整机环境及可靠性试验测试要求
华为__整机硬件测试标准
返回编号用例名称测试条件测试步骤测试用例_预期结果样机数量备注测试结果Reliability_test_001载重测试(硬载重）普通手机：手机开机，整个正、反面施加70kgf的压力，承受2秒钟。
触摸屏手机：手机开机，整个正、反面施加70kgf的压力，承受2秒钟。
三防手机：手机开机，整个正、反面施加80kgf的压力，承受2秒钟1.测试前对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能2.手机正面向上正常放置在水平测试钢台上，对手机整个正面施加规定的压力，停留两秒钟。
3.手机正面向下正常放置在水平测试钢台上，对手机整个背面施加规定的压力，停留两秒钟。
4.每完成一步对样机进行检查（检MMI），测试完成进行终检（检MMI、通话、外观……）参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3载重测试压块面积应与手机相当且压块与手机间应加垫1~2mm泡棉测试过程中手机不能关机，测试完成后手机机械电气功能正常（重点关注LCD性能）。
Reliability_test_002载重测试(软载重）普通手机/触摸屏手机开机状态下，整个正面施加70kgf的压力，承受2秒钟。
1.测试前对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能2.普通手机/触摸屏手机开机状态下，整个正面施加70kgf的压力，承受2秒钟。
3.测试完成进行终检（检MMI、通话、外观……）参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3软载重测试压块面积应与手机相当或大于手机，且压块为硅橡胶压头（测试压头硅橡硬度应在肖氏70±5度）。
Reliability_test_003挤压测试（1）0.5kgf，挤压中心点，不允许出现水印（2）10kgf，金属棒压头(杆直径8mm，压头弧半径10mm)，挤压如下位置，屏幕9个点，听筒位置，FPC位置，sensor位置，芯片上方各一次；4.5kgf，摄像头中心点；10kgf，2s，IC中心，IC两侧各5次（压头以10mm/min的速度施加力）翻盖机内屏不挤压1）试验前，对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能；2）将产品固定在测试平台上，样品与测试平台之间需要放置3mm厚的防静电皮（静电皮的尺寸要大于产品的尺寸）。
整机测试方案
整机测试方案1. 引言整机测试是在产品开发周期的最后阶段对整个系统进行综合性测试的过程。
通过整机测试，可以验证系统各个模块之间的功能和性能是否正常，以及系统在各种不同条件下的稳定性和可靠性。
本文档将详细介绍整机测试方案的目的、范围、测试环境、测试内容、测试方法和测试计划。
2. 目的整机测试的目的是验证产品在实际使用环境下的功能和性能是否符合设计要求，检测潜在的缺陷和问题，并加以修复，确保产品的质量和稳定性。
3. 范围整机测试覆盖整个产品的功能和性能。
测试包括但不限于以下方面：•功能测试：验证系统各个模块的功能是否正常，并与需求规格进行对比；•性能测试：测试系统在各种负荷下的响应时间、吞吐量、并发性能等指标；•兼容性测试：测试系统在不同操作系统、浏览器、硬件平台等环境下的兼容性；•安全测试：测试系统的安全性，包括对潜在安全威胁的检测和防护措施的验证；•可靠性测试：测试系统在长时间运行下的稳定性和可靠性；•用户体验测试：测试系统的交互界面是否友好、易用，并满足用户的期望。
4. 测试环境为了模拟真实的使用场景，整机测试需要搭建符合实际使用环境的测试环境。
测试环境应包括以下内容：•硬件环境：根据产品的要求，搭建相应的硬件平台，包括服务器、客户端设备等；•软件环境：安装和配置相应的操作系统、数据库、网络环境等；•测试工具：根据测试需要，选择合适的测试工具，如性能测试工具、安全测试工具、自动化测试工具等。
5. 测试内容根据产品的功能和性能要求，确定整机测试的具体内容。
测试内容应包括系统的各个模块及其交互过程，并与需求规格进行对比。
具体的测试内容可以根据产品的特点和实际情况进行调整，但一般应包括以下方面：•功能测试：验证系统的核心功能是否正常，包括输入验证、数据处理、业务逻辑等；•性能测试：测试系统在不同负荷下的性能指标，如响应时间、吞吐量、并发性能等；•兼容性测试：测试系统在不同操作系统、浏览器、硬件平台等环境下的兼容性；•安全测试：测试系统对于潜在安全威胁的检测和防护措施的验证；•可靠性测试：测试系统在长时间运行下的稳定性和可靠性；•用户体验测试：测试系统的交互界面是否友好、易用，并满足用户的期望。
整机测试标准——
15 吊带孔耐力 检验吊带孔结构强度 试验
寿命测试
1、手机插卡插电池开机； 2）按5转/分钟的频率，50cm高度，做旋转500转。第300/400/450/500转检验 。 3）每次检验外观和功能；第500次进行射频检验、拆机检验结构。
1）带电池不开机，放入-25℃的试验箱内放置2小时； 2）取出后检验功能、外观，进行1米跌落试验； 3）LCD＞2.4寸跌落高度改为0.8M。 1）测试机插卡装电池待机状态； 2）垂直方向以25kg的力对手机正面及左侧面或右侧面（根据结构选）挤压 1000次；频率为30次/分； 1）测试机装卡装电池待机状态； 2）上下两端侧各夹住15mm，对其施加相应的扭矩（手机在关机状态下承受的 数值为手机厚度的0.08倍，厚度单位为mm，力度最大不超过2N.m，最小不小于 0.5N.m，顺逆扭曲交错500次，频率为30次/分； 拉住吊绳的尾端，静力5kg，持续10秒，然后再以每秒2圈的速度甩动60次（吊 绳穿上后长度10-15cm）
