运算放大器参数测试的方法

运算放大器参数测试的方法
1979 年1 月，《电子测试》发表了一篇文章称，一款单个测试电路可执行对任何运算放大器全面检查所需的所有标准DC测试。

单个测试电路在那个时候可能够用，但今天并非如此，因为现代运算放大器具有更全面的规范。

因此，单个测试电路不再包揽所有DC测试。

 现在经常使用三种测试电路拓扑对运算放大器DC参数进行工作台及生产测试。

这三种拓扑为(1)双运算放大器测试环路、(2)自测试环路(有时称故障求和点测试环路)和(3)三运算放大器环路。

您可使用这些电路测试DC参数，其中包括静态电流(IQ)、电压失调(VOS)、电源抑制比(PSRR)、共模抑制比(CMRR)以及DC开环增益(AOL)。

 静态电流
 静态电流是指器件输出电流等于零时其所消耗的电流。

尽管IQ测试看起来相当简单，但也必须注意确保良好的结果，尤其是在处理极高或极低IQ部件时。

图1是可用来测试IQ及其它参数的三种实用电路，其必须考虑若干负载电流情况。

这包括测试环路中的反馈电流。

实际上，反馈电阻器Rf也能给器件带来负载，影响IQ 测量。

 图1这三款电路可用来测量静态电流(IQ)。