贴片电容测试方法 改
(完整word版)贴片电容检验标准
(完整word版)贴片电容检验标准文件名称文件编号GTB-Q1-10深圳广泰博科技文件版本A1有限企业贴片电容查验标准文件页码 1 页1. 抽样标准正常状况下，依据 GB2828 － 2003， MIL-STD-105D II级抽取样品非正常状况下，变换规则以下：正常加严：在正常查验状态下，假如连续 5 批中有 2 批被拒绝，则由正常查验转为加严查验。
加严正常：在加严查验状态下，假如连续 5 批被允收，则由加严查验转为正常查验。
停止查验：在加严查验状态下，假如退货数积累到 3 批或许连续 2 批被拒收将停止查验，直至举措已被有效履行方恢复查验，查验从正常查验开始。
2.接收标准（AQL ）（客户有要求是按客户要求履行）致命缺点（ CR）： 0严重缺点（ MA ）：0.25稍微缺点（ MI ）：0.653.物料能否接收和退货，及判断标准，参照以下缺点分类4.IQC 查验员接触电容时，一定配戴静电手环查验项目包装外观检验尺寸规格电器性能备注查验内容及方法参照文件不良判断分类及有关依照查验工具轻缺点重缺点致命1：包装无标示，外标示与实物不一致目视查验☆2：包装箱损坏及严重脏圬，包装不良目视查验☆3：不一样型号规格混装目视查验☆1：料盘无损坏，变形，料带无暴带现象目视查验☆2：电容表面洁净无脏污，表面颜色一致目检，比较样板☆3：无变形，损坏，二端焊接点无氧化目视查验放大镜☆4：电容表面无划伤，断裂，表面平坦目视查验☆5：无毛边，缩水，发白目检查验放大镜☆1：电容的长，宽，厚，须符号规格要求参照认可书参数 /2：尺寸封装切合规格书要求原始样板游标卡尺☆1：接通电源按下 LCR电桥 POWER键，选择电容测参照认可书 / 样板LCR电桥试档。
2：将料盘中拿出电容搁置台面，用电桥的/ 料盘标签参数万用表测试夹接触电容二端，读出电桥显示参数电容测试仪1：电容容值参数一定与料盘，规格书上符合。
参照认可书 / 原始LCR电桥☆2：容值±偏差在规格书范围以内样板☆电容的基本单位用法拉（ F）表示，其余单位还有：毫法（ MF），微法（ UF），纳法（ nF），皮法（ PF）1 法拉 (F)= 1000 毫法 (mF) ＝1000000 微法 ( μ F)1 微法 ( μ F)= 1000纳法 (nF)= 1000000 皮法 (pF)制定：审查：同意：。
22uf贴片陶瓷电容的测试条件
22uf贴片陶瓷电容的测试条件1. 介绍在电子产品生产过程中，贴片电容作为电子元件中的重要部分，也需要进行严格的测试，以确保其性能和可靠性。
而22uf贴片陶瓷电容作为一种常见的电容型号，其测试条件更是需要谨慎确定，以确保测试结果的准确性和可靠性。
2. 测试条件的重要性贴片陶瓷电容作为电子产品中常用的一种被动元件，其性能直接影响到整个电路的稳定性和可靠性。
确定合适的测试条件对于保证贴片陶瓷电容的质量至关重要。
通过正确的测试条件，可以有效地检测出电容的性能特征，从而保证电子产品的品质。
3. 测试条件的确定在确定22uf贴片陶瓷电容的测试条件时，需要考虑以下几个方面：3.1 温度温度是影响电容性能的重要因素之一，过高或过低的温度都会对电容的性能产生影响。
在测试22uf贴片陶瓷电容时，需要确定合适的温度范围以及温度变化的测试条件。
3.2 电压22uf贴片陶瓷电容在电路中通常承受不同的电压，因此需要在测试中确定合适的电压范围，并进行相应的电压稳态和脉冲电压的测试。
3.3 频率对于陶瓷电容来说，频率也是一个重要的测试条件，因为在实际的电路中，电容往往会受到不同频率的信号作用，因此需要确定合适的频率范围进行测试。
3.4 电容值测量22uf贴片陶瓷电容的电容值是其重要的性能特征之一，因此在测试中需要确定合适的电容值测量条件，以保证测试结果的准确性。
4. 测试方法在确定了测试条件后，还需要选取合适的测试方法，以保证测试的准确性和可靠性。
常见的测试方法包括：4.1 静态测试静态测试是指在固定的测试条件下对电容进行稳定状态下的测试，如电容值、漏电流等参数的测量。
4.2 动态测试动态测试是指对电容在不同频率、温度和电压条件下进行测试，以模拟实际工作环境中的电容性能。
4.3 老化测试为了验证电容的可靠性，可以进行老化测试，即在一定条件下对电容进行长时间的工作，以检测其性能是否稳定。
5. 结论22uf贴片陶瓷电容作为电子产品中常用的一种被动元件，其测试条件的确定对于保证产品质量和可靠性至关重要。
贴片电容贴板后容值偏低的原因
贴片电容贴板后容值偏低的原因嘿，朋友们，有没有遇到过这样的情况？在做电路板的时候，原本精心选好的贴片电容，结果贴到板子上之后，测试一下发现，哎呀，容值不对啊，偏低了！你是不是一脸懵逼，心想这电容不是刚好选的吗？怎么偏低了呢？别急，咱们一个一个来捋清楚，别让这小小的电容把你搞得心烦意乱。
