整机可靠性测试规范讲解
整机可靠性试验规范V01
文件制/修订记录1.目的本试验大纲规范远特公司前装市场车载影音产品在手工样件、DV、PV、SOP各阶段可靠性试验项目。
2. 适用范围本试验大纲覆盖各产品线验证各阶段可靠性试验项目，本试验大纲不仅仅适用12V系统产品，同样覆盖24V系统的产品。
3. 术语和定义整机可靠性：按GB3187-82《可靠性基本名词术语》定义可靠性：在规定的条件和规定的时间内，完成规定功能的能力。
4. 职责4.1中试工程实验组：负责本可靠性试验大纲正确性及覆盖率，执行试验发布试验报告，负责量产阶段可靠性试验失效分析。
负责外协实验室确定，并保证试验准确性。
4.2中试工程项目组: 负责PV样机可靠性验证试验准备、送样、协助DV阶段失效分析及主导PV阶段失效分析，负责发布PV及SOP阶段ECN。
4.3终端研发中心/T终端部：主导手工样件、DV阶段故障定位、分析解决并负责发布ECN。
4.4品质部：负责SOP阶段样机可靠性抽样送检，主导不合格品的纠正预防措施单及8D报告等品质管理工具实现品质归零。
4.5 项目经理：按产品开发计划，按时按量提供手工样件、DV、PV样件到中试部实验室。
5. 作业内容5.1 手工样件阶段:5.1.1项目经理提供手工样件到中试部实验室。
5.1.2 中试部实验组负责按如下附件进行试验：5.1.2.1主机厂长安手工样件可靠性试验大纲详见附件一。
5.1.2.2主机厂长安铃木手工样件可靠性试验大纲详见附件二。
5.1.2.3主机厂吉利手工样件可靠性试验大纲详见附件三。
5.1.2.4主机厂广汽手工样件可靠性试验大纲详见附件四。
5.1.2终端研发中心/T终端部主导本阶段故障定位、分析并解决，中试部项目组协助，中试部实验组负责验证，并发布试验报告。
5.1.3终端研发中心/T终端部负责发布本阶段ECN。
5.2 DV样件阶段:5.2.1项目经理提供DV样件到中试部实验室。
5.2.2 中试部实验组负责按如下附件进行试验：5.2.2.1主机厂长安DV样件可靠性试验大纲详见附件五。
整机可靠性测试规范
1、制定修改履历:
2、传阅及培训:
1、目的：
整机可靠性测试规范的目的是尽可能地挖掘由设计，制造或机构部件所引发的机构部分潜在性问题，在大批量生产之前寻找改善方法并解决上述问题点，为正式生产在产品质量上做必要的报证•
2、范围:
普莱达加工厂所有产品•
3、职责:
3.1由PMC安排试产，并提供机器及各配件（包括电池，电池盖、耳机、数据线、充电器等，且必须要求
是出货配件）。
3.2品管部负责向PMC借机器及各配件，然后按照可靠性测试实验方法及条件进行测试，同时针对测试过
程中出现的不良现象及时记录在《可靠性实验报告》内。
在可靠性实验完成后，由品质部将《可靠性实验报告》存档，且发送到各部门、总部或客户进行质量评估。
3.3可靠性测试中不合格项由工程部负责分析，并提出解决方案。
4、作业流程
5.测试样品需求数
总的样品需求为10pcs
6.测试项目及要求
7 可靠性实验项目
以上除了特殊环境要求以外，其它实验均在室温下进行。
手机可靠性全面检验规范
4)实验结束后将样机从温度冲击箱中取出，在室温（20-25°C）恢复2小时后进行外观、结构、功能及内存检查。
5)对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
样机外观，结构，功能和内存符合要求。
2
湿热储存
3PCS
验证样机湿热环境下的材料性能，结构配合，装配、制成工艺等可靠性．
1）开关机正常，无不开机与自动掉电现象。
2）手机各项功能正常，外壳及装饰件无变形、破裂、翘起、表面喷涂、电镀无裂纹;电池外观应不变形、不爆裂、不起火、不冒烟或不漏液，内部结构应无松动以及不得有与试验前预检不一致的现象.
