射线检测通用技术II级考试大纲
射线2级资料
（1）质子数=核电荷数=核外电子数=原子序数（2）原子量=质子数+中子数（3）中子数=原子量—质子数=原子量—原子序数（4）电磁波的波长λ和频率v以及波速c（光速）的关系式为：λ=c/v（5）连续谱存在一个最短波长λmin 其数值只依赖于外加电压V而与靶材料无关E=eV=hv=hc/λmin 式中：h—普朗克常数，h=6.626*10-34j.sλmin=hc/eV=12.4/V(KV) c—光速，c=3.0*108m/se—电子电量，e=1.6*10-19C(库仑)V（KV）—管电压单位（千伏）连续谱中最大强度对应的波长λIM=1.5λmin（6）X射线的产生效率ŋ等于连续射线的总强度I T与管电压V和管电流i的乘积之比，即：ŋ =I T /Vi=K i ZV 式中：K i—比例常数V —管电压Z—原子序数可见，X射线的产生效率与管电压和靶材料原子序数成正比。
在其他条件相同的情况下，管电压越高，X射线产生效率越高;管电压的高压波形越接近恒压，X射线产生效率也越高。
（7）γ射线衰变规律：N=N o e-λT式中： N—衰变后强度N o—初始强度λ—比例系数（衰变常数） T—时间半衰期：放射性同位素衰变掉原有核数一半所需时间。
用T1/2表示，单位（年）（8）窄束，单色射线的强度衰减规律：I= I o e-uT式中：I—透射射线强度I o—初始射线强度u—材料的线衰减系数（cm-1）T—透射厚度(cm)半价层：是指使入射射线强度减少一半的吸收物质厚度。
用T1/2表示，单位（年）T1/2= 0.693/ u（9）宽束，多色射线的强度衰减规律：I=I P+I S=I P(1+I S/I P)=I P(1+n) 考虑总的强度衰减结果，可以归纳以下关系式：I= I o e-uT（10）宽束多色射线强度衰减规律：I= I o e-uT（1+n）式中： I—透射射线强度I o—初始射线强度Ln(I/I o)=-uT u—平均衰减系数（cm-1）T—透射厚度(cm)n —散射比I S/I P(11)对斜靶定向X射线管，其有效焦点面积S O=Ssinα式中：靶与垂直管轴线平面的夹角，一般α=200所以近似关系式：S O=S/3 （12）黑度D定义为照射光强L O与透射光强L之比的常用对数值，即：D=lg(L O/L)L= L O/10D容度（L），最大密度（D max）,这些特性可以在胶片特性曲线上定量表示。
RT2级大纲
特种设备无损检测Ⅱ级人员考核大纲（射线检测部分）第一章通用知识中的专业基础知识1 射线检测的物理基础1.1原子与原子结构1.1.1元素与原子（A）1.1.2核外电子运动规律（A）1.1.3原子核结构（A）1.2射线的种类和性质1.2.1 χ射线和γ射线的性质（B）1.2.2 χ射线产生及其特点（1）连续谱的产生和特点（B）（2）标识谱的产生和特点（A）1.2.3 γ射线的产生及其特点（B）1.2.4 射线的种类（A）1.3射线与物质的相互作用1.3.1光电效应（B）1.3.2康普顿效应（B）1.3.3电子对效应（A）1.3.4瑞利散射（A）1.3.5各种相互作用发生的相对概率（A）1.3.6窄束、单色射线的强度衰减规律（B）1.3.7宽束、多色射线的强度衰减规律（A）1.4射线照相法的原理与特点1.4.1射线照相法的原理（C）1.4.2射线照相法的特点（C）2 射线检测设备及器材2.1 χ射线机2.1.1 χ射线机的种类和特点（1）χ射线机的分类（B）（2）携带式χ射线机的技术进展（A）2.1.2 χ射线管（1）结构和种类：普通χ射线管、金属陶瓷管（B）特殊用途管（A）（2）技术性能①阴极特性和阳极特性（B）②管电压（B）③焦点（B）④辐射场的分布（B）⑤真空度（A）⑥寿命（C）2.1.3高压发生电路（1）半波整流电路（B）（2）全波整流电路（A）（3）倍压整流电路（A）（4）全波倍压恒直流电路（A）2.1.4 χ射线机的基本结构（B）2.1.5 χ射线机的主要技术条件（A）2.1.6 χ射线机的使用、维护和修理（1）χ射线机操作程序（C）（2）χ射线机的使用注意事项（C）（3）χ射线机的维护和保养（C）（4）χ射线机的常见故障（A）2.2 γ射线机2.2.1 γ射线源的主要特性参数（A）2.2.2 γ射线探伤设备的特点（B）2.2.3 γ射线探伤设备的分类与结构（A）2.2.4 γ射线探伤机的操作（B）2.2.5 γ射线探伤设备的维护和故障排除（B）2.3射线照相胶片2.3.1射线照相胶片的构造与特点（B）2.3.2感光原理及潜影的形成（A）2.3.3底片黑度（C）2.3.4射线胶片的特性（1）特性曲线（C）（2）特性参数（B）2.3.5卤化银粒度对胶片性能的影响（A）2.3.6胶片的光谱感光度（A）2.3.7工业射线胶片系统的分类（B）2.3.8胶片的使用与保管（C）2.4射线照相辅助设备器材2.4.1黑度计（光密度计）（B）2.4.2增感屏（C）2.4.3像质计（C）2.4.4其他照相辅助设备器材（C）3 射线照相灵敏度的影响因素3.1射线照相灵敏度的影响因素3.1.1 概述（A）3.1.2射线照相对比度（1）对比度公式的推导（A）（2）对比度的影响因素①影响主因对比度的因素（B）②影响胶片对比度的因素（A）3.1.3射线照相清晰度（1）几何不清晰度Ug（C）（2）固有不清晰度Ui（B）3.1.4射线照相颗粒度（B）3.2 灵敏度和缺陷检出的有关研究（1）最小可见对比度△Dmi n（A）（2）射线底片黑度与灵敏度（A）（3）几何因素对小缺陷对比度的影响（A）4 射线透照工艺4.1透照工艺条件的选择4.1.1射线源和能量的选择（1）射线源的选择（A）（2）χ射线能量的选择（B）4.1.2焦距的选择（1）焦距与射线照相灵敏度的关系（C）；（2）焦距与被检工件的几何形状及透照方式的关系（B）（3）焦距与总不清晰度的关系（A）4.1.3曝光量的选择和修正（1）曝光量的推荐值（C）（2）互易律、平方反比定律和曝光因子（C）（3）曝光量的修正计算①利用曝光因子的曝光量修正计算（C）②利用胶片特性曲线的曝光量修正计算（A）4.2透照方式的选择和一次透照长度的计算4.2.1透照方式的选择（C）4.2.2一次透照长度的计算（1）透照厚度比K值与一次透照长度的关系（C）（2）直缝透照一次长度的计算（C）（3）环缝单壁外透法一次长度的计算（C）（此要求宜针对图表法而非公式法）（4）环缝单壁内透法一次长度的计算（C）（此要求宜针对图表法而非公式法）（5）环缝双壁单影法一次长度的计算（C）（此要求宜针对图表法而非公式法）4.3曝光曲线的制作及应用4.3.1曝光曲线的构成和使用条件（C）4.3.2曝光曲线的制作（C）4.3.3曝光曲线的使用（C）4.4散射线的控制4.4.1散射线的来源和分类（B）4.4.2散射比的影响因素（A）4.4.3散射线的控制措施（1）选择合适的射线能量（B）（2）使用铅箔增感屏（B）（3）散射线的专门控制措施：背防护铅板、铅罩和光阑、厚度补偿物、滤板、修磨试件（B）4.5焊缝透照常规工艺4.5.1透照工艺的分类和内容（B）4.5.2焊缝透照专用工艺卡示例（B）4.5.3焊缝透照的基本操作（C）4.6射线透照技术和工艺研究4.6.1大厚度比试件的透照技术（B）4.6.2安放式接管管座焊缝的射线照相技术要点（B）4.6.3管子—管板角焊缝的射线照相技术要点（B）4.6.4小径薄壁管透照技术与工艺（1）透照布置（B）（2）厚度变化分析（A）（3）透照次数计算（B）（4）像质要求（B）4.6.4球罐γ射线全景曝光工艺（设备和器材选择、工艺程序、曝光时间的计算、及措施布置、注意事项、安全管理）（B）5.暗室处理技术5.1暗室基本知识5.1.1暗室布置及对工作质量的影响（B）5.1.2暗室设备器材使用知识（B）5.1.3配液注意事项（B）5.1.4胶片处理程序和操作要点（B）5.1.5胶片处理的药液配方（A）5.1.6控制使用单位的胶片处理条件的方法（B）5.2暗室处理技术5.2.1显影（1）显影液的组成及作用（B）（2）影响显影的因素（B）（3）显影的基本原理（A）5.2.2停显（1）组成及作用（B）（2）基本原理（A）5.2.3定影（1）定影液的组成及作用（B）（2）影响定影的因素（B）；（3）定影的化学知识（A）5.2.4水洗和干燥（B）5.3 自动洗片机（A）6 射线照相底片的评定6.1评片工作的基本要求6.1.1底片的质量要求（C）6.1.2环境、设备条件要求（C）6.1.3人员条件要求（C）6.1.4与评片基本要求相关的知识（A）6.2评片基本知识6.2.1管片的基本操作（B）6.2.2投影的基本概念（B）6.2.3焊接的基本知识（A）6.2.4焊接缺陷的危害性及分类（A）6.3底片影像分析6.3.1焊接缺陷影像（B）6.3.2常见伪缺陷影像及识别方法（B）6.3.3表面几何影像的识别（B）6.3.4底片影像分析要点（B）6.4焊接接头的质量等级评定6.4.1焊接接头质量分级规定评说（B）6.4.2射线照相检验的记录与报告（B）。
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题集
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题一、相关法规、规范1）判断题1.《特种设备无损检测人员考核规则》规定考核范围内的无损检测方法包括射线（RT）、超声（UT）、磁粉（MT）、渗透（PT）、声发射（AE）和涡流（ECT）六种。
2.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，特种设备《检测人员证》的有效期为4年。
3.《特种设备无损检测人员考核规则》要求报考的检测人员至少单眼或者双眼的裸眼或者矫正视力不低于《标准对数视力表》的5.0级。
4.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，各级人员笔试和实际操作考试的合格标准均为70分。
5.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，年龄65周岁以上（含65周岁）人员的换证申请不再予以受理。
6.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，换证分为考试换证和审核换证两种方式，审核换证应当在取证后首次换证时实施，以后采取考试换证与审核换证交替实施，不得连续实施审核换证。
7.《锅炉安全技术监察规程》适用于符合《特种设备安全监察条例》范围内的固定式承压蒸汽锅炉、承压热水锅炉、有机热载体锅炉、以及以余热利用为主要目的的烟道式、烟道与管壳组合式余热锅炉。
8.《锅炉安全技术监察规程》规定，锅炉受压元件及其焊接接头质量检验，包括外观检验、通球试验、化学成份分析、无损检测、力学性能检验、水压试验等。
9.《锅炉安全技术监察规程》规定，当选用超声衍射时差法（TOFD）时，应当与脉冲回波法（PE）组合进行检测，检测结论应进行分别判定。
10.锅炉受压部件无损检测方法应当符合NB/T47013（JB/T4730）《承压设备无损检测》的要求。
管子对接接头实时成像应符合相应技术规定。
11.GB150－2011《压力容器》规定，第Ⅲ类容器的对接焊接接头应进行100%射线或超声波检测。
12.GB150－2011《压力容器》规定，对于进行局部射线或者超声波检测的压力容器，其公称直径D N ≥250mm的接管与长颈法兰、接管与接管对接连接的焊接接头应进行100%射线或超声波检测。
射线RT-II考证问答题试题及答案（2）
射线RT-II考证问答题试题及答案（2）广东省无损检测射线RT-II考证问答题试题及答案（2）1、金属材料的性能主要包括哪些内容？答：金属材料主要有使用性能和工艺性能。
使用性能是为了保证机械零件、设备、结构件等能正常工作，材料应具备的性能，主要有力学性能（强度，硬度，刚度，塑形，韧性等），物理性能（密度，导热性，热膨胀性等），化学性能（耐蚀性，热稳定性等）；工艺性能即材料在被制成机械零件、设备、结构件的过程中适应各种冷、热加工的性能。
2、什么是金属的冲击韧性？他与哪些因素有关？答：金属的冲击韧性是指材料在外加冲击载荷作用下断裂时消耗量大小的特性，与材料的化学成分，冶金质量，组织状态，内部缺陷及实验温度等有关3、什么叫焊后热处理，其目的是什么？答：承压类特种设备的消除应力退火处理主要是指焊后热处理（PWHT）。
焊后热处理是一般是指将工件加热到Acl以下100~200℃，对碳钢和低合金钢大致在500~650℃，保温然后缓慢冷却。
目的是消除焊接、冷变形加工，铸造等所产生的应力，使焊缝的氢较完全的扩散，提高焊缝抗裂性和韧性。
4、什么是退火，退火的目的是什么，简述退火的分类。
答：退火是指将试件加热到适当温度，保温一定时间后缓慢冷却，以获得接近平衡状态阻止的热处理工艺。
其目的是均匀组织，消除应力，降低硬度，改善切削加工性能。
退火的分类按照钢的成分分为完全退火，不完全退火，消除应力退火，等温退火和球化退火等。
5、制作锅炉压力容器的材料的基本要求有什么？答：1、为保证安全性和经济性，材料应有足够的强度，即较高的屈服极限和强度极限；2、保证在承受外加载荷时不发生脆性破坏，材料应有良好的韧性。
3、应有良好的加工工艺性能，包括冷热加工成型性能及焊接性能。
4、具有良好的高温特性。
5、与腐蚀介质接触的材料应具有优良的抗腐蚀性能。
6、什么叫低合金钢？他与碳素钢相比较有什么优点？答：在钢中加入少量（≤5%）合金元素，而使钢强度和综合性能明显提高或使钢具有某些特殊性能称为低碳钢。
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题答案
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题答案题目一：射线检测概述射线检测是一种常用的无损检测方法，可以用来检测材料内部的缺陷和不均匀性。
这些缺陷和不均匀性可能会对材料的性能和可靠性产生不利影响。
射线检测技术可以应用于多种材料，如金属、陶瓷、复合材料等。
本题将考查你对射线检测的基本概念和原理的理解。
