射线检测通用技术II级考试大纲
RT2级大纲
特种设备无损检测Ⅱ级人员考核大纲（射线检测部分）第一章通用知识中的专业基础知识1 射线检测的物理基础1.1原子与原子结构1.1.1元素与原子（A）1.1.2核外电子运动规律（A）1.1.3原子核结构（A）1.2射线的种类和性质1.2.1 χ射线和γ射线的性质（B）1.2.2 χ射线产生及其特点（1）连续谱的产生和特点（B）（2）标识谱的产生和特点（A）1.2.3 γ射线的产生及其特点（B）1.2.4 射线的种类（A）1.3射线与物质的相互作用1.3.1光电效应（B）1.3.2康普顿效应（B）1.3.3电子对效应（A）1.3.4瑞利散射（A）1.3.5各种相互作用发生的相对概率（A）1.3.6窄束、单色射线的强度衰减规律（B）1.3.7宽束、多色射线的强度衰减规律（A）1.4射线照相法的原理与特点1.4.1射线照相法的原理（C）1.4.2射线照相法的特点（C）2 射线检测设备及器材2.1 χ射线机2.1.1 χ射线机的种类和特点（1）χ射线机的分类（B）（2）携带式χ射线机的技术进展（A）2.1.2 χ射线管（1）结构和种类：普通χ射线管、金属陶瓷管（B）特殊用途管（A）（2）技术性能①阴极特性和阳极特性（B）②管电压（B）③焦点（B）④辐射场的分布（B）⑤真空度（A）⑥寿命（C）2.1.3高压发生电路（1）半波整流电路（B）（2）全波整流电路（A）（3）倍压整流电路（A）（4）全波倍压恒直流电路（A）2.1.4 χ射线机的基本结构（B）2.1.5 χ射线机的主要技术条件（A）2.1.6 χ射线机的使用、维护和修理（1）χ射线机操作程序（C）（2）χ射线机的使用注意事项（C）（3）χ射线机的维护和保养（C）（4）χ射线机的常见故障（A）2.2 γ射线机2.2.1 γ射线源的主要特性参数（A）2.2.2 γ射线探伤设备的特点（B）2.2.3 γ射线探伤设备的分类与结构（A）2.2.4 γ射线探伤机的操作（B）2.2.5 γ射线探伤设备的维护和故障排除（B）2.3射线照相胶片2.3.1射线照相胶片的构造与特点（B）2.3.2感光原理及潜影的形成（A）2.3.3底片黑度（C）2.3.4射线胶片的特性（1）特性曲线（C）（2）特性参数（B）2.3.5卤化银粒度对胶片性能的影响（A）2.3.6胶片的光谱感光度（A）2.3.7工业射线胶片系统的分类（B）2.3.8胶片的使用与保管（C）2.4射线照相辅助设备器材2.4.1黑度计（光密度计）（B）2.4.2增感屏（C）2.4.3像质计（C）2.4.4其他照相辅助设备器材（C）3 射线照相灵敏度的影响因素3.1射线照相灵敏度的影响因素3.1.1 概述（A）3.1.2射线照相对比度（1）对比度公式的推导（A）（2）对比度的影响因素①影响主因对比度的因素（B）②影响胶片对比度的因素（A）3.1.3射线照相清晰度（1）几何不清晰度Ug（C）（2）固有不清晰度Ui（B）3.1.4射线照相颗粒度（B）3.2 灵敏度和缺陷检出的有关研究（1）最小可见对比度△Dmi n（A）（2）射线底片黑度与灵敏度（A）（3）几何因素对小缺陷对比度的影响（A）4 射线透照工艺4.1透照工艺条件的选择4.1.1射线源和能量的选择（1）射线源的选择（A）（2）χ射线能量的选择（B）4.1.2焦距的选择（1）焦距与射线照相灵敏度的关系（C）；（2）焦距与被检工件的几何形状及透照方式的关系（B）（3）焦距与总不清晰度的关系（A）4.1.3曝光量的选择和修正（1）曝光量的推荐值（C）（2）互易律、平方反比定律和曝光因子（C）（3）曝光量的修正计算①利用曝光因子的曝光量修正计算（C）②利用胶片特性曲线的曝光量修正计算（A）4.2透照方式的选择和一次透照长度的计算4.2.1透照方式的选择（C）4.2.2一次透照长度的计算（1）透照厚度比K值与一次透照长度的关系（C）（2）直缝透照一次长度的计算（C）（3）环缝单壁外透法一次长度的计算（C）（此要求宜针对图表法而非公式法）（4）环缝单壁内透法一次长度的计算（C）（此要求宜针对图表法而非公式法）（5）环缝双壁单影法一次长度的计算（C）（此要求宜针对图表法而非公式法）4.3曝光曲线的制作及应用4.3.1曝光曲线的构成和使用条件（C）4.3.2曝光曲线的制作（C）4.3.3曝光曲线的使用（C）4.4散射线的控制4.4.1散射线的来源和分类（B）4.4.2散射比的影响因素（A）4.4.3散射线的控制措施（1）选择合适的射线能量（B）（2）使用铅箔增感屏（B）（3）散射线的专门控制措施：背防护铅板、铅罩和光阑、厚度补偿物、滤板、修磨试件（B）4.5焊缝透照常规工艺4.5.1透照工艺的分类和内容（B）4.5.2焊缝透照专用工艺卡示例（B）4.5.3焊缝透照的基本操作（C）4.6射线透照技术和工艺研究4.6.1大厚度比试件的透照技术（B）4.6.2安放式接管管座焊缝的射线照相技术要点（B）4.6.3管子—管板角焊缝的射线照相技术要点（B）4.6.4小径薄壁管透照技术与工艺（1）透照布置（B）（2）厚度变化分析（A）（3）透照次数计算（B）（4）像质要求（B）4.6.4球罐γ射线全景曝光工艺（设备和器材选择、工艺程序、曝光时间的计算、及措施布置、注意事项、安全管理）（B）5.暗室处理技术5.1暗室基本知识5.1.1暗室布置及对工作质量的影响（B）5.1.2暗室设备器材使用知识（B）5.1.3配液注意事项（B）5.1.4胶片处理程序和操作要点（B）5.1.5胶片处理的药液配方（A）5.1.6控制使用单位的胶片处理条件的方法（B）5.2暗室处理技术5.2.1显影（1）显影液的组成及作用（B）（2）影响显影的因素（B）（3）显影的基本原理（A）5.2.2停显（1）组成及作用（B）（2）基本原理（A）5.2.3定影（1）定影液的组成及作用（B）（2）影响定影的因素（B）；（3）定影的化学知识（A）5.2.4水洗和干燥（B）5.3 自动洗片机（A）6 射线照相底片的评定6.1评片工作的基本要求6.1.1底片的质量要求（C）6.1.2环境、设备条件要求（C）6.1.3人员条件要求（C）6.1.4与评片基本要求相关的知识（A）6.2评片基本知识6.2.1管片的基本操作（B）6.2.2投影的基本概念（B）6.2.3焊接的基本知识（A）6.2.4焊接缺陷的危害性及分类（A）6.3底片影像分析6.3.1焊接缺陷影像（B）6.3.2常见伪缺陷影像及识别方法（B）6.3.3表面几何影像的识别（B）6.3.4底片影像分析要点（B）6.4焊接接头的质量等级评定6.4.1焊接接头质量分级规定评说（B）6.4.2射线照相检验的记录与报告（B）。
射线RT2级考试（开卷）
特种设备无损检测人员理论试卷（RT Ⅱ）B部分单位: 姓名: 分数:一、判断题（将判断结果填入括号中，正确的画○，错误的请画×，本部分共20小题，每小题2分，共40分）1、平时我们所说的锅炉压力或介质压力通常都是指表压力。
（）2、《压力容器安全技术监察规程》将容器的设计压力分为三个压力级别。
（）3、法兰与接管连接的焊接接头为D类焊接接头。
（）4、《蒸汽锅炉安全技术监察规程》规定，无损探伤记录由施焊单位妥善保存7年或移交使用单位长期保存。
（）5、《蒸汽锅炉安全技术监察规程》规定，下脚圈的拼接焊缝应在加工成型后进行无损探伤。
（）6、《蒸汽锅炉安全技术监察规程》规定，受压管道和管子对接接头做探伤抽查时，如发现不合格缺陷，应做抽查数量的双倍数目的补充探伤检查。
（）7、额定蒸汽压力大于或等于3.8MPa，的蒸汽锅炉，每条焊缝必须进行100%的超声波探伤或射线探伤。
（）8、蒸汽锅炉对接接头的超声波探伤应按JB1152的规定进行。
（）9、《热水锅炉安全技术监察规程》规定，集箱的环焊缝应进行100%射线探伤。
（）10、《压力容器安全技术监察规程》规定，对铁素体钢制低温容器，局部无损检测的比例应大于等于50%。
（）11、《压力容器安全技术监察规程》规定，拼接补强圈的对接接头应进行100%表面检测。
