实验三 基本逻辑门电路逻辑功能测试
实验三_集成逻辑门电路的功能及参数测试(精)
实验四
实验设备
示波器YB4320A 1台
三用表1只
逻辑电路设计实验箱1台
实验材料(在电阻箱上
74LS125 1片
74LS03 1片
电阻
1/8W 1K Ω8只
1/8W 5.1KΩ5只
1/8W 2.7K Ω4只
四、操作方法与实验步骤
实验三
1.验证74LS00“与非”门的逻辑功能
1.将芯片插入实验箱的IC插座中
4.从b端往a端缓慢调节电位器W ,观察Vi ,Vo两电压表的读数,并记录数据填入表格
5.根据表格数据画出曲线图,并求VON和VOFF
图表21开关门电平电路图
实验四
1.验证74LS125三态门的逻辑功能
1.高阻的测试方法:将控制端EN接高电平,输出分别接上拉电阻和下拉电阻,测量输出端Y的电压
图表22测量示意图
4.进一步建立信号传输有时间延时的概念
5.进一步熟悉示波器、函数发生器等仪器的使用
实验四
1.掌握三态门的逻辑功能及工作原理
2.了解三态门在计算机总线中的应用
3.熟悉集电极开路门的电路原理
4.掌握集电路开路门的使用方法
二、实验内容和原理
实验三
实验内容:
1.验证74LS00“与非”门的逻辑功能
2.验证CD4001“或非”门的逻辑功能
实验四1.验证74LS125三态门的逻辑功能图表32 74LS125逻辑功能测量结果EN A L Y上拉电阻Y下拉电阻5.07 5.07 0 0 H H L H实验结果表明接上拉电阻实现了正常的逻辑功能同时提高了驱动负载能力。而接下拉电阻三态门不能实现正常的逻辑功能。2.测量74LS125的四个三态门的输入输出电压图表33 74LS125输入输出电压ENi 0 0 Ai / V 4.99 0 4.97 0 4.97 0 4.98 0 Yi / V 4.04 0 3.99 0 4.02 0 4.03 0 Yi逻辑值1 0 1 0 1 0 1 0 0 0 0 0 0 0数据表明四个三态门都是正常的。2.用74LS125三态门构成1位2选1数据选择器图表34双向数据传送测量结果S0 0 1 D1 139.133HZ 5.10V(示波器139.420HZ 5.06V D0 5.06V Y 139.172HZ 4.19V无频率第16页/共18页
实验三集成逻辑门电路的功能和参数测试
实验三集成逻辑门电路的功能和参数测试引言：逻辑门是数字电路中最基本的功能模块，用于实现逻辑运算。
在数字系统设计中，逻辑门的功能和参数测试是非常重要的一步。
通过测试可以验证逻辑门电路的性能和正确性，为后续的电路设计和应用提供可靠的基础。
本实验主要介绍了集成逻辑门电路的功能和参数测试方法。
一、实验目的：1.理解逻辑门的基本功能。
2.掌握逻辑门的参数测试方法。
3.熟悉使用数字逻辑分析仪和示波器进行测试。
4.掌握逻辑门的测试数据分析和性能评价方法。
二、实验仪器与器件：1. 数字逻辑分析仪（Digital Logic Analyzers）。
2. 示波器（Oscilloscopes）。
3.集成逻辑门（如或门、与门、非门等）。
4.电源供应器。
5.示波器探头。
6.连接线等。
三、实验内容：1.功能测试：a.连接逻辑门电路，给电源电压。
b.输入各种组合的逻辑信号，观察输出。
c.测试逻辑门电路的输出是否符合真值表，判断逻辑门是否正常工作。
2.延迟时间测试：a.连接逻辑门电路，给电源电压。
b.输入一个逻辑信号，使用数字逻辑分析仪测量输出端口的延迟时间。
c.通过测量多个信号的延迟时间，计算平均延迟时间，并分析是否符合理论值。
3.功耗测试：a.连接逻辑门电路，给电源电压。
b.使用数字逻辑分析仪测量逻辑门电路的电源电流。
c.通过测量得到的电源电流计算逻辑门的平均功耗，并评价逻辑门的能效。
4.噪声测试：a.连接逻辑门电路，给电源电压。
b.使用示波器测量逻辑门电路输入端口和输出端口的噪声幅度。
c.分析噪声幅度是否符合要求，并评价逻辑门电路的抗干扰性能。
5.温度测试：a.连接逻辑门电路，给电源电压。
b.将逻辑门电路暴露在不同温度环境下，使用数字逻辑分析仪测量逻辑门电路的输出信号的变化。
c.分析逻辑门电路在不同温度下的输出参数变化，并评价逻辑门电路的温度性能。
6.性能评价和数据分析：a.根据实验数据，计算逻辑门电路的平均延迟时间、功耗、噪声幅度等参数。
门电路逻辑功能与测试实验报告
门电路逻辑功能与测试实验报告一、引言门电路是数字电子电路中常见的逻辑电路，用于实现布尔逻辑运算和控制功能。
门电路有与门、或门、非门、异或门等多种类型，通过它们的组合可以实现复杂的数字运算和逻辑控制。
本实验旨在通过实际操作和测试，深入了解门电路的逻辑功能和工作原理。
