XRF仪器的比较表
XRF元素光普分析仪设备对比报告
XRF元素光普分析仪設備對比報告一、目的
廠內XRF測試設備老舊，無法達到客戶要求，需重新評估新設備。
二、設備比對表
三、取樣測試比對結果
四、比對結果
1、E DX-LE：
美国安泰克anptek Si半导体检测器，20Wpcs / S計數率，1 / 3 / 5 / 10mmφ4種照射面积自動切換。
檢測速度快，與第三方的測試結果比對最接近。
2、E A1000 A3
自產的Si 半导体检测器，3Wpcs / S計數率，1 / 3 / 5mmφ3種照射面积自動切換。
檢測速度慢，但與第三方的測試結果比對差異較大。
3、E A1000VX
美國Votex SDD 高性能硅漂移液氮检测器，20Wpcs / S計數率，1/ 8mmφ2種照射面积自动切换。
檢測速度快，但與第三方的測試結果比對差異較大。
4、E A1200VX（三星使用款）
美國Votex SDD 高性能硅漂移液氮检测器，20Wpcs / S計數率，1/ 8mmφ2種照射面积自动切换。
檢測速度快，但與第三方的測試結果比對差異較大。
與EA1000VX機種的差異是：比EA1000VX的樣品室大，適合各種礦類產業廠商使用。
核準：審核：報告人：。
X射线荧光光谱仪主要技术指标对比-科邦实验室
3.检测记录系统
X 射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和 芯线正极组成,筒内充氩（90%）和甲烷（10%）的混合气体，X 射线射入管内，使 Ar 原子电离,生成的 Ar+在向阴极运动时，又引起其 它 Ar 原子电离，雪崩式电离的结果，产生一脉冲信号，脉冲幅度与 X 射线能量成正比。所以这种计数器叫正比计数器，为了保证计 数器内所充气体浓度不变，气体一直是保持流动状态的。流气正比计数器适用于轻元素的检测。
布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 2-应用SPECTRA plus作你的第一条回归曲线
应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线目录应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线简介建立校准曲线了解校准曲线工具箱开始作校准曲线Si KA1 HS-Min的校准曲线如何检查计算的浓度是否被接受P KA1-HS-Min 的校准曲线S KA1 HR-Min的校准曲线V KA1-HS-Min的校准曲线Cr KA1-HS-Min的校准曲线Mn KA1-HR-Min的校准曲线V KA1 HS-Min的校准曲线Ni KA1-HS-Min的校准曲线Cu-KA1-HS-Min的校准曲线漂移校正/重校正低合金未知样品的测量使用Results Monitor功能监视分析结果查询结果转移结果再评估测量数据结论简介本教学课程包括下列内容，以便使你熟悉制作校准曲线的过程：l建立校准曲线l组织材料l输入标准浓度到数据库l定义测量方法l了解校准曲线工具l校准已测量的低合金样品l用低合金曲线测量未知样品l使用结果管理器按照这一部分的介绍，你可以一步一步地制作你的第一条校准曲线。
使用一套BCS低合金标样，SPECTRA plus谱线库中预定义的谱线及扫描测量模式，你的任务是绘制低合金样品的校准曲线。
由于所有的样品已经在德国Bruker AXS 公司测量过，不需要在你的仪器上进行实际的测量。
为了得到所显示的相同结果，必须仔细地按照所有步骤进行。
建立校准曲线从SPECTRA plus程序或桌面打开Quantification Editor (FQuant) 程序。
图 1 桌面上的Spectra Plus程序文件夹选择 File > New.选择左侧（引导窗口一侧） "Materials" 。
在右侧出现一个对话框，并列出一个或多个预定义的材料。
图 2 材料页在"Material Groups" 材料组窗口中，选择"Tutorial"教学材料组(如果它不存在的话，请输入Tutorial并且点击新文件按钮(红圈), 见下面注解)。
XRF选购浅谈
XRF选购浅谈这里个人谈下对XRF的看法。
如果有说错的地方还请大家多多指正。
1.仪器品牌&公司实力这点和购买其他商品一样,我们都会注意到这点,购买XRF我们要看这个品牌是不是在ROHS指令执行期间才冒出来的,大家都知道仪器技术都是要靠积累和沉淀的,还有大家关心的是会不会这个公司应为OHS 而生,因为ROHS而亡.如果这个公司赚够钱,突然蒸发了,那用户怎么办,售后服务由谁来负责呢.2.仪器的功能有的XRF除了测试ROHS指令所测的那几个元素,还有没有其他功能呢,据我所知,有的XRF还具有测厚功能.这里说点题外话,XRF的类别:a.便携式荧光能谱仪，它是以同位素源为激发源，优点是体积小巧，便于携带，适用现场分析或野外和大型.主要缺点是不能达到大型荧光能谱的分析精度。
目前国际上最好的便携式荧光能谱仪可同时分析包括黄金(Au)等24种元素.b.小型管激发X-荧光能谱仪：由于探测器采用正比计数管技术，因此体积较小，优点是价格便宜，适用于单元素的高含量的分析。
缺点是由于采用正比计数管技术探测器分辨率较差，因而不能对相邻元素进行分析，不能进行多元素分析，一般仅对一个元素进行半定量分析。
c.大型X-荧光能谱仪：主要特点是采用Si(Li)探测器技术，按制冷方法可分液氮制冷和电致冷两种。
