材料分析测试技术作业

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【可编辑全文】湖南大学材料分析测试技术试卷答案

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可编辑修改精选全文完整版湖南大学课程考试试卷课程名称: ;试卷编号:;考试时间:120分钟 一、填空题(每空1分,共20分) 1.X 射线的本质是一种 电磁辐射,同时具有 波动 性和 粒子 性的特征。

2.连续X 射线的短波限取决于 管电压 。

3.晶体点阵中的一个二维阵点平面在倒易点阵中表示为 一个倒易阵点 。

4.X 射线衍射仪测定宏观应力是根据它使衍射峰 发生位移 的原理进行的。

5.劳厄法是采用 连续 X 射线照射 单晶 体。

6.透射电镜中的电磁透镜从电子枪到荧光屏的排列顺序为: 聚光 镜、物 镜、 中间 镜和 投影 镜。

7.内应力包括: 宏观应力 , 微观应力 , 超微观应力 。

8.粉末法中影响X 射线强度的因子有 , , , , 。

二、选择题(单选,每题2分,共40分) 1.布拉格方程是晶体对X 射线衍射的 。

………………( B ) A .充分条件 B. 必要条件 C. 充要条件 D. A 、B 、C 都不对 2.X 射线测定宏观应力计算公式为 =KM ,其中K 为应力常数,它与 有关。

……………………………………………………………………(A)A.试样的力学性能 B. 入射X射线波长C. 所选择的反射晶面D. A、B、C三种因素3.测量Fe基材料最好选作阳极靶。

………………………(C)A.Cu B. Mo C. Co D. Ni4.闪烁计数器是根据X射线的的特性而设计的。

…………(C)A.具有穿透性 B. 能使气体电离C. 使荧光物质发光D. 使照相底片感光5.由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差,称为。

…………………………………(A)A.球差 B. 畸变 C. 色差 D. 象散6.电子束与固体样品相互作用会产生各种信号,下列信号中能量最小的是。

…………………………………………………………(A)A.俄歇电子 B. 二次电子 C. 背散射电子 D. 吸收电子7.质厚衬度与下列无关。

材料科学:材料分析测试技术测考试题.doc

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材料科学:材料分析测试技术测考试题 考试时间:120分钟 考试总分:100分遵守考场纪律,维护知识尊严,杜绝违纪行为,确保考试结果公正。

1、名词解释 溅射 本题答案: 2、问答题 衍射线在空间的方位取决于什么?而衍射线的强度又取决于什么? 本题答案: 3、单项选择题 透射电镜中电中间镜的作用是( )A 、电子源 B 、会聚电子束 C 、形成第一副高分辨率电子显微图像 D 、进一步放大物镜像 本题答案: 4、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态,同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系,如何制备样品?以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析? 本题答案: 5、单项选择题 样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是( )A 、1﹕1 B 、2﹕1 C 、1﹕2 D 、没有确定比例姓名:________________ 班级:________________ 学号:________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------本题答案:6、名词解释质厚衬度本题答案:7、名词解释伸缩振动本题答案:8、单项选择题菊池线可以帮助()。

A.估计样品的厚度;B.确定180不唯一性;C.鉴别有序固溶体;D.精确测定晶体取向。

本题答案:9、问答题什么是消光距离?影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么?本题答案:10、问答题制备复型的材料应具备什么条件?本题答案:11、名词解释Hanawalt索引本题答案:12、问答题简述X射线产生的基本条件。

本题答案:13、单项选择题波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点是()。

A.快速高效;B.精度高;C.没有机械传动部件;D.价格便宜。

本题答案:14、问答题如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程?本题答案:15、单项选择题当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限0;B.激发限k;C.吸收限;D.特征X射线本题答案:16、单项选择题晶体属于立方晶系,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为()A、(364)B、(234)C、(213)D、(468)本题答案:17、单项选择题透射电镜成形貌像时是将()A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜本题答案:18、问答题试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高的原因。

