整机可靠性测试规范
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整机测试标准——
15 吊带孔耐力 检验吊带孔结构强度 试验
寿命测试
1、手机插卡插电池开机； 2）按5转/分钟的频率，50cm高度，做旋转500转。第300/400/450/500转检验 。 3）每次检验外观和功能；第500次进行射频检验、拆机检验结构。
1）带电池不开机，放入-25℃的试验箱内放置2小时； 2）取出后检验功能、外观，进行1米跌落试验； 3）LCD＞2.4寸跌落高度改为0.8M。 1）测试机插卡装电池待机状态； 2）垂直方向以25kg的力对手机正面及左侧面或右侧面（根据结构选）挤压 1000次；频率为30次/分； 1）测试机装卡装电池待机状态； 2）上下两端侧各夹住15mm，对其施加相应的扭矩（手机在关机状态下承受的 数值为手机厚度的0.08倍，厚度单位为mm，力度最大不超过2N.m，最小不小于 0.5N.m，顺逆扭曲交错500次，频率为30次/分； 拉住吊绳的尾端，静力5kg，持续10秒，然后再以每秒2圈的速度甩动60次（吊 绳穿上后长度10-15cm）
21
I/O充电口 插拔试验
电器对相关器件的影 响 检验充电器、耳机、 数据线与手机的匹配
示。 3）每500次检验手机功能，最后500次每100次检验功能； 4）耳机和充电器二合一则寿命≥3000次；如不共用，则耳机插拔寿命寿命≥ 2000次；充电器插拔寿命≥2000次；
22
USB塞插拔
检验USB塞与手机I/O 口的配合及USB塞的使
整机测试标准
试验室环境：温度15—35℃，相对湿度：45%—75%RH，大气压力：86—106KPa
环境测试
序号 测试项目
测试目的
测试方法
1 低温存储
检验手机在低温环境 条件下贮存的适应性
1） 测试机不包装、不带电池 。试验箱内任意2部机之间留有间隙。 2）试验箱内温度按≤3℃/min的速率达到-40±2℃开始计时，持续48小时。 3）放置2h，检查被测样机；
手机可靠性全面检验规范
4)开启静电测试仪，调节放电方式，分别选择+/-２kV，+/-４kV，+/-6kV (接触放电)，+/-４kV，+/-６kV, +/-８kV，+/-10kV（空气放电），对手机每个指定部位（测试点）放电10次，每测试一次，同时手机对地放电一次，连续单次放电之间的时间间隔必须大于1s,测试时，必须从低电压值逐渐增加到高电压值，每个电压等级必须先正极后负极进行测试。
4)实验结束后将样机从温度冲击箱中取出，在室温（20-25°C）恢复2小时后进行外观、结构、功能及内存检查。
5)对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
样机外观，结构，功能和内存符合要求。
2
湿热储存
3PCS
验证样机湿热环境下的材料性能，结构配合，装配、制成工艺等可靠性．
1）开关机正常，无不开机与自动掉电现象。
2）手机各项功能正常，外壳及装饰件无变形、破裂、翘起、表面喷涂、电镀无裂纹;电池外观应不变形、不爆裂、不起火、不冒烟或不漏液，内部结构应无松动以及不得有与试验前预检不一致的现象.
4
高温工作
4PCS
验证产品在高温下的工作性能，暴露潜在的不良缺陷．
高低温湿热交变试验箱－GDJS-100C电热恒温鼓风干燥箱-DHG-9140A
2）对于导电材料之间的缝隙，不测试空气放电，对于导电材料与绝缘材料之间的缝隙，需要测试空气放电。
3)将样机放置静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态（样机与绝缘垫边缘距离至少2英寸；两个样机之间的距离也是至少2英寸），装上电话卡，手机处于通话状态.（注：所用电话卡必须是能正常通话的测试卡），正常测试使用产品配套充电器和数据线，实验室配备参考充电器和数据线选择过CE认证，ESD测试通过+/-８kV，数据线选择带屏蔽层数据线。
4)实验结束后将样机从温度冲击箱中取出，在室温（20-25°C）恢复2小时后进行外观、结构、功能及内存检查。
5)对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
样机外观，结构，功能和内存符合要求。
2
湿热储存
3PCS
验证样机湿热环境下的材料性能，结构配合，装配、制成工艺等可靠性．
1）开关机正常，无不开机与自动掉电现象。
2）手机各项功能正常，外壳及装饰件无变形、破裂、翘起、表面喷涂、电镀无裂纹;电池外观应不变形、不爆裂、不起火、不冒烟或不漏液，内部结构应无松动以及不得有与试验前预检不一致的现象.