电容这玩意儿，虽然看起来小巧，但它的“脾气”可不小。
你选的电容本身就是根据一定的规格和标准来设计的，所以它的容值应该是非常稳定的。
可是为什么贴到电路板上就发生了变化呢？嗯，这就得看看贴片的过程和环境了。
你知道吗，电路板在生产过程中，贴片电容不仅要经过高温焊接，还有一些电路板本身的压力、温度变化等因素。
天知道这些环境的变化会不会影响它的性能。
不过也不必惊慌，很多时候就是这些环节出了问题。
有个原因不得不提，那就是焊接温度的问题。
听起来像个小事，但其实非常关键。
电容在经过焊接时，如果温度控制不当，可能会导致电容内部的结构发生变化。
温度过高，电容可能会出现过度的热膨胀，导致电容的介质材料受损，甚至引起电容量的下降。
这就像是你煮鸡蛋的时候火候掌握不好，鸡蛋表皮一裂，内部的蛋黄不稳定，怎么吃都不香。
所以说，这个温度控制，真的是一门艺术。
除了温度，电路板上可能还有焊接点或者板子本身不平整的情况。
你想啊，电容贴到不平的地方，不是对它“身体”不好吗？一旦接触不良，电流通过时就会出现不均匀的分布，电容的表现自然会打折扣。
焊接点的质量也不能忽视，假如焊锡没有铺得均匀，或者有虚焊的情况，电容的接触就会不稳定，导致电容量的异常。
你可以想象成是你把两个电线接触不紧密，那电流怎么流得顺畅？还有一个常常被忽略的原因，电容本身的质量问题。
说白了，就是你买的电容可能就存在一定的偏差。
你知道的，市场上每个生产厂家的电容质量都不一样，价格高的未必就没有问题，价格低的未必就一定差。
所以当你发现电容贴板后容值偏低时，可能是电容本身的质量没有达到标准。
电容的封装问题也很常见，贴片电容的外壳如果有瑕疵，或者内部的介质层分布不均，也可能导致最终容值测量不准确。
贴片电容耐压测试方法
贴片电容耐压测试方法贴片电容是一种常见的电子元件，广泛应用于各种电子设备中。
在生产过程中，对贴片电容的耐压测试非常重要，因为它能够确保贴片电容在使用过程中不会出现故障或损坏。
下面将介绍几种常用的贴片电容耐压测试方法。
1. 直流耐压测试直流耐压测试是最常用的一种测试方法。
它通过施加一定的直流电压来检测贴片电容是否能够承受所需的工作电压。
在进行直流耐压测试时，需要使用专门的直流高压发生器，并按照规定的参数和时间进行测试。
2. 交流耐压测试交流耐压测试也是一种常用的方法。
与直流耐压测试不同，它通过施加一定频率和幅值的交流电压来检测贴片电容是否能够承受所需的工作条件。
在进行交流耐压试验时，需要使用专门的交流高压发生器，并按照规定的参数和时间进行测试。
3. 脉冲耐压试验脉冲耐压试验是一种较新型、较复杂、较精密、较可靠的测试方法。
它通过施加一定幅值和频率的脉冲电压来检测贴片电容是否能够承受所需的工作条件。
在进行脉冲耐压试验时，需要使用专门的脉冲高压发生器，并按照规定的参数和时间进行测试。
4. 绝缘电阻测试绝缘电阻测试是一种简单而有效的方法，它可以检测贴片电容内部是否存在漏电现象。
在进行绝缘电阻测试时，需要使用专门的绝缘电阻测试仪，并按照规定的参数和时间进行测试。
总之，对于贴片电容耐压测试来说，选择合适的测试方法非常重要。
不同类型、不同规格、不同用途的贴片电容可能需要不同的测试方法。
因此，在进行耐压试验之前，应该仔细了解产品规格和要求，并选择合适的测试设备和参数来进行测试。
只有这样才能确保贴片电容在使用过程中能够正常工作并具有良好的可靠性。
如何检测贴片电容是否损坏？
要检测贴片电容是否损坏，可以采取以下方法：
1. 目视检查：首先，通过目视检查贴片电容的外观，查看是否存在明显的物理损坏，如破裂、焦糊、气泡、脱落等。
如果发现明显的损坏，可以初步判断电容可能已经损坏。
2. 使用测试仪器：使用万用表或测试仪器进行电容测试，可以帮助判断电容是否正常工作。
首先，将测试仪器设置为适当的测试模式（如电容测试模式），然后将测试引针连接到贴片电容的引脚上。
观察测试仪器的读数，如果读数稳定并接近电容额定值，那么电容通常是正常的。
如果读数迅速变化或接近零，那么电容可能已经损坏或老化。
3. 使用替代电容进行测试：如果以上方法无法确定贴片电容是否损坏，可以尝试使用一个已知工作的替代电容进行测试。
将替代电容连接到相同的电路位置，并观察电路的工作情况。
如果电路工作正常，那么可能推测原贴片电容已经损坏。
4. 专业检测：如果上述方法无法确切判断贴片电容是否损坏，可以将其送往专业的电子设备维修中心或实验室进行专业检测和评估。
他们将使用更高级的测试仪器和方法来检测电容的性能和状态。
请注意，以上方法仅供参考，如果你不确定自己的能力或经验，建议向专业人士寻求帮助，以确保安全和准确性。
另外，在操作电子元件时，请遵循相关的安全操作规范，避免损坏电子器件或受到电击等安全问题。
贴片电容耐压测试方法