材料分析测试技术试题及答案

材料分析测试技术试题及答案

材料分析测试技术试题及答案材料分析测试技术试题及答案(一)1、施工时所用的混凝土空心砌块的产品龄期不应小于( D)。

A、14dB、7dC、35dD、28d2、高强度大六角头螺栓连接副和扭剪型高强度螺栓连接副出厂时应分别随箱带有( C )和紧固轴力(预拉力)的检验报告。

A、抗拉强度B、抗剪强度C、扭矩系数D、承载力量3、勘察、设计、施工、监理等单位应将本单位形成的工程文件立卷后向( A )移交。

A、建立单位B、施工单位C、监理单位D、设计单位4、城建档案治理机构应对工程文件的立卷归档工作进展监视、检查、指导。

在工程竣工验收前,应对工程档案进展( C ),验收合格后,须出具工程档案认可文件。

A、检查B、验收C、预验收D、指导5、既有文字材料又有图纸的案卷( A )。

A、文字材料排前,图纸排后B、图纸排前,文字材料排后C、文字材料、图纸按时间挨次排列D、文字材料,图纸材料交叉排列6、建筑与构造工程包括那几个分部( B )。

A、地基与根底、主体、装饰装修、屋面、节能分部B、地基与根底、主体、装饰装修、屋面分部C、地基与根底、主体、装饰装修分部D、地基与根底、主体分部7、在原材料肯定的状况下,打算混凝土强度的最主要因素是( B )。

A、水泥用量B、水灰比C、水含量D、砂率8、数据加密技术从技术上的实现分为在( A )两方面。

A、软件和硬件B、软盘和硬盘C、数据和数字D、技术和治理9、混凝土同条件试件养护:构造部位由监理和施工各方共同选定,同一强度等级不宜少于10组,且不应少于( A )组。

A、3B、10C、14D、2010、不属于统计分析特点的是( D )。

A、数据性B、目的性C、时效性D、准时性11、施工资料治理应建立岗位责任制,进展( C )。

A、全面治理B、全方位掌握C、过程掌握D、全范围掌握12、目前工程文件、资料用得最多的载体形式有( A )。

A、纸质载体B、磁性载体C、光盘载体D、缩微品载体13、施工资料应当根据先后挨次分类,对同一类型的资料应根据其( A )进展排序。

《材料分析测试方法A》作业

《材料分析测试方法A》作业

材料物理专业2013级《材料分析测试方法A 》作业第一章 电磁辐射与材料结构一、教材习题1-1 计算下列电磁辐射的有关参数:(1)波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长(μm );(2)5m 波长射频辐射的频率(MHz );(3)588.995nm 钠线相应的光子能量(eV )。

1-3 某原子的一个光谱项为45F J ,试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。

1-5 下列原子核中,哪些核没有自旋角动量?12C 6、19F 9、31P 15、16O 8、1H 1、14N 7。

1-8 分别在简单立方晶胞和面心立方晶胞中标明(001)、(002)和(003)面,并据此回答:干涉指数表示的晶面上是否一定有原子分布?为什么?1-9 已知某点阵∣a ∣=3Å,∣b ∣=2Å,γ = 60︒,c ∥a ×b ,试用图解法求r *110与r *210。

1-10 下列哪些晶面属于]111[晶带?)331(),011(),101(),211(),231(),132(),111(。

二、补充习题1、试求加速电压为1、10、100kV 时,电子的波长各是多少?考虑相对论修正后又各是多少?第二章 电磁辐射与材料的相互作用一、教材习题2-2 下列各光子能量(eV )各在何种电磁波谱域内?各与何种跃迁所需能量相适应?1.2×106~1.2×102、6.2~1.7、0.5~0.02、2×10-2~4×10-7。

2-3 下列哪种跃迁不能产生?31S 0—31P 1、31S 0—31D 2、33P 2—33D 3、43S 1—43P 1。

2-5 分子能级跃迁有哪些类型?紫外、可见光谱与红外光谱相比,各有何特点?2-6 以Mg K α(λ=9.89Å)辐射为激发源,由谱仪(功函数4eV )测得某元素(固体样品)X 射线光电子动能为981.5eV ,求此元素的电子结合能。

材料分析测试技术试题及答案

材料分析测试技术试题及答案

材料分析测试技术试题及答案金材02级《材料分析测试技术》课程试卷答案一、选择题:(8分/每题1分)1.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生光电子和俄歇电子,答案为A+C。

2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生四条衍射线,答案为B。

3.最常用的X射线衍射方法是粉末多晶法,答案为B。

4.测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是直接比较法,答案为C。

5.可以提高TEM的衬度的光栏是物镜光栏,答案为B。

6.如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是六方结构或立方结构,答案为A或B。

7.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这是中心暗场像,答案为C。

8.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是二次电子,答案为B。

二、判断题:(8分/每题1分)1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。

√2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。

√3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率,缩短暴光时间。

×4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。

×5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同,前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率,后者仅仅是仪器的制造水平。