二、实验内容1.与门的测试：使用与门芯片（74LS08），接入两个输入A和B，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
2.或门的测试：使用或门芯片（74LS32），接入两个输入A和B，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
3.非门的测试：使用非门芯片（74LS04），接入一个输入A，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
4.异或门的测试：使用异或门芯片（74LS86），接入两个输入A和B，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
三、实验结果与分析1.与门测试结果分析：根据与门输入两个高电平时才输出高电平的特性，可以得到与门的真值表如下：A ，B ， Outpu:---:，:---:，:------low ， low ， lolow ， high， lohigh， low ， lohigh， high， hig实验测试结果与理论一致，说明与门的逻辑功能正常。
2.或门测试结果分析：根据或门输入两个低电平时才输出低电平的特性，可以得到或门的真值表如下：A ，B ， Outpu:---:，:---:，:------low ， low ， lolow ， high， highigh， low ， highigh， high， hig实验测试结果与理论一致，说明或门的逻辑功能正常。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告实验目的：1、理解门电路逻辑功能的基本知识和实现方法；2、掌握门电路逻辑功能测试实验的方法和步骤；3、培养实验操作能力和实验数据处理能力。
实验原理：门电路是逻辑电路的基础，其逻辑功能有常用的与门、或门、非门等。
门电路具有输入端和输出端，输入端接受信号，输出端输出运算结果。
门电路由电子器件组成，一般常用的是晶体管。
门电路的测试方法主要是通过检测输入和输出的电平状态，以及关键节点其它信号状态变化。
可以通过观察电压电流示波图、结合实测数据进行逻辑功能的验证。
实验器材和连接图：1、集成电路芯片：7400 门电路。
2、直流电源。
3、万用表。
4、示波器。
5、面包板、电缆、电阻等辅助器材。
实验步骤：1、按照连接图搭建门电路实验线路；2、开启直流电源，测试电路各个节点的电压、电流值，并记录数据；3、输入不同的高低电平信号，观察输出端的电平状态变化；4、观察电压电流示波图，验证门电路的逻辑功能；5、根据实测数据，分析电路中可能出现的故障原因和处理办法。
实验结果：在本次门电路测试实验中，我们按照实验步骤搭建好了门电路实验线路，开启直流电源，测试了电路各节点的电压、电流值，并记录了数据。
在输入不同的高低电平信号时，观察输出端的电平状态变化，发现门电路具有良好的逻辑功能。
通过观察电压电流示波图，验证了门电路的逻辑功能。
在实验中，我们还发现电路中可能存在的故障原因和处理办法。
实验结论：本次门电路测试实验，通过搭建门电路实验线路、开启直流电源、测试电路各节点的电压、电流值、记录数据，验证了门电路的逻辑功能。
本次实验对我们加深了对门电路逻辑功能和测试实验的认识和理解，提高了我们的实验操作能力和实验数据处理能力。
实验三组合逻辑电路的功能测试
实验三组合逻辑电路的功能测试基本逻辑门测试：1.与门测试：在输入端口分别接入两个输入信号A、B，并将输出端口接入示波器。
通过输入不同的逻辑电平（0或1），观察输出信号。
当输入信号都为1时，输出信号应为1；其他情况下，输出信号应为0。
2.或门测试：与与门测试类似，在输入端口分别接入两个输入信号A、B，并将输出端口接入示波器。
通过输入不同的逻辑电平（0或1），观察输出信号。
当输入信号都为0时，输出信号应为0；其他情况下，输出信号应为13.非门测试：在输入端口接入输入信号A，并将输出端口接入示波器。
通过输入不同的逻辑电平（0或1），观察输出信号。
当输入信号为0时，输出信号应为1；当输入信号为1时，输出信号应为0。
4.异或门测试：在输入端口分别接入两个输入信号A、B，并将输出端口接入示波器。
通过输入不同的逻辑电平（0或1），观察输出信号。
当输入信号相同（均为0或均为1）时，输出信号应为0；当输入信号不同（一个为0，一个为1）时，输出信号应为1组合逻辑电路测试：1.与门与非门的组合测试：在输入端口分别接入两个输入信号A、B，并将输出端口接入示波器。
通过输入不同的逻辑电平（0或1），观察输出信号。
当输入信号都为1时，输出信号应为0；其他情况下，输出信号应为12.或门与非门的组合测试：与与门与非门的组合测试类似，只需将与门替换为或门，测试结果应与与门与非门的组合测试相反。
