EL测试培训资料

图三
注：黑芯片是什么原因造成的呢？ 是由于原材料商在拉硅棒的时候没有拉 均匀所致。
暗片会对组件造成哪些影响呢？ 暗片会对组件造成哪些影响呢？
1、暗片可能会导致热斑效应。 暗片可能会导致热斑效应。 2、严重暗片会影响功率和功率测试曲线台阶。 严重暗片会影响功率和功率测试曲线台阶。 如图： 如图：
断栅会对组件造成哪些影响呢？ 断栅会对组件造成哪些影响呢？
造成过刻的原因有可能是排风和药液的问题
短路的危害
1、正负极接反的短路是无功率的 2 、 电池片串与串由异物造成的短路可能就是一 片电池片无功率 3 、 并联之间异物造成的短路可能造成一串或二 串电池片短路 如图： 如图：
注：这是由异物造成一片电池片短路，所以说以后看 到这种黑片要把组件翻过来看看组件内部有没有异物 在做判定。
隐裂会对组件造成哪些影响呢？ 隐裂会对组件造成哪些影响呢？
隐裂可能会导致热斑效应， 1 、 隐裂可能会导致热斑效应 ， 特别注意单晶电 池片隐裂，单晶电池片隐裂会沿着晶界方向延伸， 池片隐裂 ， 单晶电池片隐裂会沿着晶界方向延伸 ， 延伸轻则造成热斑重则造成电池片一块失效区。 延伸轻则造成热斑重则造成电池片一块失效区。 注 ： 隐裂会不会导致热斑效应与电池片栅线 的分布、隐裂的方向有关系。 的分布、隐裂的方向有关系。 电池片的隐裂会加速电池片功率衰减。 2、电池片的隐裂会加速电池片功率衰减。 电池片的隐裂会影响组件的正常使用寿命。 3、电池片的隐裂会影响组件的正常使用寿命。 电池片的隐裂会在机械载荷下扩大， 4 、 电池片的隐裂会在机械载荷下扩大 ， 有可能 会导致开路性的破损。 会导致开路性的破损。 长度超过1mm的隐裂将不能承受 2400PA 的隐裂将不能承受2400PA的 5 、 长度超过 1mm 的隐裂将不能承受 2400PA 的 压力 下页幻灯片为单多晶隐裂图片。 注：下页幻灯片为单多晶隐裂图片。
谢谢大家！ 若有不足希望大家能够补充！
1、断栅会使电流效率降低。 断栅会使电流效率降低。 2、断栅会影响光谱响应、降低转换效率。 断栅会影响光谱响应、降低转换效率。 如图： 如图：
注：断栅是什么原因造成的呢？ 1、可能丝网印刷参数没调好或丝网印刷质量不佳。 2、可能是硅片切割不均匀，在30um尺度可能出现断层现象.
破片会对组件造成哪些影响呢？ 破片会对组件造成哪些影响呢？
1、热应力、机械应力作用不均匀 热应力、 2、损失功率 3、可导致主栅线断裂造成开路性破损。 可导致主栅线断裂造成开路性破损。 如图： 如图：
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低效片会对组件造成哪些影响呢？ 低效片会对组件造成哪些影响呢？
1、直接影响组件的设计功率输出。 直接影响组件的设计功率输出。 如图： 如图：
低效片在EL测试完的整张图 片当中比其它的电池片要亮 很多。
定 义 ： EL ： 电 致 发 光 （electroluminescent） electroluminescent） ,是指电流通过物质时或物质处于强电场下 发光的现象。 发光的现象。
EL测试能测出哪几大不良？ EL测试能测出哪几大不良？ 测试能测出哪几大不良 1、 2、 3、 4、 5、 6、 7、 8、 9、 隐裂 黑芯片 暗片 断栅 破片 低效片 污垢片 过刻 正负极接反等
组件质量部
2011.7.20
制作人： 制作人：金观芳
概括
El的目的及定义 一: El的目的及定义 二： EL主要能测出那几大不良 EL主要能测出那几大不良 关于隐裂、黑心、 三：关于隐裂、黑心、断栅 等不良的分析
EL目的及定义 EL目的及定义
1、EL 目的： 目的：为了使组件产品质量满足质量要求
造成低效片的原因有以下几种：1、若低电流、电压、 FF可能是硅片和PN结的问题 2、也有可能是扩散的问题或原材料的问题如（铝浆）
过刻的危害
1、减小有效光电池面积直接影响短路电流。 减小有效光电池面积直接影响短路电流。 增加电池材料的高频损伤、降低电池参数。 2、增加电池材料的高频损伤、降低电池参数。 会造成一定程度的漏电。 3、会造成一定程度的漏电。 如图： 如图：
图一
图二
注：图一为单晶隐裂片，单晶隐裂片多 为一条隐裂，图像非常明显有凸起的立 体感。
注：图二为多晶隐裂片，多晶隐裂 片多像树叶的经脉一样，像图二第 三块图片我认为它并非隐裂片，只 是疑似隐裂片，我个人认为像这样 疑似隐裂片不要轻易判为隐裂片。
黑芯片会对组件造成哪些影响 呢？
1、黑芯片会造成热击穿。 黑芯片会造成热击穿。 2、黑芯片会影响功率测试的曲线台阶。 黑芯片会影响功率测试的曲线台阶。 3、黑芯片会影响组件功率。 黑芯片会影响组件功率。 注：EL发现黑芯片必须 EL发现黑芯片必须 返工处理。 返工处理。