4
高温工作
4PCS
验证产品在高温下的工作性能，暴露潜在的不良缺陷．
高低温湿热交变试验箱－GDJS-100C电热恒温鼓风干燥箱-DHG-9140A
2）对于导电材料之间的缝隙，不测试空气放电，对于导电材料与绝缘材料之间的缝隙，需要测试空气放电。
3)将样机放置静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态（样机与绝缘垫边缘距离至少2英寸；两个样机之间的距离也是至少2英寸），装上电话卡，手机处于通话状态.（注：所用电话卡必须是能正常通话的测试卡），正常测试使用产品配套充电器和数据线，实验室配备参考充电器和数据线选择过CE认证，ESD测试通过+/-８kV，数据线选择带屏蔽层数据线。
TINNO整机可靠性测试标准
企业标准
TINNO-WI-NPI-2007
整机可靠性测试标准
文件版本：V1.0
拟 制： 标准化： 审 核： 批 准：
李明
2007-XX-XX 发布
2007-XX-XX 实施
深圳天珑移动技术有限公司发布
CONTENT
一 目的
二 编制依据
三 执行原则
四 适用范围
五 术语、定义
六 主要职责
七 可靠性测试程序
1. 加速寿命测试（ALT） 1.1 室温下参数测试（Parametric Test） 1.2 温度冲击测试（Thermal Shock） 1.3 跌落试验（Drop Test） 1.4 振动试验（Vibration Test） 1.5 湿热试验（Humidity） 1.6 静电测试（ESD） 1.7 室温下参数测试（Parametric Test）
26 IEC 68-2-68 28 IEC 68-2-18/IEC529 29 IEC 68-2-70:1995
30 IEC 68-2-9:1975 32 ISO 1518 33 D/T 1215-2002
电工电子产品环境试验第一部分：总则 移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法 移动通信调频无线电话机可靠性要求及实验方法 移动通信设备安全要求和试验方法 移动通信调频无线电话机质量评定规则 电工电子产品环境试验术语 可靠性、维修性术语 电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级 电工电子产品环境试验第 1 部分：实验方法 试验 A：低温 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 B：高温 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 N：温度变化 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Ed：自由跌落 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Fc 和导则：振动 电工电子产品基本环境试验 试验 Ca：恒定湿热试验方法 电工电子产品基本殊死搏斗试验规程试验 Ka：盐雾试验方法 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Eg：撞击 弹簧锤 信息技术设备的安全
整机可靠性测试标准
外购整机可靠性测试标准
加速寿命测
☆测试方法：
溶液含量：
600立方厘米
将手机安装电池、电池盖以及塞子等处于
关机状态放在盐雾试验箱内，样机用绳子悬
挂起来或斜放，以免溶液喷洒不均或有的表
面喷不到。
一台天线朝下，一台天线朝上。
样机需立即被放入测试箱。
实验周期是
个小时。
实验过程中样机不得被中途取出，
如果急需取出测试，要严格记录测试时间，
该实验需向后延迟相同时间。
取出样机，将手机和电池分开放置
进行常温干燥，对其进行外观及功能检查。
测试
试。
整机环境及可靠性试验测试要求
将手机设置成开机状态直接或借助安装夹具固定在冲击台上，在三个互相垂直轴线的每一个方向上施加3次连续冲击，总共18次，进行外观、机械和电性能检查
手机各项功能正常，外壳无变形、破裂，显示屏无破碎
碰撞试验
加速度：100m/s2 (10g)碰撞脉冲持续时间：16ms；每分钟碰撞次数：40~80
5台
在三个互相垂直的轴线方向上，垂直方向400次，水平及侧面各300次，共1000次，进行外观、机械和电性能检查
湿度试验
40oC，90~95%
将手机设置成关机状态，放入温度循环实验箱内的架子上，要确保手机被固定好，以防止实验中产生的水积聚在手机表面。持续16个小时之后取出，恢复4小时，然后进行外观、机械和电性能检查。将手机设置成开机状态放入实验箱。持续8个小时之后取出，恢复4个小时进行全功能及信号测试以确保电性能和机械性能完好。