答案：射线检测是一种无损检测方法，通过使用高能射线（如X射线或伽马射线）照射材料，并检测透射或散射的射线以获取内部信息。
射线检测可以检测材料内部的缺陷，包括裂纹、气孔、夹杂物等。
它还可以检测材料的密度、厚度和成分不均匀性。
射线检测的原理是基于射线与物质的相互作用。
当射线穿过材料时，会与材料内的原子发生相互作用，这些相互作用会导致射线散射或吸收。
通过测量散射和吸收的射线，可以推断出材料内部的信息。
常用的射线检测方法包括射线透射法和射线散射法。
射线检测具有以下优点： - 非破坏性：射线检测不会对材料造成任何损伤。
- 可靠性：射线检测可以准确地检测材料内部的缺陷和不均匀性。
- 高灵敏度：射线检测可以探测微小的缺陷和不均匀性。
- 全面性：射线检测可以应用于多种材料和各种尺寸的零部件。
综上所述，射线检测是一种重要的无损检测方法，可以帮助我们检测材料内部的缺陷和不均匀性，提高材料的质量和可靠性。
题目二：射线安全操作规程在进行射线检测工作时，安全操作是至关重要的。
违反射线安全操作规程可能会导致辐射泄漏和伤害。
本题将考查你对射线安全操作的了解。
答案：射线安全操作规程是为了保护工作人员和周围环境免受辐射泄漏的危害而制定的规程。
以下是一些射线安全操作的基本原则：1.熟悉和遵守相关法律法规：工作人员应熟悉并遵守国家和地方政府制定的射线安全法律法规，如辐射保护法、射线工作人员安全管理办法等。
2.接受专业培训：所有进行射线检测的工作人员应接受相关的射线安全培训，了解射线的基本知识、安全操作规程和紧急情况处理方法。
3.使用个人防护装备：进行射线检测时，工作人员应佩戴适当的个人防护装备，如防护服、手套、护目镜等，以保护自己免受辐射的影响。
无损检测Ⅱ级人员培训系列教材之射线检测试题及答案汇编
第二部分射线检测本文源自：无损检测招聘网 一、正误判断题（在括弧内，正确的画○，错误的画×）1．高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用，电子失去其能量以光子形式辐射出来，这种辐射称韧致辐射。
〈○〉2※.线质是对射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较软，穿透力较弱的射线称其线质较硬。
（×）3、高速运动的电子同靶原子的轨道电子碰撞时，有可能将原子内层的一个电子击到未被电子填充的外层轨道上，其外层的电子向内层跃迁，以光子的形式辐射出多余的能置，这就产生了标识射线。
4、康普顿散射不是由轨道电子引起的，而主要是光于同固体内的自由电子相互作用引起的。
5、X、γ射线是电磁辐射；中子射线是粒子辐射。
（○）6※、具有连续光谱的x射线，称连续x射线，又称白色x射线。
7※、由发射x射线的材料特征决定波长的连续Ⅹ射线，称标识x射线，又称特征x射线（×）8、一定能量的连续x射线穿透物质时，随厚度的增加射线的总强度减小，平均波长变短，但最短波长不变。
（○）9※、加在x光管两端的电压越低，则电子的速度就越大，辐射出的射线能量就越高。
〈×〉10※、射线的线质越软，其光子能墨越大，波长越短，笄透力越强，衰减系数越小，半价层越大。
（×）11．Y射线的能盘取决于放射性同位苯的活度或居里效，而它的强度取决于源的种类。
（×）12※、射线的能量减弱到初始值上半时所穿过物质的厚度，称半价层，又称半值层。
（×）13※、放射性同位紊的能搔蜕变至其原值一半所需时间，称半衰期。
（×）14※、描述放射性物质不稳定程度的量称为“活度”。
（○）15、在核反应堆中，把一种元素变为放射性元素的过程，称为激活。
（○）16v当原子核内质子数不变，而原子量增加时，它就变戚另一种元素。
（×）17※、不稳定的同位素，称为放射性同位素。
（○）18※、光子是以光速传播的微小的物质粒子。
射线检测二级题库1
第一部分射线检测共：690题其中：是非题213题选择题283题问答题79题计算题115题一、是非题原子序数Z等于原子核中的质子数量。
（○）为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。
（○）当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。
（×）当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。
（×）原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。
（○）不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。
（×）不同种类的同位素，放射性活度大的总是比放射性活度小的具有更高的辐射剂量。
（×）放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。
（×）各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。
（×）α射线和β射线虽然有很强的穿透能力，但由于对人体辐射伤害太大，所以一般不用于工业探伤。
（×）将元素放在核反应堆中受过量中子轰击，从而变成人造放射性同位素，这一过程称为“激活”。
（○）与其他放射性同位素不同，C s137是原子裂变的产物，在常温下呈液态，使用前须防止泄漏污染。
（○）与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。
（×）射线能量越高，传播速度越快，例如γ射线比X射线传播快。
（×） X射线或γ射线强度越高，其能量就越大。
（×） X射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。
（×）当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。
（×）如果母材的密度比缺陷的密度大一倍，而母材的原子序数比缺陷的原子序数小一半时，缺陷在底片上所成的象是白斑。
（×）标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。
（×）连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。
（×） X射线的波长与管电压有关。
（○） X射线机产生X射线的效率比较高，大约有95%的电能转化为X射线的能量。
中国船级社射线ii级检测试题(一)
中国船级社射线ii级检测试题(一)
中国船级社射线II级检测相关测试题
选择题：
1.射线级别分为多少级别？
• A. I级检
• B. II级检
• C. III级检
• D. IV级检
2.射线级别的划分依据是什么？
• A. 设备射线来源的强弱
• B. 设备的射线辐射范围
• C. 设备的射线防护措施
• D. 设备的射线剂量
3.射线II级检测主要应用于哪些领域？
• A. 车辆安全检测
• B. 船舶安全检测
• C. 建筑结构安全检测
• D. 石油化工设备安全检测
填空题：
1.射线II级检是指对________及其射线防护屏蔽及区
域、设备布置和射线源进行检查和评价。
2.射线级别的划分按照国际标准________进行划分。
简答题：
1.请简述射线II级检测的意义和作用。
2.请列举射线II级检测的主要内容和方法。
3.在进行射线II级检测时，应注意哪些安全问题和防
护措施？
以上是根据“中国船级社射线II级检”整理的相关测试题。
选择题涉及射线级别的划分和应用领域；填空题要求填写射线II级检的具体内容；简答题则需要回答射线II级检的意义和作用、主要内容和方法，以及在检测过程中需要注意的安全问题和防护措施。
射线检测二级试题
射线检测二级试题姓名单位得分一、是非题（共25题，1分/题，以“+”表示正确“—”表示不正确）1、X射线经材料滤波后，最短波长会变短，即线质硬化。
（）7、对某一放射性同位素，其活度越大，则所发出的射线强度也越大，而其比活度越大，则射线源的焦点尺寸也只能做得越大。
（）11、散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。
（ + ）12、对于穿透同一种材料，半介层越大的射线，其射线照相对比度也越高。
（）15、欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。
（ + ）16、无论采用哪一种透照方式，只要保证K值不变，一次透照长度都随着焦距的增大而增大。
（）18、当透照厚度差较大的工件时，应特别注意边蚀散射的防护。
（ + ）19、纵缝双壁单影照相时，搭接标记应放在胶片侧，底片的有效评定长度就是两搭接标记的长度。
（）21、胶片未曝光部分变为透明时，即说明定影过程已经完成。
（）23、JB4730-94规定，透照不锈钢焊缝也可以使用碳素钢丝象质计。
（ + ）24、JB4730-94规定，单壁透照和双壁透照时，透照厚度采用相同的方法确定。
（94规定，Ir-192采用内透法时，透照厚度的下限值可降低一半。
（＋）二、选择题（共25题，1、5分/题，将单项正确的答案所标字母填入括号）1、在射线检验所采用的能量范围内（100KeV-10MeV），射线穿过钢铁强度衰减的最主要的原因A．光电效应B．康普顿效应 C．电子对效应 D．瑞利散射（ B ）2、EA和EB分别表示200KV和200KeV的Ｘ射线线质，两者硬度关系A．EA>EB B．EA<EB C．EA=EB D．以上均错（ B ）3、射线照相难以检出的缺陷是 A．未焊透和裂纹 B．气孔和未熔合 C．夹渣和咬边D．分层和折叠（ D ）4、下面关于放射性同位素的叙述中，不正确的是A．衰变常数越小，半衰期越长B．r射线强度与放射源活度有关C．每个核衰变中都放出r射线D．以上都不是（ C ）5、Ｘ射线的穿透力主要取决于A．管电流 B．管电压 C．曝光时间D．焦距（ B ）6、工业探伤用X射线管的阳极靶最常用的材料是A．铜 B．钨 C．铍 D．银（ B ）7、可使用Ir-192射线照相的钢试件，其最适合的厚度范围是A．100-200mm B．8-60mm C．4-15mm D．20-90mm（ D ）8、以下哪组名词属同一概念:A．胶片梯度，胶片对比度，胶片反差系数B．底片黑度，底片光学密度，底片灰雾度C．射线照相对比度，射线照相清晰度，射线照相颗粒度D．底片对比度，底片反差，主因对比度（ A ）9、已曝过光的底片，不能在高温高湿环境内保存时间过长，否则会引起A．药膜自动脱落 B．产生白色斑点C．产生静电感光 D．潜影衰退，黑度下降（ D ）10、铅箔增感屏的主要优点是A．可加速胶片感光，同时吸收部分散射线B．可提高照相清晰度C．可减小照相颗粒度D．以上都是（ A ）11、改变透照射线的能量时，下列影像质量因素中发生改变的是A．对比度 B．清晰度C．颗粒度 D．以上全是（ D ）12、下列各项中，散射线影响最大的是A．对比度降低 B．不清晰度增大 C．颗粒度增大 D．以上都是（ A ）13、固有不清晰度与下列哪一因素有关A．源尺寸 B．焦距C．胶片类型 D．射线能量（ D ）14、下列哪一因素对底片颗粒性无明显影响A．显影温度B．使用铅箔增感屏 C．射线穿透力 D．使用荧光增感屏（ B ）15、在制作曝光曲线过程中下列哪一项不是固定条件A．胶片类型 B．底片黑度C．射线能量 D．焦距（ C ）16、透照厚板焊缝时，在近底面有利于检出细小裂纹最主要取决于哪个因素A．焦距 B．固有不清晰度 C．射源尺寸 D．以上全是（ B ）17、对厚度差较大的工件进行透照时，为了得到黑度和层次较均匀的底片，一般做法是A．提高管电流 B．提高管电压 C．增加曝光时间 D．缩短焦距（ B ）18、环缝的透照方式中，下列哪一种方式为最佳A．双壁单影法 B．单壁外透法 C．内透偏心法 D．内透中心法（ D ）19、小径管焊缝一般采用适当提高管电压的双壁双影法透照方式，结果可能造成 A．灵敏度提高，厚度宽容度提高 B．灵敏度降低，厚度宽容度降低 C．灵敏度提高，厚度宽容度降低D．灵敏度降低，厚度宽容度提高（ D ）20、在显影过程中，不断搅动底片的目的是A．使未曝光的AgBr颗粒脱落B．驱除附在底片表面的气泡，使显影加快和均匀C．使曝过光的AgBr迅速溶解D．以上全是（ B ）21、要正确评片，评片人员必须了解A．曝光条件B．工件结构，制造工艺C．显影条件D．以上全部（ D ）22、与专用单位rad，rem相对应的法定计量单位是A．C/Kg Sv B．Gy Bq C．Gy Sv D．C/Kg Gy（ C ）23、下列哪一项不是JB4730-94中规定的底片质量要求项目A．标记影象齐全B．灵敏度C．对比度 D．黑度（ C ）24、JB4730-94规定选用AB级射线照相时，应采用A．金属增感屏B、金属荧光增感屏C、荧光增感屏D、以上都可以（ A ）25、检查背散射防护情况时，射线底片上有时会出现黑度高于周围背景黑度B铅字影象，其原因是A．散射线防护不够造成附加感光 B．B铅字产生的电子造成附加感光C．B铅字产生的二次射线造成附加感光 D．以上都不对（ C ）三、问答计算题（共5题5分/题）1、按JB4730标准B级（K=1、01）要求透照厚度为10mm的容器纵缝，透照焦距为600mm。
RT2级试题
RT2级试题考考你——【Ⅱ级题】——（1）报考Ⅱ级的学员可试一试，二小时完成，70分合格。
答案下一期给出。
Ⅱ级理论试卷（闭卷）特种设备无损检测特种设备无损检测RT专业专业Ⅱ一、是非题（20题，每题2分，共40分。
对画○，错画×）1、X、γ射线与红外线、可见光的区别只是在于波长不同以及产生的方法不同。
（）2、γ射线在空气中以光速直线传播。
（）3、线衰减系数与射线能量、物质的原子系数和密度有关。
（）4、放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。
（）5、金属增感屏除有增感作用外，可吸收散射线，提高影像对比度。
（）6、X射线管焦点的大小与管电压、管电流无关。
（）7、在任何情况下，同位素放射源装置都优于X射线设备，这是由于使用它能得到更高的对比度和清晰度。
