集成逻辑门电路逻辑功能的测试

集成逻辑门电路逻辑功能的测试

实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试

一、实验目的

1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。

2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。

二、实验仪器及设备

1、数字逻辑实验箱 1台

2、万用表 1只

3、元器件： 74LS00 74LS04 74LS55 74LS86 各一块导线若干

三、实验内容

1、测试74LS04（六非门）的逻辑功能

将74LS04正确接入面包板，注意识别1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为1脚）重点讲解，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑

Y

电平。得表达式为A

表1-1 74LS04逻辑功能测试表

1A 1Y 2A 2Y 3A 3Y 4A 4Y 5A 5Y 6A 6Y

0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1

1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0

2、测试74LS00（四2输入端与非门）逻辑功能

将74LS00正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为B A Y •= 表1-2 74LS00 逻辑功能测试表

1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 3A 3B 3Y 4A 4B 4Y 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1

1

1

1

1

1

1

1

3、测试74LS55（二路四输入与或非门）逻辑功能

将74LS55正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-3要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，填入表中。（表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据）

表1-3 74LS55部分逻辑功能测试表

A B C D E F G H Y 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0

1

1

1

0 0 0 0 0 1 1 0 1

0 0 0 0 0 1 1 1 1

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0 0 0 1 1 1 1 0

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0 0 1 0 0 0 0 0 1

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1 0 0 0 1 1 1 1 0

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1 1 0 1 0 0 0 1 1

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1 1 1 1 1 1 1 0 0

1 1 1 1 1 1 1 1 0

ABCD ,与实侧值相比较，本器件的逻辑表达式应为：Y=EFGH

功能正确。

4、测试74LS86（四异或门）逻辑功能

将74LS86正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-4要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为Y=A⊕B

表1-4 74LS86逻辑功能测试表

1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 3A 3B 3Y 4A 4B 4Y

0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0

0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1

1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0

四、实验结果分析（回答问题）

若测试74LS55的全部数据，所列测试表应有256种输入取值组合。

用实验箱、万用表作一个实验示范，并强调测试方法及万用表的用法。