头影测量分析值
X线头影测量学
X线头颅定位照Biblioteka 和头影图的描绘1.头颅定位X线照相
头颅定位仪 左、右耳塞及眶点指针构成 与地面平行的平面 自然头位法
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约10cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
患者体位：ICP位，唇自然放松
2.头影图的描绘
下颌标志点
四.常用测量平面
1.基准平面：相对稳定 前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与鼻
根点的连线组成 眶耳平面（FH）:由耳点与眶点的 连线组成 Bolton平面:由Bolton点与鼻根点 的连线组成
常用基准平面
前颅底平面（SN） 眶耳平面（FH）
Bolton平面
2.测量平面：
腭平面（PP）:由 前鼻棘点与后鼻棘点 的连线组成 面平面（N-Pog）： 由鼻根点与颏前点的 连线组成 Y轴（S-Gn）：蝶鞍 点与颏顶点的连线组 成
常用计测点
E线（审美平面）
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
上颌标志点
三.下颌标志点（7个）
髁顶点（Co）：髁 突影像最上点 下颌角点（Go）： 下颌角后下点 颏下点（Me）：颏 部之最下点
下颌标志点（7个）
颏前点（Pog）：颏 部之最前点 颏顶点（Gn）：颏下 点与颏前点之中点 下齿槽座点（B）： 颏前点与下齿槽缘 之间的凹点 下中切牙点（L1）： 下中切牙切缘之最 前点
描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆 仪及硬质尖锐的铅笔等 注意： 当左右影像不完全重合时，应取 其平均中点来做描绘
常用标志点及测量 平面
一.颅部标志点（5个）
鼻根点（N）： 鼻额缝的最 前点
蝶鞍点（S）： 蝶鞍影像的 中心点
儿童的头影测量标准值
儿童的头影测量标准值
头影测量的标准值是根据年龄和性别来确定的，因为儿童的颅颌面结构在生长过程中会随着年龄的增长和性别的不同而发生变化。
以下是一些一般性的头影测量标准值，但请注意，这些值可能因个体差异和种族差异而有所不同：
1. 下颌位置：
- 女孩：出生后第一年会逐渐下降，然后在2-5岁时上升，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年会下降，然后在2-8岁时上升，然后在9-15岁时保持相对稳定。
2. 下颌长度：
- 女孩：出生后第一年增加最快，然后在2-5岁时逐渐减慢，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年增加最快，然后在2-8岁时逐渐减慢，然后在9-15岁时保持相对稳定。
3. 颌部生长角度：
- 女孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-5岁时逐渐减少，然后在6-12岁时保持相对稳定。
- 男孩：出生后第一年逐渐增加，然后在2-8岁时逐渐减少，然后在9-15岁时保持相对稳定。
以上只是一般性的参考值，具体的测量结果应该由专业的口腔科医生或颌面科医生进行解释。
X线头影测量分析方法解析
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Steiner分析法
1)SNA角：前颅底平面-上齿槽 座点角。代表上颌基骨对颅部 2)SNB角：前颅底平面-下齿槽 座点角。代表下颌基骨对颅部
(5)下颌长度 (mandible length)此测 量不在眼耳平面，而在 下颌平面上进行。由髁 突后缘作切线垂直下颌 平面，再从颏前点作切 线垂直下颌平面，测量
(6)全面高(N-Me)：鼻 根点至颏下点的距离。
(7)面上部高(N-ANS)： 鼻根点至前鼻棘的距离。
(8)面下部高(ANS-Me)： 前鼻棘至颏下点的距离。
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法
Ricketts分析法
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wits分析法
分别从上、下齿槽座点 AB向功能性合平面作垂线， 两垂足分别为Ao点和Bo点。 然后测量Ao点与Bo点间的 距离以反映上、下颌骨前 部的相互位置关系。
Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Wits分析法
Coben分析法
Wylie分析法
此分析法是对牙颌面形态结构深度及高度的测 量。所有的测量主要是线距的测量。面部深度 测量以蝶鞍点作为测量座标，以眼耳平面为基 准平面，由蝶鞍中心和所要测量的各标志点向 眼耳平面作垂线，测量标志点垂足与蝶鞍点垂 足之间距离，或测量标志点垂足之间的距离。
