数字信号处理演示与验证性实验报告
重庆交通大学上机实验报告
学院：信息科学与工程实验课程：数字信号处理实验日期：14\10\26
相频图像
实验结果分析：
通过使用for循环语句编写调用程序，得到了am、pha的参数值，与图像对比一致。符合题目要求计算x(n)=R8(n)的傅里叶变换X(k)。
实验结果分析：
通过编写程序，利用DFT实现两序列的线性卷积运算，运行得到x(n)、h(n)的一二图像。第三图将前两图合二为一，可以看出DFT的点数与混叠的关系。该结果符合题意。
任务三、
实验分析报告：
通过分析上图，可以看出通过对信号频谱序列末端补零后，尽管信号的频谱不会变化，但对序列做补零后L点DFT后，计算出的频谱实际上是原信号频谱在[0,2*pi)区间上L个
PSOC3外部中断实验报告
一．实验名称 ●中断实验 二．实验任务 ●了解PSoC3中断的构成，特点。 ●掌握PSoC3中断函数的编写 ●按键控制LED灯亮灭。 ●利用轻触按键K3分别产生PSoC3器件I/O口下降沿触发每 触发一次中断，LED1、LED2状态翻转一次。 三．实验设备及环境 ●微型计算机（安装了Psoc creator3.1集成开发软件） ●PSoC实验平台 ●DC9V电源 ●导线若干 四．原理： ●32个中断向量，每个中断向量对于多个中断源 ●可配置的中断入口向量地址 ●灵活的中断源 ●每个中断可独立的使能和禁制 ●每个中断可以设置8级中断优先级
●8级中断嵌套 ●软中断 ●程序可清除正在响应的中断 电平触发 边沿触发 五．具体步骤 1.新建工程 ●双击打开PSoC Creator软件 ●File -> New – Project,在Design栏中使用默认选择的 Empty PSoC 3 Design
●在“Name”框中输入新工程名称Timer，在“Location”框 中输入其存放路径 ●回到创建新工程对话框，点击“OK”，完成新工程的创建 2.绘制原理图 3.设置模块参数 ●设置Pin_1模块参数 ?Name：LED1 ?去掉 HW Connection前的勾 ?General：取默认 ?Drive Mode：Strong Drive ?Initial State：Low(0)
●设置Pin_2模块参数,与上一步相同 4.代码编写 ●主程序编写 #include
验证性实验——触发器功能测试及其应用 实验报告纸模版
验证性实验——触发器功能测试及其应用实验报告纸模版 3、 D触发器在CP的前沿发生翻转，触发器的次态取决于CP脉冲上升沿来到之前D端广州大学学生实验报告 n+1的状态，即Q = D。因此，它具有置“0”和“1”两种功能。由于在CP=1期间电 路具有阻塞作用，在CP=1期间，D端数据结构变化，不会影响触发器的输出状态。开课学院及实验室:电子楼410 2012年月日 和分别是置“0”端和置“1”端，不需要强迫置“0”和置“1”时，都应是高机电学院年级、专学院电气102 姓名夏方舟学号 1007300069 业、班电平。74LS74(CC4013)，74LS74(CC4042)均为上升沿触发器。以下为74LS74 实验课程名称成绩数字电子技术实验的引脚图和逻辑图。 指导实验项目名称王晓刚验证性实验——触发器功能测试及其应用老师 一、实验目的 二、实验原理
三、使用仪器、材料 四、实验步骤 五、实验过程原始记录(数据、图表、计算等) 六、实验结果及分析 一、实验目的 三、使用仪器、材料 1、熟悉基本RS触发器，JK,D,T触发器的功能测试及其使用方法; 1、数字电路实验箱; 2、能进行触发器之间的相互转换; 2、数字双综示波器; 3、学习触发器的一些应用。 3、指示灯; 4、 74LS00、74LS74。 四、实验步骤二、实验原理 1、触发器是一个具有记忆功能的二进制信息存储器件，是构成多种时序电路的最五、实验过程原始记录,数据、图表、计算等～ 基本逻辑单元，也是数字逻辑电路中一种重要的单元电路。在数字系统和计算机中 有着广泛的应用。触发器具有两个稳定状态，即“0”和“1”，在一定的外界信号作 用下，可以从一个稳定状态翻转到另一个稳定状态。触发器有集成触发器和门电路 (主要是“与非门”)组成的触发器。按其功能可分为有RS触发器、JK触发器、D 触发器、T功能等触发器。触发方式有电平触发和边沿触发两种。
质量管理与可靠性实验报告
实验1 工序能力调查实验 一、实验目的 掌握数据的抽样方法以及质量数据的统计分析方法，熟练操作Minitab软件，掌握统计分析图形的绘制，理解工序不合格品率与工序能力指数的关系。 二、实验仪器 装有Minitab软件的计算机。 三、实验步骤 实验内容： 收集待分析质量数据50组，用Minitab软件对质量数据进行分析，绘制相关分析图形，并根据分析结果估算工序不合格品率。 实验步骤： 在4M1E条件基本相同的前提下，收集待分析质量数据50组。 1.用Minitab软件对质量数据进行分析（分布规律和变化趋势，进行正态性检验）； 2.用软件绘制相关分析图形并根据分析结果估算工序不合格品率。 四、实验结果 1.绘制直方图；
2.分布形状拟合； 如上图所示，成份C的数据分布曲线是近似正态分布。 3.成份C的数据变化趋势分析 4.工序能力