21
I/O充电口 插拔试验
电器对相关器件的影 响 检验充电器、耳机、 数据线与手机的匹配
示。 3）每500次检验手机功能，最后500次每100次检验功能； 4）耳机和充电器二合一则寿命≥3000次；如不共用，则耳机插拔寿命寿命≥ 2000次；充电器插拔寿命≥2000次；
22
USB塞插拔
检验USB塞与手机I/O 口的配合及USB塞的使
整机测试标准
试验室环境：温度15—35℃，相对湿度：45%—75%RH，大气压力：86—106KPa
环境测试
序号 测试项目
测试目的
测试方法
1 低温存储
检验手机在低温环境 条件下贮存的适应性
1） 测试机不包装、不带电池 。试验箱内任意2部机之间留有间隙。 2）试验箱内温度按≤3℃/min的速率达到-40±2℃开始计时，持续48小时。 3）放置2h，检查被测样机；
整机可靠性试验规范V01
文件制/修订记录1.目的本试验大纲规范远特公司前装市场车载影音产品在手工样件、DV、PV、SOP各阶段可靠性试验项目。
2. 适用范围本试验大纲覆盖各产品线验证各阶段可靠性试验项目，本试验大纲不仅仅适用12V系统产品，同样覆盖24V系统的产品。
3. 术语和定义整机可靠性：按GB3187-82《可靠性基本名词术语》定义可靠性：在规定的条件和规定的时间内，完成规定功能的能力。
4. 职责4.1中试工程实验组：负责本可靠性试验大纲正确性及覆盖率，执行试验发布试验报告，负责量产阶段可靠性试验失效分析。
负责外协实验室确定，并保证试验准确性。
4.2中试工程项目组: 负责PV样机可靠性验证试验准备、送样、协助DV阶段失效分析及主导PV阶段失效分析，负责发布PV及SOP阶段ECN。
4.3终端研发中心/T终端部：主导手工样件、DV阶段故障定位、分析解决并负责发布ECN。
4.4品质部：负责SOP阶段样机可靠性抽样送检，主导不合格品的纠正预防措施单及8D报告等品质管理工具实现品质归零。
4.5 项目经理：按产品开发计划，按时按量提供手工样件、DV、PV样件到中试部实验室。
5. 作业内容5.1 手工样件阶段:5.1.1项目经理提供手工样件到中试部实验室。
5.1.2 中试部实验组负责按如下附件进行试验：5.1.2.1主机厂长安手工样件可靠性试验大纲详见附件一。
5.1.2.2主机厂长安铃木手工样件可靠性试验大纲详见附件二。
5.1.2.3主机厂吉利手工样件可靠性试验大纲详见附件三。
5.1.2.4主机厂广汽手工样件可靠性试验大纲详见附件四。
5.1.2终端研发中心/T终端部主导本阶段故障定位、分析并解决，中试部项目组协助，中试部实验组负责验证，并发布试验报告。
5.1.3终端研发中心/T终端部负责发布本阶段ECN。
5.2 DV样件阶段:5.2.1项目经理提供DV样件到中试部实验室。
5.2.2 中试部实验组负责按如下附件进行试验：5.2.2.1主机厂长安DV样件可靠性试验大纲详见附件五。
手机可靠性全面检验规范
4)实验结束后将样机从温度冲击箱中取出，在室温（20-25°C）恢复2小时后进行外观、结构、功能及内存检查。
5)对于翻盖手机，应将一半样品打开到使用位置；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
样机外观，结构，功能和内存符合要求。
2
湿热储存
3PCS
验证样机湿热环境下的材料性能，结构配合，装配、制成工艺等可靠性．
1）开关机正常，无不开机与自动掉电现象。
2）手机各项功能正常，外壳及装饰件无变形、破裂、翘起、表面喷涂、电镀无裂纹;电池外观应不变形、不爆裂、不起火、不冒烟或不漏液，内部结构应无松动以及不得有与试验前预检不一致的现象.
4
高温工作
4PCS
验证产品在高温下的工作性能，暴露潜在的不良缺陷．
高低温湿热交变试验箱－GDJS-100C电热恒温鼓风干燥箱-DHG-9140A
2）对于导电材料之间的缝隙，不测试空气放电，对于导电材料与绝缘材料之间的缝隙，需要测试空气放电。
3)将样机放置静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态（样机与绝缘垫边缘距离至少2英寸；两个样机之间的距离也是至少2英寸），装上电话卡，手机处于通话状态.（注：所用电话卡必须是能正常通话的测试卡），正常测试使用产品配套充电器和数据线，实验室配备参考充电器和数据线选择过CE认证，ESD测试通过+/-８kV，数据线选择带屏蔽层数据线。
整机可靠性测试标准
（2台）
√
表（1）。
☆ 测试方法：将手机处于关机状态，放入温
度实验箱内的架子上。在高温持续24个小时后 ☆ 检验标准：手机功能正常，內存无丢失， 转至低温持续24个小时后取出，并放置2小时 外壳无变形。
（2台）
√
恢复至常温，然后进行功能检查。
跌落测试：
6.5''及6.5'' 以上LCM跌落0.5m; ☆ 测试方法：将手机处于开机状态，插入SIM
☆ 测试方法：将手机关机在能通过筛孔为 ☆ 检验标准：手机各项功能正常，所有活动
1
灰尘测试：35℃,8hrs,参考国标 GB 4208-2008
75um、金属丝直径为50um的方孔筛的干燥滑 元器件运转自如，显示区域没有明显灰尘。 石粉、试验箱内（工作室和管通道）灰尘量为 防尘IP6X产品检验标准：手机各项功能正常， 2kg/m3的粉尘中放置8h，然后将手机从实验 所有活动元器件运转自如，显示区不允许粉尘
1
4.3''及4.3''~6.5''LCM跌落0.6m; 3.8''及3.8''~4.3''LCM或数码手机 跌落0.8m;
3.0''及3.0''~3.8''LCM跌落1.0m; 2.8''及2.4''~2.8''LCM跌落1.2m; 2.4''及2.4'' 以下LCM 跌落1.3m; 大理石地面, 6 个面,每面跌落1 次,共2个循环;一半数量插入耳机 测试
