X荧光分析仪的应用
X荧光光谱仪的原理及应用
X荧光光谱仪的原理及应用X荧光光谱仪的原理是基于激发态和基态之间的能量转移过程。
当样品受到特定波长的激发光照射时，部分激发光能将样品中的原子或分子从基态激发到激发态。
此时，激发态的物质会经历自发辐射或受到外界环境的影响而发生非辐射能量传递，将激发态的能量以光的形式释放出来，形成荧光信号。
通过检测和分析这种荧光信号，可以得到样品的荧光强度和荧光光谱。
1.生物医学研究：X荧光光谱仪可以用于分析细胞内的荧光标记物、药物的分子鉴定、蛋白质结构研究等。
它可以帮助研究人员了解生物分子的结构特征、相互作用和功能。
2.环境监测：X荧光光谱仪可以用于监测水、大气和土壤中的污染物。
通过测量样品的荧光强度和荧光光谱，可以快速检测和定量分析有害物质的存在和浓度，对环境污染进行监测和评估。
3.食品安全：X荧光光谱仪可以用于检测食品中的添加剂、残留农药和重金属等有害物质。
它可以高效地进行食品检测和质量控制，保障食品安全。
4.化学分析：X荧光光谱仪可以用于分析和鉴定有机物和无机物。
它可以测定样品中的元素含量、结构确定和化学反应动力学研究等。
除了以上应用，X荧光光谱仪还可以用于材料科学研究、生化分析、药物研发等领域。
它具有灵敏度高、快速分析、非破坏性检测等优点，并且能够分析复杂样品，得到可靠的分析结果。
总之，X荧光光谱仪的原理是基于激发态和基态之间的能量转移过程，通过测量荧光信号的强度和光谱，可以实现对样品的定性和定量分析。
它的应用涵盖了生物医学、环境监测、食品安全、化学分析等多个领域，对科学研究和工业生产具有重要意义。
X射线荧光光谱仪的优点
X射线荧光光谱仪的优点X射线荧光光谱仪是一种利用X射线激发样品，测量样品发射出的荧光X射线谱线，从而分析样品化学成分的分析技术。
在现代分析学中，X射线荧光光谱仪是一种非常重要的仪器，具有广泛的应用领域。
它在化学、材料、地质、环保、制药、冶金等领域都有广泛应用。
本文将讨论X射线荧光光谱仪的优点。
1. 非破坏性分析X射线荧光光谱仪采用的是非破坏性分析技术。
它不需要对样品进行物理或化学处理，只需将样品置于光路中进行分析即可。
并且样品不会被分解或改变其结构，因此可以保留原本的形态和特性。
这是一项非常重要的优点，因为有些样品是非常珍贵的，或者是对生物体有影响的，不宜经过破坏性分析。
2. 快速分析速度X射线荧光光谱仪对样品的分析速度非常快，可以在短时间内完成分析。
这是由于它是一种非破坏性分析技术，并且可以同时对多个元素进行分析。
这对于高效分析和质量控制非常重要。
对于制药厂、冶金厂等工业生产领域，快速分析速度是非常重要的，可以提高工作效率，减少浪费。
3. 准确度高X射线荧光光谱仪的准确度非常高。
X射线激发能量可以非常精准地控制，并且各种元素的谱线是具有独特的特征，因此可以很容易地确定元素的存在和含量。
此外，荧光峰强度可以直接转化为元素的浓度，从而提高分析结果的精度。
4. 适用范围广X射线荧光光谱仪适用范围非常广。
它可以对任何样品进行分析，不论是固体、液体、粉末还是薄膜等形态。
同时，它还可以分析所有化学元素，包括难以分析的微量元素。
这使得其在科学研究、产品开发、生产质量控制和环境保护等方面都有应用。
5. 易于操作X射线荧光光谱仪的操作相对简单，不需要任何高级技能。
通常只需按照使用说明进行操作，即可完成分析。
并且其分析软件也比较容易学习，只需少量的培训即可掌握。
这大大方便了用户的使用，并且可以让更多人受益于X射线荧光光谱仪的分析技术。
6. 经济实惠X射线荧光光谱仪的使用成本相对较低。
它不需要使用昂贵的试剂或仪器，并且可以在短时间内提供准确的分析结果。
x荧光能谱仪用途
x荧光能谱仪用途X荧光能谱仪是一种高精密、高分辨率的仪器，广泛应用于物理、化学、材料科学和地质学等领域。
它可以通过测量物质吸收或发射的X射线能谱，得出样品的元素组成和结构特征，从而实现精确的定性和定量分析。
以下将介绍X荧光能谱仪的主要应用领域和功能特点。
首先，X荧光能谱仪在物理和化学研究中发挥着重要的作用。
科学家们可以利用该仪器研究原子和分子的能级结构和电子性质，从而深入了解化学反应过程和物质性质。
在固体物理学中，X荧光能谱仪能够揭示材料的晶体结构、晶格畸变和因弛豫引起的位错等缺陷。
同时，它还可用于研究半导体材料、超导体材料和催化剂等领域，进一步理解材料的性能和功能。
其次，X荧光能谱仪在环境监测和有害物质检测方面发挥着重要的作用。
例如，在空气质量监测中，可使用X荧光能谱仪快速检测大气中的重金属污染物，如铅、汞、镉等，以保护公众的健康和环境的安全。
在水质监测中，该仪器可用于测量水中的痕量金属元素含量，如铜、锌、镍等，进而判断水质的好坏和污染程度。
此外，X荧光能谱仪还可以用于农产品和食品安全检测，追踪食品中的有害物质并为食品质量控制提供科学依据。
再次，X荧光能谱仪在材料科学和工业生产中的应用也相当广泛。