经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举
经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举1931年，美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。
该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片，然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓，并测量线距与角度进行测量分析。
这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里，让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代，使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。
如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。
1 Tweed三角分析法由Tweed[2]于1945年提出，该三角由眼耳平面、下颌平面和下中切牙长轴围成。
具体为：FMA角：眼耳平面与下颌平面围成；FMIA角：下中切牙长轴与眼耳平面围成；IMPA角：下中切牙长轴与下颌平面围成。
临床应用时该分析方法可结合下牙弓散隙来决定与否拔牙。
Tweed认为下切牙相对于基骨的位置关系十分重要，是维持牙合关系稳定的关键因素。
所以主要通过改变下切牙唇舌向倾斜角度来改善面型和维持牙合关系的稳定，他通过对白种人的研究认为FMIA 值为65°是建立良好侧貌的重要条件。
所以FMIA 65°成为了Tweed矫治理念中追求的矫治目标。
但Tweed[3-4]也指出对下切牙唇舌向倾斜度的改变可能会加重畸形程度，如颏唇沟较深的AngleⅡ2分类错牙合，下切牙内收畸形会加重，下颌发育不足后缩、上切牙位置正常的AngleⅡ1分类患者，直立下切牙则会加重已存在的深覆盖，上切牙后收又会造成凹面型。
Tweed分析法测量值来自白种人群，不一定适合中国人群；对于较复杂的畸形很难分析出较全面的畸形机制。
临床应用时下切牙的倾斜度和矫正应根据不同患者骨骼下调的具体情况等做出正确的选择。
吕婴等[5]在此基础上提出了Tweed小三角的概念：即由下颌第一磨牙长轴、下颌平面角、眶耳平面围城的三角。
通过对大小三角的对比研究发现两个三角存在着特定联系，为矫治过程中如何调整第一磨牙的近远中倾斜角度提供了参考依据，同时也丰富了Tweed三角分析法，有一定临床指导价值。
头影测量分析方法
头04影测量分析方法的优缺点与 局限性
头影测量分析方法的优点
• 头影测量分析方法的优点 • 客观性强，减少了人为误差 • 可以准确反映颅颌骨的结构特点，为诊断和治疗提供依据 • 可以重复测量，便于长期观察和对比分析
头影测量分析方法的缺点
• 头影测量分析方法的缺点 • 操作复杂，需要专业的知识和技能 • 依赖影像手段，可能受到影像质量的影响 • 难以全面反映患者的生理和心理状况
头03影测量分析的主要指标与意 义
头影测量分析的主要指标
头影测量分析的主要指标
• 角度指标：如SNA、SNB、ANB等 • 线距指标：如ANS-Me、UI-SN等 • 面积和体积指标：如全面积、下颏体积等
头影测量分析的辅助指标
• 牙齿指标：如牙槽骨高度、牙齿倾斜角度等 • 软组织指标：如鼻唇角、颏颈角等
头影测量分析结果的评估与诊断
头影测量分析结果的评估
• 根据正常值范围和统计学方法，评估测量结果的正常与否 • 分析测量结果之间的关联性，了解各种指标的变化趋势 • 结合患者的临床表现和其他检查结果，进行综合分析
头影测量分析的诊断
• 根据测量结果，诊断患者的颅颌骨生长发育状况和疾病程度 • 指导正畸治疗和颌面外科手术方案的设计 • 预测治疗效果和评估治疗进展
头影测量分析方法的发展趋势与前景
头影测量分析方法的发展趋势
• 个性化治疗和精准医疗的需求，推动头影测量分析方法的改进和发展 • 口腔医学与其他学科的交叉融合，拓展头影测量分析的应用领域 • 计算机辅助设计和人工智能技术的应用，提高头影测量分析的效率和准确性
头影测量分析方法的前景
• 在口腔医学领域发挥重要作用，为诊断和治疗提供科学依据 • 随着技术的进步，头影测量分析方法将不断完善和发展，为患者提供更优质的医疗 服务
X线头影测量分析方法
Coben分析法
测量内容包括： 全颅底长〔Ba-N； 中面部深度〔Ba-A,包括Ba-S、 S-Ptm、Ptm-A距离；下面部 深度〔Ba-Pog,包括Ba-Ar、ArGo、Go-Pog 距离； 全面高〔N-Me,包括N-ANS、 ANS-UI、UI-LI、LI-Me、ANSMe 距离； 后面高〔N-Go,包括N-S、S-Ar、 Ar-Go、S-Go 距离； 下颌支长度〔AL和下颌体长 度〔MP.