PR1 计划 备注
PR2 计划 备注 测试项目 数量
例行实验及可靠性试验要求
验、淋水测试etc.*.可靠性试验项目包括：冲击测试、落下测试、附着力测试、盐雾测试、电源线拉力测试、寿命测试、短路测试、高压测试、漏电流测试、堵载测试、耐力老化测试etc.1. 高低温测试：1> 目的: 确保产品在不同的贮存条件下（环境气温变化），确保产品其性能符合使用要求.2> 工作环境温度测试: 整机组合分别在0℃和40℃的环境中放置1h以后依检测程序进行功能测试。
3> 储存环境温度测试: 将高低温测试仪调到规定之高温，取被测产品放入其内，2小时后取出，再将其放入规定的低温环境中2小时，如此反复测试6个周期（24小时），产品之性能不变，且能符合整机使用要求。
储存环境高低温度测试要求：成品机：高温＋60℃低温：-5℃贴纸类：高温＋80℃低温：-10℃其它：高温＋60℃低温：-10℃4> 判定标准:测试后样本性能满足设计要求.5> 测试完成后填写<<高低温测试报告>>2. 震动测试（ISTA -1A:2001）1> 目的:模拟运输过程中产品受到震动后，产品质量是否满足客人要求。
2> 测试方法和标准：将产品包装后放置在测试台上，使外箱的前后左右四个面距测试台固定边的距离总和为25MM，参照下表选择相应的震动频率和测试时间，使成品纸箱底部面能瞬间离开测试台面，用一金属薄片能胜利间歇地通过，分别测试不同的三个面（如图1，2，5面，对面不算）。
3> 判定标准：测试完成后产品的外观、内构和性能应满足设计要求。
4> 实验(测试)完成后填写《测试报告》。
3. 跌落测试：1> 目的：防止搬运/运输过程中，产品的外观、功能等要求出现异常情形和验证产品的包装防护符合设计要求而对产品包装测试。
2> 跌落高度/重量标准：3> 跌落测试之产品参照相应之高度跌1角，3棱、6面.⑴跌落1点:包装箱最易碎的角.⑵跌落2点:最易碎裂的角辐射的短边.⑶跌落3点:最易碎裂的角辐射的次短边.⑷跌落4点:最易碎裂的角辐射的最长边.⑸跌落5点:临近跌落角最小面.⑹跌落6点:最小面对面.⑺跌落7点:包装箱中面.⑻跌落8点:中面对面.⑼跌落9点:临近跌落角的最大面.⑽跌落10点:最大面对面.4> 测试人员根据测试要求，随机抽取规定数量进行测试，检查包装箱外观和编好测试机序号.5> 根据不同包装箱毛重选定跌落高度并作标识.6> 测试人员按1角、3棱、6面作跌落动作(跌落时应垂直、自由下落).7> 判定标准：跌落测试后，外观/功能/内构等项目均符合产品设计要求.8> 实验(测试)完成后填写《跌落测试报告Drop Test Report》。
整机可靠性测试规范讲解
整机可靠性测试规范版本 2.02011-07-16拟订：郝福亮批准：汪乐辉版本修订状态版本状态日期修订人修订位置和原因1.0 2011-01-04 郝福亮原始版本2.0 2011-07-16 郝福亮修订导线摇摆测试标准一.环境适应性测试测试目的：模拟实际工作环境对产品进行性能测试测试数量：直板机10PCS 翻/滑盖 12PCS测试流程：1.1．低温存储（Fuctional Test）◆测试环境：-40度◆手机数量及状态：5台（翻翻盖/滑盖 6台）◆测试目的：低温应用性功能测试◆试验方法：不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。
按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-40℃，温度稳定后持续48小时，取出并放置2小时恢复至常温。
然后进行结构功能和电性能检查。
对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置（盒盖为3PCS，开盖为3PCS，后续环境实验样品数相同）试验标准：手机的射频性能指标满足要求，所有功能正常（包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能），外壳无变形；实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注：若手机RF测试头不外露，则不进行RF点测试，更改为测试天线耦合性能1.2低温工作◆测试环境：-15℃◆手机数量及状态：5台（翻/滑盖6台）先关机再开机◆测试目的：低温应用性能测试◆试验方法：将手机电池充满电，插入SIM卡及T卡，手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子上，按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-15度，温度稳定后手机开始开机工作。
在此环境下前3个小时，每1小时进行与外部手机进行通话测试，每次通话5分钟（双卡手机需要测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话：移动+移动；联通+移动；联通+联通；开卡1锁卡2，开卡2锁卡1.PVT 后只做移动+联通（双开）最后一个小时进行电性能参数和功能检查（包括手机按键/侧键手感，电池盖拉拔力，滑/翻盖手感，长时间摄像，触摸屏手机还需要测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能）。
整机环境及可靠性试验测试要求
将手机设置成开机状态直接或借助安装夹具固定在冲击台上，在三个互相垂直轴线的每一个方向上施加3次连续冲击，总共18次，进行外观、机械和电性能检查
手机各项功能正常，外壳无变形、破裂，显示屏无破碎
碰撞试验
加速度：100m/s2 (10g)碰撞脉冲持续时间：16ms；每分钟碰撞次数：40~80
5台
在三个互相垂直的轴线方向上，垂直方向400次，水平及侧面各300次，共1000次，进行外观、机械和电性能检查