3.封装后的组合逻辑电路测试：使用封装后的组合逻辑电路实现具体的逻辑功能，如加法器、选择器等。
通过输入不同的逻辑电平（0或1），观察输出信号，验证实现的逻辑功能是否正确。
在进行功能测试时，需要注意输入信号的切换时间、输出信号的稳定时间，确保电路能够正常工作。
此外，还可以通过逻辑表或真值表对测试结果进行验证，确保组合逻辑电路的正确性。
总结：实验三组合逻辑电路的功能测试是通过对基本逻辑门和组合逻辑电路进行输入输出信号的观察和测试，验证其功能正确性。
基本门电路的逻辑功能测试实验报告
基本门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过对基本门电路进行逻辑功能测试，掌握基本门电路的逻辑功能及其工作原理。
二、实验器材1.数字电路实验箱2.直流稳压电源3.数字万用表三、实验原理基本门电路是数字电路中最基本的逻辑元件，包括与门、或门、非门等。
它们分别对应着布尔代数中的“与”、“或”、“非”运算。
在数字电路中，这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算，如异或、同或等。
四、实验步骤1.连接与门电路：将两个输入端分别连接到数字电路实验箱上的两个开关上，将输出端连接到数字万用表上。
2.打开第一个开关，记录输出结果。
3.关闭第一个开关，打开第二个开关，记录输出结果。
4.打开两个开关，记录输出结果。
5.重复以上步骤，连接或门和非门电路进行测试。
五、实验结果及分析1.与门电路测试：当两个输入都为高电平时（即两个开关都打开），输出为高电平；当有一个或两个输入为低电平时（即有一个或两个开关关闭），输出为低电平。
这符合与运算的规律。
2.或门电路测试：当两个输入都为低电平时（即两个开关都关闭），输出为低电平；当有一个或两个输入为高电平时（即有一个或两个开关打开），输出为高电平。
这符合或运算的规律。
3.非门电路测试：当输入为高电平时（即开关打开），输出为低电平；当输入为低电平时（即开关关闭），输出为高电平。
这符合非运算的规律。
六、实验结论通过对基本门电路进行逻辑功能测试，我们掌握了与门、或门、非门的逻辑功能及其工作原理。
在数字电路中，这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算，如异或、同或等。
掌握了基本门的工作原理之后，我们可以更好地理解和设计数字电路。
七、实验注意事项1.在连接实验箱之前，确认所有器材已经通电并处于正常工作状态。
2.在进行实验前，检查所有连接是否正确，并确保没有短路情况发生。
3.在进行实验过程中，注意安全操作，避免触碰到带电部分。
门电路逻辑功能及测试实验报告
一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能，包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
2. 掌握门电路逻辑功能的测试方法，包括输入信号的选择、输出信号的观测等。
3. 通过实验加深对数字电路原理的理解，提高动手实践能力。
二、实验原理门电路是数字电路的基本单元，它根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。
常见的门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
本实验主要测试以下几种门电路的逻辑功能：1. 与门（AND）：当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。
2. 或门（OR）：当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号就为高电平。
3. 非门（NOT）：将输入信号的逻辑值取反，即高电平变为低电平，低电平变为高电平。
4. 与非门（NAND）：与门输出信号取反，即当所有输入信号都为高电平时，输出信号为低电平。
5. 或非门（NOR）：或门输出信号取反，即当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号为低电平。
6. 异或门（XOR）：当输入信号不同时，输出信号为高电平；当输入信号相同时，输出信号为低电平。
三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00（2输入端四与非门）4. 74LS32（2输入端四或门）5. 74LS20（4输入端双与非门）6. 74LS86（2输入端四异或门）7. 示波器四、实验内容与步骤1. 与门测试（1）将74LS00芯片插入实验箱，按照电路图连接好与门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合与门逻辑功能。
