蔡司偏光显微镜技术指标

蔡司偏光显微镜技术指标
Axio Scope. A 1 A Pol
1、基本要求
（1）研究级正立式，高稳定度多功能集成式。

（2）采用第二代国际最先进标准的IC2S无限远轴向和横向（即CF）双重色差校正及反差增强的光学系统，从而提高分辨率，彻底消除杂散光等干扰因素。

并使用国际标准齐焦距离45mm。

（3）总放大倍数为50x-1000x。

（4）采用光陷阱技术，防止眩光，提高成像质量。

*（5）反射光万能全消色差照明器具有不小于6位的功能转换器并带有位置编码，具有明场、单偏光、正交偏光（其中检偏器可旋转360°）观察功能和预留功能位置。

透射光照明器具有明场、单偏光、正交偏光（其中检偏器可旋转360°）观察功能和预留功能位置。

功能转换方便，增减功能操作简捷。

（6）记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式。

（7）必须是原装正品，原产地制造，非组装品。

部件和罩壳为全金属（光学部件及灯箱除外），无塑料件。

（8）中文版图象分析，通用软件功能强大，专用软件测量准确、精度高。

操作简便、快捷。

2、镜头
（1）目镜：高眼点，带视度补偿的宽场目镜，每个目镜均可单独进行屈光度调整并配置预装十字线10/100测微尺。

30°倾角的双目观察镜筒为铰链式，眼点高低可调。

眼距调整范围50~75mm，调眼距时，保证目镜齐焦50mm。

10x目镜要求其视场数不小于23。

（2）物镜：使用低折射率低色散天然萤石材料及特殊镀膜技术，精湛的手工研磨工艺。

镀膜防霉，不用药剂的防霉。

必须是N或EC物镜，即在传统平场半复消色物镜的基础上进一步校正色差和应变最小化，增强短波长的透过率，并增强反差。

是同时用于明场、偏光等的高反差、高衬度、高分辨率的高性能多功能研究级无应力偏光物镜。

即物镜的数值孔径具体要求如下。

5x数值孔径（NA）≥0.13。

（透反两用）
10x数值孔径（NA）≥0.25。

（透反两用）
20x数值孔径（NA）≥0.45。

（透反两用）
50x数值孔径（NA）≥0.70。

（透反两用）
100x数值孔径（NA）≥0.85。

（透反两用）
同时必须是DS物镜，基于IC2S无限远轴向和横向（即CF）双重色差校正及反差增强光学系统的高质量研究级分散染色物镜。

CF设计，物镜独立的色差校正技术。

10x DS 数值孔径（NA）≥0.25。

20x DS 数值孔径（NA）≥0.45。

（3）聚光镜及勃特兰透镜：研究级消色差消球差偏光专用万能聚光镜0.9 H Pol及高精度勃特兰透镜。

3、测量附件
旋转360°的测量检偏器，精度0.1°，观测岩石矿物材料双折射性及各向异性颜色的变化。

4、载物台及换镜转换器
*（1）机械载物台：可旋转360°，旋转调节精度小于0.1°，方便装卸。

可微调可拆卸样品夹具并定位的偏光移动尺，可进行45°定位设定。

移动范围28x48mm。

采用无调整机
构的自动锁定防止下滑谐波齿轮机构，长时间使用防止下滑。

旋转不会咬死，试旋转对中精度高。

其直径不小于φ190mm。

试样高度不小于40mm。

*（2）物镜转换器：不小于6孔偏光物镜转换器含位置编码，对中精度高，增加标准放大倍数空间。

（3）“稳定单元”（由物镜转盘、载物台、调焦装置组成的系统）：提高稳定性，防止外界振动和温度的干扰。

5、记录装置
原装与显微镜同一厂家制造的工业级彩色高分辨率数码摄像头，冷CCD，1394 接口，不小于500万物理象素，非数差值微位移，位图深度36位真彩色的高清晰、高分辨率。

靶面尺寸不小于2/3英寸，单个像素点不小于3.4x3.4μm，信噪比不小于1300:1，带有半导体制冷功能。

实时采集、同步捕捉动态图象，提供高清晰度、高分辨率、高质量的图象。

含中英文界面图象采集软件。

6、光源
最新设计完全满足柯拉照明的全消色差反射光路，大大提高图像质量。

消除照明色差，调节光强功能。

透反射光均使用长寿命高亮度卤素灯12V100W及反光碗的双光源系统，带调光装置和显示。

增强光的色还原性，提高分辨率。

同时不但光效高而且均匀。

可升级高亮度荧光照明装置HBO 100。

7、滤色片等附件
安装滤色片系统，配置日光矫正、隔热滤片；目镜十字线测微尺10/100和台尺1/100mm 用于长度等的测量及定标；测量补偿器λ、λ1/4板。

8、图象分析
（1）DELL商用台式机（不低于酷睿I5/500G/4G/DVDRW/22’’LCD显示器）、HP彩色照片打印机（不低于A4/4800x1200dpi）、折射率匹配液、石棉标样。

（2）软件：中文版图像分析，软件部分含通用图象处理及专用分析软件。

通用图像处理软件：具有多种方式的图像获取、安全可靠数据管理、多种图像处理方式、图像分割及处理、几何参数测量、加载标尺、特征物提取、图像拼接、图象标注、定倍打印、各种处理操作、模块化检测报告等功能。

专用分析软件：第二相面积含量测量、多相面积含量测量、颗粒度分析。