组合逻辑电路的分析与测试(网上的)

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

4 & 6 1 5 Ai Bi 1 & 3 2 1 12 & 13 1
4 5
& 2 6 X2 8 Si
y 9 9 & & 8 10 1 10 2 1 & 3 X 2 1 2 12 11 & 11 X 13 2 3 Z 1 & 2 3
Ci-1
3
Ci
Y= X3=
Z= Si=
X1= C i=
X2=
图 8-2-1-3 全加器电路
5
1 G4 4 & 5 2 G7 6
Y 2
12 &
C
11
13
2 G5
图 8-2-1-1 2 片 74LS00 组成的组合逻辑电路 (1) 用 2 片 74LS00 组成图 8-2-1-1 所示逻辑电路,为便于接线 和检查,在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。 (2) 图中 A、B、C 接电平开关,Y1,Y2 接发光管电平显示。 (3) 按表 8-2-1-1 要求,改变 A、B、C 的状态填表并写出 Y1, Y2 逻辑表达式。
A B
1 2 4 5 1 2
=1
3
y
&
3
&
6
Z
图 8-2-1-2 半加器电路 表 8-2-1-2 半加器逻辑功能 A 输入端 B Y 输出端 Z 0 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0 1 0 1 0 1
3. 测试全加器的逻辑功能。 (1) 写出图 8-2-1-3 电路的逻辑表达式。 (2) 根据逻辑表达式列真值表。 (3) 根据真值表画逻辑函数 Si、Ci 的卡诺图。
组合逻辑电路的分析与测试 一、实验目的 1. 掌握组合逻辑电路的功能测试。 2. 验证半加器和全加器的逻辑功能。
二、原理说明 采用中、 小规模集成电路组成的组合逻辑电路是最常见的逻辑电 路。 组合逻辑电路的分析就是找出给定组合逻辑电路输出和输入之 间的逻辑关系,从而确定电路的逻辑功能,其步骤是: (1) 由给定的逻辑电路图写出输出逻辑函数表达式; (2) 由已写出的输出逻辑函数表达式列出真值表; (3) 从输出逻辑函数表达式或真值表概括出电路的逻辑功能。
Y1 = A + A B
Y2 = BC AB
(4) 将运算结果与实验比较。 表 8-2-1-1 逻辑功能测试表
输入 A B C Y1
输出 Y2
0 0 0 1 1 1 1 0
0 0 1 1 1 0 0 1
0 1 1 1 0 0 1 0
0 0 1 1 1 1 1 1
0 1 1 0 0 0 1 1
2. 测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知,半加器 Y 是 A、B 的异或, 而进位 Z 是 A、B 相与,故半加器可用一个集成异或门和二个与 非门组成如图 8-2-1-.2。 (1) 在学习机上用异或门和与门接成以上电路,A、B 接电平开 关 S,Y、Z 接电平显示。 (2) 按表 8-2-1-2 要求改变 A、B 状态,填表。
Bi 、 Ci-1 Ai 0 1 00 0 1 01 1 0 Si= 图 8-2-1-4 全加器和输出卡诺图 11 0 1 10 1 0
Bi 、 Ci-1 Ai 00 01 11 10
0 1
0 0
0 1 Ci=
1 1
0 1
图 8-2-1-5 全加器进位输出卡诺图
4. 测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能。 全加器可以用两个半加器各两个与门一个或门组成在实验中, 常用一块双异或门、一个与或非门和一个与非门实现。 (1) 画出用异或门、与或非门和非门实现全加器的逻辑电路图, 写 出 逻 辑 表 达 式 。
表 8-2-1-4 全加器真值表 Ai Bi Ci-1 Ci Si
0 0 1 1 0 0 1 1 五、实验报告
0 1 0 1 0 1 0 1
0 0 0 0 1 1 1 1
0 0 0 1 0 1 1 1
0 1 1 0 1 0 0 1
1、整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。 2、总结半加器和全加器的功能特点。 3、总结组合逻辑电路的分析方法。
U1A 5 U1B 74LS00D 74LS00D 8 6
U1C 74LS00D 4 3
U2B 7 74LS86D
1 2
U2A 74LS86D
表 8-2-1-.3 全加器各点输出状态 Ai 0 0 0 0 Bi 0 0 1 1 Ci-1 0 1 0 1 Y 0 0 1 1 Z 0 1 0 1 X1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 0 1 1 0 1 0 1 1 1 0 0 0 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 0 0 0 1 1 1 X2 1 1 0 X3 1 0 1 1 Si 0 1 1 0 Ci 0 0 0 1
三、实验设备及器件 74LS00 74LS86 74LS54 二输入端四与非门 二输入端四异或门 四组输入与或非门 3片 1片 1片
四、实验内容 1. 组合逻辑电路功能测试。
A
12 & 13 1 G3 1 & 3 4 & 6 2 1 G1 1 & 2 2 G6 3 11
Y 1
来自百度文库
B
10 & 8 9 1 G2
相关文档
最新文档