2. 或门测试（1）将74LS32芯片插入实验箱，按照电路图连接好或门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合或门逻辑功能。
3. 非门测试（1）将74LS04芯片插入实验箱，按照电路图连接好非门电路。
基本门电路逻辑功能的测试数电实验报告
实验一：TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。
(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
通常I CCL ＞I CCH ，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为P CCL ＝V CC I CCL 。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
I CCL 和I CCH 测试电路如图2－2(a)、(b)所示。
[注意]：TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压V CC 只允许在＋5V ±10％的范围内工作，超过5.5V 将损坏器件；低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL 与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iH 。
I iL 是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中，I iL 相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望I iL 小些。
门电路逻辑功能及测试实验
门电路逻辑功能及测试实验一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路箱及示波器使用方法。
二、实验原理门电路是开关电路的一种，它具有一个或多个输入端，只有一个输出端，当一个或多个输入端有信号时其输出才有信号。
门电路在满足一定条件时，按一定规律输出信号，起着开关作用。
基本门电路采用与门、或门、非门三种，也可将其组合而构成其它门，如与非门、或非门等。
图4-1为与非门电路原理图，其基本功能是：在输入信号全为高电平时输出才为低电平。
输出与输入的逻辑关系为：Y=ABCD平均传输延迟时间tpd是衡量门电路开关速度的参数。
它是指输出波形边沿的0.5Vm点相对于输入波形对应边沿的0.5Vm点的时间延迟。
如图4-2所示，门电路的导通延迟时间为tpdL，截止延迟时间为tpdH，则平均传输延迟时间为：1。
tpd=(tpdL+tpdH)2图4-3为异或门电路原理图，其基本功能是:当两个输入端相异(即一个为‘0’，另一个为‘1’)时，输出为‘1’；当两个输入端相同时，输出为‘0’。
即: 。
Y=A B=AB+AB图4-1与非门电路原理图 4-2门电路导通延迟时间与截止延迟时间图4-3异或门电路原理图三、实验仪器及材料1、双踪示波器2、器件74LS00 二输入端四与非门 2片74LS20 四输入端双与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1片74LS04 六反相器 1片四、预习要求1、复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2、熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚用途。
3、了解双踪示波器使用方法。
五、实验内容及步骤实验前按实验箱的使用说明先检查实验箱电源是否正常。
然后选择实验用的集成电路。
按自已设计的实验接线图连线，特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导教师检查无误后方可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。
1、测试门电路逻辑功能（1）选用双四输入与非门74LS20一只，插入实验板上的IC插座，按图4-1接线，输入端A、B、C、D分别接K1～K4（电平开关输出插口），输出端接电平显示发光二极管（L1～L16任意一个）。
逻辑门电路功能测试实验报告
逻辑门电路功能测试实验报告实验名称：逻辑门电路功能测试实验目的：通过对基本逻辑门电路的功能测试，了解逻辑门的功能特点和使用方法。
实验器材：逻辑门 IC 芯片、电路板、电源、数字万用表。