4
高温工作
4PCS
验证产品在高温下的工作性能，暴露潜在的不良缺陷．
高低温湿热交变试验箱－GDJS-100C电热恒温鼓风干燥箱-DHG-9140A
2）对于导电材料之间的缝隙，不测试空气放电，对于导电材料与绝缘材料之间的缝隙，需要测试空气放电。
3)将样机放置静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态（样机与绝缘垫边缘距离至少2英寸；两个样机之间的距离也是至少2英寸），装上电话卡，手机处于通话状态.（注：所用电话卡必须是能正常通话的测试卡），正常测试使用产品配套充电器和数据线，实验室配备参考充电器和数据线选择过CE认证，ESD测试通过+/-８kV，数据线选择带屏蔽层数据线。
电梯整机型式试验细则
电梯整机型式试验细则1.试验目的和要求电梯整机型式试验的目的是评价电梯的设计、制造和安全运行性能是否符合国家和行业标准的要求，确保电梯的安全可靠性和使用寿命。
试验要求电梯能正常运行，各项指标达到标准规定的要求，同时要满足人体工程学和环保要求。
2.试验项目(1)承受额定载荷运行试验：将额定载荷分别均匀分布在电梯各层上，检测电梯运行是否平稳，制动性能是否符合要求。
(2)平层精度试验：在每层开门口进行静止试验，检测电梯是否能准确停在每层门口位置。
(3)门机与轿门试验：测试电梯门机和轿门的打开和关闭速度，以及闭合状态下的力矩和刚度。
(4)紧急救援系统试验：测试电梯的紧急救援装置是否能在紧急情况下提供安全救援。
(5)电梯运行试验：测试电梯的运行速度、加速度、减速度等参数是否符合要求。
(6)电气性能试验：测试电梯电气系统的功能性，包括故障自诊断、显示屏幕的正常运行等。
3.试验注意事项在进行电梯整机型式试验时，需注意以下事项：(1)试验过程应遵循安全操作规程，严格按照试验细则进行操作。
(2)在试验过程中，应有专人负责监控试验和记录试验数据，以保证试验过程的准确性。
(3)试验设备和仪器应符合国家标准，能够保证试验数据的可信度。
(4)在试验前应进行检查和试运行，确保电梯及相关设备的正常工作状态。
(5)试验期间如出现异常情况，应立即停止试验，并进行详细检查和修理，直到问题解决后方可继续试验。
(6)试验结束后，应进行试验结果的处理和分析，得出最终的试验结论。
4.试验报告和验收根据试验结果，编制电梯整机型式试验报告，包括试验方案、试验数据、试验结果和分析等内容。
试验报告应由专业技术人员编写，并经有关单位审核和验收，以确认电梯产品的质量和安全性能是否符合标准要求。
以上就是电梯整机型式试验的细则，通过进行综合性能的验证和测试，可以确保电梯产品的质量和安全性能，从而保障用户安全出行。
试验过程中需严格按照规定操作，确保试验数据的准确性和可信度，同时关注试验安全，及时处理试验中出现的异常情况。
TINNO整机可靠性测试标准
深圳天珑移动技术有限公司
企业标准
TINNO-WI-NPI-2007
整机可靠性测试标准
文件版本：V1.0
拟 制： 标准化： 审 核： 批 准：
李明
2007-XX-XX 发布
2007-XX-XX 实施
深圳天珑移动技术有限公司发布
CONTENT
一 目的
二 编制依据
三 执行原则
四 适用范围
五 术语、定义
六 主要职责
七 可靠性测试程序
1. 加速寿命测试（ALT） 1.1 室温下参数测试（Parametric Test） 1.2 温度冲击测试（Thermal Shock） 1.3 跌落试验（Drop Test） 1.4 振动试验（Vibration Test） 1.5 湿热试验（Humidity） 1.6 静电测试（ESD） 1.7 室温下参数测试（Parametric Test）
26 IEC 68-2-68 28 IEC 68-2-18/IEC529 29 IEC 68-2-70:1995
30 IEC 68-2-9:1975 32 ISO 1518 33 D/T 1215-2002
电工电子产品环境试验第一部分：总则 移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法 移动通信调频无线电话机可靠性要求及实验方法 移动通信设备安全要求和试验方法 移动通信调频无线电话机质量评定规则 电工电子产品环境试验术语 可靠性、维修性术语 电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级 电工电子产品环境试验第 1 部分：实验方法 试验 A：低温 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 B：高温 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 N：温度变化 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Ed：自由跌落 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Fc 和导则：振动 电工电子产品基本环境试验 试验 Ca：恒定湿热试验方法 电工电子产品基本殊死搏斗试验规程试验 Ka：盐雾试验方法 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Eg：撞击 弹簧锤 信息技术设备的安全
