光谱仪和光谱仪的测量

光谱仪和光谱仪的测量
光谱仪和光谱仪的测量

××大学实验报告

学生姓名:×××学号: 2222222222 专业班级:×××××实验类型:□验证□综合□设计□创新实验日期:××××实验成绩:

光谱仪和光谱仪的测量

光谱是光源所发射的辐射强度随波长(频率)的分布,它反映了光源的构成物质和其它的一些特性。我们今天所掌握的有关原子和分子结构方面的知识绝大部分都来自光谱的研究。在电磁辐射和物质相互作用时能观察到吸收或发射光谱,它们从多方面提供了原子和分子结构和它们与周围环境相互作用的信息。因此,光谱的观察在科学研究和生产生活中有着十分重要的意义。

【实验目的】

1.掌握光栅光谱仪的工作原理和使用方法,学习识谱和谱线测量等基本技术。

2.通过光谱测量了解一些常用光源的光谱特性。

3.通过所测得的氢(氘)原子光谱在可见和近紫外区的波长验证巴尔末公式并准确测

出氢(氘)的里德堡常数。

4.测出氢、氘同位素位移,求出质子与电子的质量比。

【实验仪器】

光栅光谱仪、光谱灯、发光二极管、热光源、氢灯

【实验原理】

1.典型光源光谱发光原理

(1)热辐射光源

这一类光源特点是物体在发射辐射过程中不改变内能,只要通过加热来维持它的温度,辐射就可继续不断地进行下去.这类光源包括我们常用

的白炽灯、卤素灯、钨带灯和直流碳弧灯等一些常用光源。

它们光谱是覆盖了很大波长范围连续光谱,谱线的中心频率

和形状与物体温度有关,而与物质特性无关,温度越高,辐

射的频率也越高。

图1 原子自发辐射发射光子(2)发光二极管

通过n型半导体的电子和p型半导体在结间的偶合发出光子,发光频率与电子跃迁能级有关。如果,跃迁的上能级为E2、下能级为E1,则发出光子的频率v满足

hν=E

2-E

1

其中h=6.62610-34Js 为普朗克常数,发光二极管跃迁的上下能级都是范围较宽的能带结构,因此,其谱线宽度一般也较宽。分子和晶体也有这种带状的能级结构,谱线也有一定的宽度。

(3)光谱灯

光谱灯工作物质一般为气体或金属蒸汽,通过激发的形式,使低能态的原子激发到

较高的能级(图

1),处于高能级的原子是不稳定的,会以自发辐射的形式回到低能级,辐射的光子也满足

h ν=E 2-E 1

E 2和E 1分别是原子自发辐射跃迁的上下能级,v 为辐射

的光子频率。原子的能级是分立的,可以从不同高能级

不同低能级跃迁,因此,原子谱线也是分立的,谱线宽

度一般也较窄。

图二 谱线半值线宽

2. 谱线半值线宽

谱线的半值线宽(半线宽)是光谱研究中一个很重要的参量,通过半线宽的测量我们可以知道谱线的频率分布的范围的大小,可以求得光源的相干长度等一些与光源特性有关的参量。如果一个光谱的分布函数f(λ),在波长λ=λ0 达到极大f(λ0 )(图2),

在其左右两边各存在波长值λ1、λ2 ,有f(λ1)= f(λ2)= f(λ0)/2,则对应波长λ0峰值半线宽定义为Δλ=|λ1-λ2|。峰值半线宽与相干长度ΔL 关系为ΔL=。

3. 氢原子光谱

氢光谱实验在量子理论的发展过程中有着非常重要的地位,1913年玻尔原子的量子轨道的理论,指出了原有经典理论不能用于解释原子内部结构,提出了微观体系特有的量子规律,揭开了量子论发展的序幕。

氢原子光谱的实验规律:

早在原子理论建立以前人们就积累了有关原子光谱的大量实验数据,发现氢原子光谱可以用一个普遍的公式表示,波数 ==R(-) (1)

其中:m 取1、2、3、4、5等正整数,每一个m 值对应一个光谱线系,如当m =2时便得到谱线在可见光和近紫外区的巴尔末线系;n 取m+1、m+2、m+3、…等正整数,每一个n 值对应一条谱线;R 称为里德伯常数。式(1)称为广义巴尔末公式。

根据光谱实验规律和其它实验结果,玻尔提出了原子电子轨道的量子化理论,按照玻尔理论氢原子光谱巴耳末线系的理论公式为

式中ε0为真空介电常数,h 为普朗克常数,c 为光速,e 为电子电荷,m 为电子质量,

M 为氢原子核质量。即里德伯常数

R 为将核的质量视为无穷大(即假定核固定不动)时的里德伯常数。这样便把里德伯常数和许多基本物理常数联系起来了。因此式(3)和实验结果符合程度就成为检验玻尔理论正确性的重要依据之一。

这样(2)可写成 ==R(-) (4)

(n=3时,λ=656.28nm )

(2) (3)