（）12、JB4730-94《压力容器无损检测》适用于金属材料制压力容器的原材料、零部件和焊缝。
（）13、JB4730-94《压力容器无损检测》对射线透照的质量分为3个等级。
（）14、JB4730-94《压力容器无损检测》规定，当采用Ir192γ源对钢焊缝进行中心透照时，要求透照质量为AB级时，透照厚度下限可为15mm。
（）15、JB4730-94《压力容器无损检测》规定，双壁单影透照压力容器对接焊缝时，可分为不少于三段进行透照。
（）16、JB4730-94《压力容器无损检测》规定，当射线源的焦点为椭圆型时，则焦点尺寸为椭圆的长轴尺寸。
江苏省射线二级复证考试X光 射线探伤工艺
X光射线探伤工艺射线检测操作工艺程试验检测中心目录 1．主题内容与适用范围2．引用标准 3．检测人员 4．防护 5．设备、器件和材料 6．检测技术 7．容器扩透及标志： 8．压力管道扩透及标志 9．底片的质量 10．验收标准及质量等级 11．记录、报告和资料管理附录A：暗室处理附录B:射线底片质量控制细则 1主题内容和适用范围 1.1射线检测操作工艺程试验检测中心目录1．主题内容与适用范围2．引用标准3．检测人员4．防护5．设备、器件和材料6．检测技术7．容器扩透及标志：8．压力管道扩透及标志9．底片的质量10．验收标准及质量等级11．记录、报告和资料管理附录A：暗室处理附录B:射线底片质量控制细则1主题内容和适用范围1.1 本规程规定了焊缝射线检测人员应具备的资格、所用器材、检测工艺和验收标准等。
1.2 本规程依据JB4730的要求。
适用于板厚2-100 mm钢制压力容器和壁厚大于等于2mm钢管对接焊缝X射线和γ射线AB级检测技术。
满足《压力容器安全技术监察规程》和GB150的要求。
1.3 检测工艺卡是本规程的补充，可由III级人员按合同要求编写，其透照参数及其他相关的技术要求规定更具体。
2.引用标准JB4730-2005《承压设备无损检测》GB 16357-1996《工业Ｘ射线探伤放射卫生防护标准》GB 18465-2001《工业γ射线探伤放射卫生防护要求》HB 7684-2000 《射线照相用线型像质计》JB/T 7902-1999 《线型像质计》GB150-98《钢制压力容器》GB/T12605-《钢管环缝熔化焊对接接头射线透照工艺和质量分级》3.检测人员3.1 从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证。
3. 2 射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0）, 测试方法应符合GB 11533的规定。
从事评片的人员应每年检查一次视力。
射线检测通用技术II级考试大纲
第二章射线检测通用技术II级考试大纲1. 无损检测概论（见第一篇第二章）2. 射线检测物理基础2.1 原子与原子结构2.1.1 元素与原子a. 元素、元素周期（C）b. 原子（C）2.1.2 原子粒子a. 原子核（C）b. 质子、中子、电子；（B）2.1.3 原子运动a．轨道（C）b．能级（C）c．基态、激发态（C）d．跃迁（C）2.1.4 原子参数a．原子序数（A）b．原子量（C）c．核电荷数（B）2.2 放射性衰变元素2.2.1 放射性衰变a．衰变、衰变方式（C）b．同位素、放射性同位素（B）2.2.2 衰变规律a．活度、活度单位、比活度（B）b．半衰期、衰变常数（C）c．半衰期简单计算（B）2.3 射线种类与性质2.3.1 射线概念和主要种类2.3.2 X射线和γ射线a．X射线和γ射线产生（C）b．X射线和γ射线本质（B）c．X射线和γ射线特性：电磁波、光量子、波长、能量（B）2.4 射线与物质的相互作用2.4.1 线与物质的主要作用a. 光电效应（B）b. 康普顿效应（B）c. 电子对效应（C）d. 瑞利散射（C）2.4.2 窄束单色射线的衰减a. 窄束射线（B）b. 单色射线（B）c. 吸收、散射（A）d. 线衰减系数、半值层、衰减公式及计算（A）2.4.3 宽束连续谱射线的衰减a. X射线谱（C）b. 宽束射线（B）c. 散射比（C）a．线质（B）b．衰减公式（C）3. 设备和器材3.1 X射线机3.1.1 X射线机结构原理a. 基本结构（C）b. 基本工作过程（C）3.1.2 X射线机类型及适用性（B）3.1.3 X射线管a．基本结构、基本功能（C）b．管电压、管电流（A）c. 焦点、辐射角（C）3.1.4 训机概念（C）3.2 γ射线设备3.2.1 γ射线设备的基本结构（C）3.2.2 γ射线的基本工作过程（B）3.2.3γ射线源a. 常用源（铱192、钴60、硒75、铯137、铥170）的能量（C）b. 常用源（铱192、钴60、硒75、铯137、铥170）的半衰期（B）3.3 射线照相胶片3.3.1 感光原理a. 胶片结构（C）b. 潜影形成（C）3.3.2 胶片分类a．按感光度分类（C）b．按粒度分类（C）3.3.3 胶片感光特性a．底片黑度（B）b．感光特性曲线（C）c．感光度、灰雾度、梯度、宽容度（A）3.4 增感屏3.4.1 增感作用（C）3.4.2 增感屏主要类型和特点a. 金属增感屏及特点（B）b. 荧光增感屏及特点（C）a．金属荧光增感屏（C）3.4.3 铅箔增感屏的结构、特点（A）3.5 像质计3.5.1 像质计的作用与基本类型（C）3.5.2 金属丝型像质计：规格、摆放；（A）3.5.3 平板孔型像质计Ｃ）3.6 其它设备与器材3.6.1 黑度计：原理、使用；（C）3.6.2 标记a. 标记种类、作用（B）b. “B“标记的使用（A）3.6.3 暗室器材：安全灯、温度计、洗片槽、烘干箱、洗片机等（C）3.6.4 辐射防护器材：剂量测定仪（C）4. 射线照相检测技术4.1 射线照相灵敏度影响因素4.1.1 对比度概念（A）4.1.2 清晰度概念a．几何不清晰度概念极其计算（A）b．固有不清晰度概念（C）4.1.2 颗粒度概念（B）4.2 透照工艺条件的选择4.2.1 射线和能量的选择a. X射线和γ射线的使用选择（B）b. X射线能量的选择（B）4.2.2 焦距的选择a．最小焦距计算（A）b．诺模图的使用（C）4.2.3 曝光量选择a. 曝光量概念（B）b. 互易律（B）c. 平方反比定律（B）a．曝光因子（A）b．曝光量修正计算（A）4.3 透照方式4.3.1 透照方式选择a. 直缝透照（B）b. 环缝透照（A）4.3.2 一次透照长度计算（A）4.4 曝光曲线应用4.4.1 曝光曲线的构成a.（KV—T）曲线（B）b.（E—T）曲线（B）4.4.2 曝光曲线的使用a．一点法确定曝光参数（A）b．二点法确定曝光参数（A）c．对角线法确定曝光参数（C）4.5 散射线控制4.5.1 散射线来源、分类（C）4.5.2 散射线的控制（B）4.6 焊缝透照常规工艺4.6.1 透照工艺卡的编制a．通用工艺规程的使用（C）b．编制透照工艺卡（C）4.6.2 检测基本过程（B）4.7 暗室处理技术4.7.1 显影液和定影液的使用（B）4.7.2 洗片过程a. 显影（B）b. 停显（C）c. 定影（B）d. 水洗（C）e. 干燥（C）4.8 辐射防护4.8.1 X射线、γ射线对人体的危害（C）4.8.2 安全措施a. 监控（C）b. 记录（C）c. 剂量限值（C）a．屏蔽、距离、时间（B）4.8.3 屏蔽和距离的计算（B）5. 射线照相底片评定及标准5.1 评片要求5.1.1 环境设备要求（C）5.1.2 底片质量要求a. 灵敏度（B）b. 黑度（A）c. 标记（B）d. 伪缺陷（C）e. 背散射（B）5.2 底片影象分析5.2.1 缺陷影象识别a．裂纹、未熔合、未焊透、夹渣、气孔（A）b．其它（C）5.2.2 常见伪缺陷影象识别a．划痕、压痕、折痕、水迹（A）b．其它（C）5.3 JB4730标准5.3.1 JB4730标准的一般要求（C）5.3.2 焊缝缺陷等级评定（A）。