贴片电容耐压测试方法1. 背景介绍贴片电容是一种常见的电子元件，广泛应用于电子产品中。
贴片电容耐压测试是对贴片电容产品进行质量检验的重要环节。
耐压测试能够验证贴片电容的绝缘性能，确保其在正常使用和恶劣环境下不会发生击穿。
2. 测试目的贴片电容耐压测试的目的是评估贴片电容在给定的电压下是否能够正常工作，以及是否存在绝缘击穿的风险。
3. 测试设备进行贴片电容耐压测试需要以下测试设备：•耐压测试仪：用于提供所需的测试电压，并测量贴片电容的绝缘电阻和漏电流。
•外接电源：用于为耐压测试仪提供电源。
•电压表：用于测量贴片电容的工作电压。
4. 测试步骤步骤一：准备工作•确保耐压测试仪和外接电源经过校准，并正常工作。
•检查贴片电容产品的标识和规格，确保选取适当的测试电压。
•清洁测试设备，确保无尘、无油污等干扰因素。
步骤二：测试准备•将贴片电容连接到耐压测试仪的测试夹具上，确保连接可靠。
•连接外接电源，保证耐压测试仪的电源供应稳定。
•将电压表连接到贴片电容的引脚上，用以测量工作电压。
步骤三：测试操作•打开耐压测试仪电源，确保仪器正常启动。
•设置测试电压，并确保电压稳定。
•根据产品规格要求，设定测试时间。
常见的测试时间为1分钟。
•开始进行耐压测试，并同时记录漏电流的数值。
•在测试过程中，注意观察贴片电容的外观是否正常，是否有异常放电、击穿等现象发生。
步骤四：测试结果判定•根据厂商提供的产品规格，对测试结果进行判定。
一般规定的漏电流上限为产品额定工作电流的百分之一。
•如果测试结果符合规格要求，贴片电容通过耐压测试。
•如果测试结果不符合规格要求，贴片电容未通过耐压测试。
步骤五：记录和报告•记录测试结果，包括贴片电容的标识、测试电压、漏电流值等。
•编写测试报告，详细描述测试环境、测试步骤、测试结果等信息。
•将测试报告保存，作为产品质量控制的一部分。
5. 测试注意事项•操作前，确保了解测试设备的使用方法，并严格按照说明书操作。
贴片电容测试方法和注意事项
电压处理 测试温度：40±2°C（＊） 相对湿度：90～95%RH 测试时间：500hr
电压处理 测试温度：最高使用温度±3°C 测试电压：W.V.=250V或更低 额定电压 × DC电压的200% W.V.=630V 额定电压 × DC电压的100% 测试时间：1000hr 单位: mm 热处理 10 20 弯曲度：1mm（＊） 移动速度：0.5mm/sec 测试期间使用一个 R=230 连接到样本两端的电容计。
焊盘
类型 贴片尺寸 焊盘尺寸
单位：mm
L 3.3 3.5 4.6 4.7 5.7 4.7
W 1.6 2.7 2.0 3.3 2.0 5.0
a 1.9~2.6 2.1~2.8 3.6 2.7~3.7 4.9~5.1 4.4~5.0
b 3.9~4.9 4.1~5.1 8.2 5.7~6.3 9.5~10.5 7.5~9.0
贴片长度（L）x 1.6x0.8 2.0x1.25 3.2x1.6 宽度（W）
b c 贴片 c
焊盘尺寸
a b c
0.6~0.7 0.6~0.7 0.8~0.9 1.0~1.2 1.1~1.3 1.5~1.7 0.6~0.8 0.8~1.1 1.0~1.4 1.8~2.5 2.3~3.2 3.5~5.0 0.6~0.8 1.0~1.2 2.2~2.4 2.0~2.4 2.6~3.4 3.6~4.6
① 建议的回流焊接条件（无铅）
温升1 空气预热 温升2 焊接 逐渐冷却
② 建议的回流焊接条件（无铅）
温升1 空气预热 温升2 焊接 逐渐冷却
䱊⫋⬉ᆍ఼
240～260℃ ⊿T ⊿T
230～250℃
超过1分钟
1~2分钟
5பைடு நூலகம்钟内
贴片电容测量方法
贴片电容测量方法贴片电容是一种常见的电子元器件，广泛应用于各种电路中，例如滤波、隔离、耦合、调谐等。
如何正确测量贴片电容的参数是电子工程师需要掌握的基本技能之一。
本文将介绍贴片电容测量的方法和技巧。
一、贴片电容的基本参数在测量贴片电容之前，我们需要了解贴片电容的基本参数，包括电容值、容差、工作电压和温度系数等。
1.电容值：指贴片电容的电容量大小，通常用单位法拉(F)表示。
2.容差：指贴片电容的电容值与标称值之间的允许误差范围，通常用百分比表示。
3.工作电压：指贴片电容能够承受的最大电压值，超过该值容易损坏。
4.温度系数：指贴片电容的电容值随温度变化的程度，通常用ppm/℃表示。
贴片电容的测量通常需要使用LCR表或万用表等测试仪器。
下面介绍几种常见的测量方法。
1.直流电阻测量法直流电阻测量法是一种简单易行的测量方法，只需要使用万用表的电阻档位即可。
将贴片电容两端接在万用表的电阻档位上，读取电阻值，然后根据公式C=1/R计算出电容值。
需要注意的是，这种方法只适用于电容值较小且容差较小的贴片电容。