5.估计工序不合格品率 p=2-Ф[3C p（1+k]-Ф[3C p（1-k]=2-0.934389-0.855587=0.210024 实验2 工序质量控制实验 一、实验目的 掌握质量控制图的原理及绘制方法，掌握控制图的判异准则，学会根据控制图对工序状态进行判断。 二、实验仪器 装有Minitab软件的计算机。 三、实验内容及步骤 实验内容： 利用实验一收集数据，对其进行分组数据分组，应用Minitab的Control Chart模块，绘制工序控制图（xbar-s）并根据控制图对工序状态进行判断。 该钢铁公司内部采取以下判异准则来检验异常原因： 检验1：有1 个点离开中心线的距离超过3 倍标准差 检验2：连续7 个点在中心线的同一侧 检验3：连续7 个点有上升趋势或下降趋势 实验步骤： 1.收集50组车轴钢成份（C、Si、Mn、P、S、Al）化验数据
中断实验报告
沈阳工程学院 学生实验报告 实验室名称：微机原理实验室实验课程名称：微机原理及应用 实验项目名称：8259中断控制器实验实验日期：年月日 班级：姓名：学号： 指导教师：批阅教师：成绩： 一．实验目的 1.熟悉8086中断系统及8259的扩展方法。 2.理解8259中断控制器的工作原理。 3.初步掌握8259的应用编程方法。 二．实验设备 PC机一台，TD-PITE实验装置一套。 三．实验内容 1．实验原理 （1）在Intel 386EX芯片中集成有中断控制单元（ICU），该单元包含有两个级联中断控制器：一个为主控制器，一个为从控制器。从片的INT连接到主片的IR2信号上构成两片8259的级联。主片8259的中断请求信号IR6和IR7开放，从片的中断请求信号IR1开放，以供实验使用。 (2)单次脉冲输出与主片8259的MIR7相连，每按动一次单次脉冲开关，产生一个外部中断，在显示器上输出一个字符。 8259中断实验接线图 2．实验步骤 （1）补全实验程序，按实验接线图接线。 （2）对实验程序进行编译、链接无误后，加载到实验系统。 （3）执行程序，并按动单次脉冲开关KK1或KK2，观察程序执行结果。 3.程序清单 SSTACK SEGMENT STACK DW 32 DUP(?) SSTACK ENDS CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE，SS:SSTACK START: PUSH DS MOV AX, 0000H MOV DS, AX ·1·
8259中断控制实验 ·2· MOV AX, OFFSET MIR7 ①MOV SI, （ ） MOV [SI], AX MOV AX, CS ②MOV SI, （ ） MOV [SI], AX CLI POP DS MOV AL, 11H OUT 20H, AL MOV AL, 08H OUT 21H, AL MOV AL, 04H OUT 21H, AL MOV AL, 01H OUT 21H, AL MOV AL, （ ） OUT 21H, AL STI AA1: NOP JMP AA1 MIR7: STI CALL DELAY MOV AX, 0137H INT 10H MOV AX, 0120H INT 10H MOV AL, 20H OUT 20H, AL IRET DELAY: PUSH CX MOV CX, 0F00H AA0: PUSH AX POP AX LOOP AA0 POP CX RET CODE ENDS END START 四．实验结果及分析 根据实验回答下列问题： 1．按动单次脉冲输入KK1后，屏幕显示字符 。 2．分析中断矢量地址能改成别的数值吗？为什么？ 3．改变接线，KK1连接MIR6。修改程序行①为 ，修改程序行②为 ，重新设置中断向量，以及中断屏蔽字改为 。 4．如果输出数字9，如何修改程序？ 5．如何屏蔽MIR7上的中断请求？按下KK1会有什么现象？ 6．选做：如果采用级联方式扩展一片8259从片，应如何修改程序呢？请将程序写在背面。 成绩评定 对实验原理的掌握情况 2 1 0 — 实验步骤正确性 3 2 1 0 实验数据记录正确性 2 1 0 — 实验结果及分析的正确性 3 2 1 成 绩 批阅教师： 20 年 月 日
单片机实验四报告材料_外中断实验
大学实验报告 学生：学号：专业班级： 实验类型：?验证?综合■设计?创新实验日期：2018.05.29 实验成绩： 实验四外中断实验 （一）实验目的 1.掌握单片机外部中断原理； 2.掌握数码管动态显示原理。 （二）设计要求 1.使用外部中断0和外部中断1； 2.在动态数码管上显示中断0次数，中断1用作次数清0，数码管采用74HC595驱动。 （三）实验原理 1.中断 所谓中断是指程序执行过程中，允许外部或部时间通过硬件打断程序的执行，使其转向为处理外部或部事件的中断服务程序中去，完成中断服务程序后，CPU返回继续执行被打断的程序。如下图所示，一个完整的中断过程包括四个步骤：中断请求、中断响应、中断服务与中断返回。 当中断请求源发出中断请求时，如果中断请求被允许的话，单片机暂时中止当前正在执行的主程序，转到中断处理程序处理中断服务请求。中断服务请求处理完后，再回到原来被中止的程序之处（断电），继续执行被中断的主程序。 如果单片机没有终端系统，单片机的大量时间可能会浪费在是否有服务请求发生的查询操作上，即不论是否有服务请求发生，都必须去查询。因此，采用中断技术大大地提高了单片机的工作效率和实时性。