例如，在材料表面分析中，利用该仪器可以进行非破坏性的原位分析，快速获取材料表面的元素组成和化学组成，而不需要样品的预处理。
这对于新材料的研发和品质监控具有重要意义。
在金属和合金工业中，X荧光能谱仪可用于检测材料中的痕量杂质和元素含量，以保证产品质量和安全。
此外，该仪器还可以用于宝石和矿石的鉴定，通过分析其元素组成和特征峰位来判断其真伪和品质。
最后，X荧光能谱仪具有高灵敏度、高分辨率和简单易用等功能特点。
它可以检测非常低浓度的物质，甚至达到微克、纳克级别。
同时，由于该仪器操作简便，不需要对样品进行破坏性处理，因此适用于各种复杂的样品类型。
此外，它还可以进行多元素的同时检测，提高工作效率和减少分析成本。
因此，X荧光能谱仪在科学研究、环境监测和工业生产等领域具有广泛的应用前景。
X射线荧光光谱仪基本原理及应用
能量色散型
能量色散谱仪
能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检 测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。
X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对，电子-空穴对在电 场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时间内， 来自试样的荧光X射线依次被半导体探测器检测，得到一系列幅度与光子 能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器。
人类的第一
1912年，劳厄等人首次对铜晶体做了射线的衍射实验，实验证明了X射线具有电磁波的 性质。X射线衍射方法成为晶体构造测定的主要方法。
1913年，布拉格父子在对晶体衍射技术的研究时提出了著名的布拉格定律：
2dsiθ nnλ
d为平行原子平面的间距，θ为入射光与晶面之夹角，λ为入射波波长，n为衍射级数。这 个著名的定律同时也奠定了X射线衍射技术的根底。
1916年，德拜和谢乐开展了射线研究晶体 构造的方法，提出粉末衍射法。
1923年，康普顿首次报道了当X射线用几 乎与样品外表平行的小角度入射到理想光滑 平整的样品外表上时，能够出现镜面反射的 特征。入射射线在样品外表发生全反射的前 提是入射角大于或等于临界角〔入射角αi≥ 临界角α0)。X射线被全反射，因此探测到的 信息几乎全部是样品外表薄层的信息，可以 防止来自衬底的干扰信息。
[2] 梁晓勇, 等 . 无标样X射线荧光光谱仪定量分析 研究 . 杭州电子科技大学 , 2021.
[3] 吉昂 . X射线荧光光谱三十年 . 岩矿测试 ， 2021，03 .
谢谢！
X射线荧光光谱仪 用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧
光X射线，需要把混合的X射线按波长〔或能量〕分开，分别 测量不同波长〔或能量〕的X射线的强度，以进展定性和定 量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。
能量色散x荧光光谱仪的功能
能量色散x荧光光谱仪的功能
能量色散x荧光光谱仪是一种用于研究物质的化学成分和结构的仪器。
它具有以下主要功能：
1. 荧光信号检测: 荧光光谱仪可以测量物质在受到激发后发射的荧光信号强度
和波长分布。
通过分析荧光光谱特征，可以获得物质的信息，如元素组成、结构、分子间相互作用等。
2. 能量色散: 荧光光谱仪可以将荧光信号根据波长进行分散，从而实现不同波长的荧光信号的分离和测量。
这样可以得到更详细的关于物质荧光发射的信息，并提高测量的准确性。
3. 光谱扫描: 荧光光谱仪能够对不同波长范围内的荧光信号进行扫描，并记录下信号的强度和波长随时间的变化。
这种能力可以用于研究物质的动力学过程，如化学反应、分子间相互作用的变化等。
4. 构成分析: 荧光光谱仪可以通过测量荧光信号的强度和波长分布，来确定物质的化学成分。
通过与已知物质的光谱进行比较，可以实现物质的定性和定量分析。
5. 光谱图像获取: 荧光光谱仪可以获取整个荧光光谱的图像，并显示在显示器上。
这种图像可以提供更直观、详细的信息，帮助研究者更好地理解荧光信号的特征和变化。
总之，能量色散x荧光光谱仪具有测量荧光信号、分离荧光信号、扫描光谱、构成分析和图像获取等功能，用于研究物质的化学成分和结构。
X射线荧光光谱仪的特点及应用介绍
X射线荧光光谱仪的特点及应用介绍X射线荧光光谱仪应用领域：冶金、铸造、机械、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空、核电、金属和有色金属冶炼、加工和回收工业中的各种分析。
X射线荧光光谱仪主要特点：1、电子系统采用国际标准机笼、高集成化设计。
2、专利技术的入缝及整体出射狭缝制造技术，确保光学系统稳定可靠。
3、光电倍增管检测器，光谱分析范围：160nm-850nm。