4.同位素位移

由于同一元素的不同同位素,它们原子核所拥有的中子数不同,引起原子核质量差异和电荷分布的微小差异,而引起原子光谱波长的微小差别称为“同位素位移”。一般来说,元素光谱线同位素位移的定量关系是很复杂的。对于重核,中子数目的增加除了增大原子核的质量外,还使原子核的半径发生变化,它们对同位素的光谱线都有影响。只有像氢原子这样的系统,同位素位移才可以用简单的公式计算。氢原子核是一个质子,其质量为M,氘核比氢核多一个中子,其质量近似为2M。由式(4)可知氢原子与氘原子的里德伯常数分别为

R H =R

() (5)

R D =R

() (6)

对于巴耳末线系,氢和氘的谱线计算公式分别为

== R

(-) (7)

==R

D

(-) (8)对于相同的n,由式(5)~(8)可得

Δλ=-= R

∞()/ (-)= R

()/ R

(-)≈=

(9)

所以

≈(10)同时由于用光谱实验可测得精确度很高的里德伯常数,因而也成为测量基本物理常数值

的重要依据之一。上式中的是用R

∞代替R

H

或R

D

计算得到的或的近似值。用式(10)

计算M/m时,又可取λ

D

的数值。从实验测得的每一个和可算得M/m的一个值,最后求平均值。

【仪器介绍】

1.光栅光谱仪

图3 光谱仪内部结构

S1、S2:通光狭缝、M、M1、M2:反射镜、 G:光栅、

PM:光电倍增管、R:连杆、S:丝杆、M:步进马达

光栅光谱仪是利用光栅分光原理制成光谱测量仪器,内部结构见图3。当光源放在进光狭缝S1前,光线狭缝进入光谱仪后,先由转向镜M、M1反射到达分光光栅G,光束经光栅分光,选择好的单色光经由M2反射经狭缝A2进入光电倍增管PM。其中,S1、S2缝宽大小决定谱线精细程度,通常缝宽越小谱线的分辨率越高,但谱线强度越低,实验中,可按不同的测量要求,选择合适的缝宽;M的作用仅仅是使光束转向;M1是一凹面镜不仅是光束转向,还使光束变为平行光入射光栅;G是分光元件,一个步进马达通过丝杆-连轴结构与之连接,控制G的分光角度,调节进入PM的光束的波长;M2也是一凹面镜,其作用是将分光后的单色光反射并聚焦通过S2进入PM探测;PM 探测谱线强度,并转换成电信号,再由数据采集系统转变成数值信号,送入计算机系统处理、显示和存储。

2.WGD系列光谱仪控制软件介绍

当打开光栅光谱仪软件系统,计算机会对系统自动初始化,探测零点位置,使光谱仪到达200nm的测量位置,并可见到图4界面。因篇幅的关系这里只对一些常用的功能做简单的介绍。在界面的左边有“参数设置”按键,有如下参数:

“模式”:有“能量”、“透过率”、“吸收率”和“基线”四种模式,一般谱线的测量用能量模式;在测量“透过率”和“吸收率”需先测量基线。

“间隔”:有0.1nm、0.2nm、0.5nm和1nm四档(8型还有0.025nm,0.05nm档),反映了扫描过程中两测量点间的距离,在测量时,可根据测量谱线的特性选择合适的档次。

“起始波长”和“终止波长”:决定扫描的波长范围(在200nm~800nm范围内),可直接输入,也可用谱线下方工具选定,或在工具点开的窗口内输入。

“最大值”和“最小值”:决定“能量”显示范围。最大值为1000,在测量中,计算机有时会自动选择,可用直接输入谱线下方工具选定。也可在工具点开的窗口内输入。

以上两对参数可根据需要加以选择。

图4 光谱仪控制界面

“负高压”在 WGD-8型光谱仪上用于选择光电倍增管电压,共有1~8档,档数越高负高压越大,倍增管放大倍数也越大。在WGD-3型由于电压靠控制箱面板电压调节旋

钮调节,这个参数是虚设的。

“增益”调节控制箱内部放大器的放大倍数,有1~7档。

“采集次数”调节每个测量点测量取平均的次数,次数越多,由于平均效果,曲线受外界不确定因素干扰越小,曲线越平滑,但测量所需的时间越长。

最上一排操作按键大多与一般计算机操作按键功能相同,只有:

在“工作”下有“单程扫描”、“定点扫描”、“波长检索”和“重新初始化”等操控键。

“单程扫描”:是用得最多的功能,点此按钮,光谱仪就会按设定的参数扫出谱线分布。在光谱图的上面有一排操作按钮中“单程”也可实现该功能。

“定点扫描”:点此按钮,光谱仪可在给定单一波长下扫出时间-强度谱,在调节光谱灯位置时,该功能十分有用。在光谱图的上面有一排操作按钮中“定点”也可实现该功能。

“波长检索”:可使光谱仪到达某一特定的波长位置。

“重新初始化”:使系统重新检查光谱仪波长“零点”位置,并使光谱仪到达测量200nm的波长位置。该功能在每次打开系统时,计算机就会提醒使用一次。

在“读取数据”下,有“寻峰”和“波长修正”等操控键。

“寻峰”:可求得谱线上的峰值位置,使用该功能时,需在寻峰窗口中选择要寻的是“峰”,还是“谷”,“最小峰高”是多少等。用谱线图下方工具和也可实现同样的功能。

“波长修正”:对标准光谱灯进行测量后,“寻峰”如发现得到的谱线与标准光谱的位置不相符合,就可启动该功能,按提示进行波长修正。

【实验内容】

1.用光栅光谱仪钠(汞)光谱灯的光谱,对光谱仪进行波长校准。

2.分别对热辐射源、发光二极管、光谱灯进行光谱测量。

3.测量氢原子发射谱,找出巴尔末线系的谱线,验证玻尔轨道理论。

4.*测氢-氘谱,通过波长差求出质子与电子的比值。

【实验步骤】

1.光谱仪波长修正

1.1 认真阅读光谱仪介绍部分或阅读光谱仪说明书,弄清光谱仪扫描、波长修正和定点扫描等功能的应用。

1.2 打开计算机,开光谱仪电源开关。打开钠(汞)灯。

1.3 用鼠标点击运行光谱仪控制软件,选择光电倍增管,耐心等待仪器初始化工作结束(3~5分钟)。

1.4 对钠光灯双线589.0nm、589.6nm(或汞灯546.1nm线),在“能量”模式下,用“单程扫描”得到该标准谱线附近( 范围:±5nm,间隔:0.1nm)的强度分布;用“自动寻峰”找到谱线的峰值位置,如峰值位置与标准谱线波长不对,则用“波长修正”对光谱仪进行波长校正。

2.典型光源光谱测量

分别选择好合适的“扫描范围”和“间隔”,对热辐射源(白炽灯)、发光二极管、汞灯546.1nm线(或氢灯656.28nm线)进行光谱测量,求出光谱的半线宽。画出该谱线强度分布简图。并求出相干长度。在测量时要注意调节光源的位置和光电倍增管电压或信号“增益”以保证“能量”信号有足够大的数值(强度>100)。

3.氢光谱测量

3.1 通过计算求出巴尔末线系的光谱范围,确定谱线出现的位置。[见(4)式(n=3时,

=656.28nm)]

3.2 换氢灯初步扫出氢原子光谱(注意选择光电倍增管电压)。

3.3 用“自动寻峰“找到=656.28nm的谱线位置,进行“定点扫描”(选择扫描时间

>1000s),即在=656.28nm谱线峰值位置,看光谱强度随时间的变化,在“定点扫描”状态下,移动氢光谱灯的位置,使信号达到最大,并选择好适当的光电倍增管电压和信号放大倍数,保证信号足够大,并且不超出显示范围(<1000),谱线能够最佳的信噪比。

3.4 根据巴尔末线系的范围,扫描出整个谱线系(参考范围:370~660nm,间隔:0.1nm)。

3.5 找出巴尔末线系的谱线,用最小二乘法求得氢原子的里德伯常数,求与公认值的百分差,验证波尔原子轨道理论。并画出谱线分布简图(谱线位置-强度)。

3.6找出合适的光谱灯位置,分开氢氘谱线,扫描出谱线(或用CCD测量)。

【数据处理】

1.汞灯光谱测量

汞灯光谱理论值:404.7nm,435.8nm,546.1nm,577.0nm,579.1nm

修正波长后的汞灯光谱测量值:404.9nm,436.10nm,546.10nm,577.0nm,579.1nm 2.氢氘灯光谱测量

221112R n λ?=- ??

? 3. 同位素位移

谱线名称 n 实验波长 λ实(nm) 理论波长 λ理(nm) 实验里德伯常数R 实 理论里德伯常数R 理 相对误差 H α 3 656.24 656.28 0.0109716 0.0109709 0.00634% H β 4 486.22 486.13 0.0109690 0.0109710 0.0185% H γ 5 434.28 434.05 0.0109650 0.0109709 0.0533%

理论波长(nm)实验波长

(nm)

理论

λ

?(nm)

实验

λ

?(nm)