2.IAP15W4K58S4单片机的中断请求 IAP15W4K58S4单片机的中断系统有21个中断请求源，2个优先级，可实现二级中断服务嵌套。由IE、IE2、INT_CLKO等特殊功能寄存器控制CPU是否相应中断请求；由中断优先级高存器IP、IP2安排各中断源的优先级；同优先级2个以中断同时提出中断请求时，由部的查询逻辑确定其响应次序。 中断请求源中的外部中断0（INT0）和外部中断1（INT1）详述如下： (1)外部中断0(INT0)：中断请求信号由P3.2引脚输入。通过IT0来设置中断请求的触发方式。当IT0为“1”时，外部中断0为下降沿触发；当IT0为“0”时，无论是上升沿还是下降沿，都会引发外部中断0。一旦输入信号有效，则置位IE0标志，向CPU申请中断。 (2)外部中断1(INT1)：中断请求信号由P3.3引脚输入。通过IT1来设置中断请求的触发方式。当IT1为“1”时，外部中断1为下降沿触发；当IT1为“0”时，无论是上升沿还是下降沿，都会引发外部中断1。一旦输入信号有效，则置位E1标志，向CPU申请中断。 中断源是否有中断请求，是由中断请求标志来表示的。在IAP15W4K58S4单片机中，外部中断 0、外部中断1等请求源的中断请求标志分别由特殊功能寄存器TCON和SCON控制，格式如下： (1)TCON寄存器中的中断请求标志。TCON为定时器T0与T1的控制寄存器，同时也锁存T0和T1的溢出中断请求标志及外部中断0和外部中断1的中断请求标志等。格式如下图所示： D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 88H 与中断有关的各标志位功能如下： ①TF1：T1的溢出中断请求标志。T1被启动计数后，从初值做加1计数，计满溢出后由硬件 置位TFI,同时向CPU发出中断请求，此标志一直保持到CPU 响应中断后才由硬件自动清0。 也可由软件查询该标志，并由软件清0。 ②TF0：T0的溢出中断请求标志。T0被启动计数后，从初值做加1计数，计满溢出后由硬件 置位TF0，同时向CPU发出中断请求，此标志一直保持到CPU响应中断后才由硬件自动清 0。也可由软件查询该标志，并由软件清0。 ③IE1：外部中断1的中断请求标志。当INT1(P3.3)引脚的输入信号满足中断触发要求时，置 位IE1，外部中断1向CPU申请中断。中断响应后中断请求标志自动清0。 ④IT1：外部中断1(INT1)中断触发方式控制位。当(IT1)=1时，外部中断1为下降沿触发方式。 在这种方式下，若CPU检测到INT1出现下降沿信号，则认为有中断申请，随即使IE1标志 置位。中断响应后中断请求标志会自动清0，无须做其他处理。当(T1)=0时，外部中断1为
外部中断实验
实验二外部中断实验 一．实验目的 1.学习外部中断技术的基本使用方法； 2.学习中断处理程序的编程方法。 二．实验设备及器材配置 1.单片机仿真实验系统。 2.计算机。 3.导线。 三．实验内容 在以下实验题目中任选一个或由老师指定。 1.P1口做输出口，接八只发光二极管，编写程序，使其循环点亮。以单脉冲输出端做为中断申请，当第一次产生外部中断时，使发光二极管全亮，延时1秒后返回中断之前的状态；当第二次产生外部中断时，使发光二极管全灭，延时1秒后返回中断之前的状态；以后如上述一直循环下去。 2.以单脉冲输出端做为中断申请，自行设计连线，用实验箱上的红、绿、黄发光二极管模拟交通灯控制。当有急救车通过时，两交通灯信号为全红，以便让急救车通过，延时10秒后交通灯恢复中断前状态。 四．实验原理说明 本实验中中断处理程序的应用，最主要的地方是如何保护进入中断前的状态，使得中断程序执行完毕后能返回中断前P1口及发光二极管的状态。除了保护累加器A、程序状态字PSW外、P1口的状态外，还要注意主程序中的延时程序和中断程序的延时程序不能混用，本实验中，主程序延时程序用的寄存器和中断延时用的寄存器也不能混用。 五．连线方法及实验电路 8031的P1.0—P1.7分别接发光二极管L0—L7，P3.2接单脉冲输出端“ ” 外部中断实验电路如图1-3所示。
图1-3 外部中断实验电路 六．思考题及实验报告要求 1.思考题 (1).试说明51系列单片机外部中断如何使用。 (2).修改程序，外部中断产生时，使发光二极管闪亮移位方向改变。 2.实验报告要求 (1).给出自行设计的程序清单、程序流程图。 (2). 总结实验过程中调试所遇到的问题和解决方法，写出编程调试的经验和体会。 VW集成调试软件使用 1.自建以字母开头的文件夹，推荐在F盘。 2.双击桌面V/W快捷方式 3.左击【文件】-新建文件-保存文件（存于自建文件夹下，以字母开头，后缀为.ASM或.C） 4.左击【文件】-新建项目-（以字母开头，存于自建文件夹下，加入自存的汇编或C源程序） 5.编写程序 6. 左击【项目】-编译，根据提示将提示的错误位置修改，编译，直至程序无错。 7.实验箱断电、连线完毕后，打开实验箱电源开关。左击【仿真器】，在出现的窗口中选择LAB8000\MCS51\8031AH或A T89C51,晶体频率：6000000Hz。 8. 左击【执行】-全速运行，在实验箱上观察运行结果。
实验3 外部中断实验报告
实验三定时中断实验 一、实验目的 1、掌握51单片机外部中断的应用。 2、掌握中断函数的写法。 3、掌握定时器的定时方法。 4、掌握LED数码管的显示。 二、实验内容 1、用外部中断0测量负跳变信号的累计数,同时在LED数码管上显示出来。 2、用外部中断改变流水灯的方式。 3、用定时器T1的方式2控制两个LED以不同周期闪烁。 使用定时器T1的方式2来控制P0、0、P0、1引脚的两个LED分别以1s与2s的周期闪烁。 三、实验仿真硬件图 在Proteus软件中建立如下图所示仿真模型并保存。 1、用外部中断0测量负跳变信号的累计数,同时在LED数码管上显示出来(用中断方式做计数器)。 2、用外部中断改变流水灯的方式。 中断前:开始时,P0、0~P0、7的8个灯依次点亮。 外部中断0:P0、0~P0、7的左右4个灯闪烁亮8次 外部中断1: P0、0~P0、7的8个灯间隔闪烁8次 改变中断优先级与保护现场,观察运行结果 四、编程提示