寿命试验/耳机孔塞子拉拔试验
将耳机孔塞子塞在手机耳机插孔内，然后拔出，反复1000次
要求耳机塞子无变形现象，塞入手机耳机插孔时不会松动，跌落试验时塞子不会掉下来。
可靠性试验
测Hale Waihona Puke 环境样机数量试验方法
试验标准
常温试验
25° C常温
5台
将手机设置成开机状态放置于常温状态下，然后进行初始检查
振动试验
振幅：0.38mm；振频：10~30Hz；振幅：0.12mm；振频：30~55Hz；时间：3小时试验设备：振动实验台试验
在垂直方向以5Kg正面平压手机视窗，受力均匀，并持续5秒，平压3次
LCD无裂开现象，且显示正常
机壳试验/吊孔拉力试验
将吊绳栓在手机吊孔内，然后拉住吊绳的尾端，以5Kg的力拉拔，持续10秒；以每秒2圈的速度甩动手机60次。
XXX公司手机可靠性测试检验规范(机械部分)
XXX公司手机可靠性测试检验规范（机械部分）1. 引言手机是现代人生活中不可或缺的工具，手机的质量和可靠性直接影响用户的使用体验和满意度。
为了保证手机的性能稳定和持久性，XXX公司制定了本文档，对手机的机械部分进行可靠性测试和检验。
本文档旨在规范测试流程，并确保手机在各项机械指标上符合相关要求。
2. 测试目标本文档所规定的测试和检验目标主要包括以下几个方面：•确保手机在正常使用情况下，机械部分（如机身、按键、接口等）的可靠性和耐用性。
•验证手机机械部分在各种环境下（如高温、低温、湿度等）的性能表现和稳定性。
•检测手机在机械冲击、震动、跌落等极端条件下的抗损耐久性。
3. 测试方法3.1 机械强度测试3.1.1 机械冲击测试采用冲击试验机对手机进行冲击测试，测试方法按照GB/T2423.10-2008《电工电子产品环境试验part2：试验方法试验Eh: 机械冲击（冲击脉冲）》，测试参数设置如下：•冲击方向：垂直于手机表面•冲击次数：10次•冲击幅度：按照产品设计要求3.1.2 震动测试采用振动试验机对手机进行震动测试，测试方法按照GB/T 2423.10-2008《电工电子产品环境试验part2：试验方法试验Fc: 震动（振动）》进行，测试参数设置如下：•频率范围：5Hz-2000Hz•加速度：20m/s²•持续时间：30分钟3.1.3 跌落测试将手机从不同高度（如1米、1.2米、1.5米）处自由落下，共进行10次跌落测试。
3.2 环境适应性测试3.2.1 高温环境测试将手机放置于高温箱中，设置温度为45°C，温度保持时间为4小时，测试后恢复至常温，观察手机在高温环境下的性能表现。
3.2.2 低温环境测试将手机放置于低温箱中，设置温度为-10°C，温度保持时间为4小时，测试后恢复至常温，观察手机在低温环境下的性能表现。
3.2.3 湿度测试将手机放置于湿热箱中，设置湿度为85%，温度为40°C，湿度保持时间为48小时，测试后恢复至常温和湿度，观察手机在湿度环境下的性能表现。
整机可靠性测试标准
手动试验 滚筒试验机 SIM/SD卡 样品整机
Y
Y
1000次
将SIM/SD卡座组装成整机，插入SIM/SD卡再取出，累计 1000 次。每插拔100 次开机检查一次，手机不能有不识卡现象，测 SIM卡推拉开关正常，手机读卡功能使用正常 试完毕手机功能应正常。插拔频率不超过30 次/分钟,插入拔出 为OK 算一次 使用拉拔计将被子测物件分离并读下此时拉拔力 内螺钉：2次，装配力矩装卸 外螺钉：5次，装配力矩装卸 拉拔力在规定范围内为OK 滑丝，螺钉断裂不合格
在-10～55℃试验条件下，产品的各项射频指 标正常。 在-30～60℃试验条件下，产品的功能正常。
高低温试验机
全面检查（功能与外观），试验前后是否一致 静电试验机
马达振动疲劳测 试 性能 测试 扬声器寿命测试
Y
Y(3G)
采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用4.2V 直流电源供电 振动正常，无杂音为OK 方式，让马达长时间振动状态，试验时间不少于72H。 采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用4.2V 直流电源供电 方式，将试验样机设置成长时间播放状态（采用播放MP3，循环 功能正常为OK 连续播放，音频较高的歌曲），最大音量连续播放时间不少于 72H 用声源对准每个手机进行音频回环，检验受话寿命。要求试验 时间不小于72小时。
Y
Y
96h
长时通话试验
Y
Y
N
试验结束后手机受话应正常
防水
防尘
TUV
Y
ROHS
显示冲击
N
SAR
N
场测
N
天线性能
Y
杂散
Y
