于OCWR原理的回波损耗测试仪。
采用OTDR原理的方法测试时，须特别关注以下几个方面：1）仪器的设置：不要把被测件的总插入损耗与单端插入损耗混淆，不要把被测件的总回波损耗与单端回波损耗混淆。
2）测试标准线的长度：一般要求测试标准线的长度不小于3m，具体以各测试仪器的说明书为准。
3）被测线的长度：不同测试仪器对被测线的最小长度有要求，例如有的设备要求不能低于1.8m，当长度低于1.8m时，必须采用其它方法测试回波损耗，如缠绕法，具体以以各测试仪器的说明书为准。
波分复用器插入损耗和光串扰测试实验
实验三 波分复用器插入损耗和光串扰测试实验一、实验目的1、了解波分复用器的工作原理及其结构2、掌握它们的正确使用方法3、掌握它们主要特性参数的测试方法二、实验内容1、测量波分复用器的插入损耗2、测量波分复用器的光串扰三、实验仪器1、ZY1804I 型光纤通信原理实验系统1台 2、FC 接口光功率计 1台 3、万用表 1台 4、FC-FC 适配器 1个 5、波分复用器 2个 6、连接导线20根四、实验原理波分复用器/解复用器是一种与波长有关的耦合器。
波分复用器的功能是把多个不同波长的发射机输出的光信号组合在一起，输出到一根光纤；解复用器是把一根光纤输出的多个不同波长的光信号，分配给不同的接收机。
波分复用器是波分复用系统中的重要组成部分，为了确保波分复用系统的性能，对波分复用器的一般要求是：插入损耗小、光串扰小、隔离度大、带内平坦，带外插入损耗变化陡峭、温度稳定性好，复用路数多等。
本实验主要用来测试波分复用器的插入损耗和光串扰。
1、插入损耗插入损耗是指由于增加光波分复用器/解复用器而产生的附加损耗，定义为该无源器件的输入和输出端口之间的光功率之比，即10lgα=ioP P (34-1) 其中Pi 是发送进入输入端口的光功率；Po 是从输出端口接收到的光功率。
在具体的测试时，我们先用光功率计测量未加入波分复用器时的光功率Pi ，再测量加入波分复用器后输出端口的光功率Po ，然后带入式34-1 后计算可得出波分复用器的插入损耗。
2、光串扰的定义及其测试方法 波分复用器的光串扰（隔离度），为波分复用器输出端口的光进入非指定输出端口光能量的大小。
其测试原理图如图34-1所示。
图34-1 波分复用器光串扰测试原理图上图中波长为1310nm 、1550nm 的光信号经波分复用器复用以后输出的光功率分别为P 01、P 02，解复用后分别输出的光信号，此时从1310窗口输出1310nm 的光功率为P 11，输出1550nm 的光功率为P 12；从1550窗口输出1550nm 的光功率为P 22，输出1310nm 的光功率为P 21。
插入损耗测试作业指导书
插入损耗测试作业指导书1、目的正确测试插入损耗。
2、范围适用于本公司生产的各种规格型号的光纤活动连接器或尾纤的插入损耗测试（FDDI除外）。
3、使用工具无水酒精、酒精瓶、擦拭纸、镊子、刀片、棉签、气枪、（测尾纤用：米勒刀、宝石刀或光纤切割刀、127微米光纤活接头或插芯）（FC/APC JDS件定点用：螺纹胶、方座、牙签）4、操作步骤（以“MG9001A”光源，“ML9001A”光功率计为例）4.1开启光源和光功率计（仪器面板上的“POWER”开关置于“ON”）。
4.2.用测试连接器MASTER）直接连接光源和光功率计的探测器，按光功率计的“RELATIVE”键清零。
4.3.清零前光功率计所显示的dBm值是衡量光源是否工作正常的主要参考数据。
4.4将光功率计的探测器上的测试连接器头卸下后，装上测试适配器。
4.5用一根校准连接器（SUB-MASTER）直接连接测试适配器和光功率计的探测器，此时光功率计所显示的dB值就是测试连接器的测试接头的插入损耗。
从这个值可以看出测试连接器的测试连接头是否正常。
4.6将被测试连接器的两个连接头用酒精擦净以后，分别跟探测器和测试连接器连接，得出的dB值就是该连接头的插入损耗。
调换两个被测连接器的连接头，可得出另一个头的插入损耗。
4.6.1若这两个数值符合《生产任务单》的技术要求，则在《测试记录表》上记录这两个值。