湿度试验
40oC，90~95%
将手机设置成关机状态，放入温度循环实验箱内的架子上，要确保手机被固定好，以防止实验中产生的水积聚在手机表面。持续16个小时之后取出，恢复4小时，然后进行外观、机械和电性能检查。将手机设置成开机状态放入实验箱。持续8个小时之后取出，恢复4个小时进行全功能及信号测试以确保电性能和机械性能完好。
寿命试验/耳机孔塞子拉拔试验
将耳机孔塞子塞在手机耳机插孔内，然后拔出，反复1000次
要求耳机塞子无变形现象，塞入手机耳机插孔时不会松动，跌落试验时塞子不会掉下来。
可靠性试验
测Hale Waihona Puke 环境样机数量试验方法
试验标准
常温试验
25° C常温
5台
将手机设置成开机状态放置于常温状态下，然后进行初始检查
振动试验
振幅：0.38mm；振频：10~30Hz；振幅：0.12mm；振频：30~55Hz；时间：3小时试验设备：振动实验台试验
在垂直方向以5Kg正面平压手机视窗，受力均匀，并持续5秒，平压3次
LCD无裂开现象，且显示正常
机壳试验/吊孔拉力试验
将吊绳栓在手机吊孔内，然后拉住吊绳的尾端，以5Kg的力拉拔，持续10秒；以每秒2圈的速度甩动手机60次。
华为可靠性测试标准
可以做
1）对样品供电保证其正常工作，并放置在温湿度测试箱中，对测试箱内湿度进行控制并在2小时 内升到90％RH，温度升到70℃，后保持温湿进行测试； 2）240H测试完成后，拿出产品放置于大气环境恢复2小时，对样品进行外观、机械及各项性能检 查。
1）样品不通电，调节设定冷箱温度为-40℃，热箱温度为80℃，（模式切换时间小于5mins），1 循环包括高温30分钟，低温30分钟,共进行100个循环； 2）测试完成后，对样品进行外观、机械及各项性能检查。
12取出测试样品并在室温下恢复24小时后检查样品的机械和电气性能注水测试用手指沾水在ctp与a壳配合的缝隙上以拍打和抹的方式使水渗入缝隙内直至有轻微溢出放置5分钟要求触控正常此方式主要检验设计上ctp是否存在与锌合金壳体或者模内注塑钢片有微短路隐患以及结构密封性
测试项目
钢珠跌落
铅笔硬度测试 盐雾测试 自由跌落
1）试验前，在常温下检查机械性能、电气性能（3.8V）等各项性能检测，并记录测试数据。 （初始检测） 2）将5pcs样品通电，放在温箱内。 3）设置温箱的温度从常温升到55℃，并且是按1℃/min进行升温，待达到55℃后，保持2个小时 。 4）对于5pcs样品通电放置20h。 5）测试完成后让温箱降温到常温25℃，恢复时间是2h,然后对常温下的样品进行机械性能、电气 性能进行检测。
用手指沾水在CTP与A壳配合的缝隙上以拍打和抹的方式使水渗入缝隙内，直至有轻微溢出，放置 5分钟，要求触控正常（此方式主要检验设计上CTP是否存在与锌合金壳体或者模内注塑钢片有微 短路隐患以及结构密封性）； 实验后样品功能正常 样品装成整机 测试压力：25kgf 测试次数：2000次（横向正面、横向反面、竖向正面、竖向反面各500次） 测试速度：电动设备10 mm/S，气动设备 15次/分钟 压头：硅橡胶挤压头（肖氏70±5度） 测试后屏无破裂，功能正常
行业平板电脑整机可靠性测试规范
行业平板电脑靠谱性测试规范文件版本：文件编号：拟订部门：测试部拟订日期：制定日期审查日期同意日期机密等级 :█一般□机密□极机密文件订正记录版本总页数页次订正内容与原因订正人刊行日期17第一版刊行马才旺一、测试目的：经过确实有效的考证，确认产品在研发、物料或制造上，能否有潜伏靠谱性缺失，保证产品在运输、储藏及使用等过程中，切合客户所需的靠谱度要求。
二、合用范围：合用于全部深圳市汉普电子技术开发有限企业研发和生产的行业平板电脑。
三、参照标准：YD/T 1539-2006：挪动通讯手持机靠谱性技术要乞降测试方法；GB/T：电子电工产品环境试验标准；GB/T 9286 ：色漆和清漆、漆膜的划格试验；GB 4208-2008：外壳防备等级（ IP 代码）；GB/T：包装运输包装件试验标准。
四、定义：1、严重缺点 (critical defect): 对用户，维修或依靠该产品的个人，有发生危险或不安全结果之弊端；2、主要缺点 (major defect): 指严重缺点之外的缺点，其结果也许会致使故障，或实质上降低产品单位的使用性能，致使不可以达成希望的目标；3、次要缺点 (minor defect): 指产品之使用性，实质上不致降低其希望目的的缺点，或虽与已设定的标准有所差别，但在产品单位之使用与操作功效上，并没有多大影响。
五、测试机台与时程：1、新产品研发各阶段，生管或RD 应最少供给 20 台测试样机；2、测试时间为日历天15 个工作日；3、各单项测试后出具测试报告，全部项目达成后3 个工作日内整理出最后测试报告。
六、样机编码规则：1、样机编码规则以「公元末 2 码+ 日期 + 流水号」之规则编码，如:091006-001；2、异样代码之编码原则以「机种+ 流水号」之规则编码，如:PA02-001。
七、测试前的样机记录：1、收到测试样机时，需确认外观、系统功能全检保证实验前测试样机优秀，并填写「外观系统功能全检表」；2、拿到样机后，需于样机管束流程卡填写管束编号「样机管束流程卡」若有改换零件也需填写表格，做纪录；3、样机标示卡贴于样机右上角，须与该样机管束流程卡同样，如标示卡地点影响到实验样机时，得以撕除贴纸并于实验前复制一张，于实验达成后再将序号贴上，后续会依此机台编号做登记并追踪纪录；4、履行测试前，确认每项实验项目履行情况及进度；5、测试中如遇测试异样时需填写「异样清单汇整表」，以利机台异样追踪；6、测试达成后出具靠谱性测试报告；7、达成全部靠谱性测试项目后供给完好靠谱性计划测试总表。
电子产品环境试验方法标准
电子产品环境试验方法标准一、引言随着科技的不断发展和人们对电子产品的需求增加，电子产品的市场竞争越来越激烈。