谱线

(完整版)紫外分光光度计的使用方法

UV2600型紫外分光光度计操作规程 一、开机 1.打开仪器电源。 2.打开电脑,点击UV Analyst 进入光谱分析软件。 3.软件将自动搜索仪器端口,点击“联机”,软件与仪器联机成功。 二、选择测试模式 根据实验需求选择测试模式。仪器提供的测试模式有“波长扫描”“时间扫描”“定点测量”“定量测量”“核酸测量”和“蛋白质测量” 【波长扫描】主要用以检测样品对一定范围波长光的吸收情况,以便对样品进行定性测量。 1.点击左侧主功能栏中的“波长扫描”即可进入波长扫描界面。 2. 根据实验要求,在“设置”设定检测参数。 3. 在样品室内参比及检测光路同时放入装有空白溶液的比色皿。 4. 点击“基线测量”以扣除空白的背景吸收。 5. 将检测光路中的空白溶液换成待测样品。 6. 点击“扫描”。以完成样品波长扫描检测。 7. 点击“保存”并选择保存路径即可保存谱图。 注意:在“基线测量”中所选择的基线必须与参数设置中基线一致! 【时间扫描】是检测样品在特定波长范围内吸光度(或透过率)随时间的推移而发生变化情况。主要用以检测样品的稳定性或进行化学动力学研究。 1. 点击左侧主功能栏中的“定量测量”即可进入定量测量界面。 2. 根据实验要求,在“设置”设定检测参数。 3 在样品室内参比及检测光路同时放入装有空白溶液的比色皿。 4. 点击“基线测量”以后扣除样品空白的背景吸收。 5. 将检测光路中的空白溶液换成待测样品。 6. 点击“扫描”。以完成样品波长扫描检测。 7. 点击“保存”并选择保存路径即可保存谱图。 【定点测量】是检测样品在特定波长中的吸光度(或透过率)。 1. 点击左侧主功能栏中的“定量测量”即可进入定量测量界面。 2. 根据实验要求,在“设置”设定检测参数。 3. 在样品室内参比及检测光路同时放入装有空白溶液的比色皿。 4. 点击“自动校零”,以扣除该波长中空白溶液的背景吸收。 5. 将检测光路中的空白溶液换成待测样品。 6. 点击“测量”,以完成样品的吸光度(或透过率)的测量。 7. 点击“保存”并选择保存路径即可保存测量结果。 【定量测量】可通过检测标准样品或输入特定的系数建立标准曲线后测量样品的浓度值。

分光光度计基本原理

分光光度计基本原理 分光光度计主要用于反射和透射测量。 分三种光源:S偏振光、P偏振光和自然光。 现有设备7台(2台日立U4100、1台JACSO-V650、1台JACSO-V570、2台KT1100、1台瞬间7700)主要由是由分光光度计和电脑组成,由电脑程序驱动。 1 基本部件 光源: 用于提供足够强度和稳定的连续光谱。分光光度计中常用的光源有热辐射光源和气体放电光源两类。 热辐射光源用于可见光区,如钨丝灯和卤钨灯;气体放电光源用于紫外光区,如氢灯和氘灯。钨灯和碘钨灯可使用的范围在340 -- 2500 nm。氢灯和氘灯。它们可在180 -- 375 nm范围内产生连续光源。 紫外—可见分光光度计通常都配有可见和紫外两种光源。 单色器:是从连续光谱中获得所需单色光的装置。 (1)入射狭缝 (2)准直镜(透镜或凹面反射镜),它使入射光束变为平行光束。 (3)色散元件,棱镜或光栅,它使不同波长的入射光色散开来。 (4)聚焦透镜或聚焦凹面反射镜聚焦,它使不同波长的光聚焦在焦面的不同位置。 (5)出射狭缝。 积分球:它主要用途是测定光源发出的总光通量。它的制造:首先在球内壁上涂一层腻子,作为底层;然后喷点白漆,作为中间层;最后喷一层白涂料(硫酸钡或氧化镁)作为表层。 检测器:检测器的作用是检测光信号。常用的检测器有光电管和光电倍增管。电脑,就是微处理机。一方面可对分光光度计进行操作控制,另一方面可进行数据处理。 2、先用3台光度计的特点 U4100的 V650能测位相

3、日常测量 改参数 1.光源要求(.自然光) 2、扫描速度 3、狭缝 基本的步骤 设备测量种类 U4100测量:合色棱镜(成品、PL、2P)等 V650:单层,小DVD,带位相的零件,AR的反射测量等 4.测量的原理,影响准确性的因素 单光路分光光度计V650 双光路分光光度计 U4100 它的优点:光电传感器就可以交替探测到经过样品的探测光束的强度与参考光束的光强度,然后将两束光强信号进行相除,就可以得到样品的透过率。它可以降低光源稳定性对光谱测试精度的影响。 测量的原则:入射光轴重合,出射光轴重合,难在后着。 商用的光谱仪都有很好的性能,但是如果操作测试不当,就会获得错误的光谱测试结果。主要影响准确性的因素: 透射因素: 1、测量样品口径的影响 在测量中应保证仪器的测量光束全部穿过样品。 1)、在样品室的测量光路和参考光路中同时添加小孔光阑。 2)、只在样品池添加小孔光阑。

紫外可见分光光度计的测量应用

实验3 紫外-可见分光光度计的测量应用一、实验目的 1.了解紫外-可见分光光度计的结构、工作原理及应用。2.了解关于物质的吸收光谱的基本定律。 3.初步学会应用紫外-可见分光光度计测量物质(各种透明晶体和溶液)的吸收光谱或透过谱(如光子晶体的透过谱)。 4.了解应用紫外-可见分光光度计测量溶液浓度的方法。 二、光的吸收定律与物质的光谱 紫外光是波长范围在200一400nrn的电磁波,可见光是波长在400一750nrn范围电磁波。当光穿过媒介传播时,媒介中的物质分子和原子就会与光波产生相互作用,使光的能量发生损耗,这就是所谓的光的吸收现象。不同的物质可能与不同波长的光波发生较强的相互作用,这就出现所谓的选择性吸收现象。例如,红色玻璃对红光的吸收比较小,而对其它波长的光波的吸收较强,从而使得该玻璃看起来是红色的。 如果固定输入光的强度,从200nrn到750nrn连续改变入射光的频率,将每个波长的光穿过某一物质后的输出光强记录下来,则以入射光频率为横坐标、以出射光强度