无损检测Ⅱ级人员培训系列教材之射线检测试题及答案汇编
第二部分射线检测本文源自：无损检测招聘网 一、正误判断题（在括弧内，正确的画○，错误的画×）1．高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用，电子失去其能量以光子形式辐射出来，这种辐射称韧致辐射。
〈○〉2※.线质是对射线穿透物质能力的度量，穿透力较强的射线称其线质较软，穿透力较弱的射线称其线质较硬。
（×）3、高速运动的电子同靶原子的轨道电子碰撞时，有可能将原子内层的一个电子击到未被电子填充的外层轨道上，其外层的电子向内层跃迁，以光子的形式辐射出多余的能置，这就产生了标识射线。
4、康普顿散射不是由轨道电子引起的，而主要是光于同固体内的自由电子相互作用引起的。
5、X、γ射线是电磁辐射；中子射线是粒子辐射。
（○）6※、具有连续光谱的x射线，称连续x射线，又称白色x射线。
7※、由发射x射线的材料特征决定波长的连续Ⅹ射线，称标识x射线，又称特征x射线（×）8、一定能量的连续x射线穿透物质时，随厚度的增加射线的总强度减小，平均波长变短，但最短波长不变。
（○）9※、加在x光管两端的电压越低，则电子的速度就越大，辐射出的射线能量就越高。
〈×〉10※、射线的线质越软，其光子能墨越大，波长越短，笄透力越强，衰减系数越小，半价层越大。
（×）11．Y射线的能盘取决于放射性同位苯的活度或居里效，而它的强度取决于源的种类。
（×）12※、射线的能量减弱到初始值上半时所穿过物质的厚度，称半价层，又称半值层。
（×）13※、放射性同位紊的能搔蜕变至其原值一半所需时间，称半衰期。
（×）14※、描述放射性物质不稳定程度的量称为“活度”。
（○）15、在核反应堆中，把一种元素变为放射性元素的过程，称为激活。
（○）16v当原子核内质子数不变，而原子量增加时，它就变戚另一种元素。
（×）17※、不稳定的同位素，称为放射性同位素。
（○）18※、光子是以光速传播的微小的物质粒子。
射线检测二级题库1
第一部分射线检测共：690题其中：是非题213题选择题283题问答题79题计算题115题一、是非题原子序数Z等于原子核中的质子数量。
（○）为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。
（○）当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。
（×）当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。
（×）原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。
（○）不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。
（×）不同种类的同位素，放射性活度大的总是比放射性活度小的具有更高的辐射剂量。
（×）放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。
（×）各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。
（×）α射线和β射线虽然有很强的穿透能力，但由于对人体辐射伤害太大，所以一般不用于工业探伤。
（×）将元素放在核反应堆中受过量中子轰击，从而变成人造放射性同位素，这一过程称为“激活”。
（○）与其他放射性同位素不同，C s137是原子裂变的产物，在常温下呈液态，使用前须防止泄漏污染。
（○）与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。
（×）射线能量越高，传播速度越快，例如γ射线比X射线传播快。
（×） X射线或γ射线强度越高，其能量就越大。
（×） X射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。
（×）当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。
（×）如果母材的密度比缺陷的密度大一倍，而母材的原子序数比缺陷的原子序数小一半时，缺陷在底片上所成的象是白斑。
（×）标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。
（×）连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。
（×） X射线的波长与管电压有关。
（○） X射线机产生X射线的效率比较高，大约有95%的电能转化为X射线的能量。
RT-09 射线检测Ⅱ级人员资格鉴定操作考试评分细则
射线检测Ⅱ级人员资格鉴定操作考试评分细则一、工艺卡准备（10分）1. 被检对象描述（每项1分，共2分）试件名称、试件编号、试件规格等，错1项扣1分；2. 检测条件、要求描述（每项1分，共4分）仪器型号及要求、胶片型号和规格、像质计型号、曝光参数、检测标准、验收标准等，错一项扣1分；3. 主要操作步骤（检测示意图）和操作要点描述（每项1分，共4分）二、检测准备（3分）1．试件准备：核对标识，并测量相关尺寸。
并检查试件表面状况。
否则扣1分；2. 器材确认：检查考试现场所需的检测器材是否充足、完好。
否则扣1分；3. 设备准备：检查检测设备是否完好。
否则扣1分。
三、检测操作（40分）1．标识放置：搭接标记、中心标记、学号标记、试件标记应放置，少一项扣1分；标识放置位置应符合要求，否则扣2分；（共6分）2．像质计放置：像质计选择应正确，否则扣3分；像质计放置位置应正确，放置在片侧时应加“F”标记，否则扣3分；（共6分）3. 防散射措施：γ射线应使用滤光板，否则扣2分；应使用合适的铅板进行背散射、边缘散射的防护，否则扣2分；（共4分）4. 检测工艺的确定（16分）应选择适当的透照方法，并正确执行，否则扣4分。
应正确选择焦距、KV、mA、曝光时间等检测参数，错一项扣1.5分。
（共6分）应正确操作检测设备，否则扣3分。
操作步骤应正确，否则扣3分。
5. 辐射防护（8分）曝光操作前应检查清场，否则扣4分；应注意采用剂量率仪，γ射线操作应关注联锁控制，否则扣4分。
四、暗室处理（1．暗室处理器材准备：10分）处理前准备好洗片夹等器材，并检查显、定影液状态，否则扣1分；2．环境条件准备：准备好暗室红灯、定时钟，检查桌面是否清洁干燥、暗室门是否锁闭，否则扣1分；3．操作规范：显影温度、时间得当，停显、定影、冲洗时间得当，干燥操作正确，处理过程中适当的抖动等，每项扣1分，最多扣6分；4.操作步骤：必须按照暗室处理要求的流程进行操作，否则扣2分。
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题一、相关法规、规范1）判断题1.《特种设备无损检测人员考核规则》规定考核范围内的无损检测方法包括射线（RT）、超声（UT）、磁粉（MT）、渗透（PT）、声发射（AE）和涡流（ECT）六种。
2.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，特种设备《检测人员证》的有效期为4年。
3.《特种设备无损检测人员考核规则》要求报考的检测人员至少单眼或者双眼的裸眼或者矫正视力不低于《标准对数视力表》的5.0级。
4.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，各级人员笔试和实际操作考试的合格标准均为70分。
5.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，年龄65周岁以上（含65周岁）人员的换证申请不再予以受理。