（）8、像质计通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。
（）9、Ir192射线源比X射线源对人体的伤害大。
（）10、几何不清晰度Ug与固有不清晰度Ui相等时的焦距值是射线照相的最佳焦距。
（）11、底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像，说明背散射防护符合要求。
（）12、底片对比度越大，影像就越容易被观察和识别。
（）13、滤板的作用相当于减小管电压。
（）14、像质计灵敏度2％，就意味着尺寸大于透照厚度2％的缺陷均可被检出。
（）15、梯噪比高的胶片成像质量差。
（）16、对平板（纵焊缝）照相时，底片上各点的几何不清晰度是不同的。
（）17、黑度是影响小缺陷射线照相清晰度和对比度的共同因素。
（）18、在采用双壁单影法透照环缝时，为得到较大的一次透照长度，应选择较大的焦距。
（）19、无水亚硫酸钠在显影液和定影液中都是起保护剂的作用。
（）20、当X或γ射源移去以后工件不再受辐射作用，但工件本身仍残留极低的辐射。
（）二、单项选择（10题，每题2分，共20分。
）1、在射线探伤中应用最多的三种射线是：（）A．X射线、γ射线和β射线；B．α射线、β射线和γ射线；C．X射线、γ射线和中子射线；D．X射线、γ射线和α射线。
射线检测二级题库概览
第一部分射线检测共：690题其中：是非题213题选择题283题问答题79题计算题115题一、是非题1.1 原子序数Z等于原子核中的质子数量。
（）1.2 为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。
（）1.3 当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。
（）1.4 当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。
（）1.5 原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。
（）1.6 不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。
（）1.7 不同种类的同位素，放射性活度大的总是比放射性活度小的具有更高的辐射剂量。
（）1.8 放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。
（）1.9 各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。
（）1.10 α射线和β射线虽然有很强的穿透能力，但由于对人体辐射伤害太大，所以一般不用于工业探伤。
（）1.11 将元素放在核反应堆中受过量中子轰击，从而变成人造放射性同位素，这一过程称为“激活”。
（）1.12 与其他放射性同位素不同，C s137是原子裂变的产物，在常温下呈液态，使用前须防止泄漏污染。
（）1.13 与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。
（）1.14 射线能量越高，传播速度越快，例如γ射线比X射线传播快。
（）1.15 X射线或γ射线强度越高，其能量就越大。
（）1.16 X射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。
（）1.17 当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。
（）1.18 如果母材的密度比缺陷的密度大一倍，而母材的原子序数比缺陷的原子序数小一半时，缺陷在底片上所成的象是白斑。
（）1.19 标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。
（）1.20 连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。
（）1.21 X射线的波长与管电压有关。
（）1.22 X射线机产生X射线的效率比较高，大约有95%的电能转化为X射线的能量。
民用核安全设备无损检验人员考试大纲
民用核安全设备无损检验人员考试大纲民用核安全设备无损检验人员资格鉴定委员会二〇一〇年十月前 言本考试大纲由民用核安全设备无损检验人员资格鉴定委员会依据《民用核安全设备无损检验人员资格管理规定（HAF602》及《民用核安全设备无损检验人员考核与资格鉴定管理办法》组织编写，包括资格鉴定考核中“笔试”、“实践操作考试”和“综合技术能力考试”所涉及的全部内容，共9篇76章。
本考试大纲是组织民用核安全设备无损检验人员培训和资格考试的依据。
本考试大纲参与编写的人员有（按姓氏笔画排序）：万志坚、王文之、王存杰、王京深、王跃辉、卞雪飞、左畅、冯明全、许贵平、毕炳荣、朱伟青、刘波、任新阁、汤国祥、李苏甲、辛宏斌、花家宏、杨炯、杨建鸿、张克斌、张忠虎、张建军、张继龙、林戈、苟峰、周大禹、唐月明、钱红蕾、聂勇、袁骊、崔广余、梅德松、谢双扣、蔡军等。
本考试大纲的最终解释权在民用核安全设备无损检验人员资格鉴定委员会。
民用核安全设备无损检验人员资格鉴定委员会2010年10月目 录第一篇 无损检验概论 (1)第一章 无损检验概论I级考试大纲 (1)第二章 无损检验概论II级考试大纲 (2)第三章 无损检验概论III级考试大纲 (3)第二篇 超声检验技术 (4)第一章 超声检验通用技术I级考试大纲 (4)第二章 超声检验通用技术II级考试大纲 (7)第三章 超声检验通用技术III级考试大纲 (11)第四章 超声检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (15)第五章 超声检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (17)第六章 超声检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (19)第七章 超声检验技术I级操作考试大纲 (21)第八章 超声检验技术II级操作考试大纲 (22)第九章 超声检验技术III级操作考试大纲 (23)第十章 超声检验综合技术能力III级考试大纲 (24)第三篇 射线检验技术 (25)第一章 射线检验通用技术I级考试大纲 (25)第二章 射线检验通用技术II级考试大纲 (28)第三章 射线检验通用技术III级考试大纲 (31)第四章 射线检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (34)第五章 射线检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (35)第六章 射线检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (36)第七章 射线检验技术I级操作考试大纲 (37)第八章 射线检验技术II级操作考试大纲 (38)第九章 射线检验技术III级操作考试大纲 (39)第十章 射线检验综合技术能力III级考试大纲 (40)第四篇 涡流检验技术 (41)第一章 涡流检验通用技术I级考试大纲 (41)第二章 涡流检验通用技术II级考试大纲 (43)第三章 涡流检验通用技术III级考试大纲 (46)第四章 涡流检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (48)第五章 涡流检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (50)第六章 涡流检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (52)第七章 涡流检验技术I级操作考试大纲 (54)第八章 涡流检验技术II级操作考试大纲 (55)第九章 涡流检验技术III级操作考试大纲 (56)第十章 涡流检验综合技术能力III级考试大纲 (57)第五篇 磁粉检验技术 (58)第一章 磁粉检验通用技术I级考试大纲 (58)第二章 磁粉检验通用技术II级考试大纲 (61)第三章 磁粉检验通用技术III级考试大纲 (64)第四章 磁粉检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (67)第五章 磁粉检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (68)第六章 磁粉检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (69)第七章 磁粉检验技术I级操作考试大纲 (70)第八章 磁粉检验技术II级操作考试大纲 (71)第九章 磁粉检验技术III级操作考试大纲 (72)第十章 磁粉检验综合技术能力III级考试大纲 (73)第六篇 渗透检验技术 (74)第一章 渗透检验通用技术I级考试大纲 (74)第二章 渗透检验通用技术II级考试大纲 (76)第三章 渗透检验通用技术III级考试大纲 (79)第四章 渗透检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (81)第五章 渗透检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (82)第六章 渗透检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (83)第七章 渗透检验技术I级操作考试大纲 (84)第八章 渗透检验技术II级操作考试大纲 (85)第九章 渗透检验技术III级操作考试大纲 (86)第十章 渗透检验综合技术能力III级考试大纲 (87)第七篇 泄漏检验技术 (88)第一章 泄漏检验通用技术I级考试大纲 (88)第二章 泄漏检验通用技术II级考试大纲 (90)第三章 泄漏检验通用技术III级考试大纲 (92)第四章 泄漏检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (94)第五章 泄漏检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (96)第六章 泄漏检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (98)第七章 泄漏检验技术I级操作考试大纲 (100)第八章 泄漏检验技术II级操作考试大纲 (101)第九章 泄漏检验技术III级操作考试大纲 (102)第十章 泄漏检验综合技术能力III级考试大纲 (103)第八篇 目视检验技术 (104)第一章 目视检验通用技术I级考试大纲 (104)第二章 目视检验通用技术II级考试大纲 (106)第三章 目视检验通用技术III级考试大纲 (108)第四章 目视检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (110)第五章 目视检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (111)第六章 目视检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (113)第七章 目视检验技术I级操作考试大纲 (114)第八章 目视检验技术II级操作考试大纲 (115)第九章 目视检验技术III级操作考试大纲 (116)第十章 目视检验综合技术能力III级考试大纲 (117)第九篇 核安全及民用核安全设备基本知识 (118)第一章 核安全及民用核安全设备基本知识I级考试大纲 (118)第二章 核安全及民用核安全设备基本知识II级考试大纲 (120)第三章 核安全及民用核安全设备基本知识III级考试大纲 (122)第一篇 无损检验概论 第一章 无损检验概论I级考试大纲1. 无损检验基础1.1 无损检验的定义与意义1.1.1 无损检验定义（A）1.1.2 无损检验的重要性（B）1.1.3 无损检验的产生与发展（C）1.2 无损检验的特征1.2.1 现代无损检验的特点（B）1.2.2 无损检验的应用特点（C）1.3 无损检验的应用阶段1.3.1 制造与安装中的原材料与零件检查（A）1.3.2 设备与装置的在役检查（C）2. 无损检验方法2.1 无损检验方法分类2.1.1 表面检验（B）2.1.2 体积检验（B）2.2 常规检验方法2.2.1 方法原理（C）2.2.2 方法要点（C） 2.2.3 主要优越性（B）2.2.4 主要局限性（C）3. 材料、加工工艺及缺陷3.1 材料分类3.1.1 金属（B）3.1.2 非金属（C）3.1.3 金属材料的力学性能（C） 3.2 材料加工及缺陷3.2.1 铸造（C）3.2.2 锻造（C）3.2.3 轧制（C）3.2.4 焊接（A）3.3热处理概念（C）3.4 使用过程中产生的缺陷3.4.1 腐蚀（B）3.4.2 疲劳（B）3.4.3 磨蚀（C）1. 无损检验基础1.1 无损检验的定义与意义1.1.1 无损检验定义与内涵（A）1.1.2 无损检验的重要性（B）1.1.3 无损检验需求与方法开发（C）1.2 无损检验的特征1.2.1 现代无损检验的特征（A）1.2.2 无损检验的特点与应用（B）1.3 无损检验的应用阶段1.3.1 在产品设计阶段的应用（C）1.3.2 制造与安装中的检查（A）1.3.3 设备与装置的在役检查（B）2. 无损检验方法2.1 无损检验方法分类2.1.1 表面检验（B）2.1.2 体积检验（B）2.1.3 测量技术（C）2.2 常规检验方法2.2.1 方法原理（A）2.2.2 方法要点（B）2.2.3 主要优越性（B）2.2.4 主要局限性（C）2.3 缺陷检出概率与风险2.3.1 检验系统产生的测量误差（B）2.3.2 危险缺陷漏检的风险（A）2.3.3 多种检验技术应用与缺陷综合评价（B）3. 