为纵坐标而画出的曲线称为该物质的紫外-可见吸收光谱。 朗伯(Lambert)发现,光在媒质中的光强随其在媒质中的传播距离而发生指数衰减:即 I=I0 exp(-kx)(1) 其中I0为入射处的光强,I为出射处的光强,X为光在媒质中的传播距离,k为衰减系数。这就是媒质中的光的吸收的基本定律,通常称这个规律为朗伯定律。 当吸收物质为某种物质的溶液时,设溶剂是不吸收光的,则该溶液对光的吸收率应与光波通过的路程上单位长度内吸收光的分子数,也就是与浓度C成正比,即k=α'C (2) 引入透过率T= I/ I0,吸光度A= —log T ,令α=α'/2.303,则由式(1)有: A= α C x (3)通常称公式(3)叫比尔定律。由此可知,先配出标准浓度(C。)的所研究物质的溶液,测出其吸光度(A。),则任意浓度的所研究物质的溶液的浓度值可以通过测量其吸光度而求出。由式(3)有:A。=αC。x;A= αC x;从而有A。/A=C。/C,即有 C = C 。A/A。(4)

分光光度计使用说明

722型分光光度计的使用方法 一、测量原理 分光光度法测量的理论依据是伯郎—比耳定律:当容液中的物质在光的照射和激发下,产生了对光吸收的效应。但物质对光的吸收是有选择性的,各种不同的物质都有其各自的吸收光谱。所以根据定律当一束单色光通过一定浓度范围的稀有色溶液时,溶液对光的吸收程度A 与溶液的浓度c(g/l)或液层厚度b(cm)成正比。其定律表达式A=abc (a是比例系数)。当c的单位为mol/l时,比例系数用ε表示,则A=εbc称为摩尔吸光系数。其单位为L·mol-1·cm-1它是有色物质在一定波长下的特征常数。 T(透光率)=I/I0 A(吸光度)= -lgT 或A=K·C·L(比色皿的厚度) 测定时,入射光I, 吸光系数和溶液的光径长度不变时,透过光是根据溶液的浓度而变化的,即“K”为常数。比色皿厚度一定,“L”、“I0”也一定。只要测出A即可算出“C”。 《分光光度计的表头上,一行是透光率,一行是吸光度。》 二、722型分光光度计的使用 1、将灵敏度旋钮调至“1”档(信号放大倍率最小)。 2、开启电源,指示灯亮,选择开关置于“T”,波长调至到测试用波长。仪器预热20分钟。 3、打开试样室(光门自动关闭),调节透光率零点旋钮,使数字显示

为000.0。(调节100%T旋钮),盖上试样室盖,将比色皿 架处于蒸馏水校正位置,使光电管受光,调节透光率100%旋钮使数字显示100.0。如显示不到100.0,则可适当增加微电流放大的倍数。(增加灵敏度 的档数同时应重复(3)调节仪器透光率的“0”位)但尽量使倍率置于低档使用。这样仪器会有更高的稳定性。 4、预热后,按(3)连续几次调整透光率的“0”位和“100%”的位置,待稳定后仪器可进行测定工作。 三、吸光度“A”的测量 将选择开关置于A 。调节吸光度调零旋钮,使得数字显示为零,然后将被测样品移入光路,显示值即为被测样品的吸光度值。 四、浓度c的测量 将选择开关由“A”旋至“C”将已标定浓度的样品放入光路,调节浓度旋钮,使得数字显示为标定值,将被测样品放入光路即可读出被测样品的浓度值。 注意事项: 1、测量完毕,速将暗盒盖打开,关闭电源开关,将灵敏度旋钮调至最低档,取出比色皿,将装有硅胶的干燥剂袋放入暗盒内,关上盖子,将比色皿中的溶液倒入烧杯中,用蒸馏水洗净后放回比色皿盒内。 2、每台仪器所配套的比色皿不可与其它仪器上的表面皿单个调换。