6.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，换证分为考试换证和审核换证两种方式，审核换证应当在取证后首次换证时实施，以后采取考试换证与审核换证交替实施，不得连续实施审核换证。
7.《锅炉安全技术监察规程》适用于符合《特种设备安全监察条例》范围内的固定式承压蒸汽锅炉、承压热水锅炉、有机热载体锅炉、以及以余热利用为主要目的的烟道式、烟道与管壳组合式余热锅炉。
8.《锅炉安全技术监察规程》规定，锅炉受压元件及其焊接接头质量检验，包括外观检验、通球试验、化学成份分析、无损检测、力学性能检验、水压试验等。
9.《锅炉安全技术监察规程》规定，当选用超声衍射时差法（TOFD）时，应当与脉冲回波法（PE）组合进行检测，检测结论应进行分别判定。
10.锅炉受压部件无损检测方法应当符合NB/T47013（JB/T4730）《承压设备无损检测》的要求。
管子对接接头实时成像应符合相应技术规定。
11.GB150－2011《压力容器》规定，第Ⅲ类容器的对接焊接接头应进行100%射线或超声波检测。
12.GB150－2011《压力容器》规定，对于进行局部射线或者超声波检测的压力容器，其公称直径D N ≥250mm的接管与长颈法兰、接管与接管对接连接的焊接接头应进行100%射线或超声波检测。
射线检测二级试题
射线检测二级试题姓名单位得分一、是非题（共25题，1分/题，以“+”表示正确“—”表示不正确）1、X射线经材料滤波后，最短波长会变短，即线质硬化。
（）7、对某一放射性同位素，其活度越大，则所发出的射线强度也越大，而其比活度越大，则射线源的焦点尺寸也只能做得越大。
（）11、散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。
（ + ）12、对于穿透同一种材料，半介层越大的射线，其射线照相对比度也越高。
（）15、欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。
（ + ）16、无论采用哪一种透照方式，只要保证K值不变，一次透照长度都随着焦距的增大而增大。
（）18、当透照厚度差较大的工件时，应特别注意边蚀散射的防护。
（ + ）19、纵缝双壁单影照相时，搭接标记应放在胶片侧，底片的有效评定长度就是两搭接标记的长度。
（）21、胶片未曝光部分变为透明时，即说明定影过程已经完成。
（）23、JB4730-94规定，透照不锈钢焊缝也可以使用碳素钢丝象质计。
（ + ）24、JB4730-94规定，单壁透照和双壁透照时，透照厚度采用相同的方法确定。
（94规定，Ir-192采用内透法时，透照厚度的下限值可降低一半。
（＋）二、选择题（共25题，1、5分/题，将单项正确的答案所标字母填入括号）1、在射线检验所采用的能量范围内（100KeV-10MeV），射线穿过钢铁强度衰减的最主要的原因A．光电效应B．康普顿效应 C．电子对效应 D．瑞利散射（ B ）2、EA和EB分别表示200KV和200KeV的Ｘ射线线质，两者硬度关系A．EA>EB B．EA<EB C．EA=EB D．以上均错（ B ）3、射线照相难以检出的缺陷是 A．未焊透和裂纹 B．气孔和未熔合 C．夹渣和咬边D．分层和折叠（ D ）4、下面关于放射性同位素的叙述中，不正确的是A．衰变常数越小，半衰期越长B．r射线强度与放射源活度有关C．每个核衰变中都放出r射线D．以上都不是（ C ）5、Ｘ射线的穿透力主要取决于A．管电流 B．管电压 C．曝光时间D．焦距（ B ）6、工业探伤用X射线管的阳极靶最常用的材料是A．铜 B．钨 C．铍 D．银（ B ）7、可使用Ir-192射线照相的钢试件，其最适合的厚度范围是A．100-200mm B．8-60mm C．4-15mm D．20-90mm（ D ）8、以下哪组名词属同一概念:A．胶片梯度，胶片对比度，胶片反差系数B．底片黑度，底片光学密度，底片灰雾度C．射线照相对比度，射线照相清晰度，射线照相颗粒度D．底片对比度，底片反差，主因对比度（ A ）9、已曝过光的底片，不能在高温高湿环境内保存时间过长，否则会引起A．药膜自动脱落 B．产生白色斑点C．产生静电感光 D．潜影衰退，黑度下降（ D ）10、铅箔增感屏的主要优点是A．可加速胶片感光，同时吸收部分散射线B．可提高照相清晰度C．可减小照相颗粒度D．以上都是（ A ）11、改变透照射线的能量时，下列影像质量因素中发生改变的是A．对比度 B．清晰度C．颗粒度 D．以上全是（ D ）12、下列各项中，散射线影响最大的是A．对比度降低 B．不清晰度增大 C．颗粒度增大 D．以上都是（ A ）13、固有不清晰度与下列哪一因素有关A．源尺寸 B．焦距C．胶片类型 D．射线能量（ D ）14、下列哪一因素对底片颗粒性无明显影响A．显影温度B．使用铅箔增感屏 C．射线穿透力 D．使用荧光增感屏（ B ）15、在制作曝光曲线过程中下列哪一项不是固定条件A．胶片类型 B．底片黑度C．射线能量 D．焦距（ C ）16、透照厚板焊缝时，在近底面有利于检出细小裂纹最主要取决于哪个因素A．焦距 B．固有不清晰度 C．射源尺寸 D．以上全是（ B ）17、对厚度差较大的工件进行透照时，为了得到黑度和层次较均匀的底片，一般做法是A．提高管电流 B．提高管电压 C．增加曝光时间 D．缩短焦距（ B ）18、环缝的透照方式中，下列哪一种方式为最佳A．双壁单影法 B．单壁外透法 C．内透偏心法 D．内透中心法（ D ）19、小径管焊缝一般采用适当提高管电压的双壁双影法透照方式，结果可能造成 A．灵敏度提高，厚度宽容度提高 B．灵敏度降低，厚度宽容度降低 C．灵敏度提高，厚度宽容度降低D．灵敏度降低，厚度宽容度提高（ D ）20、在显影过程中，不断搅动底片的目的是A．使未曝光的AgBr颗粒脱落B．驱除附在底片表面的气泡，使显影加快和均匀C．使曝过光的AgBr迅速溶解D．以上全是（ B ）21、要正确评片，评片人员必须了解A．曝光条件B．工件结构，制造工艺C．显影条件D．以上全部（ D ）22、与专用单位rad，rem相对应的法定计量单位是A．C/Kg Sv B．Gy Bq C．Gy Sv D．C/Kg Gy（ C ）23、下列哪一项不是JB4730-94中规定的底片质量要求项目A．标记影象齐全B．灵敏度C．对比度 D．黑度（ C ）24、JB4730-94规定选用AB级射线照相时，应采用A．金属增感屏B、金属荧光增感屏C、荧光增感屏D、以上都可以（ A ）25、检查背散射防护情况时，射线底片上有时会出现黑度高于周围背景黑度B铅字影象，其原因是A．散射线防护不够造成附加感光 B．B铅字产生的电子造成附加感光C．B铅字产生的二次射线造成附加感光 D．以上都不对（ C ）三、问答计算题（共5题5分/题）1、按JB4730标准B级（K=1、01）要求透照厚度为10mm的容器纵缝，透照焦距为600mm。
射线二级考试题库及答案
射线二级考试题库及答案1. 射线检测的基本原理是什么？答：射线检测的基本原理是利用射线的穿透能力，当射线通过被检测物体时，由于物体内部结构不同，射线的吸收和散射程度也会有所不同。
通过检测射线的强度变化，可以判断物体内部是否存在缺陷。
2. 射线检测中常用的射线类型有哪些？答：射线检测中常用的射线类型包括X射线、γ射线和中子射线。
X射线和γ射线主要用于检测金属材料内部的缺陷，而中子射线则适用于检测复合材料和轻质材料。
3. 射线检测设备的主要组成部分有哪些？答：射线检测设备的主要组成部分包括射线源、检测器、控制单元和图像处理系统。
射线源负责产生射线，检测器用于接收射线并将其转换为电信号，控制单元负责设备的运行和参数设置，图像处理系统则用于处理和分析检测到的信号。
4. 射线检测过程中，如何确定射线的穿透能力？答：射线的穿透能力可以通过调整射线源的电压和电流来确定。
电压越高，射线的能量越大，穿透能力越强；电流越大，射线的强度越高，但穿透能力不变。