4、全数字化智能复合光源DDD技术，可以根据不同材料的激发特点自动调节光源激发参数，真正实现全数字化控制。
5、集成气路模块，优化氩气流向、降低氩气消耗，粉尘通道流畅。
主要配置1、光学系统结构：优化的帕邢-龙格架构、动态安装技术、整体铝合金铸造、局部恒温光栅：曲率半径：750mm入射狭缝：20u出射狭缝：高精度光刻蚀整体狭缝，根据不同元素设立30u-75u缝宽检测器：光电倍增管（PMT）检测器2、全数字激发光源全数字化智能复合光源DDD技术，可以根据不同材料的激发特点自动调节光源激发参数，真正实现全数字化控制。
采用全数字控制模式，高能预燃技术（HEPS），超稳定的能量释放在氩气环境中激发样品。
全数字光源的应用，提高了样品的测量精度和相似性，提高了样品激发速度，-提高火花稳定性，使样品有更好的重现性。
放电频率100Hz-1000Hz可调放电电流达到400A。
3、开放式样品激发台装置激发台直接将激发光导入光学系统。
优化氩气流向设计及粉尘收集清理装置。
开放式样品台可适应各种大小和形状的分析样品。
压杆高度、左右自由调节和移动，接驳安全电路设计。
可装入不同的样品夹具进行分析小样品、细丝和薄片。
4、真空测量和控制真空系统程控，在保证真空度的同时减少真空泵的运行时间，有效延长真空泵的使用寿命。
双级真空隔离措施，很好减少油蒸气以光室的污染。
PMT高压开启和真空系统联动，防止产生辉光放电。
5、信号采集系统信号采集直接与计算机进行数据交换，同时处理来自光电倍增管的信号。
X射线荧光光谱仪原理及应用
将样品置于仪器分析台上，通过X射线照射样品得到荧光谱。
3
谱线分析
对荧光X射线谱进行逐峰分析，定量和定性分析各种元素。
案例研究
测定金属材料中碳含量
利用X射线荧光光谱仪可以对金 属材料中的碳含量进行分析。
矿物元素分析
矿物中元素含量及其分布在地质 勘探过程中起着重要作用。
地下水铅污染
对地下水铅污染进行了分析评价， 为水环境保护和铅中毒防治提供 依据。
探索X射线荧光光谱仪
X射线荧光光谱仪是一种高精度的分析仪器，广泛用于材料、生物等众多领域 的研究和实验。本文将深入探讨该仪器的原理及其应用。
原理与工作原理
1
激发原子核
通过给样品提供高能量的X射线来激发样品原子核中的自由电子。
2
发射特征光
通过脱离自由电子来释放出特有的荧光X射线。
3
测量分析
根据不同化学元素的荧光X射线谱线和强度分析样品的成分及含量。
分析技术
质量分析技术
通过检测样品中化学元素的含量 和种类来进行质量分析。
成分分析线的峰位和峰强度 分析样品中各成分的含量和种类。
通过对样品中钼的Kα线荧光谱分 析，可以推断分子结构。
应用领域
材料科学
分析材料成分、构造、形态及其内部微观结构， 比如金属、半导体、陶瓷材料等。
总结
原理及工作原理
利用X射线的特性进行元素分析。
应用领域
广泛应用于材料分析、环境保 护、考古文物、医药生物等领 域。
优点与限制
优点为非破坏性、灵敏度高、 适用性广泛，限制为仅用于最 上层表面的分析。
2 灵敏度高
能够实现以ppm为数量级的元素定量和定性 分析。
3 适用性广泛
x射线荧光分析的原理及应用
X射线荧光分析的原理及应用1.引言X射线荧光分析是一种十分重要的分析技术，它通过测量样品中产生的特征X射线的能量和强度，来确定样品中元素的类型和含量。
本文将介绍X射线荧光分析的基本原理和其在科学研究和工业应用中的重要性。
2.原理X射线荧光分析的基本原理由以下几个方面组成：2.1 X射线激发X射线荧光分析是通过激发样品产生的特征X射线来进行元素分析的。
当样品受到高能X射线束的照射时，其中的原子会吸收X射线的能量并获得激发态。
当原子回到基态时，会放出特征X射线。
2.2 X射线的能量和强度不同元素的特征X射线具有不同的能量，这个能量与元素的原子结构有关。
X射线荧光分析仪器可以测量特征X射线的能量和强度，通过对这些数据的分析，就可以确定样品中元素的种类和含量。
2.3 能量谱分析X射线荧光分析仪器通常会将样品中产生的特征X射线转化为能量谱图。
能量谱图展示了不同能量X射线的强度分布情况，通过比对已知标准样品的能量谱图，可以确定未知样品中的元素。
2.4 标准曲线法为了定量分析样品中各个元素的含量，常使用标准曲线法。
这种方法需要事先制备一系列含有已知浓度的标准样品，并测量它们的X射线能量和强度。
通过绘制标准曲线，再测量未知样品的能量和强度，就能得到该样品中元素浓度的定量结果。
3.应用X射线荧光分析在许多领域有着广泛的应用。
3.1 原材料分析X射线荧光分析可以用于原材料的成分分析和质量控制。
例如，在矿石矿物分析中，通过测量矿石中特定元素的含量，可以确定矿石的品质和适用性。
3.2 地质学研究地质学研究中，X射线荧光分析被广泛应用于岩石和土壤样品中元素的定量分析。
这些数据不仅可以帮助研究者了解地质构造和地质演化，还在勘探矿产资源和环境地球化学研究中具有重要作用。
