射线探伤电压和时间计算公式
无损检测之射线探伤中
查图4-15， 180KV时曝光量是 30mA.min，7min显影
2. 黑度变化时的修正：
TY4010/4-2X射线机 天津III型胶片 铅增感屏 检测10mm钢件 焦距1m
要求底片黑度2.3，求曝光量：
查图4-12， 黑度1.5时的曝光量E1=1.8*10^3mA.sec 黑度2.3时的曝光量E2=3 .6*10^3mA.sec 查图4-15， 10mm钢件，140KV，曝光量E’=30mA.min 底片黑度从1.5到2.3是的曝光量 E=E2/E1*E’=60mA.min
7. 散射线的屏蔽：来自工件、胶片的背面的壁等的二次射线。 - 在射线源的窗口加铅板和滤光板。
- 在工件非透照部分加厚铅板屏蔽。 - 在工件侧面加铅板屏蔽。 - 在工件背面加铅板放置背散射（>2mm厚),
可以在暗盒背后加铅字B，胶片显影后 不应呈现铅字B。
- 厚度差比较大的工件： --- 对厚度差别比较大的工件进行射线照相时，射线底片有效评片范围 内各部分的黑度要求均要处在规定的底片黑度范围内。为此可以提 高电压适当降低底片对比度，使底片黑度在规定范围之内。 --- 上述办法不能满足的，可以采用以下办法： 1. 双胶片法：在暗盒内同时装两张胶片（可以是相同的胶片也可以是 不同感光速度的胶片），同时曝光获得两张胶片，分别观察和重叠 在一起观察。 2. 分段曝光法：分别对工件的而不同部分根据厚度采用不同的曝光量 进行曝光，获得合适的射线底片。 3. 补偿法： - 用补偿块，补偿块的材料要由与被检测工件相似的材料制作。 - 铁丸。 - 补偿夜补偿。
3. 焦距改变时的修正：
TY4010/4-2X射线机 天津III型胶片 铅增感屏 检测20mm钢件 焦距1m 底片黑度1.5
探伤室建筑设计规范
探伤室建筑设计规范 篇一：探伤室设计方案 探伤室的建设方案 根据《锅炉压力容器制造监督管理办法》第九条厂房和技术设施要求的第四点应具有 能满足防护要求和产品需要的射线无损检测场地，应具有能保证底片冲洗质量和底片保存的基本条件。
故在我厂申请D级压力容器制造许可条件中我们提出以下探伤室的建设方案。
本厂的无损检测已经外包，所以我厂采用参考400kVX 射线探伤标准来建造本厂的探伤室。
一、探伤室的总布置 该探伤室总占地面积为㎡，建在车间外面得单层独立房间。
探伤室布置有曝光室和各类工作室，其中曝光室室内长×宽×高=7m××，设有防护大门供检测工件的进出，防护门为钢质结构（内夹铅板）。
曝光室和操纵室之间采用迷宫式挡墙，供工作人员进出曝光室和操纵室。
总布置图如下： 曝光室 暗室 操纵室 图一总布置图 二、X射线探伤的原理及其产生的有害物质与防治 1．x射线探伤远离 x射线探伤机内的主要部件X射线管，通电后产生高速电子，撞击阳极耙，产生x射线，利用X射线穿透摄片的方法。
从照片上显示材料或焊缝内部的缺陷；分析其缺陷的太小，形状和部位、性质等从而评定它的质量。
2．X射线探伤产生的有害物质x射线探伤所产生的有害物质有 X射线 x射线早已被广泛应用用，但由于它具有很强强的穿透能力，对人体会产生有害的辐射损伤甚至要危及生命。
X射线的强度为： 22 P=KZVI／ R 式中：K— — 为比倒系数 Z— — 为X射线机阳极靶材料的原子序数y- —管电压I— — 管电流 R— — 距X射线机耙之距离 2 由上公式可知。
X射线强度与X射线机的管电流，管电压的平方成正比，与离x 2 射线机耙的距离平方成反比。
我们必须使操作人员及附近人员身体的任何部位都避免受x射线的直接照射。
不过x 射线的防护较之其他类型的放射源的防护容易得多，因为只有开机时才有辐射存在，当断去电源后，x射线辐射亦立即随之消失。
射线照像检测技术_2022年学习资料
射线照像检测技术-有效透照区：一次透-照的有效范围，在此-范围内：-黑度处于规定的范围-照像灵敏度符合规定 -■透照厚度的控制：透-照厚度比K=T”/T处-于规定的范围。-图3-9透照厚度-表3-4焊缝常用的透照厚 比规定-焊缝类型-A级技术-B级技术-环-K≤1.1-K≤1.06-纵-K≤1.03-K≤1.01
射线照像检测技术-曝光曲线：在一定条件下，绘制的透照参-数（射线能量、焦距、曝光量）与透照厚-度之间的关系 线。-120kV140kV160kV180kV200kV220kV-D=2.0-10-30-50-钢厚度/ m-图3-16-以透照电压为参数的曝光曲线
射线照像检测技术-■-曝光参数计算例-采用固定X射线机透照一铸件，焦距为700mm、-管电流为8mA时，曝 时间为3min。当采用-1000mm焦距，管电流12mA时，曝光时间是多-少？-F-i22-1000×3× -=4.1-12 F2-话-700×12-21
射线照像检测技术-射线照相的灵敏度：射线照片记录细节或-缺陷的能力，它在一定程度上综合了影像-质量的三个基 因素。-相对灵敏度：可识别的最小尺寸和透射厚度的-比值。-绝对灵敏度：可识别的最小尺寸-■灵敏度的测定采用 质计-12
射线照像检测技术-射线照像的基本透照布-置如图所示。-■-基本原则是使透照区的-透照厚度小，主要考虑-如下 容：-射线源、工件、胶-片的相对位置。-射线中心束的方向。--有效透照区。-图3-8-射线照相的基本透照布 -1一射线源2一中心束-3一工件4一胶片5一像质计
射线照像检测技术-■基本透照参数的选择：--射线能量--焦距--曝光量-■较低的射线能量，较大的焦距和较大 曝-光时间，可以获得高质量的照片。-15
射线照像检测技术-射线能量-对于X射线：射线管的电压-对于伽马探伤：伽马射线的能量-■射线能量的选择：-能 高，衰减系数小，固有不清晰度增加。满-足要求时，选择较低的射线能量。-一般而言，伽马射线的检验灵敏度低于X 线，-但在某些场合（球罐环缝检验）采用伽马射线-可以实现全景曝光，提高效率。-16
小径管x射线探伤[精解]
![小径管x射线探伤[精解]](https://img.taocdn.com/s3/m/7061f7c685254b35eefdc8d376eeaeaad1f316d7.png)
小径管X射线探伤外径Do≤100mm管子称小径管。
小径管通过焊接实现连接，是锅炉、压力容器等设备上广泛采用的工艺。
对小径管相互连接的对接焊缝的质量。
目前广泛采用射线检测技术进行检验。
一般采用双壁双影法透照其对接环缝。
按照被检焊缝在底口上的影像特征，又分椭圆成像和重叠成像两种方法，同时满足下列两条件即T(壁厚)≤8mm，g（焊缝宽度≤Do/4时，采用倾斜透照方式椭圆成像）不满足上述条件，或椭圆成像有困难，或为适应特殊需要（如特意要检出焊缝根部的面状缺陷）时，可采用垂直透照方式重叠成像。