√6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。

×7.实际电镜样品的厚度很小时,能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。

√8.扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。

×三、填空题:(14分/每2空1分)1.电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。

2.当X射线管电压低于临界电压时,只能产生连续谱X射线;当电压超过临界电压时,可以同时产生连续谱X射线和特征谱X射线。

《材料分析测试技术》试卷(答案) (1)

《材料分析测试技术》试卷(答案) (1)

《材料分析测试技术》试卷(答案)一、填空题:(20分,每空一分)1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。

2. X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X射线、和热。

3. 德拜照相法中的底片安装方法有:正装、反装和偏装三种。

4. X射线物相分析方法分:定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。

5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。

6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。

7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。

8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。

二、选择题:(8分,每题一分)1. X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。

a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。

2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。

a.Co ;b. Ni ;c. Fe。

3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用(c )。

a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。

4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。

a.第二聚光镜光阑;b. 物镜光阑;c. 选区光阑。

5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。

a.球差;b. 像散;c. 色差。

6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是(a)。

a.高阶劳厄斑点;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。

7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。

a.背散射电子;b.俄歇电子;c. 特征X射线。

8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。

a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。

三、问答题:(24分,每题8分)1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么?答:X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个最佳厚度(t =2.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些?它有哪些功能?在材料科学中有什么应用?答:透射电子显微镜的主要组成部分是:照明系统,成像系统和观察记录系统。

(完整版)材料分析测试技术部分课后答案

(完整版)材料分析测试技术部分课后答案

材料分析测试技术部分课后答案太原理工大学材料物理0901 除夕月1-1 计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射线的振动频率和能量。

ν=c/λ=3*108/(0.071*10-9)=4.23*1018S-1E=hν=6.63*10-34*4.23*1018=2.8*10-15 Jν=c/λ=3*108/(0. 154*10-9)=1.95*1018S-1E=hν=6.63*10-34*2.8*1018=1.29*10-15 J1-2 计算当管电压为50kV时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能.E=eV=1.602*10-19*50*103=8.01*10-15 Jλ=1.24/50=0.0248 nm E=8.01*10-15 J(全部转化为光子的能量)V=(2eV/m)1/2=(2*8.01*10-15/9.1*10-31)1/2=1.32*108m/s1-3分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

答:根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。

最内层能量最低,向外能量依次增加。

根据能量关系,M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差,K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。

由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以Kß的能量大于Ka 的能量,Ka能量大于La的能量。

因此在不考虑能量损失的情况下:CuKa能激发CuKa荧光辐射;(能量相同)CuKß能激发CuKa荧光辐射;(Kß>Ka)CuKa能激发CuLa荧光辐射;(Ka>la)1-4 以铅为吸收体,利用MoKα、RhKα、AgKαX射线画图,用图解法证明式(1-16)的正确性。

《材料分析测试技术》课程试卷答案

《材料分析测试技术》课程试卷答案

一、选择题:(8分/每题1分)1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(D)。

A. 光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生(B)衍射线。

A. 三条;B .四条;C. 五条;D. 六条。

3. .最常用的X射线衍射方法是(B)。

A. 劳厄法;B. 粉末多晶法;C. 周转晶体法;D. 德拜法。

4. .测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是(C )。

A. 外标法;B. 内标法;C. 直接比较法;D. K值法。

5. 可以提高TEM的衬度的光栏是(B )。

A. 第二聚光镜光栏;B. 物镜光栏;C. 选区光栏;D. 其它光栏。

6. 如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是(D)。

A. 六方结构;B. 立方结构;C. 四方结构;D. A或B。

7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这是(C)。

A. 明场像;B. 暗场像;C. 中心暗场像;D.弱束暗场像。

8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是(B)。

A. 背散射电子;B. 二次电子;C. 吸收电子;D.透射电子。

一、判断题:(8分/每题1分)1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。

(√)2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。

(√)3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率,缩短暴光时间。

(×)4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。

(×)5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同,前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率,后者仅仅是仪器的制造水平。

(√)6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。

材料测试分析技术答案第一、三、四题

材料测试分析技术答案第一、三、四题

今有一张用CuKa 辐射摄得的钨(体心立方)的粉末图样,试计算出头四根线条的相对积分强度(不计e -2M和A (θ))。

若以最强的一根强度归一化为100,其他线强度各为多少?这些线4--8在德拜图形上获得某简单立方物质的如下四条谱线;所给出的均有Cu 衍射的结果。

以为外推函数,请用柯亨法计算晶格常数,精确到四位有效数字解: ,+=1,可得下表:所以得:154.8213=6489A+231.114C① 6.728=231.114A+14.093C② 由1,2得A=0.01648,C=0.2071。

