塞规校验规程
塞规校验规程
塞规校验规程1.0目的为确保检验﹑测量和试验用的计量器具能溯源至国家标准,保持其量值的准确可靠,规范内校操作,特制订本内校操作规范。
2.0范围本公司范围内使用塞规均适用。
3.0校验设备千分尺。
大理石平台。
工业酒精。
棉花棒。
棉纱手套、碎布。
使用时必须保证手、机工件的清洁。
所用装置应有CNAS认可的计量机构进行校准合格,每年需校准一次。
并在校准有效期内使用。
4.0环境条件常温常湿。
温度:(20±5)℃湿度(30~80)%5.0校验方法5.1准备工作:5.1.1平台清洁,将待校件放置于平台上。
5.1.2用棉花棒沾上工业酒精将塞规擦净。
5.1.3清洁完毕后,将塞规放在平台上放置1.5小时以上,保证塞规、千分尺与校正环境同温。
5.2塞规校正:5.2.1外观校正:5.2.1.校正前应先戴纱手套,以碎布擦拭塞规,目视检查塞规外表面有无损坏、生锈等现象。
5.2.2精度校正:5.2.2.1将塞规测量端置于千分尺的测量面,测量读数。
5.2.2.2用以上方法依此校正每个塞规。
5.2.2.3将测量数据真实记录填写于【检测仪器校正报告书】。
5.3注意事项:5.3.1校正完成应于塞规适当位置贴上【校正标签】。
5.3.2校正结果如为参考使用或暂使用,应于塞规盒上粘贴标签并通知其使用部门。
5.3.3校正的结果应填写于【检测仪器校正报告书】,交使用单位以利使用者加以补正其误差。
5.3.4送修完成的塞规应再实施校正,确定允收后才可发放使用。
5.4允收标准5.4.1塞规允收标准:塞规规格允收标准0.01~0.06以下±0.0050.06~0.1以下±0.0060.1~0.35以下±0.0080.35~0.65以下±0.0100.65~3.0以下±0.0155.4.2被校塞规各项要求均符合本指导书中相应项目的要求,则说明该塞规校准合格,否则为校准不合格。
合格的贴上绿色合格标签,不合格的注明不合格项,并贴上蓝色限用标签。
螺纹塞规、环规校验规范
3。6校验判定合格标准:±0.01mm
4、相关文件:
无
5、相关记录:
5。1《仪器校验报告》ATI-4—MF2-015-01
6、本规范自总经理批准之日起实施,修改亦同。
合一(惠州)电子科技有限公司
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螺纹塞规、环规校验规范
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电子工程部
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2010—12—20
3.4。2校验周期:1年。
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螺纹塞规、环规校验规范
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3。5校验后
3。5。1将标准值减去测量值计算出误差值,并确认误差值是否在允许误差内,并将结果记录于《仪器校验报告内》。
3。5.2判定合格者在盒上贴上校验合格标签,并标示校验日期.
3。3。1外观
校验方法:目测
要求:检具测量面不应有锈蚀、磁性、碰伤、裂纹、毛刺、损坏等缺陷。使用中的检具允许存在不影响使用准确度的缺陷。标记应清晰、明白。
3。3。2特性尺寸校验方法。
3.3。2。1使用卡尺、千分尺校验。
塞规检定规程
塞规检定规程适用范围:这个塞规检定规程啊,适用于机械加工、制造等领域里使用的各种塞规。
不管是在小作坊里捣鼓些小零件,还是在大工厂里生产那些大型机械部件,只要用到塞规来检测尺寸,这规程就适用。
就好比一把万能钥匙,能打开所有跟塞规检定有关的门,只要你在这些生产制造的地盘上,要给塞规定个准儿,就得照着这个规程来。
引用标准:咱这规程可是有根有据的,参考了好多国家和行业的标准呢。
像《GB/T 1957 - 2006 光滑极限量规技术条件》这些标准,那就是咱的“老师”,告诉咱啥是规范的、权威的。
要是不按照这些标准来,就好比盖房子不打地基,迟早得塌喽。
术语和定义:塞规嘛,这东西大家可能都有个大概印象,但是在这儿咱得说清楚咯。
塞规就是一种用来测量孔的尺寸的量具,有通端和止端。
通端呢,就像一个随和的朋友,只要孔的尺寸合适,它就能轻松通过,就表示这个孔的下限尺寸合格啦。
止端呢,就比较“挑剔”,要是它能进去,那就说明这个孔太大喽,超过上限尺寸了。
这就跟坐火车似的,通端是那个宽松的行李限制,止端就是严格的车票检查,一点都不能含糊。