3.3 金属材料分析X射线荧光分析可以用于金属材料的检测和分析。
例如，在不锈钢和合金材料中，可以通过测量特定元素（如铬、镍、钼等）的含量，来评估材料的质量和性能。
X-射线荧光分析仪在铝土矿石分析中的应用
X-射线荧光分析仪在铝土矿石分析中的应用摘要：本文分析了X-射线荧光分析仪的测试原理、建立程序、质量控制等相关内容进行分析，以供参考。
关键词：X-射线荧光分析仪；原理；应用1.前言现代X射线荧光光谱分析是对各种物料进行多元素同时测定的一种通用测量方法。
由于其快速分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点，被广泛应用于多领域的样品分析。
2.X-射线荧光分析仪测试原理将试样放在原级X射线的通道上，试样中各元素的原子被原级X射线照射后，分别发出各自特征的荧光X射线，利用分析晶体将各元素的特征荧光X射线分辨出来，以探测系统记录被测元素的特征荧光X射线强度。
在测试条件下，X射线强度与该元素的含量呈一定的线性关系，据此线性关系进行计算，就可以计算出被测元素的含量。
3.优化建立应用程序（标准曲线）X射线荧光分析仪是一种相对测量仪器，用于测量已准确了解化学分析结果的标准。
对计算机获得的特征X射线强度数据进行一系列数学处理，计算工作曲线。
建立正确的应用程序（标准曲线）是精确分析荧光计的基础。
3.1选择一个代表性的标准样品。
每组曲线应至少有10个样本，尽可能在生产控制中使用样本，化学成分应有一定的梯度。
每个要素的内容应涵盖实际生产可实现的范围。
如果样品梯度不能拉开，则必须在实际采矿区域内采样，以使样品的物理性质相同。
3.2准确分析标准样品。
为了最大限度地消除人为错误，标准样本通常需要3名具有3年以上分析经验的分析师进行平行化学分析，最后取平均值。
经典的化学分析是几乎所有快速光谱技术校准的基础。
化学分析值必须准确。
否则，一切都无法讨论。
确保分析结果的准确性并为荧光分析的校准提供准确的基础是绝对必要的。
3.3建立标准曲线后，为使工作曲线正常投入使用，应校正曲线。
使用后，为确保仪器分析的准确性，应定期将具有已知化学成分的样品（标准样品）与荧光分析进行比较。
更正。
如果线性回归不是很好，那么就有必要通过经验系数或标准的增删来做些微的调整。
能量色散型x荧光光谱仪应用
能量色散型x荧光光谱仪应用
能量色散型x荧光光谱仪是一种用于分析各种样品的仪器。
它可以检测样品中的元素和化合物，以及它们的浓度和分布情况。
以下是能量色散型x荧光光谱仪的应用：
1. 材料分析：能量色散型x荧光光谱仪可用于分析各种材料，如金属、陶瓷、塑料和玻璃等。
它可以检测材料中的元素和化合物，以及它们的含量和分布情况。
2. 地质学研究：能量色散型x荧光光谱仪可以用于地质样品的分析，如矿物、岩石和土壤等。
它可以检测样品中的元素和化合物，以及它们的浓度和分布情况，从而帮助地质学家了解地球的构成和演化。
3. 生物医学研究：能量色散型x荧光光谱仪可以用于生物医学研究，如细胞和组织样品的分析。
它可以检测样品中的元素和化合物，从而帮助生物学家了解生物分子的组成和功能。
4. 环境监测：能量色散型x荧光光谱仪可以用于环境监测，如水、空气和土壤等的分析。
它可以检测样品中的污染物和有害物质，从而帮助环境学家了解环境污染的来源和影响。
总之，能量色散型x荧光光谱仪在各个领域都有广泛的应用，可以为科学研究和工业生产提供有效的分析手段。
x射线荧光分析仪原理
x射线荧光分析仪原理X射线荧光分析仪原理。
X射线荧光分析仪（XRF）是一种非破坏性的分析技术，广泛应用于金属、矿石、化工、环境监测等领域。
它能够快速、准确地分析样品中的元素成分，具有操作简便、分析快速、样品准备简单等优点。
本文将介绍X射线荧光分析仪的原理及其应用。
X射线荧光分析仪是利用X射线与物质相互作用的原理进行元素分析的仪器。
当样品受到X射线照射时，样品中的原子会吸收X射线的能量，部分原子的内层电子被激发到高能级，随后电子会向低能级跃迁，释放出特征性的荧光X射线。
这些荧光X射线的能量和强度与样品中元素的种类和含量成正比关系。
X射线荧光分析仪通过测量样品荧光X射线的能谱，从而确定样品中元素的含量。
X射线荧光分析仪的主要组成部分包括X射线源、样品台、能谱仪及数据处理系统。
X射线源是X射线荧光分析仪的核心部件，它能够产生高能量的X射线。
当X射线照射到样品上时，样品会产生荧光X射线。
荧光X射线经过能谱仪的检测和分析，最终得到样品的元素成分及含量。
数据处理系统对能谱进行处理和分析，得出最终的测试结果。
X射线荧光分析仪具有许多优点。
首先，它能够对样品进行非破坏性分析，不需要对样品进行特殊处理，能够保持样品的完整性。
其次，X射线荧光分析仪具有高分辨率、高灵敏度和高准确性，能够对微量元素进行准确分析。
另外，它的分析速度快，能够在几分钟内完成对多种元素的分析。
因此，X射线荧光分析仪被广泛应用于金属材料、矿石、地质样品、环境监测等领域。
