超声波检测设备性能测试

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试谈超声诊断仪的主要性能参数

试谈超声诊断仪的主要性能参数

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(四)侧向分辨力(横向分辨力)
指在超声束扫查平面内,垂直于 声束轴线方向上能够区分两上回 波目标最小距离。该值越小,声 像图横向界面层理越清楚。.声束宽度
声束越窄,侧向分辨力越好。而声 束宽度与晶片直径和工作频率相关 。不过换能器尺寸不可能做得很大 ,频率不能无限高。所以设计者采 取了透镜、可变孔径技术,在设计 中应用了分段动态聚焦和连续动态 聚焦,从而提升了侧向分辨力。
疗仪实际脉冲(工作)频率是 大于1.MHz,则连续时间是小 于1µs(微秒)
试谈超声诊断仪的主要性能参数
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3.重复频率
超声诊疗仪发射超声波是脉冲信号; 按一定时间间隔重复地发射一样脉冲 信号,此时间间隔称为重复周期T, 脉冲每秒钟出现次数称为重复频率F ,脉冲连续时间称为脉冲宽度W. 重复频率越小,超声探测深度越深. 超声发射脉冲带宽(频带)越宽,其 纵向分辨力越高
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为了提升整机工作性能,普通 采取动态频率扫描和动态跟踪 滤波技术,使高分辨力和探测 深度得以兼顾应用。尽管如此 ,为了满足临床需要,仍需要 设计不一样频率换能器来诊疗 生物体不一样部位。
试谈超声诊断仪的主要性能参数
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(三)轴向分辨力(纵向分辨力)
指沿声束轴线方向,在B超图像显示中能够 分辨两个回波目标最小距离。该值越小,声 像图上纵向界面层理越清楚。对于连续超声 波,可到达理论分辨力等于半个波长。所以 ,频率越高,分辨力越好。因为生物组织界 面并不是完全相同靶点,所以实际中不可能 到达理论分辨力数值,而是相当于2~3个波 长数值。
试谈超声诊断仪的主要性能参数
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(九)发射功率
提升换能器辐射声功率可提升探测深度。不 过提升声功率要增大电路发射电压。这不但 给整机设计带来困难,而且必须要限制声功 率在安全剂量阈值内设计和使用,尤其对胎 儿和儿童要降低和避兔使用超声作检验,必 要使用时必须使用低功率超声诊疗仪;超声 发射功率技术指标用声强来表示,超声诊疗 仪声强不得大于10mW/cm2。

CBT3559-2019CCS无损检测超声波标准

CBT3559-2019CCS无损检测超声波标准

13 时基线调节
13.1 用标准试块上圆弧面的反射波和其他等效试块的反射波进行时基线调节 13.2 最大检测声程处回波至少调节到示波屏满刻度的3/4以上 13.3 当检测面曲率半径不大于W²/4时,探头楔块应磨成与工件面相吻合,在 6.6规定 的对比试块上作时基线调整
PS:时基线:A 型显示荧光屏中表示时间或距离的水平扫描线。
图1
图2
10 探头频率与斜探头折射角的选择
10.1 探测频率按下表进行选择
10.2 探头折射角的选择应能使主声束覆盖整个焊缝检测区,具体要求如下: a)平板对接焊缝探伤折射角的选择
10 探头频率与斜探头折射角的选择
b)条件允许时,T型接头焊缝检测应分别使用直探头和斜探头扫查,斜探头按下表选 择
10 探头频率与斜探头折射角的选择
14.7 检测横向缺陷时,应将各线灵敏度分别提高6dB 14.8 T型接头焊缝直探头检测按附录D的规定
15 补偿
15.1 补偿包括耦合补偿和衰减补偿等 15.2 耦合补偿和衰减补偿统称为传输补偿,传输补偿的测定和修正要求按附 录E的方法进行 15.3 当检测面曲率半径不大于W²/4时,曲面补偿应采用曲率半径与工件相同 的试块,通过对比试验进行实际测量 15.4 工件与试块表面有差异时,应进行补偿,补偿值计入DAC曲线。
14 距离-波幅曲线
14.1 DAC曲线应以实际检测用的仪器和探头,根据在对比试块上实际的数据绘制而 成。(绘制方法略) 14.2 绘制DAC曲线是应不少于3点,且最大深度应满足检测要求 14.3 在检测范围内的DAC曲线不应低于示波屏刻度的20% 14.4和14.5 见下图
14 距离-波幅曲线
10.3 选择检测面和探头时应考虑到焊缝中产生各类缺陷的可能性, 并尽可能是主声束垂直于焊缝中的危害性缺陷。

开关设备超声波测试标准

开关设备超声波测试标准

开关设备超声波测试标准:●-6 ~ 0 dBuV,无放电声,开关设备无局部放电。

●0 ~ 6 dBuV,有短放电声,开关设备有轻微放电,以后应注意。

●大于6 dBuV,出现放电噪声,开关设备明显放电,应结合TEV 测试确定。

注:分界点(6dBuV)在不同地区略有不同,有些地区(如国外、南网)以6dBuV 为分界点,多判断为6dBuV 或明显放电现象,而国家电网用户,一般以8dBuV 为分界点、无论是6dBuV 还是8dBuV,最终目的都是为了预测开关柜的绝缘性能,因此建议分界点为6dBuV,这样可以更提前地进行TEV 测试,并应引起重视。

因此建议将6dBuV 作为分界点,以便提前对开关设备的运行状态发出警告。

开关柜局部放电检测有两种原理:超声波原理和瞬态地电压(TEV)原理,局部放电检测仪中的超声波和TEV 传感器用于精确测量高压开关柜的局部放电,超声波传感器位于主机前端位置超声波传感器位于主机位置的前端,测试时必须靠近元件(超声波测量)或(TEV 测量)。

请注意,对于高压开关设备而言,接近和近接是不一样的,这取决于使用哪种原理进行测试。

如果选择集成超声波传感器来测量开关柜的局部放电,便携式局部放电检测仪在开机后将默认选择集成超声波传感器,屏幕左上角将显示当前连接的传感器类型,如下图所示,该状态即为超声波测量模式。

这种状态就是超声波测量模式,因此在接通电源后几乎不需要执行任何其他操作或设置。

超声波测量模式下,所测得的数据单位为dBuV,dBuV 是相对于1uV 的对数函数值,因此超声波模式下测得的数据可以是正值或负值,这取决于产品超声波放大器的处理能力,测试范围为-6 dBuV 至68 dBuV,负值表示超声波信号较小。

值表示超声波信号较小,接近0uV,但不是负数!在正常无干扰环境下测量的数据介于-6 dBuV 和0 dBuV 之间。

超声波信号以空气为传播介质,是从柜体间隙中传播出来的,工程师提醒您,使用超声波测量高压开关柜的柜值需要靠近柜体传感器的间隙位置,是同时可以通过监听耳机听到柜内放电声音(超声波信号通过数字滤波实现可听声音)。

超声波检测实验

超声波检测实验

超声波检测实验一、实验目标1)了解超声波探伤仪的原理并学会使用CTS-22型超声波探伤仪2)掌握现场测试超声仪器性能的基本方法,包括:垂直线性、水平线性、探伤仪与仪器的组合性能。