振动正常无杂音为ok扬声器寿命测试yy96h采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用42v直流电源供电方式将试验样机设置成长时间播放状态采用播放mp3循环连续播放音频较高的歌曲最大音量连续播放时间不少于72h功能正常为ok长时通话试验yyn用声源对准每个手机进行音频回环检验受话寿命
平板电脑可靠性测试规范
3) 电气性能：通过综测仪或其它测试仪器进行检测得到的数据信息；
4) 实验室条件：
温度：15℃～35℃
湿度：25%～75% R. H
大气压：86～106Kpa
平板电脑可靠性测试规范
文件编号 版本号
V1.0
5. 测试内容
5. 1 环境适应性
5. 1. 1 低温存储
5. 1. 1. 1 测试目的：验证产品在低温下存储的适应性
图 2 高温存储‐剖面图 5. 1. 2. 3 样机数量：3 台 5. 1. 2. 4 判定标准：样机的外观结构、基本功能及电气性能均正常。
平板电脑可靠性测试规范
文件编号 版本号
V1.0
5. 1. 3 低温工作
5. 1. 3. 1 测试目的：验证产品在低温下工作的适应性
5. 1. 3. 2 测试方法：
0. 5 小时，并观察是否有充电指示，确定低温下充电截止的温度，如果‐10℃能正常充电，电流正常，则继 续降低温度至‐15℃进行测试，若‐15℃下仍能充电，则不再继续降低温度测试。即判定低温充电保护测试 FAIL。 3) 然后依次温度上升到 55℃和 60℃，并插入配套电源适配器（此时关闭外部电源，不充电）。待温度稳定后 保持 2 小时后开启电源进行充电，每个温度下各充电 0. 5 小时，并观察是否有充电指示，确定高温下充电 截止的温度； 如 60℃下仍能充电，则不再继续升高温度进行测试。 5. 1. 7. 3 样机数量：3 台 5. 1. 7. 4 判定标准：低温充电的截止温度：‐10～‐15℃，高温充电的截止温度：55～60℃。
1) 测试前在实验室条件下检查样机的外观结构、基本功能及电气性能，将样机以不包装关机状态放入恒温恒湿
箱中；
2) 启动实验设备，使箱内温度以不大于 3℃/min 的速度逐渐上升到 60℃的存储温度，保持该存储温度 24h，
QE可靠性试验
环境箱
类别 试验项目
试验目的
条件要求
试验设备
附着力
环境气 候
耐脏污 镜片吊重
喷涂附着力测试
百格刀或刀片刻出100个1 平方毫米的方格，用3M898 号胶带纸用力粘贴在方格 面，1分钟迅速以90度撕脱
3次
百格刀，3M898
验证手机外观面耐脏污能力
外壳均匀涂抹黄泥，放置 4H
无
测试镜片双面胶的粘接性能
SIM卡插拔 手势传感
试验目的
条件要求
验证T卡座的结构可靠性、软件识别 T卡稳定性和手机对T卡的兼容性
以10－15次/min的速 度反复1000次，每插 拔50次需开机对TF卡
进行读写功能测试
试验设备
无
验证高、低温环境下连续长时间播 放视频文件对整机可靠性的影响
高温老化40℃3天→低 温老化-5℃3天为1个 循环，正常测试2个循
测试手机显示屏和摄像头、 灰尘试验8H+恢复6H+温度冲击 沙尘试验机、冷热冲
光感区域的防尘性能
24H+恢复6H+灰尘试验8H
击试验机
验证手机的防水性能
转盘速度为10（转速为1min， 正、反顺时针各1圈），滴水量 为3mm/min，滴水高度≤20cm，
测试2.5min； 测试顺序为上、下、左、右，共 测试四个，每个面2.5min，共测
播放时长为30S
测试输出到耳机的音频信号指标是否满 拷入MP3测试资源，配
足要求
套电池（电压4.0V以上）
测试金属件对手机信号的影响 测试手机指南针是否准确
主叫/被叫各10通，且各 接通5通，每次通话约
30s
方位角精度，每隔45°角 与机械指南针对比角度
手机整机可靠性测试
测试项目：I/O充电口插拔试验
实验目的：检验手机长期插拔充电器、数据线对相关器件的影响
实验设备：拔插寿命测试机或手工
测试样品数量：2sets
判定标准:不允许手机表面存在任何程度的爆裂，离壳及变形，但允许轻度的磨损，摇动手机不允许出现任何的异常的响声，不允许出现掉电、不识卡（SIM卡、存储卡等）现象。
测试项目:滚筒跌落试验
实验目的:确定手机频繁跌落到硬表面时，经受重复跌落的适应性
实验设备:滚筒跌落测试机、综测仪
测试样品数量:2sets
测试要求、内容：滚筒长度50CM，频率：5转/分钟，即手机跌落10次/分钟；次数：旋转250转，即手机跌落500次；每旋转10转，需要检查一次试验样机的外观和基本功能，按外观结构检查T基本功能测试TRF测试T开壳检查顺序进行。每跌落100次,进行外观检查，有部件松脱，可复原装回再进行下一次试验；每跌落100次进行基本功能测试，记录外观结构损伤地方和功能异常项目。试验结束进行RF测试。
手机整机可靠性测试项目规划（手机测试规范案例示范）
1.