又有,===0.5994求淬火后低温回火的碳钢样品,不含碳化物(经金相检验),A (奥氏体)中含碳1%,M (马氏体)中含碳量极低。

经过衍射测得A220峰积分强度为2.33(任意单位),M200峰积分强度为16.32,试计算该钢中残留奥氏体的体积分数(实验条件:Fe K α辐射,滤波,室温20℃,α-Fe 点阵参数a=0.286 6 nm ,奥氏体点阵参数a=0.3571+0.0044wc ,wc 为碳的质量分数。

解: • 根据衍射仪法的强度公式,• • 令 ,• 则衍射强度公式为:I = (RK/2μ)V由此得马氏体的某对衍射线条的强度为I α=(RK α/2μ)V α,残余奥氏体的某对衍射线条的强度为I y =(RK y /2μ)V y 。

两相强度之比为:• 残余奥氏体和马氏体的体积分数之和为f γ+f α=1。

则可以求得残余奥氏体的百分含量:对于马氏体,体心立方,又α-Fe 点阵参数a=0.2866nm, Fe K α波长λ=1.973A 。

,Θ=453K,T=293K∴sin θ1=2dλ= 0.19370.286622⨯=0.6759⇒θ1=42.52。

,P 200=6,F=2f,M 1=226(x)1sin x 4a h m K φθλ⎡⎤⎛⎫+ ⎪⎢⎥Θ⎣⎦⎝⎭=1.696⨯2114d ⨯10-19=2.65⨯10-18对于奥氏体面心立方,a=0.3571 ⨯0.0044 ⨯1%=0.3575nm∴sin θ2=2d λ=0.19370.35752 =0.7661⇒θ2=50.007。

材料分析测试技术_部分课后答案

材料分析测试技术_部分课后答案

材料分析测试技术_部分课后答案衍射仪9-1、电⼦波有何特征?与可见光有何异同?答:·电⼦波特征:电⼦波属于物质波。

电⼦波的波长取决于电⼦运动的速度和质量,=h mvλ若电⼦速度较低,则它的质量和静⽌质量相似;若电⼦速度具有极⾼,则必须经过相对论校正。

·电⼦波和光波异同:不同:不能通过玻璃透镜会聚成像。

但是轴对称的⾮均匀电场和磁场则可以让电⼦束折射,从⽽产⽣电⼦束的会聚与发散,达到成像的⽬的。

电⼦波的波长较短,其波长取决于电⼦运动的速度和质量,电⼦波的波长要⽐可见光⼩5个数量级。

另外,可见光为电磁波。

相同:电⼦波与可见光都具有波粒⼆象性。

9-2、分析电磁透镜对电⼦波的聚焦原理,说明电磁透镜的结构对聚焦能⼒的影响。

聚焦原理:电⼦在磁场中运动,当电⼦运动⽅向与磁感应强度⽅向不平⾏时,将产⽣⼀个与运动⽅向垂直的⼒(洛仑兹⼒)使电⼦运动⽅向发⽣偏转。

在⼀个电磁线圈中,当电⼦沿线圈轴线运动时,电⼦运动⽅向与磁感应强度⽅向⼀致,电⼦不受⼒,以直线运动通过线圈;当电⼦运动偏离轴线时,电⼦受磁场⼒的作⽤,运动⽅向发⽣偏转,最后会聚在轴线上的⼀点。

电⼦运动的轨迹是⼀个圆锥螺旋曲线。

右图短线圈磁场中的电⼦运动显⽰了电磁透镜聚焦成像的基本原理:结构的影响:1)增加极靴后的磁线圈内的磁场强度可以有效地集中在狭缝周围⼏毫⽶的范围内;2)电磁透镜中为了增强磁感应强度,通常将线圈置于⼀个由软磁材料(纯铁或低碳钢)制成的具有内环形间隙的壳⼦⾥,此时线圈的磁⼒线都集中在壳内,磁感应强度得以加强。

狭缝的间隙越⼩,磁场强度越强,对电⼦的折射能⼒越⼤。

3)改变激磁电流可以⽅便地改变电磁透镜的焦距9--3、电磁透镜的像差是怎样产⽣的,如何消除和减少像差?像差有⼏何像差(球差、像散等)和⾊差球差是由于电磁透镜的中⼼区域和边沿区域对电⼦的会聚能⼒不同⽽造成的;为了减少由于球差的存在⽽引起的散焦斑,可以通过减⼩球差系数和缩⼩成像时的孔径半⾓来实现像散是由透镜磁场的⾮旋转对称⽽引起的;透镜磁场不对称,可能是由于极靴内孔不圆、上下极靴的轴线错位、制作极靴的材料材质不均匀以及极靴孔周围局部污染等原因导致的。