材料及加工工艺3.1 材料与材料性能3.1.1 黑色金属（B）3.1.2 非金属（C）3.1.3 金属材料力学性能a.铁碳平衡相图（C）b.金属材料的强度、硬度、塑性和韧性（A）3.2 材料评定3.2.1 材料性能测量（C）3.2.2 断裂力学初步知识（C）3.3 材料加工3.3.1 铸造（C）3.3.2 锻造（C）3.3.3 轧制（C）3.3.4 焊接a.焊接方式（B）b.焊缝坡口及焊缝（A）3.4 热处理（B）4. 缺陷产生机理与缺陷特征4.1 原材料中的常见缺陷（A）4.2 焊缝中的常见缺陷（A）4.3 热处理等工艺中出现的缺陷（A） 4.4 使用过程中产生的缺陷4.4.1 腐蚀（A）4.4.2 疲劳（A）4.4.3 磨蚀（C）4.4.4 过载（C）4.4.5 脆性断裂（B）1. 无损检验基础1.1 无损检验的定义与意义1.1.1 无损检验定义与内涵（A）1.1.2 无损检验的重要性与经济性（B）1.1.3 无损检验的需求与方法开发（A）1.2 无损检验的特征1.2.1 现代无损检验的特征（A）1.2.2 无损检验的特点与应用（A）1.3 无损检验的应用阶段1.3.1 在产品设计阶段的应用（B）1.3.2 制造与安装中的检查（A）1.3.3 设备与装置的在役检查（B）2. 无损检验方法2.1 无损检验方法分类2.1.1 表面检查（B）2.1.2 体积检查（B）2.1.3 测量技术（B）2.2 常规检验方法2.2.1 方法原理（A）2.2.2 方法要点（A）2.2.3 主要优越性（A）2.2.4 主要局限性（C）2.3 缺陷检出概率与风险2.3.1 检验系统产生的测量误差（B）2.3.2 危险缺陷漏检的风险（A）2.3.3 多种检验技术应用与缺陷综合评价（B）3. 材料及加工工艺3.1 材料与材料性能3.1.1 金属a.黑色金属（A）b.有色金属（B）3.1.2 非金属（C）3.1.3 金属材料力学性能a.铁碳平衡相图（B）b.金属材料的强度、硬度、塑性和韧性（A）3.2 材料评价3.2.1 材料性能测量（C）3.2.2 断裂力学初步知识（B）3.3 材料加工3.3.1 铸造（B）3.3.2 锻造（B）3.3.3 轧制（B）3.3.4 焊接a.焊接方式（A）b.焊缝坡口及焊缝（A）3.4 热处理（B）4. 缺陷产生机理与缺陷特征4.1 原材料中的常见缺陷（A）4.2 焊缝中的常见缺陷（A）4.3 热处理等工艺中出现的缺陷（A）4.4 使用过程中产生的缺陷4.4.1 腐蚀（A）4.4.2 疲劳（A）4.4.3 磨蚀（B）4.4.4 过载（C）4.4.5 脆性断裂（B）第二篇 超声检验技术第一章 超声检验通用技术I级考试大纲1. 无损检验概论（见第一篇第一章）2. 超声检验的物理基础2.1 振动与波动2.1.1 机械波的产生与传播（A）2.1.2 波长、频率和波速（A）2.1.3 次声波、声波和超声波（B）2.2 超声波2.2.1 波的类型a.纵波和横波（A）b.表面波（B）c.平面波和球面波（B）2.2.2 超声波声速a.固体介质中的声速（A）b.液体介质和气体介质的声速（A）c.影响声速的因素（C）d.声速测量（C）2.2.3 超声场的特征值a.声压（B）b.声强（C）c.声阻抗（C）d.分贝（A）2.2.4 波的迭加、干涉和衍射（C）2.3 超声波的特性2.3.1 超声波垂直入射在单一平面上的反射与透射（A）2.3.2 超声波倾斜入射a.波型转换（A）b.反射与折射（A）c.第一、第二和第三临界角（A）2.4 超声波的衰减2.4.1 扩散衰减（A）2.4.2 散射衰减（B）2.4.3 吸收衰减（C）2.5 声场与规则反射体的回波声压2.5.1 活塞波的声场 a.波源轴线上的声压分布（C）b.波指向性和半扩散角（A）c.未扩散区与扩散区（B）2.5.2 规则反射体的回波声压a.平底孔回波声压（B）b.大平底面回波声压（B）c.长横孔回波声压（B）2.5.3平底孔与大平底回波声压之间的关系（B）3. 超声仪器、探头和试块3.1 超声波仪器3.1.1 超声波探伤仪概述a.仪器功能（A）b.仪器的分类（B）3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理a.仪器方框图及各部分的作用（B）b.仪器调整（A）c.仪器维护（B）3.1.3 数字式超声探伤仪的特点（B）3.2 超声波探头3.2.1 晶片的压电效应（B）3.2.2 探头的种类和结构a.直探头（A）b.斜探头（A）c.双晶探头（C）d.聚集探头（B）3.3 试块3.3.1 试块的分类a.标准试块（A）b.对比试块（A）3.3.2 试块的作用a.确定检验系统的灵敏度（A）b.测试仪器和探头的性能（B）c.评判缺陷在工件中的位置（B）d.评判缺陷的当量大小（B）3.3.3 试块的要求和维护a.标准试块与对比试块的要求（C）b.试块使用与维护（C）3.4 常用耦合剂及其要求（A）3.5 仪器和探头的性能及其测试3.5.1 仪器的性能及其测试a.垂直线性及测试（B）b.水平线性及测试（B）c.动态范围及测试（C）3.5.2 探头的性能及测试a.探头主声束偏离与双峰（C）b.斜探头的入射点（前沿长度）（A）c.斜探头的折射角（A）3.5.3 仪器和探头的综合性能及其测试a.灵敏度余量（A）b.盲区与始脉冲宽度（B）c.分辨率（B）d.信噪比（B）4. 超声检验方法4.1 概述4.1.1 按原理分类a.脉冲反射法（A）b.穿透法（B）4.1.2 按波型分类a.纵波法（A）b.横波法（A）c.表面波法（C）4.1.3 按探头数目分类a.单探头法（A）b.双探头法（B）c.多探头法（C）4.1.4 按探头接触方式分类a.直接接触法（A）b.液浸法（B）4.1.5 按显示方式分类a.A型显示（A）b.B型显示（B）c.C型显示（C）4.2 表面耦合的补偿（B）4.3 超声仪的调节4.3.1 扫描速度的调节 a.纵波扫描速度的调节（A）b.横波扫描速度的调节（A）4.3.2 灵敏度的调节a.试块调整法（A）b.工件底波调整法（A）4.4 缺陷定位和定量4.4.1 缺陷定位a.直探头检验（A）b.斜探头检验（B）4.4.2 缺陷定量a.当量法（A）b.测长法（A）c.底波高度法（B）4.5 影响缺陷定位和定量的主要因素4.5.1 影响缺陷定位的主要因素a.仪器的影响（C）b.探头的影响（C）c.操作人员的影响（A）d.缺陷形状、取向和性质的影响（B）4.5.2 影响缺陷定量的主要因素a.仪器及探头性能的因素（C）b.耦合与衰减的影响（C）c. 缺陷形状、取向和性质的影响（B）d.操作人员的影响（A）4.6非缺陷回波的判别（C）5.超声检验技术应用及标准5.1 检验条件准备5.1.1 文件a.工艺卡的作用和主要内容（C）b.工艺卡规定的检验过程（A）5.1.2 检验系统a.检验系统的构成（C）b.系统校准及检验中的校验（B）5.1.3 被检件a.检验区域识别（A）b.扫查区域的表面准备（B）5.2 超声检验技术应用5.2.1 焊接接头超声波检验a.焊接接头中的常见缺陷（B）b.探测条件的确认（B）c.扫描速度的调节（B）d.距离—波幅曲线的绘制（A）e.扫查方式（B）f. 缺陷位置和尺寸测定（A）5.2.2 锻件检验a.锻件中的常见缺陷（C）b.检验方法（C）c.探测条件的确认（C）d.扫描速度和灵敏度调节（B）e.缺陷位置和尺寸测定（A）5.2.3 铸件检验a.铸件中的常见缺陷（C）b.铸件检验的特点（C）5.2.4 板材检验a.板材常见缺陷（C）b.检验方法（A）c.扫查方式（A）d.探测范围和灵敏度调整（B）e.缺陷的识别与测定（A）5.2.5 管材检验的特点（B）5.3 标准JB/T 4730 总则和超声检验5.3.1 一般要求a.检验范围（A）b.检验人员（C）c.探伤仪器和探头的性能（B）d.检验一般方法（C）e.校准（B）f.缺陷记录（A）5.3.2 超声检验方法要求a.板材检验（A）b.焊接接头检验（A）c.厚度测量（C）第二章 超声检验通用技术Ⅱ级考试大纲1. 无损检验概论（见第一篇第二章）2. 超声检验的物理基础2.1 振动与波动2.1.1机械振动的一般概念（A）2.1.2谐振动（A）2.1.3 阻尼振动（C）2.1.4 机械波的产生与传播（A）2.1.5 波长、频率和波速（A）2.1.6 次声波、声波和超声波（A）2.2 超声波2.2.1 波的类型a.纵波、横波和表面波（A）b.板波（C）c.平面波、柱面波和球面波（B）d.连续波和脉冲波（B）2.2.2 超声波声速a.固体介质中的声速（A）b.液体介质、气体介质的声速（A）c.板波声速（C）d.影响声速的因素（B）e.声速测量（A）2.2.3 超声场的特征值a.声压（A）b.声强（A）c.声阻抗（A）d.分贝及其应用·分贝声压表达式和声强表达式（A）·常用分贝值和声压比值的关系（A）·分贝应用（B）2.2.4 波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（B）2.3 超声波的特性2.3.1 超声波垂直入射a.单一平面的反射与透射（A）b.薄层介面的反射与透射（B）c.声压往复透射率（B）2.3.2 超声波倾斜入射a.波型转换与反射、折射及第一、第二和第三临界角（A）b.声压反射率（A）c.声压往复透射率（B）d.端角反射（A）2.4 超声波的聚焦与发散2.4.1 声压距离公式a.球面波声压距离公式（C）b.柱面波声压距离公式（C）2.4.2 平面波在曲界面上的反射与折射a.平面波在曲界面上的反射（B）b.平面波在曲界面上的折射（B）2.4.3 球面波在曲界面上的反射与折射a.球面波在曲界面上的反射（C）b.球面波在曲界面上的折射（C）2.4.4 球面波在平界面上的反射与折射a.球面波在单一平界面上的反射（C）b.球面波在单一平界面上的折射（C）2.5 超声波的衰减2.5.1 衰减的原因a.扩散衰减（A）b.散射衰减（A）c.吸收衰减（A）2.5.2 衰减方程与衰减系数a.衰减方程（B）b.衰减系数（B）c.衰减系数的测定（B）2.6 超声波发射声场与规则反射体的回波声压2.6.1 纵波发射声场a.活塞波声场·声轴上的声压分布（A）·指向性和半扩散角（A）·未扩散区与扩散区（A）·近场区（B）b.矩形波源辐射的纵波声场·声轴上的声压分布（B）·指向性和半扩散角（B）·未扩散区与扩散区（B）2.6.2 聚焦发射声场a.液浸聚焦和接触式聚焦（B）b.焦距计算（C）2.6.3 规则反射体的回波声压a.平底孔回波声压（A）b.大平底面回波声压（A）c.长横孔回波声压（C）d.短横孔回波声压（C）e.球孔回波声压（C）f.圆柱曲底面回波声压（C）2.6.4 各类规则反射体回波声压之间的关系a.平底孔与大平底（A）b.短横孔与大平底（C）c.长横孔与大平底（C）3. 超声仪器、探头和试块3.1 超声波仪器3.1.1 超声波探伤仪概述a.仪器的功能（A）b.仪器的分类（B）3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理a.仪器电路的方框图（B）b.仪器主要组成部分（B）c.仪器主要功能键的作用及其调整（A）d.仪器的维护（B）3.1.3 数字式超声探伤仪a.数字式超声探伤仪的特点（B）b.数字式超声探伤仪的发展（C）3.1.4 超声波测厚仪的功能与应用（B） 3.2 超声波探头3.2.1 晶片a.压电效应（A）b.压电材料的主要性能参数（B）3.2.2 探头的种类和结构a.直探头（A）b.斜探头（A）c.双晶探头（A）d.聚集探头（A）e.其它探头（C）3.3 试块3.3.1 试块的分类a.标准试块（A）b.对比试块（A） 3.3.2 试块的作用a.确定检验系统的灵敏度（A）b.测试仪器和探头的性能（A）c.评判缺陷在工件中的位置（A）d.评判缺陷的当量大小（A）3.3.3 试块的要求和维护a.标准试块与对比试块的要求（A）b.试块的维护（B）3.3.4 国内外试块的了解（C）3.4常用耦合剂及其要求（A）3.5 仪器和探头的性能及其测试3.5.1 仪器的性能及其测试a.垂直线性及其测试（A）b.水平线性及其测试（A）c.动态范围及其测试（A）3.5.2 探头的性能及其测试a.探头主声束偏离与双峰（A）b.斜探头的入射点（A）c.斜探头的K值和折射角（A）3.5.3 仪器和探头的综合性能及其测试a.灵敏度余量（A）b.盲区与始脉冲宽度（B）c.分辨率（A）d.信噪比（A）4.超声检验方法4.1 概述4.1.1 按原理分类a.脉冲反射法（A）b.穿透法（B）c.共振法（C）4.1.2 按波型分类a.纵波法（A）b.横波法（A）c.表面波法（B）d.板波法（C）4.1.3 按探头数目分类a.单探头法（A）b.双探头法（A）c.多探头法（C）4.1.4 按探头接触方式分类a.直接接触法（A）b.液浸法（A）4.1.5 按显示方式分类a.A型显示（A）b.B型显示（B）c.C型显示（C）d.D型显示（C）4.2 仪器与探头的选择4.2.1 仪器的选择（B）4.2.2 探头的选择a.探头类型（A）b.探头频率（A）c.晶片尺寸（A）d.斜探头折射角（A）4.3 耦合与补偿4.3.1影响声耦合的主要因素（A）4.3.2 表面耦合损耗的测定和补偿a.耦合损耗的测定（B）b.补偿方法（A）4.4 超声仪的调节4.4.1 扫描速度的调节a.纵波扫描速度的调节（A）b.横波扫描速度的调节（A）4.4.2 灵敏度的调节a.试块调整法（A）b.工件底波调整法（A）4.5 缺陷定位和定量4.5.1 缺陷定位a.直探头检验（A）b.表面波检验（B）c.横波平面检验（A）d.横波曲面检验（B）4.5.2 缺陷定量a.当量法（A）b.测长法（A）c.底波高度法（A）4.6 影响缺陷定位和定量的主要因素4.6.1 影响缺陷定位的主要因素a.仪器的影响（A）b.探头的影响（A）c.工件几何形状和尺寸的影响（A）d.操作人员的影响（A）e.缺陷形状、取向和性质的影响（A）4.6.2 影响缺陷定量的主要因素a.仪器及探头性能的因素（B）b.耦合与衰减的影响（B）c.工件几何形状和尺寸的影响（B）d. 缺陷形状、取向和性质的影响（A）e.操作人员的影响（A）4.7 缺陷的性质分析（B）4.8 非缺陷回波的判别（B）5. 