在实际应用中，X射线荧光分析仪需要注意一些问题。
首先，样品的制备和放置需要严格控制，确保样品的均匀性和准确性。
其次，仪器的校准和维护工作也非常重要，只有在仪器状态稳定的情况下，才能得到准确可靠的分析结果。
此外，对于不同类型的样品，需要选择合适的分析模式和参数，以确保分析的准确性和可靠性。
总之，X射线荧光分析仪作为一种快速、准确的分析技术，已经成为现代分析实验室中不可或缺的仪器之一。
X-荧光光谱分析仪的应用和管理
广一是化学成分 ｉ 的质量分数 ， ％。
表 １ 生料各成分的质量分数 毗和 ｘ光强度 Ｑ
表 ２ 荧 光分析与化学分析对ｂ
荧 光分 析 １＿ ３８ ９ ３６ ． ４ ２１ ．５ ４． ４１ ２
％
Ｏ９ ．５
分析方 法 ｗＳ ￣ ｗＡ ３ ｗＦ２３ ｗＣＯ ｗｉ Ｏ （Ｏ） （１ ） （ ０） （ ） （ｇ ） ｉ ０ ｅ ａ
１ 荧光光谱分析仪的构成及其工作原理 在生产控制中， 冀东水泥吉林有 限责任公司（ 以 荧光光谱分析仪对生料 、熟料和其它各生产原材料
成分 （８ ４ 种元素 ） 含量进行在线检测与分析。 该分析
分析仪测量速度快 ， 检测精度满足生产要求。
２ 荧光光谱分析仪的应用
． 下简称我公 司） 采用 日 本岛津公司生产的第 四代 ｘ ２１ 生料成分的检测 一
啦
化 学分析
偏 差
１．２ ４Ｏ
一． Ｏ１ ３
３４ ． ４
Ｏ２ ． Ｏ
２１ ．５
Ｏ０ ．ｏ
４． ４１ ７
—． ＯＯ ５
Ｏ９ ．６
一 ．１ ＯＯ
化 学组成 ｗＣ Ｏ／ （ａ ） ％ 图 １ 化学组成 ｗ（ ａ 与 Ｘ光强度 Ｑ的关系图 Ｃ Ｏ）
从表 ２ 可知， 两种方法的分析偏差较小。 我公司
系统 由荧光光谱分析仪及计算机处理系统两部分组 成。 其中计算机处理系统能在线进行漂移校正 、 重叠 校正 、 比率校正 ， 并能在线进行成分计算。其检测原
理为： 当分析仪 ｘ光管产生的 ｘ光照射到被测样 品
生料样的 Ｑ 值与 值 ，建立 Ｘ光强度 Ｑ与化学组
成 的对应关 系式［ （） 和对应关系图 （ 见 １式］ 见图 １。 ）再任意取两个生料样品作成分检测试验 。 以进行 Ｑ ２１２ ８ ＋ ． ９ ６ 产 ． ８ Ｅ × ０ ８ ９６ ０ ０ 式中。 ——为常数： Ｅ （） １
波长色散型X射线荧光光谱仪的应用
波长色散型X射线荧光光谱仪是一种分析物质成分的仪器，主要应用在以下几个方面：
1. 地质勘探：可以快速、准确地分析矿石、岩石中的元素含量，从而协助地质勘探工作。
2. 材料科学：可以对材料进行成分分析，确定其化学组成和结构性质，从而为材料设计和制备提供重要信息。
3. 环境监测：可以用来检测大气、水体、土壤等环境中的有害元素含量，保障环境安全。
4. 金属制品质量控制：可以检测金属制品的成分、杂质含量，判断产品的质量是否合格。
5. 文物保护：可以对文物、艺术品等进行非破坏性分析，从而了解其物质组成，帮助文物修复和保护。
总之，波长色散型X射线荧光光谱仪在多个领域都有广泛的应用，可以提高工作效率和准确性，促进科学技术的发展。
X射线荧光光谱仪原理及主要用途
X荧光光谱仪主要使用领域X荧光光谱仪原理仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。
能分析F(9)～U(92)之间所有元素。
样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。
无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。
薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。
测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.仪器类别：0303040903 /仪器仪表/成份分析仪器/荧光光度计指标信息：1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U 之间所有元素，含量范围是ppm～100%4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。
精密度：在计算率N=1483870时，RSD=0.08%稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%附件信息：循环水致冷单元，计算机P10气体瓶空气压缩机分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。
X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。
适合课题研究和生产监控。
X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。