3)初步学会超声波探伤二、实验仪器设备CTS-22型超声波探伤仪1台2.5MHZ直探头1只平面锻件(工件)1块ⅡW试块(荷兰试块) 1块平底孔试块(CS-1试块)1块三、实验原理1. 超声传感器结构及原理超声波传感器又称超声波探头或超声波换能器,是利用压电效应将电能转换为超声振动能,或将超声振动能转为电能的实验装置。

在实际应用中,我们利用压电效应的可逆性,也可将换能器作为“发射”或“接收”兼用。

亦即将交流电压加在压电元件上,使其向介质发射超声波,同时又利于它接收从介质反射回来的超声波,并将反射转换成电信号。

图4-1是超声波纵波换能器的结构图,压电晶片是换能器的主要元件。

压电晶体的厚度与超声波的频率成反比,如铁钛酸铅的频率厚度常数为1890KHz/mm,压电片的厚度为1mm时,固有频率为1.89MHz。

压电片的两面敷有银层,作为导电的极板,压电片的地面接地线,上面接导线引致电路中。

2. 超声检测的基本原理超声检测是一种利用超声波在介质中传播的性质来判断工件和材料是否异常的检验和测量方法。

在超声检测中,所使用的电声、声电换能器,主要是利用压电效应制作的,直探头可发射和接受纵波,主要由压电晶片和保护膜组成。

超声波是由发射电路即高频脉冲电路产生的高频电压,加在发射探头上。

发射探头将电波变成超声波,传入工件中。

超声在缺陷或介面上反射后回到接收探头,转变为电波后输入给接收电路进行放大、检波,最后加到示波管上显示出来。

通过缺陷在荧光屏上横坐标的位置,可以对缺陷定位;根据缺陷波的高度可确定缺陷的大小。

四、实验数据整理与分析1. 测试超声波探伤仪的垂直线性误差衰减dB值理论波高值(%)实测波高值(%)偏差(%)0 100 100 02 79.4 83 -3.64 63.1 68 -4.96 50.1 57 -6.98 39.8 46 -6.210 31.6 38 -6.412 25.1 30 -4.914 20 24 -416 15.8 20 -4.218 12.5 17 -4.520 10 12 -222 7.9 10 -2.1绘制衰减测量曲线:垂直线性误差:∆=++-=≤d d d[()()] 6.9%8%满足ZBY-84 标准规定2.测定水平线性底波次数B1 B2 B3 B4 B5水平刻度20 40 60 80 100max100% 1.25%2%0.8L∆∆=⨯=≤ 符合规定的水平误差范围。

dus测试方案

dus测试方案

1. 简介本文档旨在介绍DUS(Device Ultra Sound)测试方案,包括测试目的、测试环境、测试步骤和测试结果分析等内容。

DUS是一种通过超声波来采集设备结构和性能信息的技术,常用于检测设备的内部结构和故障。

2. 测试目的本次测试旨在验证设备的超声波检测功能是否正常,并评估其性能和准确性。

具体测试目的包括:•验证设备是否能够正常发射和接收超声波信号;•检测设备结构是否存在异常或损坏;•分析超声波图像,评估设备性能,并与预期结果进行比较。

3. 测试环境本次测试需要以下环境和设备:•DUS测试设备:一台支持超声波检测的设备;•待测试设备:需要测试的设备或样品;•计算机:用于分析和处理超声波图像的计算设备;•超声波探头:用于发射和接收超声波信号的探头;•超声波耦合剂:用于提高超声波信号的传导效果。

4. 测试步骤4.1 准备阶段1.确保DUS测试设备和计算机正常工作,并连接好超声波探头;2.准备待测试设备,并保证其处于合适的测试状态;3.使用超声波耦合剂将超声波探头贴附在待测试设备的表面。

4.2 发射超声波信号1.打开DUS测试设备上的超声波发射功能;2.调整发射参数,如发射频率、脉冲宽度等;3.将超声波探头慢慢贴附在待测试设备上,并保持一定的压力和角度;4.观察DUS测试设备上的显示屏或计算机上的软件界面,确认发射信号是否正常。

4.3 接收超声波信号1.打开DUS测试设备上的超声波接收功能;2.调整接收参数,如接收灵敏度、增益等;3.继续保持超声波探头对待测试设备的贴附;4.观察DUS测试设备上的显示屏或计算机上的软件界面,确认接收信号是否正常。

4.4 分析超声波图像1.使用计算机上的软件,将接收到的超声波信号转换为图像;2.分析图像,查找设备内部结构,检测是否存在异常或损坏;3.根据设备的预期结构和性能,评估超声波图像的准确性和可靠性;4.记录测试结果,包括图像、结论和建议。

5. 测试结果分析根据分析超声波图像得到的结果,可以对设备的结构和性能进行评估。

超声波探伤仪校准规程

超声波探伤仪校准规程

数字式超声探伤仪校准规程1.范围本操作规程适用于A型脉冲反射式手动超声探伤仪的校准和检定;以此来确定超声波设备的有效性,2.检定周期与内容2.1每三个月对仪器的盲区(仅限直探头)、灵敏度余量和分辨力进行一次核查并记录。

2.2每六个月对仪器和探头组合性能中的水平线性和垂直线性进行一次运行核查并记录。

2.3每年至少对超声仪器和探头组合性能中的水平线性、垂直线性、组合频率、盲区(仅限直探头)、灵敏度余量、分辨力以及仪器的衰减器精度,进行一次校准并记录。

3.参考标准3.1JB/T10062-1999《超声检测用探头性能测试方法》3.2JB/T9214-2010A型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法3.3NB/T47013.3-2015承压设备无损检测4.人员职责4.1仪器检定应由超声Ⅱ级及以上人员负责组织实施。

4.2应由至少为超声Ⅱ级人员负责实施自检并出具自检报告,由超声III级负责自检报告的审核。

4.3校准与核查人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法,熟悉本规程引用的相关标准,能正确按本规程方法进行检定工作并填写检定记录。

5.设备与器材超声波探伤仪,2.5PΦ1400纵波直探探头(日常使用纵波直探头),2.5P13×13K2横波斜探头,DB-P型试块,CSK-ⅠA型标准试块,耦合剂。

6.测试内容垂直线性,水平线性,动态范围,灵敏度余量,仪器噪声电平,分辨力,组合频率,盲区。

7.测试方法7.1垂直线性误差测试7.1.1JB/T9214-2010《A型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法》规定垂直线性误差≤5%。

7.1.2垂直线性定义:仪器垂直线性是示波屏上波高与探头接收的信号幅值之间成正比的程度,它取决于仪器放大器的性能。

垂直线性用垂直线性误差表示。

垂直线性影响缺陷的检出和定量。

7.1.3测试设备与器材(1)2.5PΦ1400纵波直探探头(日常使用纵波直探头)(2)耦合剂(3)超声波探伤仪(4)DB-P型试块7.1.4测试步骤(1)将仪器与探头连接,将探头用恒定压力压在试块上,参见图1,中间加适当的耦合剂,以保持稳定的声耦合,并将平底孔的回波调至屏幕上时基线的适当位置,使用衰减器使孔的回波高度恰为100%满刻度,此时衰减作为“0”Db,且衰减器至少还应有30dB的衰减余量。