超声检验技术应用及标准5.1 检验条件准备5.1.1 文件a.工艺卡编制要点（A）b.检验规程与标准应用（A）5.1.2 检验系统a.检验设备及系统的构成（B）b.系统校准及检验中的校验（A）5.1.3 被检件a.确定检验区域（A）b.扫查区域的表面准备（B）5.2超声检验技术应用5.2.1 焊接接头超声波检验a.焊接接头中的常见缺陷（A）b.检验方法概述（A）c.探测条件的选择（A）d.扫描速度的调节（A）e.距离—波幅曲线的绘制（A）f.扫查方式（B）g.缺陷位置和尺寸测定（A）5.2.2 锻件检验a.锻件中的常见缺陷（A）b.检验方法概述（B）c.探测条件的选择（B）d.扫描速度和灵敏度调节（A）e.缺陷位置和尺寸测定（A）5.2.3 铸件检验a.铸件中的常见缺陷（B）b.铸件检验的特点（B）5.2.4 板材检验a.板材常见缺陷（B）b.检验方法（A）c.缺陷的判别与测定（B）5.2.5 管材检验a.管材中的常见缺陷（B）b.检验方法（A）5.3 标准JB/T 4730 总则和超声检验5.3.1 一般要求a.检验范围（A）b.检验人员（B）c.探伤仪器和探头的性能（B）d.检验一般方法（B）e.校准（A）f.缺陷记录、评定及报告（A）5.3.2 超声检验方法要求a.锻件检验（A）b.焊接接头检验（A）c.厚度测量（A）第三章 超声检验通用技术III级考试大纲1. 无损检验概论（见第一篇第三章）2.超声检验的物理基础2.1 振动与波动2.1.1 振动的一般概念（A）2.1.2 谐振动（A）2.1.3 阻尼振动（B）2.1.4 机械波的产生与传播（A）2.1.5 波长、频率和波速（A）2.1.6 次声波、声波和超声波（A）2.2 超声波2.2.1 波的类型a.纵波、横波和表面波（A）b.板波和爬波（B）c.平面波、柱面波和球面波（B）d.连续波和脉冲波（B）2.2.2 超声波声速a.固体介质中的声速（A）b.液体介质和气体介质的声速（A）c.影响声速的因素（A）d.声速测量（B）2.2.3 超声场的特征值a.声压（A）b.声强（A）c.声阻抗（A）d.分贝及其应用·分贝声压表达式和声强表达式（A）·常用分贝值和声压比值的关系（A）·分贝应用（A）2.2.4 波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（A）2.3 超声波的特性2.3.1 超声波垂直入射a.单一平面的反射与透射（A）b.薄层界面的反射与透射（A）c.声压往复透射率（B）2.3.2 超声波倾斜入射a.波型转换与反射、折射及第一、第二和第三临界角（A）b.声压反射率（A）c.声压往复透射率（B）d.端角反射（B）2.4 超声波的聚焦与发散2.4.1 声压距离公式a.球面波声压距离公式（A）b.柱面波声压距离公式（C）2.4.2 平面波在曲界面上的反射与折射a.平面波在曲界面上的反射（B）b.平面波在曲界面上的折射（B）2.4.3 球面波在曲界面上的反射与折射a.球面波在曲界面上的反射（C）b.球面波在曲界面上的折射（C）2.4.4球面波在平界面上的反射与折射a.球面波在单一平界面上的反射（C）b.球面波在双平界面上的反射（C）c.球面波在平界面上的折射（C）2.5 超声波的衰减2.5.1 衰减的原因a.扩散衰减（A）b.散射衰减（A）c.吸收衰减（A）2.5.2 衰减方程与衰减系数a.衰减方程（A）b.衰减系数（A）c.衰减系数的测定（A）2.6 超声波发射声场与规则反射体的回波声压2.6.1 纵波发射声场a.活塞波源辐射的纵波声场·声轴上的声压分布（A）·指向性和半扩散角（A）·未扩散区与扩散区（A）·近场区（B）b.矩形波源辐射的纵波声场·声轴上的声压分布（B）·指向性和半扩散角（B）·未扩散区与扩散区（B）2.6.2 聚焦发射声场a.液浸聚焦和接触式聚焦（A）b.焦距和焦柱计算（A）2.6.3 规则反射体的回波声压a.各类规则反射体的回波声压·平底孔回波声压（A）·大平底面回波声压（A）·长横孔回波声压（B）·短横孔回波声压（B）·球孔回波声压（B）·圆柱曲底面回波声压（C）b.各类规则反射体回波声压之间的关系 ·平底孔与大平底（A）·短横孔与大平底（B）·长横孔与大平底（B）3. 超声仪器、探头和试块3.1 超声波仪器3.1.1概述a.仪器的功能（B）b.仪器的分类（B）3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理a.仪器电路的方框图（B）b.仪器主要组成部分的作用（B）c.仪器主要功能键的作用及其调整（A）d.仪器的维护（C）3.1.3 数字式超声探伤仪a.数字式超声探伤仪的特点（B）b.数字式超声探伤仪的发展（C）3.2 超声波探头3.2.1 晶片a.压电效应（B）b.压电材料的主要性能参数（B）3.2.2 探头的种类和结构a.直探头（A）b.斜探头（A）c.双晶探头（A）d.聚集探头（A）e.其它探头（C）3.3 试块3.3.1 试块的分类a.标准试块（A）b.对比试块（A） 3.3.2 试块的作用a.确定检验系统的灵敏度（A）b.测试仪器和探头的性能（A）c.评判缺陷在工件中的位置（A）d.评判缺陷的当量大小（A）3.3.3 试块的要求和维护a.标准试块与对比试块的要求（B）b.试块使用与维护（B）3.4 常用耦合剂及其要求（A）3.5 仪器和探头的性能及其测试3.5.1 仪器的性能及其测试a.垂直线性及其测试（A）b.水平线性及其测试（A）c.动态范围及其测试（C）d.衰减器精度及其测试（C）3.5.2 探头的性能及其测试a.探头主声束偏离与双峰（B）b.斜探头的入射点（A）c.斜探头的折射角（A）3.5.3 仪器和探头的综合性能及其测试a.灵敏度余量（B）b.盲区与始脉冲宽度（B）c.分辨率（B）d.信噪比（B）4. 超声检验方法4.1 概述4.1.1 按原理分类a.脉冲反射法（A）b.穿透法（A）c.共振法（C）4.1.2 按波形分类a.纵波法（A）b.横波法（A）c.表面波法（A）d.板波法（C）4.1.3 按探头数目分类a.单探头法（B）b.双探头法（B）c.多探头法（B）4.1.4 按探头接触方式分类a.直接接触法（B）b.液浸法（B）4.1.5 按显示方式分类a.A型显示（A）b.B型显示（B）c.C型显示（B）d.D型显示（B）e.P型显示（B）4.2 仪器与探头的选择4.2.1 仪器的选择（A）4.2.2 探头的选择a.探头形式（A）b.探头频率（A）c.晶片尺寸（A）d.斜探头折射角（A）e.其它探头（B）4.3 耦合与补偿4.3.1 影响声耦合的主要因素（A）4.3.2 表面耦合损耗的测定和补偿a.耦合损耗的测定（B）b.补偿方法（B）4.4 超声仪的调节4.4.1 扫描速度的调节a.纵波扫描速度的调节（A）b.横波扫描速度的调节（A）4.4.2 灵敏度的调节a.试块调整法（A）b.工件底波调整法（A）4.5 缺陷定位和定量4.5.1 缺陷定位a.直探头检验（A）b.表面波检验（A）c.横波平面检验（A）d.横波曲面检验（A）4.5.2 缺陷定量a.当量法（A）b.测长法（A）c.底波高度法（A）4.5.3 缺陷自身高度的测量（B） 4.6 影响缺陷定位和定量的主要因素 4.6.1 影响缺陷定位的主要因素a.仪器的影响（A）b.探头的影响（A）c.工件几何形状和尺寸的影响（A）d.操作人员的影响（A）e.缺陷形状、取向和性质的影响（A）4.6.2 影响缺陷定量的主要因素a.仪器及探头性能的因素（A）b.耦合与衰减的影响（A）c.工件几何形状和尺寸的影响（A）d. 缺陷形状、取向和性质的影响（A）e.操作人员的影响（A）4.7 缺陷的性质分析（B）4.8非缺陷回波的判别（B）5. 超声检验技术应用及标准5.1 检验条件准备5.1.1 文件a.检验规程编制（A）b.标准应用（B）5.1.2 检验系统a.检验系统的构成（B）b.系统校准及检验中的校验（C）5.1.3 被检件a.确定检验区域（A）b.扫查区域的表面准备（C）5.2 超声检验技术应用5.2.1 焊接接头超声波检验a.焊接接头中的常见缺陷（A）b.检验方法（A）c.探测条件的选择（A）d.扫描速度的调节（A）e.距离—波幅曲线的绘制（A）f.扫查方式（A）g.缺陷位置和尺寸测定（A）5.2.2 锻件检验a.锻件中的常见缺陷（A）b.检验方法（A）c.探测条件的选择（A）d.扫描速度和灵敏度调节（A）e.缺陷位置和尺寸测定（A）。
民用核安全无损检测人员考核大纲
民用核安全设备无损检验人员考试大纲二〇一一年十月前言本考试大纲依据《民用核安全设备无损检验人员资格管理规定（HAF602》及《民用核安全设备无损检验人员考核与资格鉴定管理办法》组织编写，包括资格鉴定考核中“笔试”、“实践操作考试”和“综合技术能力考试”所涉及的全部内容，共9篇76章。
本考试大纲是组织民用核安全设备无损检验人员培训和资格考试的依据。
本考试大纲参与编写的人员有（按姓氏笔画排序）：万志坚、王文之、王存杰、王京深、王跃辉、卞雪飞、左畅、冯明全、许贵平、毕炳荣、朱伟青、刘波、任新阁、汤国祥、李苏甲、辛宏斌、花家宏、杨炯、杨建鸿、张克斌、张忠虎、张建军、张继龙、林戈、苟峰、周大禹、唐月明、钱红蕾、聂勇、袁骊、崔广余、梅德松、谢双扣、蔡军等。
本考试大纲由国家能源局负责解释。
2011年10月目录第一篇无损检验概论 (1)第一章无损检验概论I级考试大纲 (1)第二章无损检验概论II级考试大纲 (2)第三章无损检验概论III级考试大纲 (3)第二篇超声检验技术 (4)第一章超声检验通用技术I级考试大纲 (4)第二章超声检验通用技术II级考试大纲 (7)第三章超声检验通用技术III级考试大纲 (11)第四章超声检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (15)第五章超声检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (17)第六章超声检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (19)第七章超声检验技术I级操作考试大纲 (21)第八章超声检验技术II级操作考试大纲 (22)第九章超声检验技术III级操作考试大纲 (23)第十章超声检验综合技术能力III级考试大纲 (24)第三篇射线检验技术 (25)第一章射线检验通用技术I级考试大纲 (25)第二章射线检验通用技术II级考试大纲 (28)第三章射线检验通用技术III级考试大纲 (31)第四章射线检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (35)第五章射线检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (36)第六章射线检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (37)第七章射线检验技术I级操作考试大纲 (38)第八章射线检验技术II级操作考试大纲 (39)第九章射线检验技术III级操作考试大纲 (40)第十章射线检验综合技术能力III级考试大纲 (41)第四篇涡流检验技术 (42)第一章涡流检验通用技术I级考试大纲 (42)第二章涡流检验通用技术II级考试大纲 (44)第三章涡流检验通用技术III级考试大纲 (47)第四章涡流检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (49)第六章涡流检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (53)第七章涡流检验技术I级操作考试大纲 (55)第八章涡流检验技术II级操作考试大纲 (56)第九章涡流检验技术III级操作考试大纲 (57)第十章涡流检验综合技术能力III级考试大纲 (58)第五篇磁粉检验技术 (59)第一章磁粉检验通用技术I级考试大纲 (59)第二章磁粉检验通用技术II级考试大纲 (62)第三章磁粉检验通用技术III级考试大纲 (65)第四章磁粉检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (68)第五章磁粉检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (69)第六章磁粉检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (70)第七章磁粉检验技术I级操作考试大纲 (71)第八章磁粉检验技术II级操作考试大纲 (72)第九章磁粉检验技术III级操作考试大纲 (73)第十章磁粉检验综合技术能力III级考试大纲 (74)第六篇渗透检验技术 (75)第一章渗透检验通用技术I级考试大纲 (75)第二章渗透检验通用技术II级考试大纲 (77)第三章渗透检验通用技术III级考试大纲 (80)第四章渗透检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (82)第五章渗透检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (83)第六章渗透检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (84)第七章渗透检验技术I级操作考试大纲 (85)第八章渗透检验技术II级操作考试大纲 (86)第九章渗透检验技术III级操作考试大纲 (87)第十章渗透检验综合技术能力III级考试大纲 (88)第七篇泄漏检验技术 (89)第一章泄漏检验通用技术I级考试大纲 (89)第二章泄漏检验通用技术II级考试大纲 (91)第三章泄漏检验通用技术III级考试大纲 (93)第四章泄漏检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (95)第五章泄漏检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (97)第七章泄漏检验技术I级操作考试大纲 (101)第八章泄漏检验技术II级操作考试大纲 (102)第九章泄漏检验技术III级操作考试大纲 (103)第十章泄漏检验综合技术能力III级考试大纲 (104)第八篇目视检验技术 (105)第一章目视检验通用技术I级考试大纲 (105)第二章目视检验通用技术II级考试大纲 (107)第三章目视检验通用技术III级考试大纲 (110)第四章目视检验核安全设备专业技术I级考试大纲 (112)第五章目视检验核安全设备专业技术II级考试大纲 (113)第六章目视检验核安全设备专业技术III级考试大纲 (115)第七章目视检验技术I级操作考试大纲 (116)第八章目视检验技术II级操作考试大纲 (117)第九章目视检验技术III级操作考试大纲 (118)第十章目视检验综合技术能力III级考试大纲 (119)第九篇核安全及民用核安全设备基本知识 (120)第一章核安全及民用核安全设备基本知识I级考试大纲 (120)第二章核安全及民用核安全设备基本知识II级考试大纲 (122)第三章核安全及民用核安全设备基本知识III级考试大纲 (124)第一篇无损检验概论第一章无损检验概论I级考试大纲1. 