722型分光光度计检测

分光光度计性能检测 【实验原理】 1、波长检测:⑴可见光区域的黄光波段比较狭窄,适用于光度计波长的粗测;⑵镨钕滤光片在529nm±1~2nm处有较好的吸收峰,适用于光度计波长的细测。 2、杂光检测:镨钕滤光片在585nm处吸光度A最大,透光率T最小,所产生的透光与杂光成正比,因此可用其透光率表示杂光的大小。 3、比色皿配对:一套比色皿之间的材质、厚薄、色泽、空白吸收等应该一致,误差小于0.5%才能配套使用。 【操作步骤】 一、操作 1、波长检测 (1)粗测:调仪器波长旋纽至580nm处,打开遮光板,在比色槽中光路经过处放一白纸条,观察是否有均匀的黄光。 (2)细测:调波长至529nm处,打开遮光板,调0%T,盖上遮光板以空气调100%T,将镨钕滤光片插入光路,测出A值。再在529nm附近每隔1~2nm,各测其A值。 2、杂光检测 (1)调波长为585nm,盖上遮光板,用黑纸挡住比色皿光路,调0%T。 (2)盖上遮光板,用空气作空白调100%T。 (3)插入镨钕滤光片,盖上遮光板,测出585nm时的T%,即为杂光水平 3、比色皿配套 (1)选取几支大小、材质、色泽相同的比色皿,洗净,装入占比色皿体积2/3的蒸馏水(D.W.),擦干,放入比色槽。 (2)在585nm处,调第1支比色皿透光度为100%T,依次测出其他几支比色皿的T%。 不合格的需反复剔除极端值,或重新配对,直至有2个以上的比色皿合格。 【参考范围】 1、波长的检测:在529nm ± 1nm 处有最大吸收值为合格。 2、杂光的检测:T% ≤ 5%为合格。 3、比色皿配套:Tmax % –Tmin% ≤ 0. 5% 为合格比色皿配套。 【注意事项】 1、722型分光光度计的使用方法:选定检测波长,置调节模式为透光率T,将某一盛装参比介质的空白比色皿置于光路,打开遮光板,调0%T,盖上遮光板调100%T,再将盛装待测液体的比色皿置于光路,测出T值,或置调节模式为吸光度A,即可测出A值。注意每次测定均需重新调0%T、100%T。 2、在杂光检测中,用于调0%T的黑纸片应完好无孔洞,否则会导致假合格现象。 3、使用比色皿时,其盛装液体不能超过总体积的2/3,也不宜少于1/2,且在检测前必须用擦镜纸将比色皿外的液体擦拭干净

GPM分布光度计测试报告解读

培训资料 配光曲线报告的解读 ——分布光度计测试 杭州创惠仪器有限公司 2017.7.26

1. 保护角:灯具结构对光线的约束角,又叫遮光角。 2. 光通量:光源单位时间内发出的光量的总和,单位LM(流明) 说明:人眼对蓝绿光的敏感度最大,因此,波长为555nm 的黄蓝光的单色光源,其辐射功率达到1W 时,其所发出光的光通量就为680 lm 3. 光强(发光强度):光源在特定方向单位立体角内的光通量,单位cd (坎德拉) 4. CIE 分类:CIE 是国际照明委员会 灯具按光通量在其上下空间的分布比例,分为五类,直接型、半直接型、间接型 半间接型、全漫射型。 90%以上的光通量照射下方空间——直接型 60%以上90%以下光通量照射下方空间——半直接型 间接型与半间接型与以上相反。 漫射型:灯具的上下光通量几乎相同 5. S/MH 距高比: 注意:此处烦的“光束角”是广义不精确的(光束角定义见后续阐述) S/M(C0/180): C0-C180一边的距高比 S/M(C90/270): C90-C270一边的距高比 一个衡量左右,一个衡量前后。 俯视图

n UP,DN(C0-180): C0-C180一边的上下光通比 n UP,DN(C180-360): C180-C360一边的上下光通比 6.光束角: 一般意义上的光束角,指光照边缘与光中心线的夹角。 然而,如下情况,光照边缘很难确定,因此光束角需要更科学的定义。 CIE (国际照明委员会,欧洲)规定:光强达到法线光强的50%处,两边形成的夹角 IES (国际照明学会,美国)规定:光强达到法线光强的10%处,两边形成的夹角 以上标准中规定的定义,是各自为便的人为定义。 7.关于灯具配光曲线: ① c-y/②B-?两种测试支架 C 平面: y 平面:每个 C 角度上的平面, 俯 视图

分光光度计测量误差来源浅析

分光光度计测量误差来源浅析 1仪器本身性能带来的误差 1.1复色光对比耳定律的偏离 比耳定律成立的前提条件是人射光是单色光,但是精度再高的仪器,即使是双单色器的分光光度计,也只能获得近乎单色的光,无法获得纯单色光,它仍然含有狭窄光通带,具有复色光的性质。而复色光会导致比耳定律的正或负偏离。固定狭缝的紫外分光光度计光谱带宽一般为1nm或2nm,可调狭缝的可以做到0.Inm;可见分光光度计带宽6nm、snm,甚至十几纳米。光谱带宽应该是越小越好,但是随着光谱分辨率的提高,仪器的灵敏度降低,所以选择仪器时要综合考虑各种条件的影响。当溶液浓度较小且单色光较纯时,可近似认为符合比耳定律。 1.2杂散光的影响 杂散光是指进人检测器的处于待测波长光谱带宽范围外的其他波长组分,它是光谱测量中误差的主要来源。产生原因有:分光光度