企业标准
TINNO-WI-NPI-2007
整机可靠性测试标准
文件版本：V1.0
拟 制： 标准化： 审 核： 批 准：
李明
2007-XX-XX 发布
2007-XX-XX 实施
深圳天珑移动技术有限公司发布
CONTENT
一 目的
二 编制依据
三 执行原则
四 适用范围
五 术语、定义
六 主要职责
七 可靠性测试程序
1. 加速寿命测试（ALT） 1.1 室温下参数测试（Parametric Test） 1.2 温度冲击测试（Thermal Shock） 1.3 跌落试验（Drop Test） 1.4 振动试验（Vibration Test） 1.5 湿热试验（Humidity） 1.6 静电测试（ESD） 1.7 室温下参数测试（Parametric Test）
26 IEC 68-2-68 28 IEC 68-2-18/IEC529 29 IEC 68-2-70:1995
30 IEC 68-2-9:1975 32 ISO 1518 33 D/T 1215-2002
电工电子产品环境试验第一部分：总则 移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法 移动通信调频无线电话机可靠性要求及实验方法 移动通信设备安全要求和试验方法 移动通信调频无线电话机质量评定规则 电工电子产品环境试验术语 可靠性、维修性术语 电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级 电工电子产品环境试验第 1 部分：实验方法 试验 A：低温 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 B：高温 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 N：温度变化 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Ed：自由跌落 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Fc 和导则：振动 电工电子产品基本环境试验 试验 Ca：恒定湿热试验方法 电工电子产品基本殊死搏斗试验规程试验 Ka：盐雾试验方法 电工电子产品环境试验第 2 部分：实验方法 试验 Eg：撞击 弹簧锤 信息技术设备的安全
华为 整机硬件测试标准
返回编号用例名称测试条件测试步骤测试用例_预期结果样机数量备注测试结果Reliability_test_001载重测试(硬载重）普通手机：手机开机，整个正、反面施加70kgf的压力，承受2秒钟。
触摸屏手机：手机开机，整个正、反面施加70kgf的压力，承受2秒钟。
三防手机：手机开机，整个正、反面施加80kgf的压力，承受2秒钟1.测试前对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能2.手机正面向上正常放置在水平测试钢台上，对手机整个正面施加规定的压力，停留两秒钟。
3.手机正面向下正常放置在水平测试钢台上，对手机整个背面施加规定的压力，停留两秒钟。
4.每完成一步对样机进行检查（检MMI），测试完成进行终检（检MMI、通话、外观……）参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3载重测试压块面积应与手机相当且压块与手机间应加垫1~2mm泡棉测试过程中手机不能关机，测试完成后手机机械电气功能正常（重点关注LCD性能）。
Reliability_test_002载重测试(软载重）普通手机/触摸屏手机开机状态下，整个正面施加70kgf的压力，承受2秒钟。
1.测试前对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能2.普通手机/触摸屏手机开机状态下，整个正面施加70kgf的压力，承受2秒钟。
3.测试完成进行终检（检MMI、通话、外观……）参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3软载重测试压块面积应与手机相当或大于手机，且压块为硅橡胶压头（测试压头硅橡硬度应在肖氏70±5度）。