超声波检测标准、试块与灵敏度设定

超声波检测标准、试块与灵敏度设定

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中厚板探伤可以使用RB试块
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NB/T47013.3- 钢板
t≤20mm用阶梯平底试块或板材无缺陷处(双晶探头),
用阶梯试块或板材无缺陷处一次波50%+10dB
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2015
t>20mm板材超声检测用对比试块(1-6#)(单晶探头)
Φ5平底孔试块DAC曲线
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CSK-1A用于系统性能的测定
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锻件
t≤45mm(双晶直探头)用CS-2调基准灵敏度
件)
工件检测面曲率半径≤250mm时应采用曲面对比试块(试块曲率半径 /
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在工件曲率半径的0.7倍~1.1倍范围内)调节基准灵敏度,或采用CS-
4对比试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失。
焊接
Ⅰ型焊接接头
用所选试块制作距离波幅曲线,该曲线由评定线、定量线和判废线组成。
CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA适用于工件壁厚范围为6mm~500mm的焊接 接头超声检测,其中CSK-ⅡA适用于工件壁厚范围为6mm~200mm的焊接 接头,CSK-ⅣA适用于工件壁厚范围为200mm~500mm的焊接接头.对于 工件壁厚范围为8mm~120mm的焊接接头超声检测,也可采用
用CS-3试块制作Φ2平底孔DAC曲线作为基准灵敏度
扫查灵敏度一般比基准灵敏度高6dB
( 碳 钢 和 低 t>45mm(单晶直探头)用CS-3对比试块
用CS-2或CS-4试块用一组Φ2平底孔制作DAC曲线作为基准灵敏度,当t≥探头的
合金钢锻
3倍近场长度且被检面与地面平行时也可用底波计算法确定灵敏度。
超声
标准 标准试样
灵敏度设定
备注
GB/T113452013

无损检测方法及设备性能检验流程与标准

无损检测方法及设备性能检验流程与标准

无损检测方法及设备性能检验流程与标准无损检测是一种非破坏性检测技术,用于检测材料和结构的缺陷或性能问题,例如裂纹、孔洞、碰撞损伤等。

这种检测方法可以避免对被测物体造成破坏,同时可以提供准确的测试结果,被广泛应用于航空航天、核能、石化、电力等行业。

无损检测方法包括超声波检测、磁粉检测、渗透检测、射线检测等。

其中,超声波检测是最常用的一种方法,它利用高频声波在材料中传播的原理,通过接收到的回波信号来判断材料的内部缺陷。

磁粉检测则是利用磁粉液在磁场中的行为,来检测材料表面或局部的缺陷。

渗透检测是将渗透剂涂在材料表面,然后用显色剂显现出裂纹等缺陷。

射线检测则通过利用射线的穿透性来检测材料内部的缺陷。

无损检测设备的性能检验流程包括以下几个步骤:第一步是设备检查。

要确保检测设备的各个部件正常工作,没有损坏或故障。

检查设备的电源、传感器、显示屏等部件,确保它们的功能正常。

第二步是设备校准。

要对设备进行校准,以确保它的测试结果准确可靠。

校准的方法可以根据具体设备的要求进行,通常涉及到调整设备的灵敏度、校准标准样品等。

第三步是测试准备。

在进行无损检测之前,需要对要测试的材料进行准备工作。

这包括清洁材料表面、涂覆液体或涂料等,以便更好地检测缺陷。

第四步是测试操作。

根据不同的无损检测方法,进行相应的测试操作。

例如,对于超声波检测,需要设置传感器的位置和方向,并对回波信号进行分析解读。

第五步是测试评估。

根据测试结果,对材料进行评估,判断是否存在缺陷或性能问题。

评估的标准可以根据行业标准或相关规范来确定。

无损检测的相关标准是确保无损检测结果可靠的重要依据。

例如,超声波检测的标准是GB/T 11144-2008《金属材料超声波检测技术通则》、磁粉检测的标准是GB/T 9445-2017《用磁粉检测钢铁零件缺陷的一般规定》等。

这些标准规定了测试方法、设备性能要求、测试结果的评估等内容,确保了无损检测的准确性和可靠性。

总之,无损检测是一种非破坏性的检测方法,可以用于检测材料和结构的缺陷或性能问题。

超声波仪器性能测试规程

超声波仪器性能测试规程

超声波仪器组合性能测试
1. 水平线性
1)测准零点;
2)声程标度设为Y 或S ;总声程范围设为125mm (即每格声程设为12.5mm ); 3)使25mm 厚试块的一至五次回波依次出现在第二、四、六、八和十格,保持探头不
动,调整增益、进波门位,使进波门内回波高为50%,依次读出一至五次回波声程值(Y 或S )。

2.分辨力测试
1)用户在CSK-IA 试块上移动直探头,当85mm 和91mm 两处的回波波峰等高且调至50%,记下增益值A 。

2)稳住探头,将85mm 和91mm 两处的回波波谷调至50%,记下增益值B 。

3. 垂直线性
1)在CS-1-5试块上移动直探头,使200mm 深Φ2平底孔处的回波高为100%。

2)增益步长调至2dB ,增益每次比上次减2dB 。

3)每减一次增益记下当前波幅值%。

4. 动态范围
1)在CS-1-5试块上移动直探头,使200mm 深Φ2平底孔处的回波高为100%。

记下增益值A 。

2)使200mm 深Φ2平底孔处的回波高调对刚刚能看到波幅, 记下增益值B 。

3)动态范围=A-B 。

CS —1—5平底孔试块
25mm
4.灵敏度余量测试
1)在CS-1-5试块上移动直探头,使200mm深 2平底孔处的回波高为50%。

记下增益值A。

2)除去探头,增加增益,使噪声电平达10%,记下增益B。

3)灵敏度余量=A-B。

附:性能测试表
一、水平线性
二、垂直线性
三、分辨力
四、动态范围
五、灵敏度余量。

NBT47013.3-2015标准(2016超声Ⅲ级班)

NBT47013.3-2015标准(2016超声Ⅲ级班)

NB/T47013.1 承压设备无损检测 第1部分:通用要求
解释:

GB/T 11259 -2008替代JB/T 7913-1995; GB/T 12604.1-2005替代GB/T 12604.1-1990; (最新版本) GB/T 27664.1 -2011替代JB/T 10061-1999; GB/T 27664.2 -2011替代JB/T 10062-1999;
一、NB/T47013-2015的主要技术变化
1、增加了第3章“术语和定义”,包括把原JB/T4730.1中的
有无损检测 超声检测设备的性能与检验 第1部分 :仪器》替代JB/T 10061《A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条 件》,对超声检测设备提出了更科学的要求; 3、增加了超声检测仪和探头的具体性能指标要求; 4、增加了超声检测仪和探头的校准、核查、运行核查和检查的要求; 5、增加了“安全要求”,对人员在超声检测中的安全提出了要求; 6、增加了工艺文件的要求,并列出了制订工艺规程的相关因素;
GB/T11259
无损检测 超声波检测用钢参考试块的制作与检验方法
超声检测
GB/T12604.1 无损检测 术语
GB/T27664.1 无损检测 超声检测设备的性能与检验 第1部分:仪器 GB/T27664.2 无损检测 超声检测设备的性能与检验 第2部分:探头 JB/T8428 无损检测 超声检测用试块 JB/T9214 无损检测 A型脉冲反射式超声检测系统工作性能测试方法 JB/T10062 超声探伤用探头性能测试方法
4.2.2.3.6 仪器-斜探头组合性能要求 a) 灵敏度余量应不小于42dB; b) 斜探头远场分辨力不小于12dB。 4.2.2.3.7 在达到所探工件的最大检测声程时,其有 效灵敏度余量应不小于10dB 4.2.2.3.8 仪器和探头组合频率的测试方法按JB/T 10062的规定,其它组合性能的测试方法按JB/T 9214的 规定。 解释: 灵敏度余量为新增加要求; 斜探头远场分辨力从6dB改为12dB。

超声检测探伤仪探头及系统性能

超声检测探伤仪探头及系统性能

超声检测探伤仪探头及系统性能18.1探伤仪采用A型脉冲反射式探伤仪,其工作频率范围为1MH Z~10MH Z。

仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。

探伤仪应具有80dB以上的连续可调衰减器,步进级每档小于或等于2dB,其精度为任意相邻12dB误差在±ldB以内,最大累计误差不超过1dB。

水平线性误差不大于1%,垂直线性误差不大于5%。

其余指标应符合JB/T 10061的规定。

本条来源于JB4730标准,与原标准相比某些指标做了调整,即超声波工作频率范围由原来的1MH Z~5MH Z,修改为1MH Z~10MH Z,衰减器总调节量由原来的60dB,修改为80dB。

目前随着我国超声波检测设备技术水平的提高,数字化超声波检测设备不断成熟,以上技术指标现有设备完全能够满足。

为简化操作、提高工作效率,推荐采用数字式超声波检测设备。

其它指标符合JB/T 10061的规定。

18.2 探头18.2.1 探头应按ZBY344的规定作出标志。

因为探头上的标志是探头生产厂对探头主要性能的一种说明和保证,无损检测人员借助这些标志能够直观的了解探头的基本性能。

ZBY344对探头的标志用探头型号组成项目和排列来表示:基本频率晶片材料晶片尺寸探头种类特征基本频率:用阿拉伯数字表示,单位为MHz。

晶片材料:用化学元素缩写符号表示,见表05。

表05 晶片材料代号压电材料代号锆钛酸铅陶瓷P钛酸钡陶瓷 B钛酸铅陶瓷T铌酸锂单晶L碘酸锂单晶I石英单晶Q其它压电材料N 晶片尺寸:用阿拉伯数字表示,单位为㎜。

其中圆晶片用直径表示;方晶片用长×宽表示;分割探头晶片用分割前的尺寸表示。

探头种类:用汉语拼音缩写字母表示,见表6。

直探头也可不标出。

表6 探头种类代号种类代号直探头Z 斜探头(用K值表示)K斜探头(用折射角表示)X分割探头FG水浸探头SJ表面波探头BM可变角探头KB 探头特征:斜探头在钢中可用折射角正切值(K值)表示。

《超声检测设备》

《超声检测设备》
发射电路通常分为调谐式和非调谐式两种。调谐式发出 的超声脉冲频带较窄,谐振频率通常调谐到与探头的固有 频率一致;非调谐式电路发射一短脉冲,脉冲频带较宽, 可以适应不同频带范围的探头,目前常见的超声检测仪多 采用非调谐式电路。
图4-6 发射电路 原理
.
4) 接收电路
超声检测检测设备与器材 第四章
接收电路由衰减器、射频放大器、检波器和视频放
另一个时基线调节功能是调节屏幕上显示的时间范 围的起点,也就是时基电路触发的延迟时间,称为延 迟。延迟由延迟电路实现,延迟电路的作用就是将同 步信号延迟一段时间后再去触发扫描电路,使扫描延 迟一段时间再开始。
.
超声检测检测设备与器材 第四章
3) 发射电路 发射电路是一个电脉冲信号发生器,可以产生几百 伏至几千伏的高压电脉冲,施加到压电晶片上产生脉 冲超声波。
3) 指示脉冲波的幅度和运行时间,称为脉冲检测仪。
通过探头向工件发射电脉冲,激励探头发射脉冲超声
波,并接收从工件中反射回来的脉冲信号,通过检测
信号的返回时间和幅度判断是否存在缺陷和缺陷的大
小等情况。
.
超声检测检测设备与器材 第四章
(2) 按反射体显示方式进行分类
1) A型显示 探头将接收到的反射体的反射波信号以波形 形式在显示屏上显示出来。 显示屏的横坐标代表反射波的传播时间(或距 离),纵坐标代表反射波的幅度。由反射波的位 置可以确定缺陷位置,由反射波的幅度可估算缺 陷当量尺寸大小。
一秒钟内发射同步脉冲的次数称为重复频率。同步脉冲 的重复频率决定了超声检测仪的发射脉冲重复频率,即决定了 每秒钟向被检工件内发射超声脉冲的次数。
选择重复频率对自动化检测很重要。自动化检测需要有高重 复频率以保证不漏检,从而实现高速扫查。但高重复频率使两 次脉冲间隔时间变短,有可能使未充分衰减的多次反射进入下 一周期,形成所谓的“幻象波”. ,造成缺陷误判。

超声设备年度检测报告

超声设备年度检测报告

超声设备年度检测报告1.引言1.1 概述概述部分:超声设备作为一种重要的医疗设备,广泛应用于临床诊断、疾病治疗和医学科研领域。

年度检测是确保超声设备正常运行和提供准确诊断的重要环节。

本报告旨在对超声设备的年度检测进行全面分析和总结,为医疗机构和相关行业提供参考和建议。

文章将围绕超声设备的介绍、年度检测流程和检测结果分析展开讨论,最终得出结论并提出建议,展望超声设备年度检测的发展方向。

文章结构部分内容如下:1.2 文章结构本年度检测报告将分为三个主要部分:引言、正文和结论。

其中,引言部分将概述本次年度检测的目的和重要性,并介绍文章的结构。

正文部分将详细介绍超声设备的相关信息以及年度检测的流程和方法。

最后,结论部分将对本次检测结果进行总结,并提出相关建议,同时展望未来的发展方向。

通过这样的结构安排,读者可以清晰地了解本次检测报告的内容和结论,从而更好地理解超声设备的年度检测情况。

1.3 目的本报告的目的是对超声设备进行年度检测,评估设备的性能和可靠性,确保其在工作环境中能够正常运行并提供准确的超声检测数据。

通过对设备进行全面的检测和分析,可以及时发现设备存在的问题,为设备的维护和管理提供依据。

同时,也旨在为超声设备的使用和维护提供参考,提高设备的使用效率和延长设备的使用寿命。

通过本报告的编写和发布,希望能够促进超声设备的发展和应用,提升超声检测技术的水平,为相关领域的发展做出贡献。

2.正文2.1 超声设备介绍超声设备是一种利用超声波对物体进行检测和成像的设备,广泛应用于医疗诊断、工业检测、海洋探测等领域。

在医疗领域,超声设备常用于观察人体内部器官和组织的情况,如心脏、肝脏、肾脏等,可以通过超声波成像技术来检测器官的结构和功能,以帮助医生进行诊断和治疗。

在工业领域,超声设备可以用于缺陷检测、材料分析、流体检测等方面,具有快速、非破坏性检测的特点。

年度检测是保证超声设备正常运行和准确检测的重要环节,需要对超声设备的性能进行全面评估和检测。

NBT47013.3-2015标准(2016超声Ⅲ级班)