小径管对接焊缝的透照厚度小直径管对接焊缝射线照相检验是一个变截面透视。
在小径管对接接头照相检验中，所选用的照距都远大于小直径管的径，可近似认为射线来平行入射，所以，确定透照参数的核心，是在一次透照厚度范围内正确地选取确定透照电压的厚度。
例如：透照Ф60x5的小径管，忽略焊缝的余高，透照厚度的变化见表表Ф60x5小径管透照厚度（mm）变化从表中可见x=0时最小，x=r时最大，但对于不同规格的小径管则其透照厚度变化相关于小径管的壁厚与外径和所处点与圆心的相对距离。
通常我们把一次透照范围内试件的最大厚度与最小厚度之比定义为试件厚度比，用Ks表示。
当Ks大于1.4时，可以认为属于大厚度比试件。
大厚度比对射线照相质量是不利的，其导致底片黑度差较大，从而影响射线照相灵敏度。
另外，厚度变化导致散射比增大，产生边蚀效应。
所以，应采用“高电压、大电流、短时间”X射线透照技术。
双壁双影椭圆成像技术小径管焊缝的射线探伤当其壁厚≤8mm，焊缝宽度≤Do/4时，一般采用斜透照方式椭圆成像。
透照时焦距一般选用700mm左右平移距离，按下式计算。
So=(b+g)L1/2 So-水平位移mm b-焊缝宽度m g-椭圆投影间距应控制椭圆影像的开口宽度在一倍焊缝宽度左右。
如偏心距太大，椭圆开口宽度过大。
窄小的根部缺陷（裂缝未焊透等）有可能漏检，或者因影像畸变过大，难于判断。
第三章 射线探伤
焊接检验
第三章 射线探伤
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X射线机原理简图
焊接检验 第三章 射线探伤 28
2. x射线机分类及用途 x射线机即x射线探伤机，按其结构形式分为携带 式、移动式和固定式三种。 携带式因其体积小、重量轻，而适用于施工现场 和野外作业的探伤工作 移动式x射线机能在车间或实验室内移动，适用于 中、厚板焊件的探伤 固定式x射线机则固定在确定的工作环境中，靠移 动焊件来完成探伤工作 同时，x射线机亦可按射线束的辐射方向分为定向 辐射和周向辐射二种。
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焊接检验
第三章 射线探伤
五、探伤基本原理
射线探伤的实质是根据被检工件及其内部 缺陷介质对射线能量衰减程度不同，而引起 射线透过工件后的强度差异，使缺陷能在射 线底片或X光电视屏幕上显示出来。
焊接检验
第三章 射线探伤
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焊接检验
第三章 射线探伤
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完好部分透射射线强度 Ix=I0e-μx 穿过缺陷部分透射射线强度 I´=I0e-μ(x-x) e-μ´x= I0e-μx e-(μ´-μ) x
焊接检验
第三章 射线探伤
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第三章 射线探伤
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Zdep
3. 汤姆逊效应 当射线光子与物质原子碰撞时，原子中的 电子受入射电磁波作用产生强迫振动成为 辐射源，向四周辐射出的x射线光子频率、 波长同入射光子，这种现象称为汤姆逊效 应或汤姆逊散射。 相干散射 弹性散射 一般强度很低，对探伤影响不大。
焊接检验 第三章 射线探伤 8
4.能杀死生物细胞 应注意安全防护，控制照射剂量。 5.能使空气电离 电离的正负离子数随射线的强度增加而增 加——测定射线剂量。 6.不受电磁场的影响 7.不可见、按直线传播
无损检测探伤一级培训计算公式汇总
无损检测探伤Ⅰ级应用计算公式汇总（怀北）1、 波长=声速/频率 λ=fc 2、 近场区长度计算： 直探头 圆晶片 N=λ42D D 圆晶片直径 方晶片 N=πλAA 方晶片面积斜探头 圆晶片 N=λ42D ×αβcos c os 方晶片 N=πλA ×αβcos c os ⎪⎭⎫ ⎝⎛入射角折射角αβ=55.07092.037探头修正系数探头修正系数︒︒ 3、 指向角计算： 方晶片=0θsin 1-1.08a λ≈57aλ a 方晶片的边长（小） 圆晶片=0θsin 1-1.22D λ≈70Dλ D 圆晶片直径 4、声阻抗=介质密度×声速 Z=ρ×C5、声压、声强、声阻抗的关系式：I=ZP 22声强=声阻抗声压22 6、将两个回波高度的倍数差别换算成分贝（dB ）表示的公式为：dB ∆ =20㏒21h h 1h 回波高度 2h 基准回波高度 7、绕射角计算：Sin θ=1.22Dλ D 障碍物直径 8、衰减系数计算： B n m n m n )(2log20m --∆=-α n-m ∆两次回波相差的dB 数 m 、n 回波次数 B 工件的厚度 9、声压反射率用“r ”表示：r =2112Z Z Z Z +- 1Z 第一介质的声阻抗 2Z 第二介质的声阻抗声压透过率用“t ”表示：t=2122Z Z Z + 10、10、折射、反射、入射角计算： 折射角计算公式：121sin C C -=β×sin α 折射角=sin 1-入射波声速折射波声速×sin 入射角 入射角计算公式：211sin C C -=α×sin β 入射角=sin 1-折射波声速入射波声速×sin 折射角 反射角计算公式：1sin r -=LS r 11'C C ×sin α 横/纵波反射角=sin 1-反射波声速入射波声速×sin 入射角 11、反射和折射定律的表达式： r C C s i n s i n 1'1=α=βsin 2C 12、临界角的计算公式：Ⅰ 2111s i n L L C C -=α 1L C 第一介质的纵波声速 2L C 第二介质的纵波声速 Ⅱ 2112s i n S L C C -=α 1S C 第一介质的横波声速 2S C 第二介质的横波声速 Ⅲ 2113s i n L S C C -=α 13、远场中入射声压： XA =λ0P P A 晶片面积 远场中大平底面声压: X=λπ420D P P ΦA 平底孔面积 大平底面的反射声压: X =λπ420D P P B ×21=XA λ20P d 球伤直径 圆形或方形平面的反射声压：ΦX AA =ΦΦ220λP P 0P 平均声压 长圆柱型缺陷的反射声压：λφ220A =P P ×3d X X 声程 球形缺陷的反射声压： 2d 4X A =λd P P λ 波长14、利用工件大平底面调整灵敏度：B p p dB Φ=∆lg 20=XΦλπ2lg 202 大平底面声程X 利用平底孔试块调节灵敏度： 缺陷直径Φ A Φ=∆p p dB lg 20=ΦA A X ⋅ΦX ⋅Φlg 40 基准声程A X 缺陷平底孔当量计算：ΦX 指测缺陷声程A ΦA ⨯X X ⨯Φ=Φ∴基准平底孔直径A Φ。