4.6.2若这两个数值其中一个或两个不符合《生产任务单》的技术要求，可用镊子将卡环取出选取最佳的点后套上，复测合格后按4.6.1进行标识（卡紧结构除外）。
若找不到点，应按《不合格品控制程序》进行标识处理。
5、注意事项5.1连接头连接以前，必须用无水酒精把插芯的端面擦干净，以保证对接时没有杂质，否则会影响检测的准确性。
5.2测试连接器的dB值应该是己知值，通常≤0.02 dB。
当天的校准值与前一天的校准值相比较，差值必须≤0.02 dB，所有的校准值必须≤0.05 dB，如果校对不符合以上要求，立即与车间负责人联系或按《测试基准体系管理规定》进行处理。
高性能电源滤波器插损测试研究
高性能电源滤波器插损测试研究摘要：电波暗室环境使用的滤波器由于其尺寸大、性能高的特点，对其进行插入损耗测试存在诸多问题。
本文讨论了分别使用矢量网络分析仪法和频谱仪法进行滤波器插入损耗测试的特点，给出了暗室用的电源滤波器插入损耗测试应采用频谱仪法进行测试，以保证测试的准确性。
关键词：电源滤波器；插入损耗；矢量网络分析仪；频谱分析仪引言电波暗室由于其高性能的要求，对于其使用的电源滤波器往往要求在较宽的频率范围内有较大的插入损耗，如在频率范围14kHz-30MHz 内，电源滤波器的插入损耗不低于100dB 。
但是，由于电波暗室所使用的电源滤波器大多为交流220V 、380V 等高电压电源提供滤波，且滤波器的额定电流一般在几十安培，甚至上百安培，导致滤波器本身尺寸较大；另一方面，这类滤波器需要直接与市电供电线相连，为普通低频线缆，导致滤波器接线端子不能采用射频连接头。
在对滤波器的插损进行测试时，以上滤波器的外形特征会给测试带来一定困难。
本文将对滤波器的插损测试矢量网络分析仪法和频谱仪法进行对比分析，给出这类滤波器合理测试建议。
1 滤波器插损测试原理电波暗室用高性能电源滤波器主要用于暗室电源EMI 干扰滤波，保证接入暗室内的电源环境是干净的，满足电磁兼容测试的供电要求。
一般而言，滤波器的主要性能指标包括插入损耗、频率特性、阻抗匹配、额定电流值、绝缘电阻值、漏电流、物理尺寸及重量、使用环境以及本身的可靠性。
在使用时考虑最多的是额定电压电流值、插入损耗和漏电流三项，而本文主要讨论滤波器的参数：插入损耗。
滤波器插入损耗是指有用信号通过的能力，插入损耗越大表示信号通过能力越弱。
滤波器插入损耗测试分为共模和差模测试，测试原理图如图1所示。
在滤波器的输入端连接信号发生器，在输出端连接接收机，二者测试的差别在于地线的连接。
当源阻抗和负载阻抗等于50Ω时，插入损耗定义为：不加电源滤波器时从干扰源传递到负载的干扰电压0V 与接入滤波器时负载上的干扰电源1V 之比，通常用（1）式表示：1V IL=20lgV （1） 式中IL 为插入损耗，单位dB 。
插入损耗测试
EMI电源滤波器插入损耗的测量方法EMI滤波器尚没有产品类国标,只是企业标准，EMI电源滤波器的主要性能指标一般包括插入损耗、频率特性、阻抗匹配、额定的电流值、绝缘电阻值、漏电流、物理尺寸及重量、使用环境以及本身的可靠性。
在使用时考虑最多的是额定的电压及电流值、插入损耗、漏电流三项.本文主要介绍EMI滤波器插入损耗的测量方法。
EMI滤波器插入损耗测量方法是根据CISPR17 (1981）出版物提出的滤波器标准测量方法包括共模、差模、常模和0.1Ω／100Ω阻抗测量方法。
1. 共模插入损耗标准测量方法根据CISPR17 （1981)出版物B6提出的共模插入损耗标准测量方法(Asymmetrical Measurement)，如图1。
1所示。
根据插入损耗的定义，先要测量没有滤波器时，负载50Ω上的电压V1作为0dB的参考电压.再测量有滤波器后,负载500上的电压V2,通过频谱分析仪将20log（V1/V2)随频率变化的结果显示在屏幕上或通过接口打印出来。
测量时注意,滤波器的输入端和输出端是并联的，目的是取得共模插入损耗的平均值。
因为滤波器的Cy电容量尽管标称值和误差等级一样，其实际值也不完全一样，电感尽管绕组匝数一样，但磁芯的磁导率误差和工艺上也很难实现在绕制和装配时完全对称,因此采用平均值才有意义。
