[答案][东北大学]2021春《现代材料测试技术》在线平时作业2

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现代材料测试技术试题答案

一、X射线物相分析的基本原理与思路在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析，如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。

这是材料成分的化学分析。

一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。

X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。

X射线物相分析的基本原理是什么呢？每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构，即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。

因此，从布拉格公式和强度公式知道，当X射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。

其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关，相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。

衍射花样有两个用途：一是可以用来测定晶体的结构，这是比较复杂的；二是用来测定物相。

所以，任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相，分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。

X射线物相分析方法有：定性分析——只确定样品的物相是什么？包括单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相的种类还要分析物相的含量。

二、单相定性分析利用X射线进行物相定性分析的一般步骤为:①用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样；②计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I值；③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。

1、标准物质的粉末衍射卡片标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的基础。

为此，人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相，将它们的衍射花样收集起来。

由于底片和衍射图都难以保存，并且由于各人的实验的条件不同（如所使用的X射线波长不同），衍射花样的形态也有所不同，难以进行比较。

因此，通常国际上统一将这些衍射花样经过计算，换算成衍射线的面网间距d值和强度I，制成卡片进行保存。

现代材料测试技术作业.doc

第互号现代材料测试技术材料0902孙伟20090121270第一章X射线衍射分析一、填空题1、X射线从木质上说，和无线电波、可见光、Y射线一样，也是一•种。

2、尽管衍射花样可以干变万化，但是它们的基本要素只有三个：即—、、o3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有一个基本的要求，简单地说，对光源的基本要求是、、。

4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。

5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种，它们分别是、、6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是7、特征X射线产生的根本原因是o8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、和字顺索引。

9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。

1()、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：和11、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为012、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、，其中和应用较为普遍。

13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有x三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。

15、当X射线照射到物体上时，一部分光了由于和原子碰撞而改变了前进的方•向，造成散射线；另一部分光了可能被原了吸收，产生;再有部分光了的能量可能在与原了碰撞过程中传递给了原子，成为。

二、名词解释X・射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电了、质量吸收系数、吸收限、三、问答与计算1、某晶体粉末样品的XRD数据如下，请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检索组。

2、产生特征X射线的根木原因是什么?3、简述特征X.射线谱的特点。

4、推导布拉格公式，画出示意图。

5、回答X射线连续光谱产生的机理。

6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。

7、简述连续X射线谱的特征8.x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9.测角仪的调整要求？10.测角仪的工作原理以及各狭缝作用？11.哈纳瓦特与芬克索引的规则？12.定性物相分析的注意事项？电子显微分析部分（第2、3、4章）一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物质的、和c2、电子显微镜可分为：、等几类。

[东北大学]21春学期《材料科学导论》在线平时作业2答卷

[东北大学]21春学期《材料科学导论》在线平时作业2
试卷总分:100 得分:100
一、单选题 (共 8 道试题,共 40 分)
1.用高炉作为炼铁的方法，迄今也有多年的历史。

A.600
B.800
C.500
D.1000
解析：参看课本303，并分析回答
选项正确的是:D
2.近年来红外技术的飞速发展，涌现出许多新型红外材料和器件。

红外滤光材料要求在光谱的，具有最大的积分透射系数。

此外，光谱透射曲线的前部越陡越好。

A.紫外线区
B.超紫外线区
C.红外区域内
D.可见光区
解析：参看课本303，并分析回答
选项正确的是:C
3.初步研究认为，水热条件下(高温高压)可以促进水解反应，有利于原子、离子的再分配和重结晶等，因此具有很广泛的实用价值。

相据水热反应类型的不同，还可以分为水热氧化、水热沉淀、水热合成、水热还原、水热分解、水热结晶等。

A.加速水溶液中的离子反应
B.加快沉淀速度
C.加快溶液流动
D.以上皆正确
解析：参看课本303，并分析回答
选项正确的是:A
4.几乎所有金属在自然界都是以存在。

只有权少数以金属状态存在。

A.氧化物
B.硫化物
C.其他化合物形式
D.以上所有
解析：参看课本303，并分析回答
选项正确的是:D
5.材料的性质是在元器件或设备实现预期的使用性能而得到利用的。