超声波探伤常用计算公式
一、1、示波屏上的波高与声压成正比;既：△=20lgP2/P1=20lgH2/H11NP= 1dB=2、声压反射率r和投射率t分别为：r=Pr / PO=Z2-Z1/Z2+Z1t=Pt/ PO=2Z2/Z2+Z13、声强反射率R和投射率T分别为：R=r2 =Z2-Z1/Z2+Z12 T=4Z1Z/Z2+Z12由以上几式得：t-r=1 T+R=14、声压往复透射率T往：探头接收到的回波声压Pa与入射波声压PO之比;既：T往=Pa/PO=4Z1Z/Z2+Z125、反射、折射定律：sinαL /CL1=sinα1L/CL1= sinα1S/CS1=sinβL/CL2=sinβS/CS26、第一临界角;αⅠ=arcsinCL1/CL2第二临界角;αⅡ=arcsinCL1/CS2第三临界角：αⅢ=arcsinCS1/CL17、1薄板工件的衰减系数测定：α=20lgBm/Bn-δ/2xn-m对于多次反射：α=20lgBm/Bn-δn-m/2xn-m 2厚板工件的衰减系数测定：α=20lgB1/B2-6-δ/2x 对于2次波、3次波；α=20lgB2/δ/2x;对于1次波、3次波；α=20lgB1/δ/4x;二1、近场区长度：N=D 2S /4λ= R 2S /λ= F S /πλ= F S /C λ 2、圆盘源辐射的纵波声场的第一零值发散角； θ0=λ/Ds ≈70λ/Ds 3、波束未扩散区与扩散区：b=4、矩形波源的近场区长度N=Fs/πλ,未扩散区b=, 半扩散角θ0=arcsin λ/2a ≈57λ/2a,5、近场区在两种介质中的分布；公式N=D 2S /4λ只适用均匀介质;在水、钢两种介质中,当水层厚度较小时,进场区就会分布在水、钢两种介质中,设水层厚度为L,则钢中剩余进场区长度N 为：N=N 2-LC 1/C 2= D 2S /4λ- LC 1/C 2,6、横波近场区长度；方形 N=F S /πλs2cos β/cos α圆形 N=D 2/4λs2cos β/cos α横波声场中,第二介质中的近场区长度： N`=N-L 2= F S /πλs2cos β/cos α-L 1tg α/tg βF S -波源面积 λs2-介质Ⅱ中横波波 L 1-入射点至波源的距离 L 2-入射点至假想波源的距离半扩散角；对于圆片形声源：0=λS2/D S =70λS2/D S对于矩形正方形声源：0=arcsin λS2/2a=57λS2/2a三1、计算垂直线性误差D=∣d 1∣+∣d 2∣% ;d 1 —实测值与理想值的最大正偏差；d 2—实测值与理想值的最大负偏差;2、计算水平线性误差；δ=∣αmax ∣/100% αmax—α2、α3、α4中最大者；b—示波屏水平刻度值一般为10;3、斜探头K值和折射角βs：K= tgβs=L+L-35/反射体中心厚度分别为B=70、C=30、D=15mm;4、信噪比；△=20lgH信/H噪;四1、1按声程调节扫描速度时：一次波探伤时τ∫≤T,缺陷至入射点的声程x∫=nτ∫,则缺陷在工件中的水平距离为：l∫=x∫sinβ= nτ∫sinβ、深度为：d∫= x∫cosβ= nτ∫cosβ;二次波探伤T＜τ∫≤2T时,则缺陷在工件中的水平距离为：l∫=x∫sinβ= nτ∫sinβ、深度为：d∫= 2T-x∫cosβ= 2T-nτ∫cosβ;2按水平调节扫描速度时：一次波探伤τ∫≤T时,则缺陷在工件中的水平距离：l∫= nτ∫深度：d∫= l∫/K= nτ∫/K;二次波探伤T＜τ∫≤2T时,则缺陷在工件中的水平距离：l∫= nτ∫深度：d∫=2T- l∫/K=2T- nτ∫/K;3按深度调节扫描速度时：一次波探伤τ∫≤T时,则缺陷在工件中的水平距离为：l∫= Knτ∫深度为：d=nτ∫;二次波探伤T＜τ∫≤2T时,则缺陷在工件中的水平距离为：l∫= Knτ∫、深度为：d∫=2T- nτ∫;2、1外圆周向探测时,缺陷位置由深度H和弧长L来确定则：H=R-Kd 2+R-d20.5L=R πθ/180= R π/180tg -1Kd/R-d ;结论：当探头从圆柱曲面外壁作周向探测时,弧长L 总比水平距离l 值大,但深度H 却总比平板工件中的缺陷深度d 小;2内圆周向探测时,缺陷位置由深度h 和弧长l 来确定则：h=Kd 2+r+d 2 l=r πθ/180= r π/180tg -1Kd/r+d结论：当探头从圆柱曲面内壁作周向探测时,弧长 l 总比水平距离l 值小,但深度h 却总比平板工件中的缺陷深度d 值大;注意,如缺陷深度h 大于壁厚,则为焊缝杂波 3、最大探测壁厚；Tm/D ≤1/21-sin β≤1/21-K/1+K 2一般把筒体可探测的内外半径范围定位r/R ≥80% 4、不同距离处的大平底与平底孔回波分贝差为；△B =20lgP B /P=20lg2λχ2/лD 2χB +2αχ-χB α—材质衰减系数；χ—探测面至缺陷的距离；χВ—探测面至底面的距离工件的厚度 不同平底孔、距离的回波分贝差为；△12=20lgP 1/P 2=40lgD 1χ2/D 2χ1 P 1—人工缺陷；P 2—工件缺陷 5、避免侧壁干涉的条件侧壁反射波束与直接传播波束的声程差大于4λ既：2W-α>4λ就可以避免侧壁干涉; 1探头轴线上缺陷反射时避免侧壁干涉的最小距离d min 为：d min >2αλ对于钢：d min >2αλ=α/2底面反射时避免侧壁干涉的最小距离d min 为：d min >2 αλ对于钢：d min >2 αλ=5α/6、①偏心距X 的选择：偏心距—是指探头声束轴线与管材中心线之间的水平距离,用X 表示;入射角α随偏心距X的距离增大而增大,控制偏心距X即可控制入射角α;满足纯横波探测内壁的条件为：CL1/CL2×R≤X≤CL1/CL2×r对于水浸探伤钢管≤X≤取平均值X=1/2+②水层厚度的选择：要求水层厚度H大于钢管中横波全声程的1/2即H>XS ,这是因为水/钢界面的第二次回波S2将位于管子的缺陷波F内一次波F外二次波之后,这样,有利于对缺陷判别;③焦距的选择：F=H+R2-X2④声透镜的曲率半径r` 由F=`得r`=也可有 r`=C1-C2/C1F C1-声透镜的纵波声速 C2-水中的纵波声速五、1、水浸重合波探伤钢板,根据钢和水中的声速,可得各次重合波水层厚度H与钢板厚度δ的关系为：H=n·C水/C钢δ=n·δ/4 n—重合波次数2、复合材料超声波探伤,当不考虑介质衰减和扩散衰减,且底面全反射时,底波B1与复合界面反射波S复合良好的dB差值为：△BS=20lg︱B1/S︳=20lg︱T/r︳=20lg︱1-r2/r︳式中 