Reliability_test_003挤压测试（1）0.5kgf，挤压中心点，不允许出现水印（2）10kgf，金属棒压头(杆直径8mm，压头弧半径10mm)，挤压如下位置，屏幕9个点，听筒位置，FPC位置，sensor位置，芯片上方各一次；4.5kgf，摄像头中心点；10kgf，2s，IC中心，IC两侧各5次（压头以10mm/min的速度施加力）翻盖机内屏不挤压1）试验前，对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能；2）将产品固定在测试平台上，样品与测试平台之间需要放置3mm厚的防静电皮（静电皮的尺寸要大于产品的尺寸）。
手机可靠性测试标准(手机)
3.2.1.高温/低温参数测试（Parametric Test）
测试环境：-20° C/+60°C；持续2小时；手机电池充满电，手机处于开机状态。4台手机
测试目的：高温/低温应用性性能测试
试验方法：对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机电性能参数指标满足要求，功能正常，外壳无变形。
试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
3.1.6滚筒试验（platen Test）
测试条件：0.50m长度，100转，4台手机(此项目仅供参考，不强制要求)
试验方法：将手机处于开机状态进行。
试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
3.1.7静电测试（ESD）
测试条件：+/-4kV~+/-8kV，开机并处于充电状态，+/-4kV接触和~+/-8kV空气放电各10次。，4台手机。具体测试方法详见公司测试标准细则。
试验标准：手机表面喷涂无异变，结构无异常，功能正常，可正常拨打电话。
3.1.3跌落试验（Drop Test）
测试条件：开发阶段：2.4寸及以上的屏跌1.2m，小于2.4寸屏跌1.5m，跌落表面：水泥地面，共2轮，每轮对手机的六个面四个角依次进行自由跌落（底部→右侧→左侧→顶部→反面→正面）。试验从手机的最小面开始跌落，每个循环中LCD面为最后跌落面；有翻盖（滑盖）的移动电话机应将盖合上；跌落后进行外观检查，磨损是可以的，但不应有裂缝；允许电池脱落，但仍具备正常通话功能；
3.1. 加速寿命测试ALT （Accelerated Life Test）
样机标准数量： PR1：12台 PR2：12台 PR3：12台 PIR：12台
测试环境：-20° C/+60°C；持续2小时；手机电池充满电，手机处于开机状态。4台手机
测试目的：高温/低温应用性性能测试
试验方法：对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机电性能参数指标满足要求，功能正常，外壳无变形。
试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
3.1.6滚筒试验（platen Test）
测试条件：0.50m长度，100转，4台手机(此项目仅供参考，不强制要求)
试验方法：将手机处于开机状态进行。
试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
3.1.7静电测试（ESD）
测试条件：+/-4kV~+/-8kV，开机并处于充电状态，+/-4kV接触和~+/-8kV空气放电各10次。，4台手机。具体测试方法详见公司测试标准细则。
试验标准：手机表面喷涂无异变，结构无异常，功能正常，可正常拨打电话。
3.1.3跌落试验（Drop Test）
测试条件：开发阶段：2.4寸及以上的屏跌1.2m，小于2.4寸屏跌1.5m，跌落表面：水泥地面，共2轮，每轮对手机的六个面四个角依次进行自由跌落（底部→右侧→左侧→顶部→反面→正面）。试验从手机的最小面开始跌落，每个循环中LCD面为最后跌落面；有翻盖（滑盖）的移动电话机应将盖合上；跌落后进行外观检查，磨损是可以的，但不应有裂缝；允许电池脱落，但仍具备正常通话功能；
3.1. 加速寿命测试ALT （Accelerated Life Test）
样机标准数量： PR1：12台 PR2：12台 PR3：12台 PIR：12台
整机可靠性测试标准
（2台）
√
表（1）。
☆ 测试方法：将手机处于关机状态，放入温
度实验箱内的架子上。在高温持续24个小时后 ☆ 检验标准：手机功能正常，內存无丢失， 转至低温持续24个小时后取出，并放置2小时 外壳无变形。
（2台）
√
恢复至常温，然后进行功能检查。
跌落测试：
6.5''及6.5'' 以上LCM跌落0.5m; ☆ 测试方法：将手机处于开机状态，插入SIM
☆ 测试方法：将手机关机在能通过筛孔为 ☆ 检验标准：手机各项功能正常，所有活动
1
灰尘测试：35℃,8hrs,参考国标 GB 4208-2008
75um、金属丝直径为50um的方孔筛的干燥滑 元器件运转自如，显示区域没有明显灰尘。 石粉、试验箱内（工作室和管通道）灰尘量为 防尘IP6X产品检验标准：手机各项功能正常， 2kg/m3的粉尘中放置8h，然后将手机从实验 所有活动元器件运转自如，显示区不允许粉尘
1