图1。
1 共模插入损耗的典型测量方法2．差模插入损耗标准测量方法根据CISPR17( 1981）出版物B5提出的差模插入损耗标准测量方法（Symmetrical Meausurement）,如图2。
1 所示。
图2。
1 差模插入损耗的典型测量方法由于频谱分析仪（或标准信号发生器)输出、输入均采用对地非对称结构的50Ω同轴电缆，为了测量对地对称的差模插入损耗，需对频谱分析仪跟踪发生器的输出信号(滤波器的输入信号）进行不对称-对称变换，对频谱分析仪输入信号（滤波器的输出信号)进行对称-不对称的逆变换，其他步骤同上。
光纤连接器的插入损耗
光纤连接器的插入损耗光纤连接器作为光通信系统中最基本也是最重要的光纤无源器件，其市场需求量越来越 大。
近年来随着光纤宽带接入系统的发展，光纤链路中光纤连接器 （包括其它有源及无源器 件上使用的连接头）的使用越来越多，这对光纤连接器的插入损耗的测试准确性提出了越来 越高的要求。
本文将就影响光纤连接器插入损耗的原因以及如何确保插入损耗测试的准确性 及可靠性等问题作以简单的论述。
一. 有关概念1. 光纤连接器插入损耗（IL ） 其中P1为输出光功率，2. 光纤连接器插入损耗的测试方法 光纤连接器的插入损耗的测试方法一般有三种：基准法、替代法、标准跳线比对法。
由于在大批量的生产过程中，要求插入损耗的测试必须快速、准确且无破坏性。
因此现在的生产厂家大都采用第三种方法， 即标准跳线比对法。
其测试原理图 如下：当单模光纤尾纤小于 50M 、多模光纤尾纤小于 10M 时，尾纤自身的损耗可以忽略不计，此时测得的数据即为 3端相对于标准连接器的插入损耗，并将此数据提供给客户。
当单模光纤尾纤大于50M 、多模光纤尾纤大于 10M 时，应在 测出的损耗值中减去光纤自身的损耗值。
3. 重复性重复性是指同一对插头，在同一只适配器中多次插拔之后，其插入损耗的变化范围。
单位用dB 表示。
重复性一般应小于0.1dB. 4. 互换性由于光纤连接器的插入损耗是用标准跳线比对法测出的， 其值是一个相对值。
所 以在任意对接时，实际的插入损耗值很可能会大于用标准跳线比对法测出的值， 而且不同的连接头、不同的适配器，其影响程度也会有所不同。
因此就有了互 换性这一指标要求。
连接头互换性是指不同插头之间，或者不同适配器任意转 换后，其插入损耗的变化范围。
其一般应小于 0.2dB 。
如光波公司向客户承诺插入损耗小于0.3dB,互换性小于0.2dB ,则任意对接其插入损耗应小于0.5dB 。
纤连接器插入损耗的主要因素1. 光纤结构参数（纤芯直径不同、数值孔径不同、折射率分布不同及其它原因等）的的定义：IL= —10lg P （dB ）P 0P0为输入光功率。
EMI电源滤波器插入损耗测试
EMI 电源滤波器插入损耗测试一、实验目的掌握EMI 电源滤波器共模与差模等效原理，了解矢量网络分析仪的工作原理，并熟练掌握仪器的基本操作流程，深刻理解屏蔽、接地、滤波在工程设计实践中的相互关系。
二、实验原理插入损耗是指电路中接入滤波器网络前后，由噪声源产生的干扰消耗在同一负载上的功率之比，用分贝值表示，即：式中，P1和U1分别表示当EMI 滤波器滤波器未插入前，从噪声源传递到负载的功率和电压；P2和U2分别表示当EMI 滤波器滤波器接入后，从噪声源传递到负载的功率和电压。
利用矢量网络分析仪测试时，插入损耗测量原理图如图1所示。
()()101/2201/2?IL log P P log U U ==共模插入损耗测试原理差模插入损耗测试原理三、实验仪器1.矢量网络分析仪2.EMI滤波器插入损耗测试夹具3.测试电缆及附件4.被测滤波器样件5.滤波器型号：TF-1E0AM-6A6.A4纸若干四、实验内容及步骤(一)滤波器插入损耗测试1．首先对矢网进行校准。
2．按照测试原理图，正确搭建插入损耗测试系统，分别测量直通时（不加滤波器），共模/差模测试状态下，在100KHz~50MHz范围内，系统的插损，要EMI滤波器信号发生器接收机50Ω50Ω50Ω50ΩEL LN NEMI滤波器信号发生器接收机50Ω50ΩEL LN N求保存S21参数曲线，标记至少10个频点，并记录数据。