材料现代测试技术作业分析

材料现代测试技术作业分析

材料现代测试技术作业分析材料现代测试技术是指利用现代科技手段进行材料性能测试和分析的技术方法。

随着材料科学的不断发展,对材料性能的测试和分析要求也越来越高,传统的测试方法已经不能满足现代材料的需要,因此材料现代测试技术应运而生。

本文将从材料现代测试技术的定义、分类、特点以及未来发展方向等方面进行深入探讨。

首先,材料现代测试技术可以被定义为利用现代科技手段对材料性能进行测试和分析的技术方法。

传统的测试方法主要依靠人工操作,测试结果的准确性和可靠性存在一定的局限性。

而材料现代测试技术借助先进的仪器设备和计算机处理技术,能够更精准地测试和分析材料的性能指标,具有高效、自动化、无损伤等特点。

根据测试的内容和实际需求,材料现代测试技术可以分为结构分析技术、性能测试技术和表面分析技术等。

结构分析技术主要包括显微镜观察、扫描电子显微镜、透射电镜等,可以用于研究材料的晶体结构、晶粒尺寸和相态等信息。

性能测试技术主要包括拉伸试验、冲击试验、硬度测试等,可以测定材料的力学性能、热响应性能等指标。

表面分析技术主要包括X射线衍射、扫描电子显微镜等,可以用于评估材料的表面形貌、元素含量以及化学活性等特征。

材料现代测试技术相较于传统测试方法具有几个显著的特点。

首先,现代测试技术能够实现对材料性能的多维度测量,不仅能够获得性能指标的绝对值,还能够获取性能指标的变化规律。

其次,现代测试技术能够实现对材料的实时监测,可以对材料的性能进行动态判断和分析。

此外,现代测试技术还具有高效、无损伤、自动化等特点,能够提高测试效率,减少测试成本,同时避免了材料的损坏和浪费。

材料现代测试技术在未来的发展中,有几个重要的方向。

首先,随着纳米材料和新材料的快速发展,测试技术需要更高的分辨率和更高的灵敏度。

因此,提高测试仪器的精度和灵敏度是未来的一个重要方向。

其次,材料现代测试技术需要与计算机科学和人工智能等相关技术相结合,实现测试结果的数据化和智能化分析。

红外光谱材料分析与测试技术作业-PPT

红外光谱材料分析与测试技术作业-PPT
故 线性分子得振动自由度= 3n-5 非线性分子得振动自由度= 3n-6
例:水分子(非线性分子) 振动自由度数=3 ×3 -6 =3
红外谱图上得峰数往往少于基本振动得数目。原因: (1)红外非活性振动:分子偶极距不发生变化 (2)峰得简并:振动频率完全相同,吸收带重合 (3)峰得掩盖:宽而强得吸收峰掩盖频率相近得窄
8、振动耦合效应与费米共振 振动耦合效应:当两个振动频率相同或相近得基团在分子中靠得很近时 ,她们得振动可能产生相互影响,使吸收峰裂分为两个,一个高于原来得 频率,一个低于原来得频率。 费米共振:当某一振动得倍频或组频位于另一强得基频附近时,由于相 互产生强烈得振动耦合作用,使原来很弱得泛频峰强化,或出现裂分双 峰,这种特殊得振动耦合称为费米共振。 9、互变异构 如果分子有互变异构现象发生,吸收峰将发生位移。
根据普朗克方程,发生振动能级跃迁需要能量得大小取 决于键两端原子得折合质量和键得力常数,即取决于分 子得结构特征。
结论: (1)化学键越强,K 越大,振动频率越高; (2)二原子μ越大,振动频率越低。
二分子得振动能级与吸收峰位置
分子得振动能级就是量子化得,相应能级得能量为: E振=(V+1/2)hν
V :振动量子数,其值可取0,1,2,3 …等整数 ν :化学键得振动频率
E1 = 1/2 hν E2 = 3/2 hν ……
△E=E2-E1= hν
……
大家有疑问的,可以询问和交流
可以互相讨论下,但要小声点
分子振动能级就是量子化得,振动能级差得大小与分子得结 构密切相关。分子振动吸收能量等于其振动能级差得频率 得光。
二、分子外部因素对峰位得影响
外部因素包括:样品得物理状态、溶剂、仪器等。
1、样品得物理状态。 气态分子吸收峰尖锐,有时会出现转动能级跃迁引起得精细结构 小峰。 液态分子之间距离减小,作用力增强,谱带变宽,精细结构减弱或消 失,频率降低。 固态分子红移程度增大,振动耦合使谱带增多