即材料的使用性能取决于
A.材料的组成。

奥鹏满分作业东北大学《现代材料测试技术》在线平时作业2

《现代材料测试技术》在线平时作业2
当X射线将某物质原子的K层电子打出后,L层电子回迁K层,多余能量将另一
个L层电子打出核外,这整个过程将产生()。

A:特征X射线
B:背反射电子
C:俄歇电子
答案：C
电子枪中控制电子流量和流向的是（）。

A:阴极
B:栅极
C:阳极
答案：B
由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的像差，称为（）。

A:球差
B:像散
C:色差
答案：A
通过透镜中心且与主轴垂直的平面叫做（）。

A:焦平面
B:透镜主平面
C:像平面
答案：B
X射线衍射时滤波的目的是()。

A:避免荧光辐射
B:获得K系单色
C:防止光电效应
答案：B
倒易点阵（D）。

同济大学四平路
A:是晶体的真实点阵
B:是实际晶体点阵经一定转化而得到的抽象点阵
C:中倒易矢量[hkl]*与正空间（hkl）晶面平行
D:中倒易矢量[hkl]*的模等于正空间（hkl）晶面间距的倒数
答案：D
有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Klang=EN-US=0.194nm）照射该晶体能产生（）衍射线。

A:三条
B:四条
C:五条
D:六条。

答案：B
物质对X射线的吸收主要是由引起的。

A:散射
B:热效应
C:光电效应
答案：C
仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（）。

A:背散射电子
B:二次电子。

[东北大学]19春学期《现代材料测试技术》在线作业2(答案)

【奥鹏】[东北大学]19春学期《现代材料测试技术》在线作业2试卷总分:100 得分:100第1题,系统消光规律中同种原子体心晶胞中存在的衍射晶面是（）。

A、(100)B、(203)C、(110)正确答案:第2题,仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（）。

A、背散射电子B、二次电子C、吸收电子D、透射电子正确答案:第3题,对样品进行表面形貌分析时应使用（）。

A、X射线衍射（XRD）B、透射电镜（TEM）C、扫描电镜（SEM）正确答案:第4题,在debye照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是（）。

A、正装B、反装C、不对称正确答案:第5题,把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的（）。

A、景深B、焦深C、球差正确答案:第6题,影响电镜中透镜分辨本领主要是衍射效应和（）。

A、像散B、球差C、色差正确答案:第7题,塑料一级复型的分辨率一般只能达到（）。

A、5nm左右B、10nm左右C、20nm左右正确答案:第8题,电子枪中给电子加速的称为（）。

A、阳极B、阴极C、栅极正确答案:第9题,在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做（）。

A、二次电子B、背散射电子C、俄歇电子正确答案:第10题,吸收因子A（θ）越大，则X射线衍射累积强度( )。

A、越大B、越小C、不影响正确答案:第11题,X射线是一种电磁波，产生X射线的核心部件是X射线管。

A、错误B、正确正确答案:第12题,扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。

A、错误B、正确正确答案:第13题,透射电镜图像的衬度与样品成分无关。

A、错误B、正确正确答案:第14题,X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。

A、错误B、正确正确答案:第15题,扫描电镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。

A、错误B、正确正确答案:第16题,透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。

现代材料测试技术试题答案

一、X射线物相分析基础原理与思绪在对材料分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成份分析, 如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。

这是材料成份化学分析。

一个物相是由化学成份和晶体结构两部分所决定。

X射线分析正是基于材料晶体结构来测定物相。

X射线物相分析基础原理是什么呢？每一个结晶物质都有自己独特晶体结构, 即特定点阵类型、晶胞大小、原子数目和原子在晶胞中排列等。

所以, 从布拉格公式和强度公式知道, 当X射线经过晶体时, 每一个结晶物质都有自己独特衍射花样, 它们特征能够用各个反射晶面晶面间距值d和反射线强度来表征。

其中晶面网间距值d与晶胞形状和大小相关, 相对强度I则与质点种类及其在晶胞中位置相关。

衍射花样有两个用途:一是能够用来测定晶体结构, 这是比较复杂;二是用来测定物相。

所以, 任何一个结晶物质衍射数据d和I是其晶体结构肯定反应, 所以能够依据它们来判别结晶物质物相,分析思绪将样品衍射花样与已知标准物质衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。

X射线物相分析方法有:定性分析——只确定样品物相是什么？包含单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相种类还要分析物相含量。

二、单相定性分析利用X射线进行物相定性分析通常步骤为:①用某一个试验方法取得待测试样衍射花样;②计算并列出衍射花样中各衍射线d值和对应相对强度I值;③参考对比已知资料判定出试样物相。