仪器有很高的稳定性、很高的灵敏度、准确度和重现性，可同时分析Na-U的各种元素，分析的浓度从100％－ppm级。
d. 微区X-荧光能谱仪：除去上述类型的能谱仪另外，还有特殊性能的荧光能谱仪。
上述的荧光能谱仪均是从事材料的平均成份分析，对材料中的夹杂物或不均匀材料或小颗粒的分析有很大的局限性。
目前有一种非常成熟的能谱技术，这种能谱叫微区X-荧光能谱仪，它不仅可以完成一般能谱仪的平均成份的分析，又具有可变的细的X-光光束，可对微区进行有选择的分析。
可通过精密移动样品台的对样品细小的区域进行成份分析, 并实时给出元素的面分布图。
它类同于扫描电镜或电子探针的分析，但又比后者灵敏度高得多。
有许多种类的X射线荧光(XRF)和X射线衍射(XRD)
结果与讨论使用XRF 对石灰石中的铬进行微量分析利用XRF 对混合为生料之前的原材料，例如石灰石，粘土，铁矿石，矾土等，对其中的主要和次要氧化物进行分析，是普遍而实际的做法。
例如，使用石灰石压片，XRF 可以对整个CaO ，SiO2，Al 2O 3，Fe 2O 3，MgO ，P 2O 5，MnO 和TiO 2含量进行分析。
人们可以预见某些氧化物，如TiO2，其含量可低至100ppm 的水平，具体含量将取决于石灰石的来源。
位于比利时，Heidelberg 水泥的Harmignies 工厂生产白水泥，其铬含量（Cr ）必须进行监测和控制，因为高含量的Cr ，或者含量变化都会改变水泥产品的颜色。
为了确认X 射线仪器对Cr 分析的灵敏度，通过将水泥与石灰石混合制备了一系列合成标样，其Cr 含量采用比色法进行检测。
表1给出了由计算，比色法和XRF 测量得到的Cr 含量数据之间的比较。
比色法和XRF 数据之间的相关性显示在图2中。
可以看到，以“人造”参考样品建立合适的校准曲线，由此在很低的Cr 含量时都具有良好的结果。
可获得大约在3ppm 的典型检测限，证实了仪器的优异性能。
为了进一步确认对于微量分析也能获得可靠且可重复的性能，对Cr 分析进行了重复性测试。
对包含约50ppm Cr 的同一水泥压片进行了十次重复性分析，在60s 计时内得到2ppm 或更小的标准偏差。
这样优秀的重复性令石灰石中Cr 含量的监测范围可为2-10ppm 。
除了Cr,铁（Fe ）是白水泥中另一个关键的元素。
当材料来自于不同采石点，ARL 9900仪器的性能可帮助生产商控制采石场已有物料的混合。
使用XRD 进行熟料物相分析人们对工艺中熟料物相定量及其变化监测的兴趣与日俱增。
使用XRD 进行游离氧化钙的连续监测已经相当成熟。
硅酸三钙，二钙硅酸盐，铝酸盐和铁酸盐的分析也能利用XRD 进行物相定量。
熟料物相的定量是非常复杂的，因此利用XRD 进行游离氧化钙定量，并使用传统的湿化学法分析作为参考方法，某些情况下，更可取和必需的方法是，采用来自某回转窑的真实熟料样品，为熟料物相定量建立不同的参数。
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别一．X射线荧光分析仪简介X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。
在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。
波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。
波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。
是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。
如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。
该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。
随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。
能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。
近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。
二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。
（一）原理区别X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。
波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。
XRF和ICP-MS测定3种稀土元素分析比较
第49卷第7期2021年4月广州化工Guangzhou Chemical IndustryVol.49No.7Apr.2021XRF和ICP-MS测定3种稀土元素分析比较薛福林，蔚志毅（青海省地质矿产测试应用中心，青海西宁810008）摘要：采用复合酸溶-电感耦合等离子体质谱法和波长色散X荧光光谱法测定稀土元素中的la,Ce,Y,前者用硫酸高沸点将稀土氟化物破坏掉，避免四酸溶矿测试结果偏低，低含量测试结果更可靠。
后者采用常规粉末压片法直接测定，减少基体效应，流程短，精度高，元素测定范围较宽。
故本法旨在将两者分析方法和结果分析比较，经精确度，测试范围，稳定性等进行综合考量，在测试时选取更合适的方法和元素配套。