波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。
波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。
x荧光能谱仪用途
x荧光能谱仪用途
X荧光能谱仪（X-ray fluorescence spectrometer）是一种用于分析物质成分的仪器。
它利用X射线与物质相互作用时产生的荧光辐射来确定样品中元素的种类和含量。
以下是X荧光能谱仪的一些主要用途：
1.元素分析：X荧光能谱仪可以用于快速、非破坏性地测量
样品中元素的种类和含量。
它可以分析任意固体、液体和粉末样品，并广泛应用于材料科学、地质学、环境科学、药物分析、冶金等领域。
2.质量控制和质量保证：X荧光能谱仪可用于监测和控制产
品质量，特别是在金属、合金和陶瓷生产中。
通过分析关键元素的含量，可以确保产品符合规范要求。
3.地质研究：地质学家和矿物学家可以使用X荧光能谱仪来
分析岩石、土壤和矿石中的元素含量。
这有助于研究地球的成分和地质过程，了解地壳的组成和演化。
4.文物和艺术品分析：文物和艺术品中的元素分析是保护文
化遗产和研究古代工艺技术的重要工作。
X荧光能谱仪可以用于对古代陶瓷、绘画、珠宝等样品进行分析，以确定它们的成分、制作技术和真伪。
5.环境监测：X荧光能谱仪可用于分析土壤、水体和空气中
的污染物。
通过检测和分析元素的存在和浓度，可以识别并监测环境中的污染源和污染程度。
6.药物分析：在制药工业中，X荧光能谱仪可用于药品中成
分的分析和监测。
这有助于确保药品质量和安全性。
X荧光能谱仪由于其快速、非破坏性和多功能的优点，被广泛应用于科学研究、工业生产和环境监测等领域，为各种应用提供了可靠的元素分析和成分检测手段。
X射线荧光分析软件一、X射线荧光光谱仪（XRF）的应用1、贵金属
X射线荧光分析软件一、X射线荧光光谱仪（XRF）的应用1、贵金属分析：珠宝店、典当、银行等行业2、合金分析：钢材、有色金属、金属材料等行业3、化合物分析：地质、矿产、陶瓷、塑胶等行业4、RoHS分析：制造业有害元素分析等5、镀层厚度分析：电镀/离子镀、金属表面加工、电子、半导体、PCB、饰品等二、软件功能与优势1、定性分析2、模式识别3、重叠峰分离4、无标样、有标样FP法定量分析5、理论影响系数法定量分析6、背景FP法7、化合物定量分析8、镀层模式识别9、无标样、有标样薄膜FP法厚度定量分析10、薄膜背景FP法11、对不规则形状样品、微小样品的测试12、标样自最适合匹配一、XRF行业应用1、贵金属分析XRF分析无损、快速、高精度，非常适合贵金属（金、银、铂、钯、铑、铱等）检测，对主体成分精度能达0.1%。
广泛应用于珠宝店、典当、银行等行业。
2、合金分析XRF能够快速分析合金中主体和微量元素，含量分析范围从数ppm~100%。
适用于钢材、有色金属、金属材料等行业。
3、化合物分析XRF只能直接检测元素含量，经过改良的分析软件可以间接分析出氧化物、硫化物、金属无机化合物（如CuSO4、CaCO3等）。
适用于地质、矿产、陶瓷、塑胶等行业。
4、RoHS分析各种制造业产品中有害元素Pb、Hg、Cr、Cd、As、Sb、Se、Ba、Cl、Br 分析。
5、镀层厚度分析金属镀层、合金镀层、金属氧化物/磷化物/硫化物镀层等。
最多可分析6层镀层，厚度范围从0.01um~100um，相对误差<3%。
广泛用于电镀/离子镀、金属表面加工、电子、半导体、PCB、饰品等行业。
二、软件功能与优势1、定性分析1.1 一键式自动识别元素，对很弱的峰和严重影响的元素都能很好的识别，元素识别正确率在96%以上。
并能对元素的存在可能性进行分级。
例如图一：图中是一钢铁样品，其中含微量的Ti，其Ka峰几乎被Fe的逃逸峰湮灭，而Kb峰则完全被V的Ka峰覆盖，一般人工识别就很可能会遗漏元素Ti。
X荧光分析仪的应用
能 ， 此 只 能 首 先 顾 及 主要 元 素 的浓 度 梯 度 。各 标 准样 品 值 因
见表 １ ：
２ 制 样条件 的 确定
表 １ 熟料 曲 线 标 准 样 品 化 学 分 析 值 ％
・９ ・ ５
第 ５期 （ 第 １ ８期 ） 总 １
翘 建 材
机设一 械 备
Ｘ 荧 兴 ， 刀 析 仪 的 应 用 弋
陈 晓 凤
（ 夏 赛 马 实 业股 份 有 限公 司 ， 夏 银 Ｊ ５ ） １ 宁 宁 ｌ １ （２） ７ ￣
摘 要 Ｘ 荧光 分析 仪 的 应 用 已经 成 为 大 型 企 业 的基 本 检 测 手 段 。如 何 更好 更 安 全地 使 用 这 一 仪 器 ， 定挥 Ｘ
道 、 ２个 转 盘 通 道 ，分 别 能 够 测 定 Ｆ 、 ｌＣ 、 、 ｉＫ、 ａ Ｓ ｌ ｅ Ａ 、 ａ Ｍｇ Ｓ 、 Ｎ 、 等 多种元素 ， 自投 人 使 用 以 来 ， 时 提 供 数 据 ， 确 、 速 的 及 准 快