材料分析测试技术-试卷及答案

材料分析测试技术-试卷及答案

制卷人签名:制卷日期:审核人签名:: 审核日期: ……………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………装……………………订……………………线…………………………………………………………………得二、名词解释(每题4,共20分) 分1.晶带轴[uvw]和零层倒易截面(uvw)*2.电磁透镜的景深与焦长3.明场像、暗场像和中心暗场像4.物质对X射线的线吸收系数和质量吸收系数5.荧光产额和俄歇产额得三、简答题(每题6分,共30分)分1.高能电子束与固体样品相互作用时将产生那些信号?简述其产生原理,并说明这些信号在材料的性能表征方面有何应用?2.电磁透镜的像差有哪几种,并简述其产生原因及克服方法。

3.分别说明透射电镜中成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对位置关系,并画出光路图。

4.简述用X射线衍射仪对多相物质进行物相定性分析的基本程序。

2. 证明TEM 中的电子衍射基本公式)(hkl g L R L Rd G G λλ==。

3. 证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。

制卷人签名:制卷日期:审核人签名:: 审核日期: ……………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………………装……………………订……………………线…………………………………………………………………参考答案:背散射电子:背散射电子是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。

其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。

背散射电子的产生范围深,由于背散射电子的产额随原子序数的增加而增加,所以,利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征,也可用来显示原子序数衬度,定性地进行成分分析。

(1分) 二次电子:二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。

现代材料测试技术作业

现代材料测试技术作业
在200kv加速电压下拍得金的多晶衍射环,从里向外测得环的直径 2R1=17.46mm,2R2=20.06 mm, 2R3=28.64 mm, 2R4=33.48 mm。已 知透射电镜的相机常数K=20.562,试求各衍射环的晶面间距d?()
光学显微分析部分(第5、6章)
一 名词解释 光率体; 一轴晶与二轴晶;光轴面;光性方位; 解理;多色性与吸收 性;突起;贝克线;四次消光; 干涉色; 补色法则; 双折射率; 延 性; 双晶;光程差;干涉图;分辨率; 色散; 折射; 全反射;
I/I0 2 85 5 70 15 35 2 20 1
2、产生特征X射线的根本原因是什么? 3、简述特征X-射线谱的特点。 4、推导布拉格公式,画出示意图。 5、回答X射线连续光谱产生的机理。 6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。 7、简述连续X射线谱的特征 8. x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法 9. 测角仪的调整要求? 10. 测角仪的工作原理以及各狭缝作用? 11. 哈纳瓦特与芬克索引的规则? 12. 定性物相分析的注意事项?
,

种。
13.干涉色级序的测定方法有 ,
, 三种。
三.问答与计算 1. 标准薄片中,同一晶体的不同颗粒为何干涉色不同?晶体在什么切面 上干涉色最高?为什么? 2.对于一轴晶和二轴晶晶体,利用哪类干涉图可测定其光性正负?如 何测定?试举例说明。 3.矿物薄片中晶体的颜色和干涉色在成因上有何不同?影响干涉色的 因素有哪些? 4.矿物薄片中晶体的边缘、糙面、突起和贝克线是怎样形成的?在偏光

、__________________和
等。
7、块状材料是通过减薄的方法(需要先进行机械或化学方法的预减
薄)制备成对电子束透明的薄膜样品。减薄的方法有

材料分析测试技术习题及答案

材料分析测试技术习题及答案

材料分析测试技术习题及答案第⼀章⼀、选择题1.⽤来进⾏晶体结构分析的X射线学分⽀是()射线透射学;射线衍射学;射线光谱学;D.其它2. M层电⼦回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。

3. 当X射线发⽣装置是Cu靶,滤波⽚应选()A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电⼦把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原⼦的K层电⼦打出去后,L层电⼦回迁K 层,多余能量将另⼀个L层电⼦打出核外,这整个过程将产⽣()(多选题)A.光电⼦;B. ⼆次荧光;C. 俄歇电⼦;D. (A+C)⼆、正误题1. 随X射线管的电压升⾼,λ0和λk都随之减⼩。