4.3''及4.3''~6.5''LCM跌落0.6m; 3.8''及3.8''~4.3''LCM或数码手机 跌落0.8m;
3.0''及3.0''~3.8''LCM跌落1.0m; 2.8''及2.4''~2.8''LCM跌落1.2m; 2.4''及2.4'' 以下LCM 跌落1.3m; 大理石地面, 6 个面,每面跌落1 次,共2个循环;一半数量插入耳机 测试
PR1 计划 备注
PR2 计划 备注 测试项目 数量
整机环境及可靠性试验测试要求
5台
将手机设置成开机状态直接或借助安装夹具固定在冲击台上，在三个互相垂直轴线的每一个方向上施加3次连续冲击，总共18次，进行外观、机械和电性能检查
手机各项功能正常，外壳无变形、破裂，显示屏无破碎
碰撞试验
加速度：100m/s2 (10g)碰撞脉冲持续时间：16ms；每分钟碰撞次数：40~80
5台
在三个互相垂直的轴线方向上，垂直方向400次，水平及侧面各300次，共1000次，进行外观、机械和电性能检查
湿度试验
40oC，90~95%
将手机设置成关机状态，放入温度循环实验箱内的架子上，要确保手机被固定好，以防止实验中产生的水积聚在手机表面。持续16个小时之后取出，恢复4小时，然后进行外观、机械和电性能检查。将手机设置成开机状态放入实验箱。持续8个小时之后取出，恢复4个小时进行全功能及信号测试以确保电性能和机械性能完好。
寿命试验/耳机孔塞子拉拔试验
将耳机孔塞子塞在手机耳机插孔内，然后拔出，反复1000次
要求耳机塞子无变形现象，塞入手机耳机插孔时不会松动，跌落试验时塞子不会掉下来。
可靠性试验
测Hale Waihona Puke 环境样机数量试验方法
试验标准
常温试验
25° C常温
5台
将手机设置成开机状态放置于常温状态下，然后进行初始检查
振动试验
振幅：0.38mm；振频：10~30Hz；振幅：0.12mm；振频：30~55Hz；时间：3小时试验设备：振动实验台试验
在垂直方向以5Kg正面平压手机视窗，受力均匀，并持续5秒，平压3次
LCD无裂开现象，且显示正常
机壳试验/吊孔拉力试验
将吊绳栓在手机吊孔内，然后拉住吊绳的尾端，以5Kg的力拉拔，持续10秒；以每秒2圈的速度甩动手机60次。
将手机设置成开机状态直接或借助安装夹具固定在冲击台上，在三个互相垂直轴线的每一个方向上施加3次连续冲击，总共18次，进行外观、机械和电性能检查
手机各项功能正常，外壳无变形、破裂，显示屏无破碎
碰撞试验
加速度：100m/s2 (10g)碰撞脉冲持续时间：16ms；每分钟碰撞次数：40~80
5台
在三个互相垂直的轴线方向上，垂直方向400次，水平及侧面各300次，共1000次，进行外观、机械和电性能检查
湿度试验
40oC，90~95%
将手机设置成关机状态，放入温度循环实验箱内的架子上，要确保手机被固定好，以防止实验中产生的水积聚在手机表面。持续16个小时之后取出，恢复4小时，然后进行外观、机械和电性能检查。将手机设置成开机状态放入实验箱。持续8个小时之后取出，恢复4个小时进行全功能及信号测试以确保电性能和机械性能完好。
寿命试验/耳机孔塞子拉拔试验
将耳机孔塞子塞在手机耳机插孔内，然后拔出，反复1000次
要求耳机塞子无变形现象，塞入手机耳机插孔时不会松动，跌落试验时塞子不会掉下来。
可靠性试验
测Hale Waihona Puke 环境样机数量试验方法
试验标准
常温试验
25° C常温
5台
将手机设置成开机状态放置于常温状态下，然后进行初始检查
振动试验
振幅：0.38mm；振频：10~30Hz；振幅：0.12mm；振频：30~55Hz；时间：3小时试验设备：振动实验台试验
在垂直方向以5Kg正面平压手机视窗，受力均匀，并持续5秒，平压3次
LCD无裂开现象，且显示正常
机壳试验/吊孔拉力试验
将吊绳栓在手机吊孔内，然后拉住吊绳的尾端，以5Kg的力拉拔，持续10秒；以每秒2圈的速度甩动手机60次。
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- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
测试流程：
2.1.翻盖寿命测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：5台开机
◆测试目的：翻盖寿命测试
◆测试方法：将手机设置成开机状态并固定在测试夹具上，旋转频率为20次-25次/分，进行10万次翻盖测试。每2万次检查一次
◆判定标准：实验结束后手机外观，结构与电性能正常，无明显裂纹及破损，翻盖时无异响。
◆判定标准：通过基本功能，性能测试，无明显裂纹/破损，内部无零件松动及其他异常
2.5挂绳孔拉力强度实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆样机数量及状态：5PCS关机
◆测试目的：挂绳孔结构强度测试
◆测试方法：拉住吊绳的尾端，静力50N，持续10秒，进行3次.