测试项目:高低温充电测试
实验目的:检验手机在高低温环境条件下充电的适应性
实验设备:恒温恒湿试验箱
测试样品数量:4sets
测试要求、内容：被测样机不包装、充电状态，以正常位置放进试验箱内。实验温度-1O°C~45°C，每隔5C进行1小时充电测试，中间冷却时间为2小时。
实验设备:跌落实验机
测试样品数量:4sets
测试要求、内容：被测样机不包装、不装附件、处于通电待机状态。从1m高度（如果LCM面积超过手机表面积60%，跌落高度为50CM）,初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上，每面跌落2次，翻盖手机加跌翻盖打开2面，8面共计16次。试验结束，取出被测样机进行试验后检查。
家用空调主板整机可靠性测试标准
家用空调主板整机可靠性测试标准目录1范围 (2)2要求 (2)3试验 (2)3.1快速升降电压 (2)3.2电冲击 (3)3.3温度升降 (3)3.4启动性能 (4)3.5电压极限运行 (5)3.6最大频率运行 (6)3.7元器件可靠性试验 (6)3.8元器件表面温升 (7)3.9非工况长期运行 (8)附录 (9)1范围本标准规定了家用变频空调器主板整机的可靠性的试验方法和试验要求。
本标准适用于家用变频空调器14000w以下一拖一产品。
2要求2.1在各频率点，空调器应能正常运行。
2.2机组上台测试时使用的通讯线长度不应短于30m，且必须与被测机所使用的通讯线型一致。
2.3试验中未规定室内风机转速要求的，均按最高运行转速。
2.4试验时一般需要测试并记录系统各点压力及温度（至少应测量换热器管温，及压缩机吸、排气温度及吸、排气压力）注1：测量管温，应布置在系统感温包处。
注2：测试升降电压、电冲击、电压极限、元器件可靠性、长期可靠性试验时，对于系统各点温度和压力数据不作强制记录要求。
2.5试验中（除元器件可靠性试验第C项）压缩机排气温度不应超过120℃（只针对主板项目无要求）。
2.6分体式空调室内机组与室外机组的连接管一般为5m或按设计长度。
如客户指定要求，则按客户要求执行。
2.7双额定电压的产品，则电压测试项目时，按高电压进行测试，产品中注明两个电压均需要测试的除外。
如有特殊要去，应在开发任务书中注明。
3试验3.1快速升降电压3.1.1试验要求试验时，空调器在额定电压的75%～115%（单相电源不超过265V）间突变或波动时应能保持正常运行。
在每一次的开机操作之后，空调器均能顺利开启运行。
在试验过程中允许出现恢复性的保护，不允许出现器件损坏。
整个试验过程中，在任何1h内，仅允许出现3次系统瞬时最高压力高于《压缩机规格书》规定的最高压力，且每次持续时间不超过1min（仅主板项目，不执行该要求）。
3.1.2试验方法a）分别按表1低温制热、高温制冷工况稳定运行30min后，将电源电压由额定电压调升到115%（但单相电压不应超过265V），一分钟后调回到额定电压，过一分钟后在调降到75%，一分钟后调回到额定电压（试验过程中如出现可恢复性保护，恢复运行后需等功率恢复稳定后，再进行下一次电压调整），按以上要求在进行两次（共试验3次，每次电压调整要求在2秒内完成）。
智能机整机可靠性测试标准——V1.3
6
低温工作
2PCS
7
盐雾试验
2PCS
8
沙尘试验
1、手机正常使用状态（各处塞子塞上，装电池开机），正反面及侧面分别朝 1、检验手机结构密闭 上状态；（如侧面无塞子、侧键等则不做）； 性； 2、沙尘组成：300目滑石粉和石英砂的混合物，风速≤3m/s、灰尘浓度：风速 2、灰尘侵入对手机功 下可以被完全吹开，不会行成累积、温度25±2℃、持续时间4h； 能寿命的影响 3、试验结束后待待沙尘完全沉降后再取出样机，清理表面灰尘后检查；
20
I/O充电口 插拔试验
2PCS
21
USB塞插拔 寿命
检验USB塞与手机I/O 耳机和充电器二合一则寿命≥3000次；如不共用，则耳机插拔寿命寿命≥2000 口的配合及USB塞的使 次；充电器插拔寿命≥2000次； 用寿命
2PCS
22
检验电池/电池后盖的 电池/电池 装配寿命； 后盖插拔试 检验手机长期插拔电 模拟用户正常使用插拔电池/电池后盖1500次； 验 池对相关器件的影 响； SIM卡/TF卡 检验SIM卡/TF卡结构 插拔寿命 稳定性 背光点亮寿 检验手机背光灯的寿 命试验 命 指示灯寿命 检验手机指示灯的寿 试验 命 1）插拔SIM卡/TF卡500次；每100次开机检验功能OK； 2）测试完成后做1米跌落、10cm重复跌落不应出现掉卡不量； 将试验样机设置成EL背光长时间点亮状态，试验时间不少于48小时。断续点亮 状态试验可伴随翻盖寿命试验同时进行。每2小时检查EL背光显示情况 将试验样机设置成指示灯长时间点亮状态，试验时间不少于120小时。断续点 亮状态试验可伴随按键寿命试验同时进行。每2小时检查LED点亮情况
2PCS
19
点笔插拔测 检验点笔的使用寿命 试 检验手机长期插拔充 电器对相关器件的影 响 检验充电器、耳机、 数据线与手机的匹配
安卓智能手机整机可靠性测试标准
手机整机可靠性测试标准目录0.短语和参考文献 (3)0.1缩略语 (3)0.2术语和定义 (3)0.3参考文献 (3)1.目的 (3)2.编制依据 (4)3.适用范围 (4)4.术语，定义 (4)5.职责描述 (4)6.可靠性测试（ART）标准 (5)6.1加速寿命测试（Accelerated Life Test） (5)6.1.1室温下功能测试（Functional Test） (5)6.1.2跌落测试（Drop Test） (5)6.1.3温度冲击测试（Thermal Shock） (5)6.1.4湿热测试（Humidity Test） (5)6.1.5振动测试（Vibration Test） (6)6.1.6静电测试（ESD Test） (6)6.2气候适应性测试（Climatic Stress Test） (7)6.2.1室温下参数测试（Parametric Test） (7)6.2.2高温/低温工作测试（Parametric Test） (7)6.2.3湿热测试（Parametric Test）.............................................................错误！未定义书签。