为了确保电子产品在各种环境条件下的可靠性、稳定性和耐久性，制定了一系列的环境试验方法标准。
这些标准旨在帮助企业确保产品符合相关质量要求，提高产品的性能和可靠性，满足用户对产品质量的期望。
二、试验对象本标准适用于各类电子产品，包括但不限于计算机、手机、电视、音频设备等。
这些产品经常面临各种环境条件，例如高温、低温、湿度、震动等，因此需要经过相应的环境试验方法来测试其性能和可靠性。
三、试验方法1. 高温试验高温试验旨在测试电子产品在高温环境下的耐热性能。
试验方法包括置于高温箱中暴露一定时间或采用热风循环系统进行连续高温暴露。
试验温度根据产品的使用环境和要求进行设定，通常为50°C至80°C。
2. 低温试验低温试验用于测试电子产品在低温环境下的耐寒性能。
试验方法可以采用冷冻箱或制冷系统进行，试验温度一般在-10°C至-40°C之间。
试验过程中要注意温度的稳定性和变化速率，以模拟真实使用环境中的低温情况。
3. 湿热试验湿热试验用于测试电子产品在高温高湿环境下的耐湿性能。
常用的试验方法为恒温湿度试验和循环湿度试验。
恒温湿度试验要求将产品置于恒定的高温高湿环境中暴露一段时间，而循环湿度试验则要求在一段时间内周期性地变化温度和湿度。
4. 振动试验振动试验用于测试电子产品在运输或正常使用中所受到的振动环境下的性能和可靠性。
试验方法一般包括正弦振动和随机振动两种，振动频率和加速度可根据产品自身特点进行设定。
5. 冲击试验冲击试验用于测试电子产品在运输或使用过程中所遭受的冲击环境下的耐冲击能力。
试验方法一般包括半正弦冲击、弹簧冲击和自由落体冲击等，试验参数可根据产品的特性进行调整。
6. 盐雾试验盐雾试验用于测试电子产品在腐蚀性环境中的耐腐蚀性能，常用于测试外壳、金属部件等材料的防腐性能。
手机整机可靠性测试
测试项目：I/O充电口插拔试验
实验目的：检验手机长期插拔充电器、数据线对相关器件的影响
实验设备：拔插寿命测试机或手工
测试样品数量：2sets
判定标准:不允许手机表面存在任何程度的爆裂，离壳及变形，但允许轻度的磨损，摇动手机不允许出现任何的异常的响声，不允许出现掉电、不识卡（SIM卡、存储卡等）现象。
测试项目:滚筒跌落试验
实验目的:确定手机频繁跌落到硬表面时，经受重复跌落的适应性
实验设备:滚筒跌落测试机、综测仪
测试样品数量:2sets
测试要求、内容：滚筒长度50CM，频率：5转/分钟，即手机跌落10次/分钟；次数：旋转250转，即手机跌落500次；每旋转10转，需要检查一次试验样机的外观和基本功能，按外观结构检查T基本功能测试TRF测试T开壳检查顺序进行。每跌落100次,进行外观检查，有部件松脱，可复原装回再进行下一次试验；每跌落100次进行基本功能测试，记录外观结构损伤地方和功能异常项目。试验结束进行RF测试。
手机整机可靠性测试项目规划（手机测试规范案例示范）
1.
测试项目:高低温充电测试
实验目的:检验手机在高低温环境条件下充电的适应性
实验设备:恒温恒湿试验箱
测试样品数量:4sets
测试要求、内容：被测样机不包装、充电状态，以正常位置放进试验箱内。实验温度-1O°C~45°C，每隔5C进行1小时充电测试，中间冷却时间为2小时。
实验设备:跌落实验机
测试样品数量:4sets
测试要求、内容：被测样机不包装、不装附件、处于通电待机状态。从1m高度（如果LCM面积超过手机表面积60%，跌落高度为50CM）,初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上，每面跌落2次，翻盖手机加跌翻盖打开2面，8面共计16次。试验结束，取出被测样机进行试验后检查。
整机可靠性测试计划
样机需求及测试周期说明
1、整机完整可靠性测试： 样机数量：20PCS；为配合整机验证，需配置:电池10PCS、充电器及数据线5PCS、耳机5PCS；测试周期：7个工作日
2、配件类可靠性测试： 电池数量：9PCS；测试周期：4天 充电器数量：9PCS；测试周期：4天 耳机数量：9PCS；测试周期：2天 数据线数量：6PCS；测试周期：1天
23
保护塞抗 拉
将测试样品的插孔保护塞一端用拉力计夹持住，再 用手握住手机缓慢向下施加拉力至1.2Kg，保持10秒 后迅速卸载拉力，测试10次
24
螺丝扭力 用设计允许的最大扭矩，反复旋动螺钉10次
25
随机振动
振动台设置5～20Hz：0.96m²/s3，20～500Hz： 0.96m2/s3，－3dB/oct，X/Y/Z轴向各进行30分钟
3
1
测试过程中手机不能关机，测试完 成后手机机械电气功能正常
3
Front plane（前面）:1000
Left side（左面）: 500
11
微跌试验
Right side（右面）:500 Top side（顶面）: 500
Back side（后面）:500
高度10厘米，一个循环5000次，测试2个循环，共1
万次跌落，PVC桌面
12
包装跌落 高度1.0m，面、角、棱，各测试1次
落、手机复位、掉电、无法呼出、
被叫故障；
2、1.2m/1.0M/0.5M跌落测试过程中
允许手机可装配部件脱落（如电池
掉、电池盖掉等），2个循环测试完
3
2
成后，手机机械电气功能正常，允
许手动可恢复的机械失效现象发生
（镜片等部件如果脱落后再安装无
整机测试检验要求
整机测试检验要求1、装配要求1.1要求各孔位安装无移位、干涉、抵触现象；1.2要求各卡、槽能正常安装，无干涉、抵触现象；同时检查扩展卡与预留开口是否匹配,压条支架固定是否有效。
1.3要求机箱内部各耦合件之间的安装无干涉、抵触现象；1.4需更换部件应能方便拆卸、更换；1.5用螺丝刀检查箱体内使用螺丝,要求带有磁性,便于安装；1.6装配后主板下表面器件与箱体之间的距离不得小于3.0mm；以此保证主板下表面器件不得与箱体之间有接触。