3．按原理图安装好受试滤波器样件。
注意，确认引线连接的共模状态和差模状态，并要求滤波器外壳良好接地，同时注意滤波器的输入输出分别与矢网的port1和port2连接。
4．将夹具设定在共模工作状态下，从矢量网络分析仪上读取S21参数曲线，保存曲线图并记录至少10个频点处的数据；切换至差模工作状态再次测试，并记录数据。
(二)滤波器安装使用状态对插入损耗的影响1、滤波器接地状态对插入损耗的影响在共模测试状态下，改变滤波器接地状态，通过矢量网络分析仪测量得到其插入损耗曲线，与（一）中结果对比，并分析其原因。
基频 插入损耗-概述说明以及解释
基频插入损耗-概述说明以及解释1.引言1.1 概述基频插入损耗是在电信通信系统中经常涉及到的一个重要概念。
基频是指信号中的最低频率成分，它在信号中扮演着重要的角色。
而插入损耗是指信号通过各种电路或传输介质时所引起的能量损耗。
在通信系统中，保持基频的完整性和降低插入损耗对信号的传输质量都至关重要。
基频在通信系统中扮演着至关重要的角色。
首先，基频代表了信号中最重要的信息，很多时候我们主要关注基频的传输质量。
其次，基频的完整性对于信号的解调和识别也具有重要意义。
如果基频受到损坏或衰减，可能导致信号质量下降，从而影响通信系统的性能。
然而，信号在传输过程中会经历一系列电路和传输介质，如滤波器、连接器、传输线等。
这些元件和介质可能会引起能量的损耗，从而导致插入损耗的产生。
插入损耗的大小取决于元件和介质的特性以及信号频率。
因此，减小插入损耗对于保持基频的完整性和信号质量至关重要。
本文将会深入探讨基频的定义和影响因素，以及插入损耗的定义和测量方法。
希望通过本文的阐述，读者可以更好地理解基频和插入损耗的概念，并且在实际应用中能够有效地处理基频插入损耗的问题。
在结论部分，我们将总结基频的重要性，并归纳插入损耗的影响因素，以期为相关领域的研究和实践提供有益的参考。
1.2 文章结构文章结构部分的内容应包括：本文主要分为引言、正文和结论三个部分来讨论基频和插入损耗的相关内容。
引言部分将首先概述本文的主题和背景，介绍基频和插入损耗的概念及其在相关领域的重要性。
同时，引言部分还将简要介绍本文的结构和内容安排，以帮助读者更好地理解全文。
正文部分是本文的主体，将进一步深入讨论基频和插入损耗的相关内容。
其中，基频部分将给出基频的定义，包括其在信号处理、通信等领域中的应用。
同时，还将详细介绍影响基频的因素，如环境条件、材料特性等。
插入损耗部分将给出插入损耗的定义，以及常用的测量方法，包括直接法、回波法等。
通过对这些内容的阐述，读者能够更深入地了解基频和插入损耗的相关概念和研究方法。
光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗的测试
光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗的测试一．实验目的和任务1．了解光隔离器的工作原理和主要功能。
2．了解光隔离器各参数的测量方法。
3．测量光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗参数。
二．实验原理光隔离器又称为光单向器，是一种光非互易传输无源器件，该器件用来消除或抑制光纤信道中产生的反向光，由于这类反向光的存在，导致光路系统间将产生自耦合效应，使激光器的工作变得不稳定和产生系统反射噪声，使光纤链路上的光放大器发生变化和产生自激励，造成整个光纤通信系统无法正常工作。
若在半导体激光器输出端和光放大器输入或输出端连接上光隔离器，减小反射光对LD的影响，因此，光隔离器是高码速光纤通信系统、精密光纤传感器等高技术领域必不可少的元器件之一。
光隔离器是利用了磁光晶体的法拉第效应，其组成元件有：光纤准直器（Optical Fiber Collimator）、法拉第旋转器（Faraday Rotator）和偏振器（Polarizator）。