5. 在射线检测中，如何减少误判和漏判？答：为了减少误判和漏判，可以采取以下措施：确保射线源和检测器的校准准确；使用适当的射线能量和曝光时间；对检测结果进行双重检查；定期对设备进行维护和校准。
6. 射线检测的图像处理技术有哪些？答：射线检测的图像处理技术包括图像增强、图像滤波、边缘检测和缺陷识别等。
这些技术可以帮助提高图像的清晰度，减少噪声干扰，并自动识别缺陷。
7. 射线检测的安全性如何保证？答：射线检测的安全性可以通过以下措施保证：使用防护设备，如铅屏蔽和防护服；限制射线的暴露时间和距离；定期对工作人员进行辐射剂量监测；遵守相关的安全法规和标准。
8. 射线检测在工业应用中的主要领域有哪些？答：射线检测在工业应用中的主要领域包括航空航天、核能、石油化工、汽车制造和医疗器械等。
这些领域中，射线检测被用于检测材料的内部结构和质量，以确保产品的安全性和可靠性。
射线检测二级题库概览
第一部分射线检测共：690题其中：是非题213题选择题283题问答题79题计算题115题一、是非题1.1 原子序数Z等于原子核中的质子数量。
（）1.2 为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。
（）1.3 当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。
（）1.4 当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。
（）1.5 原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。
（）1.6 不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。
（）1.7 不同种类的同位素，放射性活度大的总是比放射性活度小的具有更高的辐射剂量。
（）1.8 放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。
（）1.9 各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。
（）1.10 α射线和β射线虽然有很强的穿透能力，但由于对人体辐射伤害太大，所以一般不用于工业探伤。
（）1.11 将元素放在核反应堆中受过量中子轰击，从而变成人造放射性同位素，这一过程称为“激活”。
（）1.12 与其他放射性同位素不同，C s137是原子裂变的产物，在常温下呈液态，使用前须防止泄漏污染。
（）1.13 与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。
（）1.14 射线能量越高，传播速度越快，例如γ射线比X射线传播快。
（）1.15 X射线或γ射线强度越高，其能量就越大。
（）1.16 X射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。
（）1.17 当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。
（）1.18 如果母材的密度比缺陷的密度大一倍，而母材的原子序数比缺陷的原子序数小一半时，缺陷在底片上所成的象是白斑。
（）1.19 标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。
（）1.20 连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。
（）1.21 X射线的波长与管电压有关。
（）1.22 X射线机产生X射线的效率比较高，大约有95%的电能转化为X射线的能量。
射线二级考试题讲课稿
2014射线二级考试题2014射线二级考试题一、判断题1、射线照相主因对比度与射线的能谱有关，与强度无关（）√2、使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度（）×3、利用阳极侧射线照相所得到的底片几何不清晰度比阴极侧小（）√4、增加最小可见对比度ΔDmin，有助于识别小缺陷（）×5、像质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出（）×6、如怀疑背散射线影响清晰度，可在工件和胶片之间放一个铅字来验证背散射线的存在（）×7、增加透照宽容度的最常用的方法是适当提高射线能量（）√8、γ射线透照厚度差较大的工件，也可以采用放置滤板的方法增大宽容度（）×9、如果显影时间过长，有些未曝光的AgBr也会被还原，从而增大灰雾度（）√10、对曝光不足的底片，应采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度，从而获得符合要求的底片（）×11、通透时间就是指胶片从放入定影液到所有AgBr完全溶解的这段时间（）√12、定影液的两个作用：溶解未曝光的AgBr和坚膜作用（）√二、选择题1、影响主因对比度的是（）A射线波长 B散射线 C工件的厚度差D以上都是2、射线透照的几何不清晰度（）A与工件厚度成正比，与焦点尺寸成反比 B与工件厚度成反比，与焦点尺寸成正比C与焦点尺寸成正比，与焦距成反比 D焦点尺寸成反比与焦距成正比3、下列哪个参数不是影响小缺陷射线照相清晰度和对比度的共同因素（） A焦点和射源尺寸 B黑度 C 增感屏类型 D射线线质4、滤板的作用相当于（）A增加毫安数 B降低毫安数 C增加千伏数 D降低千伏数5、以相同条件透照同一工件，若焦距缩小20%，则灵敏度稍有降低，但曝光时间可减少（） A 64% B 36% C 30% D 60%6、比较大的散射源通常是（）A铅箔增感屏 B铅背板 C地板和墙壁 D被检工件7、关于影响散射线的因素，错误的有（）A管电压越高，散射线越多， B物体受照面积越大，散射线越多，C物体越厚，产生散射线越多， D 射线波长越短，产生散射线越少8、由被检工件引起的散射线有（）A背散射，B侧面散射 C正向散射 D全部是9、显影液的还原剂通常采用（）A亚硫酸钠 B溴化钾 C米吐尔和几奴尼，D碳酸钠10、显影液的促进剂通常采用（）A亚硫酸钠 B溴化钾 C菲尼铜，D碳酸钠11、定影液使用一定时间后会失效，其原因是（）A主要起作用的成分已挥发 B主要起作用的成分已沉淀 C主要起作用的成分已变质 D定影液里可溶性银盐浓度太高三、计算题1、用焦距600mm、双壁单影透照外径400 mm的容器直缝，已知板厚18mm，余高2mm，焊缝透照等分长度300mm，问底片上两搭接标记外两端各应附加多少长度作为有效评定长度。
射线检测二级
射线检测一、是非题1．原子序数Z等于原子核中的质子数量。
（○）2．原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。
（○）3．放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。
（× ）4．将元素放在核反应堆中受过最中子轰击，从而变成人造放射性同位素，这一过程称为“激活”。
（○）5．与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。
（× ）6．射线能量越高，传播速度越快，例如γ射线比X射线传播快。
（× ）7．当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。
（× ）8．X射线的波长与管电压有关。
（○）9．一种同位素相当于多少千伏或兆伏能力的X射线机来做相同的工作，这种关系叫做同位素的当量能。
（○）10．同能量的γ射线和X射线具有完全相同的性质。
（○）11．X射线的强度不仅取决取X射线机的管电流而且还取决于X射线机的电压。
（○）12．随着入射光子能量的增大，光电吸收系数迅速减少，康普顿衰减系数逐渐增大。