()2. 激发限与吸收限是⼀回事,只是从不同⾓度看问题。

()3. 经滤波后的X射线是相对的单⾊光。

()4. 产⽣特征X射线的前提是原⼦内层电⼦被打出核外,原⼦处于激发状态。

()5. 选择滤波⽚只要根据吸收曲线选择材料,⽽不需要考虑厚度。

()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产⽣ X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作⽤可以产⽣、、、、、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

5. 短波长的X射线称,常⽤于;长波长的X射线称,常⽤于。

习题1.X射线学有⼏个分⽀每个分⽀的研究对象是什么2.分析下列荧光辐射产⽣的可能性,为什么(1)⽤CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)⽤CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)⽤CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

3.什么叫“相⼲散射”、“⾮相⼲散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”4.X射线的本质是什么它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在⽤哪些物理量描述它5.产⽣X射线需具备什么条件6.Ⅹ射线具有波粒⼆象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中7.计算当管电压为50 kv时,电⼦在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光⼦的最⼤动能。

材料分析测试技术2篇

材料分析测试技术2篇

材料分析测试技术2篇材料分析测试技术(一)随着科技的快速发展,材料分析测试技术也得到了卓越的进步。

这项技术可以在材料的不同阶段进行测试和分析,以评估其性能及其他相关特性。

已经有许多技术和方法的出现,可以在材料分析测试方面提供全面的解决方案。

现在,我们来看看可能使用的一些最常见的材料分析测试技术。

1.扫描电镜(SEM)扫描电镜是一种基于高能电子束相互作用原理的分析技术。

它可以检测材料的表面形貌、结构、成分、尺寸和形状。

今天,扫描电镜已经成为所有材料分析测试中最最主要的技术。

你可以使用不同模式的扫描电镜来检测不同类型的材料,例如一些更具透明性的材料,例如硅胶。

2.X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种重要的分析技术,它主要用于检测材料的晶格结构和成分。

该技术使用X射线作为激发光源,通过样品散射所形成的衍射图谱,可以得到材料的化学组成和结晶结构。

由于其易于操作并且快速分析能力,X射线衍射成为材料鉴定中的主要技术之一。

3.拉曼光谱(Raman)拉曼光谱是一种快速、无损的分析技术,用于材料的化学分析和表征。

它可以用于检测有机、无机和混合材料的成分和结构,还可以用于检测化学分子之间的相互作用。

用于检测和分析几乎所有类型的材料,包括纳米材料、生物材料和钙化聚合物。

4.原子力显微镜(AFM)原子力显微镜是一种扫描探针显微镜,可以用于检测不同类型的材料表面形貌、摩擦和力学性质。

在许多应用中,原子力显微镜在材料表面的观察和表征方面表现出极高的分辨率。

总的来说,材料分析测试技术的应用范围非常广泛,很多技术甚至可以实现多种科学研究方法的同时测试。

了解并掌握这些技术,对于材料分析测试工作的完成和研究的准确性和可靠性都至关重要。

材料分析测试技术(二)材料分析测试是现代科学以及各种材料科学领域中的一项重要组成部分。

这是一种实践方法,用于评估、监测和确定材料的物理特性、化学成分、结构和其它各方面的相关特性。

以下是一些主要的材料分析测试技术。

材料分析测试技术习题及答案

材料分析测试技术习题及答案

第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。

()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。

()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。

()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。

()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。

()三、填空题1. 当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 X 射线和 X 射线。

2. X 射线与物质相互作用可以产生 、 、 、 、 、 、 、 。

3. 经过厚度为H 的物质后,X 射线的强度为 。

4. X 射线的本质既是 也是 ,具有 性。

5. 短波长的X 射线称 ,常用于 ;长波长的X 射线称 ,常用于 。

习题1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。

3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。

材料分析技术作业题(含答案)

材料分析技术作业题(含答案)

1、名词解释:(1)物相:在体系内部物理性质和化学性质完全均匀的一部分称为“相”。

在这里,更明白的表述是:成分和结构完全相同的部分才称为同一个相。

(2)K系辐射:处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向,此时外层电子将填充内层空位,相应伴随着原子能量的降低。

原子从高能态变成低能态时,多出的能量以X射线形式辐射出来。

当K电子被打出K层时,原子处于K激发状态,此时外层如L、M、N……层的电子将填充K层空位,产生K系辐射。

(3)相干散射:由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件(4)非相干散射:X射线经束缚力不大的电子(如轻原子中的电子)或自由电子散射后,可以得到波长比入射X射线长的X射线,且波长随散射方向不同而改变。