隔离器按照偏振特性来分，有偏振相关型和偏振无关型。
它们的原理图如图1.1和图1.2所示：图1.1 偏振相关的光隔离器图1.2 偏振无关的光隔离器对于偏振相关光隔离器，光通过法拉第旋转器时，在磁场作用下，光偏振方向旋转角为FHL =φ，式中H 为磁场强度，L 为法拉第材料长度，F 为材料的贾尔德系数。
如图1.1，当输入光通过垂直偏振起偏器后，成为垂直偏振光，经过法拉第旋转器旋转了045，而检偏器偏振方向和起偏器偏振方向成045角，使得光线顺利通过，而反射回来的偏振光经过检偏器、法拉第旋转器以后，继续沿同一方向旋转045，即偏振方向刚好与起偏器偏振方向垂直，则光无法反向通过。
由于只有垂直偏振的光能通过光隔离器，因此称为偏振相关光隔离器。
偏振无关光隔离器如图1.2所示，图1.2(a)为光隔离器正向输入。
当包含两个正交偏振的输入光波被一个偏振分束器分离，变为垂直偏振光和平行偏振光。
插入损耗法
插入损耗法
插入损耗法是电气工程中的一种测量方法，它可以用来衡量线路系统中的信号噪声和
衰减程度。
插入损耗法在通信系统和广播系统中广泛应用，能够准确地测量数据传输中的
干扰和信号失真情况，有助于提高系统的传输质量。
该方法的原理是在信号源和负载之间插入一个负载电路，并测量在该电路中发生的损耗。
插入损耗法可以分为两种类型，即有源插入法和无源插入法。
有源插入法使用发生器
来激励电路，而无源插入法则使用阻抗匹配器来模拟发生器。
在实际应用中，插入损耗法需要注意以下三点：首先，需要使用高质量的测试仪器和
电路元件，以确保测量的准确性和可靠性；其次，需要注意信号的频率，因为不同频率的
信号会在电路中产生不同的损耗；最后，需要选择合适的负载电路来模拟实际的负载条
件。
使用插入损耗法可以得到线路系统的信号损耗和信噪比，能够帮助工程师诊断电路中
的问题，并对电路进行优化。
另外，插入损耗法还可以用于测量滤波器和放大器的性能，
可以帮助工程师判断其是否符合设计要求。
总之，插入损耗法是一种非常实用的测量方法，可以用于衡量电路中信号传输的性能，对于工程师进行电路设计和优化具有重要意义。
试验一插入法测光纤的平均损耗系数
实验一 插入法测光纤的平均损耗系数一．实验目的1．掌握插入法测量光纤损耗系数的原理 2． 熟悉光纤多用表的使用方法二．实验原理最精确的光纤损耗测量方法是剪断法，这种方法首先在光纤输出端（远端）测量光功率，然后在不改变入射条件的情况下，在离光源几米长的光纤处剪断，再测量近端光功率，如图1.1所示。
图1.1 剪断法测量光纤损耗的示意图但是这种方法是破坏性的。
在工程中往往需要非破坏性测量，因此更常用插入法测量光纤的损耗。
插入法测量光纤损耗的装置如图1.2所示。
图1.2 插入损耗法测量光纤损耗光源（a ）参考测量光源光纤活动连接器（b ） 被测光纤损耗测量光源光的发射和探测都通过光纤活动连接器连接。
光源发出的光通过光的注入系统输入到短光纤中，并通过光纤活动连接器与光功率计接通。
首先，测量短光纤的输出功率()mW P λ1，然后通过光纤连接器接入被测光纤，测量长光纤的输出功率()mW P λ2，则光纤的总损耗为()()()dB P P A λλ21lg10= （1-1）A 实际上是被测光纤的损耗与连接器损耗之和。
如果忽略连接器损耗，被测光纤的长度为L ，则光纤的损耗系数为()km dB LA=α （1-2） 对于多模光纤，不同的模式分布对损耗有很大影响。
不同的发射条件，可产生不同的模式分布，因此有不同的光纤损耗值。
解决办法是在光的注入系统加一个扰模器，使多模光纤在短的传播长度内达到稳态模分布。
对于单模光纤，光的注入系统是一个剥模器，可以滤除单模光纤的包层模。
三．实验设备AV2498光纤多用表、 1310nmLD 光源、 待测光纤、 光纤跳线四．实验步骤1．将1310nmLD 光源打开预热30分钟。
2． 在激光耦合进光纤的起始端，用一定长度的光纤跳线在扰模器上缠绕，达到稳定 的模式输出后，在光纤跳线的另一端测量或连接待测光纤。