保证不造成主板短路。
2、外观检验要求2.1检查丝印标识:主要包括一些括I/O接口(USB、LAN、PS/2 KB&MS、VGA、DVI、TV、GPIO、AUDIO、LPT等接口)、接地点、电源开关、RESET、特殊功能键(报警复位键、一键还原)等;必须有相应的丝印标识；丝印标识位置规范。
检查多串口、网口丝印顺序对应是否正确(开机测试)。
采用直流供电的整机，其电源接口必须有“+”，“-”极标识2.2机箱尺寸须符合GB/T 3047.8-1996的规定；2.3安规检查:机箱边缘棱、角等部位是否倒角。
可借助塞规检查产品IP防护等级是否符合产品策划书要求。
2.4指示灯: 检查整机(机箱)指示灯摆放位置、颜色(需要开机); 统一电源指示灯为红色，硬盘指示灯为绿色。
若是平头LED灯，与面板外平面齐;半球形LED灯：直径3mm的灯凸出表面≤1mm；直径5mm的灯凸出表面≤2mm.(主要针对没有灯套的对于使用灯套的指示灯不作要求)2.5螺丝:机箱表面一般使用沉头螺钉。
沉头螺钉不得凸起，但允许稍低于零件表面。
优先选择颜色与机箱颜色较接近的螺钉。
2.6用游标卡尺检测光驱突出或凹入箱体不得超过0.5mm；用塞规测试光驱(或软驱)与箱体的单边缝隙(≤0.5mm)。
2.7检查产品外观是否有刮痕等不良,喷涂是否均匀和符合EMC规范要求2.8面板上带有RESET 按钮须内嵌，不能突出面板，手不能按到RESET按钮，只能借用其他工具才能复位。
安卓智能手机整机可靠性测试标准
深圳卓普通讯设备有限公司手机整机可靠性测试标准编制：徐海审核：陈善根批准：李建军文件编号: WI-QA-001发布日期：2012.6.27文件信息1. 部门审批/日期：2. 修订记录文件发放目录0.短语和参考文献 (5)0.1缩略语 (5)0.2术语和定义 (5)0.3参考文献 (5)1.目的 (6)2.编制依据 (6)3.适用范围 (6)4.术语，定义 (6)5.职责描述 (6)6.可靠性测试（ART）标准 (7)6.1加速寿命测试（Accelerated Life Test） (7)6.1.1室温下功能测试（Functional Test） (7)6.1.2跌落测试（Drop Test） (7)6.1.3温度冲击测试（Thermal Shock） (7)6.1.4湿热测试（Humidity Test） (7)6.1.5振动测试（Vibration Test） (8)6.1.6静电测试（ESD Test） (8)6.2气候适应性测试（Climatic Stress Test） (9)6.2.1室温下参数测试（Parametric Test） (9)6.2.2高温/低温工作测试（Parametric Test） (9)6.2.3湿热测试（Parametric Test）............................................................... 错误!未定义书签。
6.2.4高温/低温存储功能测试（Functional Test） (9)6.2.5灰尘测试（Dust Test） (10)6.2.6盐雾测试（Salt Fog Test） (10)6.3结构耐久测试（Mechanical Endurance Test） (10)6.3.1侧键测试（Side Key Test） (10)6.3.2充电器插拔测试（Charger Test） (10)6.3.3电池/电池盖拆装测试（Battery/Battery Cover Test） (11)6.3.4耳机插拔测试（Headset Test） (11)6.3.5SD卡/SIM卡插拔测试（SD Card Test） (11)6.3.6水滴实验（针对电容屏） (12)6.3.7喇叭寿命测试（Speaker life test） (12)6.3.8马达寿命测试（Vibration durability test） (12)6.4表面装饰测试（Decorative Surface Test） (12)6.4.1外壳表面处理测试 (12)6.4.2TP表面硬度测试（TP Hardness Test） (14)6.4.3钢球冲击测试（Ball Drop Test） (14)6.5特殊条件测试（Special Stress Test） (15)6.5.1扭曲测试（Twist Test） (15)6.5.2软压测试（Press Test） (15)6.5.3 硬压测试 (15)6.5.4 循环跌落测试（Micro-drop Test） (16)6.5.5滚筒跌落测试（Free Fall Test） (16)6.6其他测试（Other Test） (16)6.6.1螺母测试（Nut Test） (16)6.6.2I/O接口试验 (16)6.6.3耳机插口强力插入测试（Earphone Connector Evaluation Test） (17)6.6.4保护盖（耳机塞、I/O接口塞、RF塞、螺丝塞等）测试 (17)6.6.5TP/LENS 测试（TP/Lens Test） (18)6.6.6 水煮试验 (18)7.最终检验 (19)0.短语和参考文献0.1缩略语无0.2术语和定义ART：Accelerated Reliability Test（可靠性实验）0.3参考文献1.目的评估产品的质量和可靠性。
整机可靠性测试报告2015.8.12