1、标准物质粉末衍射卡片标准物质X射线衍射数据是X射线物相判定基础。

为此, 大家将世界上成千上万种结晶物质进行衍射或摄影, 将它们衍射花样搜集起来。

因为底片和衍射图都难以保留, 而且因为各人试验条件不一样（如所使用X射线波长不一样）, 衍射花样形态也有所不一样, 难以进行比较。

所以, 通常国际上统一将这些衍射花样经过计算, 换算成衍射线面网间距d值和强度I, 制成卡片进行保留。

奥鹏东北大学 21春学期《测试技术基础》在线平时作业1.doc

1.记录磁带慢录快放，放演信号的频谱带宽（）A.变窄，幅值压低B.扩展，幅值压低C.变窄，幅值增高D.扩展，幅值增高【参考答案】: B2.下面对线性系统的输入、输出间关系表述正确的是A.AB.BC.CD.D【参考答案】: B3.有一测力电桥A.AB.BC.CD.D【参考答案】: A4.endA.AB.BC.CD.D【参考答案】: A5.满足不真测试条件的测试系统，其幅频特性和相频特性为（）A.AB.BC.CD.D【参考答案】: C6.按照奈奎斯特采样定理，采样频率至少为（）（A）有用的最高频率的一半(B)有用的最高频率的两倍(C)与有用的最高频率相同(D)有用的最高频率的3倍A.AB.BC.CD.D 【参考答案】: B7.两个信号叠加:A.AB.BC.CD.D 【参考答案】: C8.频域信号与相应的时域信号A.AB.BC.CD.D 【参考答案】: D9.不失真的幅频相频特性A.AB.BC.CD.D 【参考答案】: C10.选择题:由两个时间具有少量频率差的波形引起的拍频等于（）（A）两个频率的平均（B）两个频率的和（c）两个频率的差（D）两个频率之比A.AB.BC.CD.D【参考答案】: C11.概率分布函数是概率密度函数的导数。

A.错误B.正确【参考答案】: A12.对于磁电感应式扭矩测量，当转轴受扭矩时，两线圈输出信号相位差不为零，且随两齿轮所在横截面之间相对扭转角的增加而加大，其大小与相对扭转角、扭矩成正比。

（）A.错误B.正确【参考答案】: B13.周期信号与随机信号的互相关函数为1。

（）A.错误B.正确【参考答案】: A14.判断题电涡流式位移传感器是一种非接触式测振传感器，但被测件的表面粗糙度对测量影响很大。

A.错误B.正确【参考答案】: A15.直流电桥的平衡条件为（）A.错误B.正确【参考答案】: B16.判断题 3 互相关函数为实偶函数，即（）A.错误B.正确【参考答案】: A17.记录长时间慢变化信号可以选用光线示波器。

东北大学2021年9月《现代材料测试技术》作业考核试题及答案参考6

东北大学2021年9月《现代材料测试技术》作业考核试题及答案参考1. 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。