职责分工:在这塞规检定的事儿里啊,不同的人有不同的活儿。
质量部门就像是裁判,得负责整个检定流程的监督,保证公平公正。
检定人员呢,那就是场上的运动员,得实际操作那些检定工具,仔仔细细地给塞规做检查。
生产部门就像是后勤保障,得把塞规好好地送到检定人员手里,还得保证送来的塞规是干净、完好的。
要是哪一环出了问题,就像一条链子断了一环,整个检定工作就没法好好进行啦。
具体流程步骤:先得把塞规拿出来,就像从宝盒里拿出宝贝一样,要轻拿轻放。
然后看看塞规表面有没有损坏,这就跟挑水果一样,表面有疤有坑的可不行。
接下来呢,要把塞规放到专门的测量仪器上,这个仪器得是经过校准的,就像我们得用准的秤去称东西一样。
对塞规的通端和止端分别进行测量,测量的时候得精确到规定的小数位数,这就好比裁缝量尺寸,差一点衣服就不合身了。
测量完了要把数据记录下来,记录的数据得清清楚楚,不能像鬼画符一样让人看不懂。
塞规内校指导书
文件编号 核 准 审 查 制 作版 次页 次制订日期1.目的:为确保本公司所使用之塞规于执行校验时能有所依据,特制标准以权宜之。
2. 校正标准件:已校千分尺0~25mm,25~50mm 。
3. 校正温度:室温4. 校正周期:每半年一次。
5. 校正步骤:5.1 校验前5.1.1 检查仪器的外观及功能: 1) 活动头 2) 轴心是否调整正常5.1.2 用清洁纸清洁仪器及标准件。
5.1.3 校验过程中须戴手套。
5.2 执行校正5.2.1 对松下23mm 执行校正。
5.2.2 把千分尺活动头移至零位,然后用指定工具把轴心移至轴心零位。
5.2.3 在塞规上分别取五点,在每个点上分别测其四个值。
如下图所示; III III IV V1 - 12 - 23 - 34 - 4 5.2.4 把五个点上的四个值分别记录在检验矫正报告上。
5.2.5 同样方法可量度"内,外校判定标准指导书"中的3.13~3.23之塞规,并把结果记录在检验 校正报告上。
5.3 把所得读数与规格比较,及作出判决。
5.4 校验结果判定5.4.1 如果所得读数超出规格所需,结果便为"不接受"在仪器上贴上"暂停使用"标签,并通知 维修部门修护,仪器于修护后须重复5.2之步骤。
5.4.2 如果所得读数是合符规格,结果便为合格,在仪器上贴"不接受"标签,把结果记在测量仪器履历表上。
6. 判定标准:依据"内,外校判定标准指导书"有关规定作出判决。
7 记录保存:校验记录须保存至该仪器报废。
塞规内校指导书12341234I II III (塞规示意图)IV V。
塞规校验规程
塞规校验规程
一. 目的
1 塞规是用于检测波纹管柔韧性能的工具。
2 校验方法的编写依据:JT/T529-2004的相关要求。
二.技术要求
1 塞规外观平整光滑。
2 塞规:a.d=90mm dp=85.50mm。
b.d=70mm dp=66.50mm。
c.d=50mm dp=47.50mm。
d为波纹管直径;dp为波纹管直径的0.95倍;当0.94d≤dp≤0.96d时为合格符合规范要求。
三.校验方法
目测塞规外观是否平整光滑。
用游标卡尺量取塞规的各个部位的数据是否符合技术要求。
四.校验结果评定
使用中的塞规,其各项技术指标必须符合技术要求。
五.校验用仪器
游标卡尺:200mm,精确0.02mm。
六.校验周期
校验周期1年。
七.记录
塞规校验记录。
塞规校验记录。
塞规(塞尺)使用规范
XXXXX有限公司文件编号XX-WI-QC-13
版本A0
类别
塞规(塞尺)使用规范生效日期2019-03-07 工作文件页次Page 1 of 1
1.0目的
建立形成规范的文件,对塞规使用作业规定,以便正确进行规定的检测。
2.0适用范围:
此规范适应于本公司的配件相关检测时使用测试。
3.0作业内容
3.1使用前注意事项:
3.1.1使用塞规用于测量配件时,必须确认塞规的校准有效期,超有效期的不可使用。
3.1.2塞规表面灰尘、杂物等需擦干净后再使用。
3.2量测用途及方法:
3.2.1塞规主要是用于检测配件变形程度。
3.2.2使用前需检查塞规有无变形之不良。
3.2.3将被测配件放置于大理石平台上,用塞规测试配件变形度。
首先依配件要求选择不同规格
的塞片进行组合,平放与大理石上测出间隙大小,如依标准组合塞规片厚度:
1)经测试为通过,表面变形程度大于要求值。
2)经测试为不通过,表面变形程度小于要求值。
3.2.4注意不同规格的塞片面加在一起测试时需紧贴,不可有间隙。
3.3维护保养
3.3.1.日常使用后需打油保养,防止生锈。
3.3.2.注意清洁维护。