r—复合界面声压反射率,r=Z2-Z1/Z2+Z1 T—复合界面声压往复透射率T=1-r2当底面不是全反射,其反射率为r’,则这时底波B1与复合界面反射波S复合良好的dB差值为：△BS=20lg︱B1/S︳=20lg︱Tr’/r︳=20lg︱1-r2r’/r︳式中 r’—底面声压反射率,r’=Z3-Z2/Z3+Z2六当量计算法对于同距离平底面或实心圆柱体曲底面与平底孔回波分贝差；△=20lgPB /Pf=20lg2λXf/D2fπ对于不同距离平底面或实心圆柱体曲底面与平底孔回波分贝差；△=20lgPB /Pf=20lg2λX2f/D2fπXB对于空心圆柱体同距离处圆柱曲底面与平底孔回波分贝差；△=20lgPB /Pf=20lg2λXf/D2fπ±10lgd/D外圆探伤用‘+’,内圆探伤用‘-’;当试块厚度、平底孔直径与所调节的工件厚度和要求φ2平底孔不同时：△=20lgPB /Pf=40lgDf1X1/Df2X2一般设被利用的试块平底孔回波声压为PB ,所要得到的工件φ2平底孔回波声压为Pf①当量计算法：当用平底面或实心圆柱体曲底面调节探伤灵敏度时,当量计算公式为；△Bf =20lgPB/Pf=20lg2λX2f/D2fπXB+2XXf-XB当用空心圆柱体内孔或外圆曲面调节探伤灵敏度时,当量计算公式为；△Bf =20lgPB/Pf=20lg2λX2f/D2fπXB±10lgd/D +2XXf-XB七1、焊缝两侧探测面的修整宽度P,一般根据母材厚度来确定；厚度为8-46mm的焊缝采用二次波探伤,探测面修整宽度为：P≥2KT+50 mm；厚度大于46mm的焊缝采用一次波探伤,探测面修整宽度为：P≥KT+50 mm；2、缺陷位置的测定方法有几种缺陷定位方法有；声程、水平、深度定位法;①声程定位法：当仪器按声程1：n调节时；一次波探伤：lf =nτfsinβ df= nτfcosβ二次波探伤：lf =nτfsinβ df= 2T-nτfcosβ②水平定位法：当仪器按水平1：n调节时；一次波探伤：lf =nτfdf= nτf/K二次波探伤：lf =nτfdf= 2T- nτf/K③深度定位法：当仪器按深度1：n调节时；一次波探伤： df = nτflf=nτfK二次波探伤： df = 2T- nτflf=nτfK。
无损检测射线计算公式
无损检测射线计算公式无损检测射线计算公式这事儿，听起来可能有点专业和枯燥，但其实它在工业领域里可是超级重要的！咱们先来说说什么是无损检测射线。
想象一下，有个大机器零件，你可不能把它切开看看里面有没有问题，这时候无损检测射线就派上用场啦。
它就像给这个零件拍个“透视照”，让我们能在不破坏零件的情况下，了解它内部的情况。
那这射线计算公式到底是啥呢？简单来说，就是通过一些数学的魔法，把射线的强度、穿透的材料厚度、衰减系数等等这些因素都考虑进去，算出我们想要的结果。
比如说，有一次我在工厂里，看到师傅们正在检测一个大型的钢结构。
他们拿着各种仪器，一脸严肃。
我好奇地凑过去，师傅就跟我讲：“这射线检测可不能马虎，这计算公式要是弄错了，得出的结果不准，那可就麻烦大啦！”我当时还不太懂，就问师傅：“这公式真有那么重要吗？”师傅停下手中的活儿，认真地看着我说：“孩子，你想想，如果因为计算错误，没检测出零件内部的裂缝，这零件用在重要的设备上，出了事故，那得造成多大的损失啊！”这射线计算公式里，有个关键的参数叫衰减系数。
它就像是射线在穿过材料时遇到的“阻力”。
不同的材料，衰减系数可不一样。
比如说，钢铁的衰减系数就比铝材的大。
这就意味着，同样强度的射线，穿过同样厚度的钢铁和铝材，在钢铁里衰减得更厉害。
还有个重要的概念是曝光量。
曝光量就像是给射线拍照时的“快门速度”，曝光量不够，照片就不清楚，检测结果也就不准确。
有一次，一个新手技术员在计算曝光量的时候出了错，结果检测出来的片子一片模糊，啥都看不清，大家只能重新检测，浪费了不少时间和材料。
再说说计算材料厚度的公式。
这就像是猜一个盒子里有多少层东西，我们要根据射线穿透后的强度变化来推算。
如果材料里有杂质或者不均匀的地方，那计算起来就更复杂啦。
总之，无损检测射线计算公式虽然复杂，但每一个数字、每一个符号都关系到检测结果的准确性和可靠性。
就像医生给病人看病，诊断错了可不行，我们搞无损检测的，也得对每一个计算结果负责。
射线探伤探伤参数计算公式
射线探伤探伤参数计算公式引言。
射线探伤是一种常用的无损检测技术，通过射线对被检测物体进行照射，然后利用探测器检测射线的传播情况，从而获取被检测物体的内部结构信息。
在射线探伤中，探伤参数的计算是非常重要的，它可以帮助工程师准确地评估被检测物体的内部缺陷情况，为后续的维修和改进提供重要参考。
本文将介绍射线探伤探伤参数的计算公式及其应用。
1. 探伤参数的定义。
在射线探伤中，常用的探伤参数包括透射比、吸收系数、半衰期等。
这些参数可以用来描述射线在被检测物体中的传播情况，从而反映出被检测物体的内部结构信息。
透射比是指射线透过被检测物体后的强度与射线照射被检测物体时的强度之比，它可以用来评估被检测物体的密度情况。
吸收系数是指被检测物体对射线的吸收能力，它可以用来评估被检测物体的材料成分。
半衰期是指射线在被检测物体中衰减到初始强度的一半所需要的时间，它可以用来评估被检测物体的放射性情况。
2. 透射比的计算公式。
透射比可以通过以下公式来计算：T = I/I0。
其中，T表示透射比，I表示射线透过被检测物体后的强度，I0表示射线照射被检测物体时的强度。
透射比的数值越大，表示被检测物体的密度越小；透射比的数值越小，表示被检测物体的密度越大。
3. 吸收系数的计算公式。
吸收系数可以通过以下公式来计算：μ = ln(I0/I)/x。
其中，μ表示吸收系数，I0表示射线照射被检测物体时的强度，I表示射线透过被检测物体后的强度，x表示被检测物体的厚度。
吸收系数的数值越大，表示被检测物体对射线的吸收能力越强；吸收系数的数值越小，表示被检测物体对射线的吸收能力越弱。
4. 半衰期的计算公式。
半衰期可以通过以下公式来计算：T1/2 = ln(2)/μ。
其中，T1/2表示半衰期，μ表示吸收系数。
半衰期的数值越大，表示射线在被检测物体中衰减得越慢；半衰期的数值越小，表示射线在被检测物体中衰减得越快。
5. 探伤参数的应用。
探伤参数的计算可以帮助工程师准确地评估被检测物体的内部结构信息，为后续的维修和改进提供重要参考。
射线检测理论常用公式
☆
☆
☆
☆
☆
I = I0e−μd
I = (1 + )n I0e−μd
I0 = K I
K = 2n
n= d d1 2
1
射线检测理论常用公式
d1 2
=
0.693 μ