( )A.正确B.错误参考答案：B2. 白口铸铁在高温时可以进行锻造加工。

( )白口铸铁在高温时可以进行锻造加工。

( )错误3. 标准拉伸比例试样的比例系数K值为5．56时，标距长度为直径的( )倍。

A．10B．20C．5D．6标准拉伸比例试样的比例系数K值为5．56时，标距长度为直径的( )倍。

A．10B．20C．5D．6正确答案：C4. 球墨铸铁可通过调质处理和等温淬火工艺提高其力学性能。

( )球墨铸铁可通过调质处理和等温淬火工艺提高其力学性能。

( )正确5. 体心立方点阵的系统消光规律是当H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。

( )A.正确B.错误参考答案：B6. 合金是由两种或两种以上元素所组成的具有____的材料。

合金是由两种或两种以上元素所组成的具有____的材料。

正确答案：金属特性金属特性7. 过共析钢正火的目的是( )。

A．调整硬度，改善切削加工性 B．细化晶粒，为淬火作组织准备 C．消除网状二次渗碳过共析钢正火的目的是( )。

A．调整硬度，改善切削加工性B．细化晶粒，为淬火作组织准备C．消除网状二次渗碳体D．防止淬火变形与开裂C8. 沥青混合料中掺加的矿粉应是酸性的为好。

( )沥青混合料中掺加的矿粉应是酸性的为好。

( )错误9. 吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子( )。

A.越多B.越少C.不变参考答案：A10. 45钢是( )钢，从含碳量来看是属于中碳钢。

A．合金结构B．优质碳素结构C．碳素工具D．碳素结构45钢是( )钢，从含碳量来看是属于中碳钢。

A．合金结构B．优质碳素结构C．碳素工具D．碳素结构正确答案：B11. 陶瓷一般是不导电的绝缘体，其原因是( )。

A．原子排列不规则 B．原子排列不致密，空隙多 C．原子结合键是离陶瓷一般是不导电的绝缘体，其原因是( )。

东大21秋《现代材料测试技术》在线平时作业3-(辅导资料)-答案

《现代材料测试技术》在线平时作业3
试卷总分:100 得分:100
一、单选题 (共 10 道试题,共 50 分)
1.X射线连续谱中存在一个短波极限，其波长入＝（）。

【A】.1.24/V(千伏) nm
【B】.12.4/V(千伏) nm
【C】.12.4/V伏 nm
【正确选择答-案】：A
2.吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子（）。

【A】.越多
【B】.越少
【C】.不变
【正确选择答-案】：A
3.能谱仪的分辨率比波谱仪（）。

【A】.高
【B】.低
【C】.相同
【正确选择答-案】：B
4.把透镜像平面允许的轴向偏差定义为（）。

【A】.球差
【B】.景深
【C】.焦深
【正确选择答-案】：B
5.产生俄歇电子深度范围为表层以下（）。

【A】.10nm左右
【B】.2nm左右
【C】.1nm左右
【正确选择答-案】：C
6.系统消光规律中同种原子体心晶胞中存在的衍射晶面是（）。

【A】.(100)
【B】.(203)
【C】.(110)
【正确选择答-案】：C
7.入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做（）。

【A】.衍射衬度
【B】.消光距离
【C】.偏离矢量。

东北大学2021年9月《现代材料测试技术》作业考核试题及答案参考4

东北大学2021年9月《现代材料测试技术》作业考核试题及答案参考1. 下列铁碳合金基本组织中与纯铁的性能相似的是( )。

A．Fe3CB．PC．LdD．F 下列铁碳合金基本组织中与纯铁的性能相似的是( )。

A．Fe3CB．PC．LdD．F正确答案：C2. 在缓慢冷却条件下，ωC=0.77%的钢比ωC=0.45%的钢塑性______，强度______。

在缓慢冷却条件下，ωC=0.77%的钢比ωC=0.45%的钢塑性______，强度______。

差$高3. 试说明离子交换树脂在水的净化和海水淡化方面的应用。

试说明离子交换树脂在水的净化和海水淡化方面的应用。

离子交换树脂可以净化水和使海水淡化，因为当水或溶液通过阳离子交换树脂后，水中的阳离子Na+、Ca2+、Mg2+等进入树脂中，树脂上的H+进入水中或溶液中，因而，水中的阳离子只剩下H+；而后再将水通过阴离子交换树脂，水中的阴离子Cl-、、等进入树脂中，树脂上的-OH进入水中或溶液中，因而水中的阴离子只剩下OH-从而使水净化，海水淡化。

用离子交换树脂处理过的水称为去离子水，它在工业、实验室和锅炉用水中得到广泛应用。

用离子交换树脂处理水比用蒸馏方法效率高，设备简单，节约电能。

4. 试用经典形核理论计算在固态相变中，由n个原子构成立方体晶核时，新相的形状系数η。

试用经典形核理论计算在固态相变中，由n个原子构成立方体晶核时，新相的形状系数η。

按经典形核理论，固态相变时，系统的自由能变化为：△G=n△GV+Sγ+nEs式中△GV——新旧两相每个原子的自由能差；S——晶核表面面积；γ——平均界面能；Es——晶核中每个原子的应变能；n——晶核中的原子数。

假设新相的密度为ρ，相对原子质量为Ar，则每克原子新相物质所占容积为Ar/10；每个新相原子所占的容积为Ar/(ρN0)；n个原子的晶核体积为nAr/(ρN0)。

若构成立方体晶核，其边长为[nAr/(ρN0)]1/3，晶核表面积为6[nAr/(ρN0)]2/3。

东大春学期现代材料测试技术在线作业模板

(单选题) 1: 在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做( ) 。

A: 二次电子B: 背散射电子C: 俄歇电子正确答案:(单选题) 2: 吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小, 吸收电子( ) 。