关键词：复合酸溶；稀土元素；分析比较；X射线荧光光谱法中图分类号：0657.34文献标志码：A文章编号：1001-9677（2021）07-0097-02 Determination of Three Rare Earth Elements by XRF and ICP-MSXUE Fu-lin,WEI Zhi-yi(Qinghai Provincial Geological Test Application Center,Qinghai Xining810008,China)Abstract:The determination of La,CE and Y in rare earth elements by compound acid dissolution-mass spectrometry and wavelength dispersion-xrf spectrometry was studied.The former used sulfuric acid to destroy rare earth fluoride at high boiling point,so as to avoid the low test result of tetraacid dissolution,the low-content test was more reliable.In the latter method,the matrix effect was reduced,the flow was short,the precision was high,and the determination range was wide.The purpose of this method was to compare the two analysis methods and results,and select more suitable methods and elements in the test by considering the accuracy,test range and stability.Key words:compound acid dissolution；rare earth elements；analysis and comparison；X_ray fluorescence spectrometry稀土元素在元素周期表的DI B族，它的矿物种类繁多，组分复杂，广泛用于电子，原子能工业，甚至在医学中抗癌，抗艾滋病上也有相当的研究，本法分析的Y可用在在核反应堆控制棒等，Ce用于航天工业，导弹和火箭中，La可用于制作照相机的镜头，甚至应用于医学治疗癌症等，准确分析测定就显得尤为重要⑷，本法采用复合酸溶-电感耦合等离子体质谱法和波长色散X荧光光谱法分析比较，在分析时间流程,精确度等方面进行分析对比，选出分析简单，结果准确，适合日常分析的方法，作为今后分析的依据，提高检测的质量和效率。
XRF测试设备简介
2007/8/71理2007/8/72離見2007/8/73見索2007/8/74理分 原 析 理 分 元 析 素 檢 下 出 限 樣 腔 品 樣 類 品 型 X射 管 線 樣 照 直 品 射 徑 探 器 測 探 器 辨 測 分 率 高 發 器 壓 生 前 放 器 置 大 AD轉 模 換 塊 濾 片 光 樣 觀 品 察 輻 射 測 軟 試 件 數 處 據 理 檢 迅 測 速 操 介 作 面 工 環 作 境 電 源 功 率 重 量 外 尺 形 寸 能 色 型 線 光 析 量 散 X射 熒 分 法 Na(11)~U(92)任 元 意 素 2-5ppm 擁 超 樣 腔 放 小 樣 腔 積 任 不 則 狀 品 有 大 品 ,可 置 于 品 體 的 意 規 形 樣 . 塑 /金 /薄 /粉 /液 膠 屬 膜 末 體 Rh靶 线 ， 压 50KV可 (可 步 :1KV)， 流 1000uA X射 管 电 5－ 调 调 长 电 1－ 直 1/3/5/10mm四 可 动 换 径 种 自 交 液 制 型 氮 冷 Si(Li)檢 器 測 150eV以 下 國 進 外 口 國 進 外 口 國 進 外 口 5组 动 换 自 交 30倍 色 彩 CCD攝 機 視 對 . 像 ,有 覺 焦 小 1uSv/h 于 工 曲 法 定 分 ） 共 元 校 （ 除 扰 用 ， 作 线 （ 量 析 ， 存 素 正 去 干 作 ） FP法 无 样 （ 标 元 素 析 ， 膜 分 ） 薄 FP法 测 镀 厚 ） BG内 校 法 厚 ， 状 正 ， （ 定 层 度 ， 标 准 （ 度 形 校 ） 塑 材 自 判 功 ， 间 短 能 胶 质 动 定 能 时 缩 功 IBM PC/AT互 机 换 120s~300s 中 文 面 /英 介 温 10－ 度 30度 湿 40％ 70％ ， 度 － 100V（ 220V单 － 带 相 100V的 压 ) 变 器 50W 80kg W580xD650xH420技 術 部 分2007/8/75理建 適 範 議 用 圍 參 考 項 目 电 产 ， 子 部 ， 胶 金 制 ， 胶 包 材 ， 墨 玻 ， 子 品 电 零 件 塑 ， 属 品 橡 ， 装 料 油 ， 璃 陶 瓷 RoHS有 元 分 ； 种 料 元 分 ； 层 度 析 的 害 素 析 各 材 的 素 析 镀 厚 分 . 