实验原理：逻辑门电路是由数个基本逻辑门组合而成的，其功能由每个基本逻辑门的特性决定。
在实现不同功能时，需要使用不同类型的逻辑门，并通过不同的电路组合实现。
实验步骤：1. 将逻辑门 IC 芯片插入电路板中，并连接电源。
2. 针对不同的逻辑门，根据其真值表，按照连接方法将线路连接。
3. 利用数字万用表对逻辑门电路进行测试，检测其输出信号是否符合逻辑门的真值表。
4. 可通过改变输入信号的方式，观察逻辑门的输出信号变化。
实验结果：针对不同类型的逻辑门进行连接和测试，实验结果如下：1. 与门（AND）电路测试结果符合真值表，只有所有输入都为 1 时，输出信号才为 1。
2. 或门（OR）电路测试结果符合真值表，只要有一个输入信号为1，输出信号即为 1。
3. 非门（NOT）电路测试结果符合真值表，将输入信号取反输出。
4. 与非门（NAND）电路测试结果符合真值表，只要有一个输入信号为 0，输出信号即为 0。
5. 或非门（NOR）电路测试结果符合真值表，只有所有输入都为0 时，输出信号才为 1。
6. 异或门（XOR）电路测试结果符合真值表，只有输入信号不相同时，输出信号才为 1。
实验结论：通过逻辑门电路功能测试，可以了解不同类型的逻辑门的特点和功能，并根据需要进行组合，实现不同的功能。
逻辑门电路在计算机和电子设备中广泛应用，是数字电路设计的基础。
门电路逻辑功能与测试实验报告
门电路逻辑功能与测试实验报告门电路逻辑功能与测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过学习和实践，掌握基本门电路（与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等）的逻辑功能及实际应用，并通过对门电路的测试，加深对数字逻辑电路的理解。
二、实验器材1.实验箱或面包板2.电源适配器3.逻辑门电路芯片（如74LS83A）4.连接线若干5.万用表6.实验程序（可选）三、实验原理门电路是数字逻辑电路的基本组成部分，可分为基本门电路和复合门电路。
基本门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等，它们分别具有相应的逻辑功能。
例如，与门只会在所有输入均为高电平时输出高电平，否则输出低电平；或门则只需一个输入为高电平就会输出高电平，等等。
通过这些基本门电路的不同组合，可以实现复杂的逻辑功能。
本次实验将以74LS83A四路与非门电路为例，进行门电路的逻辑功能与测试。
74LS83A是一种TTL（Transistor-Transistor Logic）型四路与非门电路，其特点为功耗低、速度快、体积小等。
四个独立的与非门具有相同的输入和输出端，可单独控制。
当A、B、C和D任一输入端为0时，输出Y为1；只有当所有输入端都为1时，输出Y才为0。
四、实验步骤1.准备器材并检查完好。
2.根据实验原理，连接电源、输入和输出端口，保证电源极性正确。
3.使用万用表检查各输入端口电平状态，并记录。
4.逐个改变输入端口的状态，观察输出端口的电平变化，并记录。
5.分析实验数据，了解74LS83A四路与非门电路的逻辑功能。
6.断电，结束实验。
五、实验数据分析与结论通过对74LS83A四路与非门电路的测试，我们验证了其逻辑功能。
在输入端口状态改变时，输出端口电平变化符合与非门的逻辑功能。
当任一输入端口为0时，输出端口为1；只有当所有输入端口都为1时，输出端口才为0。
这表明该门电路功能正常，可以用于实际应用中。
通过本次实验，我们深入了解了基本门电路的逻辑功能和实际应用，并学会了如何使用万用表进行电路测试。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的本次实验旨在深入理解门电路的逻辑功能，并通过实际测试掌握其工作特性和应用。
具体目标包括：1、熟悉与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本门电路的逻辑表达式和真值表。
2、学会使用实验仪器对门电路进行逻辑功能测试。
3、培养实验操作能力、数据分析能力和逻辑思维能力。
二、实验原理1、门电路的基本概念门电路是实现基本逻辑运算的电子电路，包括与门、或门、非门等。
与门的逻辑功能是只有当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；或门只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；非门则是输入与输出相反。
2、逻辑表达式和真值表与门：Y ＝ A·B或门：Y ＝ A ＋ B非门：Y ＝ A'与非门：Y ＝（A·B)＇或非门：Y ＝（A ＋ B)＇异或门：Y ＝ A ⊕ B通过真值表可以清晰地看到输入与输出之间的对应关系。
