实验四 简单IO口扩展实验

实验四 简单I/O 口扩展实验

一、 实验目的

学习在单片机系统中扩展简单I/ O 口的基本方法。 二、 实验内容

MCS —51外部扩展空间很大，但数据总线口和控制信号的负载 能 力是有限的，若需要扩展的芯片较多，则MCS —51总线口 负载过重，74LS244是一个输入扩展口，同时也是一个单向驱 动器，以减轻总线负担。74LS273作为同向输出口，控制8个 发光二极管的亮灭。 三、 实验接线图

D 1

3

Q 12

D 24Q 25D 37Q 36D 48Q 49D 513Q 512D 614Q 615D 717Q 716D 818Q 819CLK

11CLR

1U A31

74L S273

D 0

D 1D 2D 3D 4D 5D 6D 7O UT0

O UT1O UT2O UT3O UT4O UT5O UT6O UT71A 121A 241A 361A 48

2A 1112A 2132A 3152A 4171Y 1

181Y 2161Y 3141Y 4122Y 192Y 272Y 352Y 4

3

1G 12G

19

U A32

74L S244

D 0D 1D 2D 3D 4D 5D 6D 7

PI 0PI 1PI 2PI 3

PI 4

PI 5PI 6PI 7

G 12

3

U 3A 74L S32

45

6U 3B 74L S32

WR

273C S2

RD

244C S

CLR

L0

L1L2L3L4L5L6L7R2734.7K

K 1

K 2K 3K 4K 5

K 6K 7K 8R244

4.7K V C C

Y 3

V C C

Y 2

图（4－1）

四、 实验程序框图

开 始 置端口地址 从74LS244读入开关状态 从74LS273输出开关状态 延 时0.01S

五、实验步骤

1、74LS244的输入端PI0～PI7接JK（K1～K8），74LS273的输出端OUT0～OUT7接JL（L0～L7）， 244CS接Y2，273CS2接Y3。

2、调试、运行程序test4中的IO.ASM。

3、拨动K1～K8，观察L0～L7点亮情况。

六、实验结果：

图4-3

将K1，k2，k4,k5开关拨到高电平，相应的L1，L2，L4，L5，发光二极管发光。如图4-3所示

如图4-4所示：将K1，k2,k5开关拨到高电平，相应的L1，L2，L5，发光二极管发光。

图4-4

如图4-5所示：将K1，k2开关拨到高电平，相应的L1，L2 发光二极管发光。

图4-5

图4-6

如图4-6所示：将K1开关拨到高电平，相应的L1 发光二极管发光。

七、实验总结

通过做本次试验，学习在单片机系统中扩展简单I/ O口的基本方法。提高自己对单片机I/O口扩展的理解和认识。巩固了书本上的基础知识，进一步理解了I/O的数据传送过程。