2.串联谐振法串联谐振法是一种常用的测量方法，主要适用于电容值较大的贴片电容。
将贴片电容串联在一个电路中，通过调节频率使得电路的谐振现象发生，此时电路的阻抗最小。
测量此时电路的谐振频率和电路中的电感值，即可根据公式C=1/(2πfL)计算出电容值。
3.并联谐振法并联谐振法也是一种常用的测量方法，主要适用于电容值较小的贴片电容。
将贴片电容并联在一个电路中，通过调节频率使得电路的谐振现象发生，此时电路的阻抗最大。
测量此时电路的谐振频率和电路中的电感值，即可根据公式C=1/(2πfL)计算出电容值。
三、贴片电容测量技巧1.选择合适的测量方法，根据电容的参数和实际情况选择合适的测量方法，以获得更准确的测量结果。
2.保持测试仪器的精度，使用高精度的测试仪器，如LCR表，以获得更准确的测量结果。
3.注意测试环境的影响，避免电磁干扰和温度变化等因素对测量结果的影响。
测试贴片电容、电阻好坏的方法
如今，贴片元器件已经被广大市场所应用，无论是在计算机、移动通信设备、医疗电子产品等高科技产品和液晶彩电、PDP彩电、液晶彩显、摄录一体机、手机、clarkson空气净化器等众多电子电器设备中得到了广泛地应用。
但是现在的不少工程对于这些电子元件了解的都不是太透彻，新晨阳电子是专业生产贴片电容，贴片钽电容的，今天我们参照《新晨阳电子产品知识手册》来给大家讲解一下如何测试电阻、贴片电容、二极管、三极管。
第一我们首先要了解阻作用：降压、分压、限流、分流等作用一般用在主板供电部分。
电阻在电路中的运用。
电阻串联阻值增大，电阻并联阻值减小;把数字万用表打到略比电阻标称值基本相符档位用两表笔直接测量电阻两端，若测得阻值鱼标称基本相符，则表示电阻是好的，若测的阻值明显偏大或无穷大则表示电阻已坏。
排阻作用：排阻分为a：八脚排阻;b：十脚排阻;c十六脚排阻c测量办法与测量普通电阻相同电容作用：滤波、耦合旁落与电阻组成RC定时电路与电感组成LC谐振电路，电容还有通交流，隔直流、通高频阻低频的特性贴片电容的判断：把数字万用表打打到二极管档，两表笔直接量电容两端，好的电容万用表读数为无穷大;若万用表读数为零，则表示电容击穿短路，贴片电容漏电时无法用万用表测量，只能用替换法判断好坏。
电解电容判断：电解电容从外观上表现为法鼓、漏液、变形等打数字万用表打到二极管档，用两表笔任意触碰电容两端然后调换表笔再测量一次，好的电容万用表万用表读数应从负值迅速跳变到无穷大位置，若万用表读数跳变到某一数值后停止不动或跳变比较缓慢则表明电容漏电;若万用表读数为零则表示电容短路。
二极管作用：检波、整流、稳压、箔位、限幅和作开关用等二极管有单向导电性二极管的好坏判断：把数字万用表打到二极管档，用表笔测量二极管任意两端，其中一组读数为600欧左右，而另一组为无穷大说明此管为好管反之为坏管三极管的测量三极管的极性判断及管型判断：把数字万用表打到二极管档首先用红表笔假定三极某一只引脚为b极，再用黑板笔分别触碰三极管其余两只引脚，如果测得有两次结果读数相差不大并且在600欧左右，则表明是对的，红表笔接的就是b极，且此管为NPN型管，ce极的判断，在两次测量中以测得读数最小的一次为例，黑表笔接的是c极，读数最大的一次黑板笔接的是e极。
贴片电容测试条件
贴片电容测试条件
贴片电容的测试条件主要包括以下方面：
1.电性能测试：测试贴片电容的容量（Cap）、损耗（DF）、绝缘电阻（IR）和耐电压（DBV）。
损耗值越小越好，IR与Cap的乘积应大于500欧法，耐电压DBV应大于
2.5Ur。
2.加速寿命测试：在125℃环境温度和2.5Ur直流负载条件下，贴片电容应能耐100小时不击穿，质量好的可耐1000小时不击穿。
3.耐热冲击测试：将电容浸入300℃锡炉10秒，显微镜下观察是否有表面裂纹，然后测试容量损耗并与热冲击前对比，判断芯片是否内部裂纹。
4.测试前的准备：明确被测试电容的标称值、误差范围和测量方式，以确定测量频率和电压幅值。
小电容的测试频率通常在1kHz±10%左右，大电容的测试频率通常在120Hz±10%左右。
小电容建议使用1.0±0.2Vrms的电压幅值，大电容建议使用0.5±0.2Vrms的电压幅值。
如需获取更多关于贴片电容测试条件的信息，可以查阅专业电容书籍或咨询电容生产厂家等。
贴片电容的测量方法
贴片电容的测量方法以下是 7 条关于贴片电容测量方法的内容：1. 嘿，你知道吗？测量贴片电容可以用万用表哦！就像你找东西时用手电筒照亮一样，万用表就是测量电容的得力“小助手”。
比如，把万用表打到合适的量程，然后将表笔搭在电容两端，就能测出它的大小啦，这是不是超简单！2. 哇塞，还有一种方法可以试试哦！就是用电容表来测呀！这就好比你用专门的尺子去量东西，更精准呢！你想想，把电容表连上贴片电容，那数据一下子就出来啦，像变魔术一样！就像你肯定能一下子认出你的好朋友一样哦。