无损检验基础1.1无损检验的定义与意义1.1.1 无损检验定义（A）1.1.2 无损检验的重要性（B）1.1.3无损检验的产生与发展（C）1.2 无损检验的特征1.2.1现代无损检验的特点（B）1.2.2 无损检验的应用特点（C）1.3 无损检验的应用阶段1.3.1制造与安装中的原材料与零件检查（A）1.3.2 设备与装置的在役检查（C）2. 无损检验方法2.1 无损检验方法分类2.1.1 表面检验（B）2.1.2体积检验（B）2.2 常规检验方法2.2.1 方法原理（C）2.2.2 方法要点（C）2.2.3 主要优越性（B）2.2.4 主要局限性（C）3. 材料、加工工艺及缺陷3.1 材料分类3.1.1金属（B）3.1.2 非金属（C）3.1.3 金属材料的力学性能（C）3.2 材料加工及缺陷3.2.1 铸造（C）3.2.2 锻造（C）3.2.3 轧制（C）3.2.4 焊接（A）3.3热处理概念（C）3.4 使用过程中产生的缺陷3.4.1 腐蚀（B）3.4.2 疲劳（B）3.4.3 磨蚀（C）1. 无损检验基础1.1 无损检验的定义与意义1.1.1无损检验定义与内涵（A）1.1.2无损检验的重要性（B）1.1.3无损检验需求与方法开发（C）1.2 无损检验的特征1.2.1 现代无损检验的特征（A）1.2.2 无损检验的特点与应用（B）1.3 无损检验的应用阶段1.3.1 在产品设计阶段的应用（C）1.3.2 制造与安装中的检查（A）1.3.3 设备与装置的在役检查（B）2. 无损检验方法2.1 无损检验方法分类2.1.1 表面检验（B）2.1.2体积检验（B）2.1.3 测量技术（C）2.2 常规检验方法2.2.1 方法原理（A）2.2.2 方法要点（B）2.2.3 主要优越性（B）2.2.4 主要局限性（C）2.3 缺陷检出概率与风险2.3.1 检验系统产生的测量误差（B）2.3.2危险缺陷漏检的风险（A）2.3.3 多种检验技术应用与缺陷综合评价（B）3. 材料及加工工艺3.1 材料与材料性能3.1.1 黑色金属（B）3.1.2 非金属（C）3.1.3 金属材料力学性能a.铁碳平衡相图（C）b.金属材料的强度、硬度、塑性和韧性（A）3.2 材料评定3.2.1 材料性能测量（C）3.2.2 断裂力学初步知识（C）3.3 材料加工3.3.1 铸造（C）3.3.2 锻造（C）3.3.3 轧制（C）3.3.4 焊接a.焊接方式（B）b.焊缝坡口及焊缝（A）3.4 热处理（B）4. 缺陷产生机理与缺陷特征4.1 原材料中的常见缺陷（A）4.2 焊缝中的常见缺陷（A）4.3 热处理等工艺中出现的缺陷（A）4.4 使用过程中产生的缺陷4.4.1 腐蚀（A）4.4.2 疲劳（A）4.4.3 磨蚀（C）4.4.4过载（C）4.4.5脆性断裂（B）1. 无损检验基础1.1 无损检验的定义与意义1.1.1 无损检验定义与内涵（A）1.1.2 无损检验的重要性与经济性（B）1.1.3 无损检验的需求与方法开发（A）1.2 无损检验的特征1.2.1 现代无损检验的特征（A）1.2.2 无损检验的特点与应用（A）1.3 无损检验的应用阶段1.3.1 在产品设计阶段的应用（B）1.3.2 制造与安装中的检查（A）1.3.3 设备与装置的在役检查（B）2. 无损检验方法2.1 无损检验方法分类2.1.1 表面检查（B）2.1.2 体积检查（B）2.1.3 测量技术（B）2.2 常规检验方法2.2.1方法原理（A）2.2.2 方法要点（A）2.2.3 主要优越性（A）2.2.4 主要局限性（C）2.3 缺陷检出概率与风险2.3.1 检验系统产生的测量误差（B）2.3.2危险缺陷漏检的风险（A）2.3.3 多种检验技术应用与缺陷综合评价（B）3. 材料及加工工艺3.1 材料与材料性能3.1.1 金属a.黑色金属（A）b.有色金属（B）3.1.2 非金属（C）3.1.3 金属材料力学性能a.铁碳平衡相图（B）b.金属材料的强度、硬度、塑性和韧性（A）3.2 材料评价3.2.1 材料性能测量（C）3.2.2 断裂力学初步知识（B）3.3 材料加工3.3.1 铸造（B）3.3.2 锻造（B）3.3.3 轧制（B）3.3.4 焊接a.焊接方式（A）b.焊缝坡口及焊缝（A）3.4 热处理（B）4. 缺陷产生机理与缺陷特征4.1 原材料中的常见缺陷（A）4.2 焊缝中的常见缺陷（A）4.3 热处理等工艺中出现的缺陷（A）4.4 使用过程中产生的缺陷4.4.1 腐蚀（A）4.4.2 疲劳（A）4.4.3 磨蚀（B）4.4.4过载（C）4.4.5脆性断裂（B）第二篇超声检验技术第一章超声检验通用技术I级考试大纲1. 无损检验概论（见第一篇第一章）2. 超声检验的物理基础2.1 振动与波动2.1.1机械波的产生与传播（A）2.1.2 波长、频率和波速（A）2.1.3 次声波、声波和超声波（B）2.2 超声波2.2.1波的类型a.纵波和横波（A）b.表面波（B）c.平面波和球面波（B）2.2.2超声波声速a.固体介质中的声速（A）b.液体介质和气体介质的声速（A）c.影响声速的因素（C）d.声速测量（C）2.2.3超声场的特征值a.声压（B）b.声强（C）c.声阻抗（C）d.分贝（A）2.2.4波的迭加、干涉和衍射（C）2.3 超声波的特性2.3.1 超声波垂直入射在单一平面上的反射与透射（A）2.3.2超声波倾斜入射a.波型转换（A）b.反射与折射（A）c.第一、第二和第三临界角（A）2.4 超声波的衰减2.4.1 扩散衰减（A）2.4.2 散射衰减（B）2.4.3 吸收衰减（C）2.5 声场与规则反射体的回波声压2.5.1活塞波的声场a.波源轴线上的声压分布（C）b.波指向性和半扩散角（A）c.未扩散区与扩散区（B）2.5.2规则反射体的回波声压a.平底孔回波声压（B）b.大平底面回波声压（B）c.长横孔回波声压（B）2.5.3平底孔与大平底回波声压之间的关系（B）3. 超声仪器、探头和试块3.1 超声波仪器3.1.1超声波探伤仪概述a.仪器功能（A）b.仪器的分类（B）3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理a.仪器方框图及各部分的作用（B）b.仪器调整（A）c.仪器维护（B）3.1.3数字式超声探伤仪的特点（B）3.2 超声波探头3.2.1晶片的压电效应（B）3.2.2探头的种类和结构a.直探头（A）b.斜探头（A）c.双晶探头（C）d.聚集探头（B）3.3 试块3.3.1试块的分类a.标准试块（A）b.对比试块（A）3.3.2试块的作用a.确定检验系统的灵敏度（A）b.测试仪器和探头的性能（B）c.评判缺陷在工件中的位置（B）d.评判缺陷的当量大小（B）3.3.3试块的要求和维护a.标准试块与对比试块的要求（C）b.试块使用与维护（C）3.4 常用耦合剂及其要求（A）3.5 仪器和探头的性能及其测试3.5.1仪器的性能及其测试a.垂直线性及测试（B）b.水平线性及测试（B）c.动态范围及测试（C）3.5.2探头的性能及测试a.探头主声束偏离与双峰（C）b.斜探头的入射点（前沿长度）（A）c.斜探头的折射角（A）3.5.3仪器和探头的综合性能及其测试a.灵敏度余量（A）b.盲区与始脉冲宽度（B）c.分辨率（B）d.信噪比（B）4. 超声检验方法4.1 概述4.1.1按原理分类a.脉冲反射法（A）b.穿透法（B）4.1.2按波型分类a.纵波法（A）b.横波法（A）c.表面波法（C）4.1.3 按探头数目分类a.单探头法（A）b.双探头法（B）c.多探头法（C）4.1.4按探头接触方式分类a.直接接触法（A）b.液浸法（B）4.1.5 按显示方式分类a.A型显示（A）b.B型显示（B）c.C型显示（C）4.2 表面耦合的补偿（B）4.3 超声仪的调节4.3.1扫描速度的调节a.纵波扫描速度的调节（A）b.横波扫描速度的调节（A）4.3.2灵敏度的调节a.试块调整法（A）b.工件底波调整法（A）4.4 缺陷定位和定量4.4.1缺陷定位a.直探头检验（A）b.斜探头检验（B）4.4.2缺陷定量a.当量法（A）b.测长法（A）c.底波高度法（B）4.5 影响缺陷定位和定量的主要因素4.5.1影响缺陷定位的主要因素a.仪器的影响（C）b.探头的影响（C）c.操作人员的影响（A）d.缺陷形状、取向和性质的影响（B）4.5.2影响缺陷定量的主要因素a.仪器及探头性能的因素（C）b.耦合与衰减的影响（C）c. 缺陷形状、取向和性质的影响（B）d.操作人员的影响（A）4.6非缺陷回波的判别（C）5.超声检验技术应用及标准5.1 检验条件准备5.1.1 文件a.工艺卡的作用和主要内容（C）b.工艺卡规定的检验过程（A）5.1.2检验系统a.检验系统的构成（C）b.系统校准及检验中的校验（B）5.1.3被检件a.检验区域识别（A）b.扫查区域的表面准备（B）5.2 超声检验技术应用5.2.1焊接接头超声波检验a.焊接接头中的常见缺陷（B）b.探测条件的确认（B）c.扫描速度的调节（B）d.距离—波幅曲线的绘制（A）e.扫查方式（B）f. 缺陷位置和尺寸测定（A）5.2.2锻件检验a.锻件中的常见缺陷（C）b.检验方法（C）c.探测条件的确认（C）d.扫描速度和灵敏度调节（B）e.缺陷位置和尺寸测定（A）5.2.3铸件检验a.铸件中的常见缺陷（C）b.铸件检验的特点（C）5.2.4板材检验a.板材常见缺陷（C）b.检验方法（A）c.扫查方式（A）d.探测范围和灵敏度调整（B）e.缺陷的识别与测定（A）5.2.5管材检验的特点（B）5.3 标准JB/T 4730 总则和超声检验5.3.1一般要求a.检验范围（A）b.检验人员（C）c.探伤仪器和探头的性能（B）d.检验一般方法（C）e.校准（B）f.缺陷记录（A）5.3.2超声检验方法要求a.板材检验（A）b.焊接接头检验（A）c.厚度测量（C）第二章超声检验通用技术Ⅱ级考试大纲1. 无损检验概论（见第一篇第二章）2. 超声检验的物理基础2.1 振动与波动2.1.1机械振动的一般概念（A）2.1.2谐振动（A）2.1.3阻尼振动（C）2.1.4机械波的产生与传播（A）2.1.5波长、频率和波速（A）2.1.6次声波、声波和超声波（A）2.2 超声波2.2.1波的类型a.纵波、横波和表面波（A）b.板波（C）c.平面波、柱面波和球面波（B）d.连续波和脉冲波（B）2.2.2超声波声速a.固体介质中的声速（A）b.液体介质、气体介质的声速（A）c.板波声速（C）d.影响声速的因素（B）e.声速测量（A）2.2.3超声场的特征值a.声压（A）b.声强（A）c.声阻抗（A）d.分贝及其应用·分贝声压表达式和声强表达式（A）·常用分贝值和声压比值的关系（A）·分贝应用（B）2.2.4 波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（B）2.3 超声波的特性2.3.1超声波垂直入射a.单一平面的反射与透射（A）b.薄层介面的反射与透射（B）c.声压往复透射率（B）2.3.2超声波倾斜入射a.波型转换与反射、折射及第一、第二和第三临界角（A）b.声压反射率（A）c.声压往复透射率（B）d.端角反射（A）2.4 超声波的聚焦与发散2.4.1声压距离公式a.球面波声压距离公式（C）b.柱面波声压距离公式（C）2.4.2平面波在曲界面上的反射与折射a.平面波在曲界面上的反射（B）b.平面波在曲界面上的折射（B）2.4.3球面波在曲界面上的反射与折射a.球面波在曲界面上的反射（C）b.球面波在曲界面上的折射（C）2.4.4球面波在平界面上的反射与折射a.球面波在单一平界面上的反射（C）b.球面波在单一平界面上的折射（C）2.5 超声波的衰减2.5.1衰减的原因a.扩散衰减（A）b.散射衰减（A）c.吸收衰减（A）2.5.2衰减方程与衰减系数a.衰减方程（B）b.衰减系数（B）c.衰减系数的测定（B）2.6 超声波发射声场与规则反射体的回波声压2.6.1纵波发射声场a.活塞波声场·声轴上的声压分布（A）·指向性和半扩散角（A）·未扩散区与扩散区（A）·近场区（B）b.矩形波源辐射的纵波声场·声轴上的声压分布（B）·指向性和半扩散角（B）·未扩散区与扩散区（B）2.6.2聚焦发射声场a.液浸聚焦和接触式聚焦（B）b.焦距计算（C）2.6.3规则反射体的回波声压a.平底孔回波声压（A）b.大平底面回波声压（A）c.长横孔回波声压（C）d.短横孔回波声压（C）e.球孔回波声压（C）f.圆柱曲底面回波声压（C）2.6.4各类规则反射体回波声压之间的关系a.平底孔与大平底（A）b.短横孔与大平底（C）c.长横孔与大平底（C）3. 超声仪器、探头和试块3.1 超声波仪器3.1.1超声波探伤仪概述a.仪器的功能（A）b.仪器的分类（B）3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理a.仪器电路的方框图（B）b.仪器主要组成部分（B）c.仪器主要功能键的作用及其调整（A）d.仪器的维护（B）3.1.3数字式超声探伤仪a.数字式超声探伤仪的特点（B）b.