外部中断0请求 ______ INT,由P3、2管脚输入,通过IT0位来决定就是低电平有效还就是下 降沿有效。一旦输入信号有效,即向CPU申请中断,并建立IE0中断标志。 以外部中断0为例,开放中断源采用以下语句: EA=1; //开放中断总允许位 EX0=1; //开放外部中断0允许位 IT0=1; //置外部中断为边沿(下边沿)触发方式中断函数结构如下: void int_0() interrupt 0 // interrupt 0表示该函数为中断类型号0的中断函数{ } 同级自然优先级: 外部中断0→定时器T0中断→外部中断1→定时器T1中断→串行口中断。 中断优先级别的设定: 实验二要求: 初始状态为P0、0~P0、7的8个LED显示灯依次循环点亮;外部中断0服务程序为8个LED灯,左4个,右4个闪烁8次,外部中断1服务程序8个LED灯,间隔闪烁8次。 ⑴设定外部中断0为高优先级,先执行外部1中断,过程中用外部0中断来将其中断,反之不行。注意保护现场。 ⑵设定外部中断1为高优先级,先执行外部0中断,过程中用外部1中断来将其中断,反之不行。注意保护现场。 实验三(调试下列程序,在错误行后面注明错误及改正方法): #include
基尔霍夫定理的验证实验报告
基尔霍夫定律的验证实验报告 一、实验目的 1、验证基尔霍夫定律的正确性，加深对基尔霍夫定律普遍性的 理解。 2、进一步学会使用电压表、电流表。 二、实验原理 基本霍夫定律是电路的基本定律。 1)基本霍夫电流定律 对电路中任意节点，流入、流出该节点的代数和为零。即∑I=0 2)基本霍夫电压定律 在电路中任一闭合回路，电压降的代数和为零。即∑U=0 三、实验设备 四、实验内容 实验线路如图2-1所示
图2－1 1、实验前先任意设定三条支路的电流参考方向， 2、按原理的要求，分别将两路直流稳压电源接入电路。 3、将电流插头的两端接至直流数字毫安表的“+，－”两端。 4、将电流插头分别插入三条支路的三个电流插座中，记录电 流值于下表。 5、用直流数字电压表分别测量两路电源及电元件上的电压值，记录于下表。 被测量 I1 （mA） I2 （mA） I3 （mA） E1 (V) E2 (V) UFA (V) UAB (V) UAD (V) UCD (V) UDE (V) 计算值1.93 5.99 7.92 6.0 12.00 0.98 -5.99 4.04 -1.97 0.98 测 2.08 6.38 8.43 6.011.99 0.93 -6.24 4.02 -2.08 0.97
五、基尔霍夫定律的计算值： I1 + I2 = I3 (1) 根据基尔霍夫定律列出方程（510+510）I1 +510 I3=6 (2) （1000+330）I3+510 I3=12 (3) 解得：I1 =0.00193A I2 =0.0059A I3 =0.00792A U FA=0.98V U BA=5.99V U AD=4.04V U DE=0.98V U DC=1.98V 六、相对误差的计算： E(I1)=（I1（测）- I1（计））/ I1（计）*100%=（2.08-1.93）/1.93=7.77% 同理可得：E(I2)=6.51% E(I3)=6.43% E(E1)=0% E(E1)=-0.08% E(U FA)=-5.10% E(U AB)=4.17% E(U AD)=-0.50% E(U CD)=-5.58% E(U DE)=-1.02% 七、实验数据分析 根据上表可以看出I1、I2、I3、U AB、U CD的误差较大。 八、误差分析
产品可靠性试验报告模板
产品可靠性试验报告一、试验样品描述 二、试验阶段 三、试验结论
四、试验项目
High Temperature Storage Test （高温贮存） 实验标准： 产品可靠性试验报告 测试产品状态 ■小批□中批□量产 开始时间/Start Time 结束时间/Close Time 试验项目名称/Test Item Name High Temperature Storage Test (高温贮存) 产品名称Name 料号/P/N （材料类填写供应商） 试验样品/数量 试验负责人 （5Pcs ） 实验测试结果 ■通过□不通过□条件通过 试验目的 验证产品在高温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性 试验条件 Test Condition 不通电，以正常位置放入试验箱内，升温速率为1℃/min，使产品温度达到70℃，温度稳定后持续8小时，完成测试后在正常环境下放置2小时后进行产品检查 试验条件图 Test Condition 仪器/设备 高温烤箱、万用表、测试工装 合格判据 试验后样品外观、机械性能、电气性能、等各项性能正常 包装压力测试 OK 包装振动测试 OK 包装跌落测试 OK Group 7 酒精测试 OK RCA 纸带耐磨测试 附着力测试 OK 百格测试 OK 材料防火测试
