LCM信赖性测试项目以及判定标准

1．目的为规范我司信赖性测试,特制定本检验标准。

2．适用范围凡本公司内信赖性测试均适用。

3．职责实验室：按照测试申请条件和信赖性测试规范完成测试并输出试验结果。

4．缺陷区分及定义4.1.重缺: 显示或者功能缺陷，严重偏离规格，客户无法正常使用。

严重外观缺陷，严重偏离规格，客户无法正常使用。

4.3.轻缺：轻微偏离规格，不影响产品功能，但对产品外观有影响LCD：液晶显示屏；TP：触摸屏；LCM：液晶显示模组；CTP：电容触摸屏注：在区域 C 中有看得见的外观缺陷，但不影响产品质量及顾客产品组装，除崩边崩角按规格外，其它一般原则下是允许的，外观检验标准适用于 A 区、B 区。

客户有特殊要求时除外；5．检验方法,环境及检验工具5.1 检验方法5.1.1 在20—40W日光灯的照明条件下，样品离检查者眼睛约30cm处进行检查。

检验方向以垂直线前后左右45°(以时钟3点、6点、9点、12点)5.1.2检验者视力需达到标准视力1.0以上。

5.1.3检验者需戴静电手环、手套或者两手八个手指套。

5.1.4外观检验者以目视检查或以菲林对比卡比对。

5.1.5电性测试使用电测测架,主板,电源线及单片机。

5.1.6辉色度检测请参照样品,检测方法依照辉色度检验标准。

5.2 检验环境电测:照度为200LUX以下,外观: 照度为800LUX-1200LUX，每个画面检验时间：1秒-5秒5.3 检验工具电测测架,主板,电源线及单片机,菲林对比卡,游标卡尺,放大镜,滤光片，实体显微镜(必要时)等等。

5.4 检验顺序产品检验顺序按照先检验产品四周，再由上至下“Z”字型测试，如下示意图：5.5 环境类测试项目以及判定检验方法（测试条件可根据产品规格要求做调整变化）。

5.5.1 高温高湿运行试验（THO）5.5.1.1 测试目的：测定长时间在高温高湿环境下LCD Module产品的运行情况，发现产品的潜在的不良，提供产品改善的依据。

5.5.1.2 测试条件测试设备：THO Chamber检查产品的初始品质：画面、光学、电学功能。

将样品竖直放置于设备中，运行设定条件：60℃/90%【storage 2hr】，后点灯运行。

试验结束，检查样品品质时，样品应在常温环境中放置2hr后进行终检。

5.5.1.4 合格判定外观检查，无金属件腐蚀、绝缘材料老化、引线生锈等不良。

画质及功能检查，初检画质不良无明显加重，无功能性不良。

有特定要求情况下，对比试验前后光学（亮度/对比度/均一性/色域等）和电学特性5.5.2 高温运行试验（ HTO）5.5.2.1 测试目的：测定长时间在高温环境下LCD Module产品的运行情况，发现产品的潜在的不良，提供产品改善的依据.5.5.2.2 测试条件测试设备：HTO Chamber测试数量：至少3pcs温度湿度：60℃5.5.2.3 测试方法检查产品的初始品质：画面、光学、电学功能。

将样品竖直置于高温环境中，点灯运行产品试验结束，检查样品品质时，样品应在常温环境中放置2hr后进行终检。

5.5.2.4 合格判定外观检查，无金属件腐蚀、绝缘材料老化、引线生锈等不良。

画质及功能检查，初检画质不良无明显加重，无功能性不良。

5.5.3 低温运行试验（ LTO）5.5.3.1 测试目的：测定长时间在低温环境下LCD Module产品的运行情况，发现产品的潜在的不良，提供产品改善的依据。

5.5.3.2 测试条件测试设备：LTO Chamber测试数量：至少3pcs温度湿度：-20℃5.5.3.3 测试方法检查产品的初始品质：画面、光学、电学功能。

将样品竖直置于低温环境中，点灯运行产品试验结束，检查样品品质时，样品应在常温环境中放置2hr后进行终检。

5.5.3.4 合格判定外观检查，无金属件腐蚀、绝缘材料老化、引线生锈等不良。

画质及功能检查，初检画质不良无明显加重，无功能性不良。

5.5.4 高温高湿存储试验（ THS）5.5.4.1 测试目的：测定长时间在高温高湿下LCD Module产品的存储情况，发现产品的潜在的不良，提供产品改善的依据。

5.5.4.2 测试条件测试设备：THS Chamber测试数量：至少3pcs温度湿度：60℃/90%5.5.4.3 测试方法检查产品的初始品质：画面、光学、电学功能。

将样品竖直置于低温环境中，存储240H试验结束，检查样品品质时，样品应在常温环境中放置2hr后进行终检。

5.5.4.4 合格判定外观检查，无金属件腐蚀、绝缘材料老化、引线生锈等不良。

画质及功能检查，初检画质不良无明显加重，无功能性不良。

5.5.5 温湿度存储试验 [8585测试]5.5.5.1 测试目的：测定长时间在高温高湿下LCD Module产品的存储情况，发现产品的潜在的不良，提供产品改善的依据。

5.5.5.2 测试条件测试设备：THS Chamber测试数量：至少3pcs温度湿度：85℃/85%RH5.5.5.3 测试方法检查产品的初始品质：画面、光学、电学功能。