NBT47013.3-2015标准(2016超声Ⅲ级班)

17、根据实际检验检测需要,增加了“承压设备厚度超声 测量方法”,包括不锈钢堆焊层厚度的测量方法; 18、对在用承压设备进行超声检测时,增加了根据使用过 程中可能造成主体材料、零部件或焊接接头的失效模式, 或者风险评估(RBI)的分析结果等选择超声检测技术、 检测部位和检测比例。
二、标准修改及内容解析
JB/T 9214-2010替代JB/T 9214 -1999;(除仪器 和探头组合频率的测试方法外) JB/T 8428-2006替代JB/T 10063-1999。
3 术语和定义 修改概述:重新定义了基准灵敏度和扫查灵敏度,增加了“工 件厚度”。 GB/T 12604.1和NB/T 47013.1界定的以及下列术语和定义适用 于本部分。 3.1 底波降低量BG/BF
NB/T47013.3-2015 承压设备无损检测 超声检测
NB/T47013.3标准的发展
1、JB4730-94 第三篇 超声检测 包括钢板、锻件、复合钢板、无缝钢管、高压螺栓件、 奥氏体钢锻件、钢焊缝、不锈钢堆焊层、铝焊缝、超声 测厚等; 2、 JB/T4730.3-2005
去除了超声测厚,增加了小径管对接焊缝、奥氏体不 锈钢焊缝、T型焊接接头、在用设备、测高、动态波型等, 基本覆盖了承压设备部件的超声检测; 3、NB/T47013-2015 恢复了超声测厚并增加了不锈钢堆焊层的超声测厚, 扩大了适用范围,更多地采用了欧标,体现了与国际接 轨的发展方向。
4.2.3 试块
修改概述:对标准试块和对比试块重新进行定义,与 2005版有较大的不同。 4.2.3.1 标准试块 4.2.3.1.1 标准试块是指具有规定的化学成分、表面粗 糙度、热处理及几何形状的材料块,用于评定和校准超 声检测设备,即用于仪器探头系统性能校准的试块。本 部分采用的标准试块为20号优质碳素结构钢制的CSK-IA、 DZ-1和DB-PZ20-2。 4.2.3.1.2 CSK-IA试块的具体形状、尺寸见本部分。 DZ-1和DB-PZ20-2的具体形状和尺寸见JB/T9214。 4.2.3.1.3 标准试块制造商应满足JB/T8428的要求,试块 制造商应提供产品质量合格证,并确保在相同测试条件下 比较其所制造的每一标准试块与国家标准样品或类似具备 量值传递基准的标准试块上的同种反射体(面)时,其最 大反射波幅差应小于等于2dB。