客户：QMOBILE 送测日期8.12产品型号F2数量20颜色项目工程接收人严春梅检查结果测试项目备注送检前检测振动/ESD测试自由跌落 /高温储存/低温储存/软压测试横压1000次有1台破屏RCA /铅笔硬度/沙尘测试 盐雾测试/插拔测试//摇摆测试//划线测试//百格测试按键，电池盖面测试/ 按键寿命/微跌测试/ 滚筒测试/酒精耐磨/钢球冲击/马达老化/ 喇叭老化/摄像头老化/ 听筒老化/ 麦克老化/手电筒/放电/充电/ I/O插拔/通话测试/开关机压力/深圳市天誉源科技有限公司SHENZHEN T-SOURCE TELECOM DEVELOPMENT CO,LTD整机可靠性测试报告表单编号：TYY-QR-QAD-02黑NG实验类别：□ PR1 □ PR2 □ MP1 □ MP2 □ 正常量产 □ 其他实验条件及要求不良简述按整机成品检验标准1H振动频率:5-500Hz，ASD（加速度谱密度）:0.96㎡/S3，振动方向:X Y Z/接触式放电 : ±2KV, ±4KV、±6KV.放电时,接触被测试点表面进行放电,频率10次/点/等级。
空气放电:±4KV, ±6KV、±8KV, 放电时,接触被测试点表面距离4CM进行放电,频率10次/点/等级.接触式放电4PCS：正负4KV:OK.正负6KV:OK 空气式放电4PCS：正负8KV：OK手机处于开机状态 ，从1米(注：屏尺寸≤2.8跌落1.2M,2.8＜屏尺寸≤3.5跌落1M,3.5＜屏尺寸≤5.0,跌落0.8M，5.0＜屏尺寸≤7.0,跌0.6M，7.0＜屏尺寸,跌0.3M）B.跌落顺序依次为：顶部、底部、左侧、右侧、正面、背面跌落高度1.0M 75±2℃ 湿度：90%;放置48小时，取出后常温放置2H / -30±3℃ 放置48小时，取出后常温放置2H /250N力，测试2000次，每分钟15-30次；将样品固定在RCA试验机上,进行同一位置施加175g的力连续摩擦./2H铅笔.250G的力镜片区域测试骨石粉颗粒大小300目（约46微米）沙尘流量：9M/S，测试时间100分钟沙尘测试4PCS：进灰2PCS.1键无功1PCS.4.7.9.*键无功1PCS.开机键无功1PCS 箱内温度35度压力桶温度47度.药水浓度5%。
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实验前应确保手机功能正常，例如：显示，时间日期警示音，悦音警示，扬声器等。将手机（2台开机，3台关机）随意放入振动箱。设置成正面向上，背面向上，打开翻盖等姿势。振动3个小时之后取出然后进行功能测试
震动前5分钟内手机内存和设置没有丢失现象，30分钟后允许出现关机现象，手机各项功能正常，尤其是显示和SPL，外壳无严重损伤（如掉漆），LCD无破裂现象，内部元件无脱落、无损伤
5台
开机功能测试
湿度试验
40oC，90~95%
将手机设置成关机状态，放入温度循环实验箱内的架子上，要确保手机被固定好，以防止实验中产生的水积聚在手机表面。持续16个小时之后取出，恢复4小时，然后进行外观、机械和电性能检查。将手机设置成开机状态放入实验箱。持续8个小时之后取出，恢复4个小时进行全功能及信号测试以确保电性能和机械性能完好。
方格面无油漆脱落现象
机壳试验/硬度试验
用3H铅笔，在45度角下，以1Kg的力度在机壳表面划出3~5cm长的线条
用橡皮擦去铅笔痕迹后，应不留下划痕
机壳试验/压力试验
在垂直方向以10Kg力正面平压手机各个面，受力均匀，并持续10秒，每面3次。
手机无变形，符合外观标准，且功能使用正常
机壳试验/视窗平压试验
在+/-8Kv时出现任何问题都要被计为故障；+/-15kV时允许出现关机、死机、黑屏等现象，维修后继续进行测试。丢失内存（电话号码，短信息）或设置（日期，时间）等现象要计为故障，重新组装后进行测试。
触摸屏试验/点击测试
a)点击测试1.将手机设置为开机状态正面朝上固定在测试台上II.调整手写笔接触到触摸屏力度为：垂直250gf(2.45N) III.设置点击速度为2次/秒，IV. 250000次V.实验结束后进行触摸屏功能测试b)直线测试VI.将手机设置为关机状态正面朝上固定在测试台上，保证触摸屏与手写笔垂直接触II.调整手写笔的移动范围，III.保证手写笔在触摸屏范围移动IV.调整手写笔接触到触摸屏力度为：垂直250gf(2.45N) V.设置滑行速度为60mm/秒，VI. 100000次VII.实验结束后对触摸屏表面进行外观检查
手机无变形，符合外观标准，且功能使用正常
机壳试验/天线强度试验
捏住天线的头部，以每秒2次的速度，以手机为重心作单向摆动，共60次
手机无变形，符合外观标准，且功能使用正常
机壳试验/光照试验
在温度为60° C，紫外线为340W/mm2的光线下直射油漆表面48小时
油漆表面应无褪色及色变现象
寿命试验/电池插拔试验
在垂直方向以5Kg正面平压手机视窗，受力均匀，并持续5秒，平压3次
LCD无裂开现象，且显示正常
机壳试验/吊孔拉力试验
将吊绳栓在手机吊孔内，然后拉住吊绳的尾端，以5Kg的力拉拔，持续10秒；以每秒2圈的速度甩动手机60次。
吊绳孔外观良好，吊绳整体不松脱
机壳试验/反翻盖压力试验
将翻盖打开的样机置于水平桌面（翻面朝上），以2Kg的力度平压手机电池推扭部位，持续10秒，平压3次。
点击测试：触摸屏功能正常直线测试：触摸屏无明显的划痕
机壳试验/耐磨试验
将样机固定在R.CA耐磨仪上，确定耐磨点，以175g的力摩擦350圈，每50圈检查耐磨点表面的丝印。
耐磨点油漆应无磨损、脱落或掉色现象
机壳试验/附着力试验
使用百格刀刻出100个1平方毫米的方格，直到露底为止，再用3M800号胶纸用力粘贴方格面，然后撕脱，检查方格面油漆。
手机各项功能正常，外壳无变形、破裂，显示屏无破碎，内部元器件物脱落现象
跌落试验
1.5m高度，20mm硬木板面
做5个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为1次（天线面除外）。进行外观、机械和电性能检查。
手机各项功能正常，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破碎，内部元件无脱落