6.2.4高温/低温存储功能测试（Functional Test） (7)6.2.5灰尘测试（Dust Test） (8)6.2.6盐雾测试（Salt Fog Test） (8)6.3结构耐久测试（Mechanical Endurance Test） (8)6.3.1侧键测试（Side Key Test） (8)6.3.2充电器插拔测试（Charger Test） (8)6.3.3电池/电池盖拆装测试（Battery/Battery Cover Test） (9)6.3.4耳机插拔测试（Headset Test） (9)6.3.5SD卡/SIM卡插拔测试（SD Card Test） (9)6.3.6水滴实验（针对电容屏） (10)6.3.7喇叭寿命测试（Speaker life test） (10)6.3.8马达寿命测试（Vibration durability test） (10)6.4表面装饰测试（Decorative Surface Test） (10)6.4.1外壳表面处理测试 (10)6.4.2TP表面硬度测试（TP Hardness Test） (12)6.4.3钢球冲击测试（Ball Drop Test） (12)6.5特殊条件测试（Special Stress Test） (13)6.5.1扭曲测试（Twist Test） (13)6.5.2软压测试（Press Test） (13)6.5.3硬压测试 (13)6.5.4循环跌落测试（Micro-drop Test） (14)6.5.5滚筒跌落测试（Free Fall Test） (14)6.6其他测试（Other Test） (14)6.6.1螺母测试（Nut Test） (14)6.6.2I/O接口试验 (14)6.6.3耳机插口强力插入测试（Earphone Connector Evaluation Test） (15)6.6.4保护盖（耳机塞、I/O接口塞、RF塞、螺丝塞等）测试 (15)6.6.5TP/LENS测试（TP/Lens Test） (16)6.6.6水煮试验 (16)7.最终检验 (17)0.短语和参考文献0.1缩略语无0.2术语和定义ART：Accelerated Reliability Test（可靠性实验）0.3参考文献1.目的评估产品的质量和可靠性。
整机可靠性测试文档
一、目的为了更好的提升产品性能，确保产品符合国家标准、通讯标准和我们自己的产品标准。
二、适用范围本标准适用于所有的在产机型和研发中新产品机型。
三、引用文件YD/T 1539-2006 移动通信手持机可靠性技术要求GB/T 2421-1999 电工电子产品环境试验第一部分：总则GB/T 15844.2-1995 移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法GB/T 15844.3-1995 移动通信调频无线电话机可靠性要求及实验方法GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验第1部分：实验方法试验A：低温GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验第2部分：实验方法试验B：高温GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验第2部分：实验方法试验Ed：自由跌落GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第2部分：实验方法试验Fc和导则：振动GB/T 2423.3-93 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法GB4943-2001 信息技术设备的安全GB/T 17626.2-1998 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验YD/T 1215-2002 GSM900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务（GPRS）设备测试方法：移动台YD 1032-2000 GSM900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法第一部分：移动台及其设备信息产业部科技司- 移动电话机入网检验细则，2000年10 月发布四、可靠性测试流程低温贮存---高温贮存---温度冲击---跌落试验---振动试验---湿热试验---静电测试---灰尘测试---盐雾测试---按键测试---侧键测试---翻盖测试---滑盖测试---重复跌落充电器插拔---手写笔插拔---电池/电池盖拆装---SIM卡拆装---耳机插拔---导线连接强度-----磨擦测试---附着力测试---汗液测试---硬度测试---扭曲测试---坐压测试---钢球跌落---螺钉扭力---挂绳孔强度---电池容量---音乐播放---拍照启动关闭---无线信号五、样机标准数量和测试周期样机标准数量： PR1：8台 PR2：10台 PR3：10台 PIR：10台试验周期： 10-12天测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露潜在问题。
整机可靠性测试标准
外购整机可靠性测试标准
加速寿命测
☆测试方法：
溶液含量：
600立方厘米
将手机安装电池、电池盖以及塞子等处于
关机状态放在盐雾试验箱内，样机用绳子悬
挂起来或斜放，以免溶液喷洒不均或有的表
面喷不到。
一台天线朝下，一台天线朝上。
样机需立即被放入测试箱。
实验周期是
个小时。
实验过程中样机不得被中途取出，
如果急需取出测试，要严格记录测试时间，
该实验需向后延迟相同时间。
取出样机，将手机和电池分开放置
进行常温干燥，对其进行外观及功能检查。
测试
试。
整机可靠性测试规范
1、制定修改履历:
2、传阅及培训:
1、目的：
整机可靠性测试规范的目的是尽可能地挖掘由设计，制造或机构部件所引发的机构部分潜在性问题，在大批量生产之前寻找改善方法并解决上述问题点，为正式生产在产品质量上做必要的报证•
2、范围:
普莱达加工厂所有产品•
3、职责:
3.1由PMC安排试产，并提供机器及各配件（包括电池，电池盖、耳机、数据线、充电器等，且必须要求
是出货配件）。
3.2品管部负责向PMC借机器及各配件，然后按照可靠性测试实验方法及条件进行测试，同时针对测试过
程中出现的不良现象及时记录在《可靠性实验报告》内。
在可靠性实验完成后，由品质部将《可靠性实验报告》存档，且发送到各部门、总部或客户进行质量评估。
3.3可靠性测试中不合格项由工程部负责分析，并提出解决方案。
4、作业流程
5.测试样品需求数
总的样品需求为10pcs
6.测试项目及要求
7 可靠性实验项目
以上除了特殊环境要求以外，其它实验均在室温下进行。
行业平板电脑整机可靠性测试规范
4、执行测试前，确认每项实验项目执行状况及进度；
5、测试中如遇测试异常时需填写「异常清单汇整表」，以利机台异常追踪；
6、测试完成后出具可靠性测试报告；
B.Chamber设定参照1-5-3测试条件；
C.待测物关机裸置存储约25H;
D.测试结束之后将温箱降至常温，拿出样机常温下静置2H后按照附录1、2进行基本功能射频指标测试；
E.测试中每两小时确认测试状况，检查系统状态；
F.检查机构外观时，需拆下塑料外壳检验；
G.执行下个测试前，需更换新的塑料外壳。
