整机可靠性测试规范

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◆测试环境:65℃95%RH(针对IML工艺,条件:55℃,95%RH)
◆手机数量及状态:5台(翻/滑盖6台)关机
◆测试目的:测试样机耐高温高湿性能
◆试验方法:装入电池,将手机处于关机状态,放入温湿实验箱内的架子上持续48个小时之后取出,常温恢复2小时,然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
◆判定标准:手机不允许出现不能开机或不能关机、数据丢失现象。允许有1次出现开机时间过长及开关机动画动画/声音失效
2.4.自由跌落实验
◆测试环境:室温(20-30℃)
◆测试数量:直板5PCS,翻/滑盖各6PCS
◆测试目的:验证手机及电池抗多次跌落的能力
◆测试方法:被测样机不包装,处于插卡通电待机状态,从1.5M高度(LCD尺寸小于2.4〞),(LCD尺寸大于2.4〞的机型跌落高度定为1.2M)初始速度为0自由跌落于大理石地板,6个面跌落,每个面跌落2次,每个面跌落后进行外观,结构及功能检查。直板及翻盖手机:左侧面,背面,右侧面,底面,顶面,正面。滑盖手机:底面,顶面,背面,正面,左侧面,右侧面。跌落过程中,对于翻盖手机,应将一半样品打开到使用状态,一半样品闭合为初始位置;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准:手机的射频性能指标满足要求,功能正常(包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能)外壳无变形。实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注:若手机RF测试头不外露,则不进行RF点测试更改为测试天线耦合性能。
1.4.高温工作(Paramatric Test)
试验标准:手机的射频性能指标满足要求,功能正常(包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能),外壳无变形。电池没有起鼓、漏液等不良失效现象;试验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注:若手机RF测试头不外露,则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
1.3.高温存储(Fuctional Test)
◆测试环境:+70℃(针对IML工艺,条件:+65度)
◆手机数量及状态:5台(翻/滑盖6台)
◆测试目的:高温应用性功能测试
◆试验方法:不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。按平均值不大于3℃/min的变化速度逐步升温到+70℃,温度稳定后持续48小时之后取出,并放置2小时恢复至常温,然后进行结构功能和射频性能检查。对于翻盖书记应该将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖,对于滑盖手机应该将一半样品滑开到上限位置。
1.6.恒定湿热(parametric Test)
◆测试环境:+40℃95%RH
◆测试数量:5pcs(翻/滑盖6台)
◆测试目的:高温高湿性可靠性测试
◆测试方法:将手机电池充电,手机处于开机状态,放入温度实验箱内的架子上。温度稳定后手机开机工作。在此环境下前3个小时,每1小时进行与外部手机进行通话测试,每次通话5分钟,(双卡手机DVT1阶段需测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话:移动+移动;移动+联通;联通+联通;开卡1锁卡2,开卡2锁卡1.PVT后只做移动+联通(双开)最后1小时进行电性能参数和功能检查(包括手机按键/侧键手感,滑/翻盖手感,触摸屏手机还需测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能)。对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖:对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准:手机的射频性能指标满足要求,功能正常(包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能)可正常拨打电话、实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注:若手机RF测试头不外露,则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
1.5高温高湿存储:
◆测试环境:室温(20-30℃)
◆测试数量:5pcs
◆测试目的:验证手机在使用中产生轻微撞击的适应性
◆测试方法:手机插卡开机状态,从10cm的高度自由跌落至8~10mm厚的铝板上,顺序按照底面2500次→正面500次→左侧面500次→右侧面500次,跌落完毕为一个循环,共进行4个循环,每完成一个循环检查一次被测试样机的外观及基本功能。实验速率:15次/分钟
◆判定标准:功能测试OK,结构方面无明显的裂纹,破损,内部无零件松动
2.7.整机软压力实验
◆测试环境:室温(20-30℃)
◆测试数量及状态:3台开机
◆测试目的:验证手机的抗压性能
◆测试方法:被测样机插卡开机,将厚度为10mm的橡胶垫,垂直方向以200N的力正面平压手机面(除I/O面和天线面)持续30秒,受力均匀,反复3000次
1.7.温度冲击测试(Thermal Shock)
◆测试环境:低温箱:-40℃;高温箱:+70℃(IML工艺为65℃)
◆手机数量及状态:5台(翻/滑盖6台)关机
◆测试目的:通过高低温冲击进行样品应力筛选
◆试验方法:使用高低温冲击箱,手机不带电池设置呈关机状态,先放置于高温箱内持续1小时后,在30秒内迅速移入低温箱并持续一小时后,再30秒内迅速回到高温箱。此为一个循环,共循环20次。实验结束后将样机从温度冲击箱(高温箱)中取出,恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机将一半样品打开翻盖。对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。
2.2.滑盖寿命实验
◆测试环境:室温(20-30℃)
◆测试数量及状态:5台开机
◆测试目的:验证壳材料,FPC,滑轨的寿命以及滑盖组件的结构寿命
测试方法:被测样机不包装,处于通电待机状态,要求滑轨达到最大活动位置,以25~30次/分钟的速度滑动滑盖,来回为一次,试验次数10万次,每2万次检查一次。
◆判定标准:实验结束后手机外观,结构与功能正常,无明显裂纹及破损,滑盖时无异响。