式中：I0—入射的射线强度； I—透过物质后的射线强度； μ—单色窄束射线的线减弱系数；
μ —多色宽束射线的平均线减弱系数；
d—物质厚度；
n—散射比；
K—厚度比； T’—通过一次透照长度端点的射线束在工件中穿过的距离；
T —工件的厚度；
θ—横向裂纹检出角。
☆
☆
☆
☆
☆
环缝外透法 100％透照分段的计算：
N
=
180 α
α =θ −η
3
( ) θ
=
cos
−1
⎡1 ⎢
+
⎣
K2 −1 T K
D0
⎤ ⎥
⎦
射线检测理论常用公式
η
=
sin −1⎜⎜⎝⎛
D0
D0 + 2L1
☆
☆
Ug
=
d f L2 F − L2
=
d f L2 L1
A级 AB 级 B级
L1 ≥ 7.5d f L22/ 3 L1 ≥ 10d f L22/ 3 L1 ≥ 15d f L22/ 3
2
射线检测理论常用公式
式中：Ug—几何不清晰度； df—焦点尺寸； F —焦距；
L1—焦点至工件表面的距离；
L2—工件表面的距离至胶片的距离。
d1/2—半价层；
e—自然数；
K—射线强度的减弱倍数；
n—吸收物质厚度 d 所相当的半价层个数。
X射线机暴光参数计算法
X射线机曝光参数计算法基本参数确定一、以透照厚度为准：单壁单影=T；双壁单影或双壁双影=2T1、≤10mm时，1mm相当于5KV；2、10~20mm时，1mm相当于6.2KV；3、21~30 mm时，1mm相当于9KV；4、31~40 mm时，1mm相当于12KV；二、焦距焦距每增加或者减少100mm，电压增大或者减少10KV。
三、时间1分钟=25KV三、X射线机曝光参数为（基数）：透照厚度T=8mm时，电压170KV，时间为1分钟。
四、X射线机焦点到窗口的距离XXQ 2005 120 mmXXQ 2505 150 mmXXQ 3005 170 mm五、计算方法1、当透照厚度增加或者减少1 mm时，电压变化按（一）中各变化范围执行；2、当焦距每增加或者减少100mm时，压变化按（二）中执行；3、时间每增加或者减少1分钟，电压增加或者减少25KV；例：计算φ219*14管焊口的曝光第一步：确定所用X射线机型号，XXQ 2505或者XXQ 3005型；第二步：计算焦距-----219+150=369 mm或者219+170=389 mm第三步：确定焦距和电压变化量，我们一般以X射线机曝光正常基数为准，即600 mm；这里φ219*14的焦距为219+150=369 mm或者219+170=389 mm，比基数600 mm缩短231 mm或者211 mm，那么电压就应该减去23.1KV或者21.1KV。
第四步：计算透照厚度变化时，电压变化量，我们基本厚度是8 mm，现在透照厚度是14×2=28 mm。
这样比基本厚度8 mm增加20mm，根据（一）中4参照，电压补偿量为：20 mm×8KV=160KV。
因为基数是170KV，故正常曝光参数为：170KV+160KV－23.1KV=306.9KV 或者170KV+160KV－21.1KV=308.9KV，时间1分钟。
第五步：因为1分钟=25KV，在此基础上计算XXQ 2505或者XXQ 3005型的曝光参数：1、XXQ 2505：用240KV拍片，其时间为（306.9 KV－240 KV）÷25KV/分钟=2.68分钟；这里2.68分钟是在原来1分钟基础需要补偿的2.68分钟，故还应加上基础1分钟，即正常曝光时间为2.68分钟+1分钟≈4分钟2、同样，XXQ 3005型：用280KV拍片，其时间为（308.9 KV－280 KV）÷25KV/分钟=1.2分钟；这里2.68分钟是在原来1分钟基础需要补偿的1.2分钟，故还应加上基础1 分钟，即正常曝光时间为1.2分钟+1分钟≈2..5分钟。
射线检测设置时间电压技巧
射线检测设置时间电压技巧操作前检查：1、检查电源：单相交流电源AC220V±10%50HZ。
容量≥3、6KVA，推荐使用5KVA以上的稳定的单相电源。
注意：电源电压或容量不符合，造成设备的损害或电源的事故。
2、绝缘气体（SF6）压力表示值不低于0、35MPa,不高于0、5MPa,低于0、35MPa。
X射线发生器内的绝缘气体SF6的压力低于0、35MPa时禁止使用。
注意：压力低，使用会损坏高压包、射线管等。
3、检查散热风机：发生器散热风机与外罩无阻碍。
4、插头、插座避免受潮及混入垃圾、泥砂、金属等杂物，插头、插座的针或孔无氧化变黑接触不良。
5、检查电线与电缆：检查外部无破损、漏电、无老化。
启动步骤：1、电源连接：使用带地线的插头和插座进行连接，连接电源应将电线安置在不易使人缠绊，不易受压断裂的地方。
如需要加长电源电线，请选用可承受10A的电线。
2、射线探伤机的连接：请务必将设备的接地端子用接地线可靠接地。
连接控制器与发生器电缆、发生器放置在工作位置并固定。
3、接通电源开关，检查发射器散热风机运转正常。
4、射线探伤机的训机时就必须设置警戒区域。
正常工作：注意：X射线发生器工作时工作人员必须设置警戒区域，人和动物必须远离该区域避免受到辐射伤害。
训机完毕后，根据工件及焦距的变化，设置曝光时间和电压参数，按动高压开。
运行期间监控：射线机进行曝光时，警戒区域内必须无人和动物、探伤机的运行情况。
正常停机步骤：1、达到曝光时间后，控制器自动切断高压输出，进入休息时间。
2、休息完毕后，关闭电源开关，取下电源电线和高压电缆。
3、整理好各部件以备再次使用。
紧急停机：1、警戒区域内有人或动物出现，劝阻或驱赶无效时采取紧急按高压关按钮，切断高压输出。
2、射线探伤机发生异常情况，切断电源开关。
3、供电电源不稳定，切断电源开关。
日常保养：1、检测作业完成后，必须擦拭机器外表的泥土和灰尘，保持设备整洁。
2、X射线发生器应摆放在通风干燥处，切忌潮湿、高温、腐蚀等环境，以免降低绝缘性能，造成设备损坏或漏电伤人。
不等厚焊缝射线探伤管电压的选择
１ 选择最佳透照管 电压 的理论依 据
如图 １ 所示 ： 不等厚焊缝在 射线检测 中若 管 电 管 电压 ， 线衰 减 系数 胁随透 照厚 度的增 大而 减小 ， 只 有在透照厚度大于一定值后线衰减系数 才不会发 压选 择不 当会 使底 片形 成 较薄 部分 （ Ａ接头 ） 度较 黑 大而较厚部分 （ Ｂ接头） 黑度较 小 ， 不满足标准 Ｊ／ 生变化 ， ＢＴ 但由于射线 管的滤光 片将一部分软射线过
４ ３ ．— ２０ 承压 设备 无损 检 测 》 ２部分 ： ７０ ２ ｏ５《 第 射线 滤 ， 因此 ， 可近似认为线衰减系数仅与输 出管电压有
检测 中黑度范 围 Ａ Ｂ级 ：． ≤Ｄ ４ ０的要求 。 ２０ ≤ ．