（× ）13．当射线能量在1.02MeV至10MeV区间，与物质相互作用的主要形式是电子对效应。
（× ）14．当射射线穿过三个半价层后，其强度仅剩下最初的1/8。
（○）15．放射性同位素的当量能总是高于其平均能。
（○）16．高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线，这一过程称作韧致辐射。
（× ）17．连续X射线的能量与管电压有关，与管电流无关。
（○）18．标识X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。
（○）19．在管电压、管电流不变的前提下，将X射线管的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强度会增大。
（× ）20．在工业射线探伤中，使胶片感光的主要是连续谱X射线，标识谱X射线不起什么作用。
（○）21．X光管的有效焦点总是小于实际焦点。
（○）22．X射线中电子的速度越小，则所发生的射线能量也就越小。
北京市特种设备无损检测人员考核大纲
北京市特种设备无损检测人员考核大纲(Ⅱ级)一. 总则依据国务院[锅炉压力容器安全监察条例]和国家质量监督检验总局所颁发的国质检锅[2003]248号关于[特种设备无损检测人员考核与监督管理规则]的精神,特别定适用于特种设备无损检测人员的考核大纲,目的是通过对特种设备无损检测人员进行有关法律、法规,国家标准及无损检测基本知识和操作技能的考核,使无损检测人员能够独立正确进行特种设备的无损检测工作,确保特种设备的安全运行,经考核达到持证上岗。
二. 适用范围本大纲适用的无损检测方法包括:射线(RT)超声波(UT);磁粉(MT);渗透(PT)。
三.报告人员基本条件1、无损检测人员报考中请分为取证考核(初试)申请和换证考核(复试)申请;2、初试申请人员应当同时满足以下条件:(1) 年龄在所不惜8周岁以上60周岁以下,身体健康;(2) 双眼矫正视力和颜色分辨力满足所申请无损检测的要求;(3) 应具备高中(含)以上学历,无损检测专业大专(含)以上或理工科,本科(含)以上学历可直接报告。
四.特种设备无损检测Ⅱ级人员考试须知:北京市特种设备无损检测Ⅱ级人员考试须知五.初试考核内容及要求:特种设备无损检测人员初试考核包括理论知识和实际操作技能考核两部分.(一)初试考核各种检测方法考核大纲.锅炉压力容器压力管道无损检测基础知识考核大纲一、金属材料及热处理基础知识1、材料力学基础知识1．1 应力与应变（B）1．2 强度（A）1．3 塑性（A）1．4 硬度（A）1．5 冲击韧性（A）1．6 有关材料方面的进一步知识（B）2、金属学与热处理基础知识2．1 金属的晶体结构（C）2．2 铁碳合金的基础知识（C）2．3 热处理一般过程（A）2．4 锅炉压力容器用钢常见金相组织和性能（C）2．5 锅炉压力容器常用热处理工艺（B）3、锅炉压力容器常用材料3．1 钢的分类和命名方法（A）3．2 低碳钢（B）3．3 低合金钢（B）3．4 奥氏体不锈钢（B）二焊接基本知识1、锅炉压力容器常用的焊接方法1．1 焊接的定义与特点（B）1．2 焊接方法的分类（A）1．3 手工电弧焊（A）1．4 埋弧自动焊（A）1．5 氩弧焊（A）1．6 二氧化碳气体保护焊（A）1．7 等离子弧焊（C）1．8 电渣焊（B）2、焊接接头2．1 焊接接头形式（A）2．2 焊接接头的组成（A）2．3 焊接接头的组织和性能（C）3、焊接应力与变形3．1 焊接应力与变形的概念（C）3．2 焊接变形和应力的形成（B）3．3 焊接应力的控制措施（C）3．4 消除焊接应力的方法（C）4、锅炉压力容器常用钢材的焊接4．1 钢材的焊接性（B）4．2 低碳钢的焊接（B）4．3 低合金钢的焊接（B）4．4 奥氏体不锈钢的焊接（B）5、焊接缺陷5．1 外观缺陷（A）5．2 气孔与夹渣（A）5．3 裂纹（A）5．4 未焊透（A）5．5 未熔合5．6 其它缺陷（A）三无损检测基础知识1、无损检测概论1．1 无损检测的定义与分类（A）1．2 无损检测的目的（A）1．3 无损检测的应用特点（A）1．4 缺陷的种类及产生原因（A）2、无损检测的应用选择2．1 锅炉压力容器制造过程中无损检测方法的选择（A）2．2 检测方法和检测对象的适应性（A）四锅炉基础知识1、概述1．1 锅炉的定义及用途（A）1．2 锅炉的特点（B）1．3 锅炉主要参数（B）1．4 饱和水和水蒸汽性质（C）2、锅炉的分类及型号（C）3、锅炉结构3．1 锅炉结构的基本要求（B）3．2 锅炉主要受压部件（C）3．3 锅炉安全附件（A）3．4 几种典型锅炉结构（C）4、锅炉的工作过程（C）5、锅炉的无损检测要求5．1 应遵循的原则（A）5．2 规程对锅炉焊缝探伤的主要要求（A）五压力容器基础知识1、概述1．1 压力容器的定义及用途（A）1．2 压力容器的主要工艺参数（B）1．3 压力容器的分类（B）1．4 我国压力容器法规和标准（B）2、压力容器的典型结构和特点2．1 低、中压压力容器的筒体结构（C）2．2 高压容器的筒体结构（C）2．3 压力容器的封头（B）2．4 压力容器的开孔与接管（B）2．5 压力容器的焊接接头分类及设计的一般原则（B）3、压力容器的无损检测3．1 压力容器用钢板无损检测要求（A）3．2 压力容器用锻件和无缝钢管的无损检测要求（A）3．3 压力容器的焊接接头的无损检测要求（A）4、在用压力容器的无损检测要求4．1 在用压力容器检验的一般要求（B）4．2 在用压力容器的无损检测要求（A）六我国锅炉、压力容器、压力管道主要规程、标准中对无损检测的应用1、锅炉主要规程、标准中对无损检测方法使用的规定（B）2、压力容器主要规程、标准中对无损检测方法使用的规定（B）3、压力管道主要规程、标准中对无损检测方法使用的规定（B）4、 JB4730标准讲解（A）5、特种设备安全监察条例、特种设备无损检测人员考核与监督管理规则（A）射线检测Ⅱ级人员初试考核大纲1．射线检测的物理基础1． 1 原子与原子结构1．1．1 原子和元素的概念，原子的组成入电子、质子、中子、核电荷数、原子序数、原子量及其相互关系。
射线二级考试题库带答案
射线二级考试题库带答案1. 射线检测技术中，射线源与被检物体之间的距离称为什么？A. 源距B. 焦距C. 物距D. 像距答案：A2. 在射线检测中，射线的穿透能力主要取决于哪些因素？A. 射线的类型B. 被检物体的厚度C. 射线的强度D. 所有以上因素答案：D3. 射线检测中，胶片的黑度与哪些因素有关？A. 射线的强度B. 胶片的曝光时间C. 胶片的类型D. 所有以上因素答案：D4. 射线检测中，为了提高检测的灵敏度，通常采用哪种类型的射线？A. X射线B. γ射线C. β射线D. α射线答案：B5. 在射线检测中，如果被检物体的厚度增加，射线的穿透能力会如何变化？A. 增加B. 减少C. 不变D. 先增加后减少答案：B6. 射线检测中，为了减少散射射线的影响，通常采取哪些措施？A. 增加射线源与胶片的距离B. 使用铅屏蔽C. 减少射线源与被检物体的距离D. 所有以上措施答案：D7. 射线检测技术中，射线的波长与能量之间的关系是什么？A. 波长与能量成正比B. 波长与能量成反比C. 波长与能量无关D. 波长与能量先正比后反比答案：B8. 在射线检测中，胶片的灵敏度通常与哪些因素有关？A. 胶片的类型B. 胶片的厚度C. 胶片的曝光时间D. 所有以上因素答案：D9. 射线检测中，为了提高检测的分辨率，通常采用哪种类型的射线？A. X射线B. γ射线C. β射线D. α射线答案：A10. 射线检测中，如果被检物体的材料密度增加，射线的穿透能力会如何变化？A. 增加B. 减少C. 不变D. 先增加后减少答案：B结束语：以上是射线二级考试题库的部分题目及答案，希望对考生的复习有所帮助。
中国船级社射线ii级检测试题
中国船级社射线ii级检测试题
中国船级社射线II级检测试题
选择题
1.射线II级检是指哪个机构的检验？