4.0 相关文件
4.1 塞尺使用说明书
制定审核批准
日期日期日期。
螺纹塞规校验作业指导书
纹基本尺寸及表1.8-2;《公差配合与技术测量国家标准汇编》P479表4、P487普通螺纹偏
差表。
7、结论:
7.1 对于6.1.1~6.1.4任一项不合格,则该螺纹塞规不合格。
8、校验记录与标识
填写校验仪器检定报告与检定履历表及计量仪器台帐, 制作合格、限用或停用标识卡。限用
时需指明范围与功能,并依检定结果贴附相应标识。
TD2:工件内螺纹的中径公差 ZPL:由通端螺纹塞规中径公差带的中心线到工件内螺纹中径下偏差之间的距离
6.1.6在6.1.5中的计算方法及偏差及应用的符号, 可通过查书《GB中国国家标准分类汇编》P564
页,普通螺纹量规P565表2、P568表3、P573表9;《机械加工工艺手册》P212页, 2普通螺
a'/2为牙形半角读数值; a/2为牙形半角标称值; 6.1.5通止规、外径、中径、小径计算方法:
作业指导书
编号:NO.025
标
自制螺纹塞规校验指导书
题
编号 QAWI15 版本
B
页次
2/2 生效日期
拟制
审核
批准
<1>通端基本尺寸:
外径(公制):D+EI+ZPL
(美制):D+EI
中径:D2+EI+ZPL 小径:D1+EI <2>止端基本尺寸:
测量其小径并读数,计算方法见6.1.5。 6.1.4牙型半角检测:
<1>要求:牙型半角误差在允许误差范围内。
<2>方法:将待校螺纹塞规放置于投影仪的滑块V形槽上,待在投影仪荧屏得到较清晰的像后,
测量其半角并读数a'/2,该读数值与公称牙形半角a/2之差,即为半角测量误差,即
△a/2=a'/2-a/2 式中:△a/2为牙形半角测量误差;
塞规校准作业指导书
B.计算公式:示值误差=校准读数-塞规尺寸-千分尺偏差值.
C.当被校塞规示值误差在精度要求范围内时,判为合格.
D.当被校塞规示值误差超出精度要求范围时,判为不合格.
5.5 标识
A.校准合格品贴"合格"标签,校准不合格贴"停用"标签.
B.合格证上应注明校准日期、有效日期,校准人等.
B.校准千分尺的精度,至少大于被检塞规精度的3倍。
C.校准千分尺包装盒上应注明“检定标准”字样。
5.2检校环境:
A.温度:20± 5℃,校准时,室内温度应稳定,每小时变化不应大于0.5℃。
B.相对湿度:(20~80)%
C.附近无强磁场
5.3检校方法
A.校准前将塞规在校准室内放置1小时,校准室温度应在5.2规定的环境要求内。
C.校准周期为一年,必要时,PQC部课长可根据实际情况而定.
D.新购入的标准塞规,必须经校准合格后方可使用.
6.质量记录:
6.1《塞规校准记录表》
1. 目的:
为确保标准塞规满足规定的使用要求,特制定本塞规检校指南。
2. 范围:
适用于本司用于测量的标准塞规的检校方法。
3. 职责:
PQC技术担当负责(1次/每年)对本司检测用的塞规测量精度进行检校并记录数据。
4. 相关资料
该工具使用操作说明书
5. 校验程序
5.1 标准量具:
A.校准设备采用经国家授权检定部门检定合格的外径千分尺。
B.将校准千分尺安装在千分尺座上,并对零。
C.用清洁的布去塞规表面的防锈油。
D.被校准塞尺应无影响使用性能的外观缺陷(如锈蚀、毛刺、黑斑、划痕等)。
E.用千分尺测量塞规的左、中、右三处位置,每处测量两个方向,取最大偏差值。
塞规环规检定规程修改版
为了对公司所需的各种环规和塞规进行有效地控制和管理,确保监测结果有效,为产品符合要求提供保证,特制定环规塞规检定规程,本规程适用于公司所需的环规和塞规
1、光滑塞规:首先观察塞规的形状,确认其是否有明显的变形或者磨损,若有明显的变形或者磨损立即停止使用,做报废处理;若没有明显的变形或者磨损,用检定合格的带表卡尺或者千分尺测量通端和止端的外径(至少测量4点),其通止端的尺寸范围应该符合表一的规定(其公差要求见表一)
2、螺纹塞规:先检查塞规通端和止端的牙型和表面状态是否完好,如果塞规的通端和止端的牙型和表面有明显的变形或者损伤应该停止使用该检具,重新更换。
如果表面状况良好则用与之相配套的标准检具进行检验,如果塞规合格,则其通端应该能够顺利的完全通过标准检具,而其止端不能完全通过。
否则该塞规即判为不合格,应立即停止使用,做报废处理。
3、螺纹环规:先检查环规的内表面的螺纹沟槽里面是否有油污等杂质,在校准环规前应该先对环规进行清洁处理,以确保内螺纹清晰可见。
检查内螺纹的表面是否完整,有明显磨损,若有则该环规应立即停止使用,做报废处理。