众 所 周知 ： 高 管 电压 会 使 照 相 底 片 的对 比度 提 降低 ， 有 利 于 可 探 范 围 （ 但 即宽 容 度 ） 的提 高 ， 因此
贾 航
（ 甘肃省锅炉压力容器检验研究 中心 ， 甘肃 兰州 ７０ ２ ） ３ ０ ０
摘
要： 为保证不等厚焊 接接头射线探伤底片黑 度符合标 准要 求 ， 台型号相 同的 ｘ射线 机采用相 同的试验过 程 对两
来选 择最佳 管电压 。结果表 明： 不同的 ｘ射线机 ， 即使型号相 同 ， 最佳管电压也各不相同 。 关键 词 ： 不等厚焊接接头 ； 射线探伤 ； 底片黑度范 围； 管电压选择
一
关。
材料的线衰减系数 与管 电压 Ｖ成反 比关 系： 当增大管电压时 ， 线衰减 系数下降 ， 而透照的宽容度
适 当提 高 管 电压是解 决 不等 厚工 件 射 线检 测 问 题 的 增大。用 函数表示 ， ＝ ｆ 即 （Ｖ） 。将 ＝ｆ （Ｖ 代 种有效方法 。当然 ， 过高 的管 电压会降低照 相对 ） 人① 式得 ： 比度 因而 影 响灵 敏 度 。 因此 ， 等 厚 工 件 射 线 照相 不 △Ｄ ＝０ ４ ４ ． ３ ＧＡｄｆ（Ｖ ） １ ） （ ＋ｎ 管 电压 的选 择 是否合 理 是整 个 照相 成败 的关 键 。 △ｄ ＝△Ｄ ０ ４ ４ ｆ（Ｖ ） １ ） ／ 。３Ｇ （ ＋ｎ
射线探伤计算题(附答案)
射线计算题：1、如下图所示照相条件及曝光表对厚度1英寸的钢试件照相，管电压200KV ，管电流5mA ，曝光时间应为多少分钟？其他条件不变，焦距改为25英寸，则曝光时间变为多少？解：查表可知，200KV 透照厚度1英寸的钢板，其曝光量E1=12mA ·min t=E1/I ≈12/5=2.4min解：2222251240251t it M Ft ⨯=∴== 分钟。
2、用220KV 管电压，10mA 管电流，1M 焦距，对30mm 锻钢件进行透照，若选用底片黑度D=1.5的天津Ⅲ型胶片，铅增感，曝光时间多少分？若其他条件不变，改为荧光增感，曝光时间多少？解：已知 V=220KV I=10mA F=1M b=30mm 天津胶片D=1.5 (1)从图中查出，30mm 曝光量 E1=25mA •min t1= E1/I=2.5（min ） （2）从图中查出，D=1.5时，荧光增感曝光量180mA •see E2= E1（180/1800）25×0.1=2.5mA •min t2 =3、被透照工件厚度δ=60mm ，已知X 光管的焦点为d=0.4mm ，选用焦距为600mm ，试求最大半影宽度（即几何不清晰度）？解：Ug=d·δ/（f-δ）=0.4×60/(600-60)≈0.04mm4、透过厚钢板后的窄束Χ射线再透过屏蔽好的12mm 厚的钢板，若透射线照射率为透过12mm 钢板前的1/16，则钢对该Χ射线的半价层和吸收系数各为多少？解：设透过12mm 钢板前后的照射率分另别为I 0和I ，则：I/I 0=(1/2)n1/16=1/2nn=4 ∵nH=12 ∴H=12/n=12/4=3mm=0.3cm μ=0.693/H=0.693/0.3=2.31cm -15、平行的连续X 射线贯穿15mm 钢板，强度减弱为1/16，假设此后在贯穿16mm 钢板，强度减弱为最初的1/128,求此射线在前15mm 的平均吸收系数和半阶厚度为多少？在后16mm 内的系数和半阶层厚度又为多少？ 解：1/2n=1/16 n=4 T （1/2）=15/4=3.756、已知2.5mm 厚的铅吸收相当于30mm 厚钢的吸收，如果原来使用6mm 厚的铅板作防护，现改用钢板的话，应用多厚的钢板可以代替原来的铅版？铅的密度约为钢的1.5倍，用220KV 的X 射线进行照相时，铅的吸收是钢的多少倍？解：(1)6/2.5=X/30 X=72mm(2)30/2.5=12(倍) 不考虑材料密度7、求管电压为250KV 的X 射线机和加速能量为4MeV 的电子直线加速器辐射的连续X 射线的效率（设靶材料均为钨Z=74，比例系数η0=1.2×10-6）。
超声波探伤常用计算公式
常用计算公式1、 周期（T ）： fT 1=单位为秒（ｓ） 2、波长（λ）、频率（ｆ）、波长（λ）之间的关系式：fC=λ C=λ·f λ=C/f f=C/λ波速大，波长大,C ↑ λ↑；频率小，波长越长，f ↓ λ↓。
3、近场区长度：直探头的近场区长度：πλλλλAD D N =≈-=44222 式中 D ——为圆形压电晶片的直径；λ——为超声波波长；A ——方晶片（或矩形晶片）面积。
斜探头的近场区长度：αβπλπλCos Cos AA N •==式中 A 0——晶片折射后的有效面积；λ——为超声波波长；A ——晶片面积；β、α——折射角、入射角。
非扩散的区域为近场长度（N ）的1.67倍，大于1.67 N 为扩散区。
4、声束指向角：圆盘声源声束指向角DDλλθ7022.1sin 10≈=-式中 D ——为晶片的直径；λ——为超声波波长。
方晶片声束指向角计算式：aaλλθ5708.1sin 10≈=-5、分贝差：2121lg 20lg20H H P P ==∆ （dB ） 6、声压反射率（r ）：21120Z Z Z Z P P r r +-==；声压透射率（t ）：12202Z Z Z P P t t+==；声压往复透射率（ＴP）：2212100)(4Z Z Z Z P P P P P P T t a t a P +=⋅==7、反射定律：入射角的正弦与反射角的正弦之比等于声速之比1'1'1T TL L L C Sin C Sin C Sin ααα==折射定律：入射角的正弦与折射角的正弦之比等于声速之比8、材质的衰减系数：Bm n mndB V ⨯-)(2g 201)n m (－－＝ α （单位：dB/mm ）9声压反射率及当量：（1）大平底：F22 g 201X dB λπΦ∆ ＝、(2)平底孔：f A A f A BX X P P d ΦΦ==∆Φlg 40lg 20fAA f X X g 401lg 40+ΦΦ=当量：4010dBAf A fX X ∆••Φ=Φ(3)长横孔：33lg 10lg 20f A A f A X X P P dB ΦΦ==∆ΦfA A f X X g 301lg 10+ΦΦ=当量：10310)(dBAf A f X X ∆••Φ=Φ（4）短橫孔：4242lg10lg20fA A Af f AXL X L P P dB 短短短ΦΦ==∆Φ当量：10424210dB Af fA A f XL X L ∆•Φ=Φ短短（5）球孔：22lg20lg 20fA Af A d X d X d P P dB ==∆221T T L L L C Sin C Sin C Sin ββα==当量：20210)(dB Af A f X X d d ∆••=（短橫孔、球孔在钢轨探伤中较少运用）例题：1. 一个垂直性好的探伤仪，荧光屏上波幅为80％，衰减24dB 后波幅为多少？解：由公式21g201P P dB ＝得 280g20124P ＝ P 2＝5 答：衰减24dB 后波幅有5％。