数字式超声探伤仪的发展（C）3.1.4超声波测厚仪的功能与应用（B）3.2 超声波探头3.2.1晶片a.压电效应（A）b.压电材料的主要性能参数（B）3.2.2探头的种类和结构a.直探头（A）b.斜探头（A）c.双晶探头（A）d.聚集探头（A）e.其它探头（C）3.3 试块3.3.1试块的分类a.标准试块（A）b.对比试块（A）3.3.2试块的作用a.确定检验系统的灵敏度（A）b.测试仪器和探头的性能（A）c.评判缺陷在工件中的位置（A）d.评判缺陷的当量大小（A）3.3.3试块的要求和维护a.标准试块与对比试块的要求（A）b.试块的维护（B）3.3.4国内外试块的了解（C）3.4常用耦合剂及其要求（A）3.5 仪器和探头的性能及其测试3.5.1仪器的性能及其测试a.垂直线性及其测试（A）b.水平线性及其测试（A）c.动态范围及其测试（A）3.5.2探头的性能及其测试a.探头主声束偏离与双峰（A）b.斜探头的入射点（A）c.斜探头的K值和折射角（A）3.5.3仪器和探头的综合性能及其测试a.灵敏度余量（A）b.盲区与始脉冲宽度（B）c.分辨率（A）d.信噪比（A）4.超声检验方法4.1 概述4.1.1按原理分类a.脉冲反射法（A）b.穿透法（B）c.共振法（C）4.1.2按波型分类a.纵波法（A）b.横波法（A）c.表面波法（B）d.板波法（C）4.1.3按探头数目分类a.单探头法（A）b.双探头法（A）c.多探头法（C）4.1.4按探头接触方式分类a.直接接触法（A）b.液浸法（A）4.1.5 按显示方式分类a.A型显示（A）b.B型显示（B）c.C型显示（C）d.D型显示（C）4.2 仪器与探头的选择4.2.1仪器的选择（B）4.2.2探头的选择a.探头类型（A）b.探头频率（A）c.晶片尺寸（A）d.斜探头折射角（A）4.3 耦合与补偿4.3.1影响声耦合的主要因素（A）4.3.2表面耦合损耗的测定和补偿a.耦合损耗的测定（B）b.补偿方法（A）4.4 超声仪的调节4.4.1扫描速度的调节a.纵波扫描速度的调节（A）b.横波扫描速度的调节（A）4.4.2灵敏度的调节a.试块调整法（A）b.工件底波调整法（A）4.5 缺陷定位和定量4.5.1缺陷定位a.直探头检验（A）b.表面波检验（B）c.横波平面检验（A）d.横波曲面检验（B）4.5.2缺陷定量a.当量法（A）b.测长法（A）c.底波高度法（A）4.6 影响缺陷定位和定量的主要因素4.6.1影响缺陷定位的主要因素a.仪器的影响（A）b.探头的影响（A）c.工件几何形状和尺寸的影响（A）d.操作人员的影响（A）e.缺陷形状、取向和性质的影响（A）4.6.2影响缺陷定量的主要因素a.仪器及探头性能的因素（B）b.耦合与衰减的影响（B）c.工件几何形状和尺寸的影响（B）d. 缺陷形状、取向和性质的影响（A）e.操作人员的影响（A）4.7 缺陷的性质分析（B）4.8 非缺陷回波的判别（B）5. 超声检验技术应用及标准5.1 检验条件准备5.1.1 文件a.工艺卡编制要点（A）b.检验规程与标准应用（A）5.1.2检验系统a.检验设备及系统的构成（B）b.系统校准及检验中的校验（A）5.1.3被检件a.确定检验区域（A）b.扫查区域的表面准备（B）5.2超声检验技术应用5.2.1焊接接头超声波检验a.焊接接头中的常见缺陷（A）b.检验方法概述（A）c.探测条件的选择（A）d.扫描速度的调节（A）e.距离—波幅曲线的绘制（A）f.扫查方式（B）g.缺陷位置和尺寸测定（A）5.2.2锻件检验a.锻件中的常见缺陷（A）b.检验方法概述（B）c.探测条件的选择（B）d.扫描速度和灵敏度调节（A）e.缺陷位置和尺寸测定（A）5.2.3铸件检验a.铸件中的常见缺陷（B）b.铸件检验的特点（B）5.2.4板材检验a.板材常见缺陷（B）b.检验方法（A）c.缺陷的判别与测定（B）5.2.5管材检验a.管材中的常见缺陷（B）b.检验方法（A）5.3 标准JB/T 4730 总则和超声检验5.3.1一般要求a.检验范围（A）b.检验人员（B）c.探伤仪器和探头的性能（B）d.检验一般方法（B）e.校准（A）f.缺陷记录、评定及报告（A）5.3.2超声检验方法要求a.锻件检验（A）b.焊接接头检验（A）c.厚度测量（A）第三章超声检验通用技术III级考试大纲1. 无损检验概论（见第一篇第三章）2.超声检验的物理基础2.1 振动与波动2.1.1 振动的一般概念（A）2.1.2 谐振动（A）2.1.3 阻尼振动（B）2.1.4 机械波的产生与传播（A）2.1.5 波长、频率和波速（A）2.1.6 次声波、声波和超声波（A）2.2 超声波2.2.1波的类型a.纵波、横波和表面波（A）b.板波和爬波（B）c.平面波、柱面波和球面波（B）d.连续波和脉冲波（B）2.2.2超声波声速a.固体介质中的声速（A）b.液体介质和气体介质的声速（A）c.影响声速的因素（A）d.声速测量（B）2.2.3超声场的特征值a.声压（A）b.声强（A）c.声阻抗（A）d.分贝及其应用·分贝声压表达式和声强表达式（A）·常用分贝值和声压比值的关系（A）·分贝应用（A）2.2.4波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（A）2.3 超声波的特性2.3.1超声波垂直入射a.单一平面的反射与透射（A）b.薄层界面的反射与透射（A）c.声压往复透射率（B）2.3.2超声波倾斜入射a.波型转换与反射、折射及第一、第二和第三临界角（A）b.声压反射率（A）c.声压往复透射率（B）d.端角反射（B）2.4 超声波的聚焦与发散2.4.1声压距离公式a.球面波声压距离公式（A）b.柱面波声压距离公式（C）2.4.2平面波在曲界面上的反射与折射a.平面波在曲界面上的反射（B）b.平面波在曲界面上的折射（B）2.4.3球面波在曲界面上的反射与折射a.球面波在曲界面上的反射（C）b.球面波在曲界面上的折射（C）2.4.4球面波在平界面上的反射与折射a.球面波在单一平界面上的反射（C）b.球面波在双平界面上的反射（C）c.球面波在平界面上的折射（C）2.5 超声波的衰减2.5.1衰减的原因a.扩散衰减（A）b.散射衰减（A）c.吸收衰减（A）2.5.2衰减方程与衰减系数a.衰减方程（A）b.衰减系数（A）c.衰减系数的测定（A）2.6 超声波发射声场与规则反射体的回波声压2.6.1纵波发射声场a.活塞波源辐射的纵波声场·声轴上的声压分布（A）·指向性和半扩散角（A）·未扩散区与扩散区（A）·近场区（B）b.矩形波源辐射的纵波声场·声轴上的声压分布（B）·指向性和半扩散角（B）·未扩散区与扩散区（B）2.6.2聚焦发射声场a.液浸聚焦和接触式聚焦（A）b.焦距和焦柱计算（A）2.6.3规则反射体的回波声压a.各类规则反射体的回波声压·平底孔回波声压（A）·大平底面回波声压（A）·长横孔回波声压（B）·短横孔回波声压（B）·球孔回波声压（B）·圆柱曲底面回波声压（C）b.各类规则反射体回波声压之间的关系·平底孔与大平底（A）·短横孔与大平底（B）·长横孔与大平底（B）3. 超声仪器、探头和试块3.1 超声波仪器3.1.1概述a.仪器的功能（B）b.仪器的分类（B）3.1.2 A型脉冲反射式仪器的一般工作原理a.仪器电路的方框图（B）b.仪器主要组成部分的作用（B）c.仪器主要功能键的作用及其调整（A）d.仪器的维护（C）3.1.3数字式超声探伤仪a.数字式超声探伤仪的特点（B）b.数字式超声探伤仪的发展（C）3.2 超声波探头3.2.1晶片a.压电效应（B）b.压电材料的主要性能参数（B）3.2.2探头的种类和结构a.直探头（A）b.斜探头（A）c.双晶探头（A）d.聚集探头（A）e.其它探头（C）3.3 试块3.3.1试块的分类a.标准试块（A）b.对比试块（A）3.3.2试块的作用a.确定检验系统的灵敏度（A）b.测试仪器和探头的性能（A）c.评判缺陷在工件中的位置（A）d.评判缺陷的当量大小（A）3.3.3试块的要求和维护a.标准试块与对比试块的要求（B）b.试块使用与维护（B）3.4 常用耦合剂及其要求（A）3.5 仪器和探头的性能及其测试3.5.1仪器的性能及其测试a.垂直线性及其测试（A）b.水平线性及其测试（A）c.动态范围及其测试（C）d.衰减器精度及其测试（C）3.5.2探头的性能及其测试a.探头主声束偏离与双峰（B）b.斜探头的入射点（A）c.斜探头的折射角（A）3.5.3仪器和探头的综合性能及其测试a.灵敏度余量（B）b.盲区与始脉冲宽度（B）c.分辨率（B）d.信噪比（B）4. 超声检验方法4.1 概述4.1.1按原理分类a.脉冲反射法（A）b.穿透法（A）c.共振法（C）4.1.2 按波形分类a.纵波法（A）b.横波法（A）c.表面波法（A）d.板波法（C）4.1.3按探头数目分类a.单探头法（B）b.双探头法（B）c.多探头法（B）4.1.4按探头接触方式分类a.直接接触法（B）b.液浸法（B）4.1.5 按显示方式分类a.A型显示（A）b.B型显示（B）c.C型显示（B）d.D型显示（B）e.P型显示（B）4.2 仪器与探头的选择4.2.1仪器的选择（A）4.2.2探头的选择a.探头形式（A）b.探头频率（A）c.晶片尺寸（A）d.斜探头折射角（A）e.其它探头（B）4.3 耦合与补偿4.3.1 影响声耦合的主要因素（A）4.3.2表面耦合损耗的测定和补偿a.耦合损耗的测定（B）b.补偿方法（B）4.4 超声仪的调节4.4.1扫描速度的调节a.纵波扫描速度的调节（A）b.横波扫描速度的调节（A）4.4.2 灵敏度的调节a.试块调整法（A）b.工件底波调整法（A）4.5 缺陷定位和定量4.5.1缺陷定位a.直探头检验（A）b.表面波检验（A）c.横波平面检验（A）d.横波曲面检验（A）4.5.2缺陷定量a.当量法（A）b.测长法（A）c.底波高度法（A）4.5.3 缺陷自身高度的测量（B）4.6 影响缺陷定位和定量的主要因素4.6.1影响缺陷定位的主要因素a.仪器的影响（A）b.探头的影响（A）c.工件几何形状和尺寸的影响（A）d.操作人员的影响（A）e.缺陷形状、取向和性质的影响（A）4.6.2影响缺陷定量的主要因素a.仪器及探头性能的因素（A）b.耦合与衰减的影响（A）c.工件几何形状和尺寸的影响（A）d. 缺陷形状、取向和性质的影响（A）e.操作人员的影响（A）4.7 缺陷的性质分析（B）4.8非缺陷回波的判别（B）5. 超声检验技术应用及标准5.1 检验条件准备5.1.1 文件a.检验规程编制（A）b.标准应用（B）5.1.2检验系统a.检验系统的构成（B）b.系统校准及检验中的校验（C）5.1.3被检件a.确定检验区域（A）b.扫查区域的表面准备（C）5.2 超声检验技术应用5.2.1焊接接头超声波检验a.焊接接头中的常见缺陷（A）。
北京市特种设备无损检测人员考核大纲
北京市特种设备无损检测人员考核大纲(Ⅱ级)一. 总则依据国务院[锅炉压力容器安全监察条例]和国家质量监督检验总局所颁发的国质检锅[2003]248号关于[特种设备无损检测人员考核与监督管理规则]的精神,特别定适用于特种设备无损检测人员的考核大纲,目的是通过对特种设备无损检测人员进行有关法律、法规,国家标准及无损检测基本知识和操作技能的考核,使无损检测人员能够独立正确进行特种设备的无损检测工作,确保特种设备的安全运行,经考核达到持证上岗。
二. 适用范围本大纲适用的无损检测方法包括:射线(RT)超声波(UT);磁粉(MT);渗透(PT)。
三.报告人员基本条件1、无损检测人员报考中请分为取证考核(初试)申请和换证考核(复试)申请;2、初试申请人员应当同时满足以下条件:(1) 年龄在所不惜8周岁以上60周岁以下,身体健康;(2) 双眼矫正视力和颜色分辨力满足所申请无损检测的要求;(3) 应具备高中(含)以上学历,无损检测专业大专(含)以上或理工科,本科(含)以上学历可直接报告。
四.特种设备无损检测Ⅱ级人员考试须知:北京市特种设备无损检测Ⅱ级人员考试须知五.初试考核内容及要求:特种设备无损检测人员初试考核包括理论知识和实际操作技能考核两部分.(一)初试考核各种检测方法考核大纲.锅炉压力容器压力管道无损检测基础知识考核大纲一、金属材料及热处理基础知识1、材料力学基础知识1．1 应力与应变（B）1．2 强度（A）1．3 塑性（A）1．4 硬度（A）1．5 冲击韧性（A）1．6 有关材料方面的进一步知识（B）2、金属学与热处理基础知识2．1 金属的晶体结构（C）2．2 铁碳合金的基础知识（C）2．3 热处理一般过程（A）2．4 锅炉压力容器用钢常见金相组织和性能（C）2．5 锅炉压力容器常用热处理工艺（B）3、锅炉压力容器常用材料3．1 钢的分类和命名方法（A）3．2 低碳钢（B）3．3 低合金钢（B）3．4 奥氏体不锈钢（B）二焊接基本知识1、锅炉压力容器常用的焊接方法1．1 焊接的定义与特点（B）1．2 焊接方法的分类（A）1．3 手工电弧焊（A）1．4 埋弧自动焊（A）1．5 氩弧焊（A）1．6 二氧化碳气体保护焊（A）1．7 等离子弧焊（C）1．8 电渣焊（B）2、焊接接头2．1 焊接接头形式（A）2．2 焊接接头的组成（A）2．3 焊接接头的组织和性能（C）3、焊接应力与变形3．1 焊接应力与变形的概念（C）3．2 焊接变形和应力的形成（B）3．3 焊接应力的控制措施（C）3．4 消除焊接应力的方法（C）4、锅炉压力容器常用钢材的焊接4．1 钢材的焊接性（B）4．2 低碳钢的焊接（B）4．3 低合金钢的焊接（B）4．4 奥氏体不锈钢的焊接（B）5、焊接缺陷5．1 外观缺陷（A）5．2 气孔与夹渣（A）5．3 裂纹（A）5．4 未焊透（A）5．5 未熔合5．6 其它缺陷（A）三无损检测基础知识1、无损检测概论1．1 无损检测的定义与分类（A）1．2 无损检测的目的（A）1．3 无损检测的应用特点（A）1．4 缺陷的种类及产生原因（A）2、无损检测的应用选择2．1 锅炉压力容器制造过程中无损检测方法的选择（A）2．2 检测方法和检测对象的适应性（A）四锅炉基础知识1、概述1．1 锅炉的定义及用途（A）1．2 锅炉的特点（B）1．3 锅炉主要参数（B）1．4 饱和水和水蒸汽性质（C）2、锅炉的分类及型号（C）3、锅炉结构3．1 锅炉结构的基本要求（B）3．2 锅炉主要受压部件（C）3．3 锅炉安全附件（A）3．4 几种典型锅炉结构（C）4、锅炉的工作过程（C）5、锅炉的无损检测要求5．1 应遵循的原则（A）5．2 规程对锅炉焊缝探伤的主要要求（A）五压力容器基础知识1、概述1．1 压力容器的定义及用途（A）1．2 压力容器的主要工艺参数（B）1．3 压力容器的分类（B）1．4 我国压力容器法规和标准（B）2、压力容器的典型结构和特点2．1 低、中压压力容器的筒体结构（C）2．2 高压容器的筒体结构（C）2．3 压力容器的封头（B）2．4 压力容器的开孔与接管（B）2．5 压力容器的焊接接头分类及设计的一般原则（B）3、压力容器的无损检测3．1 压力容器用钢板无损检测要求（A）3．2 压力容器用锻件和无缝钢管的无损检测要求（A）3．3 压力容器的焊接接头的无损检测要求（A）4、在用压力容器的无损检测要求4．1 在用压力容器检验的一般要求（B）4．2 在用压力容器的无损检测要求（A）六我国锅炉、压力容器、压力管道主要规程、标准中对无损检测的应用1、锅炉主要规程、标准中对无损检测方法使用的规定（B）2、压力容器主要规程、标准中对无损检测方法使用的规定（B）3、压力管道主要规程、标准中对无损检测方法使用的规定（B）4、 JB4730标准讲解（A）5、特种设备安全监察条例、特种设备无损检测人员考核与监督管理规则（A）射线检测Ⅱ级人员初试考核大纲1．射线检测的物理基础1． 1 原子与原子结构1．1．1 原子和元素的概念，原子的组成入电子、质子、中子、核电荷数、原子序数、原子量及其相互关系。