A: 越多B: 越少C: 不变正确答案:(单选题) 3: 当X射线将某物质原子的K层电子打出后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生( )。

A: 特征X射线B: 背反射电子C: 俄歇电子正确答案:(单选题) 4: 吸收因子A( θ) 越大, 则X射线衍射累积强度( )。

A: 越大B: 越小C: 不影响正确答案:(单选题) 5: 色差是一种( ) 。

A: 球差B: 像差C: 像散正确答案:(单选题) 6: 对样品进行表面形貌分析时应使用( ) 。

A: X射线衍射( XRD)B: 透射电镜( TEM)C: 扫描电镜( SEM)正确答案:(单选题) 7: 把透镜像平面允许的轴向偏差定义为( ) 。

A: 球差B: 景深C: 焦深正确答案:(单选题) 8: 倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的( ) 。

A: 一个点B: 一个晶面C: 一组晶面。

正确答案:(单选题) 9: 透射电镜的两种主要功能是检测( ) 。

A: 表面形貌和晶体结构B: 内部组织和晶体结构C: 表面形貌和内部组织正确答案:(单选题) 10: 产生俄歇电子深度范围为表层以下( ) 。

A: 10nm左右B: 2nm左右C: 1nm左右正确答案:(判断题) 1: 体心立方点阵的系统消光规律是当H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。

A: 错误B: 正确正确答案:(判断题) 2: 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。

A: 错误B: 正确正确答案:(判断题) 3: X射线物相定性分析能够告诉我们被测材料中有哪些物相, 而定量分析能够告诉我们这些物相的含量。

A: 错误B: 正确正确答案:(判断题) 4: 原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。

现代材料测试技术试卷试题二

东北大学继续教育学院《现代材料测试技术》试卷本科A一．填空题（每空1分，共28分）1.显微镜的主要组成部分有（）（）（）（）。

2.测量显微镜的实际放大倍数一般用（）。

3. 显微硬度计主要由（）（）（）（）等四部分组成。

4.电子数与样品作用产生很多有用信号，现在被用于电子显微分析的主要是（）（）（）（）（）。

其中用于扫描电镜的是（）（）。

5.晶体有一个重要的特性叫作“色散率”，即某一晶体分开（）的能力。

6. 材料性能主要决定于其（）、（）、（）。

7. 透射电子显微镜的结构分为（）、（）和（）。

8. 入射Ｘ射线束被试样散射，结果发生两个过程（）和（）。

9. 在大部分商品型WDX光谱仪上使用的探测器可以分为两类：（）、（）。

10.PET是对（）最敏感的一种晶体。

二．判断题（10分，一题1分）1. X射线表现为波动性。

( )2. X射线的波长范围为100A～200A。

( )3. 玻璃珠熔融时试样中不得含有金属和碳化硅等。

( )4. 将分光系统抽成真空的目的是减少空气对荧光X射线的吸收。

( )5. 对新的X射线管或使用后放置了一段时间后的X光管需进行老化试验，以免X 射线管损坏。

( )6. 基于不同元素特征波长不同的衍射角而加以检定的叫能谱仪。

( )7. 分析硫时用的探测器是闪烁计数器。

( )8. 正比计数管中CH4作用是计数。

( )9. X射线的波长越短，其能量越小。

( )10. 根据布拉格公式，短波长的高次线会同长波长的一次线重叠。

故要用波高分析器除去此短波长高次线。

( )三．选择题（10分）1.X荧光分析用检测器有。

A.半导体探测器B.盖格计数管C.光电倍增管D.闪烁计数管、流气正比计数管2.通过选择，使干扰脉冲与分析谱线脉冲分离。

A.晶体角度B.入射狭缝调节C.基线道宽D.出射狭缝调节3.由于X射线管子等原因，故不宜多储备。

A.老化B.氧化C.潮解D.漏气4.X 射线的特征谱线来自原子的跃迁。

A.内层电子B.中子C.电荷D.外层电子5.二次X射线是以为激发源而激发产生的。

东北大学智慧树知到“冶金工程”《现代材料测试技术》网课测试题答案卷3

东北大学智慧树知到“冶金工程”《现代材料测试技术》网课测试题答案（图片大小可自由调整）第1卷一.综合考核(共10题)1.物质对X射线的吸收主要是由()引起的。

A.散射B.热效应C.光电效应2.原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。

()A.正确B.错误3.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。

()A.错误B.正确4.扫描电镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。

()A.错误B.正确5.倒易点阵()。

A.是晶体的真实点阵B.是实际晶体点阵经一定转化而得到的抽象点阵C.中倒易矢量[hkl]*与正空间(hkl)晶面平行D.中倒易矢量[hkl]*的模等于正空间(hkl)晶面间距的倒数6.扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。