最新超声波探伤常用计算公式知识讲解
一、1、示波屏上的波高与声压成正比。
既：△=20lgP2/P1=20lgH2/H1(1NP=8.68dB1dB=0.115NP)2、声压反射率r和投射率t分别为：r=Pr / PO=Z2-Z1/Z2+Z1t=Pt/ PO=2Z2/Z2+Z13、声强反射率R和投射率T分别为：R=r2 =(Z2-Z1/Z2+Z1)2 T=4Z1Z/(Z2+Z1)2由以上几式得：t-r=1 T+R=14、声压往复透射率T往：探头接收到的回波声压Pa 与入射波声压PO之比。
既：T往=Pa/PO=4Z1Z/(Z2+Z1)25、反射、折射定律：sinαL /CL1=sinα¹L/CL1= sinα¹S/CS1=sinβL /CL2=sinβS/CS26、第一临界角。
αⅠ=arcsinCL1/CL2第二临界角。
αⅡ=arcsinCL1/CS2第三临界角：αⅢ=arcsinCS1/CL17、（1）薄板工件的衰减系数测定：α=(20lgBm/Bn-δ)/2x(n-m)对于多次反射：α=[20lgBm/Bn-δ(n-m)]/2x(n-m)（2）厚板工件的衰减系数测定：α=(20lgB1/B2-6-δ)/2x对于2次波、3次波；α=(20lgB2/B3-3.5-δ)/2x 。
对于1次波、3次波；α=(20lgB1/B3-9.5-δ)/4x 。
二1、近场区长度：N=D 2S /4λ= R 2S /λ= F S /πλ= F S ƒ/C λ2、圆盘源辐射的纵波声场的第一零值发散角； θ0=arcsin1.22λ/Ds ≈70λ/Ds3、波束未扩散区与扩散区：b=1.64N4、矩形波源的近场区长度N=Fs/πλ，未扩散区b=1.64N ，半扩散角θ0=arcsin λ/2a ≈57λ/2a ，5、近场区在两种介质中的分布；公式N=D 2S /4λ只适用均匀介质。
在水、钢两种介质中，当水层厚度较小时，进场区就会分布在水、钢两种介质中，设水层厚度为L ，则钢中剩余进场区长度N 为：N=N 2-LC 1/C 2= D 2S /4λ- LC 1/C 2，6、横波近场区长度；方形 N=FS /πλs2*cosβ/cosα圆形 N=D2/4λs2*cosβ/cosα横波声场中，第二介质中的近场区长度：N`=N-L2= FS/πλs2*cosβ/cosα-L1tgα/tgβFS -波源面积λs2-介质Ⅱ中横波波 L1-入射点至波源的距离 L2-入射点至假想波源的距离半扩散角；对于圆片形声源：Ø0=arcsin1.22λS2/DS=70λS2/DS对于矩形正方形声源：Ø0=arcsinλS2/2a=57λS2/2a三1、计算垂直线性误差D=（∣d1∣+∣d2∣）% 。
射线探伤电压和时间计算公式
射线探伤电压和时间公式1、最短波长公式：(能量公式）h普朗克常数2、连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系:3、连续谱射线的总强度I：Ki为比例常数、Z靶原子序数、i管电流/管电压4、连续谱X射线的转换效率η;5、放射性原子核的衰变公式：衰变常数T时间6、半衰期公式：(重要公式）放射性原子核数目因衰变减少至原来数目一半时所需的时间为衰变常数N为剩余的原子核数N0为原有原子核数T为所用时间7：单色窄束射线的衰减规律：T为透照厚度I为穿透后辐射强度为原辐射强度8、线衰减系数μ：T为透照厚度I为穿透后辐射强度为原辐射强度K康普顿系数、混合物密度、Z原子序数9、半价层：μ为线衰减系数10、半价层计算公式：穿过物体后的射线强度为入射强度一半时的穿透厚度11、影响半值层T1/2的因素:K康普顿系数、混合物密度、Z原子序数12、宽束多色射线强度衰减规律：n为散射比I透射强度、I0初始强度μ为平均衰减系数T厚度13、主因对比度公式：散射比n=Is/Ip主因对比度跟透照厚度、衰减系数和散射比有关14、胶片梯度G公式：D1黑度值、E1为对应曝光量、E1’切线与横轴交点曝光量G为梯度或反差系数15、黑度D：照射光强度与穿过底片的透射光强之比常用对数值L透射光强L0照射光强宽容度L：L=10lgE2-lgE1=E2/E1E1、E2相对曝光量相对灵敏度K：K=d/T*100%d射线可认到最细线直径、T被检工件穿透厚度16、射线照相对比度公式：ΔD=-0.434GμΔT/（1+n），G梯度μ衰减系数ΔT缺陷尺寸n散射比17、射线照相几何不清晰度：Ug=df×L2／L1=df×L2/(F-L2)df 焦点尺寸、L1焦点至工件表面距离、L2工件表面至胶片距离、F焦距固有不清晰度：Ui=0.0013(kV)0.79焦距F=L1+L2L1为交点、L2为透照厚度。
18、X射线曝光量：E=itγ射线曝光量：E=At19、平方反比定律：从一点源发出的辐射，强度I与距离F的平方成反比I1/I2=(F2/F1)220、X射线照相的曝光因子：Ψ=it/F2=i1t1/F11=i2t2/F22=……=intn/Fn2i为管电流、F为焦距t为曝光时间γ射线照相的曝光因子：Ψ=At/F2=A1t1/F12=A2t2/F22=……=Antn/Fn2曝光因子与强度、曝光时间和焦距有关19、透照厚度比K：K值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cos θθ=cos-1(1/K)20、一次透照长度L3:L3=2L1tanθL1为焦距21、直缝单壁单影:底片的有效评定长度：Leff=L3+ΔL搭接长度ΔL=L2L3/L1L2为工件表面到胶片距离纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：leff=ΔL+L3′+ΔLL3′胶片侧焊缝等分长度22、环缝单壁外照法Ｎ＝α=θ-ηθ=cos-1[]η=sin-1()K=1.1θ=cos-1[]当D０＞＞T时，θ≈cos－１Ｋ－１K=1.1θ=24.62L3=?D0/N；Ｌ＇3＝?*DI/NΔL≈2T·tanθＬeff＝ΔL／２＋Ｌ３＋ΔL／２α:与ＡＢ／２对应的圆心角；θ:最大失真角或横裂检出角；η--有效半辐射角；Ｋ-透照厚度比；Ｔ-工件厚度；Ｄ０---容器外直径Di－容器内直径23、利用曝光曲线求非钢材的曝光量射线等效系数（φm表示）是指在一定管电压下，达到相同射线吸收效果（或者说获得相同底片黑度）的基准材料厚度To与被检材料厚度Tm之比，即：φm=T0/Tm24、椭圆成像法偏心距L0=（b＋q）L1/L2=(F-D0-Δh)(b+q)/(D0+Δh)=[焦距-(外径+焊缝余高)]×(焊缝宽度+开口宽度)/(外径+焊缝余高)25、小径管透照次数T/D0<=0.12相隔90度2次，其余相隔120度或60度三次26、比释动能K=33.72PP照射量27、距离防护：对点源来说，在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比D1R12=D2R22D为当处剂量28、照射量P=AKrt/R2A放射性活度、R到点源距离、Kr常数、t 受照时间照射率P’=AKr/R2（R/h）29、半价层防护T1/2=0.301T1/。