◆试验标准:手机的射频性能指标满足要求,表面喷涂无异常结构无异常,功能正常(包括按键、侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需要检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能),可正常拨打电话;实验前后确认按键导光效果、LCM显示效果等。
二.破坏性测试
测试目的:模拟用户对产品进行破环性测试
测试数量:直板44PCS滑盖/翻盖52PCS
试验标准:手机的射频性能指标满足要求,所有功能正常(包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能),外壳无变形;实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注:若手机RF测试头不外露,则不进行RF点测试,更改为测试天线耦合性能
1.2低温工作
试验标准:手机的射频性能指标满足要求,功能正常(包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能),可正常拨打电话,通话正常;电池也没有起鼓、漏液等不良失效现象,实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注:若手机RF测试头没有外露,则需手工开孔露出RF头进行测试RF指标
◆判定标准:通过基本功能测试,性能外观良好
2.8.盐雾实验
◆测试环境:35℃湿度90%RH
◆手机数量及状态:5台滑/翻盖6PCS关机
◆测试目的:测试样机抗盐雾腐蚀能力
◆测试方法:试验样品不包装,装上配套电池关机放在盐雾试验箱内。翻/滑盖样品数量4台,翻/滑盖实验时将一半样品打开,用绳子将试验样机悬挂在盐雾试验箱内,喷雾用PH值在6.5-7.2,浓度为5.0±1% NaCL溶液(在试验不得中途开启试验箱和取出样机,若中途继续取出进行检测,试验时间需相应加长)。样机竖直放置24小时,正面放置12小时,反面放置12小时,以免溶液喷洒不均或表面喷洒不到位。实验期满后,取出样机,用清水擦拭后烘干,进行检查。
测试流程:
2.1.翻盖寿命测试
◆测试环境:室温(20-30℃)
◆测试数量及状态:5台开机
◆测试目的:翻盖寿命测试
◆测试方法:将手机设置成开机状态并固定在测试夹具上,旋转频率为20次-25次/分,进行10万次翻盖测试。每2万次检查一次
◆判定标准:实验结束后手机外观,结构与电性能正常,无明显裂纹及破损,翻盖时无异响。
2.3.开关机稳定性实验
◆测试环境:室温(20-30℃)
◆测试数量及状态:2台插卡/不插卡
◆测试目的:验证正常开关机是否有异常
◆测试方法:在插卡状态下(一台插移动卡,一台插联通卡)按住开机键不放,手机开机到出现网络运营标志后关机(大约10-55S)然后再开机,重复500次。然后再做按开机键开机,拔掉电池关机500次。最后在取下SIM卡情况下再做重复开机100次。
◆试验标准:手机的射频性能指标满足要求,功能正常(包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能),外壳无变形,电池没有起鼓、漏液等不良失效现象,实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否正常。
注:若手机RF测试头不外露,则不进行RF点测试,更改为测试天线耦合性能。
◆测试环境:-15℃
◆手机数量及状态:5台(翻/滑盖6台)先关机再开机
◆测试目的:低温应用性能测试
◆试验方法:将手机电池充满电,插入SIM卡及T卡,手机处于关机状态,放入温度实验箱内的架子上,按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-15度,温度稳定后手机开始开机工作。在此环境下前3个小时,每1小时进行与外部手机进行通话测试,每次通话5分钟(双卡手机需要测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话:移动+移动;wenku.baidu.com通+移动;联通+联通;开卡1锁卡2,开卡2锁卡1.PVT后只做移动+联通(双开)最后一个小时进行电性能参数和功能检查(包括手机按键/侧键手感,电池盖拉拔力,滑/翻盖手感,长时间摄像,触摸屏手机还需要测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能)。对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置。
测试流程:
1.1.低温存储(Fuctional Test)
◆测试环境:-40度
◆手机数量及状态:5台(翻翻盖/滑盖6台)
◆测试目的:低温应用性功能测试
◆试验方法:不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-40℃,温度稳定后持续48小时,取出并放置2小时恢复至常温。然后进行结构功能和电性能检查。对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置(盒盖为3PCS,开盖为3PCS,后续环境实验样品数相同)
◆测试环境:+55度
◆手机数量及状态:5台(翻/滑盖6台)先关机后开机
◆测试目的:高温应用性性能测试
◆试验方式:将手机电池冲满点,插入SIM卡以及T卡手机处于关机状态,放入温度实验箱内的架子上,按平均值不大于3℃/min的变化速度逐步升温到+55度,温度稳定后手机开始工作。在此环境下前三个小时,每个小时进行与外部手机进行通话测试,每次通话5分钟,(双卡手机需测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话:移动+移动;移动+联通;联通+联通;开卡1锁卡2,开卡2锁1.PVT后只做移动+联通(双开)最后一个小时进行电性能参数和功能检查(包括手机按键/侧键手感,滑/翻盖手感,电池盖拉拔力,长时间摄像,触摸屏手机还需要测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能)。对于翻盖手机将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机将一半样品滑开到上限位置。
整机可靠性测试规范
版本
2011-07-16
拟订:郝福亮
批准:汪乐辉
版本修订状态
版本状态
日期
修订人
修订位置和原因
1.0
2011-01-04
郝福亮
原始版本
2.0
2011-07-16
郝福亮
修订导线摇摆测试标准
一.环境适应性测试
测试目的:模拟实际工作环境对产品进行性能测试
测试数量:直板机10PCS翻/滑盖12PCS
◆判定标准:通过基本功能,性能测试,无明显裂纹/破损,内部无零件松动及其他异常
2.5挂绳孔拉力强度实验
◆测试环境:室温(20-30℃)
◆样机数量及状态:5PCS关机
◆测试目的:挂绳孔结构强度测试
◆测试方法:拉住吊绳的尾端,静力50N,持续10秒,进行3次.
◆判定标准:外观良好,整体不松脱
2.6.10cm微跌测试
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