3. 嘿呀，其实还可以利用 LCR 测试仪来测量呢！这就像一个厉害的侦探，能把贴片电容的各种信息都给挖出来。
比如说，你把它接到测试仪上，那它就能把电容的所有细节都告诉你啦，厉害吧！4. 哎呀，想知道怎么快速判断一个贴片电容的好坏吗？用个小技巧就行啦！就像医生给病人诊断一样。
你可以拿一个好的电容和要测的对比一下，看看有啥不同呀。
如果感觉不一样，那可能就有问题喽，懂了吧！5. 哈哈，还有一种有趣的方法呢！可以通过观察贴片电容的外观呀。
就好像你能从一个人的表情看出他心情好不好。
要是电容外观有损坏啥的，那很可能就不正常啦，这不难理解吧？6. 哟呵，你还能通过电路中的表现来判断贴片电容呢！这就如同通过一个人的行为知道他的性格一样。
如果电路工作不正常，也许就是贴片电容在“捣乱”呢，明白了不？7. 听好啦！测量贴片电容的方法真不少呢，每种都很有用啊！不管是万用表、电容表，还是其他的，都像你手中的工具，能帮你解决问题呀。
所以呀，遇到贴片电容要测量的时候不要慌张，选对方法就能搞定啦！我的观点结论就是：掌握了这些测量方法，就能轻松搞定贴片电容的测量啦，很实用哦！。
贴片电容漏电流测试方法-概述说明以及解释
贴片电容漏电流测试方法-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述部分的内容：贴片电容作为电子产品中常见的电子元件之一，具有很重要的作用。
它们用于储存和释放电能，以满足电路中的能量需求。
然而，在实际应用中，贴片电容的性能会受到漏电流的影响，其中的漏电流可能会导致电路的故障或降低系统的性能。
因此，为了确保贴片电容的质量和可靠性，需要对其漏电流进行测试。
漏电流是指在贴片电容正常工作过程中，流经电容器绝缘层的微小电流。
漏电流的大小会受到多种因素的影响，如材料质量、封装工艺、温度、电压等。
在本文中，将介绍贴片电容漏电流测试方法的必要性和常用的测试方法。
通过采用科学有效的测试方法，可以准确评估贴片电容的漏电流水平，帮助生产厂家和使用者更好地了解其性能，并做出相应的调整和优化。
这将有助于提高产品的质量和可靠性，减少故障率，从而提高整体系统的稳定性和效率。
1.2文章结构文章结构部分的内容可以包括以下内容：本文主要分为引言、正文和结论三个部分。
引言部分主要包括概述、文章结构和目的三个小节。
在概述中，介绍贴片电容漏电流测试方法的重要性和需要进行测试的原因。
在文章结构中，说明文章的整体架构和各个部分的内容安排。
在目的部分，明确文章的目的，即介绍贴片电容漏电流测试方法的必要性和常用方法。
正文部分包括贴片电容的重要性和贴片电容漏电流的影响因素两个小节。
在贴片电容的重要性部分，可以介绍贴片电容在电子产品中的作用和应用场景。
在贴片电容漏电流影响因素部分，可以列举导致贴片电容漏电流的主要因素，如温度、电压、尺寸等，并说明它们对漏电流的影响程度。
结论部分包括贴片电容漏电流测试方法的必要性和常用方法两个小节。
在贴片电容漏电流测试方法的必要性部分，可以阐述为何需要进行贴片电容漏电流测试，以及测试结果对产品质量和可靠性的影响。
在常用的贴片电容漏电流测试方法部分，可以介绍几种常见的测试方法，如串联法、并联法和使用特定测试仪器等，同时对它们的优缺点进行评述。
详解贴片电解电容测量的四种方法
详解贴片电解电容测量的四种方法
第一、电容容量越大，测试电流（漏电流）也应相应变大。
国产的贴片电解电容器，在额定电压6.3～450V，标称容量10～680μF时，漏电流可按下列公式计算：I≤（KxCxU）／1000公式中：I为漏电流（mA）；K为系数（20℃±5℃时，K=O.03）；U为额定工作电压（V）；C为标称容量（μF）；
第二、由于电解电容器只能单向工作，如将电解电容正负端接反测试，在5mA电流下测试其电压会极低，大约只有4V左右。
第三、长期不用的电解电容器，由于氧化膜的分解，容量、耐压都有一定的衰减，在第一次使用时，应先加低压（1／2额定耐压）老化一段时间（等效电解电容器的赋能）。
第四、同样的容量和耐压的贴片电解电容器，其体积较大、分量较重的一般耐压性能更好些；同样的容量和耐压的电解电容器，其相同的测试电流，电压指针偏转快的，漏电流较小。
文章来源：东莞企华电子有限公司（贴片电容相关资料下载：)。
贴片陶瓷电容、贴片电容试验指导书1.4
备
注 1、二类材质的电容需进行预处理后再进行试验，处理条件如下：150℃放置1小时，取出后在标准大气条件下恢复24 小时； 2、高压MLCC（500V以上）要做抗电强度测试，抗电强度测试时施加1.25倍额定电压*60S 3、试验2只适应附表1中带*的部分产品； 4、试验5只适用于0603的X7R、X5R、Y5V产品； 5、2、4试验后的恢复时间定为：NPO、X7R、X5R（<104)24小时，Y5V及X5R（≥104)48小时； 6、本试验需要样品数量为50PCS，试验周期：NPO：四天，X5R、X7R、Y5V:七天（含预处理时间）