超声波仪器探头性能指标及其测试方法

超声波仪器探头性能指标及其测试方法

超声波仪器、探头主要组合的性能测定1、电噪声电平%仪器灵敏度置最大,发射置强,抑制置零或关,增益置最大,衰减器置“0”,深度粗调、深度微调置最大;读取时基线噪声平均值,用百分数表示;2、灵敏度余量dBa使用、Φ20直探头和CS-1-5或DB--PZ20—2型标准试块;b连接探头并将仪器灵敏度置最大,发射置强,抑制置零或关,增益置最大;若此时仪器和探头的噪声电平不含始脉冲处的多次声反射高于满辐的10%,则调节衰减或增益,使噪音电平等于满辐度的10%记下此时衰减器的读数S0;图1 直探头相对灵敏度灵敏度余量测量c将探头置于试块端面上探测200mm处的i2平底孔,如图17所示;移动探头使中Φ2平底孔反射波辐最高,并用衰减器将它调至满辐度的50%,记下此时衰减器的,则该探头及仪器的探伤灵敏度余量S为:S=S1--S0dB3、垂直线性误差测量%1连接探头并在试块上探测任一反射波一般声程大于50mm作为参照波,如图2所示;调节探伤仪灵敏度,使参照波的辐度恰为垂直刻度的100%,且衰减器至少有30dB的余量;测试时允许使用探头压块;图2 垂直线性误差测量2用衰减器降低参照波的辐度,并依次记下每衰减2dB时参照波辐度的读数,直至衰减26dB以上;然后将反射波辐度实测值与表l中的理论值相比较,取最大正偏差d+与最大负偏差d-,则垂直线性误差△d用式1计算:△d=|d+|+|d-| (1)3在工作频率范围内,改用不同频率的探头,重复1和2的测试;dB1连接探头并在试块上探测任一反射波一般声程大于50mm作为参照波; 2调节衰减器降低参照波,并读取参照波辐度自垂直刻度的100%下降至刚能辨认之最小值一般约为3~5%时衰减器的调节量,此调节量则定为该探伤仪在给定频率下的动态范围;3按1和2条方法,测试不同频率不同回波时的动态范围;5、水平线性误差测量%1连接探头,并根据被测探伤议中扫描范围档级将探头置于适当厚度的试块上,如DB――D1,DB—Pz20-2,CSK-1A试块等,如图3所示;再调节探伤仪使之显示多次无干扰底波;2在不具有“扫描延迟”功能的探伤仪中,在分别将底波调到相同辐度的条件下,使第一次底波B1的前沿对准水平刻度“2”第五次底波B5的前沿对准水平刻度“10”,然后依次将每次底波调到上述相同辐度,分别读取第二、三四次底波前沿与水平刻度“4”、“6”、“8”的偏差Ln,如图4所示,然后取其最大偏差Lmax按式2计算水平线性误差ΔL:式中:ΔL:水平线性误差,%;B:水平全刻度读数;图3 水平线性误差测量图4 水平线性误差测量3在具有“扫描延迟”功能的探伤仪中,按2条的方法,将底波以前沿对准水平刻度“0”,底波B6前沿对准水平刻度“l0”,然后读取第二至第五次底波中之最大偏差值Lmax,再按式3计算水平线性误差△L4在探伤仪扫描范围的各档级,至少应测试一种扫描速度下的水平线性差;6、分辨力的测量dB使用、Φ20直探头a仪器抑制置零或关,其它旋钮置适当位置,连接探头并置于CSK-IA标准试块上,探测声程分别为85mm和91mm反射面的反射波如图9所示,移动探头使两波等高;图9 直探头分辨力的测量b改变灵敏度使两次波辐同时达到满辐度的100%,然后测量波谷高度h,则该探头的分辨力R用下式计算:R=20lg100/h若h=0或两波能完全分开,则取R>30dB;二、超声探头的测试方法1、探头回波频率及频率误差测量1直探头回波频率的测试a连接被测探头并置于l号标准试块25mm厚度处,使第一次底波最高; b用示波器在探伤仪的接收输入端观察底波B1的扩展波形,如图8,在此波形中,以峰值点P为基准,读出在其前一周期、后两个周期共计三个周期的时间T3,根据fe=3/T3计算回波频率fe,再按下式计算回波频率误差:口fe=fe-f0/f0×100% (7)式中:fe回波频率误差,%;f0――探头的标称频率;图8 探头回波频率测量2斜探头回波频率的测量仪器连接及调节度与直探头相同,将探头置于1号试块上探测R100圆弧面的最高回波;其余步骤与直探头相同;2、分辨力纵向测量1直探头分辨力的测量a仪器抑制置零或关,其它旋钮置适当位置,连接探头并置于CSK-IA标准试块上,探测声程分别为85mm和91mm反射面的反射波如图9所示,移动探头使两波等高;图9 直探头分辨力的测量b改变灵敏度使两次波辐同时达到满辐度的100%,然后测量波谷高度h,则该探头的分辨力R用下式计算:R=20lg100/h (8)1若h=0或两波能完全分开,则取R>30dB;2斜探头分辨力的测量a如图10所示,探头置于CSK一1A试块的K值测量位置,耦合良好,探测试块上AΦ50、BΦ44两孔的反射波,移动探头使两波等高;b调节衰减器和增益,使A、B西波波辐同时达到满辐度的100%,然后测量波谷高度h,则该探头的分辨力R用式8计算;c若h=0或两波能完全分开,则取R>30dB;图10 斜探头分辨力的测量3小角度探头分辨力的测量将探头置于K<的位置,其余测试步骤同斜探头分辨力的测量;3、直探头声轴偏斜角的测量1在DB---H1试块上选取深度约为2倍被测探头近场长度的横通孔;2标出探头的参考方向,将探头几何中心轴对准横通孔中心轴,然后使探头沿x方向在试块中心线上移动,测出到孔波最高点时探头的移动距离D、,其中孔波辐度最高点在+x方向时加上+号,在-x方向时加上-号,如图1l;图11 直探头声轴偏斜角的测量3继续沿x方向移动探头,分别测出孔波辐度最高点至孔波辐度下降6dB时探头的移动距离W+x和w-x;4使探头沿y方向对准试块中心线移动,按上两条的方法测出Dy、W+y和W-y; 6Dx、Dy;表示了声轴的偏移,W+x、W-x、W+y和Wy表示了声束宽度,读数精确到1mm;按下式计算声轴的偏斜角θ:4、斜探头、小角度入射点的测定1横波斜探头连接被测探头并置于CSK一1A型标准或CSK—I型标准试块上探测试块R100圆弧面,如图12所示;前后移动探头并保持探头与试块侧面平行,使R100圆弧面的回波辐度达到最高,则此时R100圆心刻线所对应的探头侧棱上的点的即为探头的入射点;读数精确到0.5mm;图12 入射点的测定2小角度纵波探头调整仪器各旋钮使屏幕显示正常,将被测探头置于TZS—R试块的R面上图13探测试块A面下棱角,前后移动探头,并注意保持探头声束与试块侧面平行,使A面下棱角回波达到最高,记下此时探头前沿至试块前端以端的距离为然后用二次反射被探测A面上棱角,同样前后移动探头,使A面上棱角回波达到最高,记下此时探头前沿至试块前端A端的距离XZ,则探头前沿至入射点的距离为:a=x2—2xl5 斜探头折射角的测量测试设备:a探伤仪; bl号标准试块;C刻度尺;测试步骤将探头置于1号标准试块上,当K≤时,探头放在如图10a位置,观察Φ50mm孔的回波;<K≤时,探头放在如图10b位置,观察Φ50mm孔的回波;当K>时,则观察图10c的Φ1.5mm横通孔的回波;前后移动探头,直到孔的回波最高时固定下来,然后在试块上读出按3.2.5测得的入射点相对应的角度刻度β,β即为被测探头折射角,读数精确到;图10按下式计算K值:K=tgβ式中:β-折射角,°;2小角度纵波探头K值和β角的测定在小角度探头的K值和β角测定之前,应首先测定探头的前沿距离a,然后再按图15和图16所示方法,在TZS—R试块的c面或B面进行测试,当找到端面A面上棱角的最大反射波高时,则探头的K值和w角用下式计算:当探头入射角在6o~8o时如图15k=:X+a/200 (11)β=arctg k当探头入射角在9o~11o时如图16k=X+a/80; (12)p=arctg k图15 图16小角度探头人射角α和折射角β对应关系如表3斜块声速取2730m/s;表36 相对灵敏度1直探头等同于探伤灵敏度余量a使用、Φ20直探头和CS-1-5或DB--PZ20—2型标准试块;b连接探头并将仪器灵敏度置最大,即发射置强,抑制置零或关,增益置最大;若此时仪器和探头的噪声电平不含始脉冲处的多次声反射高于满辐的10%,则调节衰减或增益,使噪音电平等于满辐度的10%记下此时衰减器的读数S0;图17 直探头相对灵敏度灵敏度余量测量c将探头置于试块端面上探测200mm处的Φ2平底孔,如图17所示;移动探头使中Φ2平底孔反射波辐最高,并用衰减器将它调至满辐度的50%,记下此时衰减器的,则该探头及仪器的探伤灵敏度余量S为:S=S1--S0dB (13)2斜探头相对灵敏度测试连接好被测试斜探头并按直探头的方法测量噪声电平S0,然后将探头并置于CSK-1A标准试块上探测R100圆弧面如图18,耦合良好并保持声束方向与试块侧面平行,前后移动探头,使R100圆弧面的一次回波辐度最高,将其衰减至满辐度的50%,此时衰减器的读数为S2;则斜探头的相对灵敏度S为:S=S2-S0dB (14)图18 斜探头相对灵敏度测量3小角度纵波探头测量方法同横波探头的情况,只不过基准反射面由CSK-1A试块上的R100圆弧面改为DB-H2试块上Φ3×80横孔,如图19所示;前后移动探头使孔波达到最高,并用衰减器将其调至满刻度的50%,记下此时衰减器的读数S3,则S3-S0;的差值即为被测探头的相对灵敏度;测量时注意保持探头侧面与试块侧面平行;图19 小角度探头相对灵敏度测量7 空载始波宽度测量1直探头空载始波宽度a探头置1号或CSK-1A试块高100mm的探测面上,使底波B1;和B2的前沿分别对准水平刻度的5和10,即水平刻度全长代表钢中纵波声程200mm;b探头移置DB-PZ20-2、试块或CS-1-5试块上,仪器的调整度置灵敏度余量测试状态,将探头置于空气中,擦去探头表面油层,水平刻度的“0”点至始波后沿与垂直刻20%线的交点所对应的水平距离Wo即为空载始波宽度用钢中纵波的距离表示,如图20所示;2斜探头空载始波宽度a连接直探头并将其置于1号或CSK-1A标准试块高91mm的探测上,调节“扫描”和“移位”旋钮,使底波B1、B2的前沿分别对准水平刻度的5和10,并使第二次底波辐度为垂直刻度的50%~80%;此时水平刻度线全长代表钢中横波声程100mm;也可用被测斜探头直接探测CSK-1A试块上R50和R100圆弧面,调节仪器“扫描”和“移位”旋钮,使两波的前沿分别对准水平刻度的5和10,水平刻度线全长代表钢中横波声程100mm;b换上待测斜探头,仪器调整度置斜探头相对灵敏度测试状态,在声束方向与试块侧面保持平行的条件下前后移动探头,使1号或CSK-1A试块R100圆弧面的第一次回波最高,调节衰减器使回波辐度为垂直刻度的50%,然后调节水平旋钮,使回波前沿对准刻度“10”;c将探头置于空气中,擦去探头表面油层,使仪器增益40dB,则水平刻度的“0”点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离W o,即为该探头空载始波宽度,用钢中横波传播距离表示;3小角度探头始波宽度a调节水平刻度全长为钢中纵波200mm调节方法与直探头同;b仪器的调整度置小角度探头相对灵敏度测试状态,并按表4调节中3×80横孔的最高回波至水平刻度的计算值位置;将探头置于空气中,擦去探头表面油层,使仪器增益30dB,则水平刻度的“0”点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离W o,即为该探头空载始波宽度,用钢中纵波的传播距离表示;c因调整量小,测量时可将Φ3×80孔波的前沿一律对准水平刻度4.1格;表48、斜探头声轴偏斜角测量将被探头置于1号试块厚度为25mm的表面上;若探头的K值≤l时,测试时用试块上端面,如图23.a所示;若探头的K值>l,则测试时用试块的下端面,如图23.b上所示;前后移动和左右移动探头,使所测端面回波辐度最高,然后用量角器测量探头侧面与试块侧面法线的夹角θ;即为被测探头的声轴偏斜角,读数精确到;。