索 ， 下 佳 ， 光 日 ， 芝 夏 ， 洋 先 ， 尼 美 达 尼 松 ， 能 理 ， 立 东 ， 普 三 ， 锋 柯 卡 能 ， 丰 ， 田 TDK， 星 LG， 硕 明 ， 宝 广 集 ， 达 团 富 田 本 ， 三 ， 华 ， 基 仁 ， 达 团 台 集 ， 士 ， 康 SGS， TUV， 江 检 无 商 ， 州 检 湖 商 ， 川 检 海 浙 商 ， 锡 检 扬 商 ， 北 检 四 商 ， 尔 美 ， 佳 TCL等 ， 的 康 ， 1000余 . 家 每 消 1L液 天 耗 氮 保 ： 收 1年 售 ： 时 电 应 ， 修 验 后 ； 后 4小 内 话 对 48小 内 程 到 场 海 时 工 师 现 .上 ， 苏 ， 山 岛 的 后 务 ， 设 有 州 昆 有 津 售 服 点 并 置 EDX－ 720样 . 机 CIF:上 .預 90%,驗 後 10%. 海 付 收 付 接 订 2－ 内 到 单 4週 10000$ 200000小 以 时 上國 知 際 名 使 廠 用 商特 要 殊 求售 及 修 後 保商 務付 方 款 式 交 週 貨 期 更 光 費 換 管 用 X光 壽 管 命2007/8/76理分 原 析 理 分 元 析 素 檢 下 出 限 樣 腔 品 樣 類 品 型 X射 管 線 樣 照 直 品 射 徑 探 器 測 探 器 辨 測 分 率 高 發 器 壓 生 前 放 器 置 大 AD轉 模 換 塊 濾 片 光 樣 觀 品 察 輻 射 測 軟 試 件 數 處 據 理 檢 迅 測 速 操 介 作 面 工 環 作 境 電 源 功 率 重 量 外 尺 形 寸 能 色 X射 熒 分 法 量 散 綫 光 析 Si~U（ Cd//Pb/Cr/Hg/Br高 度 精 型 Na~U（ 選 ∮ 任 ： 1.2/∮ 0.1mm切 方 型 換 式 ） Cd， Pb， Hg， Br≦ 2ppm， Cr≦ 5ppm， @1.2mm∮ PE樣 ） （ 品 460(W)× 360(D)× 150(H)mm 塑 ： 脂 橡 、 維、 墨 料 樹 、 膠 纖 油 ∮ 1.2mm/∮ 0.1mm(選 ） 射 導 配 Ｘ 綫 管 ∮ 1.2mm/∮ 0.1mm（ 0.1ｍ 為 配 ｍ 選 ） 高 硅 測 Ｘ Ｒ Ｐ Ｙ 純 檢 器 Ｅ Ｏ Ｈ 165eV以 ， 高 到 上 最 可 149eV以 上 Rh靶 電 15kV、 ， 壓 50kV， 流 μ 1000μ 電 １ A到 A 電 靈 放 器 荷 敏 大 逐 比 型 次 較 5元 同 分 用 Cd/Pb/Cr/Hg/Br） 素 時 析 （ 放 倍 50倍 X射 同 ） 大 率 （ 綫 軸 1.0μ Sv/h以 下 定 分 ： 動 性 能 BG表 、 性 析 自 定 功 、 示 ROI分 、 配 能 離 匹 功 定 分 ： 量 法 FPM法 有 元 定 （ 量 析 檢 綫 、 、 害 素 量 Cl修 、 度 正 電 修 正 厚 修 、 線 正 、 定 間 短 能 ） 測 時 縮 功 Excel數 管 軟 據 理 件 塑 100秒 金 400秒 30秒 判 膠 ， 屬 ， 可 斷 英 、 文 文 日 周 溫 :10~35℃ 能 度 圍 度 (性 溫 )/5~40℃ 作 度 (動 溫 ) AC100V、 120V、 220V、 240V± 10%、 50/60Hz 1.3kVA以 （ 計 機 LCD、 印 ） 下 含 算 、 打 機 約 200kg(XGT-1000WR) 分 部 610(W)× 析 750(D)× 500(H)mm技 術 部 分2007/8/77理建 適 範 議 用 圍 參 考 項 目 電 電 行 、 裝 料 業 分 行 、 具 、 金 、 用 材 子 氣 業 包 材 行 、 析 業 玩 業 五 業 家 器 業國 知 際 名 使 廠 用 商ASUS、 Sony、 Sharp、 Hitachi、 田 Foxconn、 丰 、 JVC、 下 Fujitsu、 松 、 NEC、 LG、 Ricoh、 友 屬 Glory工 、 住 金 、 業 Samsung、 TUV、 ITS、 Citizen、 Tatung、 富 電 等 士 氣 每 消 1L液 天 耗 氮特 要 殊 求售 及 修 後 保1年 修 保 期商 務付 方 款 式 交 週 貨 期 更 光 費 換 管 用 X光 壽 管 命L/C 1個 月 65000RMB 5000小 時2007/8/78理分 原 析 理 分 元 析 素 檢 下 出 限 樣 腔 品 樣 類 品 型 X射 管 線 樣 照 直 品 射 徑 探 器 測 探 器 辨 測 分 率 高 發 器 壓 生 前 放 器 置 大 AD轉 模 換 塊 濾 片 光 樣 觀 品 察 輻 射 測 軟 試 件 數 處 據 理 檢 迅 測 速 操 介 作 面 工 環 作 境 電 源 功 率 重 量 外 尺 形 寸 能 分 型 極 )X射 螢 光 法 量 散 (偏 化 線 光 譜 可 析 分 Na(11)~U(92)範 的 素 圍 元 0.1~5ppm 12 position for sam s ples(32or40m ) m 金 /塑 /粉 /液 /薄 屬 膠 體 體 膜 Pd陽 X射 管 極 線 (50W)/電 50kV(max)/1000μ 壓 A 無 SDD(State-of-the-art silicon drift detector) (≦ 160eV在 10000cps;≦ 140eV在 1000cps)在 kα Mn 線 國 進 外 口 國 進 外 口 國 進 外 口 3 Targets(polarization and secondary targets) 無 小 1μ 于 Sv/h 檢 線 、 普 補 