计的色散元件、反射镜、透镜及单色器内壁灰尘等。在分光光度计工作波段边缘波长处,由于单色器透光率、光源辐射强度、检测器灵敏度都较低,杂散光的影响更为显著。杂散光限制仪器的分析上限可引起严重的测量误差,实际工作中,在定量分析时,一般在吸收峰或其附近处测量样品吸光度,如果在分析波长处含有杂散光,这时样品的透光率较小,而杂散光大部分透过,使测量吸光度低于真实吸光度。 1.3仪器噪声对测t的影响 仪器噪声也是仪器的一个重要指标,它表征仪器做稀溶液的能力。是叠加在待测量的分析信号中的不需要的信号,扫描100%T和0%T线,可观察到分光光度计的绝对噪声水平,如果仪器噪声较大,会掩盖较小的测量信号,一般用噪音的二倍来表示仪器的灵敏度。 1.4波长和吸光度准确度 样品的每一个值都是在一定的波长下测得的,如果波长误差很大,测出的值肯定不准。吸光度准确度也是用户对仪器的直接要求,更应引起足够的重视。国家计量检定规程规定双光束紫外可见分光光度计透射比准确度为A级士0.6%,B级土1.0%。

分光光度计的使用方法

分光光度计的使用方法 主体内容: 1.使用仪器前,使用者应该首先了解本仪器的结构和工作原理。以及各个操作旋钮之功能。在未接通电源前,应该对仪器的安全性进行检查,电源线接线应牢固。通地要良好,各个调节旋钮的起始位置应该正确,然后再接通电源开关。仪器在使用前先检查一下,放大器暗盒的硅胶干燥筒(在仪器的左侧),如受潮变色,应更换干燥的蓝色硅胶或者倒出原硅胶,烘干后再用。 2.将灵敏度旋钮调置“1”档(放大倍率最小)。 3.开启电源,指示灯亮,选择开关置于“T”,波长调至测试用波长。仪器预热20分钟。 4.打开试样室盖(光门自动关闭),调节“0”旋钮,使数字显示为“00.0”,盖上试样室盖,将比色皿架置与蒸馏水校正位置,使光电管受光,调节透过率“100%”旋钮,使数字显示为“100.0”。 5.如果显示不到“100.0”,则可适当增加微电流放大器的倍率档数,但尽可能置低倍率档使用,这样仪器将有更高的稳定性。但改变倍率后必须按(4)重新校正“0”和“100%”。 6.预热后,按(4)连续几次调整“0”和“100%”,仪器即可进行测定工作。 7.吸光度A的测量按(4)调整仪器的“00.0”和“100%”,将选择开关置于“A”,调节吸光度调零旋钮,使得数字显示为“.000”,然后将被测样品移入光路,显示值即为被测样品的吸光度值。 8.浓度C的测量:选择开关由“A”旋置“C”,将已标定浓度的样品放入光路,调节浓度旋钮,使得数字显示为标定值,将被测样品放入光路,即可读出被测样品的浓度值。 9.如果大幅度改变测试波长时,在调整“0”和“100%”后稍等片刻,(因光能量变化急剧,光电管受光后响应缓慢,需一段光响应平衡时间),当稳定后,重新调整“0”和“100%”即可工作。 10.每台仪器所配套的比色皿,不能与其它仪器上的比色皿单个调换。 11.本仪器数字表后盖,有信号输出0~1000MV,插座1脚为正,2脚为负接地线。 吸收池(即比色杯)使用注意事项: ①要彻底清洗,尤其是盛过蛋白质等溶液,干后形成一层膜,不易洗去,通常杯子不用时可放在1%洗洁净液中浸泡,去污效果好,使用时用水冲洗干净,要求杯壁不挂水珠,还可以用绸布丝线或软塑料制作一个小刷子清洗杯子。

分布光度计介绍—— 测量速度

分布光度计介绍 ——测量速度 深圳市迈昂科技有限公司陈云明 对于测量速度,LSI公司的产品最快,通常其测试速度是其他公司产品的5-25倍。所以其工作效率要大大高于同类产品,通过了解,LSI公司采取了三个措施来提高测试速度: 1、灯具固定在球心位置,镜子转动,灯具的温度易于控制,所以可提高镜子的转速。由于摆臂和反射镜的转动方向是在反射镜的侧面,空气阻挡面小,而且反射镜的倾斜方向并未对向灯具,所以其转动产生的气流不会吹向灯具。其他公司产品由于有滑环的存在,转动过快会使信号异常不稳定,所以不能快速转动。 2、LSI公司产品采用了三运放电路来提高采样速率。即LSI在光度探头的后面有一个三运放电路,其增益分别被设置为10倍,100倍,1000倍。在测量前,系统会对三个运放都进行一次暗电流测量,并记录下每一个档位的暗电流值。灯具点亮后,反射镜会旋转一周,来确定转镜在不同角度时运放的增益等级。当一束光照射到探测器后,探测器输出信号同时进入三个运放。系统对获得的三个信号进行判断,选择没有溢出但最接近满量程的一个信号为有效信号。举一个例子,假如一束光照射探测器,三个运放输出值分别为0.09,0.9,1。则显然系统会选择0.9的值为有效读数。因为0.09的读数相对于满量程1而言太小;而读数如果为1则说明已经溢出,该读数应舍弃。所以只能选择0.9的读数为合适读数。这样做的一个好处是节省非常多的时间。L品牌为一个单一运放,假设灯具向下安装,当镜子正对灯具时,光线很强,系统需调低运放增益。调低增益后,需要进行暗电流校正;当镜子转向背对灯具一面时,光线很弱,则又需要提高运放增益;由于改变了增益,则还必须再进行一次暗电流校正。所以特别耽误时间,严重影响测量速度的提高。