备注说明 注意：测试不通过或条件通过时需要备注说明现象或原因、所有工作状态机器需要连接信号线、功能测试涵盖遥控距离和按键功能 Low Temperature Storage Test（低温贮存） 实验标准： 产品可靠性试验报告 测试产品状态■小批□中批□量产 开始时间/Start Time 结束时间/Close Time试验项目名称/Test Item Name Low Temperature Storage Test (低温贮存) 机型名称Name料号/P/N（材料类填写供应商）试验样品/数量试验负责人实验测试结果■通过□不通过□条件通过 试验目的验证产品低温环境存储后其常温工作的电气性能的可靠性 试验条件Test Condition 不通电，以正常位置放入试验箱内，降温速率为1℃/min，使试验箱温度达到-30℃，温度稳定后持续8小时，完成测试后在正常环境下放置2小时，后进行产品检查. 试验条件图Test Condition
数据分析验证性实验报告
数据分析验证性实验报告 一、题目 1、1991 年我国30个省、区、市城镇居民月平均消费八个指标（单位均为元/人） X1: 人均粮食支出X2: 人均副食支出 X3: 人均烟茶支出X4: 人均其它副食支出 X5: 人均衣着商品支出X6: 人均日用品支出 X7: 人均燃料支出X8: 人均非商品支出 省区市X1X2X3X4X5X6X7X8 山西8.35 23.53 7.51 8.62 17.42 10.00 1.04 11.21 内蒙古9.25 23.75 6.61 9.19 17.77 10.48 1.72 10.51 吉林8.19 30.50 4.72 9.78 16.28 7.60 2.52 10.32 黑龙江7.73 29.20 5.42 9.43 19.29 8.49 2.52 10.00 河南9.42 27.93 8.20 8.14 16.17 9.42 1.55 9.76 甘肃9.16 27.98 9.01 9.32 15.99 9.10 1.82 11.35 青海10.06 28.64 10.52 10.05 16.18 8.39 1.96 10.81 河北9.09 28.12 7.40 9.62 17.26 11.12 2.49 12.56 陕西9.41 28.20 5.77 10.80 16.36 11.56 1.53 12.17 宁夏8.70 28.12 7.21 10.53 19.45 13.30 1.66 11.96 新疆 6.93 29.85 4.54 9.49 16.62 10.65 1.88 13.61 湖北8.67 36.05 7.31 7.75 16.67 11.68 2.83 12.88 云南9.98 37.69 7.01 8.94 16.15 11.08 0.83 11.67 湖南 6.77 38.69 6.01 8.82 14.79 11.44 1.74 13.23 安徽8.14 37.75 9.61 8.49 13.15 9.76 1.28 11.28 贵州7.67 35.71 8.04 8.31 15.13 7.76 1.41 13.25 辽宁7.90 39.77 8.49 12.94 19.27 11.05 2.04 13.29 四川7.18 40.91 7.32 8.94 17.60 12.75 1.14 14.08 山东8.82 33.70 7.59 10.98 18.82 14.73 1.78 10.10
信赖性试验程序
文档来源为:从网络收集整理.word版本可编辑.欢迎下载支持. 1. 目的： 1.1. 为建立合理的检测中心管理规范，对所有的物料、产品进行信赖性试验程序化、标准化管控。 1.2. 确保所有的物料及产品所必须符合的各项物理、化学性能能满足顾客的要求，提高产品的信赖性。 2. 范围： 2.1. 适用于浙江祥晖数码科技有限公司检测中心之管理。 2.2. 适用于所有进料/成品从产品的开发到量产过程及质量保证试验中的物理、化学性能等各项信赖 性试验；产品所需特别加以验证及特殊性能均适用。 3. 权责： 3.1. 各个客户的各项信赖性试验标准的提供：开发部 3.2. 所有进料/成品的信赖性试验标准的建立、汇总整理：品质部QE 3.3. 所有信赖性试验表单的建立：品质部QE 3.4. 所有信赖性试验试验表单的提供：试验需求人员 3.5. 信赖性试验仪器设备的操作、日常保养与维护及信赖性试验的执行：信赖性试验员 3.6. 信赖性试验表单的审核：QE( 如有异常呈品质主管、经理核准) 3.7. 信赖性试验结果的通报、报告原件的保存归档：信赖性试验员 4. 名词解释： 4.1开发阶段信赖性试验 是指在量产前的生产准备、设计初期阶段实施的信赖性试验。 4.2量产质量保证试验 为持续保证量产中的产品的质量性能所实施的信赖性试验。 4.3 信赖性：通过模拟产品在客户端和真实工作条件下的应用性来进行的相关功能性的验证，从而确 保产品满足客户最终要求. 5. 相关文件： 5.1. 《信赖性试验流程图》（附件一） 5.2. 《信赖性试验基准》（附件二） 5.3. 《信赖性试验计划》 5.4. 《信赖性试验报告》 6．参考文件： 6.1 《成品规格书》
LED可靠性分析报告