法 FP法 FP with Standard、 量 法 康 頓 償 、 、 TQ法 IBM PC/AT互 机 换 120~500sec 英 /德 介 文 文 面 温 10－ 度 30℃ 湿 40％ 70％ ， 度 －120 V/230 V AC ±10 % 50/60 H , z技 術 部 分50W75 k gH340xW600xD700mm2007/8/79理建 適 範 議 用 圍 參 考 項 目 所 無 分 領 有 機 析 域 國 大 使 :南 塑 、 春 造 脂 台 、 達 、 寶 團 友 集 內 廠 用 亞 膠 長 人 樹 、 橡 宏 電 光 集 、 達 團 鴻 集 、 美 團 致 科 、 寶 訊 SGS、 、 海 團 奇 集 、 伸 技 華 通 、 TUV、 港 立 、 香 商 德 全 國 證 成 再 資 中 等 公 、 大 生 源 心 200多 ， 包 大 總 約 家 另 括 陸 數 800多 家國 知 際 名 使 廠 用 商特 要 殊 求無 使 液 氮 須 用 態 安 完 驗 合 後 儀 保 一 。
各国光谱仪器品牌对比
XRF品牌1.美国Xenemetrix（能量色散）美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者，而X-Calibur更是Xenemetrix 多年经验与专业知识的顶峰设计，该仪器占地面积少、性能优越。
强大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光光谱仪装在单机柜中并用于在工作台上运行。
Xenemetrix的强大nEXt软件平台提供有全定性、半定量以及定量分析能力。
这一软件平台是所有的Xenemetrix产品通用的。
2.荷兰帕纳科（panalytical)（能量色散&波长色散）荷兰帕纳科公司(PANalytical B.V.)前身是飞利浦公司分析仪器部。
于2002年9月18日根据英国思百吉集团（Spectris plc）与荷兰飞利浦电子集团之间的飞利浦分析仪器业务转让协议而成为思百吉集团旗下的专业分析仪器公司。
自上个世纪四十年代公司推出了世界上第一台X射线分析仪器，现已成为全球最大的X射线分析仪器生产厂家。
半个多世纪以来，公司一直领导着全球X射线分析仪器技术的发展，为其贡献了大量的创新与发明。
为分析工作者提供整体解决方案是我们的工作目标。
分享技术，共同推动X射线分析仪器技术的发展是我们一如既往的宗旨。
精工电子纳米科技，其前身为精工电子科学仪器事业部，主要生产Axios,Magix FAST,Venus 200,Cubix XRF, PW2830 XRF wafer Analyzer,Epsilon,minipal,semyos等。
3.日本精工（能量色散）分析·测量仪器设备等。
为适应公司业务需要，科学仪器事业部于2003年12月1日从精工电子独立，正式成立了精工电子纳米科技。
4.美国AmptekAmptek是一家成立于1977年的高科技公司，致力于设计并制造核检测仪表，在该领域处于世界领先水平。
公司产品广泛用于人造卫星、X射线与伽玛射线的探测、实验室、分析仪以及工业上的便携式检测仪器。
II3大型仪器鉴定之一电子探针XRFXRD
元素探测范围：4Be ~ 92U
最大分析样品尺寸：100mm×100mm×50mm
EPMA的其他应用
对宝石表面或露出宝石表面的晶体包体选
定微区作定点的成分分析和形貌扫描，得
出晶体包体的定性或者定量的化学成分，
图形，确定包体的种类。
测定充填处理红宝石的结果显示充填物为
光等。
用途：用以研究微区的化学成份、表面形貌和结构特征等。
特点：微区分析，非破坏性。
EPMA 的原理
电子探针有一套完整的X射线波长和能量探测装置（波
谱仪WDS和能谱仪EDS），用来探测电子束轰击样品所
激发的特征X射线。
由于特征X射线的能量或波长随着原子序数的不同而不
同，只要探测入射电子在样品中激发出的特征X射线波
宝石鉴定大型仪器
对一般宝石品种的鉴定工作只需借助常规仪器即
可。
但随着人工生长与改善宝石技术的迅速提高，其
产品与天然相似物间的识别越来越难，有时为了
准确地鉴定，或者开展对宝石的研究工作，均需
动用大型仪器。
大型仪器不但购置和运转的成本高，而且常对样
品有损伤，应谨慎使用。
目前常用的宝石鉴定大型仪器有：
单晶宝石受晶体定向影响、仅能得到平行于晶体表面的部
分衍射峰，物相鉴定存在一定难度。
结束！
为C、O到U之间的元素， 并可进行镀层厚度及组成分析，
是一种快速、准确的无损检测方法。
北京工业大学材料学院
型
号： XRF-1800
各国光谱仪器品牌对比
XRF品牌1.美国Xenemetrix（能量色散）美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年经验和专业知识的顶峰设计，该仪器占地面积少、性能优越。
强大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光光谱仪装在单机柜中并用于在工作台上运行。
Xenemetrix的强大nEXt软件平台提供有全定性、半定量以及定量分析能力。
这一软件平台是所有的Xenemetrix产品通用的。
2.荷兰帕纳科（panalytical)（能量色散&波长色散）荷兰帕纳科公司(PANalytical B.V.)前身是飞利浦公司分析仪器部。
于2002年9月18日根据英国思百吉集团（Spectris plc）和荷兰飞利浦电子集团之间的飞利浦分析仪器业务转让协议而成为思百吉集团旗下的专业分析仪器公司。