– A. 国家质量监督检验检疫总局
– B. 中国船级社
– C. 中国检验认证集团
– D. 中国检验检疫科学研究院
2.射线II级检是用于检测什么类型的设备？
– A. 医疗设备
– B. 船舶设备
– C. 电力设备
– D. 交通工具设备
3.射线II级检是利用射线进行检测，射线主要包括哪些？
– A. X射线和γ射线
– B. 红外线和紫外线
– C. β射线和α射线
– D. 高频射线和低频射线
填空题
1.射线II级检主要用于对船舶的设备和结构进行检测。
2.射线II级检的目的是发现设备和结构中的缺陷和损伤。
简答题
1.请简要介绍射线II级检的工作原理和流程。
答：射线II级检的工作原理是利用X射线或γ射线对设备和结
构进行透射或散射，通过检测其透射或散射情况来判断是否存在缺陷
和损伤。
流程包括选择适当的射线源、确定检测位置、设置检测参数、执行射线检测、获取和分析检测结果，并根据结果进行缺陷定性和定位。
2.射线II级检的应用范围有哪些？
答：射线II级检主要应用于船舶设备和结构的检测，包括船体、船壳、机舱、管道等部位的金属和非金属材料的检测。
同时，射线II
级检也适用于其他工程领域，如电力设备、化工设备、桥梁结构等的
检测。
射线检测(RT)II级
射线检测（RT） II级笔 试 考 卷资料整理：无损检测资源网沧州市欧谱检测仪器有限公司一是非判断题（在每题后面括号内打“X”号表示“错误”，画“○”表示正确）（共20题，每题1分，共20分）1 X射线、γ射线、中子射线都是电磁辐射。
（X）2 波长相同的Χ射线和γ射线具有相同的性质。
（0）3 X射线的波长愈长μ愈大,穿透物质的原子序数愈大μ愈大,穿透物质的密度愈高μ愈大(0)4 在光电效应中，光子并没有被完全吸收,而在康普顿效应中则是光子完全被吸收（X）5 电子对效应只能产生在入射光子能量低于1.022MeV的情况下（X）6 连续谱X射线穿透物体时，较长波长的成分不断减弱，表现为射线的不断“硬化”。
（0）7 Χ射线管的管电压是指阴极和阳极间的电压有效值（X）8 新的或长期不用的Χ射线机，使用前要进行“训练”，其目的是提高射线管的真空度。
（0）9 X射线管中撞击靶的电子数量越大，则发出的射线能量就越高（X）10 X射线管中电子的动能在靶上大部分转换成X射线能，少部分转换成热能（X）11 GB 18871-2002规定公众照射的剂量限值为年有效剂量1mSv（0）12 粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片好（X）13 像质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。
（X）14 通常认为对比度，清晰度，颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。
（0）15 铅增感屏有增感作用，但是也会增加散射线影响底片的清晰度（X）16 射线透照方向的选择，应尽可能使射线与缺陷延伸方向垂直（X）17 选用高的管电压可以提高底片对比度，从而提高射线检验灵敏度（X）18 在焊缝上摆放丝型像质计时，应使细线端接近射线透照场边缘（0）19 铅增感屏上的深度划伤在射线底片上呈白色条痕（X）20 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状（X）二选择题（将认为正确的序号字母填入题后面的括号内，只能选择一个答案）（共45题，每题1分，共45分）1.工业超声波检测中,产生和接收超声波的方法,最经常利用的是某些晶体的(c)a.电磁效应b.磁致伸缩效应c.压电效应d.磁敏效应2.适用于渗透检测法的缺陷是(a)a.表面开口缺陷b.近表面缺陷c.内部缺陷d.以上都对3.能够进行磁粉探伤的材料是（a）a．碳钢 b．奥氏体不锈钢 c．黄铜 d．铝4.涡流检测技术利用的基本原理是(c)a.毛细现象b.机械振动波c.电磁感应d.放射性能量衰减5.对于无损检测技术资格等级人员,有权独立判定检测结果并签发检测报告的是(d)a.高级人员b.中级人员c.初级人员d.a和be.以上都可以6.焊缝中常见的缺陷是下面哪一组?(b)a.裂纹,气孔,夹渣,白点和疏松b.未熔合,气孔,未焊透,夹渣和裂纹c.气孔,夹渣,未焊透,折叠和缩孔d.裂纹,未焊透,未熔合,分层和咬边7.10居里钴60γ射线源衰减到1.25居里,需要的时间约为(c)a.5年b.1年c.16年d.21年8.X射线照相检测的工艺参数主要是(e)a.焦距b.管电压c.管电流d.曝光时间e.以上都是9.下面哪种辐射源具有最高的穿透力？（d）a.192Irb.60Coc.300KV X射线机d.15MeV的加速器10.在X射线管内，高速电子轰击到哪个部件上产生X射线？（b）a.聚焦罩b.阳极靶c.灯丝d.阴极11.当管电压一定，管电流加大时，产生的连续X射线的线质有何变化？强度有何变化？波长有何变化？（b）a.线质变硬，强度不变，波长变短b.线质不变，强度增加，波长不变c.线质变软，强度降低，波长变长d.线质不变，强度降低，波长变长12.X射线管焦点的大小直接影响下面哪个参数？（b）a.穿透力b.几何模糊度c.固有不清晰度d.灰雾度13.放射性比活度通常以每克多少居里数表示或以每立方厘米多少居里数表示，它是辐射源浓缩程度的物理量。
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题集
射线检测Ⅱ级人员开卷笔试练习题一、相关法规、规范1）判断题1.《特种设备无损检测人员考核规则》规定考核范围内的无损检测方法包括射线（RT）、超声（UT）、磁粉（MT）、渗透（PT）、声发射（AE）和涡流（ECT）六种。
2.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，特种设备《检测人员证》的有效期为4年。
3.《特种设备无损检测人员考核规则》要求报考的检测人员至少单眼或者双眼的裸眼或者矫正视力不低于《标准对数视力表》的5.0级。
4.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，各级人员笔试和实际操作考试的合格标准均为70分。
5.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，年龄65周岁以上（含65周岁）人员的换证申请不再予以受理。
6.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，换证分为考试换证和审核换证两种方式，审核换证应当在取证后首次换证时实施，以后采取考试换证与审核换证交替实施，不得连续实施审核换证。
7.《锅炉安全技术监察规程》适用于符合《特种设备安全监察条例》范围内的固定式承压蒸汽锅炉、承压热水锅炉、有机热载体锅炉、以及以余热利用为主要目的的烟道式、烟道与管壳组合式余热锅炉。
8.《锅炉安全技术监察规程》规定，锅炉受压元件及其焊接接头质量检验，包括外观检验、通球试验、化学成份分析、无损检测、力学性能检验、水压试验等。
9.《锅炉安全技术监察规程》规定，当选用超声衍射时差法（TOFD）时，应当与脉冲回波法（PE）组合进行检测，检测结论应进行分别判定。
10.锅炉受压部件无损检测方法应当符合NB/T47013（JB/T4730）《承压设备无损检测》的要求。
管子对接接头实时成像应符合相应技术规定。
11.GB150－2011《压力容器》规定，第Ⅲ类容器的对接焊接接头应进行100%射线或超声波检测。
12.GB150－2011《压力容器》规定，对于进行局部射线或者超声波检测的压力容器，其公称直径D N ≥250mm的接管与长颈法兰、接管与接管对接连接的焊接接头应进行100%射线或超声波检测。
射线2级资料