3、实验仪器数字电路实验箱、示波器、数字万用表、逻辑电平测试笔等。
三、实验内容与步骤1、与门逻辑功能测试（1）在实验箱上选取与门芯片（如 74LS08），按照芯片引脚图正确连接电路。
（2）将两个输入分别接逻辑电平开关，输出接逻辑电平指示灯。
（3）改变输入电平的组合（00、01、10、11），观察并记录输出电平的状态。
2、或门逻辑功能测试（1）选取或门芯片（如 74LS32），按照引脚图连接电路。
（2）同样将输入接逻辑电平开关，输出接指示灯，改变输入电平组合进行测试并记录。
3、非门逻辑功能测试（1）使用非门芯片（如 74LS04）进行连接。
（2）输入接电平开关，输出接指示灯，测试并记录。
4、与非门逻辑功能测试（1）选择与非门芯片（如 74LS00）进行电路连接。
（2）设置输入电平，观察并记录输出。
5、或非门逻辑功能测试（1）采用或非门芯片（如 74LS02）搭建电路。
（2）改变输入电平，记录输出结果。
6、异或门逻辑功能测试（1）找到异或门芯片（如 74LS86）并连接电路。
门电路逻辑功能测试实验报告
门电路逻辑功能测试实验报告
门电路是数字电路中的基本组成部分，用于控制信号的传输和处理。
门电路逻辑功能测试实验旨在验证门电路的逻辑功能是否符合设计要求，通过观察输入信号和输出信号的变化，确定门电路的工作状态。
在门电路逻辑功能测试实验中，我们通常会使用数字信号发生器作为输入信号的源，将不同的数字信号输入到门电路中，然后通过示波器或数字多用表来观察输出信号的变化。
通过对比输入信号和输出信号的逻辑关系，我们可以判断门电路的工作是否正常。
在进行门电路逻辑功能测试实验时，首先需要准备好实验所需的设备和元件，包括数字信号发生器、示波器、数字多用表等。
然后按照实验步骤逐步操作，将输入信号连接到门电路的输入端，观察输出信号的变化。
如果输出信号符合门电路的逻辑功能，则说明门电路正常工作；反之，则需要进一步检查和调试。
在实际的门电路逻辑功能测试实验中，我们可以选择不同类型的门电路进行测试，如与门、或门、非门等。
通过对不同类型门电路的测试，可以更好地理解门电路的逻辑功能和工作原理，为后续的数字电路设计和故障排除提供参考。
总的来说，门电路逻辑功能测试实验是数字电路实验中的重要环节，通过实际操作和观察，可以加深对门电路的理解，提高实验能力和
工程实践能力。
希望通过本次实验，同学们能够掌握门电路的逻辑功能测试方法，为今后的学习和研究打下坚实的基础。
基本门电路逻辑功能的测试数电实验报告
实验一：TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。
(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
通常I CCL ＞I CCH ，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为P CCL ＝V CC I CCL 。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
I CCL 和I CCH 测试电路如图2－2(a)、(b)所示。
[注意]：TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压V CC 只允许在＋5V ±10％的范围内工作，超过5.5V 将损坏器件；低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL 与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iH 。
I iL 是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中，I iL 相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望I iL 小些。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能：
门电路是现代电子学中最基本的逻辑元件。
它可以把输入信号处理成输出信号，根据不同的输入信号情况，采取不同的逻辑处理方式。
常见的门电路有与门、或门、非门、异或门、NAND门、NOR门等等，它们都是由晶体管、反相器或其它电子器件组成的一种特殊的电路。
测试实验报告：
1.实验目的：
本实验旨在验证和研究门电路的基本原理和功能，掌握用于判断门电路的正确性的方法，并掌握制作门电路的方法。
2.实验材料：
晶体管、反相器、电阻、电容、电感、继电器、电池、面包板等。