二、适用范围：
适用于所有深圳市汉普电子技术开发有限公司研发和生产的行业平板电脑。
三、参考标准：
YD/T 1539-2006：移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法；
GB/T 2423.XX：电子电工产品环境试验标准；
GB/T 9286：色漆和清漆、漆膜的划格试验；
GB 4208-2008：外壳防护等级（IP代码）；
B.Chamber设定参照1-3-3测试条件；
C.待测物关机裸置存储48H;
D.测试结束之后将温箱降至常温，拿出样机常温下静置2H后按照附录1、2进行基本功能射频指标测试；
E.测试中每两小时确认测试状况，检查系统状态；
F.检查机构外观时，需拆下塑料外壳检验；
G.执行下个测试前，需更换新的塑料外壳。
1-3-6判定标准：
1-6-6判定标准：
检验判定标准（系统功能）
项目
内容
CR
MA
MI
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
整机可靠性测试规范版本 2.02011-07-16拟订：郝福亮批准：汪乐辉版本修订状态版本状态日期修订人修订位置和原因1.0 2011-01-04 郝福亮原始版本2.0 2011-07-16 郝福亮修订导线摇摆测试标准一.环境适应性测试测试目的：模拟实际工作环境对产品进行性能测试测试数量：直板机10PCS 翻/滑盖 12PCS测试流程：1.1．低温存储（Fuctional Test）◆测试环境：-40度◆手机数量及状态：5台（翻翻盖/滑盖 6台）◆测试目的：低温应用性功能测试◆试验方法：不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。
按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-40℃，温度稳定后持续48小时，取出并放置2小时恢复至常温。
然后进行结构功能和电性能检查。
对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置（盒盖为3PCS，开盖为3PCS，后续环境实验样品数相同）试验标准：手机的射频性能指标满足要求，所有功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形；实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能1.2低温工作◆测试环境：-15℃◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）先关机再开机◆测试目的：低温应用性能测试◆试验方法：将手机电池充满电，插入SIM卡及T卡，手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子上，按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-15度，温度稳定后手机开始开机工作。
在此环境下前3个小时，每1小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟（双卡手机需要测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；联通+移动；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2锁卡1.PVT 后只做移动+联通（双开）最后一个小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/侧键手感，电池盖拉拔力，滑/翻盖手感，长时间摄像，触摸屏手机还需要测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。
对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形。
电池没有起鼓、漏液等不良失效现象；试验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标1.3．高温存储（Fuctional Test）◆测试环境：+70℃（针对IML工艺，条件：+65度）◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）◆测试目的：高温应用性功能测试◆试验方法：不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。
按平均值不大于3℃/min的变化速度逐步升温到+70℃，温度稳定后持续48小时之后取出，并放置2小时恢复至常温，然后进行结构功能和射频性能检查。
对于翻盖书记应该将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖，对于滑盖手机应该将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）外壳无变形。
实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试更改为测试天线耦合性能。
1.4．高温工作（Paramatric Test）◆测试环境：+55度◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）先关机后开机◆测试目的：高温应用性性能测试◆试验方式：将手机电池冲满点，插入SIM卡以及T卡手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子上，按平均值不大于3℃/min的变化速度逐步升温到+55度，温度稳定后手机开始工作。
在此环境下前三个小时，每个小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟，（双卡手机需测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2锁1.PVT 后只做移动+联通（双开）最后一个小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/侧键手感，滑/翻盖手感，电池盖拉拔力，长时间摄像，触摸屏手机还需要测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。