(5)荧光辐射:处于激发态的原子,要通过电子跃迁向较低的能态转化,同时辐射岀被照物质的特征X射线,这种由入射X射线激发出的特征X射线称为二次特征X射线即荧光辐射。

(6)吸收限:激发K系光电效应时,入射光子的能量必须等于或大于将K电子从K层移至无穷远时所作的功WK,即将激发限波长入K和激发电压VK联系起来。

从X射线被物质吸收的角度,则称入K为吸收限。

(7) ^俄歇效应:原子中K层的一个电子被打出后,它就处于K激发状态,其能量为EK如果一个L层电子来填充这个空位,K电离就变成L电离,其能量由EK变成EL,此时将释放EK-EL的能量。

释放出的能量,可能产生荧光X 射线,也可能给予L层的电子,使其脱离原子产生二次电离。

即K层的一个空位被L层的两个空位所代替,这种现象称俄歇效应.2、特征X射线谱与连续谱的发射机制之主要区别?特征X射线谱是高能级电子回跳到低能级时多余能量转换成电磁波。

连续谱:高速运动的粒子能量转换成电磁波。

3、计算0.071nm(MoKQ和0.154nm(CuK a的X射线的振动频率和能量4、x射线实验室用防护铅屏,若其厚度为1mm,试计算其对Cuk a Mok a辐射的透射因子(I透射/I入射)各为多少?第二章1. 名词解释:晶面指数:用于表示一组晶面的方向,量出待定晶体在三个晶轴的截距并用点阵周期a,b,c度量它们,取三个截距的倒数,把它们简化为最简的整数h,k,l,就构成了该晶面的晶面指数。

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第三章 X 射线衍射强度
6.,用Cu K αX 射线得到W(bcc)的Debye —Scherrer 图形,最初的4根线条的位
置如下:
衍射线 θ
1 20.3︒
2 29.2︒
3 36.7︒
4 43.6︒
请标出各X 射线的干涉指数(由式(2.19)和附录16确定),然后计算各衍射线的积分强度。

已知:2d sin θ=λ
,d=
a,λ=0.1542nm,wa=0.31648nm
W 为体心立方结构,F=2f W;θ1
= 20.3︒,θ2= 29.2︒,θ3= 36.7︒
θ4
= 43.6︒,sin θ2
=4a
λ2222

(h+k+l)
解: sin 20.3 =0.15420.316482222
2(h+k+l)
4* {h k l}={1 1 0}
sin 29.22
=0.15420.31648
2222

(h+k+l)
4* {h k l}={2 0 0} sin 36.72
=0.15420.316482222

(h+k+l)
4* {h k l}={2 1 1}
sin 43.62
=0.15420.316482222

(h+k+l)
4* {h k l}={2 2 0}
1
sin =2.25θλ 查附表3(p284)→1f =58.5, 21F =13689
2
sin =3.16θλ
查附表3(p284)→2f =51.73, 22F =10704
3
sin =3.88θλ
查附表3(p284)→3f =46.9 23F =8798
3sin =4.47θλ
查附表3(p284)→4f =43.47 24F =7559
由{h k l}查附录5(p285):
1P =12,2P =6,3P =24,4P =12,(注{2 1 1}包含(1 1 2),故可用(1 1 2)代替{2 1 1}) 根据θ查附录6(p285):
212111+cos 2=sin cos θθθ13.97,222221+cos 2=sin cos θθθ 6.135
232331+cos 2=sin cos θθθ 3.777,2
4244
1+cos 2=sin cos θθθ 2.911
根据公式:I 相对=2
2
-22
1+cos 2=P ()()sin cos M I F A e θθθθ
相对 取θ=20.3︒时,取1I 相对=10,(粗略计算可忽略-2()M A e θ)
2
2-211
21122
-2222222
1+cos 2P ()()sin cos 10
=
1+cos 2P ()()sin cos M
M
F A e I F A e θθθθθθθθ相对,2I 相对=1.72
2
2-211
21122
-2332233
1+cos 2P ()()sin cos 10
=
1+cos 2P ()()sin cos M
M
F A e I F A e θθθθθθθθ相对,3I 相对=3.48
2
2-211
21122
-2442244
1+cos 2P ()()sin cos 10
=
1+cos 2P ()()sin cos M
M
F A e I F A e θθθθθθθθ相对,4I 相对=1.15
最后将{h k l}、θ、
sin θ
λ

w f 、2
F 、P 、2
2
1+cos 2()sin cos θθθ
、计算的强度等整理成如下表:。

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