自上个世纪四十年代公司推出了世界上第一台X射线分析仪器，现已成为全球最大的X射线分析仪器生产厂家。
半个多世纪以来，公司一直领导着全球X射线分析仪器技术的发展，为其贡献了大量的创新和发明。
为分析工作者提供整体解决方案是我们的工作目标。
分享技术，共同推动X射线分析仪器技术的发展是我们一如既往的宗旨。
精工电子纳米科技有限公司，其前身为精工电子有限公司科学仪器事业部，主要生产Axios,Magix FAST,Venus 200,Cubix XRF, PW2830 XRF wafer Analyzer,Epsilon,minipal,semyos等。
3.日本精工（能量色散）分析·测量仪器设备等。
为适应公司业务需要，科学仪器事业部于2003年12月1日从精工电子有限公司独立，正式成立了精工电子纳米科技有限公司。
4.美国AmptekAmptek是一家成立于1977年的高科技公司，致力于设计并制造核检测仪表，在该领域处于世界领先水平。
XRF选择
XRF（RoHS检测仪器）选择经典能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。
如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。
对六种有害物质总量的定量检测：一、按日本商会欧盟分部的''依照RoHS指令的检测方法〃。
方法详另见附件。
该方法建议对来料先便携式（手持式）荧光光谱仪检测，能通过的就算合格，遇到不合格的就算不合格品。
对灰色区域的，需要最终判断，要用台式仪器。
对于不同材料，使用的台式仪器各不相同.二、台式X射线荧光光谱仪的选择。
早期的台式荧光光谱仪使用液氮（LN）致冷探测器Si（Li）LN,每次使用要消耗液氮，也不方便。
电致冷硅漂探测器SiPIN出现后，就成为侧RoHS光谱仪探测器的主流。
液氮致冷灵敏度较容易达到要求，成本比电致冷的稍微低点，所以现在个别品牌还有液氮的。
但现有的电致型都能达到RoHS要求，且有的品牌用Si （Li）PCD电致冷探测器几乎达到的ppb级水平。
实际上，在有RoHS之前早就有X射线荧光光谱仪，测RoHS的要求相对来说要求并不太高，所以就派上用场了。
以上两种探测器对测轻元素的灵敏度都不理想（所以美国NITON便携式荧光光谱仪不能测铝等轻元素）。
出现了SDD电致冷探测器，提高了对轻金属元素的灵敏度，还能测硅等非金属元素，但价格相对来说又贵了许多，如国产的BXE-50DR，美国热电元素的ARLQUANT'X。
三、X射线荧光光谱仪的种类。
X射线荧光光谱仪有多种，以能量色散和波长色散为主。
1．能量色散荧光光谱仪能量色散型仪器最大的优点是不破坏被测的材料或产品，也不需要专业人员操作，缺点是对铬和溴是总量测定（一般不影响使用，因为很多情况可以判定，如测铬总量超标，常可知是不是六价铬超标，特别是溴，如被作为阻燃剂加入，不管是那种溴，总量超标就不合格）。
进口或国产的各种能量色散荧光光谱仪技术水平虽有差别，但已够应对RoH S检测，用户应根据自己的能力来选购国产或进口的。
XRF元素光普分析仪设备对比报告
XRF元素光普分析仪设备对比报告XRF（X-ray Fluorescence）光谱分析仪是一种常用的非破坏性元素分析仪器。
它利用原子吸收、荧光辐射和散射以及谱线的信息来确定物质的元素组成和含量。
在各种领域中，如材料科学、环境保护、地质矿产、金属冶炼等，XRF分析仪都发挥着重要作用。
目前市面上有多种不同型号的XRF光谱分析仪设备，主要包括一代和二代仪器。
下面将对这两种仪器进行比较和评价。
一代XRF仪器是传统的台式仪器，主要由激发器（X射线源）、样品台、X射线分束器、能量色散器、探测器和光电倍增管等组成。
一代仪器具有较高的精度和准确性，能够测定更多的元素、更低的浓度范围和更小的样品体积。
同时，它还可以提供更详细的定量和定性分析结果。
一代仪器的优点在于可靠性和稳定性较好，适用于常规的分析和实验研究。
而二代XRF仪器则在一代仪器的基础上进行了改进和升级。
二代仪器主要区别在于采用了更先进的元件和技术，如电感耦合等离子体（ICP）源和多重闪烁体等探测器。
这些改进使得二代仪器具有更高的测量速度和分辨率，能够在更广泛的元素范围和样品类型上进行分析。
二代仪器的优势在于快速测量、多元素同时分析和样品处理能力强，适用于工业生产和实时质量控制。
综上所述，一代XRF仪器和二代XRF仪器在技术和功能上有所不同，适用于不同的应用场景。
在选择XRF仪器时，需要根据具体要求和预期应用来确定。
一代仪器适用于需要精确分析和研究的实验室，并且对仪器性能和数据质量有较高要求的领域。
二代仪器则适用于需要快速、实时和高效分析的工业过程和质控环境。
此外，还可以考虑设备的价格和维护成本，以及售后服务和技术支持等因素。
总之，XRF元素光谱分析仪是一种重要的元素分析仪器，能够在多个领域中发挥作用。
在选择仪器时，需要对比一代和二代仪器的优势和适用性，并结合实际需求进行选择。
XRF资料
X射线荧光光谱仪
日本岛津国际贸易有限公司 型号：XRF-1800
1
• 主要配置： • LiF、Ge、PET、TAP、SX-52及SX-98N 6块 分光晶体；FPC、SC检测器；液体样品盒； 微区刻度尺 • 主要性能指标： • 1、检测元素范围：4Be-92U • 2、元素含量范围：0.0001%-100% • 3、最大扫描速度：300°/min
原子光谱分析法