若表面状况良好,则应用与之相配套的标准检具对其进行校准,若环规的通端能够完全通过标准检具,而止端不能够完全通过,则判定该套环规合格,能够使用。
否则该套塞规即判为不合格,应立即停止使用,做报废处理。
4、校准周期:光滑塞规,螺纹塞规和螺纹环规校准周期为6个月
表一:光滑塞规通端止端允差表H8级单位:㎜
相关表单:《检测设备台账》(ZZ/QR-7.6-01)
《检测设备周期检定计划表》(ZZ/QR-7.6-02)
《检测设备周期检定计录表》(ZZ/QR-7.6-03)。
自制塞规校验规程
自制塞规校验规程1.0目的为确保检验﹑测量和试验用的自制塞规能溯源至国家标准,保持其量值的准确可靠,规范内校操作,特制订本内校操作规范。
2.0范围本公司0-100㎜范围的自制塞规均适用。
3.0校验设备千分尺。
大理石平台。
工业酒精。
棉花棒。
棉纱手套、碎布。
使用时必须保证手、机工件的清洁。
所用装置应有CNAS认可的计量机构进行校准合格,每年需校准一次。
并在校准有效期内使用。
4.0环境条件室内温度要求控制在20±5℃,湿度控制在60±15 RH%。
5.0校验方法5.1外观:5.1.1要求:塞规表面应无锈蚀、碰伤或其它缺陷,不得有磁性,使用中及修理后允许有不影响使用准确度的外观缺陷。
5.1.2方法:目视5.2塞规圆度:5.2.1要求:塞规的圆度要求控制在0.005以内。
5.2.2方法:用外径千分尺对塞规的同一截面在相互垂直的两个方向进行检定,大于20mm的在45度四个方向进行检定,最大与最小检定之差的一半即为塞规此截面的圆度。
5.3尺寸误差:5.3.1要求:自制塞规通端基本尺寸应为被检尺寸下限尺寸,公差为+0.005/0mm自制塞规止端基本尺寸应为被检尺寸上限尺寸,公差为0/-0.005mm5.3.2方法:塞规以1级外径千分尺在塞规通端及止端的口部和根部沿不同方向测出的最大值即为检定尺寸。
5.4允收标准5.4.1塞规允收标准:塞规规格允收标准0.01~0.06以下±0.0050.06~0.1以下±0.0060.1~0.35以下±0.0080.35~0.65以下±0.0100.65~3.0以下±0.0155.4.2被校塞规各项要求均符合本指导书中相应项目的要求,则说明该塞规校准合格,否则为校准不合格。
合格的贴上绿色合格标签,不合格的注明不合格项,并贴上蓝色限用标签。
5.4.2计量校准不合格的允许降级处理或限制使用。
5.4.3校准证书及其原始记录资料至少保存3年。
塞尺校验操作规程
塞尺校验操作规程1.0目的藉由对量规仪器的校验、保养与维护,以确保结果的一致性、可靠性,促使本公司之量规仪器能有效的使用,并更好的管理。
2.0范围:适用于本公司所有内校量规仪器。
3.0权责:3.1品保单位:3.1.1校验规范的制定、增订与修正。
3.1.2依校验计划执行校验工作。
3.1.3随时巡检,发现量规仪器未经校验管制或校验过期,及时处理。
3.1.4量规仪器发生异常时,督促相关部门追查检验的质量,必要时反应给客户。
3.1.5标准件的评估与请购,标准件的保养。
3.2使用单位:3.2.1量规仪器之日常保养及维护。
3.2.2量规仪器异常状况的反映。
3.2.3指派仪器负责人,协助仪校室管理本部门仪器。
3.3PTE单位:产线量规仪器异常的处理及量规仪器内部保养的执行。
4.0定义:4.1校验:定期将量规仪器与标准仪器作一比较,如误差不在本厂『检测设备允收水平』范围时,将其加以调整,使其恢复到规定的范围。
4.2内校:量规仪器之校验由仪校室执行。
4.3标准件:追溯至“国家二级标准”以上之量规仪器,并作为厂内量规仪器之校验依据。
4.4追溯:籍由一步一步的往上与较精确的标准比较、校验以建立量测仪器、标准物质或测量的有效校验观念,通常最终会参考于国际或国家基准。
4.5合格:量规仪器经校验,其误差值完全符合本厂『检测设备允收水平』。
4.6不合格:量规仪器经校验,其误差值不符合本厂『检测设备允收水平』。
4.7限定使用:量规仪器经校验,其误差值仅有小部份不符合本厂『检测设备允收水平』,且所量测之项目不占重点,输出讯号或量测值仅供参考,不影响质量制定,不做数据管制者。
5.0塞尺校验方法:5.1校验项目:厚度5.2标准仪器:标准数显卡尺5.3校验步骤:5.3.1校验前确认标准数显卡尺的校验有效期是否过期,若过期则不能作为标准件使用。
5.3.2打开标准数显卡尺的电源,将标准数显卡尺归零,然后将塞尺紧贴于标准数显卡尺的下爪之间,最后记录测量的标准值。
塞规校准规范
塞规示值误差表:单位:MM
厚度
示值误差
0-10
0.003
10-30
0.006
该校准指引对塞规实校验之周期为3个月.