根 据 压 片 制 样 法 和 熔 融 制 样 法 的 优 缺 点 ， 合 水 泥 企 业 结 自身 特 点 和 要 求 ， 公 司 使用 压 片法 对 熟 料 进 行 Ｘ 射 线 荧 光 我
分 析 。 使 用 压 片 法 进 行 制 样 分 析 的 误 差 主 要 来 源 于 基 体 效
应 。而 基 体 效 应 主 要 有 颗 粒 效 应 、 物 效 应 、 素 问效 应 三 方 矿 元
面 。 且 基 体 效 应 是 无 法 消 除 的 ， 能 通 过 较 为 合 理 的 制 样 过 只
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从表 2 的数据看到，荧光分析值和化学分析结果误差均 在国家规定的范围之内， 说明建立的曲线是比较好的。
4 仪器维护
荧光分析仪的使用确实为生产提供了快速准确的数据， 但由于仪器价格昂贵，因此仪器的安全使用更为重要。 在使 用中必须做到“日检查，月维护，年保养”。 即每天观察仪器状 态数据是否正常，检查循环水及真空泵油面，每月或定期对 仪器做谱仪室、水循环处、高压发生器处进行清灰处理。 最好 每年购买一次厂家的维护备件包。 这样使得仪器在使用中的
10 22.18 5.13 3.14 65.93 1.15 0.68 0.19 1.08
11 20.14 5.35 3.78 64.21 3.38 0.82 0.19 1.08
根据压片制样法和熔融制样法的优缺点，结合水泥企业 自身特点和要求，我公司使用压片法对熟料进行 X 射线荧光 分析。 使用压片法进行制样分析的误差主要来源于基体效 应。 而基体效应主要有颗粒效应、矿物效应、元素间效应三方 面。 且基体效应是无法消除的，只能通过较为合理的制样过 程使标准样品和待测试样的基体效应趋于一致。 当使用熔融 法时，试样片的基体效应变得大致相同，基体效应趋于一致。 当使用压片法时， 为使熟料矿物中的基体效应趋于一致，可 使用同一台磨机并规定相同的粉磨时间、 相同的待磨样品 量、相同的制样方法，尽可能使颗粒效应趋于一致。 为消除矿 物效应可延长粉磨时间，以获得最佳的粉磨效果。 在制样时， 尽可能采用加压速度恒定的自动压力机，以消除颗粒分布及 颗粒堆积密度对分析结果的影响。 鉴于以上制样思想，通过 多次实验确定我公 司 的 熟 料 样 品 制 样 方 法 为 ：称 样 13g，加 3 滴酒精 （主要为了好清磨盘及降温作用），1g 甲基纤维素，在 振动磨中振动 60s，20N 压力下保压 30s。 （下转第 123 页）
第 5 期（总第 118 期）
机械设备■
X荧光分析仪的应用
陈晓凤 （宁夏赛马实业股份有限公司，宁夏 银川 750021）
摘 要 X 荧光分析仪的应用已经成为大型企业的基本检测手段。 如何更好更安全地使用这一仪器，发挥 X 荧光分析仪快速、准确指导生产的作用，本文主要介绍了标样的制备，制样条件的确定，工作曲线的建立，以及仪 器维护。
建 筑 经 济 ，2008（6），109-111. [2] 刘海亮.工程造价预结算审核探析 J].山西建设，2007（6）. [3] 谭德精.工程造价确定与控制.重庆大学出版社，2006，2.
（上接第 95 页） 3 工作曲线的建立
将制好的标准样品放入荧光分析仪进行测定，并由计算 机中的分析软件自动回归一条百分比浓度---强度的工作 曲 线。 对于各元素的工作曲线应进行不断的修约。 修约的基本 原则为：首先剔除离群点，然后本着“使尽量多的数据点位于 回归曲线上，其它点尽量等距离分布在曲线两侧”的原则对 熟料曲线要分析的各个元素曲线进行修约，并和化学分析值 进行对比。 表 2 是我公司在生产中的对比结果。
荧光分析 21.11 5.56 3.20 66.31 1.59
4 化学分析 20.98 5.66 3.21 66.44 1.59
误差
0.13 -0.10 -0.01 -0.13 0.00
荧光分析 21.88 4.98 3.35 65.56 1.64
5 化学分析 21.76 5.02 3.39 65.7 1.68
2 化学分析 20.50 5.20 4.73 65.50 2.74
误差
0.23 0.00 0.02 0.09 -0.12
荧光分析 21.85 5.58 3.23 66.42 1.21
3 化学分析 22.00 5.58 3.28 66.23 1.27
误差
-0.15 0.00 -0.05 0.19 -0.06
料，例如：钢材、水泥、装修材料、安装主材、消防通风等主要 材料的品牌、型号、等级、规格，但在实际施工过程中，往往发 现施工单位有鱼目混珠、以次充好的现象，有明着改变材料 品牌。 例如防水材料，报验时是投标填报的材料，实际施工时 如果监管不到位往往就被偷梁换柱了；还有暗着来的，最常 见例如铝合金窗，窗框用的是投标时填报的品牌 ， 窗扇就往 往被偷着换掉了；还有规格的差异，例如铝塑板，品牌、板厚 都和投标时填报的一致， 但铝层的厚度就往往达不到要求； 诸如此类的情况时有发生，这更要求建设单位、监理单位的 现场管理人员做好品牌管理工作， 首先要把工程的招标、投 标文件和工程图纸看清楚、看透，其次要做好旁站、检查工 作，才能更好地使工程项目建设达到招标的意图。