射线专业Ⅱ级考核2005华翔
7所谓管电流就是流过X射线管灯丝的电流。（ ）
8.主因对比度与射线能量有关，射线能量越高，主因对比度越大。（ ） 9.提高底片黑度可以提高胶片对比度。（ ）
10.最小可见对比度ΔDmin越大，识别小缺陷的能力越强。（ ）
江苏省特种设备无损检测射线专业Ⅱ级考核
姓名
考号
2005年取证考试题
专业理论试卷
考核日期： 2005年04 月28日 考核地点：南京.华 翔宾馆
是非 题型 题 分数
单向 问答
选择 题
题
总 计算题 分
统计 复查 人 人 日期
一、是非题（共20题，每题2分，共40分。对者画Ｏ，错者画 Ｘ。）
得分： 阅卷人:
4． 已知某射线源在焦距为500mm透过20mm厚的工件时，射线剂量 率为1伦琴/分。使用该射线源透照另一厚度为26mm的工件，当 焦距为600mm时，要求底片黑度为2.5，则曝光时间为多少（底 片黑度为2.5时需要0.4伦琴的照射量；该射线源的半价层为 6mm）？设安全控制区边界剂量率为4mR/h，求透过厚度为 26mm的工件时的防护距离是多少？
11.如果信噪比不够大，则细小缺陷的影像会被噪声湮灭。（ ）
12.JB4730-94标准规定，当一张底片上有两种及以上缺陷时应进行综合 评级。（ ）
13.环缝内透法，当焦距小于外半径时，搭接标记应放在胶片侧的工件 表面上。（ ）
14.入射光子与核外电子发生非弹性碰撞，一部分能量转移给电子，使 它成为反冲电子，剩余部分能量变为散射光子并与入射方向成一定角 度，这种效应称为光电效应。（ ）
6．JB4730-94标准规定AB级照相，Ir192射线源透照厚度范围是（ ）
中国船级社射线ii级检测试题
中国船级社射线ii级检测试题
中国船级社射线II级检测试题
选择题
1.射线II级检是指哪个机构的检验？
– A. 国家质量监督检验检疫总局
– B. 中国船级社
– C. 中国检验认证集团
– D. 中国检验检疫科学研究院
2.射线II级检是用于检测什么类型的设备？
– A. 医疗设备
– B. 船舶设备
– C. 电力设备
– D. 交通工具设备
3.射线II级检是利用射线进行检测，射线主要包括哪些？
– A. X射线和γ射线
– B. 红外线和紫外线
– C. β射线和α射线
– D. 高频射线和低频射线
填空题
1.射线II级检主要用于对船舶的设备和结构进行检测。
2.射线II级检的目的是发现设备和结构中的缺陷和损伤。
简答题
1.请简要介绍射线II级检的工作原理和流程。
答：射线II级检的工作原理是利用X射线或γ射线对设备和结
构进行透射或散射，通过检测其透射或散射情况来判断是否存在缺陷
和损伤。
流程包括选择适当的射线源、确定检测位置、设置检测参数、执行射线检测、获取和分析检测结果，并根据结果进行缺陷定性和定位。
2.射线II级检的应用范围有哪些？
答：射线II级检主要应用于船舶设备和结构的检测，包括船体、船壳、机舱、管道等部位的金属和非金属材料的检测。
同时，射线II
级检也适用于其他工程领域，如电力设备、化工设备、桥梁结构等的
检测。
射线二级考试答案
射线二级考试答案
1. 射线的产生原理是什么？
射线是通过原子核的衰变过程产生的。
在衰变过程中，不稳定的原子核会释放出粒子和能量，形成射线。
2. 射线检测技术中，常见的射线类型有哪些？
射线检测技术中常见的射线类型包括α射线、β射线、γ射线和X 射线。
3. 射线防护的基本原则是什么？
射线防护的基本原则是尽可能减少射线的接触时间和距离，同时使用适当的屏蔽材料来降低射线的强度。
4. 在射线检测中，如何确定射线的强度？
射线的强度可以通过测量射线通过物质时产生的电离效应来确定。
通常使用盖革计数器或其他辐射探测器来测量射线的强度。
5. 射线检测技术在工业中的应用有哪些？
射线检测技术在工业中的应用包括无损检测、材料分析、厚度测量、放射性物质的检测和环境监测等。
6. 射线对人体的影响有哪些？
射线对人体的影响包括细胞损伤、基因突变、组织损伤和增加患癌症的风险等。
长期或高剂量的射线暴露可能导致严重的健康问题。
7. 射线检测设备的校准和维护有哪些要求？
射线检测设备的校准和维护要求包括定期校准以确保测量的准确性，以及定期维护以保证设备的正常运行和延长设备的使用寿命。
8. 射线检测中，如何减少误判和漏判？
为了减少误判和漏判，需要确保射线检测设备的准确性和可靠性，同时采用适当的检测技术和方法，并由专业人员进行操作和分析。
结束语：通过以上问题和答案的分析，我们可以看出射线二级考试涵盖了射线的基础知识、检测技术、防护原则以及在工业中的应用等多个方面，旨在考察考生对射线检测技术的全面理解和应用能力。
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题一、相关法规、规范1）判断题1.《特种设备无损检测人员考核规则》规定考核范围内的无损检测方法包括射线（RT)、超声（UT）、磁粉(MT)、渗透（PT）、声发射（AE）和涡流（ECT）六种.2。
《特种设备无损检测人员考核规则》规定，特种设备《检测人员证》的有效期为4年.3.《特种设备无损检测人员考核规则》要求报考的检测人员至少单眼或者双眼的裸眼或者矫正视力不低于《标准对数视力表》的5。
0级。
4。
《特种设备无损检测人员考核规则》规定，各级人员笔试和实际操作考试的合格标准均为70分。
5.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，年龄65周岁以上（含65周岁）人员的换证申请不再予以受理。
6.《特种设备无损检测人员考核规则》规定,换证分为考试换证和审核换证两种方式，审核换证应当在取证后首次换证时实施，以后采取考试换证与审核换证交替实施,不得连续实施审核换证。
7.《锅炉安全技术监察规程》适用于符合《特种设备安全监察条例》范围内的固定式承压蒸汽锅炉、承压热水锅炉、有机热载体锅炉、以及以余热利用为主要目的的烟道式、烟道与管壳组合式余热锅炉。
8.《锅炉安全技术监察规程》规定，锅炉受压元件及其焊接接头质量检验,包括外观检验、通球试验、化学成份分析、无损检测、力学性能检验、水压试验等。
9。
《锅炉安全技术监察规程》规定,当选用超声衍射时差法（TOFD）时，应当与脉冲回波法（PE）组合进行检测，检测结论应进行分别判定。
10.锅炉受压部件无损检测方法应当符合NB/T47013（JB/T4730)《承压设备无损检测》的要求。
管子对接接头实时成像应符合相应技术规定。
11。
GB150－2011《压力容器》规定，第Ⅲ类容器的对接焊接接头应进行100%射线或超声波检测.12.GB150－2011《压力容器》规定,对于进行局部射线或者超声波检测的压力容器，其公称直径D N ≥250mm的接管与长颈法兰、接管与接管对接连接的焊接接头应进行100％射线或超声波检测。
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第二章射线检测通用技术II级考试大纲
1. 无损检测概论（见第一篇第二章）
2. 射线检测物理基础
2.1 原子与原子结构
2.1.1 元素与原子
a. 元素、元素周期（C）
b. 原子（C）
2.1.2 原子粒子
a. 原子核（C）
b. 质子、中子、电子；（B）
2.1.3 原子运动
a．轨道（C）
b．能级（C）
c．基态、激发态（C）
d．跃迁（C）
2.1.4 原子参数
a．原子序数（A）
b．原子量（C）
c．核电荷数（B）
2.2 放射性衰变元素
2.2.1 放射性衰变
a．衰变、衰变方式（C）
b．同位素、放射性同位素（B）
2.2.2 衰变规律
a．活度、活度单位、比活度（B）
b．半衰期、衰变常数（C）
c．半衰期简单计算（B）
2.3 射线种类与性质
2.3.1 射线概念和主要种类
2.3.2 X射线和γ射线
a．X射线和γ射线产生（C）
b．X射线和γ射线本质（B）
c．X射线和γ射线特性：电磁波、光量子、波长、能量（B）2.4 射线与物质的相互作用
2.4.1 线与物质的主要作用
a. 光电效应（B）
b. 康普顿效应（B）
c. 电子对效应（C）
d. 瑞利散射（C）
2.4.2 窄束单色射线的衰减
a. 窄束射线（B）
b. 单色射线（B）
c. 吸收、散射（A）
d. 线衰减系数、半值层、衰减公式及计算（A）
2.4.3 宽束连续谱射线的衰减
a. X射线谱（C）
b. 宽束射线（B）
c. 散射比（C）
a．线质（B）
b．衰减公式（C）
3. 设备和器材
3.1 X射线机
3.1.1 X射线机结构原理
a. 基本结构（C）
b. 基本工作过程（C）
3.1.2 X射线机类型及适用性（B）
3.1.3 X射线管
a．基本结构、基本功能（C）
b．管电压、管电流（A）
c. 焦点、辐射角（C）
3.1.4 训机概念（C）
3.2 γ射线设备
3.2.1 γ射线设备的基本结构（C）
3.2.2 γ射线的基本工作过程（B）
3.2.3γ射线源
a. 常用源（铱192、钴60、硒75、铯137、铥170）的能量（C）
b. 常用源（铱192、钴60、硒75、铯137、铥170）的半衰期（B）
3.3 射线照相胶片
3.3.1 感光原理
a. 胶片结构（C）
b. 潜影形成（C）
3.3.2 胶片分类
a．按感光度分类（C）
b．按粒度分类（C）
3.3.3 胶片感光特性
a．底片黑度（B）
b．感光特性曲线（C）
c．感光度、灰雾度、梯度、宽容度（A）
3.4 增感屏
3.4.1 增感作用（C）
3.4.2 增感屏主要类型和特点
a. 金属增感屏及特点（B）
b. 荧光增感屏及特点（C）
a．金属荧光增感屏（C）
3.4.3 铅箔增感屏的结构、特点（A）
3.5 像质计
3.5.1 像质计的作用与基本类型（C）
3.5.2 金属丝型像质计：规格、摆放；（A）
3.5.3 平板孔型像质计Ｃ）
3.6 其它设备与器材
3.6.1 黑度计：原理、使用；（C）
3.6.2 标记
a. 标记种类、作用（B）
b. “B“标记的使用（A）
3.6.3 暗室器材：安全灯、温度计、洗片槽、烘干箱、洗片机等（C）
3.6.4 辐射防护器材：剂量测定仪（C）
4. 射线照相检测技术
4.1 射线照相灵敏度影响因素
4.1.1 对比度概念（A）
4.1.2 清晰度概念
a．几何不清晰度概念极其计算（A）
b．固有不清晰度概念（C）
4.1.2 颗粒度概念（B）
4.2 透照工艺条件的选择
4.2.1 射线和能量的选择
a. X射线和γ射线的使用选择（B）
b. X射线能量的选择（B）
4.2.2 焦距的选择
a．最小焦距计算（A）
b．诺模图的使用（C）
4.2.3 曝光量选择
a. 曝光量概念（B）
b. 互易律（B）
c. 平方反比定律（B）
a．曝光因子（A）
b．曝光量修正计算（A）
4.3 透照方式
4.3.1 透照方式选择
a. 直缝透照（B）
b. 环缝透照（A）
4.3.2 一次透照长度计算（A）
4.4 曝光曲线应用
4.4.1 曝光曲线的构成
a.（KV—T）曲线（B）
b.（E—T）曲线（B）
4.4.2 曝光曲线的使用
a．一点法确定曝光参数（A）
b．二点法确定曝光参数（A）
c．对角线法确定曝光参数（C）
4.5 散射线控制
4.5.1 散射线来源、分类（C）
4.5.2 散射线的控制（B）
4.6 焊缝透照常规工艺
4.6.1 透照工艺卡的编制
a．通用工艺规程的使用（C）
b．编制透照工艺卡（C）
4.6.2 检测基本过程（B）
4.7 暗室处理技术
4.7.1 显影液和定影液的使用（B）
4.7.2 洗片过程
a. 显影（B）
b. 停显（C）
c. 定影（B）
d. 水洗（C）
e. 干燥（C）
4.8 辐射防护
4.8.1 X射线、γ射线对人体的危害（C）
4.8.2 安全措施
a. 监控（C）
b. 记录（C）
c. 剂量限值（C）
a．屏蔽、距离、时间（B）
4.8.3 屏蔽和距离的计算（B）
5. 射线照相底片评定及标准
5.1 评片要求
5.1.1 环境设备要求（C）
5.1.2 底片质量要求
a. 灵敏度（B）
b. 黑度（A）
c. 标记（B）
d. 伪缺陷（C）
e. 背散射（B）
5.2 底片影象分析
5.2.1 缺陷影象识别
a．裂纹、未熔合、未焊透、夹渣、气孔（A）b．其它（C）
5.2.2 常见伪缺陷影象识别
a．划痕、压痕、折痕、水迹（A）
b．其它（C）
5.3 JB4730标准
5.3.1 JB4730标准的一般要求（C）
5.3.2 焊缝缺陷等级评定（A）。