振动（正弦）试验
振幅：0.38mm；振频：10~30Hz；振幅：0.19mm；振频：30~55Hz；时间：1小时
手机各项功能正常，外壳无异变
温度冲击试验
低温箱：-40° C；高温箱：50° C
5台
将手机设置成关机状态放置于低温箱内持续2个小时，于5分钟之内移入高温箱持续2个小时。循环3次。恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查
手机各项功能正常，外壳无异变
冲击试验
加速度：150m/s2 (15g)冲击脉冲持续时间：11ms
手机各项功能正常，外壳无变形
温度循环试验
-40oC ~75oC，每分钟变化17℃
将手机设置成关机状态，放入温度循环实验箱内的架子上，要确保手机被固定好，以防止实验中产生的水积聚在手机表面，持续45分钟。恢复4个小时进行全功能及信号测试以确保电性能和机械性能完好。
手机电性能和机械性能完好
翻盖试验
常温
将手机设置成关机状态固定在测试夹具上，进行5万次开合翻盖测试。进行到3万次和4万次时各检查手机一次，完成5万次时检查手机翻盖弹性及功能。
机各项功能正常，外壳无异变
高温试验/高温储存试验
50° C
5台
将手机设置成关机状态放置于高温箱内持续4个小时，进行外观、机械和电性能检查
手机各项功能正常，外壳无异变
高温试验/高温工作试验
50° C
5台
将手机设置成开机状态放置于高温箱内持续2个小时，检验手机性能。常温1小时后进行外观、机械和电性能检查
5台
将手机（2台开机，3台关机）随意放入振动箱。设置成正面向上，背面向上，打开翻盖等姿势。振动1个小时之后取出然后进行外观、机械和电性能检查
震动前5分钟内手机内存和设置没有丢失现象，后55分钟可以出现关机现象，手机各项功能正常，尤其是显示和SPL，外壳无严重损伤（如掉漆），内部元件无脱落。
盐雾试验
测试箱温度：50oC；湿度90%
5台
将手机设置成开机状态直接或借助安装夹具固定在冲击台上，在三个互相垂直轴线的每一个方向上施加3次连续冲击，总共18次，进行外观、机械和电性能检查
手机各项功能正常，外壳无变形、破裂，显示屏无破碎
碰撞试验
加速度：100m/s2 (10g)碰撞脉冲持续时间：16ms；每分钟碰撞次数：40~80
5台
在三个互相垂直的轴线方向上，垂直方向400次，水平及侧面各300次，共1000次，进行外观、机械和电性能检查
高温试验
55oC；关机
5台
将手机设置成关机充电状态放入实验箱。持续4个小时之后取出，恢复2小时后进行功能测试。
手机电性能和机械性能正常，外壳无异变
40oC；开机
5台
将手机设置成关机充电状态放入实验箱。持续4个小时之后取出，恢复2小时后进行功能测试。
手机电性能和机械性能正常，外壳无异变
常温测试
试验环境：25oC
手机及充电器的功能使用正常
寿命试验/耳机插拔试验
将耳机插在手机耳机插孔内，然后拔出，反复1000次。每插拔100次检查用耳机通话是否正常，至700次时每50次检查用耳机通话是否正常
实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用耳机通话接收与送话无杂音（通话过程中转动耳机插头），耳机插入手机耳机插孔时不会松动（可以承受得住手机本身的重量）。
寿命试验/耳机孔塞子拉拔试验
将耳机孔塞子塞在手机耳机插孔内，然后拔出，反复1000次
要求耳机塞子无变形现象，塞入手机耳机插孔时不会松动，跌落试验时塞子不会掉下来。
可靠性试验
测试环境
样机数量
试验方法
试验标准
常温试验
25° C常温
5台
将手机设置成开机状态放置于常温状态下，然后进行初始检查
振动试验
振幅：0.38mm；振频：10~30Hz；振幅：0.12mm；振频：30~55Hz；时间：3小时试验设备：振动实验台试验
环境及可靠性试验测试要求
．环境冲击实验
测试种类
测试环境
样机数量
实验方法
实验标准
低温试验/低温储存试验
-40° C
5台
将手机设置成关机状态放置于低温箱内持续4个小时，常温干燥4小时，进行外观、机械和电性能检查。
手机各项功能正常，外壳无异变
低温试验/低温工作试验
-10° C
5台
将手机设置成开机状态放置于低温箱内持续2个小时，进行外观、机械和电性能检查。
手机翻盖弹性及功能正常
按键试验
常温
将手机设置成关机状态固定在测试夹具上，进行5万次按压按键测试。检查手机按键弹性及功能。
手机按键弹性及功Biblioteka 正常静电试验+/-8kV~+/-15kV
a)将样机设置为开机状态，b)检查样机内存和功能。（内存10条短信息和10个电话号码；使用功能正常）。将样机放于静电测试台的绝缘垫上，（样机与绝缘垫边缘距离至少2英寸；两个样机之间的距离也是至少2英寸）。c)打开静电模拟器，d)调节为空气放电方式，分别选择±8kV~±15kV，对手机指定部位连续放电10次，并对地放电。每做完一个部位的测试，检查手机功能、信号和灵敏度，并观察手机在测试过程中有无死机，通信链路中断，LCD损坏，自动关机等现象。e)样机需在通话过程状态下进行各个放电方式、级别和极性的测试
5台
a)溶液含量：氯化钠：20g/l；氯化铵：17.5g/l；尿素：5g/l；乙酸：2.5g/l；乳酸：15g/l；氢氧化钠：数量要求使pH值达到4.7。b)使用普通聚乙烯喷雾瓶将溶液以薄雾状喷洒在样机整个表面上。样机用绳子悬挂起来，以免溶液喷洒不均或有的表面喷不到。c)样机需立即被放入测试箱，d)实验周期是2周。实验过程中样机不得被中途取出，如果急需取出测试，要严格记录测试时间，该实验需向后延迟相同时间。e)取出样机，f)对其进行外观机械和电性能检查。
低温试验
试验环境：-10oC试验设备：低温实验箱
5台
将手机设置成开机状态，放置于低温实验箱，9个小时之后取出，恢复2小时后进行功能检测