（2）做好项目审查的核对工作 。 工程项目现场管理人员 应介入工程审核，首先要对施工单位报送的工程项目、工程 量进行初审，造价审核人员也应深入施工现场，避免闭门造 车，对工程项目的具体施工用材、施工工艺要深入施工现场 多了解，多核对，审查工程项目内容是否与实际相符，有无套
用高价定额子目， 有无一般建筑材料套用高级建筑材料，有 否将定额中已包含的工作内容另列项目多算等情况。 初步审 查往往是对结算造价影响最大的一道工序。
6 21.99 5.73 3.71 64.13 2.84 0.60 0.18 0.42
7 21.90 5.90 3.83 62.95 2.42 0.68 0.18 1.02
8 22.60 5.42 3.78 64.72 1.09 0.75 0.25 0.60
9 20.54 4.36 4.79 63.07 3.06 1.05 0.19 1.26
等多种元素，自投入使用以来，及时提供数据，准确、快速的
服务于生产。 现将我们使用体会和维护经验给予总结，供同
行参考。
1 标样的准备
表 1 是我公司熟料曲线的标准样品化学分析，从数据可
以看出，标准样品的浓度值基本满足要求，一些元素浓度值
并未覆盖整个浓度波动范围，主要是由于出现极大或极小值
时窑况较差，属于极个别的情况，我们可以采用使用过程中
5 结语
每一阶段的造价控制，都涉及到管理问题，不论是工程 的前期设计阶段、施工前的准备阶段、还是工程的施工阶段、 决算阶段，都必须认真、严格地做好造价的控制管理，作为项 目建设的业主，只有在项目管理的各个环节把好关，才能使 有效的投资发挥最大的效益。
参考文献 [1] 张 晓 阳 ，雷 霆.与 设 计 协 同 的 造 价 ：理 论 与 技 术 的 探 讨[J].
关键词 X 荧光分析仪；浓度梯度；基体效应；故障报警
随着新型干法水泥生产线的投产，大型荧光分析仪在水
泥企业中的应用已成为普遍的配 置 。 我 公 司 早 在 2003 年 随
着 2×2500t 生 产 线 的 投 产 ， 应 用 了 荷 兰 帕 纳 科 公 司 生 产 的 Vnus200 荧光分析仪器。 此仪器配有 2 个固定通道（Na Mg 通 道、12 个转盘通道， 分别能够测定 Fe、Al、Ca、Mg、Si、K、Na、S
误差
0.12 -0.04 -0.04 -0.14 -0.04
荧光分析 21.79 4.40 3.52 65.49 2.81
6 化学分析 21.62 4.50 3.54 65.42 2.66
误差
0.17 -0.10 -0.02 0.07 0.15
·95·
第 5 期（总第 118 期）
建筑经济■
3.2 加强工程建设中材料品牌、型号、等级、规格的管理 在工程招标阶段，招标文件应明确工程项目中重要的材
添加标准样品的方法， 当有某种元素浓度值出现异常时，可
使用化学分析的方法测定其化学成分，再把这个样品添加到
标准样品中，以扩大分析曲线的适用范围。 熟料曲线标样的
准备主要以保证 CaO 的浓度梯度，其它元素的梯度值在生产
过程中随时添加。 标准样品中待测元素应有一定浓度梯度并
可覆盖生产工艺波动的全部范围，最为理想的状态是在标准
5 结语
在 X 荧光分析仪的使用中， 按照适合本企业的制样方 法，压制出质量良好的样饼，使影响分析结果的基体效应趋 于最小，从而才能保证仪器检测值与化学分析值误差符合国 家标准规定范围。 勤观察，常维护，确保仪器的安全使用，才 能使得仪器检测更好地指导生产，服务于企业。
作 者 简 介 ：陈 晓 凤 ，女 ，1976 年 7 月 出 生 ，曾 从 事 化 学 分 析，质量控制，原材料管理，仪器管理等岗位工作。
样品中每一种元素都存在最大值和最小值，并有均匀覆盖的
浓度梯度。 但在实际的熟料留样过程中这种情况几乎不可
能，因此只能首先顾及主要元素的浓度梯度。 各标准样品值
见表 1：
2 制样条件的确定
表 1 熟料曲线标准样品化学分析值
%
样品编号 SI Al Fe Ca Mg K Na S
1 20.19 5.59 3.56 65.39 2.77 0.55 0.15 0.60
小隐患消除 在 萌 芽 状 态 。 我 公 司 在 使 用 过 程 中 Venus200 常 见的仪器故障报警及产生原因如下： ①水温过高，可能原因： 测温探头接触不好，或室温控制不好。 ②真空不好，可能原 因：窗口膜破；密封圈老化。 ③beamstop time out,可能原因：预 抽真空处电磁阀或线圈不好，万向节破裂。 ④flash 闪烁，可能 原因：电流电压不稳，室内湿度大。 这也是导致 X 荧光管易损 的主要原因，因此配置较好的 ups 尤为重要。
表 2 仪器检测值与化学分析值对比结果
样号 1
分析方法 荧光分析 化学分析
误差
SiO2 21.30 21.10 0.20