对于NPO（即COG）：α≤±50ppm
（ppm） ，其中△T=T2-T1
对于X7R及X5R：T.C.≤±18%
变化率T.C.=（C2-C1）/C1*100%
施加电压：施加2倍额 定电压 NPO、X7R 温度：125℃ 时间：48h 恢复时间：24h
1 10 0
显微镜下检查：外观无明显异常及可见损伤，
拟制：杨圣杰 标准化审核：张彦强 审核：黄春旺
批准：黄春旺
1
3
NPO：击穿电压≥6倍额定电压 0 X7R/X5R：击穿电压≥4倍额定电压
穿，记录此电压值。
Ⅰ类陶瓷电容测试条件
备 Ⅱ类陶瓷电容测试条件 注
标称容量
C≤1000PF C＞1000PF 标称容量
C≤10μF C≤100PF
测试频率 1MHz 1KHz
测试频率 1KHz 1MHz
测试电压
1Vrms
测试电压 1Vrms 1Vrms
绝缘电阻≥1000M 或Rj×C≥25s
显微镜下检查，外观无明显异常及可见损 伤
温度：55±3℃
2
贴片电容耐压测试方法
贴片电容耐压测试方法一、引言贴片电容作为电子元器件中常见的一种，广泛应用于各种电子设备中。
在生产过程中，为了确保贴片电容的质量和可靠性，必须进行耐压测试。
本文将介绍贴片电容耐压测试的方法。
二、贴片电容耐压测试的意义贴片电容耐压测试是为了验证其绝缘性能和耐电压能力，以确保在正常工作条件下不会出现击穿、漏电等故障，保证电子设备的正常运行。
三、贴片电容耐压测试的步骤1. 准备测试设备和工具：耐压仪、测试夹具、导线等。
2. 确定测试电压：根据贴片电容的规格和要求，确定测试电压值。
一般情况下，测试电压为贴片电容额定电压的1.5倍。
3. 连接测试电路：将贴片电容与测试夹具上的电极相连，确保接触良好，无松动、断路等情况。
4. 设置测试参数：根据测试要求，设置耐压仪的测试时间、波形形状等参数。
5. 进行测试：启动耐压仪，开始进行耐压测试。
测试过程中，应观察贴片电容是否有异常情况，如发热、击穿等。
6. 结果判定：根据测试结果，判断贴片电容是否合格。
如果通过测试，贴片电容可被认为是符合规格要求的。
四、贴片电容耐压测试的注意事项1. 安全保护：在进行耐压测试时，应注意操作人员的安全。
测试过程中应佩戴绝缘手套、护目镜等防护装备。
2. 避免过高电压：测试电压应根据贴片电容的额定电压和规格要求来确定，避免过高的电压可能导致贴片电容的击穿。
3. 观察异常情况：测试过程中，应密切观察贴片电容是否有发热、击穿等异常情况，及时停止测试并排除故障。
4. 注意测试环境：耐压测试应在无尘、无静电的环境下进行，以避免外部环境对测试结果的影响。
5. 测试记录和标识：在进行贴片电容耐压测试时，应做好测试记录，包括测试时间、测试结果等，以便追溯和质量管理。
同时，合格的贴片电容应进行标识，以便后续使用和检验。
五、总结贴片电容耐压测试是确保贴片电容质量和可靠性的重要手段。
通过正确的测试方法和注意事项，可以有效地验证贴片电容的绝缘性能和耐电压能力，提高电子设备的可靠性和安全性。
贴片电容承认检验规格书
2、外观要求：
2.1、检查来料电容的包装方式。
2.2、样品电容的外形及颜色应与图纸所描述的相一致；电容本体无磨损，破裂，变形等不良现象；电容的电极（用于焊接的端子）应无氧化，脏污，断裂等不良现象。
4.4.1、测试前测试电容的初始阻值，DF值和绝缘电阻；
4.4.2、用耐压测试仪测试其耐压值(耐压值的大小和测试条件参考图纸)，记录测试情况．测试方法：用耐压机(型号:19053或相近精度的仪器型号)的探针接触电容两端施以电压；
4.4.3、试验后电容外观无损伤，烧毁现象且电气特性也没有破坏，即其电容量，DF值和绝缘电阻在图纸规定的范围内；
2、委派经培训合格的检验人员进行测量和实验工作。
3、配备合适且经过校对合格的检验仪器和相关的工具和夹具。
4、准备所需要的文件、资料(如图纸、规格书、数据记录表格等等)，理解清楚后方可进行检验工作。
四、一般规格：
1、功能要求：零件的设计、结构和尺寸按照相应的零件图纸；
2、存储环境：密封包装，温度40℃以下，相对湿度：75%以下；
4.7、冷热冲击：
试验前测试贴片电容的初始容量，DF值和绝缘电阻，然后将电容放入冷热冲击箱中，温度:电容型号：NPO、X7R、X5R设置-55℃±3℃,30分钟（Y5V:-25,Z5U:+10）；再转换至标准大气条件2~3分钟；再转换到电容型号：NPO、X7R、X5R设置125℃±3℃,30分钟（Y5V\Z5U:85℃）；再转换至标准大气条件2~3分钟；转换时间:最久5分钟；暴露次数:5次.物品应置于标准大气条件中24±1H后再进行测量动作。