5.2.注意事项:
5.2.1.实施校准工作时应检视校正环境,温度20±3℃,湿度30%~75%下进行.
5.2.2.校正完成贴上校准标签.
6.相关文件:
6.1.「检验、量测与测试设备管制程序」
6.2.「品质记录管理程序」
1.目的:
确保塞规于使用期间能维持其精准度.
2.范围:
公司所有各类型新3.1.送校单位:各塞规使用单位
3.2.校验单位:品保部实验室
4.定义:
无
5.作业内容:
5.1.校正步骤:
5.1.1.确认量具外观有无变形,生锈及其影响量测使用准确度之缺陷.
5.1.2.清除异物,选用分厘卡(0.001)量测塞规各薄片厚度以校正.
螺纹塞规、环规校验规范
合一(惠州)电子科技有限公司
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螺纹塞规、环规校验规范
文பைடு நூலகம்编号
ATI-3-QA3-018
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1、目的:明确校验规范,标准化作业。
2、范围:公司所有螺纹塞规、环规。
3、程序:
3.1校验设备
3.2.1卡尺
3.2.2千分尺
3.2校验项目
3.2.1外观
3.2.2特性尺寸
3.3 校验方法
c.用标准件卡尺、千分尺测量塞规的外径,环规的内径。
d.将测量读数值,减去规格值,即为误差值。
e.测量时,注意卡尺施力大小,并保持标准件测量面与被测量面垂直.。
3.3.2.2 塞规与环规配合测试
检查时,只有当通规能与工作螺纹旋合通过,而止规只与工作螺纹部分旋合,且旋合量不超过两个螺距时,可判定该螺纹合格,除此之外可判定螺纹尺寸不合格。
3.4 注意事项
3.4.1校验环境:常温,常湿。
3.4.2校验周期:1年。
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螺纹塞规、环规校验规范
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A0.
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3.5校验后
3.5.1将标准值减去测量值计算出误差值,并确认误差值是否在允许误差内,并将结果记录于《仪器校验报告内》。
3.3.1外观
校验方法:目测
要求:检具测量面不应有锈蚀、磁性、碰伤、裂纹、毛刺、损坏等缺陷。使用中的检具允许存在不影响使用准确度的缺陷。标记应清晰、明白。
3.3.2特性尺寸校验方法.
3.3.2.1 使用卡尺、千分尺校验.
a.清洁塞规、环规丈量面。
b.取塞规、环规,要戴洁净棉手套,并小心不可掉落地上。
全形塞规治具校正标准
文件制修订记录一、适用范围:本公司使用之全形塞规治具均属之。
二、管理权责:工程部。
三、作业程序:3-1依《量检具仪器校验一览表》上所使用的外校合格,且在有效期内的(精度为0.001mm杠杆千分尺,三等的量块,并找出《量检具仪器设备校验履历表》及要求使用单位提出受检之治具。
3-2备妥清洁用布,适当之润滑油,治工具内校记录表。
3-3依受检之治工具的名称找出相应的校正图面与校正标准,并填妥《治工具内校记录表》上半段的各栏位。
3-4依校正治工具图面与校正标准之校正程序进行测量。
3-4-1治具测量面不应有锈斑、明显划痕。
3-4-2马达齿轮内径塞规的尺寸测量:A:叠加标准量块,使达到治具之止端尺寸,注意量块叠加时须计算其实际尺寸,不可忽略外校之实测值。
B:将杠杆千分尺调整到A之尺寸,用三等校准的量块的相应尺寸校准千分尺之零位,将千分尺固定紧,然后测量A之量块,记下千分尺偏差。
C:将经B校正好的杠杆千分尺测量治具止端尺寸,记下实测值,比对B所得之偏差值后,求出正确的实际值,并填记在(治工具内校记录表)内。
D:依A-C之顺序量测通端尺寸,并填记在(治工具内校记录表)内。
3-4-3圆柱度测量:A.测量时通端在X、Y方向上於A、B、C三个等距离分布截面六个位置进行测量,并记录在(治工具内校记录表)内,止端应与上方法相同,在A、B两处四个位置进行。
B.由测量最大尺寸与最小尺寸之允许范围相比较,若不在允收范围内者视为不合格。
以上三个方面检定结果作判定该塞规治具校正OKORNG。
3-5取得平均值后与(治工具内校记录表)内允收范围相比较,若不要允收范围内者视为不合格。
3-6依检验之结果进行判定后签章呈部门主管核准。
3-7部门主管核准时,对於被判定不合格者,须做出[报废]、[暂停使用]等之决定并签章。