可靠性分析报告 品质是设计出来而不是制造出来,广义的品质除了外观、不良率外、还需兼长期使用下的可靠性,因此,在开发新产品前之可靠性预估及开发的实验推断相互印证是很重要的,本篇即针对可靠性分析的一般术语,如何事前预估,事后实验推断以及如何做加速试验及寿命试验做个说明. 1. 概论: (1) 何谓可靠性(Reliability)? 可靠性系指某种零件或成品在规定条件下,且于指定时间内,能依要求发挥功能的 概率,即 时间t 时的可靠性R(t)= (例) 假设开始时有100件物品参与试验,500小时后剩80件,则500小时后的可靠性R(t=500)为80/100=0.8简单地说,可靠性可看为残存率. (2) 何谓瞬间故障率(Hazard Rate ，Failure Rate), 时间t 时每小时之故障数 瞬间故障率h （t ）= 时间t 时之残存数 上例中，若500小时后剩80件，若当时每小时故障数为两件，则第500小时之瞬间故障为2/80=2.5%换句话说,瞬间故障率系指时间t 时,尚未发生故障的物件,其单位时间内发生故障之概率. 时间t 时残存数 开始时试验总数
(3)浴缸曲线(Bath Tub Curve) 瞬 间 故 障 率 h(t) h(t)=常数= 耗竭期 Period period A．早期故障期：a.设计上的失误（线路稳定度Marginal design） b.零件上的失误（Component selection & reliability） c.制造上的失误（Burn-in testing） d.使用上失误。 一般产品之Burn-in 即要消除早期故障（Infant Mortality）使客户接到手时已经是恒定故障率h（t）= B、恒定故障率期：此时故障为random,为真正有效使用此段时期越长越好。 C、耗竭故障期；零件已开始耗竭，故障率急剧增加，此时维护重置成本为高。（4）平均故障间隔时间（Mean Time Between Failure，MTBF）当故障率几乎为恒定时（若0.002/小时）,此时进行10000小时约有0.002/小时*10000小时=20个故障,即平均500小时会发生一次故障,故MTBF 为500小时,为0.002/小时的倒数,即MTBF=1/λ.λ可看成频率(Frequency),MTBF即代表周期(Period)
计算机组成原理中断实验报告精编WORD版
计算机组成原理中断实验报告精编W O R D版 IBM system office room 【A0816H-A0912AAAHH-GX8Q8-GNTHHJ8】
北京建筑大学 2015/2016 学年第二学期 课程设计 课程名称计算机组成原理综合实验 设计题目微程序控制器设计与实现 系别电信学院计算机系 班级计141 学生姓名艾尼瓦尔·阿布力米提 学号 完成日期二〇一六年七月八日星期五 成绩 指导教师 （签名） 计算机组成综合实验任务书
?4、在原有指令集基础上自行设计或扩展4~8条指令。画出扩展指令的指令执行流程图； ?5、利用上端软件，把所编写的微程序控制器内容写入实验台中控制器中。 ?6、利用单拍测试控制器与编程的要求是否一致。如果有错误重新修改后再写入控制器中。 7、编写一段测试程序，测试控制器运行是否正确。 实验目的 1．融合贯通计算机组成原理课程，加深对计算机系统各模块的工作原理及相互联系（寄存器堆、运算器、存储器、控制台、微程序控制器）。 2．理解并掌握微程序控制器的设计方法和实现原理，具备初步的独立设计能力； 3．掌握较复杂微程序控制器的设计、调试等基本技能；提高综合运用所学理论知识独立分析和解决问题的能力。 实验电路 1. 微指令格式与微程序控制器电路 2.微程序控制器组成 仍然使用前面的CPU组成与机器指令执行实验的电路图，但本次实验加入中断系统。这是一个简单的中断系统模型，只支持单级中断、单个中断请求，有中断屏蔽功能，旨在说明最基本的原理。
中断屏蔽控制逻辑分别集成在2片GAL22V10（TIMER1 和TIMER2）中。其ABEL语言表达式如下： INTR1 := INTR; INTR1.CLK = CLK1; IE := CLR & INTS # CLR & IE & !INTC; IE.CLK= MF; INTQ = IE & INTR1; 其中，CLK1是TIMER1产生的时钟信号,它主要是作为W1—W4的时钟脉冲，这里作为INTR1的时钟信号，INTE的时钟信号是晶振产生的MF。INTS微指令位是INTS机器指令执行过程中从控制存储器读出的，INTC微指令位是INTC机器指令执行过程中从控制存储器读出的。INTE是中断允许标志，控制台有一个指示灯IE显示其状态，它为1时，允许中断，为0 时，禁止中断。当INTS = 1时，在下一个MF的上升沿IE变1，当INTC = 1时，在下一个MF的上升沿IE变0。CLR信号实际是控制台产生的复位信号CLR#。当CLR = 0时，在下一个CLK1的上升沿IE变0。当 CLR=1 且INTS = 0 且 INTC = 0时，IE保持不变。 INTR是外部中断源，接控制台按钮INTR。按一次INTR按钮，产生一个中断请求正脉冲INTR。INTR1是INTR经时钟CLK1同步后产生的，目的是保持INTR1与实验台的时序信号同步。INTR脉冲信号的上升沿代表有外部中断请求到达中断控制器。INTQ是中断屏蔽控制逻辑传递给CPU的中断信号，接到微程序控制器上。当收到INTR脉冲信号时，若中断允许位INTE＝０，则中断被屏蔽，INTQ仍然为０；若INTE ＝１，则INTQ ＝１。
信赖性测试标准指引
信赖性试验标准 文件编号AL-3-07-006 制定部门品保部文件版本 1.0 生效日期 制定批准