将样品竖直置于高温高湿环境中，存储240H试验结束，检查样品品质时，样品应在常温环境中放置2hr后进行终检。

5.5.5.4 合格判定画面品质检查，不关注BLU和Pol相关不良，无功能性不良（画异、线不良等）。

无Bubble不良。

5.5.6 高温存储试验(HTS)5.5.6.1 测试目的：测定长时间在高温环境下LCD Module产品的存储情况，发现产品的潜在的不良，提供产品改善的依据。

5.5.6.2 测试条件测试设备：HTS Chamber测试数量：至少3pcs温度湿度：80℃5.5.6.3 测试方法检查产品的初始品质：画面、光学、电学功能。

将样品竖直置于高温环境中，存储240H试验结束，检查样品品质时，样品应在常温环境中放置2hr后进行终检。

5.5.6.4 合格判定外观检查，无金属件腐蚀、绝缘材料老化、引线生锈等不良。

画质及功能检查，初检画质不良无明显加重，无功能性不良。

5.5.7 低温存储试验(LTS)5.5.7.1 测试目的：测定长时间在低温环境下LCD Module产品的存储情况，发现产品的潜在的不良，提供产品改善的依据。

5.5.7.2 测试条件测试设备：LTS Chamber测试数量：至少3pcs温度湿度：-30℃5.5.7.3 测试方法检查产品的初始品质：画面、光学、电学功能。

将样品竖直置于低温环境中，存储240H试验结束，检查样品品质时，样品应在常温环境中放置2hr后进行终检。

5.5.7.4 合格判定外观检查，无金属件腐蚀、绝缘材料老化、引线生锈等不良。

画质及功能检查，初检画质不良无明显加重，无功能性不良。

5.5.8 冷热冲击试验（TST）5.5.8.1 测试目的：测定长时间在温度冲击环境下LCD Module产品的存储品质情况，发现产品的潜在的不良，提供产品改善的依据。

5.5.8.2 测试条件测试设备：TST Chamber测试数量：至少3pcs温度湿度：-30℃~70℃5.5.8.3 测试方法检查产品的初始品质：画面、光学、电学功能。

将样品竖直置于TST CHamber中，冷热冲击100CYCLE。

试验结束，检查样品品质时，样品应在常温环境中放置2hr后进行终检。

5.5.8.4 合格判定外观检查，无温度冲击引起的引线、封装受损等不良。

画质及功能检查，初检画质不良无明显加重，无功能性不良。

有特定要求情况下，对比试验前后光学（亮度/对比度/均一性/色域等）和电学特性5.5.9残像试验（Image sticking）5.5.9.1 测试目的：证LCD产品长时间处于的同一静态图面（残像画面）时液晶老化对产品的影响。

5.5.9.2 测试条件测试设备：RTO Chamber测试数量：5pcs温度湿度：常温常湿Test Pattern：7*5 Chess、Gray 1275.5.9.3 测试方法检查初始的画面品质，并调节flicker至最小，样品竖直放置于设备上，运行7*5检查画面调整至L127，检查距离70cm，视线角范围内检查面残像和线残像，判定等级及消失灰阶。

5.5.9.4 合格判定1hr无残像，3hr+5min残像需消失，168+1hr不能出现Level 2及以上残像,不能有线残像。

5.5.10盐雾试验（Salt Spray Test）5.5.10.1 测试目的：测定长时间在碱性条件下，试验元器件的抗腐蚀能力。

5.5.10.2 测试条件测试设备：Salt Chamber测试数量：5pcs5.5.10.3 测试方法检查产品的初始品质：外观、功能。

将样品竖直放置于设备中，设备运行 24hr。

试验结束后产品静置24hr（干燥后）检查样品。

5.5.10.4 合格判定外观检查：无金属件腐蚀、绝缘材料老化、外壳电镀层剥落、外引线生锈或锈断等。

无画异、线不良等功能性不良。

5.5.11 POL吸湿试验（ POL Moisture Test）5.5.11.1 测试目的：模拟产品在流通环境下Pol原材可能发生的潜在不良5.5.11.2 测试条件测试设备：点灯机测试数量：5pcs温度湿度：常温常湿，浸水的无尘布覆盖5.5.11.3 测试方法将浸水的无尘布覆盖在OC表面2*3模式布置，并用PE膜覆盖(产品撕下POL保护膜)将样品水平放置于室温常湿环境下，存储 48hr存储完成后，去除OC表面覆盖的湿布，进行 POL外观终检。

5.5.11.4 合格判定外观检查，屏正反面POL无分层剥离或气泡等不良贴附无尘布位置无mura等。

5.5.12 高温高湿高压试验（PCT）5.5.12.1 测试目的：测试CELL产品在高温高压高湿条件下暴露的潜在不良，为改善产品品质提供依据。

5.5.12.2 测试条件测试设备：PCT Chamber测试数量：20pcs cell温度湿度：121℃/100%/2atm5.5.12.3 测试方法将样品竖直放置于至于JIG上，装入设备，在试验中间12hr，终止24hr进行检查。

检查玻璃基板表面有无破碎，seal胶有无破损；之后用无尘布包裹的小锤对Panel边缘进行适当的敲击，重点敲击产品四个角（每角三到四次）敲击之后带贴指手套揉搓产品两侧，观察是否有Panel被Decape或造成液晶泄露等现象。

5.5.12.4 合格判定Cell玻璃基板无破碎，Seal胶无破损，液晶无泄露。

5.5.13 包材存储试验5.5.13.1 测试目的：测试CELL产品在高温高压高湿条件下暴露的潜在不良，改善产品品质提供依据。

5.5.13.2 测试条件测试设备：THS Chamber测试数量：1box or 1pallet5.5.13.3 测试方法将整箱产品或整Pallant产品按照出货标准进行打包；将打包好的产品放在60℃ 90%RH的环境中；实验时间总计：EPP/EPS等材质包材实验48hr，纸质包材实验12hr；实验过程中，每隔24hr对包材内的产品进行检查（纸质包材12h检查）。