3-8依3-6、3-7之判定后予以标示,标示方法依《检测设备校准作业办法》实施。
3-9校正温度原则为20±3℃之环境,其它相关规定依《检测设备校准作业办法》。
塞规、牙规、环规校对指引
1.目的:加强我司三规的管理,减少因三规误差造成产品不良。
2.适用范围:适用于本公司新购和使用中塞规,牙规,环规(包括环规与螺纹环规)。
3.职责:品质部负责校准,生产部负责使用中环规的校对。
4.环境:温度20±5℃,相对湿度≤80%。
5.程序:5.1 牙规与环规的校对:5.1.1在新购回牙规环规后品质部需核对型号及外观,做好登记后按相对应规格入牙规库备用。
5.1.2生产部门在借用牙规或环规时必须登记包括牙规型号,借用人,借用部门及日期。
5.1.3牙规的校对方法:使用外校合格的千分尺测量牙规带有牙的一端外径,不合格报废处理。
5.1.4环规的校对方法:使用新购买的未发生产使用过的牙规与塞规来校对螺纹环规和环规。
5.1.5牙规的校准周期为 1 年,在超负荷频率使用下会提前出现磨损产生误差,因此在购买新的牙规时,必须同型号多购买一套不投入生产检验中。
借出生产部门牙规如六个月后还需要使用,必须先归还品质部内校员校准合格后方可继续借于生产使用。
5.2 塞规的校对:5.2.1在新购回塞规后品质部需核对型号及外观,做好登记后按相对应规格入塞规库备用。
5.2.2生产部门在借用塞规时必须登记包括塞规型号,借用人,借用部人及日期。
5.2.3如出现塞规在借出后不能当日归还品质部的,需要各使用部门的使用人每日使用前进行校对。
5.2.4校对塞规时,可使用已经过内校员校准合格并在校准日期内的千分尺进行校对。
5.2.5校对时先查看塞规型号,然后均匀测量塞规外径(至少测量两个点的两个相对面)。
并如实填写测量结果,如在标准范围之内方可使用。
如出现测量后结果超差,应急时将不合格塞规交回品质部,并由内校员审核误差,如超差做报废处理。
5.2.6校正通规时,通规的实测值必须大于标准值,校正止规时,止规的实际测量值必须小于标准值6.保养塞規在使用和存放中,必須注意防腐防锈,在使用完以后,需用布擦拭干净,再涂以少量的防锈脂,(例如:白矿油等,防止其表面氧化)存放在干净的胶瓶內,并远离磁场,严禁与一般的金属件堆放在一起.7.标准/表单《公制·美制和英制标准手册》编写/日期:审核/日期:批准/日期:。
塞规的校验和精度管理规定
六、后序动作:
1、将校正完毕的塞规做适当的防锈处理;
2、将适当的标签贴在塞规或其包装上;
3、做好校验报告并请原单位领回被校验检具。
七、精度:
1.塞规:公称尺寸上下以内;
塞尺片厚度/mm
塞尺片厚度允许偏差/um
新制造的
使用中的
+8
-8
>
八.参考资料:《塞尺检定规程》JJG62-1995
核准
审核
制定
塞规的校验和精度管理规定
有限公司
塞规的校验和精度管理办法
编号
02-00-099-1
制定单位
加品
发行日期
2004-1-9
一、目的:使塞规类的量具校验工作有所依循。
二、范围:JK的各种塞规、塞尺均适用之。
三、校验仪器:外径千分尺。
四、准备工具:酒精、白手套、防锈油、脱脂棉。
五、校验步骤:
1、外观:塞Biblioteka 表面应洁净,无明显的划痕;
塞尺校验操作规程
塞尺校验操作规程1.0目的藉由对量规仪器的校验、保养与维护,以确保结果的一致性、可靠性,促使本公司之量规仪器能有效的使用,并更好的管理。
2.0范围:适用于本公司所有内校量规仪器。
3.0权责:3.1品保单位:3.1.1校验规范的制定、增订与修正。
3.1.2依校验计划执行校验工作。
3.1.3随时巡检,发现量规仪器未经校验管制或校验过期,及时处理。
3.1.4量规仪器发生异常时,督促相关部门追查检验的质量,必要时反应给客户。
3.1.5标准件的评估与请购,标准件的保养。
3.2使用单位:3.2.1量规仪器之日常保养及维护。
3.2.2量规仪器异常状况的反映。
3.2.3指派仪器负责人,协助仪校室管理本部门仪器。
3.3PTE单位:产线量规仪器异常的处理及量规仪器内部保养的执行。
4.0定义:4.1校验:定期将量规仪器与标准仪器作一比较,如误差不在本厂『检测设备允收水平』范围时,将其加以调整,使其恢复到规定的范围。
4.2内校:量规仪器之校验由仪校室执行。
4.3标准件:追溯至“国家二级标准”以上之量规仪器,并作为厂内量规仪器之校验依据。
4.4追溯:籍由一步一步的往上与较精确的标准比较、校验以建立量测仪器、标准物质或测量的有效校验观念,通常最终会参考于国际或国家基准。
4.5合格:量规仪器经校验,其误差值完全符合本厂『检测设备允收水平』。