()A.错误B.正确7.随X射线管的电压升高，0和k都随之减小。

() A.错误B.正确8.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是()。

A.背散射电子B.二次电子C.吸收电子D.透射电子9.在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

()A.错误B.正确10.吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子()。

A.越多B.越少C.不变第1卷参考答案一.综合考核1.参考答案：C2.参考答案：A3.参考答案：B4.参考答案：A5.参考答案：D6.参考答案：B7.参考答案：B8.参考答案：B9.参考答案：B10.参考答案：A。

东大-21春学期《现代设计方法》在线平时作业2-答案资料

[东北大学]21春学期《现代设计方法》在线平时作业2
提示：本套试卷是课程辅导学习资料，仅做课程学习参考使用！！
一、单选题 (共 10 道试题,共 40 分)
1.机械产品的施工设计阶段，应完成如下主要工作（）。

[A.]产品的市场需求分析
[B.]产品设计的可靠性报告
[C.]产品的功能原理设计
[D.]产品的结构方案设计
E.产品的装配草图绘制
F.产品的零件图和其他技术文件
[提问：对上述试题分析作答，并选择您认为正确的进行选择]
参考答案:F
2.欲对实心结构进行有限元分析，可选用如下哪种单元？
[A.]平面单元
[B.]多面体单元
[C.]薄板单元
[提问：对上述试题分析作答，并选择您认为正确的进行选择]
参考答案:B
3.梯度法的基本迭代公式是下面的哪一个？（）
[A.]{图}
[B.]{图}
[C.]{图}
[D.]{图}
[提问：对上述试题分析作答，并选择您认为正确的进行选择]
参考答案:A
4.创造者回到“创造原点”进行创新思考的一种创造模式是（）。

[A.]综合创造原理
[B.]分离创造原理
[C.]移植创造原理
[D.]物场分析原理
E.还原创造原理
F.价值优化原理
[提问：对上述试题分析作答，并选择您认为正确的进行选择]
参考答案:E
5.（）要遵循自由思考原则、延迟评判原则、以量求质原则、综合改善原则。

[A.]智力激励法
[B.]书面集智法
[C.]函询集智法
[提问：对上述试题分析作答，并选择您认为正确的进行选择]。

[答案][东北大学]2021春《现代材料测试技术》在线平时作业3

1.在透射电镜中称为衬度光阑的是()。

[答案：B]A.聚光镜光阑B.物镜光阑C.选区光阑2.透射电镜的两种主要功能是检测()。

[答案：B]A.表面形貌和晶体结构B.内部组织和晶体结构C.表面形貌和内部组织3.在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做()。

[答案：A]A.二次电子B.背散射电子C.俄歇电子4.在debye照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是()。

[答案：C]A.正装B.反装C.不对称5.样品微区成分分析手段包括() 。

[答案：B]A.WDS、EDS和XRDB.WDS、EDS和EPMAC.TEM、WDS和XRD6.把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的()。

[答案：A]B.焦深C.球差7.倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的()。

[答案：C]A.一个点B.一个晶面C.一组晶面8.俄歇电子能谱仪的主要功能是()。

[答案：C]A.测表面成分和晶体结构B.测内部化学成分和组织C.测表面化学成分9.把透镜像平面允许的轴向偏差定义为()。

[答案：B]A.球差B.景深C.焦深10.据Ewald图解可知，满足衍射条件的晶面倒易点阵，必落在半径为()的反射球面上。

[答案：A]A.1/入B.2/入C.1/2入11.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。

()[答案：B]B.错误12.透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作; 而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。

()[答案：A]A.正确B.错误13.面心点阵的系统消光规律是H+k+L为偶数时出现反射，而H+K+L为奇数不出现反射。

()[答案：B]A.正确B.错误14.在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

()[答案：A]A.正确B.错误15.体心立方点阵的系统消光规律是当H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。

()[答案：B]A.正确B.错误16.背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。

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