2.3、样品电容的材质应与图纸所描述的相一致。
贴片电容质量检验标准书
2）B类：单位产品的重要质量特性不符合规定，
注：*为重点检验项目，检验OK品，需在物料标签盖上IQC PASS印章，并签名
或者单位产品的质量特性严重不符合规定
3）C类：此缺点对产品功能、适用寿命实质并无
降低且仍能达到所期望要求，一般为外观或结构
组装 上之差异
4）判定依据：抽样检验依品质抽样计划，取一般
静电手带、手套/手指套
2、钽电容的丝印必须要清晰、可辨识
显微镜、数字万用表、LCR电桥
3.元件的可焊端不可以有氧化、发黑现象 4.元件本体不可破损 四、特殊检验项目：抽样方案：MIL-STD-105E，0收1退执行：* 1.按照物料编码在BOM找到对应电容元件参数，核对型号规格*
检验条件
1 清洁工作台面、带好静电环、静电手套；目视距 离：30-50CM，呈45度角
2外包装上必须有物料料号规格产品的生产日期周期出货日期3供应商贴的标签上规格必须与原厂标签一致4检验外箱包装上要贴有环保rohs标签
质量检验标准书
文件编号:
版本: 页次：
客户
所有
机型
All Model 贴片电容
工段名
IQC 1.检
判定标准
一、检查内容
验2.标抽
一、包装防护
样3.方一
1、外包装箱应无破损、变形、受潮等；
般4.检允
2、外包装上必须有物料料号、规格、产品的生产日期/周期、出货日期 3、供应商贴的标签上规格必须与原厂标签一致 4、检验外箱包装上要贴有环保ROHS标签；
收水 设备和工具
二、生产周期：物料的生产周期必须在6个月以内；
NO.
NAME
三、外观
1
BOM、ECN、
1、料带不可AQL ： A类缺陷为0，B类缺陷为
贴片电容检验标准
贴片电容检验标准 Document number：NOCG-YUNOO-BUYTT-UU986-1986UT
1. 抽样标准
正常情况下，根据GB2828－2003，MIL-STD-105D II 级抽取样品 非正常情况下，转换规则如下： 正常 加严：在正常检验状态下，如果连续5批中有2批被拒绝，则由正常检验转为加
严检验。
加严
正常：在加严检验状态下，如果连续5批被允收，则由加严检验转为正常检验。
停止检验： 在加严检验状态下，如果退货数累积到3批或者连续2批被拒收将停止检验，
直至措施已被有效执行方恢复检验，检验从正常检验开始。
2. 接收标准（AQL ）（客户有要求是按客户要求执行）
致命缺陷（CR ）： 0 严重缺陷（MA ）： 轻微缺陷（MI ）：
3. 物料是否接收和退货，及判定标准，参照下列缺陷分类
4. IQC 检验员接触电容时，必须配戴静电手环
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Class 2
High Dielectric Type
X7R
-
(R7)
D.F.≦ 0.010 D.F.≦ 0.025
Test Method
Applying Frequency,Voltage
1.0±0.2 MHz, AC 0.5 ~ 5.0 V(r.m.s.)
1.0±0.2 kHz, AC 1±0.2 V(r.m.s.)
4. Measuring Procedure
测量程序
This is explanation that we measure capacitance and DF by using measurement instrument 4248A and measurement test fixture16034E. 这是我们测量容量和DF运用测量工具4248A和测量测试治具16034E。
Chip Monolithic Ceramic Capacitor 贴片独石陶瓷电容器
Testing / Measuring Condition 测试/测定条件
Note : 注 :
The information of this material are as of the date mentioned above. They are subject to change without advance notice. If there are any questions, please contact our sales representatives or product engineers. 对于这些材料信息以上面的日期为准。信息若有变更，恕不另行通知。若有任何疑问，请与我公司销售代表或产品工程师联系。
3. Q/D.F. Specification & Test Condition
Q/D.F.的规格和测试条件（MLCC）
2. MLCC - Thin Layer Large Capacitance Series -
Classification
Temp. Char.