目录 1.前言－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－03 2.职责－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－04 3.盐雾试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－03 4.百格试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－04 5.酒精试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－06 6.RCA耐磨试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－11 7.耐高压试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－19 8.裸机跌落试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－12 9.包装振动试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－13 10.包装跌落试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－14 11.高温工作试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－15 12.低温工作试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－16 13.高温储存试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－1 14.低温储存试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－1 15.高低温冲击试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－17 16.老化试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－18 17.静电试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－20 18.吊重试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－21 19.线材摇摆试验－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－20 20.成品模拟测试－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－20
可靠性验收试验
可靠性验证试验 1 概述 1.1 试验目的与分类 可靠性验证试验的目的是验证产品的可靠性是否达到规定的要求。 可靠性验证试验根据产品的性质分为可靠性鉴定试验和可靠性验收试验。 可靠性鉴定试验是为了验证新开发产品的设计是否达到规定的最低可接收的可靠性定量要求。 验收试验是对正式转入批生产产品是否达到可靠性定量要求的试验。 1.2 统计概念 可靠性指标是产品性能的时间表征，是随机变量，无法用仪表检测，只有通过抽样试验或全寿命统计才能检验。 产品的可靠性使用指标，也是可靠性目标值，在合同中又称规定值，试验方案中可为θ0。 产品必须达到的可靠性使用指标称可靠性门限值，在合同中叫最低可接受值，试验方案中为θ1。 可靠性验证试验方案建立在统计数学基础上，与“个体”、“总体”、“批”、“样本”、“样本量”、“随机抽取”、“分布”等等统计学概念有关。 电子产品在寿命的随机失效期的故障率为常数，符合指数分布。 1.3 一般要求 试验大纲必须经过有关方面讨论批准。 统计试验方案由订购方在合同中规定，从有关标准中选定。 试验样品的技术状态应是经过批准的。 试验剖面应代表实际使用环境条件。 试验应在授权的实验室在用户代表监督下进行。 2 可靠性验证试验大纲 2.1 试验大纲内容 试验对象和数量； 试验目的、进度； 试验方案； 试验条件：试验设备提供的应力及其容差、检测设备及其精度要求； 试验场所，经订购方认可按以下顺序选定：独立实验室，合同乙方以外的实验室，合同乙方的实验室； 设置评审点、开展FRACAS要求。 2.2 试验方案 A 根据大纲要求制定试验方案，内容包括： 试验项目； 选定统计试验方案：号码、鉴别比D、风险α和β、试验时间T、样品数量、是否可替换； 试验剖面； 故障判据及分类； 有关试验方职责分工； 计划进度、经费、人员、维修器材等资源保证条件； 其它可靠性活动信息。 B 试验方案选定因素 定时截尾试验，累积试验时间是确定的，便于试验计划安排和管理，但不一定是最经济的； 定数截尾试验，累计相关故障数是确定的，在采取不可替换的试验时，样品数量是也确定的，也不一定是最经济的。 等概率比序贯试验，做出判据所需的故障数和累计试验时间比定时截尾和定数截尾试验的少，事前只能确定它们的最大值，但样品数量和试验时间难以确定，不便于试验计划安排和管理，最大累积试验时间和累计故障数有可能超过定时截尾或定数截尾的试验。 2.3 试验条件 可靠性验证试验剖面应典型代表产品的使用条件： 功能模式，当产品有超过1种使用模式时，应分析各自所占时间的百分比，确定模式转换的方
电路实验三实验报告_基尔霍夫定律地验证