紫外可见分光光度计测量ZnO的光学禁带宽度

紫外可见分光光度计测量ZnO的光学禁带宽度 【实验目的】 1)了解紫外课件分光光度计的结构和测试原理; 2)理解半导体材料对入射光子的吸收特性; 3)掌握测量半导体材料的光学禁带宽度的方法。 【实验内容】 1)测试半导体光电探测材料的透射光谱; 2)分析半导体材料的光学禁带宽度。 【实验器材】 紫外-可见光分光光度计一台(岛津uv2600);ZnO薄膜;空白基片。 【实验原理】 1.紫外可见分光光度计 当物体受到入射光波照射时,光子会和物体发生相互作用。由于组成物体的分子和分子间的结构不同,使入射光一部分被物体吸收,一部分被物体反射,还有一部分穿透物体而继续传播,即透射。 为了表示入射光透过材料的程度,通常用入射光通量与透射光通量之比来表征物体的透光性质,称为光透射率。常用的紫外可见分光光度计能精确测量材料的透射率,测试方法具有简单、操作方便、精度高等突出优点,是研究半导体能带结构及其它性质的最基本、最普遍的光学方法之一。 紫外可见分光光度计通常由五部分组成: 1)光源:通常采用钨灯或碘钨灯产生340nm到2500nm的光,氘灯产生160-375nm的紫外光。 2)单色器:单色器将光源辐射的复色光分解成用于测试的单色光。通常包括入射狭缝、准光器、色散元件、聚焦元件和出射狭缝等组成。色散元件可以是棱镜,也可以是光栅。光栅具有分辨本领高等优点被广泛使用。 3)吸收池:用于盛放分析试样,有紫外、玻璃和塑料几类。测试材料散射时可以使用积分球附件;测试固体样品的透射率等可以使用固体样品支架附件。 4)检测器:检测器的功能是检测信号、测量透射光的器件。常用的有硅光电池和光电倍增管等。光电倍增管的灵敏度比一般的硅光电池高约200倍。 5)数据系统:多采用软件对信号放大和采集,并对保存和处理数据等。2. 禁带宽度

在线吸光光度计的过程色度测量分析

在线吸光光度计的过程色度测量分析 李宝华 摘要:光度计是用于测量光强度的仪器仪表,对于过程分析技术和工业应用,表现在测量散射光强度、吸光度、荧光,分别进行液体或气体的浊度分析、浓度和组分界面或色度分析、水中油分析。吸光光度法是使用光度计测定的方法,是通过测量特征光束穿透样品后的光强度衰减来实现的。液体或气体中的溶解物或固体物质对所通过的光束分别具有特征吸收和散射的特性,掌握了待测样品的组分及其特征吸收波长,就能测量出给定的参数,如色度、浓度、浊度。SIGRIST 的ColorPlus 在线吸光光度计可应用于过程分析的紫外吸光测量(DOC )、黑曾色度或EBC 色度测量、浓度测量。 关键词:光度计;吸光光度法;ColorPlus ;过程色度测量分析 引言 光度计(Photometer )是用于测量光强度的仪器仪表,对于过程分析技术(Process Analytical Technology ,简称PA T )和工业应用,表现在测量散射光强度(Scattered light intensity )、吸光度(Absorption )、荧光(Fluorescence )分别进行液体或气体的浊度分析、浓度和组分界面或色度分析、水中油分析。这几种光度测量方法简单易行,在现代过程分析中,使用实验室光度计进行离线分析(off-line )已经是非常普遍,应用在线光度计的数量也快速增长,涵盖近线分析(at-line )、线上分析(on-line )和线内分析(in-line ),以及建立信息综合和系统集成。 吸光光度法是使用光度计测定的方法,是通过测量特征光束穿透样品后的光强度衰减来实现的。液体或气体中的溶解物或固体物质对所通过的光束分别具有特征吸收和散射的特性,掌握了待测样品的组分及其特征吸收波长,就能测量出给定的参数,如色度、浓度、浊度。 吸光光度法测量原理 吸光光度法基于物质对光的选择性吸收,依据光的吸收定律(朗伯-比耳定律 Lambert-Beer Law ),利用物质对光吸收的方法进行分析。1729年波格(Bouguer )建立了吸光度与吸收介质厚度之间的关系;1760年朗伯(Lambert )用更准确的数学方法说明光的吸收与吸收层厚度成正比;1852年比耳(Beer )说明光的吸收与溶液浓度成正比;朗伯-比耳定律则是同时考虑吸收层的厚度和溶液的浓度对单色光吸收率的影响,当一束单色光穿过有色透明的溶液时,吸光度与溶液的厚度和溶液的浓度成正比。 不同结构的物质吸收光的波长不同,呈现不同的颜色,是由于该物质吸收了可见光中的部分颜色,留 下了互补色,其吸光度与浓度有关,与光的波长有关。物质的颜色及对光有选择性吸收,因此色度可以通图1 吸光光度法

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