3.实验过程：
（1）绘制电路图：根据门电路的功能要求，绘制电路图，指明所用元件型号，确定输入输出端口；
（2）调试电路：根据电路图，将每个元件安装到面包板上，接好电池，接通电源，然后按照输入的控制电路，对门电路进行调试；
（3）测试电路：根据调试的情况，调整电路，使之达到所需要的功能，然后进行各种可能的输入情况下的测试，记录输入输出的结果；
（4）编写实验报告：根据实验过程，编写实验报告，描述实验过程，分析实验结果，得出结论。
4.实验结果：
实验结果表明，门电路可以按照预定的功能，在不同输入情况下，正确的输出信号，实现了预定的逻辑功能。
逻辑门电路功能测试实验报告
逻辑门电路功能测试实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入理解和掌握常见逻辑门电路（与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门和同或门）的逻辑功能，并通过实际测试和验证，提高对数字逻辑电路的分析和设计能力。
二、实验原理1、逻辑门电路的基本概念逻辑门电路是实现基本逻辑运算的电子电路，包括与、或、非、与非、或非、异或和同或等。
每种逻辑门都有其特定的逻辑表达式和真值表。
2、逻辑门的符号和表达式与门：符号为“＆”，表达式为 Y ＝ A·B （A 和 B 均为输入，Y 为输出），只有当 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 才为 1。
或门：符号为“｜”，表达式为 Y ＝ A ＋ B ，当 A 或 B 至少有一个为 1 时，输出 Y 为 1。
非门：符号为“～”，表达式为 Y ＝～A ，输入为 1 时输出为 0，输入为 0 时输出为 1。
与非门：符号为“NAND”，表达式为 Y ＝～（A·B) ，当 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 为 0，否则为 1。
或非门：符号为“NOR”，表达式为 Y ＝～（A ＋ B) ，当 A 或 B 至少有一个为 1 时，输出 Y 为 0，否则为 1。
异或门：符号为“⊕”，表达式为 Y ＝ A ⊕ B ，当 A 和 B 不同时，输出 Y 为 1，否则为 0。
同或门：符号为“⊙”，表达式为 Y ＝ A ⊙ B ，当 A 和 B 相同时，输出 Y 为 1，否则为 0。
3、真值表真值表是列出逻辑门电路所有可能输入组合及其对应的输出值的表格，是分析和理解逻辑门电路功能的重要工具。
三、实验设备与器材1、数字逻辑实验箱2、集成电路芯片：74LS08（与门）、74LS32（或门）、74LS04（非门）、74LS00（与非门）、74LS02（或非门）、74LS86（异或门）、74LS266（同或门）3、导线若干4、直流电源四、实验步骤1、熟悉实验箱和芯片引脚功能首先，仔细观察数字逻辑实验箱的布局和各插孔的功能，了解如何连接电路。
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实验三基本逻辑门电路逻辑功能测试
一、实验目的
1．熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。
2．掌握常用与、或、非门、与非门、或非门的逻辑功能及其测试方法。
二、实验器材
1．数字逻辑实验箱DSB-3 1台
2.元器件： 74LS00 74LS04 74LS02 74LS08 74LS32各一块
导线若干
三、实验内容和步骤
1．测试74LS08四二输入与门的逻辑功能
将74LS08正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。
表1-1 74LS08逻辑功能测试表
Y=
2．测试74LS32四2输入或门逻辑功能
将74LS32正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。
Y=
3．测试74LS04六非门的逻辑功能
将74LS04正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。
表1-3 74LS04逻辑功能测试表
4．测试74LS00四2输入端与非门逻辑功能
将74LS00正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。
表1-4 74LS00逻辑功能测试表
5. 测试74LS02四2输入端或非门逻辑功能
将74LS02正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。
表1-5 74LS02逻辑功能测试表。