射线检测理论常用公式
G = γ = D2 − D1 lg E2 − lg E1
式中： G 和γ —分别表示胶片的平均梯度和平均反差系数；
D2和D1—分别表示净黑度 3.5 和 1.5；
E2和E1—分别表示净黑度为 3.5 和 1.5 时所对应的曝光量。
☆
☆
☆
☆
☆
胶片宽容度的计算：
L = 10(lg E2 −lg E1 ) = E2 E1
μ —多色宽束射线的平均线减弱系数；
d—物质厚度；
n—散射比；
d1/2—半价层； e—自然数；
K—射线强度的减弱倍数；
N—吸收物质厚度 d 所相当的半价层个数。
☆
☆
☆
☆
☆
黑度的定义：
D = lg L0 L
式中：L0－照射到底片上的光强； L－透射过底片的光强；
L0 / L称为阻光率。
☆
☆
☆
☆
☆
胶片平均梯度(平均对比度)的计算：
K—厚度比；
T’—通过一次透照长度端点的射线束在工件中穿过的距离；
T —工件的厚度；
θ—横向裂纹检出角。
☆
☆
☆
☆
☆
环缝外透法 100％透照分段的计算：
N = 180 α
α =θ −η
( ) θ
=
cos
−1
⎡1 ⎢
+
⎣
K2 −1 T K
D0
⎤ ⎥
⎦
η
=
sin −1⎜⎜⎝⎛
D0
D0 + 2L1
sin θ
D0—容器筒体或管子的外直径；
Di—容器筒体或管子的内直径；
L3—外圆等分长度；
L3’—内圆等分长度；
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射线探伤电压和时间公式
1、最短波长公式：(能量公式）h普朗克常数
2、连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系:
3、连续谱射线的总强度I：Ki为比例常数、Z靶原子序数、i管电流/管电压
4、连续谱X射线的转换效率η;
5、放射性原子核的衰变公式：衰变常数T时间
6、半衰期公式：(重要公式）放射性原子核数目因衰变减少至原来数目一半时所需的时间
为衰变常数N为剩余的原子核数N0为原有原子核数T为所用时间
7：单色窄束射线的衰减规律：T为透照厚度I为穿透后辐射强度为原辐射强度
8、线衰减系数μ：T为透照厚度I为穿透后辐射强度为原辐射强度K康普顿系数、混合物密度、Z原子序数
9、半价层：μ为线衰减系数
10、半价层计算公式：穿过物体后的射线强度为入射强度一半时的穿透厚度
11、影响半值层T1/2的因素:K康普顿系数、混合物密度、Z原子序数
12、宽束多色射线强度衰减规律：n为散射比I透射强度、I0初
始强度μ为平均衰减系数T厚度
13、主因对比度公式：散射比n=Is/Ip主因对比度跟透照厚度、衰减系数和散射比有关
14、胶片梯度G公式：D1黑度值、E1为对应曝光量、E1’切线与横轴交点曝光量G为梯度或反差系数
15、黑度D：照射光强度与穿过底片的透射光强之比常用对数值L透射光强L0照射光强
宽容度L：L=10lgE2-lgE1=E2/E1E1、E2相对曝光量
相对灵敏度K：K=d/T*100%d射线可认到最细线直径、T被检工件穿透厚度
16、射线照相对比度公式：ΔD=-0.434GμΔT/（1+n），G梯度μ衰减系数ΔT缺陷尺寸n散射比
17、射线照相几何不清晰度：Ug=df×L2／L1=df×L2/(F-L2)df 焦点尺寸、L1焦点至工件表面距离、L2工件表面至胶片距离、F焦距
固有不清晰度：Ui=0.0013(kV)0.79
焦距F=L1+L2L1为交点、L2为透照厚度。
18、X射线曝光量：E=itγ射线曝光量：E=At
19、平方反比定律：从一点源发出的辐射，强度I与距离F的平方成反比I1/I2=(F2/F1)2
20、X射线照相的曝光因子：Ψ=it/F2=i1t1/F11=i2t2/F22=……=intn/Fn2i为管电流、F为焦距t为曝光时间
γ射线照相的曝光因子：Ψ=At/F2=A1t1/F12=A2t2/F22=……=Antn/Fn2曝光因子与强度、曝光时间和焦距有关
19、透照厚度比K：K值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cos θθ=cos-1(1/K)
20、一次透照长度L3:L3=2L1tanθL1为焦距
21、直缝单壁单影:底片的有效评定长度：Leff=L3+ΔL
搭接长度ΔL=L2L3/L1L2为工件表面到胶片距离
纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：leff=ΔL+L3′+ΔLL3′胶片侧焊缝等分长度
22、环缝单壁外照法Ｎ＝α=θ-ηθ=cos-1[]η=sin-1()
K=1.1θ=cos-1[]当D０＞＞T时，θ≈cos－１Ｋ－１K=1.1θ=24.62
L3=?D0/N；Ｌ＇3＝?*DI/NΔL≈2T·tanθＬeff＝ΔL／２＋Ｌ３＋ΔL／２
α:与ＡＢ／２对应的圆心角；θ:最大失真角或横裂检出角；η--有效半辐射角；Ｋ-透照厚度比；
Ｔ-工件厚度；
Ｄ０---容器外直径Di－容器内直径
23、利用曝光曲线求非钢材的曝光量射线等效系数（φm表示）是指在一定管电压下，达到相同射线吸收效果（或者说获得相同底片黑度）的基准材料厚度To与被检材料厚度Tm之比，即：φm=T0/Tm
24、椭圆成像法偏心距L0=（b＋q）L1/L2=(F-D0-Δh)(b+q)/(D0+
Δh)=[焦距-(外径+焊缝余高)]×(焊缝宽度+开口宽度)/(外径+焊缝余高)
25、小径管透照次数T/D0<=0.12相隔90度2次，其余相隔120度或60度三次
26、比释动能K=33.72PP照射量
27、距离防护：对点源来说，在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比D1R12=D2R22D为当处剂量
28、照射量P=AKrt/R2A放射性活度、R到点源距离、Kr常数、t 受照时间照射率P’=AKr/R2（R/h）
29、半价层防护T1/2=0.301T1/。