(CODE)
Class 1
Temperature
W.V.≧25V : C＜0.1uF : D.F.≦0.05
C＞10uF : 120±24Hz, AC 0.5±0.1 V(r.m.s.)
C≧0.1uF : D.F.≦0.09
W.V. = 10/16V : D.F.≦0.125
W.V. = 6.3V : D.F.≦0.15
<Note> This is the specification for our standard items. Perform a heat treatment at 150 +0/-10℃ for 60±5 min. and then, let sit for 24±2 hrs. at room condition. 这是我们标准项目的规格。执行一个在150+0/-10℃的热处理，最少为60±5秒 。然后，室内等待24±2 小时。
4. Measuring Procedure
测量程序
5. Additional Information
附加信息
1. Measuring Equipment
测量设备
Generally, we use the “LCR Meter” as instrument for measuring ‘Capacitance Value’ and ‘D.F.’. Typical LCR Meters is “4284A” and “4286A” of Agilent Technologies. We can proceed testing including HI-CAP.(1uF≦Capacitance Value)
X5R/B
-
(R6/B3)
High Dielectric Type
Y5V/F
-
(F5/F1)
W.V.≧25V : D.F.≦0.025
W.V. = 10/16V : D.F.≦0.035
W.V. = 6.3V :
C＜3.3uF : D.F.≦0.05 C≧3.3uF : D.F.≦0.1
C≦10uF : 1.0±0.1 kHz, AC 1±0.2 V(r.m.s.)
Classification
Temp. Char.
(CODE)
Specification
Q
D.F.
Test Method
Applying Frequency,Voltage
Class 1
Temperature Compensation Type
C0G/CH
(5C/2C)
U2J/UJ
(7U/3U)
SL
(1X)
-
C＜30pF : Q≧400+20C
C≧30pF : Q≧1000
-
-
C≦1000pF : 1.0±0.2 MHz, AC 0.5 ~ 5.0 V(r.m.s.)
C＞1000pF : 1.0±0.1 kHz, AC 1±0.2 V(r.m.s.)
X7R/B/R
-
(R7/B1/R1)
Class 2
-
-
Compensation Type
Specification
Q
D.F.
-
Test Method
Applying Frequency,Voltage
-
X7R/B/R
-
(R7/B1/R1)
Class 2
X5R/B
-
(R6/B3)
High Dielectric Type X7S/X6S
-
(C7/C8)
这是我们标准项目的规格。执行一个在150+0/-10℃的热处理，最少为60±5秒 。然后，室内等待24±2 小时。
3. Q/D.F. Specification & Test Condition
Q/D.F.的规格和测试条件（MLCC）
3. MLCC - Medium High Voltage Series -
16034E
16334A
Photo 4. Calibration – Open Condition
图片4. 标度 – 开路条件
3. Q/D.F. Specification & Test Condition
Q/D.F.的规格和测试条件（MLCC）
1. MLCC - General Series -
图片2. 测量测试的固定设备的图片
2. Calibration of Measuring Equipment
测量设备的校正
Calibration is one of the important factor for accurate measuring. 校正是精确测量的一个重要因素 Calibration is done with COMPEN of MEAS SETUP.
<Note> This is the specification for our standard items. Perform a heat treatment at 150 +0/-10℃ for 60±5 min. and then, let sit for 24±2 hrs. at room condition. 这是我们标准项目的规格。执行一个在150+0/-10℃的热处理，最少为60±5秒 。然后，室内等待24±2 小时。
Classification
Temp. Char.
(CODE)
Specification Q
Class 1
Temperature Compensation Type
C0G/CH
(5C/2C)
SL
(1X)
Q≧1000
-
C＜30pF : Q≧400+20C C≧30pF : Q≧1000
-
D.F.
R
-
(R3)
D.F.≦ 0.1
Y5V/F
-ห้องสมุดไป่ตู้
(F5/F1)
D.F.≦ 0.2
*) However, following P/Ns will be tested by "0.5±0.1 kHz, AC 0.5±0.1 V(r.m.s.)".
<Note>
GRM155R61A154KE19 GRM155R61A224KE19 GRM185R61A105KE36 GRM219R61A475KE19
测试治具应该选择一个合适于LCR测定计的测试治具。 典型的适应于贴片类型测试治具如下所示。 有两种测量测试治具。 其中一个如16034E，将一个贴片放测试治具的测试点，然后贴片就会被一个顶针的一边所测量。 另外如16334E，形状是镊子，紧夹着一个贴片的两端进行测试。
16034E
16334A
Photo 2. Picture of measurement test fixture
校正先做短路。请参考以下短路条件的图片。在这个时候，请确认Rs是小于0.03Ω。请用丙酮
等冲洗终端, 如果校正结果大于0.03Ω。
16034E
16334A
Photo 3. Calibration - Short condition
图片3. 标度 – 简略条件
2. Calibration of Measuring Equipment
一般来说，我们都运用“LCR 测定计”作为测量电容量和“D.F.”的工具. 典型的LCR测定计是 Agilent 的“4284A”和 “4286A”。 我们可以测试高容量的电容器。（ 1uF≦容量 ）
4284A
4268A