◆判定标准：外观良好，整体不松脱
2.6.10cm微跌测试
◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形，电池没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否正常。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能。
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：5pcs
◆测试目的：验证手机在使用中产生轻微撞击的适应性
◆测试方法：手机插卡开机状态，从10cm的高度自由跌落至8～10mm厚的铝板上，顺序按照底面2500次→正面500次→左侧面500次→右侧面500次，跌落完毕为一个循环，共进行4个循环，每完成一个循环检查一次被测试样机的外观及基本功能。实验速率：15次/分钟
◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，表面喷涂无异常结构无异常，功能正常（包括按键、侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话；实验前后确认按键导光效果、LCM显示效果等。
二.破坏性测试
测试目的：模拟用户对产品进行破环性测试
测试数量：直板44PCS滑盖/翻盖52PCS
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形。电池没有起鼓、漏液等不良失效现象；试验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
1.6．恒定湿热（parametric Test）
◆测试环境：+40℃95%RH
◆测试数量：5pcs（翻/滑盖6台）
◆测试目的：高温高湿性可靠性测试
◆测试方法：将手机电池充电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。温度稳定后手机开机工作。在此环境下前3个小时，每1小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟，（双卡手机DVT1阶段需测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2锁卡1.PVT后只做移动+联通（双开）最后1小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/侧键手感，滑/翻盖手感，触摸屏手机还需测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖：对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
◆判定标准：手机不允许出现不能开机或不能关机、数据丢失现象。允许有1次出现开机时间过长及开关机动画动画/声音失效
2.4.自由跌落实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：直板5PCS，翻/滑盖各6PCS
◆测试目的：验证手机及电池抗多次跌落的能力
◆测试方法：被测样机不包装，处于插卡通电待机状态，从1.5M高度（LCD尺寸小于2.4〞），（LCD尺寸大于2.4〞的机型跌落高度定为1.2M）初始速度为0自由跌落于大理石地板，6个面跌落，每个面跌落2次，每个面跌落后进行外观，结构及功能检查。直板及翻盖手机：左侧面，背面，右侧面，底面，顶面，正面。滑盖手机：底面，顶面，背面，正面，左侧面，右侧面。跌落过程中,对于翻盖手机,应将一半样品打开到使用状态,一半样品闭合为初始位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）外壳无变形。实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试更改为测试天线耦合性能。
1.4．高温工作（Paramatric Test）
测试流程：
1.1．低温存储（Fuctional Test）
◆测试环境：-40度
◆手机数量及状态：5台（翻翻盖/滑盖6台）
◆测试目的：低温应用性功能测试
◆试验方法：不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-40℃，温度稳定后持续48小时，取出并放置2小时恢复至常温。然后进行结构功能和电性能检查。对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置（盒盖为3PCS，开盖为3PCS，后续环境实验样品数相同）
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话，通话正常；电池也没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头没有外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）可正常拨打电话、实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
1.5高温高湿存储：
◆测试环境：65℃95%RH（针对IML工艺，条件：55℃，95%RH）
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）关机
◆测试目的：测试样机耐高温高湿性能
◆试验方法：装入电池，将手机处于关机状态，放入温湿实验箱内的架子上持续48个小时之后取出，常温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
2.3．开关机稳定性实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：2台插卡/不插卡
◆测试目的：验证正常开关机是否有异常
◆测试方法：在插卡状态下（一台插移动卡，一台插联通卡）按住开机键不放，手机开机到出现网络运营标志后关机（大约10-55S）然后再开机，重复500次。然后再做按开机键开机，拔掉电池关机500次。最后在取下SIM卡情况下再做重复开机100次。
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，所有功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形；实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能