电路实验三实验报告 实验题目：基尔霍夫定律的验证 实验内容： 1. 用面包板搭接一个电路，熟悉面包板的使用； 2. 验证基尔霍夫定律的正确性，加深对基尔霍夫定律普遍性的理解 ； 3. 进一步学会使用万用表。 实验环境： 面包板，数字万用表，色环电阻，学生实验箱（直流稳压电源） 。 实验原理： 使用面包板搭接一个含有两个以上网孔的电路， 测出各支路的电压和各节点的电流， 验 证它们是否满足基尔霍夫定律。 1. 基尔霍夫电流定律： 对电路中任意节点，流入、流出该节点的代数和为零。即 ∑I=0。 2. 基尔霍夫电压定律： 在电路中任一闭合回路，电压降的代数和为零。 即 ∑U=0。 实验记录及结果分析： 实验电路图： 1 i1 i3 R1 R2 ① i2 - U1 + - U3 + 3 i2 i 2 ABM Us_1 5V 1 + U2 R3 2 ABM Us_2 12V - 实验数据： R1 0.859K Ω U1 2.31V i1 -2.33mA R2 1.338K Ω U2 7.37V i2 1.45mA R3 1.032K Ω U3 7.53V i3 3.79mA 实验分析： 1. 对于结点 1：i1-i2+i3=- 2.33mA-1.45mA+ 3.79mA=0.01mA 说明在误差范围内，该结点符合 KCL 定律。 2. 对于回路 1：-U1+U2-Us1=-2.31V+7.37V-5V=0.06V
说明在误差范围内，该回路符合KVL定律。 3. 对于回路2：-U2-U3+Us2=-7.37V-7.53V+15V=0.1V 说明在误差范围内，该回路符合KVL定律。 实验总结： 经过这次实验，我学习到了如果利用面包板搭建电路，面包板上的孔如何实现串并联。 同时，这次实验也巩固了我对万用表的操作，使用万用表比上次更为熟练了。实验结果也验证了KCL与KVL的定律，为以后电路分析加深了印象。
单片机 P1口及外部中断 硬件实验报告
实验十一P1口及外部中断 一、实验目的 1．掌握利用MCS-51单片机P1口实现I/O的三种传送方式。 2．掌握MCS-51单片机外部中断源的原理和编程方法。 3．了解MCS-51单片机处理外部中断的全过程。 4．弄懂外部中断触发方式的选择。 二、实验要求 熟练掌握结合DP-51PROC单片机综合仿真实验仪和Kiel C51 集成开发环境进行仿真调试。 三、实验内容及实验电路 1、P1口无条件输出实验，电路图图3-1所示。 图3-1 P1口无条件输出 实验参考程序1：8个LED 灯同时闪亮。 ORG 8000H LJMP Main ORG 80F0H Main: MOV R7, #0 Loop: MOV R6, #0 DJNZ R6, $ DJNZ R6, $ DJNZ R6, $ DJNZ R6, $ DJNZ R7, Loop CPL P1.0 ; P 1 .0 取反
CPL P1.1 ; P 1 .1 取反 CPL P1.2 ; P 1 .2 取反 CPL P1.3 ; P 1 .3 取反 CPL P1.4 ; P 1 .4 取反 CPL P1.5 ; P 1 .5 取反 CPL P1.6 ; P 1 .6 取反 CPL P1.7 ; P 1 .7 取反 SJMP Main END 2、P1口条件输出实验，电路如图3-2所示。 图3-2 P1口条件输出 实验参考程序2： ORG 8000H LJMP Main ORG 8100H Main: JB P1.7,SETLED CLRLED: CLR P1.0 CLR P1.1 CLR P1.2 CLR P1.3 CLR P1.4 CLR P1.5 CLR P1.6 SJMP Main SETLED:
叠加原理的验证-实验报告
广东第二师范学院学生实验报告 院（系）名称班 别姓名 专业名称学号 实验课程名称电路与电子线路实验 实验项目名称叠加原理的验证 实验时间实验地点 实验成绩指导老师签名 一、实验目的 (1)验证线性电路叠加原理的正确性，从而加深对线性电路的叠加性和齐次性的认识和理解。 (2)掌握测量有源二端网络等效参数的一般方法。 二、实验仪器 (1)电路实验箱一台 (2)万用表一块 三、实验内容和步骤 (1)按图3-13电路接线，E1为+12V切换电源，E2为可调直流稳压电源，调至+6V。 (2)令E1电源单独作用时（将开关S1投向E1侧，开关S2投向短路侧），用直流数字电压表和 毫安表（接电流插头）测量各支路电流及电阻元件两端电压。 (3)令E2电源单独作用时（将开关S1投向短路侧，开关S2投向E2侧），重复实验步骤2的测 量和记录。 (4)令E1和E2共同作用时（开关S1和S2分别投向E1和E2侧），重复上述的测量和记录。 (5)将E2的数值调至+12V，重复上述第3项的测量并记录。 (6)将以上所有数据记录在表3-9中。 图3-13 叠加原理实验电路图
表3-9 叠加原理实验数据记录 测量项目 E1/V E2/V I1/mA I2/mA I3/mA 实验内容 E1单独作用12 0 14.00 9.29 4.66 E2单独作用0 6 4.35 6.83 2.28 E1、E2共同作用12 6 15.8 11.29 15.18 2E2单独作用0 12 -18.3 -28.5 9.53 测量项目 U AB/V U FA/V U AD/V U DB/V U EA/V 实验内容 E1单独作用 4.71 7.20 4.76 0 -4.74 E2单独作用-3.42 -2.33 2.38 -5.98 0 E1、E2共同作用 5.76 11.88 11.85 -15.66 -12.02 2E2单独作用-14.25 -9.45 9.46 -23.5 0 四、实验报告要求 E1单独作用