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
Ricketts分析法 Jarabak分析法 McNamara分析法 Arnett 分析法 Delaire分析法
Jarabak分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
4>下颌平面角<MPA. mandibular*plane angle>：下颌平面 与眼耳平面的交角.下颌平面由通过颏 下点与下颌角下缘相切的线所代表.此 角表示下颌平面的陡度及面部的高度
5>Y轴角<Y axis>：Y轴与眼耳平面相 交之下内角此角也表示颏部的突缩.Y
<2>牙合与骨骼间关系的测量： 1>合平面角<cant of occlusion plane>：合平面与眼耳平面的交角. 此角代表合平面的斜度.此角越大代 表合平面越陡,为安氏Ⅱ类面型倾向, 反之此角越小代表合平面越平,为安 氏Ⅲ类面型倾向.合平面采用第一恒
Arnett 分析法
Tweed三角分析法 Wylie分析法 Downs分析法 Steiner分析法 Wits分析法 Coben分析法
X线头影测量分析
3）下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id.infradentale)：下齿槽 突之最前上点 • 下切牙点(Li.lower incisor)：下中切牙 切缘之最前点 • 颏前点(P.pogonion)：颏部之最突点 • 颏下点(Me.menton)：颏部之最下点 • 颏顶点(Gn.gnathion)：颏前点与颏下点 之中点
3、头影图的描绘
4、常用X线头影测量的 标志点及平面
（1）头影测量标志点 1）颅部标志点 2）上颌标志点 3）下颌标志点 4）常用软组织侧面标志点 （2）头影测量平面
1）颅部标志点
• 鼻根点(N.nasion)：鼻额缝的最前 点 • 蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影像的中心 • 耳点(P.porion)：外耳道之最上点 机械耳点，解剖耳点 • 颅底点(Ba.basion)：枕骨大孔前缘 中点 • Bolton点：枕骨髁突后切迹 • 的最凹点
上齿槽缘点(SPr.superior prosthion)：上齿槽突之最前 下点
上中切牙点(UI.upper incisor)： 上中切牙切缘之最前点
UI
3）下颌标志点
• 髁顶点(Co.condylion)：髁突的最上点 • 关节点(Ar.articulare)：颅底下缘与 下颌髁突颈后缘之交点 • 下颌角点(Go.gonion)：下颌角的后下 点：可通过下颌支平面和下颌平面交 角之分角线与下颌角之相交点来确定 • 下齿槽座点(B.supramental)：下齿槽 突缘点与颏前点间之骨部最凹点
前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖
后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖
翼上颌裂点(Ptm.)：翼上颌裂 轮廓之最下点 :翼上颌裂轮廓 之最下点
头影测量分析法 (韩睿 整理)
Downs分析法(10项）：1.面角：面平面与眼耳平面相交之后下角2.颌凸角：NA与PA延长之交角3.A-B平面角：AB或其延长线与面平面的交角4.下颌平面角：下颌平面与眼耳平面的交角5.Y轴角：Y轴与眼耳平面相交之下前角6.牙合平面角：牙合平面与眼耳平面之交角7.上下中切牙角：上下中切牙长轴的交角8.下中切牙—下颌平面角：下中切牙长轴与下颌平面之交角9.下中切牙—牙合平面角：下中切牙长轴与牙合平面相交之下前角10.上中切牙凸距：上中切牙切缘至APo连线的垂直距离（mm），当上中切牙切缘在APo连线前方时为正值，反之为负值Steiner分析法（14项）：1.SNA角2.SNB角3.ANB角4.SND角（D点为下颌骨性联合中心）5.U1—NA角：上中切牙长轴与NA连线之交角6.U1—NA距：上中切牙切缘至NA连线的垂直距离7.L1—NB角：下中切牙长轴与NB连线之交角8.L1—NB距：下中切牙长轴至NB连线的垂直距离9.Po—NB：颏前点至NB连线的垂直距离10.U1—L1角：上下中切牙长轴之后交角11.OP—SN角：牙合平面与前颅底平面之交角12.GoGn—SN角13.SL：从颏前点向前颅底平面作垂线，其垂足至蝶鞍点的距离14.SE：从髁突最后点向前颅底平面作垂线，垂足至蝶鞍点的距离注：SL与SE两项测量相结合，可了解下颌位置的变化及下颌生长发育情况Wylie分析法（10项）：以下前四项以眼耳平面为基准平面1.Co—S：髁突后切线垂线至蝶鞍中心店垂线间之距离2.S—Ptm：蝶鞍中心垂线至翼上颌裂垂线的距离3.ANS—Ptm：翼上颌裂垂线至前鼻棘垂线的距离4.Ptm—6：翼上颌裂垂线至上颌第一恒磨牙颊沟垂线距离5.