1.2低温工作
◆判定标准：通过基本功能测试，性能外观良好
2.8．盐雾实验
◆测试环境：35℃湿度90%RH
◆手机数量及状态：5台滑/翻盖6PCS关机
◆测试目的：测试样机抗盐雾腐蚀能力
◆测试方法：试验样品不包装，装上配套电池关机放在盐雾试验箱内。翻/滑盖样品数量4台，翻/滑盖实验时将一半样品打开，用绳子将试验样机悬挂在盐雾试验箱内，喷雾用PH值在6.5-7.2，浓度为5.0±1% NaCL溶液（在试验不得中途开启试验箱和取出样机，若中途继续取出进行检测，试验时间需相应加长）。样机竖直放置24小时，正面放置12小时，反面放置12小时，以免溶液喷洒不均或表面喷洒不到位。实验期满后，取出样机，用清水擦拭后烘干，进行检查。
1.7．温度冲击测试（Thermal Shock）
◆测试环境：低温箱：-40℃；高温箱：+70℃（IML工艺为65℃）
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）关机
◆测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选
◆试验方法：使用高低温冲击箱，手机不带电池设置呈关机状态，先放置于高温箱内持续1小时后，在30秒内迅速移入低温箱并持续一小时后，再30秒内迅速回到高温箱。此为一个循环，共循环20次。实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机将一半样品打开翻盖。对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。
整机可靠性测试规范
版本
2011-07-16
拟订：郝福亮
批准：汪乐辉
版本修订状态
版本状态
日期
修订人
修订位置和原因
1.0
2011-01-04
郝福亮
原始版本
2.0
2011-07-16
郝福亮
修订导线摇摆测试标准
一.环境适应性测试
测试目的：模拟实际工作环境对产品进行性能测试
测试数量：直板机10PCS翻/滑盖12PCS
◆判定标准：功能测试OK，结构方面无明显的裂纹，破损，内部无零件松动
2.7.整机软压力实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：3台开机
◆测试目的：验证手机的抗压性能
◆测试方法：被测样机插卡开机，将厚度为10mm的橡胶垫，垂直方向以200N的力正面平压手机面（除I/O面和天线面）持续30秒，受力均匀，反复3000次
1.3．高温存储（Fuctional Test）
◆测试环境：+70℃（针对IML工艺，条件：+65度）
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）
◆测试目的：高温应用性功能测试
2.1.翻盖寿命测试
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：5台开机
◆测试目的：翻盖寿命测试
◆测试方法：将手机设置成开机状态并固定在测试夹具上，旋转频率为20次-25次/分，进行10万次翻盖测试。每2万次检查一次
◆判定标准：实验结束后手机外观，结构与电性能正常，无明显裂纹及破损，翻盖时无异响。
◆判定标准：通过基本功能，性能测试，无明显裂纹/破损，内部无零件松动及其他异常
2.5挂绳孔拉力强度实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆样机数量及状态：5PCS关机
◆测试目的：挂绳孔结构强度测试
◆测试方法：拉住吊绳的尾端，静力50N，持续10秒，进行3次.
◆判定标准：外观良好，整体不松脱
2.6.10cm微跌测试
◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形，电池没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否正常。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能。
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：5pcs
◆测试目的：验证手机在使用中产生轻微撞击的适应性
◆测试方法：手机插卡开机状态，从10cm的高度自由跌落至8～10mm厚的铝板上，顺序按照底面2500次→正面500次→左侧面500次→右侧面500次，跌落完毕为一个循环，共进行4个循环，每完成一个循环检查一次被测试样机的外观及基本功能。实验速率：15次/分钟
◆试验标准：手机的射频性能指标满足要求，表面喷涂无异常结构无异常，功能正常（包括按键、侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话；实验前后确认按键导光效果、LCM显示效果等。
二.破坏性测试
测试目的：模拟用户对产品进行破环性测试
测试数量：直板44PCS滑盖/翻盖52PCS
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形。电池没有起鼓、漏液等不良失效现象；试验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
1.6．恒定湿热（parametric Test）
◆测试环境：+40℃95%RH
◆测试数量：5pcs（翻/滑盖6台）
◆测试目的：高温高湿性可靠性测试
◆测试方法：将手机电池充电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。温度稳定后手机开机工作。在此环境下前3个小时，每1小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟，（双卡手机DVT1阶段需测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；移动+联通；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2锁卡1.PVT后只做移动+联通（双开）最后1小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/侧键手感，滑/翻盖手感，触摸屏手机还需测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖：对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
