数字电路实验(九个)
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脉冲与数字电路实验
目录
实验一TTL数字集成电路使用、与非门参数测试实验二门电路
实验三组合逻辑电路
实验四译码器与编码器
实验五触发器
实验六计数器一
实验七计数器二
实验八多谐振荡电路
实验九综合实验
·二十四进制计数电路
·数字定时器
·图形发生器
专题实习通用计时器安装于调试
附录1 常用数字集成电路外引线图
附录2 TTL集成电路分类、推荐工作条件
实验一 TTL 数字集成电路使用、与非门参数测试
一、实验目的
学习TTL 数字集成电路使用方法,学会查阅引脚图。掌握参数测试方法 二、实验设备及器件
1.逻辑实验箱 1台 2.万用表 1只 3.四2输入与非门 74LS00 1只 三、实验重点
54/74LS 系列数字集成电路的认识及使用方法 四、数字集成电路概述
以晶体管的“导通”与“截止”表达的两种状态及高电平(H )低电平(L )并以“1”
或“0”表示二进制数。能对二进制数进行逻辑运算、转换、传输、存储的集成电路称为数字集成电路。按分类有TTL 型、CMOS 型。按功能分有逻辑门电路、组合集成电路、集成触发器、集成时序逻辑电路。 五、实验内容及步骤
1.74LS 系列数字集成电路外引线图及使用方法 (引线图以14脚集成电路为例) 1)外引线排列
双列直插式封装引脚识别。引脚对称排
列,正面朝上半圆凹槽向左,左下为第1脚, 按逆时针方向引脚序号依次递增。 2)电源供电 芯片以5V 供电,电源正极连接标有Vcc
字符的引脚,负极连接标有GND 字符的 引脚。电源额定值应准确。为了达到良好的
使用效果,电源范围应满足4.5V ≤Vcc ≤5.5V 。 TTL 数字集成电路引脚识别 电源极性连接应正确。 3)重要使用规则
a . 输出端不能直接连接电源正极或负极。
b . 小规模(SSI )和中规模(MSI )芯片,在使用中发热严重应检查外围连线连接是否
正确。
四2输入与非门外引线图 逻辑符号 逻辑图(1/4)
1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND
4A 4B
4Y
3A 3B 3Y 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y &
A B Y
&
A B
Y
按图1.1完成连线。调节RP,改变V
i 值,按表1.2的要求逐个设定电压值,读出每个设
定值对应的输出值,并描绘电压传输特性曲线。
Rp 4.7K
Vi (V)
实验二 门电路
一、实验目的
熟悉逻辑实验箱的使用
掌握基本门电路逻辑功能测试方法 二、实验设备及器件 1.逻辑实验箱 2.万用表
3.四2输入与非门74LS00 4. 四2输入或门74LS32 5. 四2输入异或门74LS86
6. 2路3-3、2路2-2输入与或非门74LS51 7.四2输入集电极开路与非门74LS01 三、实验重点
熟悉常用门电路的逻辑符号及逻辑图、了解门电路对脉冲信号的控制作用 四、集成电路外引线图、逻辑符号及逻辑图 1、四2输入与非门74LS00
2、四2输入与非门74LS01(OC 门)
3、四2输入或门74LS32
1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND 4A 4B
4Y
3A 3B 3Y 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y &
A B Y
&
A B
Y
1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND 4A 4B
4Y
3A 3B 3Y 1A 1B 1Y 2A 2B
2Y &
A B Y
A B
Y
&
1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND
4A 4B
4Y
3A 3B 3Y 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 1
A B
Y
1
4、四2输入异或门74LS86
5、2路3-3输入、2路2-2输入与或非门74LS51
五、实验内容及步骤 (一)基本门电路
实验记录表中输出栏“电平”用万用表V 档测取电压值,逻辑状态高电平用“1”表示,低电平用“0”表示。
1. A 与非门逻辑功能测试(74LS00)
与非门逻辑图
1.B 集电极开路(OC 门)与非门逻辑功能测试(74LS01)
集电极开路与非门逻辑图 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND 4A
4B 4Y
3A
3B 3Y 1A 1B 1Y 2A 2B
2Y =A B
Y
1=1
2A 2B 2Y 2C 2D GND 1F 1E 2D 1C 1D 2C 1A 1B 1Y 2A
2B 2Y &
1A 1B 1C 1D 1E 1A &&&112A
2D
2C 2B 1F
1Y 2Y A B Y A B
Y
2 或门逻辑功能测试(74LS32)
或门逻辑图
3 异或门逻辑功能测试(74LS86)
异或门逻辑图
4 与或非门逻辑功能测试(74LS51)
与或非门逻辑图
(二) 门电路逻辑功能转换(74LS00)
按测试结果判断电路实现什么逻辑功能
1. A B
Y A
B
Y
A
B
C Y
A
Y