4.6不合格:量规仪器经校验,其误差值不符合本厂『检测设备允收水平』。
4.7限定使用:量规仪器经校验,其误差值仅有小部份不符合本厂『检测设备允收水平』,且所量测之项目不占重点,输出讯号或量测值仅供参考,不影响质量制定,不做数据管制者。
5.0塞尺校验方法:5.1校验项目:厚度5.2标准仪器:标准数显卡尺5.3校验步骤:5.3.1校验前确认标准数显卡尺的校验有效期是否过期,若过期则不能作为标准件使用。
5.3.2打开标准数显卡尺的电源,将标准数显卡尺归零,然后将塞尺紧贴于标准数显卡尺的下爪之间,最后记录测量的标准值。
锥度塞规校验规程
编号:QP-SP09.01-031
版本/版次:C.0
体系文件
锥度塞规校验规程
生效日期:2020.10.09
文件更明
编制人/更改人
C.0
2020.10.09
首次发放。
XXX
文件评审与确认
评审部门
评审人会签
评审意见
日期
编制/日期: 审核/日期: 批准/日期:
4.3 锥度部分长度
4.3.1 用游标卡尺测量锥度部分长度,在范围之内的为合格。
4.4校验完后开具校验报告。
4.5判定合格的在锥度塞规上贴上合格标识。
5 记录
无
XXXX限公司
编号:QP-SP09.01-031
版本/版次:C.0
体系文件
锥度塞规校验规程
生效日期:2020.10.09
1.适用范围
适用于校验锥度塞规。
2. 术语
无
3.规范性引用文件
《机械设计手册第三卷》
4.流程
4.1锥度
4.1.1用三坐标测量仪测量锥角,在范围之内的为合格。
4.2 大小圆直径
4.2.1用游标卡尺测量大小圆直径,在范围之内的为合格。
塞规校验指导书
塞规校验指导书标编号版本题页次生效日期审核批准1. 目的: 确保公司所使用之塞规符合工艺要求, 保证塞规使用精度, 使其误差在允许范围内。
2. 适用范围: 适用于本公司所有外购、自制塞规。
3. 检定标准器: 外径千分尺(外校合格); 相关图纸资料。
4. 检定条件: 温度20?C ±5?C; 相对湿度60%±20%。
5. 标准要求依据: 参考GB1957-81光滑极限量规标准; 根据公司实际情况, 采用IT7公差等级。
6. 检定步骤:6.1 检定前将千分尺测量面清理归零及待检塞规表面清洗干净。
6.2 外观6.2.1 要求: 塞规通、止端作用测量面必须光滑、无锈蚀,碰伤变形凸凹、划伤等影响外观及使用之缺陷。
规格标称字体应清淅无误。
6.2.2 方法: 目视。
6.3 通端外径检测6.3.1 要求: 实测误差值在允许范围内。
(见表1)6.3.2 方法: 用外径千分尺在垂直于轴线的两个截面上成90?两个直径方向(即"+"字位)全量程检测,在前、中、后三点部位检定,取最大示值为实测值。
实测误差值=实测值-标称值6.4 止端外径检测6.4.1 要求: 实测误差值在允许范围内。
(见表1)6.4.2 方法: 用外径千分尺在垂直于轴线的两个截面上成90?两个直径方向(即"+"字位)端头1mm 范围内检定, 取最大示值为实测值。
实测误差值=实测值-标称值7. 结论7.1 若6.2不合格, 则该塞规不合格。
7.2 若6.3不合格, 则该塞规不合格。
7.3 若6.4不合格, 则该塞规不合格。
8. 检定记录与标识8.1 登记计量仪器台帐管理。
(见COP11.1)8.2 建立塞规检定履历卡记录检定结果。
(见附表)8.3 根椐检定结果制作相应标识。
(见COP11.1)8.4 周期检定不合格填写报损单并于计量仪器台帐注销。
(见COP11.1)9.检定周期9.1 规定周期3个月/次。
螺纹塞规内部校准作业指导书[规范]
1. 目的规范螺纹塞规的内校作业,使校验工作有据可依,确保仪器正常运行及校验结果的准确性。
特制定本作业指导书。
2. 概述适用于使用中螺纹塞规的内校作业。
3. 术语4. 操作说明4.1使用标准件:三针、数显千分尺4.2校验环境:温度: 22±2℃;湿度:40%±20%RH;4.3校验周期:每半年1次4.4校验步骤:4.4.1校验前:4.4.1.1确认标准件外校日期是否在有效期范围内;4.4.1.2确认校验环境是否符合要求。
4.4.2外观检查:4.4.2.1螺纹塞规的测量面不应有锈迹、毛刺、黑斑、划伤等明显影响外观和使用质量的缺陷,其它表面不应有锈蚀和裂纹;4.4.2.2螺纹塞规的测头与手柄联结应牢固可靠,在使用过程中不应松动脱落。
螺纹塞规的非工作面上应有螺纹代号和中径公差带代号。