◆判定标准：手机不允许出现不能开机或不能关机、数据丢失现象。允许有1次出现开机时间过长及开关机动画动画/声音失效
2.4.自由跌落实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量：直板5PCS，翻/滑盖各6PCS
◆测试目的：验证手机及电池抗多次跌落的能力
◆测试方法：被测样机不包装，处于插卡通电待机状态，从1.5M高度（LCD尺寸小于2.4〞），（LCD尺寸大于2.4〞的机型跌落高度定为1.2M）初始速度为0自由跌落于大理石地板，6个面跌落，每个面跌落2次，每个面跌落后进行外观，结构及功能检查。直板及翻盖手机：左侧面，背面，右侧面，底面，顶面，正面。滑盖手机：底面，顶面，背面，正面，左侧面，右侧面。跌落过程中,对于翻盖手机,应将一半样品打开到使用状态,一半样品闭合为初始位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）外壳无变形。实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试更改为测试天线耦合性能。
1.4．高温工作（Paramatric Test）
测试流程：
1.1．低温存储（Fuctional Test）
◆测试环境：-40度
◆手机数量及状态：5台（翻翻盖/滑盖6台）
◆测试目的：低温应用性功能测试
◆试验方法：不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-40℃，温度稳定后持续48小时，取出并放置2小时恢复至常温。然后进行结构功能和电性能检查。对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置（盒盖为3PCS，开盖为3PCS，后续环境实验样品数相同）
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），可正常拨打电话，通话正常；电池也没有起鼓、漏液等不良失效现象，实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头没有外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能）可正常拨打电话、实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
1.5高温高湿存储：
◆测试环境：65℃95%RH（针对IML工艺，条件：55℃，95%RH）
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）关机
◆测试目的：测试样机耐高温高湿性能
◆试验方法：装入电池，将手机处于关机状态，放入温湿实验箱内的架子上持续48个小时之后取出，常温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
2.3．开关机稳定性实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：2台插卡/不插卡
◆测试目的：验证正常开关机是否有异常
◆测试方法：在插卡状态下（一台插移动卡，一台插联通卡）按住开机键不放，手机开机到出现网络运营标志后关机（大约10-55S）然后再开机，重复500次。然后再做按开机键开机，拔掉电池关机500次。最后在取下SIM卡情况下再做重复开机100次。
试验标准：手机的射频性能指标满足要求，所有功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形；实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能
1.2低温工作
◆判定标准：通过基本功能测试，性能外观良好
2.8．盐雾实验
◆测试环境：35℃湿度90%RH
◆手机数量及状态：5台滑/翻盖6PCS关机
◆测试目的：测试样机抗盐雾腐蚀能力
◆测试方法：试验样品不包装，装上配套电池关机放在盐雾试验箱内。翻/滑盖样品数量4台，翻/滑盖实验时将一半样品打开，用绳子将试验样机悬挂在盐雾试验箱内，喷雾用PH值在6.5-7.2，浓度为5.0±1% NaCL溶液（在试验不得中途开启试验箱和取出样机，若中途继续取出进行检测，试验时间需相应加长）。样机竖直放置24小时，正面放置12小时，反面放置12小时，以免溶液喷洒不均或表面喷洒不到位。实验期满后，取出样机，用清水擦拭后烘干，进行检查。
1.7．温度冲击测试（Thermal Shock）
◆测试环境：低温箱：-40℃；高温箱：+70℃（IML工艺为65℃）
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）关机
◆测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选
◆试验方法：使用高低温冲击箱，手机不带电池设置呈关机状态，先放置于高温箱内持续1小时后，在30秒内迅速移入低温箱并持续一小时后，再30秒内迅速回到高温箱。此为一个循环，共循环20次。实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机将一半样品打开翻盖。对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。
整机可靠性测试规范
版本
2011-07-16
拟订：郝福亮
批准：汪乐辉
版本修订状态
版本状态
日期
修订人
修订位置和原因
1.0
2011-01-04
郝福亮
原始版本
2.0
2011-07-16
郝福亮
修订导线摇摆测试标准
一.环境适应性测试
测试目的：模拟实际工作环境对产品进行性能测试
测试数量：直板机10PCS翻/滑盖12PCS
◆判定标准：功能测试OK，结构方面无明显的裂纹，破损，内部无零件松动
2.7.整机软压力实验
◆测试环境：室温（20-30℃）
◆测试数量及状态：3台开机
◆测试目的：验证手机的抗压性能
◆测试方法：被测样机插卡开机，将厚度为10mm的橡胶垫，垂直方向以200N的力正面平压手机面（除I/O面和天线面）持续30秒，受力均匀，反复3000次
1.3．高温存储（Fuctional Test）
◆测试环境：+70℃（针对IML工艺，条件：+65度）
◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）
◆测试目的：高温应用性功能测试