（1）质子数=核电荷数=核外电子数=原子序数（2）原子量=质子数+中子数（3）中子数=原子量—质子数=原子量—原子序数（4）电磁波的波长λ和频率v以及波速c（光速）的关系式为：λ=c/v（5）连续谱存在一个最短波长λmin 其数值只依赖于外加电压V而与靶材料无关E=eV=hv=hc/λmin 式中：h—普朗克常数，h=6.626*10-34j.sλmin=hc/eV=12.4/V(KV) c—光速，c=3.0*108m/se—电子电量，e=1.6*10-19C(库仑)V（KV）—管电压单位（千伏）连续谱中最大强度对应的波长λIM=1.5λmin（6）X射线的产生效率ŋ等于连续射线的总强度I T与管电压V和管电流i的乘积之比，即：ŋ =I T /Vi=K i ZV 式中：K i—比例常数V —管电压Z—原子序数可见，X射线的产生效率与管电压和靶材料原子序数成正比。
在其他条件相同的情况下，管电压越高，X射线产生效率越高;管电压的高压波形越接近恒压，X射线产生效率也越高。
（7）γ射线衰变规律：N=N o e-λT式中： N—衰变后强度N o—初始强度λ—比例系数（衰变常数） T—时间半衰期：放射性同位素衰变掉原有核数一半所需时间。
用T1/2表示，单位（年）（8）窄束，单色射线的强度衰减规律：I= I o e-uT式中：I—透射射线强度I o—初始射线强度u—材料的线衰减系数（cm-1）T—透射厚度(cm)半价层：是指使入射射线强度减少一半的吸收物质厚度。
用T1/2表示，单位（年）T1/2= 0.693/ u（9）宽束，多色射线的强度衰减规律：I=I P+I S=I P(1+I S/I P)=I P(1+n) 考虑总的强度衰减结果，可以归纳以下关系式：I= I o e-uT（10）宽束多色射线强度衰减规律：I= I o e-uT（1+n）式中： I—透射射线强度I o—初始射线强度Ln(I/I o)=-uT u—平均衰减系数（cm-1）T—透射厚度(cm)n —散射比I S/I P(11)对斜靶定向X射线管，其有效焦点面积S O=Ssinα式中：靶与垂直管轴线平面的夹角，一般α=200所以近似关系式：S O=S/3 （12）黑度D定义为照射光强L O与透射光强L之比的常用对数值，即：D=lg(L O/L)L= L O/10D容度（L），最大密度（D max）,这些特性可以在胶片特性曲线上定量表示。
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第二章射线检测通用技术II 级考试大纲
1.无损检测概论（见第一篇第二章）
2.射线检测物理基础
2.1原子与原子结构
2.1.1 元素与原子
a.元素、元素周期（C）
b.原子（C）
2.1.2 原子粒子
a.原子核（C）
b.质子、中子、电子；（B）
2.1.3 原子运动
a．轨道（C）
b．能级（C）
c．基态、激发态（C）
d．跃迁（C）
2.1.4 原子参数
a．原子序数（A）
b．原子量（C）
c．核电荷数（B）
2.2放射性衰变元素
2.2.1 放射性衰变a．衰变、衰变方式（C）b．同位素、放射性同位素（B）
2.2.2 衰变规律
a．活度、活度单位、比活度（B）
b．半衰期、衰变常数（C）c．半衰期简单计算（B）
2.3射线种类与性质
2.3.1 射线概念和主要种类
2.3.2 X射线和丫射线
a.X射线和丫射线产生（C）
b.X射线和丫射线本质（B）
c.X射线和丫射线特性：电磁波、光量子、波长、能量（B）
2.4射线与物质的相互作用
2.4.1 线与物质的主要作用
a.光电效应（B）
b.康普顿效应（B）
c.电子对效应（C）
d.瑞利散射（C）
2.4.2 窄束单色射线的衰减
a.窄束射线（B）
b.单色射线（B）
c.吸收、散射（A）
d.线衰减系数、半值层、衰减公式及计算（A）
2.4.3 宽束连续谱射线的衰减
a.X 射线谱（C）
b.宽束射线（B）
c.散射比（C）
a．线质（B）
b．衰减公式（C）
3.设备和器材
3.1X 射线机
3.1.1 X 射线机结构原理
a.基本结构（C）
b.基本工作过程（C）
3.1.2 X 射线机类型及适用性（B）
3.1.3 X 射线管
a．基本结构、基本功能（C）
b．管电压、管电流（A）
c.焦点、辐射角（C）
3.1.4 训机概念（C）
3.2丫射线设备
3.2.1丫射线设备的基本结构（C）
3.2.2 丫射线的基本工作过程（B）
3.2.3丫射线源
a.常用源（铱192、钴60、硒75、铯137、铥170）的能量（C）
b.常用源（铱192、钴60、硒75、铯137、铥170）的半衰期（B）
3.3射线照相胶片
3.3.1 感光原理
a.胶片结构（C）
b.潜影形成（C）
3.3.2 胶片分类
a．按感光度分类（C）
b．按粒度分类（C）
3.3.3 胶片感光特性
a．底片黑度（B）
b．感光特性曲线（C）
c．感光度、灰雾度、梯度、宽容度（A）
3.4增感屏
3.4.1 增感作用（C）
3.4.2 增感屏主要类型和特点
a. 金属增感屏及特点（B）
b. 荧光增感屏及特点（C）a．金属荧光增感屏（C）
3.4.3 铅箔增感屏的结构、特点（A）
3.5像质计
3.5.1 像质计的作用与基本类型（C）
3.5.2 金属丝型像质计：规格、摆放；（A）
3.5.3平板孔型像质计C）
3.6其它设备与器材
3.6.1 黑度计：原理、使用；（C）
3.6.2 标记
a. 标记种类、作用（B）
b. “ B “标记的使用（A）
3.6.3 暗室器材：安全灯、温度计、洗片槽、烘干箱、洗片机等（
C)
3.6.4 辐射防护器材：剂量测定仪（C）
4.射线照相检测技术
4.1射线照相灵敏度影响因素
4.1.1 对比度概念（A）
4.1.2 清晰度概念
a．几何不清晰度概念极其计算（A）b．固有不清晰度概念（C）
4.1.2 颗粒度概念（B）
4.2透照工艺条件的选择
4.2.1 射线和能量的选择
a.X射线和丫射线的使用选择（B）
b.X 射线能量的选择（B）
4.2.2 焦距的选择
a．最小焦距计算（A）
b．诺模图的使用（C）
4.2.3 曝光量选择
a.曝光量概念（B）
b.互易律（B）
c.平方反比定律（B）a．曝光因子（A）
b．曝光量修正计算( A)
4.3透照方式
4.3.1 透照方式选择
a. 直缝透照( B)
b. 环缝透照( A)
4.3.2 一次透照长度计算( A)
4.4曝光曲线应用
4.4.1 曝光曲线的构成
a.( KV—T 曲线(B)
b.( E—T)曲线(B)
4.4.2 曝光曲线的使用
a．一点法确定曝光参数( A) b．二点法确定曝光参数( A) c．对角线法确定曝光参数( C)
4.5散射线控制
4.5.1 散射线来源、分类( C)
4.5.2 散射线的控制( B)
4.6焊缝透照常规工艺
4.6.1 透照工艺卡的编制
a．通用工艺规程的使用( C) b．编制透照工艺卡( C)
4.6.2 检测基本过程( B)
4.7暗室处理技术
4.7.1 显影液和定影液的使用( B)
4.7.2 洗片过程
a.显影( B)
b.停显( C)
c.定影( B)
d.水洗( C)
e.干燥( C)
4.8辐射防护
4.8.1X射线、丫射线对人体的危害(C)
4.8.2 安全措施
a.监控( C)
b.记录( C)
c.剂量限值( C)
a．屏蔽、距离、时间( B)
4.8.3 屏蔽和距离的计算( B)
5.射线照相底片评定及标准
5.1评片要求
5.1. 1 环境设备要求（C）
5.1. 2 底片质量要求
a. 灵敏度（B）
b. 黑度（A）
c.标记（B）
d.伪缺陷（C）
e.背散射（B）
5.2底片影象分析
5.2.1 缺陷影象识别
a．裂纹、未熔合、未焊透、夹渣、气孔（A）b．其它（C）
5.2.2 常见伪缺陷影象识别
a．划痕、压痕、折痕、水迹（A）
b．其它（C）
5.3JB4730 标准
5.3.1JB 4730 标准的一般要求（C）
5.3.2 焊缝缺陷等级评定（A）。