EN 12668-3-2000 超声波检验设备的特性和鉴定-组合性能

EN 12668-3-2000 超声波检验设备的特性和鉴定-组合性能

范围本标准描述了通过使用适当的标准试块鉴定超声波设备工作性能的方法和验收:BS EN 12668-32000537 依次将底波调节到几乎相同的高度,如满屏高的。

每个底波的前沿应对准相应80%的刻度线。

当第一次和第六次底波定位以后,在相同屏高测量时,校核其离理想位置的偏差是否在规定允差范围内。

表组合性能检验1 条款标题 校核频次 3.2.1时基线性每周*3.2.2仪器的增益线性每周*3.3.1探头入射点每日3.3.2折射角每日3.4.2物理状态和外部形态每日3.4.3灵敏度和信噪比每周*3.4.4脉冲持续时间每周*注:简化了每周校核的记录,并将更便于使用者在每次使用设备时付诸实践*3.2.1.3允差 线性偏差不得超过全屏宽度的±。

2%3.2.1.4校核频次 对当周使用的超声波探伤仪应至少每周检验一次。

3.2.2 增益线性3.2.2.1 概述 本校核是监控影响设备增益线性的两大特性的组合结果,即,放大器线性以及增益控制器校准精度。

任何标准的校准试块均可用于此项检验,如与后续检验中将使用的探头联合测试则更好。

校核线性应将超声波探伤仪的控制开关置于后续检验要使用的位置(频率、范围、脉冲能量等等)。

为避免抑制的变化和增益控制的移动,应将开关置于“断”。

3.2.2.2 规程 将探头压在标准试块上以获取一个来自小反射体(如试块中的孔)的EN 279635mm 反射信号。

调节增益,将信号置于满屏高的位置,并标注增益控制器的校准值(),然80%dB 后增加的增益,并确认信号幅度增加到大于满屏高()。

将增益恢复到其初始2 dB 101%值,然后再减少。

确认信号幅度降至大约屏高的。

连续三次,以每次降的方6dB 40%6dB 式降低信号,并确认信号幅度分别降至屏高的、、。

20%10%5%3.2.2.3 允差 合格的信号幅度应限制在表所给的范围内。

2 :BS EN 12668-32000538表增益线性的验收范围2增益()dB预定屏幕高度()%范围+2101不少于95%080(参考线)-640~37%43% -1220~17%23% -1810~8%12% -245可见的,低于8%3.2.2.4 对数放大器 如果超声波探伤设备使用的是对数放大器则应根据制造厂的说明书,将, 3.2.2.1~3.2.条的内容替换为对设备输入输出幅度精确度的全面检验。

实验六超声波探伤仪使用及性能测试

实验六超声波探伤仪使用及性能测试

超声波探伤仪的使用和性能测试一、实验目的1、认识超声波探伤仪的工作原理。

2、掌握超声波探伤仪的使用方法。

3、掌握仪器主要性能如水平线性、垂直线性、动向范围、分辨力、矫捷度余量等的测试方法。

二、实验原理目前在本质探伤中,广泛应用的是 A 型脉冲反射式超声波探伤仪。

这种仪器荧光屏横坐标表示超声波在工作中的流传时间(或流传距离),纵坐标表示反射回波波高。

依照荧光屏上弊端波的地址和高度能够判断弊端的地址和大小。

A型脉冲反射式超声波探伤仪由同步电路、发射电路、接受放大电路、扫描电路(又称时基电路),显示电路和电源电路等部分组成。

其工作原理如图 1 所示。

TBF同步电路扫描电路发射电路接收放大电路工件探头电源弊端图 1 A 型脉冲反射式超声波探伤仪的电路方型图电路接通今后,同步电路产生脉冲信号,同时触发发射电路、扫描电路。