4.4.3 校准方法:4.4.3.1 螺纹塞规中径要求:量规名称 中 径 尺 寸偏差通端螺纹塞规PL Z EI D ++22PLT ±止端 螺纹塞规222PLD T T EI D +++ 2PLT ±4.4.3.2 螺纹塞规中径要求:用三针校准螺纹塞规中径:将三根直径相同的最佳三 针按图1所示放在螺纹牙槽中间,然后测 出M 值,通过换算求出中径2d 。
最佳三针直径的计算公式2cos2αP d =針式中:針d ―最佳三针直径,mm ; P ―公称螺距,mm ;2/α―公称牙型半角,(°)。
备注:螺距为0.25mm 的螺纹塞规选用 ∮0.142mm 的三针螺距为0.30-0.35mm 的螺纹塞规 选用∮0.185mm 的三针4.4.3.3 螺纹塞规中径2d 计算方式[]222sin112ααctg P d M d ++-=針式中:M ―仪器给出的测量值,mm ;針d ―三针直径,mm ;4.5 校验结果判定及记录4.5.1 校验员将校验情况及结果填写在《仪器量具内校报告》上,交工程师以上人员审核; 4.5.2 校验员在校准合格的螺纹塞规上贴合格证,标示塞规编号、校准日期、有效期及内校人员; 4.5.3 校验不合格的塞规由主管工程师根据使用情况评估是否停用或降级使用,校验员在塞规上贴停用证或准用证,并作醒目标识。
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塞规校验规程
1.0目的
为确保检验﹑测量和试验用的计量器具能溯源至国家标准,保持其量值的准确可靠,规范内校操作,特制订本内校操作规范。
2.0范围
本公司范围内使用塞规均适用。
3.0校验设备
千分尺。
大理石平台。
工业酒精。
棉花棒。
棉纱手套、碎布。
使用时必须保证手、机工件的清洁。
所用装置应有CNAS认可的计量机构进行校准合格,每年需校准一次。
并在校准有效期内使用。
4.0环境条件
常温常湿。
温度:(20±5)℃
湿度(30~80)%
5.0校验方法
5.1准备工作:
5.1.1平台清洁,将待校件放置于平台上。
5.1.2用棉花棒沾上工业酒精将塞规擦净。
5.1.3清洁完毕后,将塞规放在平台上放置1.5小时以上,保证塞规、千分尺与校正环境同温。
5.2塞规校正:
5.2.1外观校正:
5.2.1.校正前应先戴纱手套,以碎布擦拭塞规,目视检查塞规外表面有无损坏、生锈等现象。
5.2.2精度校正:
5.2.2.1将塞规测量端置于千分尺的测量面,测量读数。
5.2.2.2用以上方法依此校正每个塞规。
5.2.2.3将测量数据真实记录填写于【检测仪器校正报告书】。
5.3注意事项:
5.3.1校正完成应于塞规适当位置贴上【校正标签】。
5.3.2校正结果如为参考使用或暂使用,应于塞规盒上粘贴标签并通知其使用部门。
5.3.3校正的结果应填写于【检测仪器校正报告书】,交使用单位以利使用者加以补正其误差。
5.3.4送修完成的塞规应再实施校正,确定允收后才可发放使用。
5.4允收标准
5.4.1塞规允收标准:
塞规规格允收标准
0.01~0.06以下±0.005
0.06~0.1以下±0.006
0.1~0.35以下±0.008
0.35~0.65以下±0.010
0.65~3.0以下±0.015
5.4.2被校塞规各项要求均符合本指导书中相应项目的要求,则说明该塞规校准合格,否则为校准不合格。
合格的贴上绿色合格标签,不合格的注明不合格项,并贴上蓝色限用标签。
5.4.2计量校准不合格的允许降级处理或限制使用。
5.4.3校准证书及其原始记录资料至少保存3年。
6.0校准周期
塞规校准周期根据使用情况,一般不超过一年。
新购塞规需经校准验收,合格后方能提供使用。
7.0参考文件
JJG62-2007塞尺检定规程
JJF1071国家计量校准规范编写规则
JJF1001通用计量术语及定义
GBT/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定
8.0记录表格
内校合格证
塞规校验记录表
内校合格证
内校合格证
仪器编号
校准日期
复效日期
校准人
塞规校验记录表
被检器
名称型号规格分度值/
制造厂出厂编号
标准器
名称型号规格仪器编号技术特征证书编号数显千分尺0-25mm 090296685
校准地点校正周期
校准员核验员/ 校正项目
受检点(mm) 校正日期0.05 0.06 0.07 0.08 0.09 0.10 0.15 0.20 0.30 0.30 0.50 0.75 1.00
综合
判定
偏差(um)
温度:℃
湿度:%
外观无生锈、弯曲、变形
温度:℃
湿度:%外观无生锈、弯曲、变形
温度:℃
湿度:%
外观无生锈、弯曲、变形
温度:℃
湿度:%
外观无生锈、弯曲、变形备注:。