原 子 吸 收 光 谱 原 子 发 射 光 谱 原 子 荧 光 光 谱 X 射 线 荧 光 光 谱
分子光谱分析法
分 子 荧 光 光 谱 法 分 子 磷 光 光 谱 法 核 磁 共 振 波 谱 法
紫 外 光 谱 法
红 外 光 谱 法
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什么是光谱分析？
• 用特殊的仪器设备对特定物质的光谱进 行分析的方法。 • 常见的光谱分析仪器有： 原子吸收光谱仪；直读光谱分析仪 ICP直读光谱分析仪；X射线荧光光谱仪 原子荧光光谱仪„„
21
荧光分析的样品有效厚度一般为≤0.1mm。 （金属≤0.1ｍｍ；树脂≤3ｍｍ） ▲有效厚度并非初级线束穿透的深度，而是
由分析线能够射出的深度决定的！
22
XRF－1800结构概念图示
波长色散型WDX(顺序扫描型)
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顺序型单道扫描XRF系统配置
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多道同时型XRF仪器结构
X射线萤光光谱仪(XRF)检验规范标准
AG-0801-M006-F2 Rev.:A1Amendment RecordsAG-0801-M006-F3 Rev.:A1目錄Content一、目的Purpose二、適用範圍Scope三、樣品檢測條件及方法Test condition & method for sample四、零件及產品測試原則Testing Rule五、測試方法Test Method六、注意事項Attention item七、附件Attachment1.XRF測試零件及產品類別之有害物質限值表限值表EHS threshold value of component type for XRF test2.拆解治工具管理流程The management process for disassembly tools of the component.3. XRF治工具季驗證紀錄表 (AT-0801-M427-F1)The record of disassembly tools in quarter inspection by XRF (AT-0801-M427-F1).目的：Purpose本規範在建立進料之XRF檢驗標準，以確保品質合乎既定之標準。
The purpose of this program is to establish the specification of the XRF inspection for incoming materials to assure the quality of materials and comply with specified criteria.一、適用範圍：Scope適用於各大類零件之檢驗。
Apply to all types of materials.二、樣品檢測條件及方法：Test condition & method1.分析方法分為檢量線法及FP法，說明如下：Test methods can be separated to the method of calibration curve and FP method.1.1.檢量線法：對應於XRF之分析條件為”Cd, Pb, Hg, Br, Cr.bcc”，適用之材質為塑料、紙張、木材及Mg, Al, Si 較輕元素)為主材質之樣品。
XRF-X-射线荧光光谱仪
图7 流动式正比检测器
X- 射线射入管内与 Ar 作用，产生Ar+ 离子和光电子。在高电场作用 下，光电子与其他 Ar气作用产生更多的 Ar+离子和光电子，连续反应将 产生大量的Ar+离子和光电子，产生的光电子总数大于起始数，即正比 于X-射线的能量。光电子到达阳极，引起电容瞬间放电。电容与放大器 相连，完成X-射线能量到电压信号的转换。
技术指标及性能特点：4GN铑靶、超尖端、超薄窗(75um)、端窗X射线管，固 态3.6kW高功率发生器， 最大电压60kV，或最大电流120mA，9位晶体转换 器，闪烁计数器， 最大线性计数1500kcps，流气正比计数器，最大线性计数 2000kcps，流气正比计数器窗膜0.9um。 主要用途及使用方向：配备Uniquant 5.12版无标样分析软件。可对大部分固 体样品中的70几个元素进行无标样半定量分析，特别适合基体复杂、无标准 物质的样品分析。也可用于金属材料、高纯金属、化工产品、化学试剂、岩 石、矿物、土壤、植物等样品中常量和痕量的定量分析。检出限：10μg/g左 右，精密度小于1%。
2.1.2 晶体分光器和准直器
晶体分光器的基本原理是当晶体中离子间的距离近似等于 X- 射线的 波长时，晶体本身就是一个反射衍射光栅。它的作用是通过晶体衍射现 象把不同波长的X-射线分开。根据布拉格衍射定律： 2dsinθ=nλ 改变θ角，可以观测到另外波长的X-射线，因而使不同波长的X-射线 可以分开。
图9 半导体检测器
这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器， 高能锗探测器等。
2.2 能量色散型X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）
图10 能量色散型X-射线荧光光谱仪的结构流程和光谱图