下颌长度：以下颌平面为基准平面，髁突后缘作切线垂直下颌平面，再从颏前点作切线垂直下颌平面，测量垂线间的距离以下五项从鼻根点、前鼻棘点及颏下点作线与眼耳平面平行，而测量各平行线间的垂直距离6.全面高：N—Me：鼻根点与颏下点的垂直距离7.面上部高：N—ANS：8.面下部高：ANS—Me：9.N—ANS/N—Me×100％：10.ANS—Me/N—Me×100％：。
X线头影测量学
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角 (2)L1-MP角 (3)U1-NA角 (4)U1-NA距 (5)L1-NB角 (6)L1-NB距 (7)U1-L1角
3.面部高度的常用测量项目
全面高:N’-Me’ 上面高:N’-ANS’ 下面高:ANS’-Me’
P
为各点在FH平面垂线 上投影之距离（与教 材不同）
X线头影测量分析
Cephalometrics
四川大学华西口腔医学院 正畸学系 李宇
Beauty is only skin deep ?
X线头影测量分析
1 概念、应用、拍摄及描图 2 常用头影测量标志点及平面 3 常用硬组织、软组织测量项目 4 常用X线头影测量分析法
临床实例
什么是X线头影测量？
Y轴(Y axis):S与Gn的 连线，代表面部生长发 育方向
S
N
Po Gn
常用硬组织测量项目
1.上下颌骨的常用测量项目
SNA 角：反映上颌相对
N
于颅部的前后位置关系
S
SNB 角：反映下颌相对
于颅部的前后位置关系
A
ANB 角=SNA-SNB，反映
上下颌骨对颅部的相互
B
位置关系
面角（NP-FH）：面平
不同人群的FMIA目标有差异
Tweed 三角
下中切牙－FH平面（FMIA）
正常值 白人 北京 成都 65° 56° 54°
FH平面－MP平面角（FMA） 25° 31° 28°
下中切牙－MP平面（IMPA） 90° 94° 98°
下前牙再定位—计算法
绘出Tweed三角 测量FMIA=55 ° 标准值(65°)-测量值
头影测量评分标准表
其他特殊因素（如咬合功能、骨骼发育情况）
根据具体情况评估对脸型的影响程度并酌情加分/扣分
注：该评分标准仅供参考，实际评估时还需结合医生的专业意见。不同医院和医生的评估标准和侧重点可能略有差异。
头影测量评分标准表
项目
描述
分值
颅骨位置
头部轮廓是否对称，额结节、颞凸起等部位的位置和角度
10分
下颌角与下颌前突度
下颌角的角度和前突程度，以及是否存在后缩或前伸下颌
5分
鼻唇部位置
上唇高度、鼻基底宽度及鼻孔大小来自鼻唇部特征的形态和角度7分
面部整体比例协调性
面部的长宽比、上下高度比及各部分之间的相对关系是否协调
改良式导弓治疗儿童乳前牙反牙合的头影测量分析
改良式导弓治疗儿童乳前牙反牙合的头影测量分析袁媛;刘景;古丽巴哈·买卖提力【摘要】Objective To investigate the best timing of correcting primary dentition anterior crossbite and e-valuate the effects of modified interocclusal lip arch appliance in correcting primary dentition anterior crossbite.Methods Fifty cases (3-5 years old)with primary dentition anterior crossbite were selected. They were treated with the modified interocclusal lip arch appliance.Cephalometric radiographs were taken and analyzed at the pre-treatment time and the post-treatment time.We observed and compared the chan-ges of hard and soft tissue.Results After 14-75days′correction,50 cases achieved