对于翻盖手机将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）可正常拨打电话、实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标1.5高温高湿存储：◆测试环境：65℃ 95%RH （针对IML工艺，条件：55℃，95%RH）◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）关机◆测试目的：测试样机耐高温高湿性能◆试验方法：装入电池，将手机处于关机状态，放入温湿实验箱内的架子上持续48个小时之后取出，常温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。
对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形，电池没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否正常。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能。
1.6．恒定湿热（parametric Test）◆测试环境：+40℃ 95%RH◆测试数量：5pcs（翻/滑盖6台）◆测试目的：高温高湿性可靠性测试◆测试方法：将手机电池充电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。
温度稳定后手机开机工作。
在此环境下前3个小时，每1小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟，（双卡手机DVT1阶段需测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2锁卡1.PVT后只做移动+联通（双开）最后1小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/侧键手感，滑/翻盖手感，触摸屏手机还需测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。
对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖：对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话，通话正常；电池也没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头没有外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标1.7．温度冲击测试（Thermal Shock）◆测试环境：低温箱：-40℃；高温箱：+70℃（IML 工艺为65℃）◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖 6台）关机◆测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选◆试验方法：使用高低温冲击箱，手机不带电池设置呈关机状态，先放置于高温箱内持续1小时后，在30秒内迅速移入低温箱并持续一小时后，再30秒内迅速回到高温箱。
此为一个循环，共循环20次。
实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。
对于翻盖手机将一半样品打开翻盖。
对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。
◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，表面喷涂无异常结构无异常，功能正常（包括按键、侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话；实验前后确认按键导光效果、LCM显示效果等。
二.破坏性测试测试目的：模拟用户对产品进行破环性测试测试数量：直板44PCS 滑盖/翻盖52PCS测试流程：2.1.翻盖寿命测试◆测试环境：室温（20-30℃）◆测试数量及状态：5台开机◆测试目的：翻盖寿命测试◆测试方法：将手机设置成开机状态并固定在测试夹具上，旋转频率为20次-25次/分，进行10万次翻盖测试。
每2万次检查一次◆判定标准：实验结束后手机外观，结构与电性能正常，无明显裂纹及破损，翻盖时无异响。
2.2．滑盖寿命实验◆测试环境：室温（20-30℃）◆测试数量及状态：5台开机◆测试目的：验证壳材料，FPC，滑轨的寿命以及滑盖组件的结构寿命测试方法：被测样机不包装，处于通电待机状态，要求滑轨达到最大活动位置，以25～30次/分钟的速度滑动滑盖，来回为一次，试验次数10 万次，每2 万次检查一次。
◆判定标准：实验结束后手机外观，结构与功能正常，无明显裂纹及破损，滑盖时无异响。
2.3．开关机稳定性实验◆测试环境：室温（20-30℃）◆测试数量及状态：2台插卡/不插卡◆测试目的：验证正常开关机是否有异常◆测试方法：在插卡状态下（一台插移动卡，一台插联通卡）按住开机键不放，手机开机到出现网络运营标志后关机（大约10-55S）然后再开机，重复500次。
然后再做按开机键开机，拔掉电池关机500次。
最后在取下SIM卡情况下再做重复开机100次。
◆判定标准：手机不允许出现不能开机或不能关机、数据丢失现象。
允许有1次出现开机时间过长及开关机动画动画/声音失效2.4.自由跌落实验◆测试环境：室温（20-30℃）◆测试数量：直板5PCS，翻/滑盖各6PCS◆测试目的：验证手机及电池抗多次跌落的能力◆测试方法：被测样机不包装，处于插卡通电待机状态，从1.5M 高度（LCD 尺寸小于2.4〞），（LCD尺寸大于2.4〞的机型跌落高度定为1.2M）初始速度为0 自由跌落于大理石地板，6 个面跌落，每个面跌落2 次，每个面跌落后进行外观，结构及功能检查。
直板及翻盖手机：左侧面，背面，右侧面，底面，顶面，正面。
滑盖手机：底面，顶面，背面，正面，左侧面，右侧面。
跌落过程中, 对于翻盖手机,应将一半样品打开到使用状态,一半样品闭合为初始位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
◆判定标准：通过基本功能，性能测试，无明显裂纹/破损，内部无零件松动及其他异常2.5挂绳孔拉力强度实验◆测试环境：室温（20-30℃）◆样机数量及状态：5PCS 关机◆测试目的：挂绳孔结构强度测试◆测试方法：拉住吊绳的尾端，静力50N，持续10 秒，进行3 次.◆判定标准：外观良好，整体不松脱2.6. 10cm 微跌测试◆测试环境：室温（20-30℃）◆测试数量：5pcs◆测试目的：验证手机在使用中产生轻微撞击的适应性◆测试方法：手机插卡开机状态，从10cm 的高度自由跌落至8～10mm 厚的铝板上，顺序按照底面2500 次→正面500 次→左侧面500 次→右侧面500 次，跌落完毕为一个循环，共进行4 个循环，每完成一个循环检查一次被测试样机的外观及基本功能。