ED-XRF 是利用荧光 X- 射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，
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XRF 仪器的比较表
各品牌纳优天瑞华唯产品型号NaU-NDA200 EDX1800B UX-220 产品类型台式台式台式测试元素的范围Na-U K~U Na-U
检测下线2ppm 资料显示可达1ppm，实际为2ppm左
右
5ppm
重现性非常好一般塑料类物品可以，但金属稳定性就差，特别是对于焊锡类含铅
测试时间100-400秒200-400秒200-400秒仪器操作的难易简单清晰易操作简单简单
制冷方式
电子式+三维风扇制冷系统电子式电子式
电子制冷只是将热量散到检测器的表面，但整体检测器表面会非常的热，因此检测器会因为导热不充分而使得测试结果变得不稳定，所以电子式的仪器一直没有办法让仪器的重现性变得稳定，电子式的仪器也就会会出现测试结果时大时小的问题.我公司采用的三维风扇制冷系统方法，主要用在光管和检测器,能使仪器内部元器件达到制冷和恒温状态，同时保证仪器不受潮湿空气的影响，所以仪器的稳定性和重现性会最好。
测试结果稳定且精准稳定对添加特殊元素的材质测试不准确
检测的方法基本参数法，经验系数法，理论
α系数法
经验系数法基本参数法
探测器电制冷Si-PIN探测器 : 美国Amptek
公司生产，分辨率为：149±5ev
OEM代加工，分辨率为：165±5ev Si-PIN探测器
产品型号NaU-NDA200 EDX1800B UX-220 高压原装美国spellman公司生产OEM代加工国内组装X光管型号侧窗Mo靶铍窗口Mo靶玻璃窗口Mo靶玻璃窗口
第三方检测报告
CMA，CESI，CNAS，ilac-mra四家
国家实验室联合认证检测报告
无无X光管寿命设计大于30000小时设计大于15000小时设计大于15000小时电脑配置宏基其它品牌其它品牌
报表功能Excel/Word/PDF依据客户要求可以单
独设计报告格式
固定Word格式Excel/Word格式
摄像功能130万相素高清晰CCD摄像功能有，但不清晰。
30万相素内建，较清晰
仪器的膜厚测试金属镀层和膜厚测试有膜厚测试功能有，但根据客户反映基本没用
售后服务的响应省内24小时响应，36小时到达。
省外
24响应，72小时到达。
响应速度慢并且保修期收费情况时常
发生
响应速度慢
售后服务的标准完善的售后服务流程且完全为客户考
虑，可写进合同。
利润最大化完善
仪器的售后服务两年免费保修，保修期外只收取零件费
用
三年有偿保修包括人工二年保修
仪器操作的方便性
可以做到全鼠标操作，大部分功能已经
内设好,一般2小时培训就能顺利操作操作多，需要了解很多的设定,培训周
期长
操作多，需要了解很多的设定, 培训周
期长
产品型号NaU-NDA200 EDX1800B UX-220
免拆分功能。
采用了最新专利技术的光路结构，最小照射
光斑直径可达到0.5mm，辅以精确的光斑定
位系统，可以实现对复杂样品进行免拆分直
接测量的要求
无无
是否国标起草制定单位是，纳优科技是唯一一家参与制定
（中华人民共各国国家标准：电
子电气产品限用特质的限量要
求。
）XRF生产厂家。
详情可见
GB/T26572-2011，可登录工信部
网站查证。
不是不是
on-line实时在线技术服务支持NDA-200应用ON-Line实时在线
技术支持系统，需要时，只需将
XRF分析仪接入互联网，纳优科
技的专家技术团队可以直接远程
操作仪器，实时解决用户在使用
过程中的疑难技术问题（包括新
无无
产品型号NaU-NDA200 EDX1800B UX-220 增物料工作曲线建立、特殊物料
工作曲线建立、谱图干扰判断、
疑难物料筛选判断、建立物料允
收标准、仪器维护与验证等），同
时对用户操作人员进行培训；应
用先进的网络技术，无需额外成
本支出，彻底免除用户的后顾之
忧
报表功能
依据客户的要求可以单独设计个性化
报表的格式
固定格式固定格式摄像功能130万相素高清晰CCD摄像功能有有
仪器的售后服务两年保修,我公司全国联保，免费提供
仪器软件的升级。
免费提供技术支持和
终身提供技术服务。
均为代理商销售制，而且一年保固期
后厂家不管，承包给代理商有偿服务
二年保固。
总结：
☆优异的测试性能：NaU-NDA200使用研发超过十年之运算技术，理论Alpha系数法定量软件，搭配高分辨率探测器16种新型自动切换滤光片，彻底降低背景及底材之干扰，塑料模式Cd/Pb/Hg/Br≤2pmm;金属模式Pb≤5pmm，只给您最精确的分析结果，美制高压电源连续8小时测定RSD<0.05%
☆大仪器、大空间：NaU-NDA-200，
主机外形（mm）：长*宽*高=900*500*440
样品仓（mm）：长*宽*高=430*380*120
主机重量：约60公斤
☆亲切人性化设计：NaU-NDA-200全中文操作接口和自动生成各式分析报告，操作方法简单易懂，无需耗费太多操作人员教育训练时间，同时也可以将测试结果输出成Excel档进行分析。
☆高标准安全设计：NaU-NDA-200全封闭铅板防护外加双层迷宫防辐设计，并配置测试结果X射线自动屏蔽装置与超载保护与联锁装置，样品仓非法开启时，瞬间强制关断X射线源。
让您使用时高枕无忧不必担心辐射外泄。
纳优科技（北京）有限公司将以全体员工的智慧、真诚和责任，帮助用户降低环保管
控成本、提高环保管控效率、避免环保管控风险，真正做到为客户创造价值，这是我
们的郑重承诺。