3．将光纤多用表电源开关拨到"单开"位置。
4．光纤多用表调零 。
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EMI电源滤波器插入损耗的测量方法
EMI滤波器尚没有产品类国标，只是企业标准，EMI电源滤波器的主要性能指标一般包括插入损耗、频率特性、阻抗匹配、额定的电流值、绝缘电阻值、漏电流、物理尺寸及重量、使用环境以及本身的可靠性。
在使用时考虑最多的是额定的电压及电流值、插入损耗、漏电流三项。
本文主要介绍EMI滤波器插入损耗的测量方法。
EMI滤波器插入损耗测量方法是根据CISPR17(1981)出版物提出的滤波器标准测量方法包括共模、差模、常模和Q/ 100 Q阻抗测量方法。
1.共模插入损耗标准测量方法
根据CISPR17(1981)出版物B6提出的共模插入损耗标准测量方法(Asymmetrical Measureme nt),如图所示。
根据插入损耗的定义，先要测量没有滤波器时，负载
50Q上的电压V1作为OdB的参考电压。
再测量有滤波器后，负载500上的电压V2,通过频谱分析仪将20log(V1V2)随频率变化的结果显示在屏幕上或通过接口打印出来。
测量时注意，滤波器的输入端和输出端是并联的，目的是取得共模插入损耗的平均值。
因为滤波器的Cy电容量尽管标称值和误差等级一样，其实际值也不完全一样，电感尽管绕组匝数一样，但磁芯的磁导率误差和工艺上也很难实现在绕制和装配时完全对称，因此采用平均值才有意义。
图共模插入损耗的典型测量方法
2 •差模插入损耗标准测量方法
根据CISPR17( 198出版物B5提出的差模插入损耗标准测量方法(Symmetrical
Meausurement ），如图 所示。
图差模插入损耗的典型测量方法
由于频谱分析仪（或标准信号发生器）输出、输入均采用对地非对称结构的 50 Q 同轴 电缆，为了测量对地对称的差模插入损耗，需对频谱分析仪跟踪发生器的输出信 号（滤波器的输入信号）进行不对称-对称变换，对频谱分析仪输入信号（滤波 器的输出信号）进行对称-不对称的逆变换，其他步骤同上。
3 •常模插入损耗标准测量方法
根据 CISPR17（1981）出版物 B7提出的不对称测量方法 （Un symmetrical Measurement ）又称常模（Normal Mode ）测量，如图所示。
SQ£1 n
频常议¥
500 负載V
图常模插入损耗的测量方法
与共模插入损耗测量电路相比，在 N 和地之间接入一个尚未被标准所批准
的50Q 电阻。
常模也是经常用来表示差模的一种方法，尽管理论分析常模除了
L
L N G 50U 5）書考电路
有差模成分外，还含有共模成分
上述测量方法又称为50Q/50Q系统测量方法，即源和负载阻抗均在50Q匹配条件下测量。
它也是目前许多滤波器制造商传统沿用的测量方法。
用以上共、差模插入损耗测量方法时需注意：
(1) 由于测量仪器输出信号幅值在不同的频率有波动，所以没插入滤波器前的
0dB校正，应该对所测频域的各主要频点逐点进行校对。
具备条件的，可进行计
算机编程进行自动校正。
(2) 被测滤波器外壳应该接地良好，否则MHz以上测得的插入损耗相差很大。
(3) 要确保滤波器输入，输出连接线之间有良好的隔离，以避免它们之间在高频段产生射频耦合，给高频段测量带来很大误差。
(4) 没有频谱分析仪，也可以用标准信号发生器和示波器来代替，但后者动态范围小，在高频段的测量误差较大。
4. Q ,/100阻抗测量方法
根据CISPF出版物提出一种近似”实际的测量方法。
在实际情况中，由于源阻抗和负载阻抗不可能是恒定的50Q,所以实际使用中的滤波器插入损耗特性，与用50Q/50Q系统测量获得的电源滤波器插入损耗特性不尽相同，甚至差别很大。
CISPF出版物提出一种近似实际的测量方法，是Q ,/100 Q 100Q ,/系
统测量方法，如图所示。
Q ,/100及100 Q，/系统测量方法
这里，仅涉及10kHz〜30MHz范围内的插入损耗。
以上是目前插入损耗的主要测量方法，可根据条件选择合适的测量方法。