good therapic results. SNA increased (2.51±0.18)°,SNB decreased by (2.1±0.4)°,SNG increased by (1.78±0.9)°,and NLA drease d by (2.04±3.87)°.All of the anterior crossbite were corrected and the profiles were improved satis-factorily after treatment.Conclusion The primary dentition anterior crossbite should be corrected in the milk teeth period.The best timing of correcting primary dentition anterior crossbite is 3-5 years old. Modified interocclusal lip arch appliance is a clinical effective method for correcting primary dentition ante-rior crossbite,improving anterposterior j aw relationship and the face profile.%目的：探讨儿童乳前牙反牙合矫治的最佳时机及改良式导弓活动矫治器的治疗效果。
口腔正畸学：特殊检查-x线头影测量分析法
主讲人 王澜 1
常用x线头影测量分析法
(1)Downs分析法:以眼耳平面为基准平面 1）骨骼间关系的测量：面角、颌凸角、上下牙槽座角、下颌平 面角、Y轴角等。 2）牙（牙合）与骨骼间关系的测量内容：（牙合）平面角、上 下中切牙角、下中切牙角、下中切牙-下颌平面角、下中切牙-（牙合） 平面角、上中切牙凸距等。
H线：软组织颏前点与上唇相切的线。测 量鼻点、鼻唇沟、上下唇、颏唇沟以及颏前点 与该线的距离，可反映他们之间的位置关系。
Sn线：软组织颏前点与鼻下点的连线，反 映唇部的相对突度。
（7）H角：H线与NB的交角，代表软组织颏 部与唇的位置关系。
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ห้องสมุดไป่ตู้
电子计算机化的X线头影测量
是将头影图上所确定的各测量标志点转化为坐标值，电子计算 机算出各测量项目的结果并进行统计分析。
2
常用x线头影测量分析法
（2）Tweed分析法 ：眼耳平面-下颌平面角（FMA） 下中切牙-眼耳平面角（FMIA） 下中切牙-下颌平面角（IMPA）
Tweed认为FMIA65度是建立良好面型的重要条件，因此要达到 FMIA的矫治目标主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来完成。
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常用软组织测量内容
(1）面型角（FCA）：额点-鼻下点 连线和鼻下点-软组织颏前点连线的后 交角，代表软组织的面型突度。
X线摄像数值化技术使得对头颅定位片测量分析更简化。
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谢谢观看THANKS
特殊检查-x线头影测量分析法
主讲人 王澜
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（2）鼻唇角（NLA）：鼻下点-鼻小 柱点连线和鼻下点-上唇突点连线的前 交角，代表上唇与鼻底的位置关系
（3）面上部高（UFH） （4）上唇长（ULL） （5）下唇长（LLL）
X线头影测量分析1
二.X线头影测量的由来
三. X线头影测量的主要应用
1.研究颅面生长发育； 2.牙颌颅面畸形的诊断分析； 3.确定错合畸形的矫治设计； 4.研究矫治过程中.矫治后的牙颌颅面形 态结够的变化； 5.外科正畸的诊断和矫治设计； 6.下颌功能分析；
四.头颅定位X线照像与头影图的描绘
Tweed分析方法:
在下列情况下,不适于进行Tweed三角中下切牙唇舌 向倾斜度的校正: 1. 如果患者由于下頜后缩而表现的安氏２类１分类 错合,这时直立下切牙将会加重已存在的深复盖. 2. 某些頦唇沟较深的安氏２类２分类错合,使下切 牙内收则会加重畸形,且效果也不会稳定. 3. 对于正处在生长发育阶段的患者,要确定上下 切牙的最后位置.