发射电路被触发今后高频脉冲作用于探头,经过探头的逆电压效应将信号变换为声信号,发射超声波。

超声波在流传过程中遇到异质界面(弊端或底面)反射回来被探头接受。

经过探头的正压电效应将声信号变换为电信号送至放大电路被放大检波,尔后加到荧光屏垂直偏转板上,形成重叠的弊端波 F 和底波 D 。

扫描电路被触发今后产生锯齿波,加到荧光屏水平偏转板上,形成一条扫描亮线,将弊端波 F 和底波 D 准时间张开。

A型脉冲反射式探伤仪型号各异,但主要旋钮和调治方法基真同样。

1、扫描基线的显示与调治【电源开关】-置“开”时,仪器电源接通,面板上电压指示红区,约 1 分钟后,荧光屏上显示扫描基线。

【辉度】-调治扫描基线的光明程度。

【聚焦】与【辅助聚焦】-调治扫描基线的清楚程度。

【垂直】-调治扫描基线在垂直方向的地址。

【水平】-调治扫描基线在水平的地址。

一般不用调。

2、工作方式的选择单探头-一只探头兼作发射和接收。

双探头-一只探头发射,另一只探头接收。

3、探测范围的调治【粗调】或【深度范围】-依照工件厚度粗调探测范围。

【微调】-微调探测范围,微调与【脉冲移位】( CTS-32)配合使用,可按必然比率调节扫描基线。

超声波仪器探头性能指标及其测试方法

超声波仪器探头性能指标及其测试方法
图 3 水平线性误差测量
图 4 水平线性误差测量
(3) 在具有“扫描延迟”功能的探伤仪中,按 (2) 条的方法,将底波以前沿 对准水平刻度“ 0”,底波 B6 前沿对准水平刻度“ l0 ”,然后读取第二 至第五次底波中之最大偏差值 Lmax,再按式 (3) 计算水平线性误差△ L
(4) 在探伤仪扫描范围的各档级,至少应测试一种扫描速度下的水平线性 差。
a=x2—2xl 5 斜探头折射角的测量
测试设备: a) 探伤仪; b)l 号标准试块; C)刻度尺。 测试步骤 将探头置于 1 号标准试块上,当 K≤1.5 时,探头放在如图 10(a) 位置, 观察 Φ50mm孔的回波;1. 5<K≤2.5 时,探头放在如图 10(b) 位置,观察 Φ50mm 孔的回波;当 K>2.5 时,则观察图 10(c) 的 Φ1.5mm横通孔的回波。前后移动
口 fe=(fe-f 0) /f 0×100%……………… (7) 式中: fe 回波频率误差,%; f0 ――探头的标称频率。
图 8 探头回波频率测量
(2) 斜探头回波频率的测量 仪器连接及调节度与直探头相同,将探头置于 面的最高回波。其余步骤与直探头相同。
1 号试块上探测 R100圆弧
2、分辨力 ( 纵向 ) 测量 (1) 直探头分辨力的测量
小角度探头 ≤15%
≥50dB ≥16 dB
不动车专用
≥75dB
一、超声波探伤仪主要性能测试方法
1、电噪声电平( %)
水平线性 误差 ≤ 2%
折射角误 差
≤ 4% ≤2°
探测范围 ≥3.6m
仪器灵敏度置最大,发射置强,抑制置零或关,增益置最大,衰减器置
“ 0”,深度粗调、深度微调置最大。读取时基线噪声平均值,用百分数表示。

超声波清洗机验证.

超声波清洗机验证.

AQCL100型立式超声波清洗机安装确认方案姓名部门签名/日期编制审核批准确认小组成员及职责姓名单位及部门职务本验证工作中职责1.目录。

32.设备确认的概念。

43.依据。

44.设备的描述。

45.测试用仪器仪表的确认。

46.安装确认检测(IQ-检测)。

5 IQ1鉴定/测试要求的特定技术文件。

5 IQ2鉴定/测试生产商的技术文件。

6 IQ3鉴定/测试GMP要求和应用。

7 IQ4鉴定/测试安装。

8 IQ5鉴定/测试电器零件和仪器的安装。

97.检测结果。

108.附件。

119.IQ-证明。

121.设备确认的概念本确认计划阐述了所有必需的安装确认检测,标明了接受标准,并记录了检测结果。

2.依据《药品生产质量管理规范》《药品生产质量管理规范实施指南》《药品GMP认证检查评定标准》《药品生产验证指南》3.设备的描述AQCL100型立式超声波清洗机适用于制药企业对安瓿瓶或类似小型玻璃瓶的洁净清洗。

本机既能单机使用,也能与其他单机组成联动线使用。

设备安装在主设备车间的100,000级洁净区车间,设备的主要组成部分为:主体、进瓶网带、管路系统、注水槽、电控箱(含操作面板)。

4.测试用仪器仪表的确认所有用于测试的仪器仪表均应有确认,并把确认结果记入下表,并作出评价。

检测设备名称测量范围校正单位有效期结果5.安装确认检测(IQ-检测)IQ1 鉴定/测试要求的特定技术文件检测Test 接受标准Acceptance Criteria 测试方法Test Method是否符合Result平面布置图平面布置图计划了超声波立式清洗机的布置方案。

现场检测设备的安装与平面布置图一致;平面布置图必须作为IQP的附件是(),否()仪表清单仪器图包含了所有需要校准的仪器。

根据编号清单(包括数据表)检查仪表清单,检查结果必须作为IQP的附件是(),否()SOP 有操作、清洗和维护的SOP草案检查SOP草案是(),否()偏离说明结论确认人/日期复核人/日期IQ2鉴定/测试生产商的技术文件检测Test 接受标准Acceptance Criteria 测试方法Test Method是否符合Result说明书有顺序和内容描述正确的说明书查看技术文件,顺序和内容描述必须正确,说明书在工程部保存完好。

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波形水平像素
波形垂直像素
响应时间
名称 频率响应 相对灵敏度 脉冲响应 电阻抗 距离波幅特性 声束扩散特性 入射点 折射角 声轴偏斜角 零点延时 双峰
内容
名称 灵敏度余量 水平分辨力 信噪比 回波频率
内容
抑制为零,至少保留30dB衰减余量。
在试块上找到一个波幅刚到80%的稳定回波,位 于中间水平位置,以此时的衰减器或增益为0dB。
上升时间
反冲幅度
脉冲宽度
信号接收 频率响应
等效输入噪声
标定衰减器精度
垂直线性
水平线性
数字仪器 数字仪器水平线性
内容
名称
内容
串扰衰减
脉冲波形(时间&频率)
中心频率,带宽
脉冲回波灵敏度
距离幅度曲线
阻抗静电容
探头入射点
声束角
扩散角
声束轴线偏移
偏向角
焦距,近场
焦点宽度
焦点长度
名称
内容
时基线性(水平线性) 仪器
频率响应 距离波幅曲线 斜探头入射点和前沿长度 折射角和K值 声轴的偏移和声束宽度 双峰现象的检查
直探头灵敏度余量测试
记录10%噪声时的增益或衰减器读数。 记录200mm深平底孔回波50%时的增益或衰减器读数。 相减得灵敏度余量。
斜探头灵敏度余量测试
记录10%噪声时的增益或衰减器读数。 记录R100mm弧面回波50%时的增益或衰减器读数。 相减得灵敏度余量。
调衰减器或增益,-2dB到24dB(衰减)或2dB到 -24dB(增益),每2dB记录波高比满屏高的百 分数。
比较理论波高计算偏差,求出最大正偏差和最大 负偏差的和。
探头稳定对准25mm大平面。 微调扫描范围和延时,使第一次回波B1和第六
次回波B6的前沿分别对准水平零刻度和满刻度。 读出并记录B2,B3,B4,B5前沿的水平位置。 计算偏差和最大相对误差。
始脉冲宽度测试
设定灵敏度和扫描延时、扫描范围。 读出始脉冲宽度
盲区测试
盲区试块 IIW或CSKIA试块
直探头远场分辨力 斜探头远场分辨力
信噪比 回波频率
项目
名称
整机性能 物理状态与外观条件 稳定性 长时间工作稳定性
显示抖动
电压变化稳定性
脉冲发射 发射电压
仪器性能 探头性能 组合性能
项目
名称
内容
脉冲发射 重复频率
脉冲频谱
发射电压
上升时间
下降时间
持续时间
项目 接收及显示
名称
内容
垂直线性
频率响应
噪声电平
最大使用灵敏度
衰减器准确度
垂直偏转极限
垂直线性范围
动态范围
水平线性
水平偏转极限
水平偏转范围
项目 数字仪器特性
名称
内容
采样频率
采样精度
采样误差
仪器增益线性(垂直线性) 仪器
探头入射点
探头
声束折射角
探头
灵敏度和信噪比
组合
脉冲宽度
组合
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