S P N
Or
Y轴角（NSGn）
蝶鞍点至頦顶点 连线与前颅底平 面（S-N）所构成。
Gn
常用头影测量项目
7. 下颌平面角（FMA）：下颌 平面与眼耳平面的交角。
根据下颌平面角将垂直骨面形 分为3种 （1）正常型：均值27.2° 、 标准差4.7 ° （2）高角型：垂直向发育过 度大于32 ° ( 3) 低角型：垂直向发育 不足小于22 °
常 用 头 影 测 量 项 目
眼耳平面
16. /1-眼耳平面 角：下中切牙长轴与 眼耳平面之交角。 （FMIA）
常 用 头 影 测 量 项 目
S
N
17.前、后面高比 （S-Go/N-Me）。
Go
Me
常用头影测量项目
17.前、后面高比（S-Go/N-Me） 根据X线头影前-后面高的比例，面部的生长 型可分为三种类型： （1）正常生长型；面部生长均衡，后面高与前 面高的比值在65%左右。 （2）水平生长型；面部生长方向较为水平，后 面高与前面的比值一般大于68%。 （3）垂直生长型；面部生长方向较垂直，后面 高与前面高的比值一般小于62%。
X线头影测量分析报告
1、硬组织测量标志点
1.颅部标志点〔5个
蝶鞍点〔S 鼻根点〔N 机械耳点<P> 颅底点〔Ba Bolton点〔Bo
颅部标志点〔5个
鼻根点〔N：鼻额缝的最前点 蝶鞍点〔S：蝶鞍影像的中心点 耳点〔Po： 机械耳点---定位仪耳塞影像的最上点 解剖耳点---骨性外耳道影像的最上点 颅底点〔Ba：枕骨大孔前缘中点 Bolton点〔Bo：枕骨髁突后切迹之最凹点
通过X线对正常牙合人的颅面结构进行分析
得出正常牙合的各项测量参考标准
作为诊断分析 的基础
2.牙颌、颅面畸形的诊断分析
3.确定错牙合畸形的矫治计划
对比
分析出错牙合畸形的机制
正常牙颌 颅面关系
个体牙颌 颅面结构
确定牙和颌位的理想位置,制定可行的矫治方案
4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化
常用的头影测量分析法
Tweed分析法：
测量由眶耳平面〔FH、下颌平面〔MP、下中切牙长轴延长线所组成的代表面部形态结构的颌面三角形
正常值
成都
白人
眶耳平面－下颌平面角（FMA）
28°
25°
下中切牙－眶耳平面角（FMIA）
54°
65°
下中切牙－下颌平面角（IMPA）
眶点〔Or：眶下缘最下点 翼上颌裂点〔Ptm：翼上颌裂影像的最下点 前鼻棘点〔ANS：前鼻棘的尖端
上颌标志点〔7个
上颌标志点〔6个
后鼻棘点〔PNS：硬腭后部骨棘之尖 上齿槽座点〔A：前鼻棘与上齿槽缘间的最凹点 上齿槽缘点〔Spr上牙槽突的最前下点 上中切牙点〔U1：上中切牙切缘之最前点
Or <orbitale 眶点>
－测量平面
下颌平面〔MP 2:下颌下缘最低点的切线